JP2001249114A - 質量分析方法および装置 - Google Patents
質量分析方法および装置Info
- Publication number
- JP2001249114A JP2001249114A JP2000398185A JP2000398185A JP2001249114A JP 2001249114 A JP2001249114 A JP 2001249114A JP 2000398185 A JP2000398185 A JP 2000398185A JP 2000398185 A JP2000398185 A JP 2000398185A JP 2001249114 A JP2001249114 A JP 2001249114A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mass
- analysis
- data
- peak
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G16—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR SPECIFIC APPLICATION FIELDS
- G16C—COMPUTATIONAL CHEMISTRY; CHEMOINFORMATICS; COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE
- G16C20/00—Chemoinformatics, i.e. ICT specially adapted for the handling of physicochemical or structural data of chemical particles, elements, compounds or mixtures
- G16C20/20—Identification of molecular entities, parts thereof or of chemical compositions
Abstract
(57)【要約】
【課題】ＭＳ2分析で得られるマススペクトルデータを
利用した、よりスムーズ且つ正確な目的試料成分の検索
−特定を行なう。クロマトグラフ装置から導入された試
料をイオン化し、イオンを捕捉可能なイオントラップに
より質量分析を行う質量分析装置において、成分毎のマ
ススペクトルデータ（ＭＳ1データ）と当該マススペク
トルデータ内の特徴ピークに対するＭＳ2分析に基づく
マススペクトルデータ（ＭＳ2データ）を格納した標準
データベースを備えたものであり、当該標準データベー
ス中のＭＳ2データに対して、測定対象試料をＭＳ2分析
して得られたマススペクトルとの比較を行う。 【解決手段】大気圧イオン化法を用いるＬＣ／ＭＳのよ
うなＭＳ1分析のマススペクトルから得られる情報が少
ない装置においても、正確且つ迅速に、成分の特定を行
うことが可能となる。
利用した、よりスムーズ且つ正確な目的試料成分の検索
−特定を行なう。クロマトグラフ装置から導入された試
料をイオン化し、イオンを捕捉可能なイオントラップに
より質量分析を行う質量分析装置において、成分毎のマ
ススペクトルデータ（ＭＳ1データ）と当該マススペク
トルデータ内の特徴ピークに対するＭＳ2分析に基づく
マススペクトルデータ（ＭＳ2データ）を格納した標準
データベースを備えたものであり、当該標準データベー
ス中のＭＳ2データに対して、測定対象試料をＭＳ2分析
して得られたマススペクトルとの比較を行う。 【解決手段】大気圧イオン化法を用いるＬＣ／ＭＳのよ
うなＭＳ1分析のマススペクトルから得られる情報が少
ない装置においても、正確且つ迅速に、成分の特定を行
うことが可能となる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、イオントラップを
備えた質量分析装置および質量分析方法に関する。
備えた質量分析装置および質量分析方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】質量分析計は、測定対象のサンプル分子
に様々な方法で電荷を付与し、生成したイオンの質量対
電荷比とイオン電流値をマススペクトルデータとして計
測する分析装置である。物質はそれを構成する原子の種
類や数から特徴的な分子量を持っているため、マススペ
クトルデータを得る事によって各々の物質を特定するた
めの重要な情報を得る事ができる。また質量分析計は、
ガスクロマトグラフ、液体クロマトグラフ、キャピラリ
電気泳動といったクロマトグラフ装置とオンラインで直
結する事ができ、クロマトグラフ装置の高感度かつ豊富
な定性情報が得られる検出器として使用する事もでき
る。
に様々な方法で電荷を付与し、生成したイオンの質量対
電荷比とイオン電流値をマススペクトルデータとして計
測する分析装置である。物質はそれを構成する原子の種
類や数から特徴的な分子量を持っているため、マススペ
クトルデータを得る事によって各々の物質を特定するた
めの重要な情報を得る事ができる。また質量分析計は、
ガスクロマトグラフ、液体クロマトグラフ、キャピラリ
電気泳動といったクロマトグラフ装置とオンラインで直
結する事ができ、クロマトグラフ装置の高感度かつ豊富
な定性情報が得られる検出器として使用する事もでき
る。
【０００３】近年、環境問題や健康に関する関心が高く
なり、それによって上水、排水、食品等に含まれる有害
有機化合物のチェック、新薬開発における安全性の確認
など様々な分野で、クロマトグラフ直結形の質量分析計
が使用されるようになってきている。ここで分析装置に
要求される機能としては、（１）高感度であり、定量分
析ができること。
なり、それによって上水、排水、食品等に含まれる有害
有機化合物のチェック、新薬開発における安全性の確認
など様々な分野で、クロマトグラフ直結形の質量分析計
が使用されるようになってきている。ここで分析装置に
要求される機能としては、（１）高感度であり、定量分
析ができること。
【０００４】（２）物質を確実に特定できるだけの十分
な定性情報が得られること。
な定性情報が得られること。
【０００５】（３）実試料を分析する際には、測定対象
外の夾雑物を取り除くための試料調製が必要になるが、
この調製の手間を少しでも軽減できる事。
外の夾雑物を取り除くための試料調製が必要になるが、
この調製の手間を少しでも軽減できる事。
【０００６】（４）農薬の分析等では、測定対象物質が
１０成分〜６０成分程度にも及ぶため、一回の試料注入
で、できるだけ多くの物質について一斉分析ができる
事。等が挙げられる。この内、特に（２）については、
予め目的の試料の標準物質のマススペクトルデータを測
定−登録しておき、実試料で得られたクロマトグラム上
で各ピークのマススペクトルを出力し、これらについて
各々、標準試料との一致検索を行ない、実試料のマスス
ペクトルが、標準試料と高い一致度を持つことをもっ
て、実試料中に特定の試料が存在していることを判断し
ている。
１０成分〜６０成分程度にも及ぶため、一回の試料注入
で、できるだけ多くの物質について一斉分析ができる
事。等が挙げられる。この内、特に（２）については、
予め目的の試料の標準物質のマススペクトルデータを測
定−登録しておき、実試料で得られたクロマトグラム上
で各ピークのマススペクトルを出力し、これらについて
各々、標準試料との一致検索を行ない、実試料のマスス
ペクトルが、標準試料と高い一致度を持つことをもっ
て、実試料中に特定の試料が存在していることを判断し
ている。
【０００７】標準試料と実試料のマススペクトルを一致
比較する場合、実試料のマススペクトルには標準試料の
スペクトルにはない夾雑物由来のピークが混ざってしま
うことが多くあり、これが、スペクトル比較による一致
度判定の場合、判定結果の精度の面で問題になる。
比較する場合、実試料のマススペクトルには標準試料の
スペクトルにはない夾雑物由来のピークが混ざってしま
うことが多くあり、これが、スペクトル比較による一致
度判定の場合、判定結果の精度の面で問題になる。
【０００８】また、質量分析計のイオン源に大気圧イオ
ン化法を使用する場合、得られるマススペクトルは、基
本的に試料成分の分子量由来のピークを最大強度とする
単純なスペクトルになることが多い。これは試料成分の
分子量を確認するためには有効な情報となる反面、イオ
ン源に電子衝撃法によるマススペクトルと比較して開裂
イオンのピークが少ない場合が多く、スペクトルの一致
比較により特定試料を検索する場合、試料成分を特定す
るための情報量が乏しいという欠点がある。一般的に、
大気圧イオン化法は、液体クロマトグラフと接続された
時、所謂ＬＣ／ＭＳで用いられ、電子衝撃法は、ガスク
ロマトグラフに接続された時、所謂ＧＣ／ＭＳで用いら
れるイオン源である。即ち、ＬＣ／ＭＳでは、一度所定
範囲のマススペクトルを得ただけでは、試料成分の特定
が非常に困難であり、定性を行いづらいという問題を有
している。
ン化法を使用する場合、得られるマススペクトルは、基
本的に試料成分の分子量由来のピークを最大強度とする
単純なスペクトルになることが多い。これは試料成分の
分子量を確認するためには有効な情報となる反面、イオ
ン源に電子衝撃法によるマススペクトルと比較して開裂
イオンのピークが少ない場合が多く、スペクトルの一致
比較により特定試料を検索する場合、試料成分を特定す
るための情報量が乏しいという欠点がある。一般的に、
大気圧イオン化法は、液体クロマトグラフと接続された
時、所謂ＬＣ／ＭＳで用いられ、電子衝撃法は、ガスク
ロマトグラフに接続された時、所謂ＧＣ／ＭＳで用いら
れるイオン源である。即ち、ＬＣ／ＭＳでは、一度所定
範囲のマススペクトルを得ただけでは、試料成分の特定
が非常に困難であり、定性を行いづらいという問題を有
している。
【０００９】上記のような問題を解決しようとした場
合、従来は、試料成分毎の特徴的な質量数を特定し、そ
の質量数のイオンについてＭＳn分析することで、情報
量を増やし定性を行っている。
合、従来は、試料成分毎の特徴的な質量数を特定し、そ
の質量数のイオンについてＭＳn分析することで、情報
量を増やし定性を行っている。
【００１０】ＭＳn分析を示した例として、特開平10−1
42196号公報がある。
42196号公報がある。
【００１１】ＭＳn分析は、質量分析計に導入されたイ
オンの内、特定質量数のイオンを選択した後、そのイオ
ンに中性分子との衝突などによりエネルギーを与えて壊
し（開裂させ）、その開裂したイオンを質量数毎に順次
検出器へ送り出してマススペクトルデータを得るもので
ある。最初に生成したイオンをそのまま検出器に送り出
してマススペクトルデータを得る通常の質量分析データ
をＭＳデータ、またはＭＳ1データとすると、この分析
は、ＭＳ1データに更に１段階の反応を加えて得られた
データということでＭＳ2データとなる。また、この特
定質量数イオンの選択と、開裂の操作を更に複数回繰り
返してから、検出器へ最終的に生成したイオンを送り出
してマススペクトルデータを得ることでｎ＝３、４、５
といった分析も可能となる。試料成分の分子は、その構
造によって開裂を起こし易い部分があり、分子量が同じ
試料成分であっても、開裂を起こした後に生成したイオ
ンのマススペクトルデータを比較する事で、構造の違う
試料成分を区別する事が可能になる。これにより、通常
のマススペクトルデータでは試料成分の特定に十分な情
報を得られない場合でも、ＭＳn分析で得られたマスス
ペクトルデータで特定する事ができる。また一度特定イ
オンを選択してから開裂反応を起こさせてスペクトルを
得るため、得られたＭＳ2データでは、最初のデータに
あった夾雑物由来のピークを排除することができる。
オンの内、特定質量数のイオンを選択した後、そのイオ
ンに中性分子との衝突などによりエネルギーを与えて壊
し（開裂させ）、その開裂したイオンを質量数毎に順次
検出器へ送り出してマススペクトルデータを得るもので
ある。最初に生成したイオンをそのまま検出器に送り出
してマススペクトルデータを得る通常の質量分析データ
をＭＳデータ、またはＭＳ1データとすると、この分析
は、ＭＳ1データに更に１段階の反応を加えて得られた
データということでＭＳ2データとなる。また、この特
定質量数イオンの選択と、開裂の操作を更に複数回繰り
返してから、検出器へ最終的に生成したイオンを送り出
してマススペクトルデータを得ることでｎ＝３、４、５
といった分析も可能となる。試料成分の分子は、その構
造によって開裂を起こし易い部分があり、分子量が同じ
試料成分であっても、開裂を起こした後に生成したイオ
ンのマススペクトルデータを比較する事で、構造の違う
試料成分を区別する事が可能になる。これにより、通常
のマススペクトルデータでは試料成分の特定に十分な情
報を得られない場合でも、ＭＳn分析で得られたマスス
ペクトルデータで特定する事ができる。また一度特定イ
オンを選択してから開裂反応を起こさせてスペクトルを
得るため、得られたＭＳ2データでは、最初のデータに
あった夾雑物由来のピークを排除することができる。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】上記ＭＳn分析は、夾
雑物の除去や定性精度の向上で大きなメリットを有する
が、ＭＳn分析を行うためには、開裂させるターゲット
となるイオンの質量数を予め特定しておかねばならな
い。予め既知の成分を分析する場合は、ターゲットイオ
ンの特定は容易であるが、未知試料を測定する場合は、
どの質量数のイオンをＭＳn分析するか分からないた
め、一度所定の質量範囲に渡ってＭＳ1のスペクトルデ
ータを得て、全体の情報を得た上で、その結果から測定
者がＭＳn分析を行うべき質量数を判断して、ＭＳn分析
を行わねばならない。
雑物の除去や定性精度の向上で大きなメリットを有する
が、ＭＳn分析を行うためには、開裂させるターゲット
となるイオンの質量数を予め特定しておかねばならな
い。予め既知の成分を分析する場合は、ターゲットイオ
ンの特定は容易であるが、未知試料を測定する場合は、
どの質量数のイオンをＭＳn分析するか分からないた
め、一度所定の質量範囲に渡ってＭＳ1のスペクトルデ
ータを得て、全体の情報を得た上で、その結果から測定
者がＭＳn分析を行うべき質量数を判断して、ＭＳn分析
を行わねばならない。
【００１３】この様な分析では、測定者の負担が大き
く、分析も時間が掛かる。特に、大気圧イオン化法を用
いるＬＣ／ＭＳでは、定性のためにＭＳn分析を行うこ
とが重要であるため、よりスムーズなＭＳn分析が望ま
れる。
く、分析も時間が掛かる。特に、大気圧イオン化法を用
いるＬＣ／ＭＳでは、定性のためにＭＳn分析を行うこ
とが重要であるため、よりスムーズなＭＳn分析が望ま
れる。
【００１４】また更に、クロマトグラフ装置から質量分
析計へ導入される試料は、時々刻々と成分が変化してお
り、一度所定範囲のマススペクトルを全て取得してから
ＭＳ n分析を行うようなやり方では、ＭＳn分析を行う頃
には試料成分が変化してしまい、正しい分析結果を得ら
れない。つまり質量分析計での分析がクロマトグラフ装
置から導入される試料成分の変化についていけないとい
う状態が発生してしまう。
析計へ導入される試料は、時々刻々と成分が変化してお
り、一度所定範囲のマススペクトルを全て取得してから
ＭＳ n分析を行うようなやり方では、ＭＳn分析を行う頃
には試料成分が変化してしまい、正しい分析結果を得ら
れない。つまり質量分析計での分析がクロマトグラフ装
置から導入される試料成分の変化についていけないとい
う状態が発生してしまう。
【００１５】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決するために成されたものであり、ＭＳ2分析で得ら
れるマススペクトルデータを利用した、よりスムーズ且
つ正確な目的試料成分の検索−特定を行なうものであ
る。
解決するために成されたものであり、ＭＳ2分析で得ら
れるマススペクトルデータを利用した、よりスムーズ且
つ正確な目的試料成分の検索−特定を行なうものであ
る。
【００１６】本発明は、具体的には、クロマトグラフ装
置から導入された試料をイオン化し、イオンを捕捉可能
なイオントラップにより質量分析を行う質量分析装置に
おいて、成分毎のマススペクトルデータ（ＭＳ1デー
タ）と当該マススペクトルデータ内の特徴ピークに対す
るＭＳ2分析に基づくマススペクトルデータ（ＭＳ2デー
タ）を格納した標準データベースを備えたものであり、
当該標準データベース中のＭＳ2データに対して、測定
対象試料をＭＳ2分析して得られたマススペクトルとの
比較を行うものである。
置から導入された試料をイオン化し、イオンを捕捉可能
なイオントラップにより質量分析を行う質量分析装置に
おいて、成分毎のマススペクトルデータ（ＭＳ1デー
タ）と当該マススペクトルデータ内の特徴ピークに対す
るＭＳ2分析に基づくマススペクトルデータ（ＭＳ2デー
タ）を格納した標準データベースを備えたものであり、
当該標準データベース中のＭＳ2データに対して、測定
対象試料をＭＳ2分析して得られたマススペクトルとの
比較を行うものである。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る一実施例を図
面に基づいて説明する。
面に基づいて説明する。
【００１８】図１は、本発明の実施例で用いる質量分析
装置の装置構成を示す。
装置の装置構成を示す。
【００１９】本実施例で用いる質量分析装置は、図１に
示すように、試料の分離のためのクロマトグラフ装置１
０と、分離後の試料をイオン化するためのイオン源１４
と、イオン源１４から導かれたイオンを質量分析する質
量分析部１５と、イオンを検出する検出部１６とを備え
る。クロマトグラフ装置１０は、試料の注入を受け付け
るための試料導入部１１と、試料の成分を分離するため
の分析カラム１３と、試料を搬送するための溶媒を供給
するためのポンプ（図示せず）とを備える。試料導入部
１１と分析カラム１３との間、分析カラム１３とイオン
源１４との間は、それぞれ、配管１２により連通されて
いる。
示すように、試料の分離のためのクロマトグラフ装置１
０と、分離後の試料をイオン化するためのイオン源１４
と、イオン源１４から導かれたイオンを質量分析する質
量分析部１５と、イオンを検出する検出部１６とを備え
る。クロマトグラフ装置１０は、試料の注入を受け付け
るための試料導入部１１と、試料の成分を分離するため
の分析カラム１３と、試料を搬送するための溶媒を供給
するためのポンプ（図示せず）とを備える。試料導入部
１１と分析カラム１３との間、分析カラム１３とイオン
源１４との間は、それぞれ、配管１２により連通されて
いる。
【００２０】さらに本実施例の質量分析装置は、制御部
１７と、データ処理部１９とを備える。質量分析部１５
とイオン源１４ならびに制御部１７との間、イオン強度
を質量数ごとに検出する検出部１６とデータ処理部１９
との間、および、制御部１７とデータ処理部１９との間
は、それぞれ信号線１８により接続されている。
１７と、データ処理部１９とを備える。質量分析部１５
とイオン源１４ならびに制御部１７との間、イオン強度
を質量数ごとに検出する検出部１６とデータ処理部１９
との間、および、制御部１７とデータ処理部１９との間
は、それぞれ信号線１８により接続されている。
【００２１】データ処理部１９は、検出部１６により検
出されたマススペクトルデータを信号線１８を介して受
け付け、このデータを処理して処理結果を表示画面２０
に表示する。また、データ処理部１９は、予め定められ
た手順に従い、信号線１８を介して、制御部１７に制御
信号を通知する。また更に、データ処理部１９には、操
作者が各種設定情報を入力するためのキーボードや表示
画面２０上のカーソルを移動させるためのポインティン
グデバイスを備えた入力部（図示せず）を具備してい
る。
出されたマススペクトルデータを信号線１８を介して受
け付け、このデータを処理して処理結果を表示画面２０
に表示する。また、データ処理部１９は、予め定められ
た手順に従い、信号線１８を介して、制御部１７に制御
信号を通知する。また更に、データ処理部１９には、操
作者が各種設定情報を入力するためのキーボードや表示
画面２０上のカーソルを移動させるためのポインティン
グデバイスを備えた入力部（図示せず）を具備してい
る。
【００２２】制御部１７は、データ処理部１９から通知
された制御信号に応じて、質量分析部１５の印加電圧な
どを制御する。
された制御信号に応じて、質量分析部１５の印加電圧な
どを制御する。
【００２３】本実施例の質量分析装置は、質量分析部１
５にリング電極と一対のエンドキャップ電極からなるイ
オントラップを使用する。質量分析部１５は、リング電
極に高周波電圧を印加することで、リング電極と一対の
エンドキャップ電極に囲まれた空間に、三次元四重極電
界を形成する。イオン源１４でイオン化された試料は、
質量分析部１５に導かれると、前記空間内に導かれ、形
成された三次元四重極電界に一度保持される。その後、
ＭＳ1データを取得する場合には、印加された高周波電
圧を走査することで、低い質量のイオンから順に、検出
部１６に対して放出され、検出される。検出された信号
は、データ処理部１９へ送られ、時間軸上でイオン信号
強度の変移を表すトータルイオンクロマトグラム（ＴＩ
Ｃ）として、記録される。また同時に、各時間毎で質量
対電荷比（ｍ／ｚ）を横軸としたマススペクトルデータ
も得られ、記録される。
５にリング電極と一対のエンドキャップ電極からなるイ
オントラップを使用する。質量分析部１５は、リング電
極に高周波電圧を印加することで、リング電極と一対の
エンドキャップ電極に囲まれた空間に、三次元四重極電
界を形成する。イオン源１４でイオン化された試料は、
質量分析部１５に導かれると、前記空間内に導かれ、形
成された三次元四重極電界に一度保持される。その後、
ＭＳ1データを取得する場合には、印加された高周波電
圧を走査することで、低い質量のイオンから順に、検出
部１６に対して放出され、検出される。検出された信号
は、データ処理部１９へ送られ、時間軸上でイオン信号
強度の変移を表すトータルイオンクロマトグラム（ＴＩ
Ｃ）として、記録される。また同時に、各時間毎で質量
対電荷比（ｍ／ｚ）を横軸としたマススペクトルデータ
も得られ、記録される。
【００２４】また、ＭＳnデータを取得する場合には、
特定質量数のイオンを質量分析部１５のイオントラップ
に残し、他のイオンを排除した状態（この状態は、エン
ドキャップ電極に排除したいイオンが共鳴状態となるよ
うな高周波電圧を印加することによって容易に作ること
が出来る）で、このイオンの運動に共鳴する周波数の電
圧（または異なる周波数の電圧）を加えることによっ
て、このイオンにエネルギーを与えてＣＩＤ反応を起こ
させ、その結果開裂したイオンを検出部１６に対して放
出し、放出したイオンを検出することで、上記ＭＳ1デ
ータと同様に、マススペクトルデータが得られる。
特定質量数のイオンを質量分析部１５のイオントラップ
に残し、他のイオンを排除した状態（この状態は、エン
ドキャップ電極に排除したいイオンが共鳴状態となるよ
うな高周波電圧を印加することによって容易に作ること
が出来る）で、このイオンの運動に共鳴する周波数の電
圧（または異なる周波数の電圧）を加えることによっ
て、このイオンにエネルギーを与えてＣＩＤ反応を起こ
させ、その結果開裂したイオンを検出部１６に対して放
出し、放出したイオンを検出することで、上記ＭＳ1デ
ータと同様に、マススペクトルデータが得られる。
【００２５】また、ＭＳ1データやＭＳnデータを取得す
るための１回の質量分析は、１ｓ〜３ｓ／回程度で行う
ことが出来る。これに対して、クロマトグラフ装置１０
からの試料の導入は、液体クロマトグラフでは数１０分
位かけて行われるため、１回の質量分析時間に対して十
分長い。また、クロマトグラフ装置１０から質量分析装
置１５に導入される試料は、成分毎に分離されている。
質量分析部１５で、一度ＭＳ1データを取得し、続けて
ＭＳ2データを取得した場合、これらの分析サイクル
は、上記のようにクロマトグラフ装置１０からの導入ペ
ースに比べて非常に早いので、クロマトグラフ装置１０
から導入された分離された成分に対しても、１成分が導
入される時間で充分にＭＳnデータを取得することが可
能である。
るための１回の質量分析は、１ｓ〜３ｓ／回程度で行う
ことが出来る。これに対して、クロマトグラフ装置１０
からの試料の導入は、液体クロマトグラフでは数１０分
位かけて行われるため、１回の質量分析時間に対して十
分長い。また、クロマトグラフ装置１０から質量分析装
置１５に導入される試料は、成分毎に分離されている。
質量分析部１５で、一度ＭＳ1データを取得し、続けて
ＭＳ2データを取得した場合、これらの分析サイクル
は、上記のようにクロマトグラフ装置１０からの導入ペ
ースに比べて非常に早いので、クロマトグラフ装置１０
から導入された分離された成分に対しても、１成分が導
入される時間で充分にＭＳnデータを取得することが可
能である。
【００２６】本発明は、このような、電界制御によって
開裂反応を起こすことができるというイオントラップの
特徴を利用したものである。
開裂反応を起こすことができるというイオントラップの
特徴を利用したものである。
【００２７】次に、本発明の実施例１の処理の流れを図
面を参照して説明する。実施例１本実施例は、未知試料
の成分定性に有効な分析法を示すものである。図２に本
実施例のフローチャートを示す。
面を参照して説明する。実施例１本実施例は、未知試料
の成分定性に有効な分析法を示すものである。図２に本
実施例のフローチャートを示す。
【００２８】まず、図５（ａ）に示す設定画面を表示画
面２０上に表示し、測定者が各条件を設定する（Ｓ
１）。ここで設定される条件は、主に「質量範囲」「強
度のＮｏ．」である。「除外ピーク」「信号強度閾値」
は、精度を向上させるためには入力した方が良いが、入
力しなくても良い。
面２０上に表示し、測定者が各条件を設定する（Ｓ
１）。ここで設定される条件は、主に「質量範囲」「強
度のＮｏ．」である。「除外ピーク」「信号強度閾値」
は、精度を向上させるためには入力した方が良いが、入
力しなくても良い。
【００２９】「質量範囲」では、ＭＳ2分析の対象とす
べきイオンの質量範囲が設定される。ここでは質量数２
００−４００が対象として設定されている。「強度のＮ
ｏ．」では、「質量範囲」で設定された領域中のピーク
で、どのピークをＭＳ2分析すべきかが設定される。こ
こで入力されている数値は、ピーク強度の高い順で付け
られる数値であり、“＃１”は、最も強度が高いピーク
をターゲットイオンとしてＭＳ2分析する、という意味
となる。「除外ピーク」では、ＭＳ2分析すべきでない
ピークが設定される。ここでは質量対電荷比（以下、ｍ
／ｚとする）２５０のイオンが除外ピークと設定されて
いるため、仮に、この質量数のピークが検出されてもＭ
Ｓ2分析の対象とはならない。テフロン（登録商標）等
の配管１２の成分が試料に混在して“汚れ”として検出
されるような場合があるが、除外ピークの設定は、この
様な汚れを除去するのに有効である。「信号強度閾値」
については、ＭＳ 2分析の対象とすべき信号強度を設定
するものであり、ここで値が設定されると、その値以上
の信号強度を有するピークのみがＭＳ2分析の対象とな
る。この値を設定することで、ノイズとなるようなピー
クを除外することが出来、分析精度や速度を向上させる
ことが可能となる。
べきイオンの質量範囲が設定される。ここでは質量数２
００−４００が対象として設定されている。「強度のＮ
ｏ．」では、「質量範囲」で設定された領域中のピーク
で、どのピークをＭＳ2分析すべきかが設定される。こ
こで入力されている数値は、ピーク強度の高い順で付け
られる数値であり、“＃１”は、最も強度が高いピーク
をターゲットイオンとしてＭＳ2分析する、という意味
となる。「除外ピーク」では、ＭＳ2分析すべきでない
ピークが設定される。ここでは質量対電荷比（以下、ｍ
／ｚとする）２５０のイオンが除外ピークと設定されて
いるため、仮に、この質量数のピークが検出されてもＭ
Ｓ2分析の対象とはならない。テフロン（登録商標）等
の配管１２の成分が試料に混在して“汚れ”として検出
されるような場合があるが、除外ピークの設定は、この
様な汚れを除去するのに有効である。「信号強度閾値」
については、ＭＳ 2分析の対象とすべき信号強度を設定
するものであり、ここで値が設定されると、その値以上
の信号強度を有するピークのみがＭＳ2分析の対象とな
る。この値を設定することで、ノイズとなるようなピー
クを除外することが出来、分析精度や速度を向上させる
ことが可能となる。
【００３０】次に、実際の試料の分析を開始する。図１
の試料導入部１１から注入された試料は、分析カラム１
３で単一成分に分離され、イオン源１４に送られる。イ
オン源１４でイオン化された試料は、質量分析部１５に
送られ質量分析された後、検出部１６で検出される。本
実施例では、ＭＳ1分析と、ＭＳ2分析を交互に行いなが
ら、クロマトグラフ装置からの一連の試料導入が終了す
るまで質量分析を行い、ＭＳ1およびＭＳ2分析のマスス
ペクトルを得る（Ｓ２）。ここで、ＭＳ2分析は、上記
Ｓ１で設定された条件に当て嵌まるイオンについて行
う。図６にこの時の状態を図示する。図６（ａ）は、Ｍ
Ｓ1分析で得られるトータルイオンクロマトグラム（Ｔ
ＩＣ）を示したものである。実際には、やで示すよ
うに一定のサンプリング間隔（ここでは例として３Ｓ）
でＭＳ1分析が行われる。図６（ｂ）（ｃ）に示すよう
に、各サンプリング点では、ＭＳ1データが得られ、更
に設定条件に合うイオンについてＭＳ2データを得る。
ＭＳ2分析は、各サンプリング間隔の間に行われる。
の試料導入部１１から注入された試料は、分析カラム１
３で単一成分に分離され、イオン源１４に送られる。イ
オン源１４でイオン化された試料は、質量分析部１５に
送られ質量分析された後、検出部１６で検出される。本
実施例では、ＭＳ1分析と、ＭＳ2分析を交互に行いなが
ら、クロマトグラフ装置からの一連の試料導入が終了す
るまで質量分析を行い、ＭＳ1およびＭＳ2分析のマスス
ペクトルを得る（Ｓ２）。ここで、ＭＳ2分析は、上記
Ｓ１で設定された条件に当て嵌まるイオンについて行
う。図６にこの時の状態を図示する。図６（ａ）は、Ｍ
Ｓ1分析で得られるトータルイオンクロマトグラム（Ｔ
ＩＣ）を示したものである。実際には、やで示すよ
うに一定のサンプリング間隔（ここでは例として３Ｓ）
でＭＳ1分析が行われる。図６（ｂ）（ｃ）に示すよう
に、各サンプリング点では、ＭＳ1データが得られ、更
に設定条件に合うイオンについてＭＳ2データを得る。
ＭＳ2分析は、各サンプリング間隔の間に行われる。
【００３１】得られたＭＳ1とＭＳ2のマススペクトルデ
ータは、全てデータ処理部１９内のメモリに記憶され
る。
ータは、全てデータ処理部１９内のメモリに記憶され
る。
【００３２】次に、データ処理部１９内に記憶されたデ
ータベース内のＭＳ1データを対象に、Ｓ１で設定した
条件に合う成分データを検索し、ピックアップする（Ｓ
３）。
ータベース内のＭＳ1データを対象に、Ｓ１で設定した
条件に合う成分データを検索し、ピックアップする（Ｓ
３）。
【００３３】ここで、データベースの概要を図４に示
す。データベースは、標準試料を分析した結果に基づく
データを予め記憶したものであり、具体的には、成分毎
のＭＳ 1データと、ＭＳ1データ内の特徴的なピークに対
してＭＳ2分析を行った結果であるＭＳ2データを関連付
けて格納している。例えば、成分Ａで見ると、ＭＳ1デ
ータでは、６５０ｍ/ｚと２００ｍ／ｚの特徴ピー
クがあり、との各ピークをＭＳ2分析した結果のＭ
Ｓ2データが格納されている。
す。データベースは、標準試料を分析した結果に基づく
データを予め記憶したものであり、具体的には、成分毎
のＭＳ 1データと、ＭＳ1データ内の特徴的なピークに対
してＭＳ2分析を行った結果であるＭＳ2データを関連付
けて格納している。例えば、成分Ａで見ると、ＭＳ1デ
ータでは、６５０ｍ/ｚと２００ｍ／ｚの特徴ピー
クがあり、との各ピークをＭＳ2分析した結果のＭ
Ｓ2データが格納されている。
【００３４】Ｓ３のステップを、図５（ａ）の設定例で
説明すると、質量範囲２００−４００ｍ／ｚ中で、１番
強度の強いピーク（＃１）を対象としているので（但
し、２５０ｍ／ｚは除外）、成分Ａではのピーク、成
分Ｂではのピーク、成分Ｃではのピークが該当して
おり、これらの成分は皆ピックアップされることとな
る。
説明すると、質量範囲２００−４００ｍ／ｚ中で、１番
強度の強いピーク（＃１）を対象としているので（但
し、２５０ｍ／ｚは除外）、成分Ａではのピーク、成
分Ｂではのピーク、成分Ｃではのピークが該当して
おり、これらの成分は皆ピックアップされることとな
る。
【００３５】次に、ピックアップした成分に関するＭＳ
2データと、Ｓ２のＭＳ2分析で実際に得たマススペクト
ルの一致度を比較する（Ｓ４）。具体的には、データベ
ース内のＭＳ2データに格納されている成分Ａの、成
分Ｂの、成分Ｃのと、実際に得られたＭＳ2分析の
マススペクトルとを比較していく。実際に得られたマス
スペクトルは、ＴＩＣの保持時間全域に渡って複数存在
しているため、これら全てのマススペクトルとデータベ
ース内データの比較を行う。
2データと、Ｓ２のＭＳ2分析で実際に得たマススペクト
ルの一致度を比較する（Ｓ４）。具体的には、データベ
ース内のＭＳ2データに格納されている成分Ａの、成
分Ｂの、成分Ｃのと、実際に得られたＭＳ2分析の
マススペクトルとを比較していく。実際に得られたマス
スペクトルは、ＴＩＣの保持時間全域に渡って複数存在
しているため、これら全てのマススペクトルとデータベ
ース内データの比較を行う。
【００３６】そして、実際のマススペクトルに対して最
も一致度の高いデータを有する成分をそのマススペクト
ルが得られた時間の検出成分として表示画面２０に出力
する（Ｓ５）。この時の表示の一例を図７に示す。各時
間におけるＭＳ2分析によるマススペクトルに対応する
成分が特定できることから、各時間帯における検出成分
を表示することが出来る。
も一致度の高いデータを有する成分をそのマススペクト
ルが得られた時間の検出成分として表示画面２０に出力
する（Ｓ５）。この時の表示の一例を図７に示す。各時
間におけるＭＳ2分析によるマススペクトルに対応する
成分が特定できることから、各時間帯における検出成分
を表示することが出来る。
【００３７】本実施例においては、ＭＳ2データを用い
て迅速に試料成分の特定ができる。したがって、大気圧
イオン化法を用いるＬＣ／ＭＳのような、ＭＳ1分析で
のマススペクトルが極めて単純なものしか得られない場
合であっても、迅速且つ正確に成分の特定を行うことが
可能となる。
て迅速に試料成分の特定ができる。したがって、大気圧
イオン化法を用いるＬＣ／ＭＳのような、ＭＳ1分析で
のマススペクトルが極めて単純なものしか得られない場
合であっても、迅速且つ正確に成分の特定を行うことが
可能となる。
【００３８】また、最初のＭＳ1データをデータベース
内の成分の絞り込みに使用することで、ＭＳ1データと
ＭＳ2データをそれぞれ単純に一致検索する場合に比べ
て、検索処理の効率化、高速化を図ることができる。実
施例２次に、本発明の他の実施例を示す。本実施例は、
予め分析したい目的試料成分が特定されている場合の例
である。
内の成分の絞り込みに使用することで、ＭＳ1データと
ＭＳ2データをそれぞれ単純に一致検索する場合に比べ
て、検索処理の効率化、高速化を図ることができる。実
施例２次に、本発明の他の実施例を示す。本実施例は、
予め分析したい目的試料成分が特定されている場合の例
である。
【００３９】図３に本実施例のフローチャートを示す。
【００４０】まず、図５（ｂ）に示す設定画面を表示画
面２０上に表示し、測定者が各条件を設定する（Ｓ１
１）。ここで設定される条件は、主に「成分名」「重要
ピーク」である。「信号強度閾値」は、精度を向上させ
るためには入力した方が良いが、入力しなくても良い。
面２０上に表示し、測定者が各条件を設定する（Ｓ１
１）。ここで設定される条件は、主に「成分名」「重要
ピーク」である。「信号強度閾値」は、精度を向上させ
るためには入力した方が良いが、入力しなくても良い。
【００４１】「成分名」では、分析したい目的の成分名
が設定される。ここでは成分Ｂが設定されている。「重
要ピーク」では、目的の成分中に必ず現れるべきピーク
のｍ／ｚ（質量対電荷比）が設定される。ここではｍ／
ｚ４００が設定されている。「信号強度閾値」について
は、実施例１の場合と同様である。ここでは２０％がそ
の値として設定されている。
が設定される。ここでは成分Ｂが設定されている。「重
要ピーク」では、目的の成分中に必ず現れるべきピーク
のｍ／ｚ（質量対電荷比）が設定される。ここではｍ／
ｚ４００が設定されている。「信号強度閾値」について
は、実施例１の場合と同様である。ここでは２０％がそ
の値として設定されている。
【００４２】「成分名」と「重要ピーク」が入力される
と、入力された成分に該当する情報がデータ処理部１９
内に記憶されたデータベースから抽出され、「信号強度
閾値」の下部の領域に表示される。ここでは成分Ｂと質
量数４００が入力されたので、成分ＢのＭＳ1データ
と、その重要ピークのＭＳ2データが表示される。そし
て、この画面における入力が終了したら、測定者は、
「登録」の領域にカーソルを合わせ、クリックする。こ
れによって条件設定が終了する。
と、入力された成分に該当する情報がデータ処理部１９
内に記憶されたデータベースから抽出され、「信号強度
閾値」の下部の領域に表示される。ここでは成分Ｂと質
量数４００が入力されたので、成分ＢのＭＳ1データ
と、その重要ピークのＭＳ2データが表示される。そし
て、この画面における入力が終了したら、測定者は、
「登録」の領域にカーソルを合わせ、クリックする。こ
れによって条件設定が終了する。
【００４３】次に、実際の試料の分析を開始する。本実
施例においても、ＭＳ1分析と、ＭＳ2分析を交互に行い
ながら、クロマトグラフ装置からの一連の試料導入が終
了するまで質量分析を行い、ＭＳ1とＭＳ2のマススペク
トルを得る（Ｓ１２）。ここで、ＭＳ2分析は、上記Ｓ
１１で設定された「重要ピーク」に対して行われる。図
５（ｂ）で設定された例で言えば、ｍ／ｚ４００のピー
クが検出された時にＭＳ2分析を行う。
施例においても、ＭＳ1分析と、ＭＳ2分析を交互に行い
ながら、クロマトグラフ装置からの一連の試料導入が終
了するまで質量分析を行い、ＭＳ1とＭＳ2のマススペク
トルを得る（Ｓ１２）。ここで、ＭＳ2分析は、上記Ｓ
１１で設定された「重要ピーク」に対して行われる。図
５（ｂ）で設定された例で言えば、ｍ／ｚ４００のピー
クが検出された時にＭＳ2分析を行う。
【００４４】得られたＭＳ1とＭＳ2のマススペクトル
は、全てデータ処理部１９内のメモリに記憶される。
は、全てデータ処理部１９内のメモリに記憶される。
【００４５】次に、Ｓ１１で設定された「重要ピーク」
のマスクロマトグラムを出力する（Ｓ１３）。本実施例
では、ｍ／ｚ４００について行われたＭＳ2分析のＴＩ
Ｃが相当する。また、ＭＳ1分析のｍ／ｚ４００の信号
強度だけを抽出したマスクロマトグラムでもよい。
のマスクロマトグラムを出力する（Ｓ１３）。本実施例
では、ｍ／ｚ４００について行われたＭＳ2分析のＴＩ
Ｃが相当する。また、ＭＳ1分析のｍ／ｚ４００の信号
強度だけを抽出したマスクロマトグラムでもよい。
【００４６】次に、この重要ピークマスクロマトグラム
の各ピーク時のＭＳ2分析によるマススペクトルと、Ｓ
１１で設定した成分名に対応するデータベース内のＭＳ
2データの比較を行う（Ｓ１４）。本実施例において
も、実施例１と同様に、図４で示すデータベースを使用
する。
の各ピーク時のＭＳ2分析によるマススペクトルと、Ｓ
１１で設定した成分名に対応するデータベース内のＭＳ
2データの比較を行う（Ｓ１４）。本実施例において
も、実施例１と同様に、図４で示すデータベースを使用
する。
【００４７】ここで図８に、重要ピークマスクロマトグ
ラムと、各ピークのＭＳ2分析によるマススペクトルの
例を示す。図８（ａ）は、ｍ／ｚ４００のマスクロマト
グラムである。ここでは「信号強度閾値」で設定された
２０％以上にａ，ｂ，ｃの３つのピークが得られた例を
示す。図８（ｂ）は、ピークａで得られたマススペクト
ルを示す。同様に、図８（ｃ）はピークｂ、図８（ｄ）
はピークｃで得られたマススペクトルを示す。Ｓ１４で
は、図８（ｂ）（ｃ）（ｄ）の各スペクトルと、データ
ベース内の成分ＢのＭＳ2データとを比較することに
なる。
ラムと、各ピークのＭＳ2分析によるマススペクトルの
例を示す。図８（ａ）は、ｍ／ｚ４００のマスクロマト
グラムである。ここでは「信号強度閾値」で設定された
２０％以上にａ，ｂ，ｃの３つのピークが得られた例を
示す。図８（ｂ）は、ピークａで得られたマススペクト
ルを示す。同様に、図８（ｃ）はピークｂ、図８（ｄ）
はピークｃで得られたマススペクトルを示す。Ｓ１４で
は、図８（ｂ）（ｃ）（ｄ）の各スペクトルと、データ
ベース内の成分ＢのＭＳ2データとを比較することに
なる。
【００４８】最後に、データベース内のデータと最も一
致度の高いＭＳ2分析によるマススペクトルが得られた
保持時間を特定し、当該保持時間に得られたＭＳ1分析
によるマススペクトルとＭＳ2分析によるマススペクト
ルを表示画面２０に出力し（Ｓ１５）、処理を終了す
る。
致度の高いＭＳ2分析によるマススペクトルが得られた
保持時間を特定し、当該保持時間に得られたＭＳ1分析
によるマススペクトルとＭＳ2分析によるマススペクト
ルを表示画面２０に出力し（Ｓ１５）、処理を終了す
る。
【００４９】図９に出力画面の一例を示す。このよう
に、出力画面としては、Ｓ１１で設定した「成分名」と
「重要ピーク」と共に、全質量数のＴＩＣと、重要ピー
クのマスクロマトグラム、そして、Ｓ１５で特定された
保持時間に得られたＭＳ1分析によるマススペクトルと
ＭＳ2分析によるマススペクトルが表示される。全質量
数のＴＩＣと重要ピークのマスクロマトグラム中に表示
された矢印は、Ｓ１５で特定された保持時間を示してい
る。
に、出力画面としては、Ｓ１１で設定した「成分名」と
「重要ピーク」と共に、全質量数のＴＩＣと、重要ピー
クのマスクロマトグラム、そして、Ｓ１５で特定された
保持時間に得られたＭＳ1分析によるマススペクトルと
ＭＳ2分析によるマススペクトルが表示される。全質量
数のＴＩＣと重要ピークのマスクロマトグラム中に表示
された矢印は、Ｓ１５で特定された保持時間を示してい
る。
【００５０】本実施例では、予め対象とした成分が決ま
っていることから、その成分内の重要ピークのみをＭＳ
2分析し、データベース内のＭＳ2データと比較すること
で、迅速且つ正確に、目的成分の保持時間を確認するこ
とが可能となる。
っていることから、その成分内の重要ピークのみをＭＳ
2分析し、データベース内のＭＳ2データと比較すること
で、迅速且つ正確に、目的成分の保持時間を確認するこ
とが可能となる。
【００５１】上記二つの実施例では、ＭＳ2分析までの
データを対象としての定性分析の例を示したが、ＭＳ3
分析やＭＳ4分析のように、ＭＳn分析を対象としても良
い。ｎの数が増えるほど、予めデータベースに格納して
おくデータ量が非常に多くなってしまい、データ処理部
１９の記憶容量の増加とデータ処理速度の遅延を招く可
能性があるが、分析精度はその分向上させることが出来
る。
データを対象としての定性分析の例を示したが、ＭＳ3
分析やＭＳ4分析のように、ＭＳn分析を対象としても良
い。ｎの数が増えるほど、予めデータベースに格納して
おくデータ量が非常に多くなってしまい、データ処理部
１９の記憶容量の増加とデータ処理速度の遅延を招く可
能性があるが、分析精度はその分向上させることが出来
る。
【００５２】
【発明の効果】上記に示すように、本発明は予め備えた
データベースに、各成分の主要ピーク毎のＭＳ2データ
を備えた点に大きな特徴がある。ＭＳ2データを備え、
上記各実施例に示すような分析を行うことにより、大気
圧イオン化法を用いるＬＣ／ＭＳのようなＭＳ1分析の
マススペクトルから得られる情報が少ない装置において
も、正確且つ迅速に、成分の特定を行うことが可能とな
り、定性精度を向上させることが出来る。また、指定し
た目的成分が測定データに含まれているかどうかを検索
する際にも、目的成分の有無の判定に有効な情報を得る
ことができる。
データベースに、各成分の主要ピーク毎のＭＳ2データ
を備えた点に大きな特徴がある。ＭＳ2データを備え、
上記各実施例に示すような分析を行うことにより、大気
圧イオン化法を用いるＬＣ／ＭＳのようなＭＳ1分析の
マススペクトルから得られる情報が少ない装置において
も、正確且つ迅速に、成分の特定を行うことが可能とな
り、定性精度を向上させることが出来る。また、指定し
た目的成分が測定データに含まれているかどうかを検索
する際にも、目的成分の有無の判定に有効な情報を得る
ことができる。
【００５３】また、本発明では、一度の分析でＭＳ2デ
ータの蓄積を行うことから、クロマトグラフ装置から導
入される試料の変化に容易に追従でき、リアルタイムの
分析を行うことが可能となる。また、ＭＳ2分析のため
に再分析を行う必要も無くなることから、貴重な試料を
分析する際に非常に有効である。
ータの蓄積を行うことから、クロマトグラフ装置から導
入される試料の変化に容易に追従でき、リアルタイムの
分析を行うことが可能となる。また、ＭＳ2分析のため
に再分析を行う必要も無くなることから、貴重な試料を
分析する際に非常に有効である。
【図１】本発明の装置構成を示す。
【図２】実施例１のフローチャートを示す。
【図３】実施例２のフローチャートを示す。
【図４】データベースの構成図を示す。
【図５】（ａ）実施例１の設定画面を示す。（ｂ）実施
例２の設定画面を示す。
例２の設定画面を示す。
【図６】実施例１の分析動作を説明するための図であ
る。
る。
【図７】実施例１の出力画面の一例を示す。
【図８】実施例２の分析動作を説明するための図であ
る。
る。
【図９】実施例２の出力画面の一例を示す。
１０…装置、１１…入部、 １２…配管、１３…分析カ
ラム、１４…イオン源、１５…質量分析部、１６…検出
器、１７…制御部、１８…信号線、１９…データ処理
部、２０…表示画面。
ラム、１４…イオン源、１５…質量分析部、１６…検出
器、１７…制御部、１８…信号線、１９…データ処理
部、２０…表示画面。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０１Ｊ 49/42 Ｈ０１Ｊ 49/42
Claims (15)
- 【請求項１】成分毎に、ＭＳ1分析のマススペクトルデ
ータ（ＭＳ1データ）とＭＳ2分析のマススペクトルデー
タ（ＭＳ2データ）を格納した標準データベースを備
え、クロマトグラフ装置から導入された試料をイオン化
し、イオンを捕捉可能なイオントラップにより質量分析
を行う質量分析計を用いた質量分析方法であって、 分析条件を設定するステップと、 イオン化された試料をＭＳ1分析とＭＳ2分析を行いなが
らマススペクトルを得るステップと、 前記標準データベースから、前記分析条件で設定された
条件に合う成分のＭＳ 1及びＭＳ2データを抽出するステ
ップと、 前記ＭＳ2分析によって得られたマススペクトルと前記
抽出された成分のＭＳ2データとを比較するステップと
を有することを特徴とする質量分析方法。 - 【請求項２】請求項１において、 前記分析条件は、ＭＳ2分析を行うべき「質量範囲」
と、当該質量範囲中のどのイオンをＭＳ2分析すべきか
を指定する「ピーク指定」とが設定されることを特徴と
する質量分析方法。 - 【請求項３】請求項２において、 前記分析条件では、更にＭＳ2分析すべきでないイオン
を指定する「除外ピーク」と、ＭＳ2分析すべき信号強
度を指定する「信号強度閾値」とが設定されることを特
徴とする質量分析方法。 - 【請求項４】請求項１において、 前記ＭＳ2分析は、前記分析条件で設定された条件に合
うイオンに対して成されることを特徴とする質量分析方
法。 - 【請求項５】請求項１において、 前記比較は、前記ＭＳ2分析で得られた全てのマススペ
クトルに対して行われ、最も一致度の高いＭＳ2データ
を有する成分が、それぞれのマススペクトルの比較結果
として出力されることを特徴とする質量分析方法。 - 【請求項６】成分毎に、ＭＳ1分析のマススペクトルデ
ータ（ＭＳ1データ）とＭＳ2分析のマススペクトルデー
タ（ＭＳ2データ）を格納した標準データベースを備
え、クロマトグラフ装置から導入された試料をイオン化
し、イオンを捕捉可能なイオントラップにより質量分析
を行う質量分析計を用いた質量分析方法であって、 分析すべき質量対電荷比（ｍ／ｚ）を指定するステップ
と、 イオン化された試料をＭＳ1分析とＭＳ2分析を行いなが
らマススペクトルを得るステップと、 前記ＭＳ2分析によって得られたマススペクトルと前記
標準データベース内の前記指定された質量対電荷比のピ
ークを有する成分のデータとを比較するステップとを有
することを特徴とする質量分析方法。 - 【請求項７】請求項６において、 前記指定された質量対電荷比（ｍ／ｚ）のマスクロマト
グラムを得るステップを有することを、特徴とする質量
分析方法。 - 【請求項８】請求項７において、 前記指定された質量対電荷比（ｍ／ｚ）のマスクロマト
グラムのピークを判定し、当該ピーク時にＭＳ2分析に
よって得られたマススペクトルと、前記標準データベー
ス内のデータとを比較することを特徴とする質量分析方
法。 - 【請求項９】請求項８において、 分析すべき質量対電荷比（ｍ／ｚ）と共に成分名も指定
し、前記比較時には、前記指定された質量対電荷比（ｍ
／ｚ）のマスクロマトグラムのピーク時のマススペクト
ルと、前記標準データベース内の前記指定された成分名
のＭＳ2データとを比較することを特徴とする質量分析
方法。 - 【請求項１０】請求項９において、 前記比較結果として、前記指定された成分名が検出され
た時間を表示することを特徴とする質量分析方法。 - 【請求項１１】測定対象試料をイオン化するイオン源
と、イオンを捕捉および開裂させ質量分析を行うイオン
トラップを備える質量分析部と、当該質量分析部から放
出されたイオンを検出する検出部と、当該検出部によっ
て得られたデータを処理するデータ処理部と、検出結果
を表示する表示部と、操作者からの情報が入力される入
力部とを備える質量分析装置において、 前記データ処理部は、成分毎に、ＭＳ1分析のマススペ
クトルデータ（ＭＳ1データ）とＭＳ2分析のマススペク
トルデータ（ＭＳ2データ）を格納した標準データベー
スを備え、 前記測定対象試料を質量分析する際に、ＭＳ1分析とＭ
Ｓ2分析を行いながらマススペクトルを得、ＭＳ2分析に
よって得られたマススペクトルと標準データベース内の
ＭＳ2データとを比較することを特徴とする質量分析装
置。 - 【請求項１２】請求項１１において、 前記表示部に、分析条件として、ＭＳ2分析を行うべき
「質量範囲」と、当該質量範囲中のどのイオンをＭＳ2
分析すべきかを指定する「ピーク指定」とを設定する設
定画面を表示することを特徴とする質量分析装置。 - 【請求項１３】請求項１２において、 前記設定画面に、更に、ＭＳ2分析すべきでないイオン
を指定する「除外ピーク」と、ＭＳ2分析すべき信号強
度を指定する「信号強度閾値」とを設定する領域を表示
することを特徴とする質量分析装置。 - 【請求項１４】請求項１１において、 前記表示部に、分析条件として、分析すべき成分名を指
定する「成分名」と、当該成分名中の質量対電荷比（ｍ
／ｚ）を指定する「重要ピーク」とを設定する設定画面
を表示することを特徴とする質量分析装置。 - 【請求項１５】請求項１２において、 前記データ処理部は、前記測定対象試料を質量分析して
得られた分析結果から、前記「重要ピーク」で設定され
た質量対電荷比（ｍ／ｚ）のマスクロマトグラムを作成
し、前記表示部へ表示することを特徴とする質量分析装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000398185A JP3805979B2 (ja) | 1999-12-27 | 2000-12-27 | 質量分析方法および装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11-371361 | 1999-12-27 | ||
| JP37136199 | 1999-12-27 | ||
| JP2000398185A JP3805979B2 (ja) | 1999-12-27 | 2000-12-27 | 質量分析方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001249114A true JP2001249114A (ja) | 2001-09-14 |
| JP3805979B2 JP3805979B2 (ja) | 2006-08-09 |
Family
ID=26582314
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000398185A Expired - Lifetime JP3805979B2 (ja) | 1999-12-27 | 2000-12-27 | 質量分析方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3805979B2 (ja) |
Cited By (33)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005091344A (ja) * | 2003-08-13 | 2005-04-07 | Hitachi Ltd | 質量分析システム |
| JP2007010509A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Nec Corp | 解析支援システムおよび解析支援方法 |
| US7211790B2 (en) | 2004-05-21 | 2007-05-01 | Hitachi High Technologies Corporation | Mass spectrometer and method of analyzing isomers |
| JP2007198882A (ja) * | 2006-01-26 | 2007-08-09 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析システム |
| JP2007218692A (ja) * | 2006-02-15 | 2007-08-30 | Hitachi High-Technologies Corp | タンデム型質量分析システム及び方法 |
| JP2007287531A (ja) * | 2006-04-18 | 2007-11-01 | Shimadzu Corp | 質量分析データ解析方法 |
| US7435949B2 (en) | 2005-05-27 | 2008-10-14 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometric analysis method and system using the method |
| JP2008542767A (ja) * | 2005-06-08 | 2008-11-27 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス スルー イッツ エムディーエス サイエックス ディヴィジョン | クロマトグラフィ／質量分析のデータ依存データ収集における動的なバックグラウンド信号の排除 |
| JP2008298427A (ja) * | 2007-05-29 | 2008-12-11 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
| JP2008545973A (ja) * | 2005-06-03 | 2008-12-18 | ウオーターズ・インベストメンツ・リミテツド | 化学分析のためのポリペプチド関連情報のカタログの発生および使用 |
| JP2008309733A (ja) * | 2007-06-18 | 2008-12-25 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析装置用データ処理装置 |
| US7473892B2 (en) | 2003-08-13 | 2009-01-06 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometer system |
| JP2009014424A (ja) * | 2007-07-03 | 2009-01-22 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析装置 |
| WO2009054026A1 (ja) | 2007-10-23 | 2009-04-30 | Shimadzu Corporation | 質量分析装置 |
| US7544931B2 (en) | 2004-11-02 | 2009-06-09 | Shimadzu Corporation | Mass-analyzing method |
| JP2010019655A (ja) * | 2008-07-10 | 2010-01-28 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析装置 |
| US7956320B2 (en) | 2006-05-18 | 2011-06-07 | Shimadzu Corporation | Data processor for mass spectrometer |
| US8026476B2 (en) | 2006-09-21 | 2011-09-27 | Shimadzu Corporation | Mass analyzing method |
| US8180576B2 (en) | 2006-05-11 | 2012-05-15 | Shimadzu Corporation | Data processor for mass spectrometer |
| WO2012104956A1 (ja) * | 2011-01-31 | 2012-08-09 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法及び装置 |
| JP2012193999A (ja) * | 2011-03-15 | 2012-10-11 | Shimadzu Corp | 分取液体クロマトグラフ装置 |
| US8417466B2 (en) | 2007-10-22 | 2013-04-09 | Shimadzu Corporation | Mass analysis data processing apparatus |
| WO2013076826A1 (ja) * | 2011-11-22 | 2013-05-30 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
| JP2014502725A (ja) * | 2010-12-29 | 2014-02-03 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 依存的質量分析走査をトリガするための方法 |
| JP5405668B2 (ja) * | 2010-07-27 | 2014-02-05 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオントラップ質量分析装置および質量分析方法 |
| WO2016002047A1 (ja) * | 2014-07-03 | 2016-01-07 | 株式会社島津製作所 | 質量分析データ処理装置 |
| EP3045906A4 (en) * | 2013-10-21 | 2016-09-07 | Shimadzu Corp | DATA PROCESSING DEVICE FOR COMPLETE TWO-DIMENSIONAL CHROMATOGRAPH |
| US9601322B2 (en) | 2007-10-23 | 2017-03-21 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
| CZ307445B6 (cs) * | 2008-04-28 | 2018-08-29 | Univerzita PalackĂ©ho v Olomouci | Iontový zdroj pro nižší meze detekce u spektrometrických měření |
| US10453227B2 (en) | 2014-09-30 | 2019-10-22 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometry data processing apparatus |
| US11094399B2 (en) | 2011-01-11 | 2021-08-17 | Shimadzu Corporation | Method, system and program for analyzing mass spectrometoric data |
| CN113325064A (zh) * | 2021-05-28 | 2021-08-31 | 华南农业大学 | 一种大气压化学电离质谱鉴定魅力峰乳化剂组成成分的方法 |
| WO2023017559A1 (ja) * | 2021-08-10 | 2023-02-16 | 株式会社日立ハイテク | 質量分析データ処理方法、及び質量分析データ処理装置、質量分析データ処理プログラム |
-
2000
- 2000-12-27 JP JP2000398185A patent/JP3805979B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (53)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7473892B2 (en) | 2003-08-13 | 2009-01-06 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometer system |
| US7932486B2 (en) | 2003-08-13 | 2011-04-26 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometer system |
| JP4515819B2 (ja) * | 2003-08-13 | 2010-08-04 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析システム |
| JP2010117377A (ja) * | 2003-08-13 | 2010-05-27 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析システム |
| JP2005091344A (ja) * | 2003-08-13 | 2005-04-07 | Hitachi Ltd | 質量分析システム |
| US7211790B2 (en) | 2004-05-21 | 2007-05-01 | Hitachi High Technologies Corporation | Mass spectrometer and method of analyzing isomers |
| US7462817B2 (en) | 2004-05-21 | 2008-12-09 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometer and method of analyzing isomers |
| US7544931B2 (en) | 2004-11-02 | 2009-06-09 | Shimadzu Corporation | Mass-analyzing method |
| US7435949B2 (en) | 2005-05-27 | 2008-10-14 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometric analysis method and system using the method |
| JP2008545973A (ja) * | 2005-06-03 | 2008-12-18 | ウオーターズ・インベストメンツ・リミテツド | 化学分析のためのポリペプチド関連情報のカタログの発生および使用 |
| US8105838B2 (en) | 2005-06-03 | 2012-01-31 | Waters Technologies Corporation | Generation and use of a catalog of polypeptide-related information for chemical analyses |
| JP2008542767A (ja) * | 2005-06-08 | 2008-11-27 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス スルー イッツ エムディーエス サイエックス ディヴィジョン | クロマトグラフィ／質量分析のデータ依存データ収集における動的なバックグラウンド信号の排除 |
| JP2007010509A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Nec Corp | 解析支援システムおよび解析支援方法 |
| JP2007198882A (ja) * | 2006-01-26 | 2007-08-09 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析システム |
| US7544930B2 (en) | 2006-02-15 | 2009-06-09 | Hitachi High-Technologies Corporation | Tandem type mass analysis system and method |
| JP2007218692A (ja) * | 2006-02-15 | 2007-08-30 | Hitachi High-Technologies Corp | タンデム型質量分析システム及び方法 |
| JP2007287531A (ja) * | 2006-04-18 | 2007-11-01 | Shimadzu Corp | 質量分析データ解析方法 |
| US7763846B2 (en) | 2006-04-18 | 2010-07-27 | Shimadzu Corporation | Method of analyzing mass analysis data and apparatus for the method |
| US8180576B2 (en) | 2006-05-11 | 2012-05-15 | Shimadzu Corporation | Data processor for mass spectrometer |
| US7956320B2 (en) | 2006-05-18 | 2011-06-07 | Shimadzu Corporation | Data processor for mass spectrometer |
| US8026476B2 (en) | 2006-09-21 | 2011-09-27 | Shimadzu Corporation | Mass analyzing method |
| JP2008298427A (ja) * | 2007-05-29 | 2008-12-11 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
| JP2008309733A (ja) * | 2007-06-18 | 2008-12-25 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析装置用データ処理装置 |
| US8198585B2 (en) | 2007-07-03 | 2012-06-12 | Shimadzu Corporation | Chromatograph mass spectrometer |
| JP2009014424A (ja) * | 2007-07-03 | 2009-01-22 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析装置 |
| US8417466B2 (en) | 2007-10-22 | 2013-04-09 | Shimadzu Corporation | Mass analysis data processing apparatus |
| WO2009054026A1 (ja) | 2007-10-23 | 2009-04-30 | Shimadzu Corporation | 質量分析装置 |
| US9672330B2 (en) | 2007-10-23 | 2017-06-06 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
| US9601322B2 (en) | 2007-10-23 | 2017-03-21 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
| CZ307445B6 (cs) * | 2008-04-28 | 2018-08-29 | Univerzita PalackĂ©ho v Olomouci | Iontový zdroj pro nižší meze detekce u spektrometrických měření |
| JP2010019655A (ja) * | 2008-07-10 | 2010-01-28 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析装置 |
| US8704166B2 (en) | 2010-07-27 | 2014-04-22 | Hitachi High-Technologies Corporation | Ion trap type mass spectrometer and mass spectrometry |
| JP5405668B2 (ja) * | 2010-07-27 | 2014-02-05 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオントラップ質量分析装置および質量分析方法 |
| JP2014502725A (ja) * | 2010-12-29 | 2014-02-03 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 依存的質量分析走査をトリガするための方法 |
| US11094399B2 (en) | 2011-01-11 | 2021-08-17 | Shimadzu Corporation | Method, system and program for analyzing mass spectrometoric data |
| JP5590156B2 (ja) * | 2011-01-31 | 2014-09-17 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法及び装置 |
| US8884218B2 (en) | 2011-01-31 | 2014-11-11 | Shimadzu Corporation | Method and systems for mass spectrometry for identification and structural analysis of unknown substance |
| WO2012104956A1 (ja) * | 2011-01-31 | 2012-08-09 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法及び装置 |
| JP2012193999A (ja) * | 2011-03-15 | 2012-10-11 | Shimadzu Corp | 分取液体クロマトグラフ装置 |
| US9576780B2 (en) | 2011-11-22 | 2017-02-21 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer with timing determination based on a signal intensity in a chromatogram |
| CN103946950A (zh) * | 2011-11-22 | 2014-07-23 | 株式会社岛津制作所 | 质量分析装置 |
| WO2013076826A1 (ja) * | 2011-11-22 | 2013-05-30 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
| JPWO2013076826A1 (ja) * | 2011-11-22 | 2015-04-27 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
| EP3045906A4 (en) * | 2013-10-21 | 2016-09-07 | Shimadzu Corp | DATA PROCESSING DEVICE FOR COMPLETE TWO-DIMENSIONAL CHROMATOGRAPH |
| JP6048590B2 (ja) * | 2013-10-21 | 2016-12-21 | 株式会社島津製作所 | 包括的２次元クロマトグラフ用データ処理装置 |
| US10254258B2 (en) | 2013-10-21 | 2019-04-09 | Shimadzu Corporation | Data processing system for comprehensive two-dimensional chromatograph |
| WO2016002047A1 (ja) * | 2014-07-03 | 2016-01-07 | 株式会社島津製作所 | 質量分析データ処理装置 |
| WO2016002233A1 (ja) * | 2014-07-03 | 2016-01-07 | 株式会社島津製作所 | 質量分析データ処理装置 |
| US10557837B2 (en) | 2014-07-03 | 2020-02-11 | Shimadzu Corporation | Mass-spectrometry-data processing system |
| JPWO2016002233A1 (ja) * | 2014-07-03 | 2017-04-27 | 株式会社島津製作所 | 質量分析データ処理装置 |
| US10453227B2 (en) | 2014-09-30 | 2019-10-22 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometry data processing apparatus |
| CN113325064A (zh) * | 2021-05-28 | 2021-08-31 | 华南农业大学 | 一种大气压化学电离质谱鉴定魅力峰乳化剂组成成分的方法 |
| WO2023017559A1 (ja) * | 2021-08-10 | 2023-02-16 | 株式会社日立ハイテク | 質量分析データ処理方法、及び質量分析データ処理装置、質量分析データ処理プログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3805979B2 (ja) | 2006-08-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3805979B2 (ja) | 質量分析方法および装置 | |
| JP5590156B2 (ja) | 質量分析方法及び装置 | |
| KR100969938B1 (ko) | 질량분석장치 | |
| US6329652B1 (en) | Method for comparison of similar samples in liquid chromatography/mass spectrometry | |
| US20060006326A1 (en) | A-priori biomarker knowledge based mass filtering for enhanced biomarker detection | |
| JP6065983B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 | |
| US6573492B2 (en) | Mass spectrometric analysis method and apparatus using the method | |
| JP4857000B2 (ja) | 質量分析システム | |
| JPH08124519A (ja) | Ｍｓ／ｍｓ質量分析装置用データ処理装置 | |
| JP6737396B2 (ja) | 質量分析装置及びクロマトグラフ質量分析装置 | |
| JP7173293B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析装置 | |
| JP4782579B2 (ja) | タンデム型質量分析システム及び方法 | |
| JPH10142196A (ja) | 質量分析方法および装置 | |
| JP2004251830A (ja) | 質量分析計データ処理装置およびデータ処理方法 | |
| JP6645585B2 (ja) | 質量分析データ処理装置、質量分析データ処理方法、及び質量分析データ処理プログラム | |
| JP6146211B2 (ja) | 質量分析データ処理方法及び該方法を用いた質量分析装置 | |
| EP3916756A1 (en) | Absolute quantitation of a target analyte using a mass spectrometer | |
| JP2009156722A (ja) | 質量分析スペクトル分析方法 | |
| WO2018163926A1 (ja) | タンデム型質量分析装置及び該装置用プログラム | |
| JP7070692B2 (ja) | 質量分析装置及び質量分析方法 | |
| EP3268980A1 (en) | Method of increasing quality of tandem mass spectra | |
| JP2008039608A (ja) | 質量分析システム | |
| WO2023119427A1 (ja) | クロマトグラフ質量分析装置 | |
| JP2008170346A (ja) | 質量分析システム | |
| CN115516302A (zh) | 色谱质量分析数据处理方法、色谱质量分析装置以及色谱质量分析数据处理用程序 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041214 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050209 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050913 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051109 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060425 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060511 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 3805979 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100519 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110519 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110519 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120519 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120519 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130519 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130519 Year of fee payment: 7 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |