JPWO2018087824A1 - クロマトグラフ質量分析用データ解析装置 - Google Patents

Abstract

多変量解析演算部（４３）は、PDA検出器（２）で取得されたデータの中の特定の波長rλ1におけるクロマトグラムデータと、質量分析計（３）で繰り返し取得されたマススペクトルデータとをそれぞれ行列化する。そして、マススペクトルデータに基づく２次元行列を説明変数、クロマトグラムデータに基づく１次元行列を被説明変数としてPLSの演算を実行して回帰係数行列を算出する。回帰係数はm/z値毎に得られ、回帰係数が大きいm/z値は、特定波長におけるクロマトグラム波形と抽出イオンクロマトグラム（XIC）が類似するm/z値を示している。そこで、m/z値抽出部（４４）は回帰係数を閾値と比較して有意なm/z値を抽出し、XIC作成部（４６）は抽出されたm/z値におけるXICを作成する。操作者が着目する部分化学構造が特異的に吸収する波長λ1を指定しておくことで、操作者の手作業による波形処理を行うことなく、その部分化学構造を含む分子種に対応するXICを得ることができる。

Description

本発明は、液体クロマトグラフ（ＬＣ）やガスクロマトグラフ（ＧＣ）等のクロマトグラフと質量分析装置とを組み合わせたクロマトグラフ質量分析装置で得られたデータを解析するデータ解析装置に関し、さらに詳しくは、クロマトグラフからの試料中の成分を検出する質量分析装置とは異なる検出器を併設したクロマトグラフ質量分析装置のためのデータ解析装置に関する。

液体クロマトグラフ質量分析装置（ＬＣ−ＭＳ）は液体クロマトグラフの検出器として質量分析装置を用いたものであるが、これにさらに、紫外可視分光検出器（ＵＶ検出器）やフォトダイオードアレイ検出器（ＰＤＡ検出器）などの別の検出器を併用する場合がある（特許文献１、２等参照）。ガスクロマトグラフの検出器として質量分析装置を用いたガスクロマトグラフ質量分析装置（ＧＣ−ＭＳ）においても同様に、光イオン化検出器（ＰＩＤ）、水素炎イオン化検出器（ＦＩＤ）などの別の検出器を質量分析装置と併用する場合がある。以下、本明細書では必要に応じて、ＬＣ−ＭＳやＧＣ−ＭＳにおいて、主検出器である質量分析装置と併用される検出器をその方式に依らず副検出器ということとする。また、以下の説明では、副検出器を備えたＬＣ−ＭＳやＧＣ−ＭＳを単にＬＣ−ＭＳやＧＣ−ＭＳという。

例えばＵＶ検出器やＰＤＡ検出器では波長毎に試料中の成分の吸光度の時間的変化を測定することができる。分子中の特定の化学構造は或る波長を特異的に吸収する場合がある。こうした場合、特定の波長における吸光度の時間的な変化をＵＶ検出器やＰＤＡ検出器で測定し、その変化を示すクロマトグラムを作成すると、該クロマトグラムには上記特定の化学構造を有する分子種由来のピークが現れる。そこで、上記ＬＣ−ＭＳを利用して、こうしたクロマトグラムに現れるピークを手掛かりとし、特定の化学構造を有する等の着目する分子種に関連する質量情報をマススペクトルから抽出する解析が従来から行われている。

一般に、こうした解析を行う際には、まず、ＵＶ検出器等の副検出器による検出信号に基づいて作成されたクロマトグラムにおいてピークを検出する。そして、収集したマススペクトルデータの中で、上記検出したピークに対応する時間範囲に含まれるマススペクトルデータを時間方向に積算する又は平均化することで積算マススペクトルを求める。こうして求めた積算マススペクトルにおいて特徴的な質量電荷比を探索し、保持時間やそうした質量電荷比情報を参照して、試料に含まれる特定の化学構造を有する分子種を同定する。

特開２００２−１８１７８４号公報 特開２０１４−２１９３１７号公報

上述したようにクロマトグラムにおいてピークを検出するには様々なアルゴリズムがあるが、基本的に、ピーク検出に必要な各種のパラメータは操作者（ユーザー）が手動で設定する必要がある。ピークを適切に検出できるパラメータを決める作業はかなり面倒であるし、そうした作業には操作者の技量や経験も要求される。一方で、最近のデータ解析作業においては、そうした作業に関する知識や経験のない操作者であっても適切な解析が自動的に行えることが強く求められている。

本発明はこうした課題に鑑みて成されたものであり、その目的とするところは、副検出器で得られる情報を利用して特定の化学構造を有する等の特徴的な分子種に関連する質量情報を確実に且つ効率良く抽出することができるクロマトグラフ質量分析用データ解析装置を提供することである。

上記課題を解決するために成された本発明は、試料中の成分を時間的に分離するクロマトグラフと、該クロマトグラフで分離された成分を検出する質量分析装置である主検出器と、前記クロマトグラフで分離された成分を検出する質量分析装置とは異なる副検出器と、を具備するクロマトグラフ質量分析装置で収集されたデータを解析するクロマトグラフ質量分析用データ解析装置であって、
a)前記主検出器において繰り返し得られたマススペクトルデータと前記副検出器で得られたクロマトグラムデータとに対して、該クロマトグラムデータにおける信号強度値の時間的変化と前記マスクロマトグラムデータにおける質量電荷比毎の信号強度値の時間的変化との相関性を調べる演算を行う演算処理部と、
b)前記演算処理部での演算により質量電荷比値毎に得られる相関性に関連する指標値に基づいて、相関性が相対的に高い質量電荷比値を抽出する質量電荷比値抽出部と、
を備えることを特徴としている。

本発明に係るクロマトグラフ質量分析用データ解析装置において、クロマトグラフは典型的には液体クロマトグラフ又はガスクロマトグラフである。クロマトグラフが液体クロマトグラフである場合、副検出器は典型的には、フォトダイオードアレイ検出器や紫外可視分光検出器等の、液体クロマトグラフのカラムからの溶出液中に含まれる成分を順次そのまま検出する、つまりは溶出液に含まれる成分の性質や特性に応じた信号の時間的変化を測定する検出器であるが、質量分析装置と同様に、液体試料を微細化して又は気化させて検出する検出器でもよい。
また、クロマトグラフがガスクロマトグラフである場合、副検出器としては、光イオン化検出器、水素炎イオン化検出器、或いは、誘電体バリア放電イオン化検出器などを用いるとよい。

本発明に係るクロマトグラフ質量分析用データ解析装置において、演算処理部は、主検出器である質量分析装置で繰り返し得られた質量電荷比、時間、信号強度という三つの次元を有するマススペクトルデータと、副検出器で得られた時間、信号強度という二つの次元を有するクロマトグラムデータとに対し、所定の統計的解析処理を実施する。より詳しくは、マススペクトルデータとクロマトグラムデータとの間で同じ測定時刻に得られたデータ同士の統計的解析処理を行い、信号強度値の時間的変化の類似性又は相違性を示す指標値を算出する。こうした目的のために利用できる最も単純な統計的解析処理は、クロマトグラムデータにおける信号強度値の時間的変化とマスクロマトグラムデータにおける質量電荷比毎の信号強度値の時間的変化との相関係数を算出する相関分析法である。

また、実質的に相関性を求める手法である多変量解析手法、例えば部分的最小二乗法（ＰＬＳ＝Partial Least Squares）や判別分析などを用いてもよい。即ち、本発明に係るクロマトグラフ質量分析用データ解析装置の一実施態様として、前記演算処理部は部分的最小二乗法による演算を行い、前記指標値として回帰係数を求める構成とすることができる。

上記演算処理部での統計的解析処理によって、質量電荷比値毎に相関性に関連する指標値が得られる。そこで、質量電荷比値抽出部は例えば、その指標値を予め設定された閾値と比較することにより、相関性が相対的に高い質量電荷比値を抽出する。例えば副検出器が特定の化学構造を特異的に検出するものである場合、該副検出器から得られるクロマトグラムデータに基づいてクロマトグラムを作成すると、その化学構造を有する成分（分子）が副検出器に到達する時間付近にピークを有する波形となる。したがって、このクロマトグラムとの相関が高い波形形状が得られる質量電荷比は、上記化学構造を有する成分である可能性が高い。そこで、操作者は質量電荷比値抽出部で抽出された質量電荷比に絞って抽出イオンクロマトグラムの波形を確認したり同じ保持時間に検出される複数の質量電荷比情報を集めたりすることで、上記化学構造を有する成分の同定等を効率良く行うことができる。

また本発明に係るクロマトグラフ質量分析用データ解析装置では、
前記マススペクトルデータに基づいて前記質量電荷比値抽出部により抽出された質量電荷比における抽出イオンクロマトグラムを作成する抽出イオンクロマトグラム作成部と、
前記抽出イオンクロマトグラムと前記クロマトグラムデータに基づくクロマトグラムとを表示部の画面上に表示する表示処理部と、
をさらに備える構成とすることができる。

この構成によれば、操作者が着目する又は確認すべき抽出イオンクロマトグラムが自動的に作成され、副検出器による検出信号に基づくクロマトグラムとともに表示されるので、上記のような特定の成分についての解析作業における操作者の負担が一層軽減される。

また本発明に係るクロマトグラフ質量分析用データ解析装置では、
質量電荷比値毎に得られる前記指標値と質量電荷比との関係を示す指標値スペクトルを作成する指標値スペクトル作成部と、
前記指標値スペクトルを表示部の画面上に表示する表示処理部と、
をさらに備える構成とすることもできる。

この構成によれば、操作者は表示された指標値スペクトルにより、全ての質量電荷比に対応する指標値を一目で確認することができる。それにより、操作者は相関性が相対的に高い質量電荷比値を自ら判断して抽出することができる。また、上述したように質量電荷比値抽出部により自動的に相関性が相対的に高い質量電荷比値を抽出する場合においては、指標値が閾値に達せずに自動的に抽出されなかったものの、該閾値に近い指標値を示す質量電荷比値を操作者が見つけることができる。

本発明に係るクロマトグラフ質量分析用データ解析装置によれば、紫外可視分光検出器やフォトダイオードアレイ検出器などの質量分析装置とは異なる方式である副検出器で得られる情報を利用して、特定の化学構造を有する等の特徴的な分子種に関連する質量情報を的確に抽出することができる。また、そうした解析に際して操作者による面倒な作業が軽減されるので、解析を効率的に進めることができるとともに、操作者の技量や経験に依存しない信頼性、再現性の高い解析が可能となる。

本発明に係るデータ解析装置を用いたＬＣ−ＭＳシステムの一実施例の概略構成図。 本実施例のＬＣ−ＭＳシステムにおけるデータ解析処理の手順を示すフローチャート。 本実施例のＬＣ−ＭＳシステムにおけるデータ解析処理の説明図。

以下、本発明に係るデータ解析装置を用いたＬＣ−ＭＳシステムの一実施例について、添付図面を参照して説明する。
図１は本実施例のＬＣ−ＭＳシステムの概略構成図である。

本実施例のＬＣ−ＭＳシステムは、液体クロマトグラフ（ＬＣ）部１と、ＰＤＡ検出器２と、質量分析計３と、データ処理部４と、制御部５と、入力部６と、表示部７と、を含む。
ＬＣ部１は、移動相が貯留される移動相容器１１と、移動相容器１１から移動相を吸引して略一定流速で送給する送液ポンプ１２と、移動相中に所定量の試料を注入するインジェクタ１３と、試料中の成分を時間的に分離するカラム１４と、を含む。カラム１４出口から溶出した溶出液はＰＤＡ検出器２の試料セル（図示せず）を経て質量分析計３に導入される。ＰＤＡ検出器２で得られた検出信号及び質量分析計３で得られた検出信号はそれぞれ、図示しないアナログデジタル変換器（ＡＤＣ）でデジタルデータに変換されてデータ処理部４に入力される。なお、一般に、ＰＤＡ検出器２の試料セルを通過した溶出液の全量を質量分析計３で測定することは難しいため、試料セルを通過した溶出液の一部をスプリッタ等により分岐して質量分析計３に導入する構成が採られる。

データ処理部４は、後述する特徴的な処理を実施するために、クロマトグラムデータ格納部４１、マススペクトルデータ格納部４２、多変量解析演算部４３、m/z値抽出部４４、係数スペクトル作成部４５、ＸＩＣ作成部４６、解析結果表示処理部４７、などの機能ブロックを備える。
なお、一般に、データ処理部４及び制御部５の実体はパーソナルコンピュータである。そして、このコンピュータにインストールされた専用の制御・処理ソフトウェアを該コンピュータ上で実行することにより、上記各機能ブロックの機能が実現されるものとすることができる。

本実施例のＬＣ−ＭＳシステムでは、以下のようにして測定が実施されてデータが収集される。
制御部５の制御の下で、送液ポンプ１２は一定流速で以て移動相をカラム１４に送給する。所定のタイミングでインジェクタ１３から多数の成分を含む試料が移動相中に注入されると、該試料は移動相の流れに乗ってカラム１４に導入され、カラム１４を通過する間に試料中の成分は時間的に分離される。カラム１４の出口から溶出する溶出液には、カラム１４中で分離された成分が含まれる。ＰＤＡ検出器２は、図示しないものの、試料セルのほか、光源、分光器、ＰＤＡ検出素子などを含む。そして、光源から発した光を試料セル中を通過する溶出液に照射し、溶出液を透過した透過光を分光器で波長分散してＰＤＡ検出素子で波長毎の光強度を略一斉に検出する。これにより、所定の波長範囲に亘る吸光特性を反映した検出信号が一度に得られる。この検出信号が所定時間間隔でサンプリング及びデジタル化されデータ処理部４に送られ、クロマトグラムデータ格納部４１に格納される。

ＰＤＡ検出器２の試料セルを通過した溶出液は質量分析計３に導入される。質量分析計３では所定の質量電荷比範囲に亘るスキャン測定が繰り返し行われ、１回のスキャン測定毎に上記質量電荷比範囲に亘るマススペクトルデータが得られる。このマススペクトルデータはデータ処理部４に送られ、マススペクトルデータ格納部４２に格納される。

本実施例のＬＣ−ＭＳシステムにおいて、特定の化学構造を含む化合物を網羅的に解析する場合の特徴的なデータ解析処理について、図２、図３を参照して説明する。図２はこのデータ解析処理の手順を示すフローチャート、図３はデータ解析処理の概略的な説明図である。

上述したように、特定の部分化学構造を含む化合物は、その部分化学構造に特異的な特定の波長λ1で高い吸光度を示す場合がある。そこで操作者は、着目する部分化学構造を有する化合物に対応する特定の波長λ1の情報を入力部６から指定する（ステップＳ１）。もちろん、波長λ1の値を入力する代わりに、予め用意された部分化学構造のリストの中から操作者が適宜のものを選択すると、その選択操作を受けて、対応する波長λ1が自動的に設定されるようにしてもよい。

多変量解析演算部４３はクロマトグラムデータ格納部４１から、ステップＳ１で指定された又は自動的に設定された波長λ1における信号強度の時間変化を示すクロマトグラムデータを選択的に読み出す（ステップＳ２）。なお、測定開始時点から測定終了時点までの全ての測定時間範囲におけるクロマトグラムデータを読み出すのではなく、予め（例えばステップＳ１と同時に）操作者が指定した測定時間範囲のみにおけるクロマトグラムデータを読み出すようにしてもよい。なお、以下の説明では、ここで読み出されたクロマトグラムデータを基準クロマトグラムデータ、該データに基づいて作成される又は形成されるクロマトグラムを基準クロマトグラムという。

また多変量解析演算部４３はマススペクトルデータ格納部４２から、ステップＳ２で読み出したクロマトグラムデータに対応する測定時間範囲におけるマススペクトルデータを読み出す（ステップＳ３）。通常、或る成分を含む溶出液がＰＤＡ検出器２において試料セルを通過する時点つまりはＰＤＡ検出器２での検出時点から、質量分析計３に導入されて検出される時点までには時間遅れｔdがある。そこで、両データにおける保持時間の比較が行えるように時間遅れｔdを補正するとよい。

時間遅れｔdは溶出液の流路の容積のほか、移動相の流速などのパラメータに依存する。これらパラメータは測定の実行時に確定しているから、時間遅れｔdはそれらパラメータに基づいて計算可能である。そこで、そうして時間遅れｔdを計算したあと、その時間遅れｔdの分だけ基準クロマトグラムデータの時間軸を全体的に遅らせる、或いは、繰り返し得られるマススペクトルデータの時間軸を全体的に進めるように調整することで、時間遅れｔdがゼロになるように両データの時間軸を合わせることができる。

なお、データ処理に際して時間遅れｔdを補正するのではなく、データを取得する段階で、つまりはデータ格納部４１、４２にそれぞれデータを格納する段階で時間遅れｔdを補正するようにしてもよい。そうした補正が行われている場合には、上述したようなデータ読み出し時における時間遅れｔdの補正は不要である。

続いて多変量解析演算部４３は、多変量解析の一手法であるＰＬＳを用い、基準クロマトグラムデータにおける信号強度値の時間的変化と、繰り返し得られたマススペクトルデータの中の各質量電荷比における信号強度値の時間的変化、つまりは抽出イオンクロマトグラムにおける信号強度値の時間的変化との相関性を調べる。

具体的には、多変量解析演算部４３はまず、基準クロマトグラムデータにおける各測定時刻毎の信号強度値データと、マススペクトルデータにおける質量電荷比毎の信号強度値データとをそれぞれ行列の形式で表す。図３に示すように、基準クロマトグラムデータにおける信号強度値は測定時刻毎の信号強度値ｙ₁、ｙ₂、…、ｙ_nを並べた１次元の行列Ｙであり、マススペクトルデータにおける信号強度値は測定時刻毎及び質量電荷比値毎の信号強度値ｘ₁₁、ｘ₁₂、…、ｘ_1m、ｘ₂₁、ｘ₂₂、…、ｘ_2m、…、ｘ_n1、ｘ_n2、…、ｘ_nmを２次元的に並べた２次元行列Ｘで表すことができる。

そのあと多変量解析演算部４３は、マススペクトルデータにおける信号強度値の２次元行列Ｘを説明変数（入力変数）、基準クロマトグラムデータにおける信号強度値の１次元行列Ｙを被説明変数（出力変数）とし、周知であるＰＬＳの演算を実行して回帰係数行列を算出する（ステップＳ４）。この回帰係数行列の要素数はｍであり、これは質量電荷比値の回帰係数が並べられた行列である。この回帰係数は、基準クロマトグラムデータに基づく信号強度値データを教師データとした、基準クロマトグラムデータとマススペクトルデータとの質量電荷比毎の相関の高さを示している。したがって、回帰係数が大きい質量電荷比値は、マススペクトルにおける信号強度の時間的変化が基準クロマトグラムデータに基づく信号強度の時間的変化に近い質量電荷比である。

なお、相関性を示す指標値を算出する多変量解析であれば、ＰＬＳ以外の多変量解析、例えば最小二乗回帰（ＯＬＳ）、主成分分析（ＰＣＡ）、主成分回帰（ＰＣＲ）などを用いてもよい。また、より単純な相関分析法を用いて相関係数を求めるようにしてもよい。

m/z値抽出部４４は、上述したように質量電荷比毎に求まった回帰係数を所定の閾値と比較し、回帰係数が閾値以上である質量電荷比を抽出する（ステップＳ５）。このときの判定基準である閾値は装置内部で定められているデフォルト値でもよいが、操作者が任意に設定できるようにすることが好ましい。また、必要に応じて係数スペクトル作成部４５は、回帰係数行列に基づいて、横軸を質量電荷比、縦軸を回帰係数値とした係数スペクトルを作成する。もちろん、m/z値抽出部４４は、係数スペクトル作成部４５により作成された係数スペクトル上で回帰係数が閾値以上である質量電荷比を抽出してもよい。

ＸＩＣ作成部４６はステップＳ５で抽出された質量電荷比における抽出イオンクロマトグラム（ＸＩＣ）を作成する（ステップＳ６）。そして、解析結果表示処理部４７は解析結果として、ステップＳ２において取得された基準クロマトグラムデータに基づいて作成される基準クロマトグラムとステップＳ６において作成された抽出イオンクロマトグラムとを共に表示部７の画面上に表示する（ステップＳ７）。このとき、例えば時間軸を合わせ各クロマトグラムの表示色を異なるものとして重ねて表示するとよい。また、必要に応じて、回帰係数スペクトルも表示部７の画面上に表示するとよい。

ステップＳ２において取得された基準クロマトグラムデータに基づいて作成される基準クロマトグラムには、操作者が着目する部分化学構造を有する化合物に対応するピークが現れる筈である。したがって、ステップＳ６で作成された抽出イオンクロマトグラムにも同じ部分化学構造を有する化合物に対応するピークが現れる可能性がある。上述したように、そうした抽出イオンクロマトグラムと基準クロマトグラムとを例えば異なる表示色で以て重ねて表示することで、操作者は両方のクロマトグラムにおいて同じ保持時間に現れるピークを容易に見つけることができ、該ピークの保持時間等に基づいて化合物を特定する等の解析作業を行うことができる。

上記実施例では、保持時間（測定時間範囲）や質量電荷比を指定することなく回帰係数を計算していたが、その場合、図３に示した行列Ｘ、Ｙにおける行数、列数は非常に多くなり、ＰＬＳ演算の計算量も膨大となる。その結果、計算結果が得られるまでに時間がかかったり高性能なコンピュータが必要になったりするおそれがある。そこで、ステップＳ４の実行前に、ユーザーが回帰係数を計算する対象の保持時間範囲や質量電荷比値又は質量電荷比範囲を指定し、多変量解析演算部４３はその指定された保持時間範囲、及び／又は質量電荷比値若しくは質量電荷比範囲に含まれるデータに限定したＰＬＳ演算を行って回帰係数を算出するようにしてもよい。これにより、ＰＬＳ演算等の計算量を削減することができる。また、ユーザーが興味のある保持時間や質量電荷比に対する結果のみを取得できるため、興味のない結果を確認する必要がなくなり、解析の効率を向上させることができる。

また、全ての保持時間範囲や質量電荷比範囲についてのＰＬＳ演算を一度に行うのではなく、保持時間範囲や質量電荷比範囲をそれぞれ複数の範囲に区切り、その区切られた保持時間範囲毎及び／又は質量電荷比範囲毎にＰＬＳ演算を実行して回帰係数を求めるようにしてもよい。この場合、区切られた範囲に対する回帰係数が求まる度にその結果を表示すれば、ユーザーが興味のある結果を確認した時点で、それ以降の演算処理を途中で打ち切るようにすることができる。なお、保持時間範囲や質量電荷比範囲を区切る際の区切り（保持時間幅等）はユーザーにより指定されるようにしてもよいし、自動的に決まるようにしてもよい。

上記実施例のＬＣ−ＭＳシステムでは副検出器としてＰＤＡ検出器を用いていたが、これはＵＶ検出器でもよい。ただし、一般に、ＵＶ検出器の場合、ＰＤＡ検出器とは異なり分光器で機械的な波長走査を行うため、或る波長範囲に亘る吸光スペクトルを測定すると時間が掛かる。そこで、測定を行う前に、つまりデータ取得前に操作者が着目する波長を一又は複数入力し、その入力された一又は複数の波長のみにおける吸光度を示すデータを取得するようにする、つまりは所定波長範囲全体の吸光度スペクトルを測定するのではなく特定の波長のみの吸光度を測定するとよい。また、副検出器として、ＰＤＡ検出器、ＵＶ検出器以外の検出器、例えば蛍光検出器などを用いてもよいし、さらには核磁気共鳴装置（ＮＭＲ）を副検出器として用いてもよい。

また本発明に係るデータ解析装置はＧＣ−ＭＳシステムにも適用することができる。その場合、副検出器としては、光イオン化検出器、水素炎イオン化検出器、或いは、誘電体バリア放電イオン化検出器など、特徴的な化学構造や物質を有する化合物を検出可能な検出器を用いるとよい。
また、本発明に係るデータ解析装置による解析に用いられる基準クロマトグラムは、一般的なＧＣやＬＣでなく、ＧＣ×ＧＣ（包括的２次元ＧＣ）やＬＣ×ＬＣ（包括的２次元ＬＣ）等の包括的２次元クロマトグラフ、或いは超臨界流体クロマトグラフ等により取得されたものでもよい。

また、質量分析計３で得られるマススペクトルは、一般的なマススペクトル（ＭＳ¹スペクトル）に限らず、ＭＳⁿスペクトル（又はＭＳ／ＭＳスペクトル）、電子イオン化（ＥＩ）法によるイオン源を備えた質量分析計で得られるようなＩＳＤ（In Source Decay）スペクトル、米国ウォーターズ（Waters）社によるＭＳ^Eスペクトルなどでもよい。

さらにまた、上記実施例は本発明の一例にすぎず、上記記載した以外の点において、本発明の趣旨の範囲で適宜変形、修正、追加などを行っても本願特許請求の範囲に包含されることは明らかである。

１…液体クロマトグラフ（ＬＣ）部
１１…移動相容器
１２…送液ポンプ
１３…インジェクタ
１４…カラム
２…ＰＤＡ検出器
３…質量分析計
４…データ処理部
４１…クロマトグラムデータ格納部
４２…マススペクトルデータ格納部
４３…多変量解析演算部
４４…m/z値抽出部
４５…係数スペクトル作成部
４６…ＸＩＣ作成部
４７…解析結果表示処理部
５…制御部
６…入力部
７…表示部

Claims (5)

1. 試料中の成分を時間的に分離するクロマトグラフと、該クロマトグラフで分離された成分を含む試料中の成分を検出する質量分析装置である主検出器と、前記クロマトグラフで分離された成分を含む試料中の成分を検出する質量分析装置とは異なる副検出器と、を具備するクロマトグラフ質量分析装置で収集されたデータを解析するクロマトグラフ質量分析用データ解析装置であって、
   a)前記主検出器で繰り返し得られたマススペクトルデータと前記副検出器で得られたクロマトグラムデータとに対して、該クロマトグラムデータにおける信号強度値の時間的変化と前記マススペクトルデータにおける質量電荷比毎の信号強度値の時間的変化との相関性を調べる演算を行う演算処理部と、
   b)前記演算処理部での演算により質量電荷比値毎に得られる相関性に関連する指標値に基づいて、相関性が相対的に高い質量電荷比値を抽出する質量電荷比値抽出部と、
   を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析用データ解析装置。
2. 請求項１に記載のクロマトグラフ質量分析用データ解析装置であって、
   前記演算処理部は部分的最小二乗法による演算を行い、前記指標値として回帰係数を求めることを特徴とするクロマトグラフ質量分析用データ解析装置。
3. 請求項１に記載のクロマトグラフ質量分析用データ解析装置であって、
   前記クロマトグラフは液体クロマトグラフであり、前記副検出器はフォトダイオードアレイ検出器又は紫外可視分光検出器であることを特徴とするクロマトグラフ質量分析用データ解析装置。
4. 請求項１に記載のクロマトグラフ質量分析用データ解析装置であって、
   前記マススペクトルデータに基づいて前記質量電荷比値抽出部により抽出された質量電荷比における抽出イオンクロマトグラムを作成する抽出イオンクロマトグラム作成部と、
   前記抽出イオンクロマトグラムと前記クロマトグラムデータに基づくクロマトグラムとを表示部の画面上に表示する表示処理部と、
   をさらに備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析用データ解析装置。
5. 請求項１に記載のクロマトグラフ質量分析用データ解析装置であって、
   質量電荷比値毎に得られる前記指標値と質量電荷比との関係を示す指標値スペクトルを作成する指標値スペクトル作成部と、
   前記指標値スペクトルを表示部の画面上に表示する表示処理部と、
   をさらに備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析用データ解析装置。

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