JP2015503744A - インテリジェントなバックグラウンドデータの取得および減算 - Google Patents

Abstract

分離試料混合物の走査が、複数の間隔の各間隔において、質量分析計から受信される。第１の間隔において、第１の間隔において受信された質量分析走査および１つ以上の先行して受信された質量分析走査が、既知の化合物のイオンを表し、閾値レベルを上回る強度を有する可変イオン信号を含むことが判定される。質量分析計は、第１の間隔において、イオンに対する依存的走査を行い、既知の化合物に対するスペクトルを生成するように命令される。可変イオン信号が、閾値レベルを上回らない強度を有する、第１の間隔の後に来る第２の間隔が、選択される。質量分析計は、第２の間隔において、イオンに対する依存的走査を行い、バックグラウンドに対するスペクトルを生成するように命令される。

Description

（関連出願）
本出願は、２０１１年１２月３０日に出願された米国仮出願第６１／５８１，６７６号に対して優先権を主張する。上記文献の内容は、本明細書においてその全体として参照することによって援用される。

（導入）
質量分析計は、多くの場合、試験試料から溶出種を同定し、特性評価するために、クロマトグラフィシステムと連結される。そのような連結されたシステムでは、溶出溶媒は、イオン化され、溶出溶媒から、規定された時間間隔において、一連の時変質量スペクトル画像が、取得され、クロマトグラム、すなわち、質量スペクトル集合を生成する。これらの時間間隔は、例えば、１秒から１００分以上に及ぶ。試験試料は、多くの種または化合物を含有してもよいため、多くの場合、それらが溶出するにつれて、自動的に、着目種または化合物を判定あるいは同定し、かつタンデム型質量分析、すなわち、それらを特性評価するための分析である、ＭＳ／ＭＳ法を行うことが可能であることが望ましい。

溶出するにつれて、着目化合物を同定し、タンデム質量分析を行うための例示的かつ既知のシステムは、ＡＢ Ｓｃｉｅｘによって市販の情報依存的取得（ＩＤＡ）システムである。データ取得プロセスの間、本ソフトウェアは、前駆体イオンを選択するように、質量スペクトル集合内にピークを同定する。ソフトウェアは、次いで、ＭＳ／ＭＳまたは質量分析／質量分析／質量分析（ＭＳ／ＭＳ／ＭＳ）等の質量分析の１つ以上の後続段階を命令し、選定された前駆体イオンは、断片化される。着目化合物は、次いで、生成イオン、すなわち、断片イオンのスペクトルとの一致に関して、ライブラリを検索することによって、特性評価または検証される。

しかしながら、多くの場合、そのようなシステムから取得され、ライブラリに対して一致した生成イオンスペクトルは、着目イオンに加え、等重共溶出イオンまたはバックグラウンドイオンを含む。その結果、ライブラリ検索は、品質不良な結果をもたらす。

（要約）
本出願人の教示の種々の側面によると、データ取得の間、自動的に、バックグラウンド信号に対する依存的質量分析走査をトリガするためのシステムであって、１つ以上の化合物を試料混合物から分離する、分離デバイスと、複数の間隔において、分離試料混合物に質量分析走査を行う、質量分析計と、質量分析計から、複数の間隔の各間隔において、各質量分析走査を受信し、複数の間隔の第１の間隔において、第１の間隔において受信された質量分析走査および１つ以上の先行して受信された質量分析走査が、既知の化合物のイオンを表し、閾値レベルを上回る強度を有する、可変イオン信号を含むことを判定し、質量分析計に、第１の間隔において、イオンに対して分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、既知の化合物に対するスペクトルを生成するように命令し、可変イオン信号が、閾値レベルを上回らない強度を有する、第１の間隔の後に来る複数の間隔の第２の間隔を選択し、質量分析計に、第２の間隔において、イオンに対して分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、バックグラウンドに対するスペクトルを生成するように命令する、プロセッサとを備える、システムが、提供される。

種々の側面では、プロセッサは、第１の間隔後の複数の間隔の各間隔において、各間隔において受信された質量分析走査から、可変イオン信号の強度を判定し、強度が閾値レベルを上回らない場合、各間隔を第２の間隔として選択することによって、第２の間隔を選択することができる。種々の側面では、プロセッサは、ある量を第１の間隔に追加することによって、第２の間隔を選択することができる。種々の実施形態では、プロセッサはさらに、既知の化合物に対して補正されたスペクトルを既知の化合物に対するスペクトルおよびバックグラウンドに対するスペクトルから計算することができる。
種々の側面では、プロセッサはさらに、バックグラウンドに対するスペクトルを既知の化合物に対するスペクトルから減算することによって、既知の化合物に対して補正されたスペクトルを計算することができる。種々の側面では、プロセッサはさらに、データ取得の間、既知の化合物に対して補正されたスペクトルを計算することができる。
種々の実施形態では、プロセッサはさらに、データ取得後、既知の化合物に対して補正されたスペクトルを計算することができる。

本出願人の教示の種々の側面によると、データ取得の間、自動的に、バックグラウンド信号に対する依存的質量分析走査をトリガするための方法であって、質量分析計に、複数の間隔において、分離試料混合物に走査を行うように命令することであって、分離デバイスは、１つ以上の化合物を試料混合物から分離し、分離試料混合物を生成する、ことと、複数の間隔の第１の間隔において、第１の間隔における質量分析走査および１つ以上の先行質量分析走査が、既知の化合物のイオンを表し、閾値レベルを上回る強度を有する、可変イオン信号を含むことを判定することと、質量分析計に、第１の間隔において、イオンに対して分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、既知の化合物に対するスペクトルを生成するように命令することと、可変イオン信号が、閾値レベルを上回らない強度を有する、第１の間隔の後に来る複数の間隔の第２の間隔を選択することと、質量分析計に、第２の間隔において、イオンに対して分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、バックグラウンドに対するスペクトルを生成するように命令することとを含む、方法が、提供される。種々の側面では、複数の間隔の第２の間隔を選択することは、第１の間隔後の複数の間隔の各間隔において、各間隔において受信された質量分析走査から、可変イオン信号の強度を判定することと、強度が閾値レベルを上回らない場合、各間隔を第２の間隔として選択することとを含むことができる。種々の側面では、複数の間隔の第２の間隔を選択することは、ある量を第１の間隔に追加することを含むことができる。種々の実施形態では、方法はさらに、既知の化合物に対して補正されたスペクトルを既知の化合物に対するスペクトルおよびバックグラウンドに対するスペクトルから計算することを含むことができる。種々の側面では、既知の化合物に対して補正されたスペクトルを既知の化合物に対するスペクトルおよびバックグラウンドに対するスペクトルから計算することは、バックグラウンドに対するスペクトルを既知の化合物に対するスペクトルから減算することを含む。種々の側面では、既知の化合物に対して補正されたスペクトルを既知の化合物に対するスペクトルおよびバックグラウンドに対するスペクトルから計算することは、データ取得の間に生じる。種々の側面では、既知の化合物に対して補正されたスペクトルを既知の化合物に対するスペクトルおよびバックグラウンドに対するスペクトルから計算することは、データ取得後に生じる。

本出願人の教示の種々の側面によると、データ取得の間、自動的に、バックグラウンド信号に対する依存的質量分析走査をトリガするための方法を行うように、そのコンテンツが、プロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含む、非一過性および有形コンピュータ可読記憶媒体を備える、コンピュータプログラム製品であって、方法は、システムを提供することであって、システムは、１つ以上の個別のソフトウェアモジュールを備え、個別のソフトウェアモジュールは、測定モジュール、分析モジュール、および依存的走査制御モジュールを備える、ことと、質量分析計に、測定モジュールを使用して、複数の間隔において、分離試料混合物に走査を行うように命令することであって、分離デバイスは、１つ以上の化合物を試料混合物から分離し、分離試料混合物を生成する、ことと、分析モジュールを使用して、複数の間隔の第１の間隔において、第１の間隔における質量分析走査および１つ以上の先行質量分析走査が、既知の化合物のイオンを表し、閾値レベルを上回る強度を有する、可変イオン信号を含むことを判定することと、依存的走査制御モジュールを使用して、質量分析計に、第１の間隔において、イオンに対して分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、既知の化合物に対するスペクトルを生成するように命令することと、分析モジュールを使用して、可変イオン信号が、閾値レベルを上回らない強度を有する、第１の間隔の後に来る、複数の間隔の第２の間隔を選択することと、依存的走査制御モジュールを使用して、質量分析計に、第２の間隔において、イオンに対して分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、バックグラウンドに対するスペクトルを生成するように命令することとを含む、コンピュータプログラム製品が、提供される。

当業者は、以下に説明される図面が、例証目的にすぎないことを理解するであろう。図面は、本教示の範囲をいかようにも制限するように意図されない。

図１は、種々の実施形態による、コンピュータシステムを図示する、ブロック図である。 図２は、着目化合物に対する質量スペクトル集合からのピークの例示的プロットであって、ある時間において、依存的走査が、従来の自動化質量分析取得システムによってトリガされることを示す。 図３は、種々の実施形態による、着目化合物に対する質量スペクトル集合からのピークの例示的プロットであって、ある時間において、バックグラウンドの依存的走査が、自動化質量分析取得システムによってトリガされることを示す。 図４は、種々の実施形態による、データ取得の間、自動的に、バックグラウンド信号に対する依存的質量分析走査をトリガするためのシステムを示す、概略図である。 図５は、種々の実施形態による、データ取得の間、自動的に、バックグラウンド信号に対する依存的質量分析走査をトリガするための方法を示す、例示的流れ図である。 図６は、種々の実施形態による、データ取得の間、自動的に、バックグラウンド信号に対する依存的質量分析走査をトリガするための方法を行う１つ以上の個別のソフトウェアモジュールを含む、システムの概略図である。

本教示の１つ以上の実施形態が、詳細に説明される前に、当業者は、本教示が、その用途において、以下の発明を実施するための形態に記載される、または図面に図示される、構造、構成要素の配列、およびステップの配列の詳細に限定されないことを理解するであろう。また、本明細書で使用される語句および専門用語は、説明の目的のためのものであって、限定としてみなされるべきではないことを理解されたい。

コンピュータ実装システム
図１は、本教示の実施形態が実装され得る、コンピュータシステム１００を図示する、ブロック図である。コンピュータシステム１００は、情報を通信するためのバス１０２または他の通信機構と、情報を処理するためのバス１０２と連結される、プロセッサ１０４とを含む。コンピュータシステム１００はまた、プロセッサ１０４によって実行されるべき命令を記憶するために、バス１０２に連結される、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）または他の動的記憶デバイスであり得る、メモリ１０６を含む。メモリ１０６はまた、プロセッサ１０４によって実行されるべき命令の実行の間、一時的変数または他の中間情報を記憶するために使用されてもよい。コンピュータシステム１００はさらに、プロセッサ１０４のための静的情報および命令を記憶するために、バス１０２に連結される、読取専用メモリ（ＲＯＭ）１０８または他の静的記憶デバイスを含む。磁気ディスクまたは光ディスク等の記憶デバイス１１０は、情報および命令を記憶するために提供され、バス１０２に連結される。

コンピュータシステム１００は、バス１０２を介して、コンピュータユーザに情報を表示するために、ブラウン管（ＣＲＴ）または液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）等のディスプレイ１１２に連結されてもよい。英数字および他のキーを含む、入力デバイス１１４は、情報およびコマンド選択をプロセッサ１０４に通信するために、バス１０２に連結される。別のタイプのユーザ入力デバイスは、方向情報およびコマンド選択をプロセッサ１０４に通信し、ディスプレイ１１２上のカーソル移動を制御するためのマウス、トラックボール、またはカーソル方向キー等のカーソル制御１１６である。本入力デバイスは、典型的には、デバイスが、平面において、位置を規定することを可能にする、第１の軸（すなわち、ｘ）および第２の軸（すなわち、ｙ）の２つの軸における２自由度を有する。

コンピュータシステム１００は、本教示を行うことができる。本教示のある実装によると、結果は、プロセッサ１０４が、メモリ１０６内に含有される１つ以上の命令の１つ以上のシーケンスを実行することに応答して、コンピュータシステム１００によって提供される。そのような命令は、記憶デバイス１１０等、別のコンピュータ可読媒体から、メモリ１０６に読み込まれてもよい。メモリ１０６内に含有される命令のシーケンスの実行は、プロセッサ１０４に、本明細書に説明されるプロセスを行わせる。代替として、有線回路が、本教示を実装するために、ソフトウェア命令の代わりに、またはそれと組み合わせて使用されてもよい。したがって、本教示の実装は、ハードウェア回路およびソフトウェアの任意の具体的組み合わせに限定されない。

用語「コンピュータ可読媒体」は、本明細書で使用されるように、実行のために、命令をプロセッサ１０４に提供することに関与する、任意の媒体を指す。そのような媒体は、不揮発性媒体、揮発性媒体、および伝送媒体を含むが、それらに限定されない、多くの形態をとってもよい。不揮発性媒体は、例えば、記憶デバイス１１０等の光学または磁気ディスクを含む。揮発性媒体は、メモリ１０６等の動的メモリを含む。伝送媒体は、バス１０２を備える、配線を含む、同軸ケーブル、銅線、および光ファイバを含む。

コンピュータ可読媒体の一般的形態は、例えば、フロッピー（登録商標）ディスク、フレキシブルディスク、ハードディスク、磁気テープ、または任意の他の磁気媒体、ＣＤ−ＲＯＭ、デジタルビデオディスク（ＤＶＤ）、ブルーレイディスク、任意の他の光学媒体、サムドライブ、メモリカード、ＲＡＭ、ＰＲＯＭ、およびＥＰＲＯＭ、フラッシュ−ＥＰＲＯＭ、任意の他のメモリチップまたはカートリッジ、あるいはコンピュータが読み取ることができる、任意の他の有形媒体を含む。

種々の形態のコンピュータ可読媒体が、実行のために、プロセッサ１０４への１つ以上の命令の１つ以上のシーケンスを実施することに関与し得る。例えば、命令は、最初に、遠隔コンピュータの磁気ディスク上で実施されてもよい。遠隔コンピュータは、命令をその動的メモリ内にロードし、モデムを使用して、電話回線を経由して、命令を送信することができる。コンピュータシステム１００にローカルなモデムは、電話回線上でデータを受信し、赤外線送信機を使用して、データを赤外線信号に変換することができる。バス１０２に連結された赤外線検出器は、赤外線信号中で搬送されるデータを受信し、データをバス１０２上に置くことができる。バス１０２は、データをメモリ１０６に搬送し、そこから、プロセッサ１０４は、命令を読み出し、実行する。メモリ１０６によって受信された命令は、随意に、プロセッサ１０４による実行前または後のいずれかに、記憶デバイス１１０上に記憶されてもよい。

種々の実施形態によると、プロセッサによって実行され、ある方法を行うように構成される命令は、コンピュータ可読媒体上に記憶される。コンピュータ可読媒体は、デジタル情報を記憶する、デバイスであることができる。例えば、コンピュータ可読媒体は、当技術分野において既知のように、ソフトウェアを記憶するためのコンパクトディスク読取専用メモリ（ＣＤ−ＲＯＭ）を含む。コンピュータ可読媒体は、実行されるように構成される命令を実行するために好適なプロセッサによってアクセスされる。

本教示の種々の実装の以下の説明は、例証および説明の目的のために提示される。包括的でもなく、本教示を開示される精密な形態に限定するものでもない。修正および変形例が、前述の教示に照らして可能である、または本教示の実践から得られてもよい。加えて、説明される実装は、ソフトウェアを含むが、本教示は、ハードウェアおよびソフトウェアの組み合わせとして、またはハードウェア単独において実装されてもよい。本教示は、オブジェクト指向および非オブジェクト指向両方のプログラミングシステムで実装されてもよい。

自動化バックグラウンド減算
前述のように、分離システムに連結された質量分析計は、自動的に、経時的に分離するにつて、着目化合物を同定および特性評価し、質量分析を行い、それらを特性評価するために使用される。分離するにつれて、着目化合物を同定し、質量分析を使用して、その組成物を特性評価するための例示的自動化質量分析取得システムは、情報依存的取得（ＩＤＡ）である。質量分析は、例えば、依存的走査を使用して行われる。

しかしながら、多くの場合、そのようなシステムは、依存的走査に含まれる共溶出イオンまたはバックグラウンドイオンのため、不良なライブラリ検索結果をもたらす。依存的走査として、限定ではないが、ＭＳ／ＭＳ走査、断片イオン走査、生成イオン走査、拡張生成イオン走査、またはＭＳ／ＭＳ／ＭＳ走査が挙げられ得る。

種々の実施形態では、自動化質量分析取得システムは、バックグラウンド補正を可能にするために、着目化合物の各依存的走査後、自動的に、バックグラウンド信号の依存的走査をトリガする。バックグラウンド信号の依存的走査は、着目化合物の依存的走査より後の時間に行われる。バックグラウンド信号の依存的走査は、バックグラウンド信号の依存的走査が、その時、着目化合物の成分を含むであろうため、着目化合物の依存的走査時に行われることはできない。

種々の実施形態では、バックグラウンド信号の依存的走査は、クロマトグラム内の各着目化合物のピーク後の時間、または質量スペクトル集合が、閾値レベルを下回る値に低下した時に行われる。本時間は、例えば、ピークが検出された後の質量スペクトル集合内の着目化合物の質量ピークの強度を監視することによって見出されることができる。代替として、時間はまた、例えば、既知の着目化合物または実験に基づいて、所定または選択された時間遅延値、すなわち、差分を含むことができる。

バックグラウンド信号の依存的走査から生成されるバックグラウンドスペクトルは、次いで、着目化合物の依存的走査から生成される着目化合物スペクトルをスペクトル的に補正するために使用される。着目化合物スペクトルは、例えば、バックグラウンドスペクトルを着目化合物スペクトルから減算することによって補正される。

図２は、着目化合物に対する質量スペクトル集合からのピーク２１０の例示的プロット２００であって、ある時間において、依存的走査が、従来の自動化質量分析取得システムによってトリガされることを示す。プロット２００では、依存的走査は、時間２２０においてトリガされる。依存的走査は、例えば、ピーク２１０が上昇するにつれて、トリガされる。依存的走査は、スペクトル２３０を生成する。依存的走査は、ＭＳ／ＭＳ走査であって、スペクトル２３０は、例えば、生成イオンスペクトルである。バックグラウンドスペクトルは、時間２２０では、スペクトル２３０を補正する際に使用するために利用不可能である。

図３は、種々の実施形態による、着目化合物に対する質量スペクトル集合からのピーク２１０の例示的３００プロットであって、ある時間において、バックグラウンドの依存的走査が、自動化質量分析取得システムによってトリガされることを示す。プロット３００では、着目化合物の依存的走査は、時間２２０においてトリガされる。本依存的走査は、着目化合物スペクトル２３０を生成する。

バックグラウンドの依存的走査は、時間３４０においてトリガされる。時間３４０は、時間２２０後のある時間である。時間３４０は、例えば、ピーク２１０が、閾値レベルに低下した時間である。代替として、時間３４０は、例えば、時間２００に追加され、時間３４０を得る、所定または選択された時間遅延から判定される。

時間３４０において行われる依存的走査は、バックグラウンドスペクトル３５０を生成する。時間３４０において行われる依存的走査は、時間２２０において行われるものと同一のタイプの質量分析走査である。例えば、時間２２０において行われる依存的走査が、ＭＳ／ＭＳ走査である場合、ＭＳ／ＭＳ走査もまた、時間３４０において行われる。

スペクトル３６０は、スペクトル２３０およびスペクトル３５０から計算される、スペクトルである。スペクトル３６０は、バックグラウンドが除去された着目化合物のスペクトルである。スペクトル３６０は、例えば、スペクトル３５０をスペクトル２３０から減算することによって生成される。

種々の実施形態では、質量スペクトル集合内で見出される各着目ピークに対して、バックグラウンドの依存的走査が、着目ピークに対する依存的走査が行われた後の時間にトリガされる。バックグラウンドの依存的走査の結果として生じるスペクトルは、次いで、着目ピークに対する依存的走査のスペクトルを補正するために使用される。着目ピークに対する複数の依存的走査のスペクトルは、例えば、データ取得後、補正される。種々の実施形態では、代替として、着目ピークに対する複数の依存的走査のスペクトルは、データ取得の間、リアルタイムで補正されることができる。例えば、各着目ピークに対する各スペクトルは、バックグラウンドの対応するスペクトルの取得直後に補正されることができる。着目化合物のスペクトルの補正は、さらなるデータ取得が、その補正の結果に依存する場合、リアルタイムで行われる。

データ処理のシステムおよび方法
分離連結質量分析システム
図４は、種々の実施形態による、データ取得の間、自動的に、バックグラウンド信号に対する依存的質量分析走査をトリガするためのシステム４００を示す、概略図である。システム４００は、分離デバイス４１０、質量分析計４２０、およびプロセッサ４３０を含む。分離デバイス４１０は、１つ以上の化合物を試料混合物から分離する。分離デバイス４１０として、限定ではないが、電気泳動デバイス、クロマトグラフデバイス、または移動支援デバイスが挙げられ得る。

質量分析計４２０は、複数の間隔において、分離デバイス４１０からの分離試料混合物に、質量分析走査、すなわち、調査走査を行う。複数の間隔は、限定ではないが、複数の時間間隔または複数のイオン移動度であり得る。質量分析計４２０は、例えば、タンデム質量分析計である。タンデム質量分析計は、２つ以上の質量分析を行う、１つ以上の物理的質量分析器を含むことができる。タンデム質量分析計の質量分析器として、限定ではないが、飛行時間（ＴＯＦ）、四重極、イオントラップ、線形イオントラップ、軌道トラップ、磁場４セクタ型質量分析器、ハイブリッド四重極飛行時間（Ｑ−ＴＯＦ）質量分析器、またはフーリエ変換質量分析器が挙げられ得る。質量分析計４２０は、それぞれ、空間または時間において、別個の質量分析段階またはステップを含むことができる。

プロセッサ４３０は、タンデム質量分析計４２０と通信する。プロセッサ４３０はまた、分離デバイス４１０と通信することができる。プロセッサ４３０は、限定ではないが、コンピュータ、マイクロプロセッサ、または制御信号およびデータをタンデム質量分析計４２０および処理データに送信し、そこから受信可能な任意のデバイスであり得る。

プロセッサ４３０は、タンデム質量分析計４２０から、複数の間隔の各時間間隔において、各質量分析走査を受信する。その結果、質量スペクトル集合は、試料混合物が分離するにつれて、リアルタイムで区分的に作成されることができる。質量スペクトル集合として、限定ではないが、クロマトグラム、質量スペクトログラム、または一連のイオン移動度に対する質量スペクトルが挙げられ得る。

プロセッサ４３０は、複数の間隔の第１の時間間隔において、第１の間隔において受信された質量分析走査および１つ以上の先行して受信された質量分析走査が、既知の化合物のイオンを表す可変イオン信号を含むことを判定する。言い換えると、可変イオン信号は、各間隔において、現在の走査および１つ以上の以前の走査から判定される。可変イオン信号は、経時的に、例えば、間隔またはイオン移動度を変動させ得る。可変イオン信号は、例えば、質量スペクトル集合内のピークである。

プロセッサ４３０は、質量分析計４２０に、第１の間隔において、イオンに対する分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、既知の化合物に対するスペクトルを生成するように命令する。プロセッサ４３０は、第１の間隔の後に来る、複数の間隔の第２の間隔を選択する。プロセッサ４３０はまた、可変イオン信号が閾値レベルを上回らない強度を有する、第２の間隔を選択する。したがって、バックグラウンド信号または他の分離検体に対する信号のみが存在する、第２の間隔が、選択される。

プロセッサ４３０は、質量分析計４２０に、第２の間隔において、イオンに対する分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、バックグラウンドに対するスペクトルを生成するように命令する。バックグラウンドとして、限定ではないが、バックグラウンド信号、雑音信号、または他の分離検体からの信号が挙げられ得る。バックグラウンド信号は、例えば、等重共溶出イオンまたはバックグラウンドイオンを含み得る。

種々の実施形態では、プロセッサ４３０は、第１の間隔の後の各後続間隔において、可変イオン信号の強度を判定することによって、第２の間隔を選択する。強度は、各後続間隔において受信された受信質量分析走査から判定される。後続間隔は、後続間隔における強度が、閾値レベルを上回らない場合、第２の間隔として選択される。言い換えると、後続間隔は、後続間隔における質量スペクトル集合内に検出可能ピークが存在しない場合、第２の間隔として選択される。

種々の実施形態では、プロセッサ４３０は、ある量を第１の間隔に追加することによって、第２の間隔を選択する。所定の量は、限定ではないが、時間差またはイオン移動度差であり得る。言い換えると、プロセッサ４３０は、入力パラメータとして受信された量または特定の実験に基づく量に基づいて、第２の間隔を選択する。

種々の実施形態では、プロセッサ４３０はさらに、既知の化合物に対して補正されたスペクトルを既知の化合物に対するスペクトルおよびバックグラウンドに対するスペクトルから計算する。プロセッサ４３０はさらに、例えば、バックグラウンドに対するスペクトルを既知の化合物に対するスペクトルから減算することによって、既知の化合物に対して補正されたスペクトルを計算する。

プロセッサ４３０は、例えば、データ取得後、既知の化合物に対して補正されたスペクトルを計算する。言い換えると、既知の化合物および対応するバックグラウンドに対するスペクトルは、既知の化合物に対するスペクトルが取得される、各間隔に対して記憶される。取得後、各間隔に対して各スペクトルは、補正される。

代替として、プロセッサ４３０は、データ取得の間、既知の化合物に対して補正されたスペクトルを計算する。試料混合物が分離するにつれて、既知の化合物に対する各取得されたスペクトルは、対応するバックグラウンドスペクトルを使用して補正される。既知の化合物に対するスペクトルは、例えば、後続依存的走査が、補正された情報に依存する場合、データ取得の間、補正される。

質量分析方法
図５は、種々の実施形態による、データ取得の間、自動的に、バックグラウンド信号に対する依存的質量分析走査をトリガするための方法５００を示す、例示的流れ図である。

方法５００のステップ５１０では、質量分析計は、複数の間隔において、分離試料混合物に走査を行うように命令される。分離デバイスは、１つ以上の化合物を試料混合物から分離し、分離試料混合物を生成する。

ステップ５２０では、複数の間隔の第１の間隔において、第１の間隔における質量分析走査および１つ以上の先行質量分析走査が、既知の化合物のイオンを表し、閾値レベルを上回る強度を有する、可変イオン信号を含むことが判定される。

ステップ５３０では、質量分析計は、第１の間隔において、イオンに対して、分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、既知の化合物に対するスペクトルを生成するように命令される。

ステップ５４０では、可変イオン信号が閾値レベルを上回らない強度を有する、第１の間隔の後に来る、複数の間隔の第２の間隔が、選択される。

ステップ５５０では、質量分析計は、第２の間隔において、イオンに対して、分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、バックグラウンドに対するスペクトルを生成するように命令される。

質量分析コンピュータプログラム製品
種々の実施形態では、コンピュータプログラム製品は、データ取得の間、自動的に、バックグラウンド信号に対する依存的質量分析走査をトリガするための方法を行うように、そのコンテンツが、プロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含む、非一過性かつ有形のコンピュータ可読記憶媒体を含む。本方法は、１つ以上の個別のソフトウェアモジュールを含むシステムによって行われる。

図６は、種々の実施形態による、データ取得の間、自動的に、バックグラウンド信号に対する依存的質量分析走査をトリガするための方法を行う、１つ以上の個別のソフトウェアモジュールを含む、システム６００の概略図である。システム６００は、測定モジュール６１０、分析モジュール６２０、および依存的走査制御モジュール６３０を含む。

測定モジュール６１０は、質量分析計に、複数の間隔において、分離試料混合物に走査を行うように命令する。分離デバイスは、１つ以上の化合物を試料混合物から分離し、分離試料混合物を生成する。

分析モジュール６２０は、複数の間隔の第１の間隔において、第１の間隔における質量分析走査および１つ以上の先行質量分析走査が、既知の化合物のイオンを表し、閾値レベルを上回る強度を有する、可変イオン信号を含むことを判定する。

依存的走査制御モジュール６３０は、質量分析計に、第１の間隔において、イオンに対して、分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、既知の化合物に対するスペクトルを生成するように命令する。

分析モジュール６２０は、可変イオン信号が、閾値レベルを上回らない強度を有する、第１の間隔の後に来る、複数の間隔の第２の間隔を選択する。最後に、依存的走査制御モジュール６３０は、質量分析計に、第２の間隔において、イオンに対して、分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、バックグラウンドに対するスペクトルを生成するように命令する。

本教示は、種々の実施形態と併せて説明されるが、本教示が、そのような実施形態に限定されることを意図するものではない。対照的に、本教示は、当業者によって理解されるように、種々の代替、修正、および均等物を包含する。

さらに、種々の実施形態を説明する際、本明細書は、ステップの特定のシーケンスとして、方法および／またはプロセスを提示し得る。しかしながら、方法またはプロセスが、本明細書に記載されるステップの特定の順序に依拠しない範囲において、方法またはプロセスは、説明されるステップの特定のシーケンスに限定されるべきではない。当業者が理解するであろうように、ステップの他のシーケンスが可能であってもよい。したがって、本明細書に記載されるステップの特定の順序は、請求項に関する限定として解釈されるべきではない。加えて、方法および／またはプロセスを対象とする請求項は、書かれた順序におけるそのステップの実施に限定されるべきではなく、当業者は、シーケンスが、変更されてもよく、依然として、種々の実施形態の精神および範囲にあることを容易に理解することができる。

Claims (15)

1. データ取得の間、自動的に、バックグラウンド信号に対する依存的質量分析走査をトリガするためのシステムであって、
   １つ以上の化合物を試料混合物から分離する分離デバイスと、
   複数の間隔において、分離試料混合物に質量分析走査を行う質量分析計と、
   プロセッサと
   を備え、
   前記プロセッサは、
   前記複数の間隔の各間隔において、前記質量分析計から、各質量分析走査を受信することと、
   前記複数の間隔の第１の間隔において、前記第１の間隔において受信された質量分析走査および１つ以上の先行して受信された質量分析走査が、既知の化合物のイオンを表し、閾値レベルを上回る強度を有する可変イオン信号を含むことを判定することと、
   前記質量分析計に、前記第１の間隔において、前記イオンに対して前記分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、前記既知の化合物に対するスペクトルを生成するように命令することと、
   前記可変イオン信号が、前記閾値レベルを上回らない強度を有する、前記第１の間隔の後に来る前記複数の間隔の第２の間隔を選択することと、
   前記質量分析計に、前記第２の間隔において、前記イオンに対して前記分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、バックグラウンドに対するスペクトルを生成するように命令することと
   を含む、システム。
2. 前記プロセッサは、前記第１の間隔の後の前記複数の間隔の各間隔において、前記各間隔において受信された質量分析走査から、前記可変イオン信号の強度を判定し、前記強度が前記閾値レベルを上回らない場合に前記各間隔を前記第２の間隔として選択することによって、前記第２の間隔を選択する、請求項１に記載のシステム。
3. 前記プロセッサは、ある量を前記第１の間隔に追加することによって、前記第２の間隔を選択する、請求項１に記載のシステム。
4. 前記プロセッサはさらに、前記既知の化合物に対するスペクトルおよび前記バックグラウンドに対するスペクトルから、前記既知の化合物に対して補正されたスペクトルを計算する、請求項１に記載のシステム。
5. 前記プロセッサはさらに、前記バックグラウンドに対するスペクトルを前記既知の化合物に対するスペクトルから減算することによって、前記既知の化合物に対して補正されたスペクトルを計算する、請求項４に記載のシステム。
6. 前記プロセッサはさらに、データ取得の間、前記既知の化合物に対して補正されたスペクトルを計算する、請求項４に記載のシステム。
7. 前記プロセッサはさらに、データ取得後、前記既知の化合物に対して補正されたスペクトルを計算する、請求項４に記載のシステム。
8. データ取得の間、自動的に、バックグラウンド信号に対する依存的質量分析走査をトリガするための方法であって、
   質量分析計に、複数の間隔において、分離試料混合物に走査を行うように命令することであって、分離デバイスは、１つ以上の化合物を試料混合物から分離し、前記分離試料混合物を生成する、ことと、
   前記複数の間隔の第１の間隔において、前記第１の間隔における質量分析走査および１つ以上の先行質量分析走査が、既知の化合物のイオンを表し、閾値レベルを上回る強度を有する可変イオン信号を含むことを判定することと、
   前記質量分析計に、前記第１の間隔において、前記イオンに対して前記分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、前記既知の化合物に対するスペクトルを生成するように命令することと、
   前記可変イオン信号が、前記閾値レベルを上回らない強度を有する、前記第１の間隔の後に来る前記複数の間隔の第２の間隔を選択することと、
   前記質量分析計に、前記第２の間隔において、前記イオンに対して前記分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、バックグラウンドに対するスペクトルを生成するように命令することと
   を含む、方法。
9. 前記複数の間隔の第２の間隔を選択することは、前記第１の間隔後の前記複数の間隔の各間隔において、前記各間隔において受信された質量分析走査から、前記可変イオン信号の強度を判定することと、前記強度が前記閾値レベルを上回らない場合に前記各間隔を前記第２の間隔として選択することとを含む、請求項８に記載の方法。
10. 前記複数の間隔の第２の間隔を選択することは、ある量を前記第１の間隔に追加することを含む、請求項８に記載の方法。
11. 前記既知の化合物に対して補正されたスペクトルを前記既知の化合物に対するスペクトルおよび前記バックグラウンドに対するスペクトルから計算することをさらに含む、請求項８に記載の方法。
12. 前記既知の化合物に対して補正されたスペクトルを前記既知の化合物に対するスペクトルおよび前記バックグラウンドに対するスペクトルから計算することは、前記バックグラウンドに対するスペクトルを前記既知の化合物に対するスペクトルから減算することを含む、請求項１１に記載の方法。
13. 前記既知の化合物に対して補正されたスペクトルを前記既知の化合物に対するスペクトルおよび前記バックグラウンドに対するスペクトルから計算することは、データ取得の間に生じる、請求項１１に記載の方法。
14. 前記既知の化合物に対して補正されたスペクトルを前記既知の化合物に対するスペクトルおよび前記バックグラウンドに対するスペクトルから計算することは、データ取得後に生じる、請求項１１に記載の方法。
15. 非一過性および有形コンピュータ可読記憶媒体を備えるコンピュータプログラム製品であって、前記非一過性および有形コンピュータ可読記憶媒体のコンテンツは、データ取得の間、自動的に、バックグラウンド信号に対する依存的質量分析走査をトリガするための方法を行うように、プロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含み、前記方法は、
    システムを提供することであって、前記システムは、１つ以上の個別のソフトウェアモジュールを備え、前記個別のソフトウェアモジュールは、測定モジュール、分析モジュール、および依存的走査制御モジュールを備える、ことと、
    前記測定モジュールを使用して、質量分析計に、複数の間隔において、分離試料混合物に走査を行うように命令することであって、分離デバイスは、１つ以上の化合物を試料混合物から分離し、前記分離試料混合物を生成する、ことと、
    前記分析モジュールを使用して、前記複数の間隔の第１の間隔において、前記第１の間隔における質量分析走査および１つ以上の先行質量分析走査が、既知の化合物のイオンを表し、閾値レベルを上回る強度を有する可変イオン信号を含むことを判定することと、
    前記依存的走査制御モジュールを使用して、前記質量分析計に、前記第１の間隔において、前記イオンに対して前記分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、前記既知の化合物に対するスペクトルを生成するように命令することと、
    前記分析モジュールを使用して、前記可変イオン信号が、前記閾値レベルを上回らない強度を有する、前記第１の間隔の後に来る前記複数の間隔の第２の間隔を選択することと、
    前記依存的走査制御モジュールを使用して、前記質量分析計に、前記第２の間隔において、前記イオンに対して前記分離試料混合物の依存的質量分析走査を行い、バックグラウンドに対するスペクトルを生成するように命令することと
    を含む、コンピュータプログラム製品。