JP5107977B2 - イオントラップ質量分析装置 - Google Patents
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ントラップ部と、イオントラップ部に主高周波電圧を印加する主高周波電源と、イオントラップ部に補助高周波電圧を印加する補助高周波電源と、イオントラップ部から排出されたイオンを検出する検出部を備える質量分析装置と、を有するイオントラップ質量分析装置において、イオントラップ部内に該イオントラップ部の外部から入るイオンを捕捉しながらイオンのうち不必要なイオンを排出して目的のイオンを該イオントラップ部内に捕捉された状態を維持する維持ステップと、イオントラップ部の入口を閉じて該イオントラップ部内に残存する不要なイオンを排出する不要イオン排出ステップとを交互に繰り返すように制御するコンピュータを備え、該コンピュータは、さらに、維持ステップと不要イオン排出ステップが繰り返された後に、目的のイオンが衝突誘起解離により壊され、該壊されたイオンが質量別に排出され検出部で検出されることで、目的のイオンの量をMS/MS測定に合うように最適化する。
とする。
は図6に示すようなユーザーインターフェイスによりオペレーターが入力する。
、説明する。
う。
Claims (8)
- 試料をイオン化するイオン源部と、
前記イオン源にて生成されたイオンをトラップするイオントラップ部と、
前記イオントラップ部に主高周波電圧を印加する主高周波電源と、
前記イオントラップ部に補助高周波電圧を印加する補助高周波電源と、
前記イオントラップ部から排出されたイオンを検出する検出部を備える質量分析装置と、
を有するイオントラップ質量分析装置において、
前記イオントラップ部内に該イオントラップ部の外部から入るイオンを捕捉しながら前記イオンのうち不必要なイオンを排出して目的のイオンを該イオントラップ部内に捕捉された状態を維持する維持ステップと、
前記イオントラップ部の入口を閉じて該イオントラップ部内に残存する不要なイオンを排出する不要イオン排出ステップとを交互に繰り返すように制御するコンピュータを備え、
該コンピュータは、さらに、前記維持ステップと不要イオン排出ステップが繰り返された後に、前記目的のイオンが衝突誘起解離により壊され、該壊されたイオンが質量別に排出され前記検出部で検出されることで、前記目的のイオンの量をMS/MS測定に合うように最適化することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 請求項1記載のイオントラップ質量分析装置において、
前記イオントラップ部は、リング電極と一対のエンドキャップ電極を有する3次元イオントラップ部であることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 請求項1記載のイオントラップ質量分析装置において、
前記イオントラップ部は、4本の柱状の電極をもつリニアトラップ部であることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 請求項2または3記載のイオントラップ質量分析装置において、
前記MS/MS測定のうち、先に測定したMS測定から前記目的のイオンの量を観測し、該目的のイオンの量が前記MS/MS測定に最適化されたイオンの量になるように調整されることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 請求項4記載のイオントラップ質量分析装置において、
前記維持ステップを行う時間の異なる2回のMS測定により、前記目的のイオンの量と時間の相関を求め、該相関から最適化された前記目的のイオンの量に基いて、前記維持ステップにおける前記目的のイオンが該イオントラップ部内に捕捉された状態を維持するイオン捕捉時間が決定されることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 請求項5記載のイオントラップ質量分析装置において、
前記イオントラップ部内の前記イオンが飽和した際には、前記維持ステップを複数回行った後で前記目的のイオンの量が最適化され、MS/MS測定が行われることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 請求項4から6のいずれかに記載のイオントラップ質量分析装置において、
前記MS/MS測定に最適化される前記目的のイオンの量がユーザーインターフェースによって任意に設定可能である
ことを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 請求項4から7のいずれかに記載のイオントラップ質量分析装置において、
前記MS/MS測定のうち、先に測定したMS測定から前記イオンの全イオン量を観測し、前記目的のイオンの量を観測し、前記全イオン量と前記目的のイオンの量とから不要イオン量が算出され、該不要イオン量から不要イオンを排出するのに最適な排出時間が決定され、該排出時間に前記不要イオン排出ステップが行われることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
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