JP5375411B2 - クロマトグラフ質量分析データ解析方法及び装置 - Google Patents
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Description
[第1ステップ]:夾雑成分の影響を受けていない化合物単体の実測マススペクトルを算出する。
[第2ステップ]:第1ステップで算出された実測マススペクトルとライブラリに登録されている目的化合物の標準マススペクトルとの類似度を求める。この類似度が高ければ、実測マススペクトルで表される化合物が目的化合物である可能性が高い、換言すれば試料中に目的化合物が含まれている可能性が高い、と判断することができる。
a)所定の時間における実測マススペクトルに現れるスペクトルピークについて、該スペクトルピークの質量電荷比に対するマスクロマトグラムにおいて前記所定の時間を挟む前後の所定時間範囲内にクロマトグラムピークトップが存在するか否かを調べ、ピークトップが存在する場合にそのスペクトルピークが単一化合物由来の純粋ピークであり、ピークトップが存在しない場合に夾雑成分が重畳した夾雑ピークであると判定することにより、前記実測マススペクトルに現れる全ての又は有意なスペクトルピークをそれぞれ純粋ピーク又は夾雑ピークのいずれかに分類するピーク識別ステップと、
b)前記所定の時間における実測マススペクトルと既知化合物の標準マススペクトルとを比較し、同一質量電荷比における純粋ピークの強度が極力揃うように標準マススペクトル全体の強度を調整した状態で、その実測マススペクトル上の前記夾雑ピークの強度を補正するマススペクトル補正ステップと、
c)前記マススペクトル補正ステップにより夾雑ピークの強度補正がなされた実測マススペクトルと前記既知化合物の標準マススペクトルとの類似性を示す指標を算出する類似性評価ステップと、
を有すること特徴としている。
a)所定の時間における実測マススペクトルに現れるスペクトルピークについて、該スペクトルピークの質量電荷比に対するマスクロマトグラムにおいて前記所定の時間を挟む前後の所定時間範囲内にクロマトグラムピークトップが存在するか否かを調べ、ピークトップが存在する場合にそのスペクトルピークが単一化合物由来の純粋ピークであり、ピークトップが存在しない場合に夾雑成分が重畳した夾雑ピークであると判定することにより、前記実測マススペクトルに現れる全ての又は有意なスペクトルピークをそれぞれ純粋ピーク又は夾雑ピークのいずれかに分類するピーク識別手段と、
b)前記所定の時間における実測マススペクトルと既知化合物の標準マススペクトルとを比較し、同一質量電荷比における純粋ピークの強度が極力揃うように標準マススペクトル全体の強度を調整した状態で、その実測マススペクトル上の前記夾雑ピークの強度を補正するマススペクトル補正手段と、
c)前記マススペクトル補正手段により夾雑ピークの強度補正がなされた実測マススペクトルと前記既知化合物の標準マススペクトルとの類似性を示す指標を算出する類似性評価手段と、
を備えることを特徴としている。
質量電荷比mに対するマスクロマトグラムから、指定時間tretの前後2点ずつの時刻における信号強度を抽出する。この信号強度を時間順にI1、I2、I3、I4とする。このとき、次の[A]、[B]の2つの条件を満たすか否かを判定し、2つの条件を共に満たした場合にそのスペクトルピークが純粋ピークであると判断し、少なくとも1つの条件を満たさない場合に夾雑ピークであると判断する。
[A]:I1<I2、且つ、I3>I4である。
[B]:質量走査時間ΔTをtintとして、I1、I2、I3の3点を通る2次関数の頂点又はI2、I3、I4の3点を通る2次関数の頂点のいずれかが、tret−(tint /2)〜tret+(tint/2)なる時間範囲内に存在する。
L(a)=Σ|I(m)−aIstd(m)| …(1)
ここで、Σは純粋ピークの質量電荷比に属するmの総和である。もちろん、L1推定以外にも、最小二乗法による推定、M推定、LMedS推定などのロバスト推定、或いは、その他の既知の推定方法を用いてもよい。
I(m)←min(aIstd(m),I(a)) …(2)
これにより、夾雑成分による類似度の低下を回避する。
これは標準マススペクトルのピークが全て実測マススペクトルに存在するときに1となる指標である。重要なピークの消失度合いによって値が下がっていき、全てのピークが消失しているときに0となる。例えば、次の(3)式のような計算式により重み付きピーク存在率Rを算出する。
R=ΣmIstd(m)/Σ’mIstd(m) …(3)
ここで、右辺の分子のΣはm及びI(m)が0よりも大きいものに関する総和、分母のΣはmに関する総和である。
実測マススペクトル及び標準マススペクトルに対して各質量電荷比の強度に重みを付け、それぞれを重み付き強度のベクトルとみなす。重みとしては、強度値の変動に強く、且つ高質量電荷比のピークが重視されるものが望ましい。これは、質量電荷比が低いイオンは特徴に乏しく、質量電荷比が高いイオンのほうがより化合物の構造の特徴を反映し易いためである。重み付き強度の例としては、強度を平方根をとり、さらに質量電荷比を乗じたものが考えられる。そして、純粋ピークの質量電荷比の重み付き強度のみを用いて各ベクトルの成す角のコサイン値を求める。これは純粋ピークの使用率を表す指標で0〜1の値を取り、標準マススペクトルが純粋ピーク全てにマッチすれば1となる。
[2]と同じくベクトルのコサイン値を求めるが、標準マススペクトルにピークが存在する質量電荷比の重み付き強度を用いることが相違する。これは標準マススペクトルが実測マススペクトルにマッチする程度を表す指標である。
[2]及び[3]と同じくベクトルのコサイン値を求めるが、実測マススペクトルにピークが存在する質量電荷比の重み付き強度を用いることが相違する。これはリバースサーチによるコサイン値Crevとは逆に、実測マススペクトルが標準マススペクトルにマッチする程度を表す指標である
10…試料気化室
11…インジェクタ
12…カラム
2…MS部
20…イオン源
21…四重極質量フィルタ
22…イオン検出器
30…A/D変換器
31…データ処理部
32…化合物同定部
33…データ記憶部
34…化合物ライブラリ
35…入力部
36…表示部
Claims (6)
- 試料中の化合物を同定するために、試料中の各成分をクロマトグラフにより時間方向に分離した後に所定の時間間隔で所定の質量電荷比範囲に亘る質量分析を繰り返し実行するクロマトグラフ質量分析装置により収集された、質量電荷比、強度、及び時間をディメンジョンとするデータを解析処理するクロマトグラフ質量分析データ解析方法であって、
a)所定の時間における実測マススペクトルに現れるスペクトルピークについて、該スペクトルピークの質量電荷比に対するマスクロマトグラムにおいて前記所定の時間を挟む前後の所定時間範囲内にクロマトグラムピークトップが存在するか否かを調べ、ピークトップが存在する場合にそのスペクトルピークが単一化合物由来の純粋ピークであり、ピークトップが存在しない場合に夾雑成分が重畳した夾雑ピークであると判定することにより、前記実測マススペクトルに現れる全ての又は有意なスペクトルピークをそれぞれ純粋ピーク又は夾雑ピークのいずれかに区別するピーク識別ステップと、
b)前記所定の時間における実測マススペクトルと既知化合物の標準マススペクトルとを比較し、同一質量電荷比における純粋ピークの強度が極力揃うように標準マススペクトル全体の強度を調整した状態で、その実測マススペクトル上の前記夾雑ピークの強度を補正するマススペクトル補正ステップと、
c)夾雑ピークの強度補正がなされた実測マススペクトルと前記既知化合物の標準マススペクトルとの類似性を示す指標を算出する類似性評価ステップと、
を有すること特徴とするクロマトグラフ質量分析データ解析方法。 - 請求項1に記載のクロマトグラフ質量分析データ解析方法であって、
前記マススペクトル補正ステップは、前記実測マススペクトルと同一質量電荷比における純粋ピークの強度が極力揃うように前記既知化合物の標準マススペクトル全体の強度に所定の倍率を乗じ、その状態で、その実測マススペクトル上の前記夾雑ピークの強度が実測マススペクトル上の同一質量電荷比のピーク強度を超えないように強度を補正すること特徴とするクロマトグラフ質量分析データ解析方法。 - 請求項2に記載のクロマトグラフ質量分析データ解析方法であって、
前記類似性評価ステップは、2つのマススペクトルの類似性を示す指標として、異なる計算方法により求まる複数の個別指標の積を用い、且つ、少なくとも該個別指標の1つは、前記ピーク識別ステップにより区別された純粋ピークのみを利用して個別指標を求めるものであることを特徴とするクロマトグラフ質量分析データ解析方法。 - 試料中の化合物を同定するために、試料中の各成分をクロマトグラフにより時間方向に分離した後に所定の時間間隔で所定の質量電荷比範囲に亘る質量分析を繰り返し実行するクロマトグラフ質量分析装置により収集された、質量電荷比、強度、及び時間をディメンジョンとするデータを解析処理するクロマトグラフ質量分析データ解析装置であって、
a)所定の時間における実測マススペクトルに現れるスペクトルピークについて、該スペクトルピークの質量電荷比に対するマスクロマトグラムにおいて前記所定の時間を挟む前後の所定時間範囲内にクロマトグラムピークトップが存在するか否かを調べ、ピークトップが存在する場合にそのスペクトルピークが単一化合物由来の純粋ピークであり、ピークトップが存在しない場合に夾雑成分が重畳した夾雑ピークであると判定することにより、前記実測マススペクトルに現れる全ての又は有意なスペクトルピークをそれぞれ純粋ピーク又は夾雑ピークのいずれかに区別するピーク識別手段と、
b)前記所定の時間における実測マススペクトルと既知化合物の標準マススペクトルとを比較し、同一質量電荷比における純粋ピークの強度が極力揃うように標準マススペクトル全体の強度を調整した状態で、その実測マススペクトル上の前記夾雑ピークの強度を補正するマススペクトル補正手段と、
c)夾雑ピークの強度補正がなされた実測マススペクトルと前記既知化合物の標準マススペクトルとの類似性を示す指標を算出する類似性評価手段と、
を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析データ解析装置。 - 請求項4に記載のクロマトグラフ質量分析データ解析装置であって、
前記マススペクトル補正手段は、前記実測マススペクトルと同一質量電荷比における純粋ピークの強度が極力揃うように前記既知化合物の標準マススペクトル全体の強度に所定の倍率を乗じ、その状態で、その実測マススペクトル上の前記夾雑ピークの強度が実測マススペクトル上の同一質量電荷比のピーク強度を超えないように強度を補正すること特徴とするクロマトグラフ質量分析データ解析装置。 - 請求項5に記載のクロマトグラフ質量分析データ解析装置であって、
前記類似性評価手段は、2つのマススペクトルの類似性を示す指標として、異なる計算方法により求まる複数の個別指標の積を用い、且つ、少なくとも該個別指標の1つは、前記ピーク識別ステップにより区別された純粋ピークのみを利用して個別指標を求めることを特徴とするクロマトグラフ質量分析データ解析装置。
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