CN103946950A - 质量分析装置 - Google Patents

质量分析装置 Download PDF

Info

Publication number
CN103946950A
CN103946950A CN201180075013.XA CN201180075013A CN103946950A CN 103946950 A CN103946950 A CN 103946950A CN 201180075013 A CN201180075013 A CN 201180075013A CN 103946950 A CN103946950 A CN 103946950A
Authority
CN
China
Prior art keywords
mentioned
chromatogram
ion
analysis
analyzes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201180075013.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN103946950B (zh
Inventor
丹羽明彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Publication of CN103946950A publication Critical patent/CN103946950A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103946950B publication Critical patent/CN103946950B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/004Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
    • H01J49/0081Tandem in time, i.e. using a single spectrometer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/62Detectors specially adapted therefor
    • G01N30/72Mass spectrometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/86Signal analysis
    • G01N30/8696Details of Software
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0027Methods for using particle spectrometers
    • H01J49/0031Step by step routines describing the use of the apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/004Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/426Methods for controlling ions
    • H01J49/4265Controlling the number of trapped ions; preventing space charge effects

Abstract

在具备对用色谱仪的柱分离出的试样成分依次进行MS分析、并基于该分析结果来自动确定MS/MS分析的执行定时的功能的质量分析装置中设置有:色谱图制作单元,其根据上述MS分析的结果来制作表示规定的质量范围内的离子强度随时间的变化的色谱图;以及定时确定单元,其基于上述色谱图来确定MS/MS分析的执行定时,其中,定时确定单元将上述色谱图上的信号强度超过规定的下限值之后达到规定的上限值的时间点、或者超过上述下限值之后没有达到上述上限值就到达峰顶的时间点确定为MS/MS分析的执行定时。由此,能够在源自试样成分的峰的信号强度在上述上限值与下限值之间成为最大的定时提取前体离子,能够获得品质高的MS/MS谱。

Description

质量分析装置
技术领域
本发明涉及一种将用液相色谱仪、气相色谱仪的柱在时间方向上分离出的试样成分依次进行离子化并进行质量分析的质量分析装置,特别是涉及一种具有MS/MS(=MS2)分析功能的质量分析装置,该MS/MS(=MS2)分析功能是将具有特定的质量(严格地说是m/z)的离子作为前体离子而使其分裂,对由此生成的产物离子进行质量分析。
背景技术
在气相色谱质量分析装置(GC/MS)、液相色谱质量分析装置(LC/MS)中,将用GC或者LC的柱在时间方向上分离出的试样成分依次导入到质量分析装置(MS),在将各成分分别进行离子化之后进行质量分离并检测。在此,着眼于特定的时刻而用横轴表示质量、用纵轴表示强度,由此制作质谱。另外,着眼于特定的质量而用横轴表示时间、用纵轴表示强度,由此制作色谱图(质量色谱图)。另外,通过将它们进行整合,还能够制作以时间、强度(离子强度)、质量为轴的三维色谱图。
作为这种GC/MS、LC/MS的质谱仪(MS),存在使用了MSn(n为2以上的整数)型的质量分析装置的质谱仪,该MSn型的质量分析装置将具有特定的质量的离子作为前体离子而使其分裂,并对由此生成的产物离子进行质量分析。并且,在MSn型的质量分析装置中,存在一种具备自动MSn分析功能的质量分析装置,该自动MSn分析功能是基于MSn-1分析的结果来自动选择前体离子并执行MSn分析(例如,参照专利文献1)。
在使用了这种具有自动MSn分析功能的质量分析装置的GC/MS、LC/MS中,例如,在将来自GC、LC的柱的洗脱液依次导入到MS之后,一边反复执行MS(=MS1)分析,一边制作与一个或者多个质量有关的色谱图。而且,在该色谱图上的信号强度满足规定的条件的时间点、例如图6中的t1、t2那样超过预定的阈值的时间点,提取具有与该色谱图对应的质量的离子来作为前体离子并进行MS/MS分析。另外,优选尽可能地增加作为前体离子而提取的离子的量以获得S/N比高的MS/MS谱,因此还存在以下方法:如图7那样,在超过上述阈值之后,在等到色谱图的峰顶出现之后进行前体离子的提取。
专利文献1:日本特开2010-19655号公报
发明内容
发明要解决的问题
如上所述,为了获得S/N比高的MS/MS谱,期望尽可能大量地提取前体离子来进行MS/MS分析。但是另一方面,在四极滤质器、三维四极型离子阱等质量分析器中,如果所导入的离子的量过多,则由于空间电荷效果的影响而导致质量分离性能降低,结果是有时不能获得高品质的MS/MS谱。
本发明是鉴于上述问题点而完成的,其目的在于,在与色谱仪相结合地使用、能够伴随前体离子的筛选和分裂操作自动执行MS/MS分析的质量分析装置中,能够对适当量的前体离子进行MS/MS分析。
用于解决问题的方案
为了解决上述问题而完成的本发明所涉及的质量分析装置是一种将用色谱仪的柱在时间方向上分离出的试样成分依次导入到离子化部并进行质量分析的质量分析装置,其特征在于,具备:
a)MS分析执行单元,其对由上述离子化部生成的离子反复执行MS分析;
b)色谱图制作单元,其根据上述MS分析的结果来制作表示预定的质量范围内的离子强度随时间的变化的色谱图;
c)定时确定单元,其基于上述色谱图上的信号强度来确定MS/MS分析的执行定时;以及
d)MS/MS分析执行单元,其按照由上述定时确定单元确定的执行定时,将由上述离子化部生成的离子中的属于上述质量范围的离子作为前体离子来执行MS/MS分析,
其中,上述定时确定单元将上述色谱图上的信号强度超过预定的下限值之后达到预定的上限值的时间点、或者超过上述下限值之后没有达到上述上限值就到达峰顶的时间点确定为上述MS/MS分析的执行定时。
关于上述定时确定单元所使用的上限值和下限值,既可以设为对质量分析装置唯一设定的值,也可以设为能够由用户输入设定任意的值。另外,也可以由用户输入设定色谱仪和/或质量分析装置的分析条件,由此在装置侧自动设定与该分析条件相应的恰当的上限值和下限值。
另外,关于作为上述色谱图的制作对象的质量范围,可以设为对质量分析装置唯一设定的值,但例如优选设为能够由用户设定任意的质量范围。此外,还能够将该质量范围仅设为一点的质量、或者设为在上述MS分析中作为分析对象的整个质量范围。
在上述确定的执行定时存在多个能够选择为MS/MS分析的前体离子的离子的情况下,也就是说,在上述MS分析的结果为在与上述执行定时对应的时刻在上述质量范围内检测出多个离子的情况下,上述MS/MS分析执行单元进一步确定将上述多个离子中的哪一个离子以怎样的顺序设定为前体离子来进行MS/MS分析。例如,能够按峰强度从大到小的顺序或从小到大的顺序、按质量从小到大的顺序或从大到小的顺序选择所有(或者预定个数)的上述多个离子并依次进行MS/MS分析,或者仅选择上述多个离子中的符合规定的基准的离子(例如,峰强度为预定的下限值以上的离子、或者峰强度位于预定的下限值与上限值之间的离子)并以规定的顺序进行MS/MS分析。此外,在如上述那样能够选择为前体离子的离子存在多个的情况下,既可以针对装置预先确定,也可以用户能够预先设定将哪个离子以怎样的顺序设定为前体离子来进行MS/MS分析而作为分析条件之一。
另外,优选上述本发明所涉及的质量分析装置是,
上述色谱图制作单元制作与预定的多个质量范围有关的多个色谱图,
上述定时确定单元将上述多个色谱图中的至少一个色谱图的信号强度超过预定的下限值之后达到预定的上限值的时间点、或者超过上述下限值之后没有达到上述上限值就到达峰顶的时间点确定为上述MS/MS分析的执行定时,
上述MS/MS分析执行单元将由上述离子化部生成的离子中的属于与确定上述定时中使用的色谱图对应的质量范围的离子作为前体离子,来执行MS/MS分析。
发明的效果
根据由上述结构构成的本发明所涉及的质量分析装置,能够将上述色谱图上的信号强度在上述下限值与上限值之间变成最大的定时确定为MS/MS分析的执行定时,按照该定时进行MS/MS分析用的前体离子提取。由此,能够对最佳量的前体离子进行MS/MS分析,与以往相比能够获得高品质的MS/MS谱。
附图说明
图1是本发明的一个实施例所涉及的LC/IT-TOFMS的概要结构图。
图2是表示该实施例的分析过程的一例的流程图。
图3是示意性地示出在该实施例中收集的三维数据的图。
图4是说明该实施例的MS/MS分析执行定时的确定方法的图。
图5是表示该实施例的分析过程的另一例的流程图。
图6是说明以往的MS/MS分析执行定时确定方法的一例的图。
图7是说明以往的MS/MS分析执行定时确定方法的另一例的图。
具体实施方式
使用图1~图4来详细地说明作为本发明的一个实施例的液相色谱仪/离子阱飞行时间型质量分析装置(LC/IT-TOFMS)。
图1是本实施例的LC/IT-TOFMS的主要部分的结构图。该LC/IT-TOFMS大致具有液相色谱仪(LC)部1和质量分析(MS)部2,对于将LC部1与MS部2相连接的大气压离子化接口,使用了电喷雾离子化(ESI)接口。此外,离子化法并不限于此,例如能够使用大气压化学离子化法(APCI)、大气压光离子化法(APPI)等其它各种方式的离子化接口。
设置于液相色谱仪(LC)部1的送液泵12抽吸蓄积在流动相容器11中的流动相,并以固定流量通过注入器13向柱14输送。注入器13具备自动取样器,来自动选择预先准备好的试样,在规定的定时将规定量的试样注入到流动相中。当利用注入器13向流动相中注入试样时,试样随着流动相的流动而被导入到柱14。在通过柱14的过程中试样中的各种成分被分离,随着时间的推移从柱14的出口洗脱出并被导入到MS部2。
MS部2具有维持大气压环境的离子化室21(相当于本发明中的“离子化部”)和利用涡轮分子泵(未图示)进行真空排气而维持高真空环境的分析室29,在它们之间配设有真空度逐级变高的第一级中间真空室24和第二级中间真空室27。离子化室21与第一级中间真空室24经由细径的脱溶剂管23相连通,第一级中间真空室24与第二级中间真空室27经由贯穿设置在圆锥形的分离器26的顶部的小径的节流孔相连通。
当从LC部1供给的含有试样成分的洗脱液到达作为离子源的ESI喷嘴22时,利用从高压电源(未图示)施加的直流高电压对洗脱液赋予电荷,以带电的微小液滴的形式向离子化室21内进行喷雾。该带电液滴与源自大气的气体分子相碰撞而进一步被粉碎为微小的液滴,快速干燥(被脱溶剂化)从而试样分子发生气化。该试样分子发生离子蒸发反应而被离子化。包含所产生的离子的微小液滴由于压差而被引入脱溶剂管23内,在通过脱溶剂管23内的期间进一步进行脱溶剂化而产生离子。离子一边在离子导向器25、28中会聚一边通过两个中间真空室24、27而被送到分析室29。在分析室29内,离子被导入到三维四极型的离子阱30的内部。
在离子阱30中,通过由电源(未图示)对各电极施加的高频电压所形成的四极电场来暂时捕获并蓄积离子。蓄积在离子阱30的内部的各种离子在规定的定时被同时赋予动能,从离子阱30向作为质量分离器的飞行时间型质量分离器(TOF)31释放。也就是说,离子阱30相对于TOF31成为离子的飞行的出发点。TOF31具备从直流电源(未图示)施加直流电压的反射电极32,通过由此形成的直流电场的作用使离子折返,到达作为检测器的离子检测器33。关于同时从离子阱30射出的离子,质量(严格地说是m/z)越小的离子飞行越快,以与质量相应的时间差到达离子检测器33。离子检测器33将与到达的离子数相应的电流作为检测信号依次进行输出。
该检测信号在A/D转换器34中被转换为数字值之后,被输入到数据处理部40。在数据处理部40中,在质谱制作部41中测量每个从离子阱30同时射出离子的时间点起直到到达离子检测器33为止的时间的离子的信号强度,将该时间信息换算为质量信息,来制作用横轴表示质量、用纵轴表示信号强度的质谱。为了在本实施例中实现特征性的动作,该数据处理部40除了具备上述质谱制作部41以外,还具备色谱图制作部42、定时确定部43、前体离子确定部44来作为功能模块。
分析控制部46基于来自中央控制部47的指示来控制LC部1和MS部2各部的动作,以利用LC部1执行试样的分离以及利用MS部2执行MS分析或者MS/MS分析。中央控制部47连接有作为用户接口的操作部48和显示部49,接收通过操作部48进行的操作者的操作并将用于分析的各种指令输出到分析控制部46、数据处理部40,并且将质谱和色谱图等的分析结果输出到显示部49。另外,中央控制部47连接有存储部45,该存储部45存储有由MS部2收集的庞大的量的数据和从操作部48输入的设定信息等。例如能够通过安装有规定的控制/处理软件的个人计算机来将中央控制部47、分析控制部46以及数据处理部40具体化。此外,本实施例中的离子阱30、TOF31以及分析控制部46相协作来作为本发明中的MS分析执行单元和MS/MS分析执行单元而发挥功能。
离子阱30如图所示,例如构成为能够供给氩等碰撞诱导分解(CID)气体,能够利用CID使蓄积在离子阱30中的离子分裂来生成产物离子。当进行MS/MS分析时,首先,在将由离子化室21生成的各种离子蓄积到离子阱30之后,控制对离子阱30的各电极施加的电压以在这些离子中仅选择性地剩下具有特定的质量的离子来作为前体离子,然后向离子阱30导入CID气体而使前体离子分裂。将这样生成的产物离子从离子阱30同时朝向TOF31释放,按每个质量分离并进行检测,由此能够获得产物离子的质谱、即MS/MS谱。
参照图2~图4来说明具有上述结构的LC/IT-TOFMS的特征性的动作。图2是表示本实施例所涉及的LC/IT-TOFMS的控制和处理过程的流程图。
当操作者从操作部48输入设定了分析条件之后指示执行自动分析时,接收到该指示的中央控制部47首先向分析控制部46发出指示,使得对注入器13中所准备的目标试样执行LC/MS分析,分析控制部46根据该指示分别控制LC部1和MS部2。由此,目标试样被从注入器13注入到流动相中(步骤S11)从而被送入柱14,来自柱14的洗脱液被导入到MS部2。MS部2以依次导入的上述洗脱液为对象反复执行质量分析(步骤S12)。此外,在该阶段进行不伴随离子的筛选和分裂的质量分析(即MS分析)。
通过上述MS分析而由离子检测器33得到的检测信号经由A/D转换器34被发送到数据处理部40的质谱制作部41。在质谱制作部41中,与从离子阱30射出一次离子相应地制作规定的质量范围的质谱。随着时间的推移反复执行这种MS分析以及质谱的制作,由此在数据处理部40中获得如图3所示那样的具有质量(m/z)、强度、时间三个维度的三维数据,并将该三维数据保存到存储部45。
在色谱图制作部42中,在被保存到存储部45的三维数据中提取预先设定的质量范围(图3中的ΔM)的数据,沿质量(m/z)轴方向累计强度数据,从而转换成横轴为时间、纵轴为强度的二维数据。这就是与上述质量范围ΔM对应的色谱图(质量色谱图)。利用色谱图制作部42实时地更新该色谱图,也就是说每当从MS部2输入新的数据时进行更新,使得追加与该数据对应的曲线(步骤S13)。图4中示出该色谱图的一例。
作为该色谱图的制作对象的质量(即ΔM的宽度)既可以针对装置来预先确定,也可以作为分析条件之一而能够由用户(分析负责人)设定。此外,上述ΔM可以是某一个质量,在这种情况下不需要累计处理。
在预先确定作为MS/MS分析的前体离子的离子的质量的情况下,色谱图制作部42仅生成与该质量对应的色谱图即可。在没有预先确定质量的情况下,色谱图制作部42制作与在由MS部2进行的MS分析中被设为分析对象的质量范围的整个区域有关的色谱图(所谓的总离子色谱图),或者将该质量范围分割为多个区间,并分别实时地制作与各区间对应的质量范围的色谱图(质量色谱图)。
当来自柱14的洗脱液中不存在试样成分时,色谱图的信号强度大致维持零(或者基线),但在某一时间点开始流出试样成分时,与之对应的色谱图的信号强度开始上升(参照图4)。定时确定部43针对由色谱图制作部42制作的一个或者多个色谱图总是监视最新的强度数据(信号强度),并依次判断该最新的强度数据是否与预先设定的条件相符。然后,在判断为某一个色谱图的强度满足上述条件的时间点,提取与该色谱图对应的离子作为前体离子来进行MS/MS分析。这样,基于色谱图自动地执行前体离子的提取以及MS/MS分析,由此针对用LC部1进行的一次试样注入,能够在从柱14洗脱出目标成分的定时捕获源自该目标成分的离子,自动获取反映了该成分的构造、组成的MS/MS谱。
本实施例的液相色谱质量分析装置的特征在于,在如上述那样根据通过MS分析获得的色谱图来确定MS/MS分析用的前体离子的提取定时时利用定时确定部43进行的定时确定动作。下面,详细地说明该点。在利用定时确定部43来确定前体离子的提取定时时,用户预先从操作部48输入判断条件并存储到存储部45。在此,作为判断条件之一,能够成对地设定信号强度的上限值UL和下限值LL(其中UL>LL)。
定时确定部43利用MS部2反复进行MS分析,由此将利用色谱图制作部42每时每刻制作出的一个或者多个色谱图的最新的强度数据依次与下限值LL进行比较,当信号强度超过下限值LL时判断为是与试样成分有关的峰的开始点。并且,当随着时间的推移而信号强度达到上限值UL时,将该时间点确定为MS/MS分析的执行定时(即前体离子的提取定时)。另外,在超过下限值LL之后没有达到上限值UL就到达峰顶的情况下,也将该时间点确定为前体离子的提取定时。也就是说,在图4所示的色谱图的情况下,时刻t1和t2分别成为前体离子的提取定时。此外,在判断是否到达峰顶时能够使用公知的方法,例如能够检查信号强度的变化(即色谱图波形的斜率),将斜率从正转变为负的时间点判断为峰顶的位置。
按照图2的流程图来说明上述定时确定部43的判断过程。首先,每当更新色谱图时,定时确定部43将该色谱图的最新的强度数据与下限值LL进行比较,来判断信号强度是否为下限值LL以上(步骤S14)。在信号强度小于下限值LL的情况下(在步骤S14中为“否”),返回到步骤S12,来反复执行MS分析以及相同的判断。另一方面,在信号强度为下限值LL以上的情况下(在步骤S14中为“是”),继续判断该信号强度是否为上限值UL以上(步骤S15),在小于上限值UL的情况下(在步骤S15中为“否”),接着判断色谱图是否到达峰顶(步骤S16)。在色谱图没有到达峰顶的情况下(在步骤S16中为“否”),再次执行MS分析(步骤S17),更新色谱图(步骤S18),并返回到步骤S15。另一方面,在信号强度为上限值UL以上的情况下(在步骤S15中为“是”),或者在色谱图到达峰顶的情况下(在步骤S16中为“是”),将该时间点确定为MS/MS分析的执行定时(步骤S19)。
此外,在上述例子中,每执行一次MS分析就更新色谱图,每更新一次色谱图就进行定时确定部43的判断(步骤S14、或者S15以及S16),但并不限于此,也可以在每当执行多次MS分析时更新色谱图,或者每当多次更新色谱图时进行定时确定部43的判断。
根据以上内容,当确定了MS/MS分析的执行定时时,接着前体离子确定部44将在被确定为该执行定时的时刻由MS部2检测出的离子中的、属于与确定上述定时中使用的色谱图(即满足上述规定的判断条件的色谱图)对应的质量范围ΔM的离子确定为MS/MS分析的前体离子(步骤S20)。具体地说,从存储部45获取被确定为上述执行定时的时刻、例如t1的质谱(MS谱),在该MS谱中,将与上述质量范围ΔM内出现的峰对应的质量确定为前体离子的质量。此时,在上述质量范围ΔM内存在多个峰的情况下,将满足预定的条件的峰、例如在该ΔM内提供最大的峰强度的质量作为前体离子的质量。
当确定了前体离子的质量时,将表示上述MS/MS分析的执行定时的定时信号和前体离子的质量的信息从数据处理部40发送到中央控制部47。中央控制部47在接收到该定时信号的时间点向分析控制部46发出指示,使得直接提取上述质量的离子来执行MS/MS分析,分析控制部46根据该指示控制MS部2(步骤S21)。此外,在上述例子中,在由定时确定部43确定出MS/MS分析的执行定时、例如图4的时刻t1的时间点,当然该时刻t1已经过去,因此由MS部2在时刻t1检测出的离子不存在于离子阱30内。因此,实际上是在此后不久对捕获并蓄积在离子阱30中的离子进行MS/MS分析(即离子阱30中的离子的质量筛选和分裂操作、由TOF31对分裂产生的各种产物离子进行的质量分离以及由离子检测器33进行的检测)。
如果MS/MS分析完成,则中央控制部47判断是否完成从柱14洗脱试样成分(步骤S22)。例如,能够根据从上述步骤S11的试样注入起是否经过规定的时间来判断是否完成洗脱。在此,在判断为没有完成洗脱的情况下(在步骤S22中为“否”),再次返回到步骤S12,从而对来自柱14的洗脱液执行MS分析,反复执行步骤S12~S22直到试样成分的洗脱完成为止(即直到在步骤S22中成为“是”为止),。
如上所述,根据本实施例所涉及的质量分析装置,基于两个阈值(上限值UL和下限值LL)来判断在MS分析中获得的色谱图,由此能够在源自试样成分的峰的信号强度在上述两个阈值之间成为最大的定时提取MS/MS分析用的前体离子。由此,能够在不降低质量分离性能的范围内提供尽可能多的前体离子以供MS/MS分析,因此,与以往的具备自动MS/MS分析功能的质量分析相比,能够获得品质高的MS/MS谱。
此外,在上述例子中,设为针对用LC部1进行的一次试样注入执行MS分析和MS/MS分析这两种分析的结构,但并不限于此,例如也可以设为将同一种试样向LC部1导入两次,在第一次导入试样时只进行MS分析,根据其结果来确定MS/MS分析的执行定时和前体离子的质量,在第二次导入试样时,在上述执行定时将上述质量的离子作为前体离子来进行MS/MS分析。使用图5的流程图来说明这种情况下的动作。
在该例中,首先从LC部1的注入器13向流动相中注入目标试样(步骤S31),对来自柱14的洗脱液反复执行MS分析直到试样成分的洗脱完成为止(步骤S32、S33)。如果试样成分的洗脱完成(即在步骤S33中为“是”),则色谱图制作部42基于上述MS分析的结果来制作与预定的一个或者多个质量范围有关的色谱图(步骤S34)。
接着,定时确定部43基于该色谱图来确定MS/MS分析的执行定时(步骤S35)。具体地说,定时确定部43在上述色谱图上搜索信号强度在超过上述下限值LL之后达到上限值UL的位置、或者在超过下限值LL之后没有达到上限值UL就到达峰顶的位置,将与该位置对应的时刻确定为MS/MS分析的执行定时。
接着,前体离子确定部44从存储部45读出被确定为上述MS/MS分析的执行定时的各时刻的质谱,在该质谱中,将在与确定该执行定时所使用的色谱图对应的质量范围ΔM内出现的峰的质量确定为该执行定时的前体离子的质量(步骤S36)。将如上述那样确定的一个或者多个执行定时与各执行定时的前体离子的质量的信息互相关联地存储到存储部45。
接着,再次从注入器13向流动相中注入与上述的步骤S31相同的试样(步骤S37),之后,在到达作为MS/MS分析的执行定时而被存储到存储部45的时刻的时间点(即在步骤S38中成为“是”的时间点),在离子阱30中提取与该执行定时对应的质量的离子,将该离子作为前体离子来执行MS/MS分析(步骤S39)。之后也每当作为MS/MS分析的执行定时而被存储到存储部45的时刻到来时,都执行MS/MS分析(步骤S38、S39),在所有执行定时的MS/MS分析完成的时间点(即在步骤S40中成为“是”的时间点),一系列分析完成。
以上,针对用于实施本发明的方式,列举实施例来进行了说明,但本发明并不限定于上述实施例,在本发明的宗旨的范围内允许进行适当的变更。
例如,本发明还能够应用于使用了除飞行时间型质量分离器以外的其它质量分离器的质量分析装置,例如还能够应用于使用了四极滤质器的质量分析装置。另外,也能够使用内部安装有施加高频电压的四极或者多极杆的碰撞单元,来代替三维四极型离子阱。在这种情况下,需要在该碰撞单元的前级进行前体离子的选择,因此典型的例子是三重四极型MS/MS质量分析装置。另外,还能够设为使用气相色谱仪(GC)来代替上述LC部1的结构。
附图标记说明
1:LC部;13:注入器;14:柱;2:MS部;21:离子化室;29:分析室;30:离子阱;31:TOF;33:离子检测器;34:A/D转换器;40:数据处理部;41:质谱制作部;42:色谱图制作部;43:定时确定部;44:前体离子确定部;45:存储部;46:分析控制部;47:中央控制部;48:操作部;49:显示部。

Claims (3)

1.一种质量分析装置,将用色谱仪的柱在时间方向上分离出的试样成分依次导入到离子化部并进行质量分析,其特征在于,具备:
a)MS分析执行单元,其对由上述离子化部生成的离子反复执行MS分析;
b)色谱图制作单元,其根据上述MS分析的结果来制作表示预定的质量范围内的离子强度随时间的变化的色谱图;
c)定时确定单元,其基于上述色谱图上的信号强度来确定MS/MS分析的执行定时;以及
d)MS/MS分析执行单元,其按照由上述定时确定单元确定的执行定时,将由上述离子化部生成的离子中的属于上述质量范围的离子作为前体离子来执行MS/MS分析,
其中,上述定时确定单元将上述色谱图上的信号强度超过预定的下限值之后达到预定的上限值的时间点、或者超过上述下限值之后没有达到上述上限值就到达峰顶的时间点确定为上述MS/MS分析的执行定时。
2.根据权利要求1所述的质量分析装置,其特征在于,
还具备e)上下限值设定单元,该上下限值设定单元使用户输入设定上述上限值和上述下限值。
3.根据权利要求1或2所述的质量分析装置,其特征在于,
上述色谱图制作单元制作与预定的多个质量范围有关的多个色谱图,
上述定时确定单元将上述多个色谱图中的至少一个色谱图的信号强度超过预定的下限值之后达到预定的上限值的时间点、或者超过上述下限值之后没有达到上述上限值就到达峰顶的时间点确定为上述MS/MS分析的执行定时,
上述MS/MS分析执行单元将由上述离子化部生成的离子中的属于与确定上述定时中使用的色谱图对应的质量范围的离子作为前体离子,来执行MS/MS分析。
CN201180075013.XA 2011-11-22 2011-11-22 质量分析装置 Expired - Fee Related CN103946950B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2011/076953 WO2013076826A1 (ja) 2011-11-22 2011-11-22 質量分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103946950A true CN103946950A (zh) 2014-07-23
CN103946950B CN103946950B (zh) 2016-05-04

Family

ID=48469305

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201180075013.XA Expired - Fee Related CN103946950B (zh) 2011-11-22 2011-11-22 质量分析装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9576780B2 (zh)
EP (1) EP2779208B1 (zh)
JP (1) JP5780312B2 (zh)
CN (1) CN103946950B (zh)
WO (1) WO2013076826A1 (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109283267A (zh) * 2017-07-21 2019-01-29 日本株式会社日立高新技术科学 谱数据处理装置和谱数据处理方法
CN110780016A (zh) * 2019-10-29 2020-02-11 五邑大学 一种针对三维图谱保留时间漂移校正方法、装置
US10613062B2 (en) 2015-10-15 2020-04-07 Shimadzu Corporation Mass spectrometer

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5967314B2 (ja) * 2013-10-22 2016-08-10 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析装置
JP6229529B2 (ja) * 2014-02-19 2017-11-15 株式会社島津製作所 イオントラップ質量分析装置及びイオントラップ質量分析方法
EP3268980A1 (en) * 2015-03-11 2018-01-17 DH Technologies Development Pte. Ltd. Method of increasing quality of tandem mass spectra
JP6477332B2 (ja) * 2015-07-28 2019-03-06 株式会社島津製作所 質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析用プログラム

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001249114A (ja) * 1999-12-27 2001-09-14 Hitachi Ltd 質量分析方法および装置
JP2002181784A (ja) * 2000-12-19 2002-06-26 Shimadzu Corp 液体クロマトグラフ質量分析計
JP2007198882A (ja) * 2006-01-26 2007-08-09 Hitachi High-Technologies Corp 質量分析システム
CN101384898A (zh) * 2006-06-08 2009-03-11 株式会社岛津制作所 色谱质谱分析用数据处理装置
JP2010019655A (ja) * 2008-07-10 2010-01-28 Shimadzu Corp クロマトグラフ質量分析装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6573492B2 (en) 1999-12-27 2003-06-03 Hitachi, Ltd. Mass spectrometric analysis method and apparatus using the method
JP4515819B2 (ja) * 2003-08-13 2010-08-04 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析システム
JP4644560B2 (ja) * 2005-08-09 2011-03-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析システム
JP4900048B2 (ja) * 2007-05-29 2012-03-21 株式会社島津製作所 質量分析装置
JP4985153B2 (ja) * 2007-07-03 2012-07-25 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析装置
JP5111123B2 (ja) * 2008-01-16 2012-12-26 株式会社日立製作所 質量分析計及び質量分析方法
US8258465B2 (en) * 2008-11-28 2012-09-04 Shimadzu Corporation Mass spectrometry apparatus
JP5505110B2 (ja) * 2010-06-14 2014-05-28 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析装置
US8935101B2 (en) * 2010-12-16 2015-01-13 Thermo Finnigan Llc Method and apparatus for correlating precursor and product ions in all-ions fragmentation experiments

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001249114A (ja) * 1999-12-27 2001-09-14 Hitachi Ltd 質量分析方法および装置
JP2002181784A (ja) * 2000-12-19 2002-06-26 Shimadzu Corp 液体クロマトグラフ質量分析計
JP2007198882A (ja) * 2006-01-26 2007-08-09 Hitachi High-Technologies Corp 質量分析システム
CN101384898A (zh) * 2006-06-08 2009-03-11 株式会社岛津制作所 色谱质谱分析用数据处理装置
JP2010019655A (ja) * 2008-07-10 2010-01-28 Shimadzu Corp クロマトグラフ質量分析装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10613062B2 (en) 2015-10-15 2020-04-07 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
CN109283267A (zh) * 2017-07-21 2019-01-29 日本株式会社日立高新技术科学 谱数据处理装置和谱数据处理方法
CN110780016A (zh) * 2019-10-29 2020-02-11 五邑大学 一种针对三维图谱保留时间漂移校正方法、装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP5780312B2 (ja) 2015-09-16
EP2779208A4 (en) 2015-05-20
WO2013076826A1 (ja) 2013-05-30
US20140339422A1 (en) 2014-11-20
EP2779208B1 (en) 2020-05-20
EP2779208A1 (en) 2014-09-17
US9576780B2 (en) 2017-02-21
CN103946950B (zh) 2016-05-04
JPWO2013076826A1 (ja) 2015-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103946950B (zh) 质量分析装置
EP2782116B1 (en) Mass spectrometer
CN103443899B (zh) 质量分析装置
EP2295958B1 (en) Mass analysis data analyzing method and mass analysis data analyzing apparatus
US10121644B2 (en) Mass spectrometer and mass spectrometry method
CN104641450B (zh) 质量分析装置
JP2010019655A (ja) クロマトグラフ質量分析装置
EP3086114A1 (en) Mass spectrometer and mass spectrometry method
JP5904300B2 (ja) 質量分析装置
US10741372B2 (en) Tandem mass spectrometer and program for the same
US20100133428A1 (en) Mass spectrometry apparatus
US9983180B2 (en) Mass spectrometry method, chromatograph mass spectrometer, and program for mass spectrometry
JP2005106537A (ja) 分取液体クロマトグラフ装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20160504

Termination date: 20191122

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee