JP2013195099A - クロマトグラフ質量分析データ処理装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】目的化合物の標準マススペクトル上のピークと該化合物の保持時間付近の実測マススペクトル上でm/zが同じピークとの強度比を利用して、目的化合物単体によるクロマトグラム形状に近い倍率波形を算出し(S2-S4)、目的化合物の実測マスクロマトグラムと倍率波形との相関性に基づいて定量用のm/zの候補を抽出する(S5-S8)。また、倍率波形中で最大倍率を示す測定時点における実測マススペクトル上で、該最大倍率を示すm/zのピークを基準とした強度比を求め、標準マススペクトル上のピーク強度比に基づく許容範囲内に収まるか否かで定量用/確認用m/z候補を絞り込む(S9-S11)。これにより、夾雑成分の影響のないm/zを求めることができる。
【選択図】図2
Description
a)解析対象である目的化合物の標準マススペクトル上のピークの強度と、前記目的化合物の保持時間付近の各測定時点における実測マススペクトル上で同じ質量電荷比を持つピークの強度と、の強度比を利用して、夾雑成分の重なりの影響を除去した前記目的化合物によるクロマトグラムピークの形状を推定するクロマトグラムピーク形状推定手段と、
b)前記クロマトグラムピーク形状推定手段により得られたクロマトグラムピークと、各質量電荷比について得られる前記目的化合物の実測マスクロマトグラム上のピークと、の形状の相関性を判定するクロマトグラムピーク相関性判定手段と、
c)前記目的化合物の標準マススペクトル上の複数のピークの強度比と該目的化合物の特定の測定時点における実測マススペクトル上の同じ質量電荷比を持つ複数のピークの強度比とに基づいて、該目的化合物にのみ由来するマススペクトルピークを判定するマススペクトルピーク純度判定手段と、
d)前記クロマトグラムピーク相関性判定手段の判定結果と前記マススペクトルピーク純度判定手段の判定結果とを用いて、前記目的化合物を定量するために利用される定量用質量電荷比及び/又は確認用質量電荷比としての質量電荷比を導出する質量電荷比導出手段と、
を備えることを特徴としている。
なお、上記クロマトグラムピーク形状推定手段による目的化合物のクロマトグラムピーク推定方法は、上述した時系列最小点プロット法に相当する。
10…試料気化室
11…インジェクタ
12…カラム
13…カラムオーブン
2…質量分析部(MS部)
20…イオン源
21…四重極マスフィルタ
22…イオン検出器
3…A/D変換器
4…データ処理部
41…データ収集部
42…定量用質量選定部
43…定量演算部
5…測定データ記憶部
6…化合物データベース(DB)
7…入力部
8…表示部
Claims (4)
- 試料中の各成分をクロマトグラフにより時間方向に分離した後に所定の質量電荷比範囲に亘る質量分析を繰り返し実行して得られた、質量電荷比、時間、及び信号強度をディメンジョンとするデータを解析処理するクロマトグラフ質量分析データ処理装置であって、
a)解析対象である目的化合物の標準マススペクトル上のピークの強度と、前記目的化合物の保持時間付近の各測定時点における実測マススペクトル上で同じ質量電荷比を持つピークの強度と、の強度比を利用して、夾雑成分の重なりの影響を除去した前記目的化合物によるクロマトグラムピークの形状を推定するクロマトグラムピーク形状推定手段と、
b)前記クロマトグラムピーク形状推定手段により得られたクロマトグラムピークと、各質量電荷比について得られる前記目的化合物の実測マスクロマトグラム上のピークと、の形状の相関性を判定するクロマトグラムピーク相関性判定手段と、
c)前記目的化合物の標準マススペクトル上の複数のピークの強度比と該目的化合物の特定の測定時点における実測マススペクトル上の同じ質量電荷比を持つ複数のピークの強度比とに基づいて、該目的化合物にのみ由来するマススペクトルピークを判定するマススペクトルピーク純度判定手段と、
d)前記クロマトグラムピーク相関性判定手段の判定結果と前記マススペクトルピーク純度判定手段の判定結果とを用いて、前記目的化合物を定量するために利用される定量用質量電荷比及び/又は確認用質量電荷比としての質量電荷比を導出する質量電荷比導出手段と、
を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析データ処理装置。 - 請求項1に記載のクロマトグラフ質量分析データ処理装置であって、
前記クロマトグラムピーク形状推定手段は、前記目的化合物の標準マススペクトル上の全て又は一部の複数のピークの質量電荷比毎に、或る測定時点における実測マススペクトル上の同一質量電荷比を持つピークとの強度比Ps/Pr(但し、Ps:実測マススペクトル上のピーク強度、Pr:標準マススペクトル上のピーク強度)を求め、複数の強度比Ps/Prの中で最小のものを該測定時点における倍率として定め、各測定時点で求めた倍率を時系列順に並べることで前記目的化合物のクロマトグラムピークの形状を推定することを特徴とするクロマトグラフ質量分析データ処理装置。 - 請求項1に記載のクロマトグラフ質量分析データ処理装置であって、
前記クロマトグラムピーク形状推定手段は、前記目的化合物の標準マススペクトル上の全て又は一部の複数のピークの強度をそれぞれ定数倍して或る測定時点における実測マススペクトル上の同一質量電荷比を持つピークの強度と対比したときに、前者が後者を超えないように定数倍の倍率を定め、各測定時点で求めた倍率を時系列順に並べることで前記目的化合物のクロマトグラムピークの形状を推定することを特徴とするクロマトグラフ質量分析データ処理装置。 - 請求項1〜3のいずれかに記載のクロマトグラフ質量分析データ処理装置であって、
前記マススペクトルピーク純度判定手段は、前記クロマトグラムピーク形状推定手段により得られたクロマトグラムピークのピークトップを与える基準測定時点及び基準質量電荷比を求め、前記目的化合物の標準マススペクトル上の基準質量電荷比に対するピーク強度と任意の質量電荷比におけるピーク強度との比を基準として、前記基準測定時点における実測マススペクトル上の基準質量電荷比に対するピーク強度と前記任意の質量電荷比におけるピーク強度との比が、前記基準に対して所定範囲に収まるか否かを判定することにより、該任意の質量電荷比に対するピークが前記目的化合物にのみ由来するマススペクトルピークであるか否かを判断することを特徴とするクロマトグラフ質量分析データ処理装置。
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