JPWO2018163926A1 - タンデム型質量分析装置及び該装置用プログラム - Google Patents
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Abstract
Description
a)前記第1質量分離部でのイオンの選別及び前記イオン解離部でのイオン解離を行うことなく前記第2質量分離部で質量分析を行ってマススペクトルデータを取得するように各部を制御する質量分析制御部と、
b)前記質量分析制御部の制御の下で得られたマススペクトルデータに基づいて、測定対象の質量電荷比範囲全体を所定の質量電荷比幅ずつ区切ることで得られる複数の質量電荷比小範囲の中から一又は複数の質量電荷比小範囲を選択する及び/又は隣接する複数の質量電荷比小範囲を結合して質量電荷比幅がより大きな質量電荷比小範囲を形成する質量電荷比小領域決定部と、
c)前記質量分析制御部の制御の下でマススペクトルデータが得られ、前記質量電荷比小領域決定部で一又は複数の質量電荷比小範囲が決定されたあと、該決定された質量電荷比小領域のそれぞれについて、前記第1質量分離部で質量電荷比が質量電荷比小範囲に含まれるイオンを選別し前記イオン解離部で該イオンを解離したうえで前記第2質量分離部で質量分析を行ってMS/MSスペクトルデータを取得するように各部を制御するMS/MS分析制御部と、
を備えることを特徴としている。
a)前記第1質量分離部でのイオンの選別及び前記イオン解離部でのイオン解離を行うことなく前記第2質量分離部で質量分析を行ってマススペクトルデータを取得するように各部を制御する質量分析制御機能部と、
b)前記質量分析制御機能部の制御の下で得られたマススペクトルデータに基づいて、測定対象の質量電荷比範囲全体を所定の質量電荷比幅ずつ区切ることで得られる複数の質量電荷比小範囲の中から一又は複数の質量電荷比小範囲を選択する及び/又は隣接する複数の質量電荷比小範囲を結合して質量電荷比幅がより大きな質量電荷比小範囲を形成する質量電荷比小領域決定機能部と、
c)前記質量分析制御機能部の制御の下でマススペクトルデータが得られ、前記質量電荷比小領域決定機能部により一又は複数の質量電荷比小範囲が決定されたあと、該決定された質量電荷比小領域のそれぞれについて、前記第1質量分離部で質量電荷比が質量電荷比小範囲に含まれるイオンを選別し前記イオン解離部で該イオンを解離したうえで前記第2質量分離部で質量分析を行ってMS/MSスペクトルデータを取得するように各部を制御するMS/MS分析制御機能部と、
して動作させることを特徴としている。
d)前記質量分析制御部の制御の下での質量分析と前記MS/MS分析制御部の制御の下での1又は複数回のMS/MS分析とを繰り返し実行することで得られたマススペクトルデータ及びMS/MSスペクトルデータに基づいて、観測されるイオン毎に抽出イオンクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成部と、
e)前記イオン毎の抽出イオンクロマトグラム上のピークの保持時間情報に基づいて前記観測されるイオンを分類し、一つの成分又は該成分由来のプリカーサイオンに対応するプロダクトイオン情報を収集する解析処理部と、
をさらに備える構成とするとよい。
図1は本実施例のQ−TOF型質量分析装置の要部の構成図である。図示しないが、このQ−TOF型質量分析装置の前段には液体クロマトグラフが接続され、液体クロマトグラフのカラムで時間的に分離された成分を含む試料が当該Q−TOF型質量分析装置に導入される。
測定部1において、チャンバ10の内部には、略大気圧雰囲気であるイオン化室101から高真空雰囲気である第2分析室105まで順に真空度が高くなる、第1中間真空室102、第2中間真空室103、第1分析室104が設けられている。即ち、測定部1は多段差動排気系の構成である。
図示しない液体クロマトグラフのカラムからの溶出液がESIスプレー11に導入されると、ESIスプレー11は片寄った電荷を溶出液に付与しつつ該液を噴霧する。帯電した微小液滴はイオン化室101内で大気ガスと接触して微細化され、溶媒が蒸発する過程で該液滴中の成分がイオン化される。生成されたイオンは、脱溶媒管12、イオンガイド13、15を経て四重極マスフィルタ16に導入される。分析制御部4の制御の下で、四重極マスフィルタ16には特定の質量電荷比又は質量電荷比幅を有するイオンのみを通過させるような電圧が印加される。それにより、試料成分由来の様々なイオンの中で、特定の質量電荷比又は質量電荷比幅を有するイオンのみがプリカーサイオンとして選択的に四重極マスフィルタ16を通り抜けコリジョンセル17内に導入される。
本実施例のQ−TOF型質量分析装置では、分析に先立って操作者が、MS/MS分析のターゲットであるプリカーサイオンの質量電荷比幅ΔMと、MS/MS分析を実施する質量電荷比小範囲を選択するための判定条件とを入力部6から設定する。質量電荷比幅ΔMの情報は判定条件記憶部33に格納されるとともにMS/MS分析制御部41に送られ、判定条件は判定条件記憶部33に格納される。もちろん、これらの情報を操作者が入力せずに、予め装置に定められたデフォルトの情報が利用されるようにしてもよい。ここでは、一例として、質量電荷比小範囲に含まれる信号強度の積算値に対する閾値を判定条件として定めるものとする。
10…チャンバ
101…イオン化室
102…第1中間真空室
103…第2中間真空室
104…第1分析室
105…第2分析室
11…ESIスプレー
12…脱溶媒管
13…イオンガイド
14…スキマー
16…四重極マスフィルタ
17…コリジョンセル
18…多重極イオンガイド
19…イオンガイド
20…イオン通過孔
21…直交加速部
22…飛行空間
23…反射器
24…イオン検出器
3…データ処理部
30…データ収集部
31…マススペクトル作成部
32…マススペクトル解析部
33…判定条件記憶部
34…クロマトグラム作成部
35…同定処理部
4…分析制御部
40…MS分析制御部
41…MS/MS分析制御部
5…中央制御部
6…入力部
7…表示部
a)前記第1質量分離部でのイオンの選別及び前記イオン解離部でのイオン解離を行うことなく前記第2質量分離部で質量分析を行ってマススペクトルデータを取得するように各部を制御する質量分析制御部と、
b)前記質量分析制御部の制御の下で得られたマススペクトルデータに基づいて、測定対象の質量電荷比範囲全体を所定の質量電荷比幅ずつ区切ることで得られる複数の質量電荷比小範囲の中から一又は複数の質量電荷比小範囲を選択する及び/又は隣接する複数の質量電荷比小範囲を結合して質量電荷比幅がより大きな質量電荷比小範囲を形成するものであり、マススペクトルデータに基づくマススペクトルにおける信号強度に基づいて各質量電荷比小範囲の有意性を判定し、有意性の高い質量電荷比小範囲を選択する、又は値が隣接する複数の有意性の低い質量電荷比小範囲を結合して質量電荷比幅がより大きな質量電荷比小範囲を形成する質量電荷比小領域決定部と、
c)前記質量分析制御部の制御の下でマススペクトルデータが得られ、前記質量電荷比小領域決定部で一又は複数の質量電荷比小範囲が決定されたあと、該決定された質量電荷比小領域のそれぞれについて、前記第1質量分離部で質量電荷比が質量電荷比小範囲に含まれるイオンを選別し前記イオン解離部で該イオンを解離したうえで前記第2質量分離部で質量分析を行ってMS/MSスペクトルデータを取得するように各部を制御するMS/MS分析制御部と、
を備えることを特徴としている。
a)前記第1質量分離部でのイオンの選別及び前記イオン解離部でのイオン解離を行うことなく前記第2質量分離部で質量分析を行ってマススペクトルデータを取得するように各部を制御する質量分析制御機能部と、
b)前記質量分析制御機能部の制御の下で得られたマススペクトルデータに基づいて、測定対象の質量電荷比範囲全体を所定の質量電荷比幅ずつ区切ることで得られる複数の質量電荷比小範囲の中から一又は複数の質量電荷比小範囲を選択する及び/又は隣接する複数の質量電荷比小範囲を結合して質量電荷比幅がより大きな質量電荷比小範囲を形成するものであり、マススペクトルデータに基づくマススペクトルにおける信号強度に基づいて各質量電荷比小範囲の有意性を判定し、有意性の高い質量電荷比小範囲を選択する、又は値が隣接する複数の有意性の低い質量電荷比小範囲を結合して質量電荷比幅がより大きな質量電荷比小範囲を形成する質量電荷比小領域決定機能部と、
c)前記質量分析制御機能部の制御の下でマススペクトルデータが得られ、前記質量電荷比小領域決定機能部により一又は複数の質量電荷比小範囲が決定されたあと、該決定された質量電荷比小領域のそれぞれについて、前記第1質量分離部で質量電荷比が質量電荷比小範囲に含まれるイオンを選別し前記イオン解離部で該イオンを解離したうえで前記第2質量分離部で質量分析を行ってMS/MSスペクトルデータを取得するように各部を制御するMS/MS分析制御機能部と、
して動作させることを特徴としている。
Claims (5)
- 試料由来のイオンの中で特定の質量電荷比又は質量電荷比範囲を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する第1質量分離部と、該プリカーサイオンを解離させるイオン解離部と、その解離により生成された各種プロダクトイオンを質量分析する第2質量分離部と、を具備するタンデム型質量分析装置であって、
a)前記第1質量分離部でのイオンの選別及び前記イオン解離部でのイオン解離を行うことなく前記第2質量分離部で質量分析を行ってマススペクトルデータを取得するように各部を制御する質量分析制御部と、
b)前記質量分析制御部の制御の下で得られたマススペクトルデータに基づいて、測定対象の質量電荷比範囲全体を所定の質量電荷比幅ずつ区切ることで得られる複数の質量電荷比小範囲の中から一又は複数の質量電荷比小範囲を選択する及び/又は隣接する複数の質量電荷比小範囲を結合して質量電荷比幅がより大きな質量電荷比小範囲を形成する質量電荷比小領域決定部と、
c)前記質量分析制御部の制御の下でマススペクトルデータが得られ、前記質量電荷比小領域決定部で一又は複数の質量電荷比小範囲が決定されたあと、該決定された質量電荷比小領域のそれぞれについて、前記第1質量分離部で質量電荷比が質量電荷比小範囲に含まれるイオンを選別し前記イオン解離部で該イオンを解離したうえで前記第2質量分離部で質量分析を行ってMS/MSスペクトルデータを取得するように各部を制御するMS/MS分析制御部と、
を備えることを特徴とするタンデム型質量分析装置。 - 請求項1に記載のタンデム型質量分析装置であって、
前記測定対象小領域決定部は、マススペクトルデータに基づくマススペクトルにおける信号強度に基づいて各質量電荷比小範囲の有意性を判定し、有意性の高い質量電荷比小範囲を選択する、又は値が隣接する複数の有意性の低い質量電荷比小範囲を結合して質量電荷比幅がより大きな質量電荷比小範囲を形成することを特徴とするタンデム型質量分析装置。 - 請求項1又は2に記載のタンデム型質量分析装置であって、
d)前記質量分析制御部の制御の下での質量分析と前記MS/MS分析制御部の制御の下での一又は複数回のMS/MS分析とを繰り返し実行することで得られたマススペクトルデータ及びMS/MSスペクトルデータに基づいて、観測されるイオン毎に抽出イオンクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成部と、
e)前記イオン毎の抽出イオンクロマトグラム上のピークの保持時間情報に基づいて前記観測されるイオンを分類し、一つの成分又は該成分由来のプリカーサイオンに対応するプロダクトイオン情報を収集する解析処理部と、
を備えることを特徴とするタンデム型質量分析装置。 - 試料由来のイオンの中で特定の質量電荷比又は質量電荷比範囲を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する第1質量分離部と、該プリカーサイオンを解離させるイオン解離部と、その解離により生成された各種プロダクトイオンを質量分析する第2質量分離部と、を具備するタンデム型質量分析装置の動作を制御するためのコンピュータ用プログラムであって、該コンピュータを、
a)前記第1質量分離部でのイオンの選別及び前記イオン解離部でのイオン解離を行うことなく前記第2質量分離部で質量分析を行ってマススペクトルデータを取得するように各部を制御する質量分析制御機能部と、
b)前記質量分析制御機能部の制御の下で得られたマススペクトルデータに基づいて、測定対象の質量電荷比範囲全体を所定の質量電荷比幅ずつ区切ることで得られる複数の質量電荷比小範囲の中から一又は複数の質量電荷比小範囲を選択する及び/又は隣接する複数の質量電荷比小範囲を結合して質量電荷比幅がより大きな質量電荷比小範囲を形成する質量電荷比小領域決定機能部と、
c)前記質量分析制御機能部の制御の下でマススペクトルデータが得られ、前記質量電荷比小領域決定機能部により一又は複数の質量電荷比小範囲が決定されたあと、該決定された質量電荷比小領域のそれぞれについて、前記第1質量分離部で質量電荷比が質量電荷比小範囲に含まれるイオンを選別し前記イオン解離部で該イオンを解離したうえで前記第2質量分離部で質量分析を行ってMS/MSスペクトルデータを取得するように各部を制御するMS/MS分析制御機能部と、
して動作させることを特徴とするタンデム型質量分析装置用プログラム。 - 請求項4に記載のタンデム型質量分析装置用プログラムであって、
前記測定対象小領域決定機能部では、マススペクトルデータに基づくマススペクトルにおける信号強度に基づいて各質量電荷比小範囲の有意性を判定し、有意性の高い質量電荷比小範囲を選択する、又は値が隣接する複数の有意性の低い質量電荷比小範囲を結合して質量電荷比幅がより大きな質量電荷比小範囲を形成することを特徴とするタンデム型質量分析装置用プログラム。
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