JP5405668B2 - イオントラップ質量分析装置および質量分析方法 - Google Patents
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Description
また本構成において、イオントラップ部の前・後に1つまたは複数の、イオンを分離または収束する分析部を設ける構成をとることもできる。
イオントラップ部の後段に分析部を設けた構成とする場合は、インジェクション(区間204)において、イオンをトラップするために印加する電圧を一定とし、別の電圧をトラップ部に印加することで排出することもできる。
102 イオン化部
103 イオントラップ部
104 制御部
105 検出部
106 処理部
Claims (2)
- 成分毎に分離された試料をイオン化し、イオントラップ部に導入して電界中に保持し、前記イオンの質量に応じて排出されたイオンを検出してMSスペクトル(マススペクトル)を生成する質量分析方法において、
前記試料の第一のMSスペクトルを生成し、
前記第一のMSスペクトル中の選択されたターゲットピークイオンのMS/MS分析を行って第二のMSスペクトルを生成し、
前記第二のMSスペクトル中の選択されたターゲットピークイオンのMS分析を行って第三のMSスペクトルを生成し、
前記第一のMSスペクトルと前記第三のMSスペクトルとから第四のMSスペクトルを生成し、
前記第四のスペクトルと前記第二のMSスペクトルとの差からフラグメント情報のみを含む第五のMSスペクトルを生成することを特徴とする質量分析方法。 - 成分毎に分離された試料をイオン化するイオン化部と、
前記イオン化部でイオン化された前記イオンを電界中で保持するとともに、該イオンの質量に応じて排出するイオントラップ部と、
前記イオントラップ部から排出された前記イオンを検出する検出部と、
前記検出部で検出されたデータに基づいてMSスペクトル(マススペクトル)を生成する処理部とを備え、
前記処理部は、前記試料の第一のMSスペクトルを生成し、前記第一のMSスペクトル中の選択されたターゲットピークイオンのMS/MS分析を行って第二のMSスペクトルを生成し、前記第二のMSスペクトル中の選択されたターゲットピークイオンのMS分析を行って第三のMSスペクトルを生成し、前記第一のMSスペクトルと前記第三のMSスペクトルとから第四のMSスペクトルを生成し、前記第四のスペクトルと前記第二のMSスペクトルとの差からフラグメント情報のみを含む第五のMSスペクトルを生成することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
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