JP2010019655A - クロマトグラフ質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】目的試料に対する1回目のLC/MS分析により、m/z、強度、時間の3次元データを収集し(S1、S2)、分析終了後に予め設定されたm/z範囲のデータを用いてマスクロマトグラムを作成する(S3)。そのマスクロマトグラムに対しピーク検出を行い、ピークに対応するm/zを含むピーク情報を収集する(S4、S5)。ピーク強度が所定の閾値以上のものを抽出し、同一成分に由来するとみなせるピークを除いて、プリカーサイオンリストを作成するとともに、同一時間に出現する複数のピークに対応した成分のMS/MS分析を実行できるようにスケジュールを設定する(S7)。このスケジュールに従い目的試料に対して1回以上のLC/MS/MS分析を実行し、それにより得られたデータに基づいて成分同定を実行する(S8〜S11)。
【選択図】図2
Description
a)目的試料に対するMSm−1(mは2≦m≦nの整数)分析を実行し、m/z、強度、及び時間の3次元データを収集するMSm−1分析実行手段と、
b)前記MSm−1分析により収集された3次元データの中で、少なくとも1つの所定のm/z範囲に含まれる3次元データを用い、そのm/z範囲に対応するマスクロマトグラムを作成するマスクロマトグラム作成手段と、
c)前記マスクロマトグラムに対しピークを検出し、そのピーク強度が所定の閾値以上であるピークに対応したm/zを含むピーク情報を取得するピーク情報収集手段と、
d)前記ピーク情報収集手段により収集されたピーク情報を利用してプリカーサイオンを決定するプリカーサ決定手段と、
e)前記目的試料に対し、前記決定されたプリカーサイオンに対する選別及び開裂操作を伴うMSm分析を実行するMSm分析実行手段と、
を備えることを特徴としている。
11…移動相容器
12…送液ポンプ
13…インジェクタ
14…カラム
2…MS部
21…イオン化室
22…ESIノズル
23…脱溶媒管
24、27…中間真空室
25、28…イオンガイド
26…スキマー
29…分析室
30…イオントラップ
31…TOF
32…リフレクトロン電極
33…イオン検出器
34…A/D変換器
40…データ処理部
41…マスクロマトグラム作成部
42…ピーク検出部
43…プリカーサ設定部
44…成分同定処理部
45…データ記憶部
46…分析制御部
47…中央制御部
48…操作部
49…表示部
Claims (2)
- 目的試料中の試料成分を時間方向に分離するクロマトグラフと、導入される試料中の成分をイオン化し、少なくとも1回のイオンの選別及び開裂を行った上で、生成されたイオンを質量分析するMSn(n≧2の整数)分析可能な質量分析装置と、を組み合わせたクロマトグラフ質量分析装置において、
a)目的試料に対するMSm−1(mは2≦m≦nの整数)分析を実行し、m/z、強度、及び時間の3次元データを収集するMSm−1分析実行手段と、
b)前記MSm−1分析により収集された3次元データの中で、少なくとも1つの所定のm/z範囲に含まれる3次元データを用い、そのm/z範囲に対応するマスクロマトグラムを作成するマスクロマトグラム作成手段と、
c)前記マスクロマトグラムに対しピークを検出し、そのピーク強度が所定の閾値以上であるピークに対応したm/zを含むピーク情報を取得するピーク情報収集手段と、
d)前記ピーク情報収集手段により収集されたピーク情報を利用してプリカーサイオンを決定するプリカーサ決定手段と、
e)前記目的試料に対し、前記決定されたプリカーサイオンに対する選別及び開裂操作を伴うMSm分析を実行するMSm分析実行手段と、
を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。 - 請求項1に記載のクロマトグラフ質量分析装置であって、
少なくとも前記MSm分析実行手段により得られた特定のプリカーサイオンに対するMSmスペクトルとそのプリカーサイオンが得られたときのMSm−1スペクトルとから成分推定を実行する成分推定手段、をさらに備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008179750A JP2010019655A (ja) | 2008-07-10 | 2008-07-10 | クロマトグラフ質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008179750A JP2010019655A (ja) | 2008-07-10 | 2008-07-10 | クロマトグラフ質量分析装置 |
Publications (1)
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JP2010019655A true JP2010019655A (ja) | 2010-01-28 |
Family
ID=41704721
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2008179750A Pending JP2010019655A (ja) | 2008-07-10 | 2008-07-10 | クロマトグラフ質量分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2010019655A (ja) |
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