CN106461607A - 质谱分析用数据处理装置以及该装置用程序 - Google Patents

质谱分析用数据处理装置以及该装置用程序 Download PDF

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Abstract

在用于使用确认离子确认目标离子是否源自目标化合物的条件设定用的确认条件设定画面(6)中,作为确认离子模式,除了“绝对容许”和“相对容许”以外,还设置“绝对容许或相对容许”模式的选择项。在设定了“绝对容许或相对容许”模式的情况下,按与一个目标离子对应的每个确认离子,根据确认离子比标准值和绝对容许幅度来计算鉴定范围Pa,根据确认离子比标准值和相对容许幅度来计算鉴定范围Pr,选择两个鉴定范围中的较大的一方。另外,在将鉴定范围的上限值限制为100%的设定有效的情况下,将鉴定范围的上限值限制为100%,如果鉴定范围的下限值超过100%,则进行“超出上限”的警告显示。由此,能够以简便的操作高效地进行依据各种规格的分析。

Description

质谱分析用数据处理装置以及该装置用程序
技术领域
本发明涉及一种用于对由质谱分析装置收集到的数据进行处理的数据处理装置以及该装置用的计算机程序,更为详细地说,涉及一种用于利用质谱分析来进行试样中的化合物的定量的数据处理装置以及该装置用程序。
背景技术
在将气相色谱仪(GC)或液相色谱仪(LC)与质谱分析装置组合而成的色谱质谱联用仪中,使被检试样中含有的各种成分通过柱而在时间上进行分离,利用四极滤质器等使从分离出的各成分生成的离子根据质荷比m/z进行分离并利用检测器进行检测。
在使用这种色谱质谱联用仪对试样中含有的已知化合物进行定量的情况下,一般将对该化合物赋予特征的离子确定为目标离子,利用质谱分析装置对该目标离子进行选择性离子监视(SIM)测定或多重反应监视(MRM)测定。然后,基于通过该实测得到的数据来制作与目标离子对应的提取离子色谱图(质谱图),并根据在该色谱图中在目标化合物的保持时间附近出现的色谱图峰的面积值或峰高度等来计算目标化合物的浓度。目标离子有时也被称为定量离子,通常选择在该化合物的典型质谱中表示最大信号强度的峰所对应的离子。
目标离子虽然是对化合物赋予特征的离子,但在实际的试样中也会混入各种各样的夹杂物,或者还会由于前级的色谱仪中的分离条件不恰当而导致成分分离不充分且多种化合物发生重叠。在这种情况下,即使仅观察具有特定的质荷比MT的目标离子的色谱图峰,也难以确认该峰是否的确源自目标化合物。因此,在使用了色谱质谱分析的定量分析中,一般来说,除了选定目标离子以外,还选定对该化合物赋予特征的具有其它质荷比Mc的离子来作为确认离子,利用实测的质谱上的该确认离子的峰的信号强度与目标离子的峰的信号强度的强度比(以下称为“确认离子比”)来确认该目标离子是否真正源自目标化合物、即鉴定目标离子(参照专利文献1、非专利文献1)。另外,在有可能含有构造相似的多种化合物等情况下,仅使用一种确认离子有时不足以准确地鉴定某种化合物的目标离子,也经常针对一种化合物使用多种确认离子。
在同时分析多种成分的情况下,存在在一次色谱质谱分析中对几十种、根据情况甚至达几百种的庞大数量的化合物进行定量的情况,但对于这样的多种化合物,测定者难以通过视觉观察来判断确认离子比是否恰当。因此,在以往的色谱质谱联用仪中自动进行以下处理:预先确定具有按每个确认离子比预先设定的容许幅度的鉴定范围,如果实测的确认离子比处于该鉴定范围内,则鉴定为该目标离子是源自目标化合物的离子(参照专利文献2等)。
图8是表示用于在以往的色谱质谱联用仪中进行这种自动处理的确认离子的参数设定画面的图,图9是表示每个目标离子的确认离子的详细设定画面的图。
作为使用确认离子来鉴定目标离子的方法,存在“绝对容许”和“相对容许”这两种模式。绝对容许是指如字面那样利用确认离子比的绝对值来规定鉴定为目标离子源自目标化合物的鉴定范围的模式,当将确认离子比设为Ri[%]并将容许幅度设为Rw[%]时,将鉴定范围Pa定义为
Pa=Ri±Rw[%]…(1)
另一方面,相对容许是指利用确认离子比的相对比率来规定鉴定范围的模式,当将确认离子比设为Ri[%]并将容许幅度设为Rw[%]时,将鉴定范围Pr定义为
Pr=Ri±(Ri×Rw)/100[%]…(2)
在图8示出的确认离子参数设定画面中,能够通过下拉菜单选择“绝对容许”或“相对容许”中的某一方来作为确认离子模式,当给出某个确认离子的确认离子比、容许幅度时,通过上述式(1)或式(2)来设定鉴定范围。具体地说,图9是表示将通过MRM测定得到的前体离子m/z:147.00、产物离子m/z:46.0(m/z:147.00>46.0)设为目标离子的五种确认离子的鉴定范围的确认离子的详细设定画面。在该例子中,确认离子模式是绝对容许,默认的容许幅度是±30[%],例如对于确认离子比是60.00且前体离子m/z:130.00、产物离子m/z:90.0的确认离子,确定了60-30=30为下限且60+30=90为上限的鉴定范围。由此,关于该确认离子,如果基于实测结果的确认离子比落入该鉴定范围,则鉴定为m/z:147.00>46.0的目标离子源自目标化合物。
然而,在上述以往的色谱质谱联用仪中存在如下问题。
即,测定者虽然能够任意选择绝对容许或相对容许中的任一方来作为确认离子模式,但根据测定的目的和用途的不同,有时需要将绝对容许与相对容许相组合。
例如,在非专利文献2中公开的关于AORC(公认赛马化学家协会)的药物检查的规定中,分别设定绝对容许时的确认离子比和相对容许时的确认离子比,利用分别设定的该确认离子比来分别求出鉴定范围,确定采用绝对容许幅度和相对容许幅度中的较大的一方来作为用于目标离子鉴定的鉴定范围。另外,在上述AORC的规定中,将鉴定范围的上限定为100%(也就是说,规定为在确认离子的信号强度超过目标离子的信号强度的情况下不能进行鉴定)。
与此相对地,在上述以往的色谱质谱联用仪中,依据这种规定的目标离子鉴定无法自动进行,因此测定者必须确认确认离子比是否落入鉴定范围,需要非常繁杂的作业。另外,也不能在绝对容许时和相对容许时分开地设定确认离子比,因此测定者需要一个一个地设定绝对容许的鉴定范围和相对容许的鉴定范围。另外,对于超过100%的鉴定范围,测定者也需要一个一个地进行修正,非常麻烦。
另外,根据非专利文献3中公开的关于EU的农药检查的规定,所推荐的容许幅度对于每个确认离子来说是不同的。在上述以往的色谱质谱联用仪中,为了设定这种推荐容许幅度,需要按每个确认离子来确认由测定者设定的确认离子比,并设定与之相应的容许值,非常麻烦。
专利文献1:日本特开2011-242255号公报
专利文献2:日本特开2013-195099号公报
非专利文献1:甲斐茂美、其他两位、“高速液体クロマトグラフィー/タンデム質量分析法を用いた穀類中のカビ毒、デオキシニバレノールの分析(使用高速液体液相色谱/串联质谱分析法的谷物中的霉菌毒素、脱氧雪腐镰刀菌烯醇的分析)”、神奈川市卫生研究所研究报告、No.37(2007)、[平成26年5月13日检索]、因特网<URL:http://www.eiken.pref.kanagawa.jp/004_ch ousa/04_reserch/files/37_PDF/37-8.pdf>
非专利文献2:“エーオーアールシー·ガイドラインズ·フォー·ザ·ミニマム·クリテリア·フォー·アイデンティフィケイション·バイ·クロマトグラフィ·アンド·マス·スペクトロメトリ(AORC Guidelines for the Minimum Criteria forIdentification by Chromatography and Mass Spec trometry:AORC指南-通过色谱分析法和质谱分析法进行识别的最小标准)”、AORC(Association of Official RacingChemists)、[平成26年5月16日检索]、因特网<URL:http://www.aorc-online.org/documents/aorc-ms-criteria-may-2011/aorc-ms-criteria-may-2011.pdf>
非专利文献3:“アイデンティフィケイション·クリテリア·フォー·レジデュース·デターミンド·バイ·エルシー-マス/マス:アー·ゼイ·フィット-フォー-パーパス?(Identification criteria for residues determined by LC-MS/MS:are they fit-for-purpose?:LC-MS/MS所确定的残留的识别标准:它们适合使用吗?)”、EURL-FV、[平成26年5月16日检索]、因特网<h ttp://www.eurl-pesticides.eu/userfiles/file//13-Hans_Mol.pdf>
发明内容
发明要解决的问题
本发明是鉴于上述问题而完成的,其目的在于提供如下一种质谱分析用数据处理装置以及该装置用程序:在使用确认离子比确认目标离子是否为源自目标化合物的恰当的离子时,即使在目标化合物的数量多或与一个目标离子对应的确认离子的数量多的情况下,也能够减轻测定者的作业负担,并且能够进行依据各种规格的可靠的判定。
用于解决问题的方案
为了解决上述问题而完成的本发明所涉及的质谱分析用数据处理装置用于进行以下处理:除了预先确定对目标化合物赋予特征的具有特定的质荷比的目标离子以外,还预先确定用于确认该目标化合物的具有其它质荷比的确认离子,求出通过对目标试样进行测定而求出的所述目标离子和所述确认离子的信号强度,在利用所求出的结果确认了该目标离子是否适当之后进行目标化合物的鉴定或定量,该质谱分析用数据处理装置的特征在于,具备:
a)模式选择部,其用于在决定确认离子比的鉴定范围时供用户选择第一模式、第二模式以及第三模式中的某一模式,其中,该确认离子比是判定为在质谱上被推测为是源自目标化合物的目标离子的峰的峰真正源自目标化合物所需的、所述目标离子的信号强度与所述确认离子的信号强度的强度比,该第一模式是利用比率的绝对值来确定确认离子比的容许幅度的模式,该第二模式是利用比率的相对值来确定确认离子比的容许幅度的模式,该第三模式是根据利用比率的绝对值确定确认离子比的容许幅度的确认离子比的鉴定范围与利用比率的相对值确定确认离子比的容许幅度的确认离子比的鉴定范围之间的大小关系来选择某一个鉴定范围的模式;以及
b)鉴定范围决定部,在选择了所述第三模式的情况下,该鉴定范围决定部对于作为对象的确认离子的标准的确认离子比,分别计算基于作为比率的绝对值而给出的绝对容许幅度的第一鉴定范围和基于作为比率的相对值而给出的相对容许幅度的第二鉴定范围,根据第一鉴定范围和第二鉴定范围这两个鉴定范围的大小关系来选择某一个鉴定范围,并将所选择的鉴定范围确定为用于判定通过实测得到的确认离子比的鉴定范围。
另外,为了解决上述问题而完成的本发明所涉及的数据处理用程序在计算机上运行,用于进行以下处理:除了预先确定对目标化合物赋予特征的具有特定的质荷比的目标离子以外,还预先确定用于确认该目标化合物的具有其它质荷比的确认离子,求出通过对目标试样进行测定而求出的所述目标离子和所述确认离子的信号强度,在利用所求出的结果确认了该目标离子是否适当之后进行目标化合物的鉴定或定量,该数据处理装置用程序的特征在于,使该计算机作为以下部件来运行,
a)模式选择部,其用于在决定确认离子比的鉴定范围时供用户选择第一模式、第二模式以及第三模式中的某一模式,其中,该确认离子比是判定为在质谱上被推测为是源自目标化合物的目标离子的峰的峰真正源自目标化合物所需的、所述目标离子的信号强度与所述确认离子的信号强度的强度比,该第一模式是利用比率的绝对值来确定确认离子比的容许幅度的模式,该第二模式是利用比率的相对值来确定确认离子比的容许幅度的模式,该第三模式是根据利用比率的绝对值确定确认离子比的容许幅度的确认离子比的鉴定范围与利用比率的相对值确定确认离子比的容许幅度的确认离子比的鉴定范围之间的大小关系来选择某一个鉴定范围的模式;以及
b)鉴定范围决定部,在选择了所述第三模式的情况下,该鉴定范围决定部对于作为对象的确认离子的标准的确认离子比,分别计算基于作为比率的绝对值而给出的绝对容许幅度的第一鉴定范围和基于作为比率的相对值而给出的相对容许幅度的第二鉴定范围,根据第一鉴定范围和第二鉴定范围这两个鉴定范围的大小关系来选择某一个鉴定范围,并将所选择的鉴定范围确定为用于判定通过实测得到的确认离子比的鉴定范围。
本发明所涉及的质谱分析用数据处理装置典型地通过在计算机上运行本发明所涉及的数据处理用程序来具体实现。
在本发明所涉及的质谱分析用数据处理装置中,用户(测定者)除了能够在模式选择部中选择在以往装置中设置的第一模式(绝对容许模式)、第二模式(相对容许模式)以外,还能够选择第三模式。该模式选择部能够利用显示部的画面上显示的下拉菜单或单选钮等择一地指示三种模式中的任一模式即可。当用户利用模式选择部选择第三模式时,鉴定范围决定部针对作为对象的确认离子的标准的确认离子比,分别计算基于绝对容许幅度的第一鉴定范围和基于相对容许幅度的第二鉴定范围。绝对容许幅度和绝对容许幅度各自被定为默认值,只要用户没有特别地变更设定,优选对所有确认离子共同使用该默认值。
另一方面,即使在针对一个目标离子确定了多个确认离子的情况下,在依据非专利文献3中公开的规定进行测定等情况下,有时也想按每个确认离子改变绝对容许幅度或相对容许幅度。因此,在本发明所涉及的质谱分析用数据处理装置中,优选设为以下结构:还具备容许幅度设定部,该容许幅度设定部供用户按每个确认离子输入绝对容许幅度和相对容许幅度。
上述容许幅度设定部例如设为以下结构即可:在与用于由模式选择部选择的显示画面相同的画面内或与之不同的画面内显示按每个确认离子分别示出绝对容许幅度和相对容许幅度的表,根据需要在该表中输入容许幅度的数值。此外,在利用模式选择部选择了第一模式或第二模式的情况下,由于仅使用绝对容许幅度和相对容许幅度中的某一方,因此在该情况下,优选设为在上述表中设置绝对容许幅度和相对容许幅度中的仅某一方的栏。由此,在使用以往装置中设置的第一模式和第二模式中的某一方的情况下,能够避免显示无需进行输入或确认的参数,能够确保与以往装置同样的操作性。
总之,当基于预先确定的绝对容许幅度、相对容许幅度来计算第一鉴定范围、第二鉴定范围时,鉴定范围决定部例如将两个鉴定范围进行比较,选择其中较大(较宽)的一方,将其决定为鉴定范围。在像这样决定了鉴定范围之后,例如自动判定基于实测结果的确认离子比是否处于该鉴定范围内,如果处于鉴定范围内,则推断为目标离子是源自目标化合物的离子的可能性高。
在本发明所涉及的质谱分析用数据处理装置中,优选设为以下结构:还具备范围限制设定部,该范围限制设定部供用户对用于判定通过实测得到的确认离子比的鉴定范围指定上限和/或下限。
典型地说,将鉴定范围的上限设定为100%,使得在确认离子比超过100%的情况下判断为无法鉴定目标离子。
另外,在这种结构中,进一步地,优选设为以下结构:在通过上述范围限制设定部指定了上限和/或下限的情况下,上述鉴定范围决定部按照预先指定的上限值或下限值来缩小鉴定范围。
根据该结构,在鉴定范围决定部中通过第一鉴定范围与第二鉴定范围的比较而选择出的鉴定范围的上限值例如超过100%的情况下,该鉴定范围的上限被限制为100%。由此,能够不依赖于根据确认离子比的标准值和绝对容许幅度或者根据确认离子比的标准值和相对容许幅度计算出的鉴定范围,将实测的确认离子比的判定中使用的鉴定范围的上限定为例如100%等任意的值。
另外,如果计算出的鉴定范围的一部分落入利用由上述范围限制设定部指定的上限和/或下限限制的范围内,则能够使用确认离子比进行鉴定,但在所计算出的鉴定范围均脱离了利用由上述范围限制设定部指定的上限和/或下限限制的范围的情况下,原本就无法使用确认离子比进行鉴定。因此,在本发明所涉及的质谱分析用数据处理装置中,优选设为以下结构:还具备通知部,在通过上述范围限制设定部指定了上限和/或下限的情况下,当所计算出的鉴定范围均脱离了利用预先指定的上限值或下限值限制的范围时,该通知部向用户通知该情形。
例如通知部进行表示不可鉴定的显示来替代表示鉴定范围的显示即可。由此,用户能够立即识别所指定的确认离子或者用于决定鉴定范围的确认离子比的标准值或容许幅度等是不恰当的。
另外,在质谱分析装置或色谱质谱联用仪中,存在具有自动制作、显示或印刷贴附有分析结果、或分析条件/数据解析条件等规定形式的报告的功能的装置。因此,在本发明所涉及的质谱分析用数据处理装置中,优选设为以下结构:还具备输出部,该输出部将由上述鉴定范围决定部决定的鉴定范围以报告的形式输出。根据该结构,能够将目标离子的鉴定中使用的鉴定范围作为数据解析条件之一而记载于报告中。
发明的效果
根据本发明所涉及的质谱分析数据处理装置以及数据处理用程序,即使在需要依据非专利文献2中公开的规定等来确认目标离子的情况下,测定者自身也能够无需进行繁杂且耗费工夫的计算和比较作业地确定确切的鉴定范围并判定确认离子比是否恰当。因此,即使在目标化合物的数量多或者与一个目标离子对应的确认离子的数量多的情况下,也能够在短时间内高效且防止发生作业错误地判定目标离子是否恰当,从而进行物质鉴定的作业或定量作业。
附图说明
图1是包括本发明所涉及的数据处理装置的LC-MS/MS系统的一个实施例的概要结构图。
图2是表示本实施例的LC-MS/MS系统的波谱确认条件设定画面的一例的图。
图3是表示本实施例的LC-MS/MS系统的波谱确认条件设定画面的一例的图。
图4是表示本实施例的LC-MS/MS系统的每个目标离子的确认离子详细设定画面的一例的图。
图5是表示本实施例的LC-MS/MS系统的每个目标离子的确认离子详细设定画面的其它例的图。
图6是表示本实施例的LC-MS/MS系统的每个目标离子的确认离子详细设定画面的其它例的图。
图7是用于说明本发明所涉及的数据处理装置的变形例的图。
图8是表示以往的色谱质谱联用仪的波谱确认条件设定画面的一例的图。
图9是表示以往的色谱质谱联用仪的每个目标离子的确认离子详细设定画面的一例的图。
具体实施方式
下面,参照所附附图对包括本发明所涉及的质谱分析用数据处理装置的LC-MS/MS系统进行说明。图1是本实施例的LC-MS/MS系统的概要结构图。
该系统具备:液相色谱仪(LC)1,其在时间上分离试样中的含有成分;串联四极杆质谱分析仪等质谱分析仪(MS/MS)2,其利用基于电喷雾电离法等的大气压离子源将由液相色谱仪1分离出的各成分离子化,并对所生成的离子进行MS/MS测定;数据处理部3,其用于处理由质谱分析仪2获取到的数据;输入部4,其包括由测定者操作的键盘、鼠标等指示设备;以及显示部5,其显示分析结果等。数据处理部3具备测定数据保存部31、包括条件设定处理部33、鉴定范围计算部34及目标鉴定处理部35的定量用目标确认处理部32、定量运算处理部36以及报告制作处理部37,来作为功能块。该数据处理部3的实体是个人计算机,通过使安装于该个人计算机的专用的数据处理用程序在计算机上运行,来实现图示的各部的功能。
在本实施例的LC-MS/MS系统中,能够在质谱分析仪2中实施MRM测定、产物离子扫描测定、前体离子扫描测定、中性丢失扫描测定等测定模式,但在针对已知化合物的定量分析中一般使用MRM测定,因此在此设为进行MRM测定并进行说明。
在该情况下,按每个作为定量对象的目标化合物,将一个目标离子的M RM转换(前体离子的质荷比与产物离子的质荷比的组合)和一个或多个确认离子的MRM转换设定为质谱分析仪2中的分析条件。在这种分析条件下,由液相色谱仪1和质谱分析仪2得到的数据被存储于测定数据保存部31。
在基于如上述那样收集到的数据来进行目标化合物的定量时,参照图2~图6对使用了MRM测定数据的数据处理进行说明,该MRM测定数据是针对与该化合物对应的目标离子和确认离子而得到的。图2和图3是表示本实施例的LC-MS/MS系统的波谱确认条件设定画面的一例的图,图4~图6是表示每个目标离子的确认离子详细设定画面的一例的图。
在想要在定量分析之前使用确认离子确认目标离子是否真正源自目标化合物、即想要鉴定目标离子的情况下,当测定者利用输入部4进行规定的操作时,在定量用目标确认处理部32中,条件设定处理部33在显示部5的画面上显示如图2所示的波谱确认条件设定画面6。在想要使用确认离子进行目标离子的鉴定的情况下,测定者通过鼠标的点击操作等在“使用确认离子”的复选框61中输入复选标记。另外,在该情况下选择确认离子模式。
在选择确认离子模式时,如果对确认离子模式选择钮62进行点击操作,则如图2所示那样在下拉菜单63中显示确认离子模式,因此对其中期望的选项进行点击操作即可。在此,在本实施例的LC-MS/MS系统中,作为确认离子模式之一,设置了“绝对容许或相对容许”模式。例如在想要进行依据非专利文献2中公开的AORC的规定的分析的情况下,选择该“绝对容许或相对容许”模式即可。除了该模式以外,与以往装置同样地,还能够选择“绝对容许”模式或“相对容许”模式。
在该例子中,作为在实施“绝对容许或相对容许”模式时使用的参数的默认值,预先设定了确认离子比标准值:90%、绝对容许幅度:20%、相对容许幅度:40%。因此,当选择指示“绝对容许或相对容许”模式时,在绝对容许幅度显示框64和相对容许幅度显示框65中分别显示“20”、“40”这样的数值。此外,在想要变更多个确认离子的绝对容许幅度和相对容许幅度的情况下,利用输入部4直接改写绝对容许幅度显示框64和相对容许幅度显示框65中显示的数值即可。另外,在该例子中,“绝对容许或相对容许”模式下的鉴定范围的上限被默认地限制为100%,因此在“将确认离子的鉴定范围的上限设为100%”的复选框66中自动记入复选标记。在想要摆脱该限制、即想要能够进行超过00%那样的鉴定范围的设定的情况下,点击“将确认离子的鉴定范围的上限设为100%”的复选框66来取消复选标记即可。
另外,在本实施例的LC-MS/MS系统中,在计算确认离子比时,能够选择使用质谱上的峰的信号强度(通过MRM测定得到的某个时间点的离子强度)和基于在提取离子色谱图(质谱图)中出现的峰(色谱图峰)的峰面积和峰高度的信号强度中的哪一个信号强度。在波谱确认条件设定画面6中的确认离子基础选择部67中,当选择“波谱”时,能够基于使用了前者计算出的确认离子比来进行目标离子鉴定,当选择“波形处理结果”时,能够基于使用了后者计算出的确认离子比来进行目标离子鉴定。在图2、图3的例子中,由于选择了“波谱”,因此例如基于在规定的时间点通过MRM测定得到的离子强度来计算确认离子比。
当测定者在波谱确认条件设定画面6中进行了如图3所示那样的设定之后,在未图示的化合物表等中选择指示想要确认的化合物时,鉴定范围计算部34计算对所指示的化合物设定的目标离子(目标离子的MRM转换)所对应的各确认离子的鉴定范围。
具体地说,鉴定范围计算部34按照式(1)计算绝对容许模式下的鉴定范围Pa,并且按照式(2)计算相对容许模式下的鉴定范围Pr。其结果,求出为
Pa=Ri±Rw[%]=90±20[%]
Pr=Ri±(Ri×Rw)/100[%]=90±(90×0.4)=90±36[%],
因此将这两个鉴定范围进行比较并选择其中较大的一方。在上述例子中,Pr>Pa,因此选择Pr来作为鉴定范围。其中,选择出的该鉴定范围是54~126[%],由于其上限值超过100[%],因此将上限设为100[%],并将最终的鉴定范围定为54~100[%]。
鉴定范围计算部34将针对所指示的化合物设定的确认离子的MRM转换、参数、计算出的鉴定范围显示于如图4所示的确认离子详细设定画面7中的参数表71中。图4示出的例子是在确认离子比标准值、绝对容许幅度以及相对容许幅度均为上述默认值的情况下对与MRM转换为414.20>183.10(前体离子m/z:414.20、产物离子m/z:183.10)的目标离子对应的三种确认离子进行显示的画面。绝对容许幅度显示栏74和相对容许幅度显示栏75中的“默认”是指使用在波谱确认条件设定画面6的绝对容许幅度显示框64和相对容许幅度显示框65中显示的数值。在图4的例子中,三种确认离子的确认离子标准值、绝对容许幅度以及相对容许幅度是通用的,因此鉴定范围也相同。
能够通过利用输入部4进行的输入操作,来在确认离子详细设定画面7的参数表71中的确认离子标准值显示栏73、绝对容许幅度显示栏74以及相对容许幅度显示栏75中按每个确认离子分别输入任意的数值。图5是将五种确认离子的确认离子标准值设为各不相同的值、并将绝对容许幅度和相对容许幅度均变更为“60”的情况下的例子。当这三个参数中的任一个发生变更时,鉴定范围也发生改变,因此鉴定范围计算部34基于变更后的参数来再次计算鉴定范围,鉴定范围显示栏76中的数值也被更新。
例如关于MRM转换为130.00>29.99的确认离子,
Pa=Ri±Rw[%]=200±60[%]
Pr=Ri±(Ri×Rw)/100[%]=200±(200×0.6)=200±120[%]
因此,选择Pr来作为鉴定范围。选择出的该鉴定范围是80[%]~320[%],因此将上限值限制为100[%],将最终的鉴定范围设为80[%]~100[%]。另外,关于MRM转换为130.00>27.00的确认离子,
Pa=Ri±Rw[%]=300±60[%]
Pr=Ri±(Ri×Rw)/100[%]=300±(300×0.6)=300±180[%]
因此,选择Pr来作为鉴定范围。在该情况下,选择出的该鉴定范围是120[%]~480[%],因此鉴定范围的下限值超过100%。因此,整个鉴定范围都超过100%,不能使用该鉴定范围来鉴定目标离子。因此,为了表示该情况,在鉴定范围显示栏76中显示“超出上限”的文本。
如上所述,在确认离子详细设定画面7的参数表71中的鉴定范围显示栏76中,用数值显示与一个目标离子对应的多个确认离子各自的鉴定范围,并且在为不适于鉴定的鉴定范围的情况下,显示“超出上限”。由此,测定者能够一目了然地确认每个确认离子的鉴定范围,另外,能够在识别出鉴定范围不恰当的情况之后适当调整确认离子比标准值等参数。
另一方面,在不选择指示“绝对容许或相对容许”模式而选择指示了“绝对容许”模式或“相对容许”模式作为确认离子模式的情况下,测定者能够设定的容许幅度只有一个。因此,在该情况下,鉴定范围计算部34如图6所示那样将包含设置有一个容许幅度显示栏77的参数表71的确认离子详细设定画面7显示在显示部5的画面上。即,在该情况下,确认离子详细设定画面7与图9示出的以往的确认离子详细设定画面上的表相同。因此,在使用以往装置中也准备的“绝对容许”模式或“相对容许”模式的情况下,显示及操作性与以往相同,能够消除习惯于以往装置的操作的测定者产生困惑或发生错误的情况。
如果如上述那样针对各确认离子决定鉴定范围,则目标鉴定处理部35读出测定数据保存部31中存储的与该目标化合物对应的测定数据,根据谱峰相对于目标离子的信号强度和谱峰相对于确认离子的信号强度来计算实测的确认离子比。然后,判定所计算出的实测的确认离子比是否处于对该确认离子设定的鉴定范围内,如果处于该范围内,则得出该目标离子源自目标化合物的可能性高这一推断结果。目标鉴定处理部35按与一个目标离子对应的每个确认离子来判定实测确认离子是否处于鉴定范围内,并分别求出目标离子的能否鉴定的结果。
此外,在波谱确认条件设定画面6中的确认离子基础选择部67中选择了“波形处理结果”的情况下,目标鉴定处理部35根据MRM测定数据,按每个目标离子、每个确认离子来制作提取离子色谱图,在色谱图上进行峰检测并求出色谱图峰。然后,计算该峰的面积值和高度值(或其中的一方),例如将峰面积值与高度值的比率设为信号强度值来计算确认离子比。确认离子比的求法并不限于此。
当由目标鉴定处理部35判定为目标离子的确源自目标化合物时,定量运算处理部36基于测定数据来制作目标离子的提取离子色谱图,使用根据与目标化合物对应的色谱图峰的面积值而预先制作出的校准曲线来求出定量值(浓度值)。由此,能够避免使用并非源自目标化合物的错误的目标离子来执行不恰当的定量运算。另外,通过使用“绝对容许或相对容许”模式,能够简便地进行依据非常繁杂的AORC的规定的目标离子的确认。
当测定者利用输入部4进行规定的操作时,报告制作处理部37制作包含色谱图等表示测定结果的曲线图、或定量分析结果等所指定的内容的报告。此时,能够使报告的内容包含确认目标离子时利用的每个确认离子的鉴定范围。这样制作出的报告除了能够在显示部5的画面上进行确认以外,还能够从未图示的打印机以纸面形式输出。
此外,在上述实施例的LC-MS/MS系统中使用的数据处理装置中,基于默认地设定的或由测定者输入的(变更的)容许幅度和确认离子比标准值来计算鉴定范围,但也可以基于预先制作的确认离子比标准值与鉴定范围的对应表,并根据给出的确认离子比标准值来确定鉴定范围。图7是确认离子比标准值与鉴定范围的对应表的一例。
当前,如果将与某个目标离子对应的确认离子的确认离子比标准值设定为45[%],则鉴定范围计算部34参照图7示出的对应表而导出鉴定范围5[%]~60[%]。另外,如果将确认离子比标准值设定为80[%],则鉴定范围计算部34参照图7示出的对应表而导出鉴定范围30[%]~95[%]。然后,将导出的鉴定范围直接确定为最终的鉴定范围。由此,测定者不必一个一个地输入容许幅度等参数。另外也不必选择确认离子模式,就能够确定与确认离子比标准值相应的鉴定范围。
另外,上述实施例只是本发明的一例,显然在按照本发明的宗旨的范围内即使进行适当变形、修改、追加也包含于本申请权利要求书。
例如在上述实施例中,将本发明所涉及的数据处理装置应用于LC-MS/MS系统,但质谱分析仪不需要能够进行MS/MS测定。另外,本发明所涉及的数据处理装置显然还能够应用于将气相色谱仪与质谱分析仪组合而成的G C-MS或GC-MS/MS。
附图标记说明
1:液相色谱仪;2:质谱分析仪;3:数据处理部;31:测定数据保存部;32:定量用目标确认处理部;33:条件设定处理部;34:鉴定范围计算部;35:目标鉴定处理部;36:定量运算处理部;37:报告制作处理部;4:输入部;5:显示部;6:波谱确认条件设定画面;61:“使用确认离子”的复选框;62:确认离子模式选择钮;63:下拉菜单;64:绝对容许幅度显示框;65:相对容许幅度显示框;66:“将确认离子的鉴定范围的上限设为100%”的复选框;7:确认离子详细设定画面;71:参数表;72:MRM转换显示栏;73:确认离子标准值显示栏;74:绝对容许幅度显示栏;75:相对容许幅度显示栏;76:鉴定范围显示栏。

Claims (7)

1.一种质谱分析用数据处理装置,用于进行以下处理:除了预先确定对目标化合物赋予特征的具有特定的质荷比的目标离子以外,还预先确定用于确认该目标化合物的具有其它质荷比的确认离子,求出通过对目标试样进行测定而求出的所述目标离子和所述确认离子的信号强度,在利用所求出的结果确认了该目标离子是否适当之后进行目标化合物的鉴定或定量,该质谱分析用数据处理装置的特征在于,具备:
a)模式选择部,其用于在决定确认离子比的鉴定范围时供用户选择第一模式、第二模式以及第三模式中的某一模式,其中,该确认离子比是判定为在质谱上被推测为是源自目标化合物的目标离子的峰的峰真正源自目标化合物所需的、所述目标离子的信号强度与所述确认离子的信号强度的强度比,该第一模式是利用比率的绝对值来确定确认离子比的容许幅度的模式,该第二模式是利用比率的相对值来确定确认离子比的容许幅度的模式,该第三模式是根据利用比率的绝对值确定确认离子比的容许幅度的确认离子比的鉴定范围与利用比率的相对值确定确认离子比的容许幅度的确认离子比的鉴定范围之间的大小关系来选择某一个鉴定范围的模式;以及
b)鉴定范围决定部,在选择了所述第三模式的情况下,该鉴定范围决定部对于作为对象的确认离子的标准的确认离子比,分别计算基于作为比率的绝对值而给出的绝对容许幅度的第一鉴定范围和基于作为比率的相对值而给出的相对容许幅度的第二鉴定范围,根据第一鉴定范围和第二鉴定范围这两个鉴定范围的大小关系来选择某一个鉴定范围,并将所选择的鉴定范围确定为用于判定通过实测得到的确认离子比的鉴定范围。
2.根据权利要求1所述的质谱分析用数据处理装置,其特征在于,
还具备容许幅度设定部,在针对一个目标离子确定多个确认离子的情况下,该容许幅度设定部供用户按每个确认离子输入所述绝对容许幅度和所述相对容许幅度。
3.根据权利要求1或2所述的质谱分析用数据处理装置,其特征在于,
还具备范围限制设定部,该范围限制设定部供用户对用于判定通过实测得到的确认离子比的鉴定范围指定上限和/或下限。
4.根据权利要求3所述的质谱分析用数据处理装置,其特征在于,
在通过所述范围限制设定部指定了上限和/或下限的情况下,所述鉴定范围决定部按照预先指定的上限值或下限值来缩小鉴定范围。
5.根据权利要求3或4所述的质谱分析用数据处理装置,其特征在于,
还具备通知部,在通过所述范围限制设定部指定了上限和/或下限的情况下,当所计算出的鉴定范围均脱离了利用预先指定的上限值或下限值限制的范围时,该通知部向用户通知该情形。
6.根据权利要求1~5中的任一项所述的质谱分析用数据处理装置,其特征在于,
还具备输出部,该输出部将由所述鉴定范围决定部决定的鉴定范围以报告的形式输出。
7.一种数据处理装置用程序,在计算机上运行,用于进行以下处理:除了预先确定对目标化合物赋予特征的具有特定的质荷比的目标离子以外,还预先确定用于确认该目标化合物的具有其它质荷比的确认离子,求出通过对目标试样进行测定而求出的所述目标离子和所述确认离子的信号强度,在利用所求出的结果确认了该目标离子是否适当之后进行目标化合物的鉴定或定量,该数据处理装置用程序的特征在于,使该计算机作为以下部件来运行,
a)模式选择部,其用于在决定确认离子比的鉴定范围时供用户选择第一模式、第二模式以及第三模式中的某一模式,其中,该确认离子比是判定为在质谱上被推测为是源自目标化合物的目标离子的峰的峰真正源自目标化合物所需的、所述目标离子的信号强度与所述确认离子的信号强度的强度比,该第一模式是利用比率的绝对值来确定确认离子比的容许幅度的模式,该第二模式是利用比率的相对值来确定确认离子比的容许幅度的模式,该第三模式是根据利用比率的绝对值确定确认离子比的容许幅度的确认离子比的鉴定范围与利用比率的相对值确定确认离子比的容许幅度的确认离子比的鉴定范围之间的大小关系来选择某一个鉴定范围的模式;以及
b)鉴定范围决定部,在选择了所述第三模式的情况下,该鉴定范围决定部对于作为对象的确认离子的标准的确认离子比,分别计算基于作为比率的绝对值而给出的绝对容许幅度的第一鉴定范围和基于作为比率的相对值而给出的相对容许幅度的第二鉴定范围,根据第一鉴定范围和第二鉴定范围这两个鉴定范围的大小关系来选择某一个鉴定范围,并将所选择的鉴定范围确定为用于判定通过实测得到的确认离子比的鉴定范围。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112105926A (zh) * 2018-05-30 2020-12-18 株式会社岛津制作所 成像质谱分析数据处理装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6245361B2 (ja) * 2014-06-12 2017-12-13 株式会社島津製作所 質量分析用データ処理装置及び同装置用プログラム
JP6880892B2 (ja) * 2017-03-23 2021-06-02 富士通株式会社 工程計画生成プログラム及び工程計画生成方法
JP6791373B2 (ja) 2017-05-08 2020-11-25 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析データ処理装置及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム
EP3805748A4 (en) * 2018-05-30 2021-06-23 Shimadzu Corporation SPECTRAL DATA PROCESSING DEVICE AND ANALYSIS DEVICE
CN115667938A (zh) 2020-05-26 2023-01-31 豪夫迈·罗氏有限公司 用于针对定量因子-定性因子比率校验来校准客户质谱仪器的计算机实现方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007046966A (ja) * 2005-08-09 2007-02-22 Hitachi High-Technologies Corp 質量分析システム
US20100171032A1 (en) * 2007-06-02 2010-07-08 Yongdong Wang Self calibration approach for mass spectrometry
JP2011242255A (ja) * 2010-05-18 2011-12-01 Shimadzu Corp クロマトグラフ質量分析用データ処理装置
JP2013195099A (ja) * 2012-03-16 2013-09-30 Shimadzu Corp クロマトグラフ質量分析データ処理装置
US20140132607A1 (en) * 2012-11-15 2014-05-15 Shimadzu Corporation Chromatograph mass spectrometry data processing device

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5986259A (en) * 1996-04-23 1999-11-16 Hitachi, Ltd. Mass spectrometer
US7457708B2 (en) * 2003-03-13 2008-11-25 Agilent Technologies Inc Methods and devices for identifying related ions from chromatographic mass spectral datasets containing overlapping components
US8304719B2 (en) * 2009-02-22 2012-11-06 Xin Wang Precise and thorough background subtraction
US8704162B1 (en) * 2012-12-21 2014-04-22 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
US9638677B2 (en) * 2013-08-26 2017-05-02 Shimadzu Corporation Chromatograph mass spectrometer
EP3029459A4 (en) * 2013-09-09 2017-04-12 Shimadzu Corporation Peak detection method
EP3107114A4 (en) * 2014-02-10 2017-02-22 Shimadzu Corporation Mass spectrometer and mass spectrometry method
JP6269810B2 (ja) * 2014-03-05 2018-01-31 株式会社島津製作所 質量分析方法及び質量分析装置
JP6245361B2 (ja) * 2014-06-12 2017-12-13 株式会社島津製作所 質量分析用データ処理装置及び同装置用プログラム
WO2016002046A1 (ja) * 2014-07-03 2016-01-07 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析装置及びプログラム
US10121643B2 (en) * 2014-07-24 2018-11-06 Shimadzu Corporation Chromatography/mass spectrometry data processing device
JP6303896B2 (ja) * 2014-07-30 2018-04-04 株式会社島津製作所 質量分析データ処理装置及び質量分析データ処理方法
US9929001B2 (en) * 2014-09-17 2018-03-27 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
EP3211781A4 (en) * 2014-10-20 2017-11-22 Shimadzu Corporation Mass spectroscope
US10324071B2 (en) * 2014-11-17 2019-06-18 Shimadzu Corporation Chromatograph mass spectrometer
WO2017037829A1 (ja) * 2015-08-31 2017-03-09 株式会社島津製作所 高分子化合物の定量分析方法及び該定量分析のためのデータ処理装置
WO2017060991A1 (ja) * 2015-10-07 2017-04-13 株式会社島津製作所 タンデム型質量分析装置
JP6456863B2 (ja) * 2016-03-04 2019-01-23 株式会社日立ハイテクノロジーズ イオン移動度分離部を備える分析装置
JP6791078B2 (ja) * 2017-09-21 2020-11-25 株式会社島津製作所 分析条件データ変換装置、データ処理システムおよび分析システム
US10236167B1 (en) * 2018-02-08 2019-03-19 Shimadzu Corporation Peak waveform processing device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007046966A (ja) * 2005-08-09 2007-02-22 Hitachi High-Technologies Corp 質量分析システム
US20100171032A1 (en) * 2007-06-02 2010-07-08 Yongdong Wang Self calibration approach for mass spectrometry
JP2011242255A (ja) * 2010-05-18 2011-12-01 Shimadzu Corp クロマトグラフ質量分析用データ処理装置
JP2013195099A (ja) * 2012-03-16 2013-09-30 Shimadzu Corp クロマトグラフ質量分析データ処理装置
US20140132607A1 (en) * 2012-11-15 2014-05-15 Shimadzu Corporation Chromatograph mass spectrometry data processing device

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
NICOLAAS M.FABER: "Regulations in the field of residue and doping analysis should ensure the risk of false positive declaration in well-defined", 《ACCRED QUAL ASSUR》 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112105926A (zh) * 2018-05-30 2020-12-18 株式会社岛津制作所 成像质谱分析数据处理装置

Also Published As

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JP6245361B2 (ja) 2017-12-13

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