WO2014132387A1 - タンデム四重極型質量分析装置 - Google Patents

タンデム四重極型質量分析装置 Download PDF

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mass
target component
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quadrupole mass
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恵子 松本
泰郎 小倉
Original Assignee
株式会社島津製作所
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    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers

Definitions

  • a tandem quadrupole mass spectrometer may be used alone, but is often used in combination with a liquid chromatograph (LC) or a gas chromatograph (GC).
  • LC liquid chromatograph
  • GC gas chromatograph
  • LC / MS / MS using a tandem quadrupole mass spectrometer as a detector of a liquid chromatograph is often used for quantitative analysis of components in samples containing many components or samples containing impurities.
  • the reliability of the mass-to-charge ratio of the selected product ions may be low, so the analyst must actually be involved in the selection. This was one of the causes that lowered the efficiency of analysis work.
  • the present invention has been made to solve these problems.
  • the object of the present invention is to increase the mass-to-charge ratio of the product ion corresponding to the target component when automatically optimizing the MRM measurement parameters.
  • the present invention provides an ion source that ionizes components in an introduced sample, and a precursor having ions having a specific mass-to-charge ratio among various ions generated by the ion source.
  • a chromatogram is created based on the total product ion intensity obtained thereby, and peak detection is performed on the chromatogram, so that the peak period derived from the target component is obtained.
  • the peak non-existing period, and the measurement by the blank sample measurement execution means and the measurement by the target sample measurement execution means may be switched according to the distinction. That is, in this case, the measurement by the blank sample measurement execution unit and the measurement by the target sample measurement execution unit are automatically switched regardless of the instruction or operation of the analyst.
  • the background spectrum for the blank sample in which only the solvent is mixed in the mobile phase can be obtained, although two sample injection operations to the chromatograph or the flow injection sample introduction unit are required. Therefore, not only the undesired substance contained in the mobile phase but also the intensity derived from the contaminating component contained in the solvent is reflected in the background spectrum, and a mass spectrum for the target component excluding such influence can be obtained.
  • Intensity value data may be integrated for each mass-to-charge ratio over a period of time, or the amount of the target component introduced into the ion source is relatively large, that is, the peak corresponding to the target component on the chromatogram
  • the intensity value data obtained during a predetermined period near the peak top may be integrated.
  • the background spectrum may be created by integrating or averaging data obtained by a plurality of product ion scan measurements.
  • the ESI ionization probe 25 sprays the liquid sample while applying an electric charge to the liquid sample that has reached its tip.
  • the sprayed charged droplets are refined while being disrupted by electrostatic force, and in the process, ions derived from components contained in the liquid sample are ejected.
  • the ions generated here are sent to the first intermediate vacuum chamber 22 through the heating capillary 26, converged by the ion guide 27, and sent to the second intermediate vacuum chamber 23 through a small hole at the top of the skimmer 28.
  • the ions derived from the sample components are converged by the ion guide 29 and sent to the analysis chamber 24 and introduced into the space in the long axis direction of the front quadrupole mass filter 30.
  • ionization may be performed not only by ESI but also by other atmospheric pressure ionization methods such as APCI and APPI.
  • a predetermined voltage (a voltage in which a high-frequency voltage and a DC voltage are superimposed) is applied to each rod electrode of the front-stage quadrupole mass filter 30 and the rear-stage quadrupole mass filter 33, and the collision cell 31.
  • CID gas is supplied in the interior so as to obtain a predetermined gas pressure.
  • ions fed to the front-stage quadrupole mass filter 30 only ions having a specific mass-to-charge ratio corresponding to the voltage applied to each rod electrode of the front-stage quadrupole mass filter 30 are included in the filter 30. And is introduced into the collision cell 31 as a precursor ion.
  • FIG. 2 is a flowchart showing a procedure for automatic optimization processing for MRM measurement parameters in the present embodiment
  • FIG. 3 is an explanatory diagram for automatic optimization processing for MRM measurement parameters.
  • the analyst sets the mass-to-charge ratio M1 of the target component precursor ion from the input unit 53 (step S1).
  • an ESI ion source generally, the intensity of a molecular ion is the highest among ions derived from a certain component. Therefore, when the target component is known, for example, the molecular weight of the target component determines the precursor ion concentration.
  • the mass to charge ratio M1 can be determined.
  • the analyst specifies a time range in which spectrum data is integrated as one of the processing conditions.
  • the target component since the target component is known, as will be described later, the time for the target component to reach the MS 20 after the sample injection and the time spread thereof are known. Based on the known information, the analyst calculates the spectrum data. It is possible to specify the time range to be performed.
  • a total ion chromatogram for the target sample or a mass chromatogram for the target sample by repeating SIM measurement
  • t1 to t2 are designated as the integration time range of the spectrum data.
  • the MRM measurement parameter optimization processing unit 41 stores the integrated MS 2 spectrum as a background spectrum in the background spectrum storage unit 42 (step S3).
  • a target sample containing the target component is injected into the mobile phase fed at a constant flow rate in the injector 13 of the liquid chromatograph 10.
  • the mass spectrometer 20 performs product ion scan measurement on the target sample with the mass-to-charge ratio of the precursor ion as M1, as in the solvent sample measurement (step S4).
  • the sample component injected into the mobile phase diffuses in the time direction while passing through the introduction pipe 14. Therefore, in the mass chromatogram for the precursor ion mass-to-charge ratio M1 obtained by accumulating the ion intensity for each mass spectrum created based on the data collected by the product ion scan measurement and plotting it according to the passage of time, FIG. As shown in (a), a Gaussian distribution-like peak corresponding to the target component can be observed.
  • an MS 2 spectrum is created based on data sequentially input according to the product ion scan measurement, and the time range designated in advance from the sample injection time point is used.
  • to create a running MS 2 spectra by integrating the MS 2 spectra obtained during t1 ⁇ t2 is (step S5).
  • the product ion peak derived from the target component appears in the integrated MS 2 spectrum, but in addition to this, when there is a contaminated component mixed in the solvent, the product ion peak derived from the contaminated component also appears overlapping.
  • the MRM measurement parameter optimization processing unit 41 reads the background spectrum from the background spectrum storage unit 42 and subtracts the background spectrum from the integrated MS 2 spectrum obtained for the target sample (step S6). ).
  • noise peaks derived from contaminant components that are commonly mixed during the measurement of the target sample and during the measurement of the blank sample are removed.
  • peak detection is performed on the MS 2 spectrum subjected to the background removal process, and for example, a predetermined number of peaks are selected as product ions corresponding to the target component in descending order of signal intensity of the detected peaks (step S7). ).
  • the product ion corresponding to the peak with the highest signal intensity M2 in FIG.
  • step S7 is selected as the quantification ion, and the product ion corresponding to one or more peaks with the next highest signal intensity is used for confirmation. Select as ion. Since background noise has been removed before the execution of the process of step S7, it is possible to prevent ions derived from contaminant components in the solvent from being erroneously selected as product ions.
  • MRM measurement with respect to the determined mass-to-charge ratio is performed while changing the collision energy to determine the collision energy that maximizes the ion intensity. That's fine.
  • the measurement of the solvent sample and the measurement of the target sample are each performed once, that is, a total of two measurements.
  • only the solvent is injected after the target sample is injected into the mobile phase.
  • Is acquired in the ionization probe 25 that is, a period in which the target component is not yet introduced into the ionization probe 25
  • product ions for the target sample are obtained.
  • a spectrum may be acquired.
  • FIG. 4 is an explanatory diagram of MRM measurement parameter automatic optimization processing when such control is performed.
  • a background spectrum obtained by integrating the MS 2 spectra obtained in the time range t1 to t2 is obtained.
  • the target component is eluted create a running MS 2 spectra, contaminant components and the like by subtracting the background spectrum from the integrated MS 2 spectra Remove the effect.
  • the subsequent processing is the same as in the above embodiment. Thereby, the background measurement and the measurement of the target sample can be completed by one sample injection, so that the working efficiency is good.
  • the integrated MS 2 spectrum is used to select the product ion.
  • the same is true even if the average MS 2 spectrum is used, and the integrated MS 2 spectrum or the average MS 2 spectrum is not necessarily used. It does not have to be.
  • a peak with the maximum signal intensity is extracted for each mass-to-charge ratio, and the signal intensity is maximum for each collected mass-to-charge ratio.
  • An MS 2 spectrum reconstructed from the peak may be used.
  • the MS 2 spectrum at a certain time point may be used.
  • the said Example is only an example of this invention, even if it changes suitably, addition, and correction in the range of the meaning of this invention, it is clear that it is included in the claim of this application.
  • the sample is injected into the mobile phase by the flow injection method in the liquid chromatograph 10, but the components in the sample may be separated in the time direction through the column and introduced into the mass spectrometer 20. It is clear that it is good.
  • the said Example is an example at the time of applying this invention to LC / MS / MS, it is also clear that this invention is applicable to GC / MS / MS.

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  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

　まず、目的成分を含まない溶媒のみの試料を移動相に注入し、プリカーサイオンのm/zをＭ1に設定したプロダクトイオンスキャン測定を実施してＭＳ2スペクトルを取得する。このときのＭＳ2スペクトルを積算して、移動相中の夾雑成分由来のイオンピーク等が現れたバックグラウンドスペクトルを求め、これを記憶部に格納しておく。次に、目的成分を含む目的試料を移動相に注入し、プリカーサイオンのm/zをＭ1に設定したプロダクトイオンスキャン測定を実施してＭＳ2スペクトルを取得する。このときのＭＳ2スペクトルを積算した積算ＭＳ2スペクトルからバックグラウンドスペクトルを差し引くことで、バックグラウンドノイズを除去した後に、ピーク検出を実行し、ＭＲＭ測定用のプロダクトイオンを決定する。これにより、自動的に決定されるＭＲＭ測定パラメータの信頼性が高まり、分析者の確認や面倒な再調整が不要になるので、分析作業の効率化を図ることができる。

Description

タンデム四重極型質量分析装置
　本発明はタンデム四重極型質量分析装置（三連四重極型質量分析装置とも呼ばれる）に関し、さらに詳しくは、ＭＲＭ（＝Multiple Reaction Monitoring、多重反応モニタリング）測定のパラメータを自動的に決定する機能を有するタンデム四重極型質量分析装置に関する。
　有機化合物の同定やその構造解析、或いは定量などを行うために、質量分析の一つの手法としてＭＳ／ＭＳ分析（タンデム分析）と呼ばれる手法が広く用いられている。ＭＳ／ＭＳ分析を行うための質量分析装置としては種々の構成のものがあるが、構造が比較的簡単で操作や扱いも容易であるのがタンデム四重極型質量分析装置である。
　特許文献１などに記載されているように、一般的なタンデム四重極型質量分析装置では、イオン源で生成された試料成分由来のイオンが前段四重極マスフィルタ（慣用的にＱ１と記述される）に導入され、特定の質量電荷比m/zを有するイオンがプリカーサイオンとして選別される。このプリカーサイオンが、四重極型（又はそれ以上の多重極型）のイオンガイド（慣用的にｑ２と記述される）が内装されたコリジョンセルに導入される。コリジョンセル内にはアルゴン等の衝突誘起解離（ＣＩＤ）ガスが供給され、コリジョンセル内でプリカーサイオンはＣＩＤガスに衝突して開裂し、各種のプロダクトイオンが生成される。このプロダクトイオンが後段四重極マスフィルタ（慣用的にＱ３と記述される）に導入され、特定の質量電荷比m/zを有するプロダクトイオンが選別されて検出器に到達し検出される。
　タンデム四重極型質量分析装置は単独で使用される場合もあるが、しばしば液体クロマトグラフ（ＬＣ）やガスクロマトグラフ（ＧＣ）と組み合わせて使用される。例えば液体クロマトグラフの検出器としてタンデム四重極型質量分析装置を用いたＬＣ／ＭＳ／ＭＳは、多数の成分を含む試料や夾雑物を含む試料中の成分の定量分析などによく用いられる。
　タンデム四重極型質量分析装置におけるＭＳ／ＭＳ分析の一つのモードとしてＭＲＭ測定モードがある。ＭＲＭ測定モードでは、前段四重極マスフィルタと後段四重極マスフィルタとを通過し得るイオンの質量電荷比をそれぞれ固定し、特定のプリカーサイオンに対する特定のプロダクトイオンの強度（量）を測定する。こうしたＭＲＭ測定では、２段階の四重極マスフィルタによって、非測定対象成分や夾雑成分由来のイオン、或いは中性粒子などを除去することができるため、高いＳＮ比のイオン強度信号を得ることができ、特に微量成分の定量などに威力を発揮する。
　ＭＲＭ測定を利用して目的成分の定量を高精度、高感度に行うには、目的成分に応じた適切な測定パラメータを設定する必要がある。ＭＲＭ測定パラメータとしては、プリカーサイオンの質量電荷比、プロダクトイオンの質量電荷比、コリジョンエネルギ（電圧）などがあり、こうしたパラメータを自動的に最適化する機能を有する質量分析装置も知られている（非特許文献１参照）。一般的に、ＭＲＭ測定パラメータ自動最適化処理においては、前段四重極マスフィルタの選択質量電荷比を目的成分に応じてユーザが指定した或いは開裂を伴わないスキャン測定結果により自動的に決定されたプリカーサイオン質量電荷比に固定した状態で、後段四重極マスフィルタにおける選択質量電荷比を所定範囲で走査し、つまりはプロダクトイオンスキャン測定を実行し、所定の質量電荷比範囲に亘るＭＳ2スペクトルを取得する。そして、このＭＳ2スペクトルに対してピーク検出を行い、例えば、信号強度が高いピークの質量電荷比を選定し、ＭＲＭ測定のためのプロダクトイオンの質量電荷比とする。
　しかしながら、例えばＬＣ／ＭＳ／ＭＳにおいてＭＲＭ測定パラメータ自動最適化処理を実施した場合、ＬＣの移動相に混入している物質（例えば水道水中にしばしば含まれるフタル酸エステルなど）、移動相により生成された中性のクラスタ、或いは、流路中に残留している物質、などに起因するバックグラウンドノイズのために、目的成分とは関連のないプロダクトイオンを誤って選定してしまうことがある。そのため、実際には、ＭＲＭ測定パラメータ自動最適化処理により選定されたプロダクトイオンの質量電荷比を分析者自身が一旦確認し、ＭＲＭ測定用のプロダクトイオン質量電荷比として不適切であると分析者が判断した場合には、ＭＲＭ測定パラメータ自動最適化処理を再度実施したり、或いは分析者自身が手動で適切なプロダクトイオンの質量電荷比を探索したりする必要があった。
特開２０１１－２４９１０９号公報
「LCMS-8030 超高速トリプル四重極型LC/MS/MSシステム LabSolutions LCMSの特長」、[online]、株式会社島津製作所、［平成２５年２月２７日検索］、インターネット＜URL :http://www.an.shimadzu.co.jp/lcms/lcms8030/8030-7.htm#1＞
　即ち、従来のＭＲＭ測定パラメータ自動最適化処理では選定されるプロダクトイオンの質量電荷比の信頼性が低い場合があるために、実際には分析者がその選定に関与せざるをえず、そのことが分析作業の効率を下げる一因となっていた。
　本発明はこうした課題を解決するために成されたものであり、その目的とするところは、ＭＲＭ測定パラメータを自動的に最適化する際に、目的成分に対応したプロダクトイオンの質量電荷比を高い信頼度で以て選定することができるタンデム四重極型質量分析装置を提供することである。
　上記課題を解決するために成された本発明は、導入された試料中の成分をイオン化するイオン源と、該イオン源で生成された各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する前段四重極マスフィルタと、前記プリカーサイオンを解離させるコリジョンセルと、その解離により生成された各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別する後段四重極マスフィルタと、該後段四重極マスフィルタを通過したイオンを検出する検出器と、を具備するタンデム四重極型質量装置において、
　a)目的成分を含まないブランク試料が前記イオン源に導入される状態で、前記前段四重極マスフィルタを通過する質量電荷比を所定値に設定する一方、前記後段四重極マスフィルタを通過する質量電荷比を所定範囲で走査するプロダクトイオンスキャン測定を実行してデータを収集するブランク試料測定実行手段と、
　b)前記ブランク試料に対するプロダクトイオンスキャン測定により得られたデータに基づいて作成されたマススペクトルをバックグラウンドスペクトルとして記憶する記憶手段と、
　c)目的成分を含む目的試料が前記イオン源に導入される状態で、前記前段四重極マスフィルタを通過する質量電荷比を前記所定値に設定する一方、前記後段四重極マスフィルタを通過する質量電荷比を所定範囲で走査するプロダクトイオンスキャン測定を実行してデータを収集する目的試料測定実行手段と、
　d)前記目的試料に対するプロダクトイオンスキャン測定により得られたデータに基づいてマススペクトルを作成するマススペクトル作成手段と、
　e)該マススペクトル作成手段により作成されたマススペクトルから前記記憶手段に格納されているバックグラウンドスペクトルを差し引くバックグラウンド除去手段と、
　f)該バックグラウンド除去手段によりバックグラウンドスペクトルが除かれた処理済みマススペクトルに基づいて、前記目的成分に由来するプロダクトイオンピークを抽出して該ピークの質量電荷比を目的成分に対するＭＲＭ測定用のプロダクトイオン質量電荷比として選定するプロダクトイオン選定手段と、
　を備えることを特徴としている。
　本発明に係るタンデム四重極型質量分析装置において、イオン源の前段に液体クロマトグラフ又はフローインジェクション試料導入部が接続され、移動相の流れにより試料中の成分がイオン源に導入される構成である場合には、上記ブランク試料とは、移動相のみの試料、又は、液体クロマトグラフやフローインジェクション試料導入部に注入される液体試料の溶媒のみが移動相に含まれる試料、のいずれかである。このようなブランク試料がイオン源に導入されている状態でありさえすれば、ブランク試料測定実行手段によりプロダクトイオンスキャンに対応したデータ収集が実行されるタイミングは特に限定されるものではない。
　本発明に係るタンデム四重極型質量分析装置の一態様としては、前記イオン源の前段にクロマトグラフ又はフローインジェクション試料導入部を備え、前記ブランク試料測定実行手段は、目的試料が前記クロマトグラフ又は前記フローインジェクション試料導入部に導入された時点以降で該目的試料中の目的成分が前記イオン源に到達するまでの期間中、又は、目的試料が前記クロマトグラフ又は前記フローインジェクション試料導入部に導入された時点以降で且つ該目的試料中の目的成分の前記イオン源への導入が終了した時点以降のいずれかに、プロダクトイオンスキャン測定を実行してデータを収集する構成とすることができる。なお、この態様では、目的試料測定実行手段は、クロマトグラフ又はフローインジェクション試料導入部に導入された目的試料中の目的成分がイオン源に導入されている期間中に、プロダクトイオンスキャン測定を実行してデータを収集すればよい。
　この態様によれば、クロマトグラフ又はフローインジェクション試料導入部へ試料注入を１回行うだけで、ブランク試料に対するプロダクトイオンスキャン測定、つまりはバックグラウンドスペクトルデータの収集と、目的試料に対するプロダクトイオンスキャン測定、つまりは目的成分由来のプロダクトイオンが現れるマススペクトルデータの収集と、を実施することができる。それによって測定時間を短縮することができる。
　なお、上記態様におけるブランク試料測定実行手段による測定と目的試料測定実行手段による測定との切替えは、目的試料がクロマトグラフ又はフローインジェクション試料導入部に注入された時点からイオン源に目的成分が到達するまでの所要時間が或る程度既知である場合には、それぞれの測定を実行するべく予め定められた時間に基づいて行うことができる。即ち、この場合には、分析者により指定された時間情報に従って、ブランク試料測定実行手段による測定と目的試料測定実行手段による測定とが切り替えられる。
　また、目的試料に対するプロダクトイオンスキャン測定を行う毎にそれにより得られたトータルのプロダクトイオン強度に基づいてクロマトグラムを作成し、該クロマトグラムに対しピーク検出を実行することで目的成分由来のピーク期間とピーク非存在期間とを区別して、その区別に従ってブランク試料測定実行手段による測定と目的試料測定実行手段による測定とを切り替えるようにしてもよい。即ち、この場合には、分析者の指示や操作に依らず、ブランク試料測定実行手段による測定と目的試料測定実行手段による測定とが自動的に切り替えられる。
　また本発明に係るタンデム四重極型質量分析装置の別の態様としては、前記イオン源の前段にクロマトグラフ又はフローインジェクション試料導入部を備え、前記ブランク試料測定実行手段は、目的成分を含まない溶媒のみの試料を前記クロマトグラフ又はフローインジェクション試料導入部に注入した上でプロダクトイオンスキャン測定を実行してデータを収集し、前記目的試料測定実行手段は、前記溶媒に目的成分が溶解した試料を前記クロマトグラフ又はフローインジェクション試料導入部に注入した上でプロダクトイオンスキャン測定を実行してデータを収集する構成とすることができる。
　この態様によれば、クロマトグラフ又はフローインジェクション試料導入部への２回の試料注入動作が必要になるものの、移動相に溶媒のみが混じったブランク試料に対するバックグラウンドスペクトルを取得することができる。そのため、移動相に含まれる不所望の物質のみならず、溶媒に含まれる夾雑成分由来の強度もバックグラウンドスペクトルに反映され、こうした影響を除いた目的成分に対するマススペクトルを得ることができる。
　いずれにしても本発明に係るタンデム四重極型質量分析装置において、バックグラウンド除去手段は、マススペクトル作成手段により作成された、目的成分に由来するプロダクトイオンが観測されているマススペクトルから、目的成分由来のプロダクトイオンが観測されず夾雑成分などに由来するイオン等が観測されている、プリカーサイオンの質量電荷比が同一であるバックグラウンドスペクトルを差し引くことにより、バックグラウンドノイズを除去する。これにより、例えば目的成分由来のイオンの質量電荷比と夾雑成分由来のイオンの質量電荷比とが同じであったとしても、その夾雑成分由来のイオンが解離して生成されたプロダクトイオンの影響が除去される。そのため、プロダクトイオン選定手段がプロダクトイオンピークを抽出する際に、夾雑成分由来のプロダクトイオンピークを誤って抽出することがなく、目的成分由来のプロダクトイオンピークを適切に抽出することができる。それによって、ＭＲＭ測定パラメータの一つであるプロダクトイオンの質量電荷比として、適切な値を選定することができる。
　なお、プロダクトイオンスキャン測定で得られたデータに基づいて作成されるマススペクトルは、或る一時点における、つまり１回のプロダクトイオンスキャン測定によるマススペクトルでもよいが、好ましくは、目的試料に対する複数回のプロダクトイオンスキャン測定により得られたデータに基づいて作成された積算（又は平均）マススペクトルとするとよい。このように積算マススペクトルを求める際には、目的成分がイオン源に導入されている期間中の全体に亘り、つまりはクロマトグラム上で目的成分に対応したピークの開始点から終了点までの全体に亘り質量電荷比毎に強度値データを積算してもよいし、又は、イオン源に導入される目的成分の量が相対的に多い期間、つまりはクロマトグラム上で目的成分に対応したピークのピークトップ付近の所定期間中に得られた強度値データを積算するようにしてもよい。もちろん、バックグラウンドスペクトルも、複数回のプロダクトイオンスキャン測定により得られたデータを積算して又は平均化して作成されたものとするとよい。
　また、プロダクトイオンスキャン測定で得られたデータに基づいて作成されるマススペクトルやバックグラウンドスペクトルは、データ積算や平均化を行ったものでなく、複数回のプロダクトイオンスキャン測定により得られたマススペクトルデータの中で、質量電荷比毎に最大強度を示すピークを集めることで作成した最大強度スペクトルとしてもよい。
　本発明に係るタンデム四重極型質量分析装置によれば、ＭＲＭ測定パラメータの一つであるプロダクトイオンの質量電荷比を自動的に決定する際の信頼性が向上するので、決定された質量電荷比を分析者が確認したり或いは最適化処理をやり直したりする必要がなくなる。それにより、タンデム四重極型質量分析装置によるＭＲＭ測定の作業効率が向上する。また、ＭＲＭ測定を行う際のプロダクトイオンの質量電荷比が適切なものとなるので、定量分析の精度向上や微量成分の定量感度の向上を図ることができる。
本発明の一実施例であるＬＣ／ＭＳ／ＭＳの概略構成図。 本実施例のＬＣ／ＭＳ／ＭＳにおけるＭＲＭ測定パラメータ自動最適化処理の手順を示すフローチャート。 本実施例のＬＣ／ＭＳ／ＭＳにおけるＭＲＭ測定パラメータ自動最適化処理の説明図。 本発明の他の実施例であるＬＣ／ＭＳ／ＭＳにおけるＭＲＭ測定パラメータ自動最適化処理の説明図。
　以下、本発明の一実施例である液体クロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置（ＬＣ／ＭＳ／ＭＳ）について、添付図面を参照して説明する。図１は本実施例のＬＣ／ＭＳ／ＭＳの概略構成図である。
　液体クロマトグラフ（ＬＣ）１０は、移動相が貯留された移動相容器１１と、移動相を吸引して一定流量で送給するポンプ１２と、予め用意された所定量の試料を自動的に又は手動で注入するインジェクタ１３と、後述する質量分析装置（ＭＳ）２０に試料を導入する導入配管１４と、を含む。ポンプ１２は移動相容器１１から移動相を吸引し一定流量でインジェクタ１３を介して導入配管１４に送給する。インジェクタ１３から一定量の液体試料が移動相中に注入されると、移動相の流れに乗って該試料は導入配管１４を通過し、ＭＳ２０に導入される。なお、試料には、試料溶媒に目的成分が溶解した目的試料と、目的成分を含まない溶媒のみの溶媒試料とがある。
　ＭＳ２０は、略大気圧であるイオン化室２１と図示しない高性能の真空ポンプにより真空排気される高真空の分析室２４との間に、段階的に真空度が高められた第１、第２中間真空室２２、２３を備えた多段差動排気系の構成である。イオン化室２１には、液体試料に電荷を付与しながら噴霧するＥＳＩ用イオン化プローブ２５が設置され、イオン化室２１と次段の第１中間真空室２２との間は細径の加熱キャピラリ２６を通して連通している。第１中間真空室２２と第２中間真空室２３との間は頂部に小孔を有するスキマー２８で隔てられ、第１中間真空室２２と第２中間真空室２３にはそれぞれ、イオンを収束させつつ後段へ輸送するためのイオンガイド２７、２９が設置されている。分析室２４には、多重極イオンガイド３２が内部に設置されたコリジョンセル３１を挟んで、質量電荷比に応じてイオンを分離する前段四重極マスフィルタ３０と、同じく質量電荷比に応じてイオンを分離する後段四重極マスフィルタ３３、さらにはイオン検出器３４が設置されている。
　ＭＳ２０において、ＥＳＩ用イオン化プローブ２５はその先端部に達した液体試料に対し電荷を付与しつつ該液体試料を噴霧する。噴霧された帯電液滴は静電気力により分裂しながら微細化され、その過程で液体試料に含まれていた成分由来のイオンが飛び出す。ここで生成されたイオンは加熱キャピラリ２６を通して第１中間真空室２２に送られ、イオンガイド２７で収束されてスキマー２８頂部の小孔を経て第２中間真空室２３に送られる。そして、試料成分由来のイオンはイオンガイド２９で収束されて分析室２４に送られ、前段四重極マスフィルタ３０の長軸方向の空間に導入される。なお、ＥＳＩに限らず、ＡＰＣＩやＡＰＰＩ等の他の大気圧イオン化法によりイオン化を行ってもよいことは当然である。
　ＭＳ／ＭＳ分析時には、前段四重極マスフィルタ３０及び後段四重極マスフィルタ３３の各ロッド電極にそれぞれ所定の電圧（高周波電圧と直流電圧とが重畳された電圧）が印加され、コリジョンセル３１内には所定ガス圧となるようにＣＩＤガスが供給される。前段四重極マスフィルタ３０に送り込まれた各種イオンの中で、前段四重極マスフィルタ３０の各ロッド電極に印加されている電圧に応じた特定の質量電荷比を有するイオンのみが該フィルタ３０を通過し、プリカーサイオンとしてコリジョンセル３１に導入される。コリジョンセル３１内でプリカーサイオンはＣＩＤガスに衝突して解離し、各種のプロダクトイオンが生成される。このときの解離の態様は、コリジョンエネルギやコリジョンセル３１内のガス圧などの解離条件に依存するから、コリジョンエネルギを変化させると生成されるプロダクトイオンの種類も変化する。生成された各種プロダクトイオンが後段四重極マスフィルタ３３に導入されると、後段四重極マスフィルタ３３の各ロッド電極に印加されている電圧に応じた特定の質量電荷比を有するプロダクトイオンのみが該フィルタ３３を通過し、イオン検出器３４に到達し検出される。
　イオン検出器３４による検出信号はＡ／Ｄ変換器３５においてデジタルデータに変換され、データ処理部４０に入力される。データ処理部４０は、本実施例に特徴的な構成要素であるＭＲＭ測定パラメータ最適化処理部４１、バックグラウンドスペクトル記憶部４２などを機能ブロックとして含む。また、ＬＣ１０やＭＳ２０などの各部の動作をそれぞれ制御する分析制御部５０は、本実施例に特徴的な構成要素であるＭＲＭ測定パラメータ最適化制御部５１を機能ブロックとして含む。中央制御部５２には入力部５３や表示部５４が付設され、入出力のインタフェイスや分析制御部５０のさらに上位の制御を担う。なお、中央制御部５２、分析制御部５０、データ処理部４０などの機能の一部は、汎用のパーソナルコンピュータをハードウエア資源とし、該コンピュータに予めインストールされた専用のアプリケーションソフトウエアをコンピュータ上で実行することにより実現されるものとすることができる。
　次に、本実施例のＬＣ／ＭＳ／ＭＳにおいて特徴的であるＭＲＭ測定パラメータ自動最適化処理時におけるデータ処理及び制御動作について、図２、図３を参照して説明する。図２は本実施例におけるＭＲＭ測定パラメータ自動最適化処理の手順を示すフローチャート、図３はＭＲＭ測定パラメータ自動最適化処理の説明図である。
　ここでは、既知の目的成分に対するＭＲＭ測定パラメータを自動的に決定する場合について述べる。まず、分析者は目的成分のプリカーサイオンの質量電荷比Ｍ1を入力部５３から設定する（ステップＳ１）。ＥＳＩイオン源を用いる場合、一般的には、或る成分由来のイオンの中で分子イオンの強度が最も大きいから、目的成分が既知である場合には、例えばその目的成分の分子量からプリカーサイオンの質量電荷比Ｍ1を定めることができる。なお、目的成分が未知である場合には、コリジョンセル３１内でＣＩＤ操作を行わず、前段四重極マスフィルタ３０又は後段四重極マスフィルタ３３の一方でイオンを素通させるとともに他方で通常のスキャン測定を実行することで、目的試料に対するマススペクトルを作成する。そして、そのマススペクトルに対してピークを抽出し、例えば最大強度のピークを選定してプリカーサイオンの質量電荷比を決定すればよい。
　また、分析者は、処理条件の一つとして、スペクトルデータの積算を行う時間範囲を指定する。ここでは、目的成分が既知であるから、後述するように試料注入後に目的成分がＭＳ２０に到達する時間とその時間広がりが既知であり、その既知の情報に基づいて分析者はスペクトルデータの積算を行う時間範囲を指定可能であるものとする。もちろん、こうした情報が既知でない場合には、上述したようにＣＩＤ操作を伴わないスキャン測定の繰り返しにより目的試料に対するトータルイオンクロマトグラム（又はＳＩＭ測定の繰り返しにより目的試料に対するマスクロマトグラム）を作成し、該クロマトグラム上に現れるピークに基づいてスペクトルデータの積算を行う時間範囲を決定すればよい。いま、ここではスペクトルデータの積算時間範囲としてｔ1～ｔ2が指定されたものとする。
　分析者がＭＲＭ測定パラメータ自動最適化処理の実行を指示すると、この指示を受けたＭＲＭ測定パラメータ最適化制御部５１の制御の下に、ＬＣ１０のインジェクタ１３において一定流量で送給される移動相中に目的成分を含まない溶媒のみの試料が注入される。試料注入後、ＭＳ２０において、前段四重極マスフィルタ３０は指定されたプリカーサイオン質量電荷比Ｍ1を有するイオンのみが選択的に通過するように駆動され、後段四重極マスフィルタ３３は所定の質量電荷比範囲に亘るスキャン測定が繰り返し実施されるように駆動される。即ち、ＭＳ２０は、移動相に溶媒試料が混入したブランク試料に対してプリカーサイオンの質量電荷比をＭ1とするプロダクトイオンスキャン測定が実行されるように制御される（ステップＳ２）。
　ＭＲＭ測定パラメータ最適化処理部４１では、プロダクトイオンスキャン測定に従って順次入力されるデータに基づいて、図３（ｂ）に示すように、それぞれＭＳ2スペクトルを作成し、試料注入時点を起点として予め指定された時間範囲であるｔ1～ｔ2中に得られたＭＳ2スペクトル中の各信号強度を質量電荷比毎に積算することによって積算ＭＳ2スペクトルを作成する。質量分析装置２０のイオン化プローブ２５には移動相に溶媒のみが混入したブランク試料が導入されるが、移動相や溶媒に夾雑成分が混入しており、該夾雑成分由来のイオンの質量電荷比がＭ1であると、その夾雑成分由来のイオンピークがＭＳ2スペクトル上に現れる。また、夾雑成分等の不所望の中性粒子が前段四重極マスフィルタ３０で除かれずにコリジョンセル３１内に飛び込むと、該中性粒子がコリジョンセル３１内でイオン化し、そうしたイオンピークがＭＳ2スペクトル上に現れることもある。そこで、ＭＲＭ測定パラメータ最適化処理部４１は、上記積算ＭＳ2スペクトルをバックグラウンドスペクトルとしてバックグラウンドスペクトル記憶部４２に記憶する（ステップＳ３）。
　次に、分析制御部５０においてＭＲＭ測定パラメータ最適化制御部５１の制御の下に、液体クロマトグラフ１０のインジェクタ１３において一定流量で送給される移動相中に目的成分を含む目的試料が注入される。質量分析装置２０は、上記の溶媒試料測定時と同様に、目的試料に対して、プリカーサイオンの質量電荷比をＭ1とするプロダクトイオンスキャン測定を実行する（ステップＳ４）。移動相中に注入された試料成分は導入配管１４を通過する間に時間方向に拡散する。そのため、プロダクトイオンスキャン測定により収集されるデータに基づいて作成されるマススペクトル毎にイオン強度を積算し、それを時間経過に応じてプロットしたプリカーサイオン質量電荷比Ｍ1に対するマスクロマトグラムでは、図３（ａ）に示すように、目的成分に対応したガウス分布様のピークが観測できる。
　ＭＲＭ測定パラメータ最適化処理部４１では、ブランク試料測定時と同様に、プロダクトイオンスキャン測定に従って順次入力されるデータに基づいてＭＳ2スペクトルを作成し、試料注入時点を起点として予め指定された時間範囲であるｔ1～ｔ2中に得られたＭＳ2スペクトルを積算することにより積算ＭＳ2スペクトルを作成する（ステップＳ５）。このときの積算ＭＳ2スペクトルには目的成分由来のプロダクトイオンピークが現れるが、それ以外に、溶媒に混入している夾雑成分がある場合にその夾雑成分由来のプロダクトイオンピークも重なって現れる。
　そこで、続いて、ＭＲＭ測定パラメータ最適化処理部４１では、バックグラウンドスペクトル記憶部４２からバックグラウンドスペクトルを読み出し、目的試料に対して得られた積算ＭＳ2スペクトルからバックグラウンドスペクトルを減算する（ステップＳ６）。これにより、目的試料測定時とブランク試料測定時とで共通に混入していた夾雑成分由来のノイズピークは除去される。そして、バックグラウンド除去処理のなされたＭＳ2スペクトルに対し、ピーク検出を実行し、例えば検出されたピークの信号強度が高い順に所定数のピークを目的成分に対応したプロダクトイオンとして選定する（ステップＳ７）。典型的には、信号強度が最も高いピーク（図３中のＭ2）に対応したプロダクトイオンを定量用イオンとして選定し、次に信号強度が高い１乃至複数のピークに対応したプロダクトイオンを確認用イオンとして選定する。ステップＳ７の処理の実行前にバックグラウンドノイズが除去されているので、溶媒中の夾雑成分由来のイオンを誤ってプロダクトイオンとして選定してしまうことを防止できる。
　以上のようにして、定量用イオン及び確認用イオンとして適切なプロダクトイオンの質量電荷比が決まったならば、その目的成分に対するプリカーサイオン質量電荷比とプロダクトイオン質量電荷比との組み合わせが決まるから、これを該目的成分に対するＭＲＭ測定パラメータとして確定する（ステップＳ８）。なお、上記説明では、ＣＩＤの際のコリジョンエネルギについて触れていないが、コリジョンエネルギが変わると生成されるプロダクトイオンが変化することがあり、通常、コリジョンエネルギもＭＲＭ測定パラメータの一つとして自動調整の対象となる。そこで、例えばプリカーサイオン、プロダクトイオンの質量電荷比を決定した後に、それら決定された質量電荷比に対するＭＲＭ測定をコリジョンエネルギを変化させながら実行し、イオン強度が最大となるコリジョンエネルギを決めるようにすればよい。
　以上のように、本実施例のＬＣ／ＭＳ／ＭＳによれば、試料溶媒に含まれる或いは流路中に残留している夾雑成分などの影響を除いて、目的成分由来の適切なプロダクトイオンの質量電荷比を選定して、ＭＲＭ測定パラメータとして自動的に定めることができる。これにより決定されるプロダクトイオンの信頼性は高いため、従来のように、自動的に決定されたパラメータを分析者が一々確認したり、或いはパラメータの再調整を行ったりする必要はなく、分析者の負担は大きく軽減されることになる。
　上記実施例は様々に変形することが可能である。例えば、上記実施例では、溶媒試料の測定と目的試料の測定とをそれぞれ１回ずつ、つまり合計２回の測定を行うようにしていたが、目的試料を移動相中に注入してから溶媒のみがイオン化プローブ２５に導入されている期間（つまり目的成分が未だイオン化プローブ２５に導入されていない期間）にバックグラウンドスペクトルを取得し、目的成分がイオン化プローブ２５に導入され始めたら目的試料に対するプロダクトイオンスペクトルを取得するようにしてもよい。図４はこうした制御を行う場合のＭＲＭ測定パラメータ自動最適化処理の説明図である。
　即ち、目的試料を移動相中に注入した後、時間範囲ｔ1～ｔ2に得られたＭＳ2スペクトルを積算したバックグラウンドスペクトルを求める。その後、目的成分が溶出している時間範囲ｔ3～ｔ4に得られたＭＳ2スペクトルを積算して積算ＭＳ2スペクトルを作成し、この積算ＭＳ2スペクトルからバックグラウンドスペクトルを差し引くことで夾雑成分等の影響を除去する。その後の処理は上記実施例と同じである。これにより、１回の試料注入でバックグラウンドの測定と目的試料の測定とを終わらせることができるので、作業効率が良好である。
　なお、図４の例では目的成分が溶出し始める前にバックグラウンドを測定したが、目的成分が溶出し終えた後にバックグラウンドを測定してもよい。
　また、図４に示した例のように、目的成分が質量分析装置２０に導入されない期間にバックグラウンド測定を実施する場合には、バックグラウンド測定を実施する期間と目的試料に対する測定を実施する期間とを定める方法として、次の二つの方法を採り得る。その一つは、上述したように分析者が予め時間範囲を指定する方法である。これは、試料注入後に目的成分が溶出し始めるまでの時間、又は目的成分が溶出し終わる時間が既知である場合に有用である。一方、ＭＳ2スペクトルに現れる全てのイオンの強度を加算して得られるマスクロマトグラム上でピーク検出を行い、ピーク期間では目的試料に対する測定を実施し、ピークが存在しない期間ではバックグラウンド測定を行うようにしてもよい。
　また、上記実施例では、プロダクトイオンを選定するために積算ＭＳ2スペクトルを利用していたが、平均ＭＳ2スペクトルを利用しても同じであるし、また必ずしも積算ＭＳ2スペクトルや平均ＭＳ2スペクトルでなくてもよい。例えば、或る時間範囲中に得られる複数のＭＳ2スペクトルについて、質量電荷比毎に信号強度が最大となるピークを抽出し、そうして集めたそれぞれ質量電荷比毎に信号強度が最大であるピークから再構成したＭＳ2スペクトルを利用してもよい。もちろん、或る一つの時点におけるＭＳ2スペクトルを利用してもよい。
　また、上記実施例は本発明の一例にすぎないから、本発明の趣旨の範囲で適宜に変形、追加、修正を行っても本願請求の範囲に包含されることは明らかである。
　例えば、上記実施例では、液体クロマトグラフ１０においてフローインジェクション法により移動相中に試料を注入していたが、カラムを通して試料中の成分を時間方向に分離して質量分析装置２０に導入してもよいことは明らかである。また、上記実施例は本発明をＬＣ／ＭＳ／ＭＳに適用した場合の一例であるが、本発明をＧＣ／ＭＳ／ＭＳに適用可能であることも明らかである。
１０…液体クロマトグラフ
１１…移動相容器
１２…ポンプ
１３…インジェクタ
１４…導入配管
２０…質量分析装置
２１…イオン化室
２２…第１中間真空室
２３…第２中間真空室
２４…分析室
２５…ＥＳＩ用イオン化プローブ
２６…加熱キャピラリ
２７、２９…イオンガイド
２８…スキマー
３０…前段四重極マスフィルタ
３１…コリジョンセル
３２…多重極イオンガイド
３３…後段四重極マスフィルタ
３４…イオン検出器
３５…Ａ／Ｄ変換器
４０…データ処理部
４１…ＭＲＭ測定パラメータ最適化処理部
４２…バックグラウンドスペクトル記憶部
５０…分析制御部
５１…ＭＲＭ測定パラメータ最適化制御部
５２…中央制御部
５３…入力部
５４…表示部

Claims (4)

  1. 　導入された試料中の成分をイオン化するイオン源と、該イオン源で生成された各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する前段四重極マスフィルタ、前記プリカーサイオンを解離させるコリジョンセル、その解離により生成された各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別する後段四重極マスフィルタ、及び、該後段四重極マスフィルタを通過したイオンを検出する検出器、を具備するタンデム四重極型質量装置において、
    　a)目的成分を含まないブランク試料が前記イオン源に導入される状態で、前記前段四重極マスフィルタを通過する質量電荷比を所定値に設定する一方、前記後段四重極マスフィルタを通過する質量電荷比を所定範囲で走査するプロダクトイオンスキャン測定を実行してデータを収集するブランク試料測定実行手段と、
    　b)前記ブランク試料に対するプロダクトイオンスキャン測定により得られたデータに基づいて作成されたマススペクトルをバックグラウンドスペクトルとして記憶する記憶手段と、
    　c)目的成分を含む試料が前記イオン源に導入される状態で、前記前段四重極マスフィルタを通過する質量電荷比を前記所定値に設定する一方、前記後段四重極マスフィルタを通過する質量電荷比を所定範囲で走査するプロダクトイオンスキャン測定を実行してデータを収集する実試料測定実行手段と、
    　d)前記目的成分を含む試料に対するプロダクトイオンスキャン測定により得られたデータに基づいてマススペクトルを作成するマススペクトル作成手段と、
    　e)該マススペクトル作成手段により作成されたマススペクトルから前記記憶手段に格納されているバックグラウンドスペクトルを減算するバックグラウンド除去手段と、
    　f)該バックグラウンド除去手段によりバックグラウンドスペクトルが除かれた処理済みマススペクトルに基づいて前記目的成分に対応したプロダクトイオンピークを抽出し、該目的成分に対するＭＲＭ測定時のプロダクトイオン質量電荷比として選定するプロダクトイオン選定手段と、
    　を備えることを特徴とするタンデム四重極型質量分析装置。
  2. 　請求項１に記載のタンデム四重極型質量分析装置であって、
    　前記イオン源の前段にクロマトグラフ又はフローインジェクション試料導入部を備え、
    　前記ブランク試料測定実行手段は、目的成分を含む試料が前記クロマトグラフ又はフローインジェクション試料導入部に導入された時点以降で該目的成分が前記イオン源に到達するまでの期間中、又は、目的成分を含む試料が前記クロマトグラフ又はフローインジェクション試料導入部に導入され、該目的成分が前記イオン源に到達してその溶出が終了した時点以降のいずれかに、プロダクトイオンスキャン測定を実行してデータを収集することを特徴とするタンデム四重極型質量分析装置。
  3. 　請求項１に記載のタンデム四重極型質量分析装置であって、
    　前記イオン源の前段にクロマトグラフ又はフローインジェクション試料導入部を備え、
    　前記ブランク試料測定実行手段は、目的成分を含まない溶媒のみであるブランク試料を前記クロマトグラフ又はフローインジェクション試料導入部に導入した上でプロダクトイオンスキャン測定を実行してデータを収集し、
    　前記実試料測定実行手段は、前記溶媒に目的成分が溶解した試料を前記クロマトグラフ又はフローインジェクション試料導入部に導入した上でプロダクトイオンスキャン測定を実行してデータを収集することを特徴とするタンデム四重極型質量分析装置。
  4. 　請求項１～３のいずれかに記載のタンデム四重極型質量分析装置であって、
    　前記マススペクトル作成手段は、目的成分を含む試料に対する複数回のプロダクトイオンスキャン測定により得られたデータに基づいて積算マススペクトルを作成することを特徴とするタンデム四重極型質量分析装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017026586A (ja) * 2015-07-28 2017-02-02 株式会社島津製作所 質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析用プログラム
WO2019012589A1 (ja) * 2017-07-10 2019-01-17 株式会社島津製作所 質量分析装置、質量分析方法、及び質量分析用プログラム
CN111465864A (zh) * 2018-02-09 2020-07-28 株式会社岛津制作所 电传导度检测器及求取背景减法信号的相位调整值的方法
CN112823281A (zh) * 2018-08-31 2021-05-18 株式会社岛津制作所 分析方法、分析装置及程序
WO2021130840A1 (ja) * 2019-12-24 2021-07-01 株式会社島津製作所 イメージングデータ処理方法、イメージングデータ処理装置、及びイメージングデータ処理用プログラム
JP2022066655A (ja) * 2020-10-19 2022-05-02 株式会社島津製作所 質量分析を用いた試料分析方法及び試料分析システム

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000131284A (ja) * 1998-08-20 2000-05-12 Shimadzu Corp クロマトグラフ質量分析装置
WO2005031791A2 (en) * 2003-09-25 2005-04-07 Thermo Finnigan Llc Method of processing and storing mass spectrometry data
JP2005251594A (ja) * 2004-03-05 2005-09-15 Hitachi High-Technologies Corp イオントラップ／飛行時間型質量分析計
JP2009264970A (ja) * 2008-04-25 2009-11-12 Shimadzu Corp 質量分析データ処理方法及び質量分析装置
JP2011249109A (ja) * 2010-05-26 2011-12-08 Shimadzu Corp タンデム四重極型質量分析装置
WO2012063571A1 (ja) * 2010-11-10 2012-05-18 株式会社 島津製作所 Ｍｓ／ｍｓ型質量分析装置及び同装置用プログラム

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000131284A (ja) * 1998-08-20 2000-05-12 Shimadzu Corp クロマトグラフ質量分析装置
WO2005031791A2 (en) * 2003-09-25 2005-04-07 Thermo Finnigan Llc Method of processing and storing mass spectrometry data
JP2005251594A (ja) * 2004-03-05 2005-09-15 Hitachi High-Technologies Corp イオントラップ／飛行時間型質量分析計
JP2009264970A (ja) * 2008-04-25 2009-11-12 Shimadzu Corp 質量分析データ処理方法及び質量分析装置
JP2011249109A (ja) * 2010-05-26 2011-12-08 Shimadzu Corp タンデム四重極型質量分析装置
WO2012063571A1 (ja) * 2010-11-10 2012-05-18 株式会社 島津製作所 Ｍｓ／ｍｓ型質量分析装置及び同装置用プログラム

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017026586A (ja) * 2015-07-28 2017-02-02 株式会社島津製作所 質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析用プログラム
WO2019012589A1 (ja) * 2017-07-10 2019-01-17 株式会社島津製作所 質量分析装置、質量分析方法、及び質量分析用プログラム
JPWO2019012589A1 (ja) * 2017-07-10 2020-03-26 株式会社島津製作所 質量分析装置、質量分析方法、及び質量分析用プログラム
US11094516B2 (en) 2017-07-10 2021-08-17 Shimadzu Corporation Mass spectrometer, mass spectrometry method, and mass spectrometry program
CN111465864A (zh) * 2018-02-09 2020-07-28 株式会社岛津制作所 电传导度检测器及求取背景减法信号的相位调整值的方法
CN112823281A (zh) * 2018-08-31 2021-05-18 株式会社岛津制作所 分析方法、分析装置及程序
US20220130652A1 (en) * 2018-08-31 2022-04-28 Shimadzu Corporation Analysis method, analysis device, and program
WO2021130840A1 (ja) * 2019-12-24 2021-07-01 株式会社島津製作所 イメージングデータ処理方法、イメージングデータ処理装置、及びイメージングデータ処理用プログラム
JP2022066655A (ja) * 2020-10-19 2022-05-02 株式会社島津製作所 質量分析を用いた試料分析方法及び試料分析システム
JP7380515B2 (ja) 2020-10-19 2023-11-15 株式会社島津製作所 質量分析を用いた試料分析方法及び試料分析システム

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