JP2000206103A - クロマトグラフ質量分析計 - Google Patents
クロマトグラフ質量分析計Info
- Publication number
- JP2000206103A JP2000206103A JP11001745A JP174599A JP2000206103A JP 2000206103 A JP2000206103 A JP 2000206103A JP 11001745 A JP11001745 A JP 11001745A JP 174599 A JP174599 A JP 174599A JP 2000206103 A JP2000206103 A JP 2000206103A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mass spectrum
- mobile phase
- mass
- chromatogram
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
析対象イオン群による影響を受けることなく、試料中の
微量成分でも検出できるようなクロマトグラフ質量分析
計を提供する。 【解決手段】 試料の分離成分に対応するピークが検出
されない時間帯に質量分析部のイオン検出器が出力する
信号を処理することにより得られるマススペクトルをバ
ックグラウンドノイズとして原マススペクトルから減算
することにより差分マススペクトルを得る。この差分マ
ススペクトルを用いれば、移動相に起因するノイズを含
まない良好なクロマトグラムが得られる。
Description
量分析計に関し、特に液体クロマトグラフ質量分析計に
関する。
に、試料の注入された液体(移動相)をカラムに流すこ
とにより試料を成分毎に分離する液体クロマトグラフ部
(LC部)、LC部で分離された各試料成分をイオン化
室にてイオン化し、生成されたイオンを質量数(m/
z)毎に分離してイオン検出器で検出する質量分析部
(MS部)、及び、イオン検出器の出力信号を処理して
得られるデータを処理し、その結果をマススペクトル、
マスクロマトグラム(MC)、トータルイオンクロマト
グラム(TIC)等の形で出力装置(画像表示装置、印
刷装置等)に出力するデータ処理部を備える。
は、LC部で分離された各試料成分が所定の方法でイオ
ン化され、各種イオンが発生する(これらのイオンを以
下で、分析対象イオン群とよぶ)。しかし、イオン化室
で発生するイオンは分析対象イオン群だけではなく、例
えば、LC部で移動相として用いられる物質も部分的に
イオン化される。また、生成されたイオンを核として上
記物質の分子が凝集し、クラスターイオンを形成するこ
ともある。このような分析対象イオン群以外の各種イオ
ン(以下、非分析対象イオン群とよぶ)は、分析対象イ
オン群とともにMS部のイオン検出器で検出される。従
って、イオン検出器の出力信号を処理して得られるクロ
マトグラムは、非分析対象イオン群に起因するバックグ
ラウンドノイズの上に分析対象イオンのピークが重畳さ
れた形で現れることになる。このようなクロマトグラム
において、ある時点にイオン検出器で検出された分析対
象イオン群の総量が微小であると、クロマトグラム上で
そのイオン群に対応するピークの高さが低くなり、バッ
クグラウンドノイズの微小変動のピークと区別できなく
なるおそれがある。
質量分析計だけでなく、例えばガスクロマトグラフ質量
分析計においても起こりうる。しかし、液体クロマトグ
ラフにおいては、移動相として用いられる物質の種類が
ガスクロマトグラフにおけるそれよりもはるかに多く、
その物質の違いに応じてバックグラウンドノイズの発生
の仕方が違ってくるため、問題は特に深刻である。
成されたものであり、その目的とするところは、移動相
として用いられる物質に起因する非分析対象イオン群に
よる影響を受けることなく、試料中の微量成分でも検出
できるようなクロマトグラフ質量分析計を提供すること
にある。
に成された本発明に係るクロマトグラフ質量分析計は、
質量分析部のイオン検出器の出力信号を処理することに
より得られる原マススペクトルからクロマトグラフ部で
移動相として用いられる物質に起因するイオンのマスス
ペクトルを減算することにより得られる差分マススペク
トルを用いてクロマトグラムを作成するクロマトグラム
作成手段を備えることを特徴とする。
分析計のクロマトグラム作成手段は、質量分析部のイオ
ン検出器の出力信号を処理することにより得られるマス
スペクトル(原マススペクトル)から、クロマトグラフ
部で移動相として用いられる物質に起因するイオン(非
分析対象イオン群)のマススペクトルを減算することに
より差分マススペクトルを導出し、この差分マススペク
トルを用いてクロマトグラム(TICやMC)を作成す
る。なお、このような処理を行うデータ処理手段は、一
般に使用されるコンピュータを用いて構成することがで
きる。
部で移動相として用いられる各種物質のマススペクトル
データを記憶した記憶手段と、実際の測定において移動
相として選択された物質を特定するための移動相特定手
段とを備え、前記データ処理手段は、前記移動相特定手
段により特定された物質のマススペクトルデータを前記
記憶手段から読み出し、該データから得られるマススペ
クトルを前記原マススペクトルから減算することにより
前記差分マススペクトルを導出するという構成を有する
クロマトグラフ質量分析計が挙げられる。
いて、移動相特定手段は、例えば、記憶手段(ハードデ
ィスク等)にデータの保存された物質名を一覧形式で画
像表示手段(CRT等)に表示し、使用者が入力手段
(キーボードやマウス等)を操作して、実際に使用され
る(又は使用された)物質を一覧の中から選択すると、
その物質を特定するデータをデータ処理手段に送る、と
いう処理をコンピュータに実行させるプログラムとして
構成することができる。また、予め用意された複数の物
質から所望の物質を自動的に選択してクロマトグラフ部
に供給する機構を備える装置の場合、移動相特定手段
は、前記機構の動作信号を取り込み、その動作信号に基
づいて、移動相として選択された物質を特定するような
構成としてもよい。
いては、差分マススペクトルの導出に必要となる非分析
対象イオン群のマススペクトルデータを以下のようにし
て予め記憶手段に保存しておく。すなわち、例えば試料
の調整時に、移動相として用いられる物質を、その中に
試料を投入することなくクロマトグラフ部のカラムに流
しつつ、質量分析部のイオン検出器が出力する信号を採
取する。この出力信号を処理することによりその移動相
の物質のマススペクトルを求め、そのデータをハードデ
ィスク等の記憶手段に保存する。このようにして、クロ
マトグラフ部で移動相として用いられる全ての物質毎に
マススペクトルデータを求め、記憶手段に保存する。実
際の試料の分析においては、移動相として選択された物
質を移動相特定手段により特定し、その物質のマススペ
クトルデータを記憶手段から読み出して処理することに
よりマススペクトルを得る。このマススペクトルを原マ
ススペクトルから減算することにより差分マススペクト
ルを得る。
を用いた測定では、複数の異なる溶媒を混合して成る移
動相を用いるグラジエント測定を行うことがある。この
ことを考慮し、上記形態のクロマトグラフ質量分析計に
おいて、クロマトグラフ部が液体クロマトグラフである
場合、前記データ処理手段は、複数の溶媒を混合して成
る移動相を用いるグラジエント測定を行う際に、各測定
時点において前記移動相に含まれる各溶媒物質のマスス
ペクトルデータを前記記憶手段から読み出し、それらの
マススペクトルの加重平均を、その測定時点における前
記移動相中での各溶媒物質の組成比を重み係数として求
め、そのマススペクトルをその測定時点での原マススペ
クトルから減算する、という構成にすることが好まし
い。
理手段は、実際の測定時に、イオン化室に流れ込む移動
相に試料から分離した成分が含まれていない時間帯に前
記イオン検出器が出力する信号を処理することにより得
られるマススペクトルのデータをバックグラウンドノイ
ズデータとして前記記憶手段又はそれとは別に設けられ
た第2の記憶手段に保存し、前記差分マススペクトルの
導出時には、前記バックグラウンドノイズデータから得
られるマススペクトルを前記原マススペクトルから減算
するというように構成されたクロマトグラフ質量分析計
が挙げられる。
ラフ質量分析計では、イオン検出器の出力信号を処理す
ることにより得られる原マススペクトルから、移動相と
して用いられる物質に起因する非分析対象イオン群によ
るバックグラウンドノイズを除去した上でクロマトグラ
ムを作成する。このように作成されたクロマトグラムに
は分析対象イオン群に相当するピークのみが現れるた
め、試料に含まれる微量な成分まで確実に検出すること
ができる。
けるデータ処理手順について図面を参照しながら更に詳
細に説明する。
きに図1に示したようなトータルイオンクロマトグラム
(ただし、移動相への試料投入時点をt=0とする)が
得られたものとする。このクロマトグラムには、2つの
明瞭なピークP1及びP2が保持時間t1及びt2にそ
れぞれ現れているが、クロマトグラムのその他の部分に
は特に明瞭なピークは現れていない。
クP1の検出までの時間帯に含まれる保持時間t0にお
けるマススペクトルが図2(a)のようなものであった
とする。この時点では、まだイオン化室に流入する移動
相に試料の分離成分が含まれていない。従って、図2の
マススペクトルS0は、移動相に起因する非分析対象イ
オン群のマススペクトルである。一方、ピークP1が現
れた保持時間t1におけるマススペクトルが図2(b)
のようなものであったとする。この時点では、図2
(a)で既に説明した非分析対象イオン群のマススペク
トルS0に加えて、ピークP1を構成する分析対象イオ
ン群のマススペクトルS1も現れている。
図2(a)のマススペクトルを減算して得られるマスス
ペクトルであって、これがすなわち保持時間t1におけ
る差分マススペクトルである。この差分マススペクトル
には、ピークP1に対応するマススペクトルS1のみが
現れている。このようにして、各保持時間毎に差分マス
スペクトルを求める。
ータルイオンクロマトグラムは、例えば図4のようにな
る。図4のクロマトグラムには、非分析対象イオン群に
起因するバックグラウンドノイズの変動成分が含まれて
いないため、(1)上記2つのピークP1及びP2の形
状がより正しく現れているだけでなく、(2)図1のク
ロマトグラフではベースラインの変動成分に埋もれてい
て識別困難であった微小な第3のピークP3が保持時間
t3に現れている。このように、差分マススペクトルを
用いてトータルイオンクロマトグラムを作成すれば、従
来の方法によるよりも、良質のクロマトグラムが得られ
るのである。なお、このような効果は、マスクロマトグ
ラムの作成においても同様に得られることは言うまでも
ない。
出される前にイオン検出器が出力する信号を処理するこ
とにより得られるマススペクトルを用いて差分マススペ
クトルを作成したが、例えば、クロマトグラム上でピー
クが現れていない別の時間帯にイオン検出器が出力する
信号を処理することにより得られるマススペクトルを用
いてもよい。
いてグラジエント測定を行う場合を考える。測定には2
つの溶媒A及びBを混合して成る移動相を用いるものと
し、その組成比は時間に応じて図5に示したように変化
させるものとする。すなわち、測定開始時点では、移動
相の組成比が溶媒A:溶媒B=100:0(%)である
が、その後の経過時間に比例して溶媒Bの割合が高ま
り、時間t5で溶媒A:溶媒B=0:100(%)とな
っている。なお、図5の時間t6における移動相の組成
比は溶媒A:溶媒B=50:50(%)とする。
ことなくクロマトグラフ部のカラムに流しつつ、質量分
析部のイオン検出器が出力する信号を採取する。この出
力信号を処理することによりその溶媒Aのマススペクト
ルを求め、そのデータをハードディスク等の記憶装置に
保存する。同様にして、溶媒Bのマススペクトルのデー
タも記憶装置に保存する。このようにして保存されたデ
ータを用いれば、例えば図5の時間t6における非分析
対象イオン群のマススペクトルは次のように求められ
る。すなわち、記憶装置に保存されたデータを処理する
ことにより得られる溶媒Aのマススペクトル(図6
(a))及び溶媒Bのマススペクトル(図6(b))の
加重平均を、時間t6における各溶媒の組成比(いずれ
も0.5)を重み係数として算出する。このようにして
得られたマススペクトルを図6(c)に示す。
ータルイオンクロマトグラム。
ペクトル、(b)ピークP1が現れた保持時間t1にお
けるマススペクトル。
のマススペクトルを減算して得られる差分マススペクト
ル。
試料のトータルイオンクロマトグラム。
定における移動相の組成比の変化を示すグラフ。
Bのマススペクトル、(c)図5の時間t6における移
動相のマススペクトル。
Claims (1)
- 【請求項1】 質量分析部のイオン検出器の出力信号を
処理することにより得られる原マススペクトルからクロ
マトグラフ部で移動相として用いられる物質に起因する
イオンのマススペクトルを減算することにより得られる
差分マススペクトルを用いてクロマトグラムを作成する
クロマトグラム作成手段を備えることを特徴とするクロ
マトグラフ質量分析計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP00174599A JP3867426B2 (ja) | 1999-01-07 | 1999-01-07 | クロマトグラフ質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP00174599A JP3867426B2 (ja) | 1999-01-07 | 1999-01-07 | クロマトグラフ質量分析計 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000206103A true JP2000206103A (ja) | 2000-07-28 |
JP2000206103A5 JP2000206103A5 (ja) | 2005-09-15 |
JP3867426B2 JP3867426B2 (ja) | 2007-01-10 |
Family
ID=11510112
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP00174599A Expired - Lifetime JP3867426B2 (ja) | 1999-01-07 | 1999-01-07 | クロマトグラフ質量分析計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3867426B2 (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007205745A (ja) * | 2006-01-31 | 2007-08-16 | Sumika Chemical Analysis Service Ltd | 同位体含有率の測定方法 |
WO2008092269A1 (en) * | 2007-02-02 | 2008-08-07 | Mds Analytical Technologies, A Business Unit Of Mds Inc., Doing Business Through Its Sciex Division | Systems and methods for reducing noise from mass spectra |
JP2008249694A (ja) * | 2007-03-02 | 2008-10-16 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置、質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法 |
JP2009264970A (ja) * | 2008-04-25 | 2009-11-12 | Shimadzu Corp | 質量分析データ処理方法及び質量分析装置 |
JP2012047453A (ja) * | 2010-08-24 | 2012-03-08 | Tsurui Chemical Co Ltd | 質量分析方法 |
US20130119248A1 (en) * | 2010-08-02 | 2013-05-16 | Kratos Analytical Limited | Methods and apparatuses for producing mass spectrum data |
WO2013098601A1 (en) * | 2011-12-30 | 2013-07-04 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Intelligent background data acquisition and subtraction |
JP2017223670A (ja) * | 2016-06-10 | 2017-12-21 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 液体クロマトグラフおよび液体クロマトグラフの検出器出力値変動補正手段 |
WO2018138901A1 (ja) | 2017-01-30 | 2018-08-02 | 株式会社島津製作所 | スペクトルデータ処理装置 |
JPWO2021064924A1 (ja) * | 2019-10-02 | 2021-04-08 |
-
1999
- 1999-01-07 JP JP00174599A patent/JP3867426B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007205745A (ja) * | 2006-01-31 | 2007-08-16 | Sumika Chemical Analysis Service Ltd | 同位体含有率の測定方法 |
US8148678B2 (en) | 2007-02-02 | 2012-04-03 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Systems and methods for reducing noise from mass spectra |
WO2008092269A1 (en) * | 2007-02-02 | 2008-08-07 | Mds Analytical Technologies, A Business Unit Of Mds Inc., Doing Business Through Its Sciex Division | Systems and methods for reducing noise from mass spectra |
US7638764B2 (en) | 2007-02-02 | 2009-12-29 | Mds Analytical Technologies | Systems and methods for reducing noise from mass spectra |
JP2010518362A (ja) * | 2007-02-02 | 2010-05-27 | エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド, ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン | 質量スペクトルからノイズを低減するシステムおよび方法 |
JP2008249694A (ja) * | 2007-03-02 | 2008-10-16 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置、質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法 |
JP2009264970A (ja) * | 2008-04-25 | 2009-11-12 | Shimadzu Corp | 質量分析データ処理方法及び質量分析装置 |
US8791408B2 (en) * | 2010-08-02 | 2014-07-29 | Kratos Analytical Limited | Methods and apparatuses for producing mass spectrum data |
US20130119248A1 (en) * | 2010-08-02 | 2013-05-16 | Kratos Analytical Limited | Methods and apparatuses for producing mass spectrum data |
JP2012047453A (ja) * | 2010-08-24 | 2012-03-08 | Tsurui Chemical Co Ltd | 質量分析方法 |
WO2013098601A1 (en) * | 2011-12-30 | 2013-07-04 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Intelligent background data acquisition and subtraction |
CN104024845A (zh) * | 2011-12-30 | 2014-09-03 | Dh科技发展私人贸易有限公司 | 智能本底数据采集及减除 |
JP2015503744A (ja) * | 2011-12-30 | 2015-02-02 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | インテリジェントなバックグラウンドデータの取得および減算 |
US9117638B2 (en) | 2011-12-30 | 2015-08-25 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Intelligent background data acquisition and subtraction |
JP2017223670A (ja) * | 2016-06-10 | 2017-12-21 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 液体クロマトグラフおよび液体クロマトグラフの検出器出力値変動補正手段 |
JP7012989B2 (ja) | 2016-06-10 | 2022-01-31 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 液体クロマトグラフおよび液体クロマトグラフの検出器出力値変動補正手段 |
WO2018138901A1 (ja) | 2017-01-30 | 2018-08-02 | 株式会社島津製作所 | スペクトルデータ処理装置 |
US11879879B2 (en) | 2017-01-30 | 2024-01-23 | Shimadzu Corporation | Spectrum data processing device |
JPWO2021064924A1 (ja) * | 2019-10-02 | 2021-04-08 | ||
JP7334788B2 (ja) | 2019-10-02 | 2023-08-29 | 株式会社島津製作所 | 波形解析方法及び波形解析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3867426B2 (ja) | 2007-01-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Kaufmann | The current role of high-resolution mass spectrometry in food analysis | |
EP0540720B1 (en) | Time compressed chromatography in mass spectrometry | |
JP4973628B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析データ解析方法及び装置 | |
JP6620894B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析用データ解析装置 | |
US5039409A (en) | Chromatography apparatus | |
JP2005528606A (ja) | クロマトグラフィ/分光測定データの解析でデータビンニングを用いる方法 | |
JP7173293B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析装置 | |
US6573492B2 (en) | Mass spectrometric analysis method and apparatus using the method | |
JP2000206103A (ja) | クロマトグラフ質量分析計 | |
JP5333089B2 (ja) | クロマトグラフ用データ処理装置 | |
JP2005331421A (ja) | 質量分析装置および異性体分析方法 | |
US20070045190A1 (en) | System and method for feature allignment | |
JP2013195099A (ja) | クロマトグラフ質量分析データ処理装置 | |
CN105051526B (zh) | 质量分析装置 | |
JP3683749B2 (ja) | 質量分析方法 | |
JPH08334493A (ja) | 液体クロマトグラフ質量分析装置 | |
JP2004251830A (ja) | 質量分析計データ処理装置およびデータ処理方法 | |
JP2007285719A (ja) | 質量分析データ解析方法 | |
JP2000131284A (ja) | クロマトグラフ質量分析装置 | |
JP2017161442A (ja) | クロマトグラフ質量分析データ処理装置 | |
JP2005221276A (ja) | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 | |
JP2872375B2 (ja) | 質量分析計 | |
JP7056767B2 (ja) | クロマトグラフを用いた物質同定方法 | |
JP2000065797A (ja) | クロマトグラフ質量分析装置の検量線作成方法 | |
Grayson | The mass spectrometer as a detector for gas chromatography |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050406 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050406 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060606 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060627 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060815 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060919 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20061002 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091020 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101020 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111020 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111020 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121020 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121020 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131020 Year of fee payment: 7 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |