JP2013104741A - イオントラップ質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】全m/z範囲をカバーするように設定した複数の測定モードでそれぞれ目的試料に対するMS1スペクトルを取得するとともに、同試料に対しMS2スペクトルを取得する(S1、S2)。そして、MS2スペクトルに存在するイオンピークと同m/zのピークが全MS1スペクトルにあるかどうかを判定し、同一m/zのイオンを擬似MS3測定対象イオンとして抽出する(S3)。全MS1スペクトルの中で擬似MS3測定対象イオンのピーク強度が最大となる測定モードと該イオンのm/zを測定条件として擬似MS3測定を実施し、擬似MS3スペクトルを取得する(S4、S5)。
【選択図】図2
Description
即ち、分析目的である化合物をMALDI法によりイオン化してイオントラップ内に捕捉したあと、特定の質量電荷比m/zを有するイオンをプリカーサイオンとして選択的にイオントラップ内に残し、他の不要なイオンをイオントラップ外部に排出するようなプリカーサ選別操作を行う。その後、イオントラップ内に衝突誘起解離(Collision-Induced Dissosiation:CID)ガスを導入し、プリカーサイオンを励振してCIDガスに衝突させることで解離を促す。場合によっては、1回のCID操作では目的とする化合物の構造体が十分に分解しないため、そうした場合には、プリカーサ選別操作とCID操作とを複数回繰り返す。そうして分析対象の化合物由来のイオンに対し1回以上のCID操作を行うことで細かく断片化させたプロダクトイオンについて、質量走査を伴うイオンの検出を実行してMSnスペクトルを取得し、このMSnスペクトルを解析して化合物を同定したりその構造を推定したりする。
LMC=(V/qr0 2π2)(4π2/Ω2) …(1)
ここで、q=4eV/mr0 2Ω2
ただし、mは質量、eは価数、Vはリング電極に印加される高周波電圧の振幅、qはマシューパラメータ、r0はリング電極の内接半径、Ωは上記高周波電圧の周波数、である。
Dz=0.125qV …(2)
通常の擬似MS3測定では、目的試料に対するMS2測定で検出されるプロダクトイオン(イオンA)と同じ質量電荷比のイオン(イオンB)ピークが同じ目的試料に対するMS1スペクトル上に現れている場合に、イオンBがイオンAのプリカーサイオンに由来するプロダクトイオンであるとみなし、イオンBに対するMS2測定を実行するようにしている。そのイオンBに対するMS2測定で得られたMS2スペクトルが、目的試料中の化合物に対する擬似MS3スペクトルである。
a)全質量電荷比範囲又は所定の質量電荷比範囲をカバーする複数の測定モードでそれぞれ目的試料に対して質量分析を実行することにより、複数のMS1スペクトルを取得するMS1測定実行手段と、
b)目的試料に対しMS2分析を実行することによりMS2スペクトルを取得するMS2測定実行手段と、
c)前記MS2スペクトルに現れるピークと同一の質量電荷比であるピークを前記複数のMS1スペクトルから抽出することにより擬似MS3測定対象のイオンを決定する擬似MS3測定対象イオン決定手段と、
d)前記擬似MS3測定対象イオン決定手段により決定されたイオンをプリカーサイオンとしたMS2分析を実行することにより擬似MS3スペクトルを取得する擬似MS3測定実行手段と、
を備えることを特徴としている。
レーザ光の強度を或る程度上げると、試料由来のイオンの内部エネルギが高くなってイオントラップに到達するまで或いはイオントラップ内に捕捉されている間(例えばクーリング中)に分解し易くなる。それにより、擬似MS3測定対象イオン生成効率を増加させることができる。
11…レーザ照射部
12…サンプルプレート
13…アパーチャ
14…イオンレンズ
S…サンプル
2…イオントラップ
21…リング電極
22…入口側エンドキャップ電極
23…イオン入射口
24…出口側エンドキャップ電極
25…イオン出射口
3…検出部
31…コンバージョンダイノード
32…二次電子増倍管
4…ガス供給部
41…ガス導入管
42…ガス選択バルブ
43…クーリングガス供給源
44…CIDガス供給源
5…データ処理部
51…スペクトル作成部
52…スペクトル記憶部
53…擬似MS3測定イオン判定部
6…制御部
7…主電源部
8…補助電源部
Claims (4)
- イオンを捕捉するイオントラップを有し該イオントラップに捕捉されたイオンを解離させてMSn分析(nは2以上の整数)を実施することが可能なイオントラップ質量分析装置であって、広い質量電荷比範囲をカバーするために測定対象の質量電荷比範囲が異なる複数の測定モードが用意され、該複数の測定モードの中の選択された測定モードの下で質量分析が実行されるイオントラップ質量分析装置において、
a)全質量電荷比範囲又は所定の質量電荷比範囲をカバーする複数の測定モードでそれぞれ目的試料に対して質量分析を実行することにより、複数のMS1スペクトルを取得するMS1測定実行手段と、
b)目的試料に対しMS2分析を実行することによりMS2スペクトルを取得するMS2測定実行手段と、
c)前記MS2スペクトルに現れるピークと同一の質量電荷比であるピークを前記複数のMS1スペクトルから抽出することにより擬似MS3測定対象のイオンを決定する擬似MS3測定対象イオン決定手段と、
d)前記擬似MS3測定対象イオン決定手段により決定されたイオンをプリカーサイオンとしたMS2分析を実行することにより擬似MS3スペクトルを取得する擬似MS3測定実行手段と、
を備えることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 請求項1に記載のイオントラップ質量分析装置であって、
前記擬似MS3測定対象イオン決定手段は、前記MS1測定実行手段により取得された前記複数のMS1スペクトルの中の2以上のMS1スペクトル上で擬似MS3測定対象のイオンが観測される場合に、イオン強度が高い方のMS1スペクトルの測定モードを擬似MS3測定時の測定モードとして設定することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 請求項1又は2に記載のイオントラップ質量分析装置であって、イオン源がMALDIイオン源であるイオントラップ質量分析装置において、
前記MS2スペクトルと前記複数のMS1スペクトルとに基づいて決められた擬似MS3測定対象のイオンのそのMS1スペクトル上でのイオン強度に応じて、MALDIイオン源におけるイオン化のためのレーザ光の強度を変更する制御手段をさらに備えることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 請求項1又は2に記載のイオントラップ質量分析装置であって、
前記MS2スペクトルと前記複数のMS1スペクトルとに基づいて決められた擬似MS3測定対象のイオンのそのMS1スペクトル上でのイオン強度に応じて、イオントラップに捕捉したイオンをクーリングする際に使用されるクーリングガスの種類を変更する制御手段をさらに備えることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
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