JP2008298427A - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】マススペクトルのピーク選別条件として、信号強度の下限値LLとともに上限値ULを指定可能とする。データ処理部は、LCMS分析中に得られたマススペクトルに現れるピークのピーク強度が上限値ULと下限値LLとで決まる強度範囲Athに入っているか否かを判定し、入らないピークは除外し、残ったピークについて例えば強度順にプリカーサイオンに設定してMS2分析を実行する。上限値ULを適切に設定することで、MS2分析が不要な高強度成分を避けて低濃度の成分のMS2分析を優先的に行うことができる。
【選択図】図3
Description
a)MSn-1スペクトルについての信号強度の上限値及び下限値、又は上限と下限とを境界とする強度範囲をユーザが入力設定するための設定手段と、
b)取得されたMSn-1スペクトルに現れるピークの中で、そのピーク強度が前記上限値及び下限値で決まる又は直接入力設定される強度範囲に収まるようなピークを選別するピーク選別手段と、
c)前記ピーク選別手段により選別されたピークに対応した質量を持つイオンをプリカーサイオンとしてMSn分析を行うべく分析の制御を行う分析制御手段と、
を備えることを特徴としている。
a)MSn-1スペクトルについての少なくとも信号強度の下限値をユーザが入力設定するための設定手段と、
b)取得されたMSn-1スペクトルに現れるピークの中で、そのピーク強度が前記下限値以上であるピークを選別するピーク選別手段と、
c)前記ピーク選別手段により選別されたピークに対応した質量を持つイオンを、そのピーク強度が小さいものから順にプリカーサイオンとしてMSn分析を行うべく分析の制御を行う分析制御手段と、
を備えることを特徴としている。
図2(a)はLCMS実行時に作成されるトータルイオンクロマトグラムの一部である。これは、質量に拘わらず全てのイオンの検出結果(強度値)を時間経過に伴ってプロットしたものであり、実際には、所定時間間隔でMS分析が実行され、そのMS分析毎に1つのマススペクトル(MS1スペクトル)が作成される(図2(b)参照)。
10…エレクトロスプレイノズル
11…イオン化室
12…加熱パイプ
13…第1中間真空室
14…第1イオンレンズ
15…第2中間真空室
16…第2イオンレンズ
17…分析室
18…イオントラップ
19…飛行時間型質量分離器
20…リフレクトロン
21…イオン検出器
22…A/D変換器
23…データ処理部
24…制御部
25…IT電源部
26…操作部
27…表示部
3…液体クロマトグラフ
30…移動相容器
31…送液ポンプ
32…インジェクタ
33…カラム
Claims (3)
- MSn-1分析(nは2以上の整数)で得られるMSn-1スペクトルデータに基づいて1乃至複数のプリカーサイオンを決定し、該プリカーサイオンを開裂させてMSn分析を行う質量分析装置において、
a)MSn-1スペクトルについての信号強度の上限値及び下限値、又は上限と下限とを境界とする強度範囲をユーザが入力設定するための設定手段と、
b)取得されたMSn-1スペクトルに現れるピークの中で、そのピーク強度が前記上限値及び下限値で決まる又は直接入力設定される強度範囲に収まるようなピークを選別するピーク選別手段と、
c)前記ピーク選別手段により選別されたピークに対応した質量を持つイオンをプリカーサイオンとしてMSn分析を行うべく分析の制御を行う分析制御手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - MSn-1分析(nは2以上の整数)で得られるMSn-1スペクトルデータに基づいて1乃至複数のプリカーサイオンを決定し、該プリカーサイオンを開裂させてMSn分析を行う質量分析装置において、
a)MSn-1スペクトルについての少なくとも信号強度の下限値をユーザが入力設定するための設定手段と、
b)取得されたMSn-1スペクトルに現れるピークの中で、そのピーク強度が前記下限値以上であるピークを選別するピーク選別手段と、
c)前記ピーク選別手段により選別されたピークに対応した質量を持つイオンを、そのピーク強度が小さいものから順にプリカーサイオンとしてMSn分析を行うべく分析の制御を行う分析制御手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - クロマトグラフのカラムで時間方向に分離された試料成分を順次イオン化部に導入して分析を行うことを特徴とする請求項1又は2に記載の質量分析装置。
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