JP7463944B2 - 波形処理支援装置および波形処理支援方法 - Google Patents

Description

本発明は、波形処理支援装置および波形処理支援方法に関する。

種々の分析装置により分析結果として得られる波形データから、各ピークを分離するために波形処理が行われる。例えば、クロマトグラフ装置では、波形データとしてクロマトグラムが得られる。また、質量分析装置では、波形データとしてマススペクトルが得られる。波形データから各ピークを分離するためには、波形処理パラメータの値が設定される。波形処理パラメータとしては、“Ｗｉｄｔｈ”および“Ｓｌｏｐｅ”等が用いられる（例えば、特許文献１参照）。“Ｗｉｄｔｈ”は、波形処理においてピークであると判断する最も小さい半値全幅である。また、“Ｓｌｏｐｅ”は、ピークの立ち上がり位置および立ち下がり位置を判断する臨界的なピークの傾きの値である。使用者は、１種類または複数種類の波形処理パラメータの値を設定することにより、波形データから各ピークを分離する。波形処理結果としては、ピークの区間、ピークの強度、およびピークの面積等が得られる。

特開２０１５－５９７８２号公報

上記のような波形処理では、使用者により設定される波形処理パラメータの値により各ピークについての波形処理結果が異なる。例えば、波形処理パラメータの値が不適切であると、複数のピークが１つのピークとして検出されること、またはノイズがピークとして検出されることがある。そのため、使用者は、波形処理パラメータの値を適切に決定することが必要である。しかしながら、波形処理パラメータの値を適切に決定することは容易ではない。

また、同じ試料を同じ分析装置により同一条件で複数回分析した場合でも、分析装置の精度または分離カラムの劣化状況等により波形データにおける同一のピークの位置または形状が異なることがある。同一のピークの面積または強度等が異なる場合、定量分析の精度が低下する。そのため、分析装置の精度または分離カラムの劣化状況等により波形データに微小な変化が生じた場合でも、同じ波形処理結果を得ることが可能な高い頑健性を有する波形処理パラメータの値を決定することが望まれる。

本発明の目的は、高い頑健性を有しかつ適切な波形処理結果を得ることが可能な波形処理パラメータの値を容易に決定することを可能にする波形処理支援装置および波形処理支援方法を提供することである。

本発明の一局面に従う波形処理支援装置は、分析装置の分析結果を示す波形データから波形処理パラメータの値に基づいてピークを分離する波形処理を表示部を用いて支援する波形処理支援装置であって、波形処理パラメータの複数の値に基づいて一または複数の波形データから分離された複数のピークについて、波形処理パラメータの複数の値と複数の波形処理結果との対応関係を複数のピーク分離情報として取得する取得部と、取得部により取得された複数のピーク分離情報に基づいて波形処理パラメータの各値の頑健性を判定する判定部と、取得部により取得された複数のピーク分離情報および判定部により算出された波形処理パラメータの各値の頑健性を示す頑健性情報を表示部に表示させる表示制御部とを備える。

本発明の他の局面に従う波形処理支援方法は、分析装置の分析結果を示す波形データから波形処理パラメータの値に基づいてピークを分離する波形処理を表示部を用いて支援する波形処理支援方法であって、波形処理パラメータの複数の値に基づいて一または複数の波形データから分離された複数のピークについて、波形処理パラメータの複数の値と複数の波形処理結果との対応関係を複数のピーク分離情報として取得するステップと、取得された複数のピーク分離情報に基づいて波形処理パラメータの各値の頑健性を判定するステップと、取得された複数のピーク分離情報および判定された波形処理パラメータの各値の頑健性を示す頑健性情報を表示部に表示させるステップとを含む。

本発明によれば、高い頑健性を有しかつ適切な波形処理結果を得ることが可能な波形処理パラメータの値を容易に決定することができる。

本発明の一実施の形態に係る波形処理支援装置を含む分析システムの構成を示すブロック図である。 波形処理パラメータおよび波形処理を説明するための図である。 波形処理パラメータおよび波形処理を説明するための図である。 波形処理パラメータおよび波形処理を説明するための図である。 波形処理パラメータおよび波形処理を説明するための図である。 波形処理支援装置の構成を示す図である。 図６の波形処理支援装置の動作の一例を示すフローチャートである。 図６の波形処理支援装置の動作の一例を示すフローチャートである。 図６の波形処理支援装置の動作の一例を示すフローチャートである。 図６の波形処理支援装置により表示部の画面に表示される操作画像の一例を示す図である。 図６の波形処理支援装置により表示部の画面に表示される操作画像の一例を示す図である。 図６の波形処理支援装置により表示部の画面に表示される操作画像の一例を示す図である。 図６の波形処理支援装置により表示部の画面に表示される操作画像の一例を示す図である。 図６の波形処理支援装置により表示部の画面に表示される操作画像の一例を示す図である。 図６の波形処理支援装置により表示部の画面に表示される操作画像の一例を示す図である。 再現性情報の表示例を示す図である。 再現性情報の表示例を示す図である。

以下、本発明の実施の形態に係る波形処理支援装置および波形処理支援方法について図面を参照しながら詳細に説明する。

（１）分析システムの構成
図１は、本発明の一実施の形態に係る波形処理支援装置を含む分析システムの構成を示すブロック図である。図１に示すように、分析システム１００は、制御装置１および分析装置２を含む。

制御装置１は、ＣＰＵ（中央演算処理装置）１１０、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）１２０、ＲＯＭ（リードオンリメモリ）１３０、記憶部２０、操作部３０、表示部４０および入出力Ｉ／Ｆ（インターフェイス）１７０により構成される。ＣＰＵ１１０、ＲＡＭ１２０、ＲＯＭ１３０、記憶部２０、操作部３０、表示部４０および入出力Ｉ／Ｆ５０はバス６０に接続される。ＣＰＵ１１０、ＲＡＭ１２０およびＲＯＭ１３０が波形処理支援装置１０を構成する。波形処理支援装置１０の詳細については、後述する。

ＲＡＭ１２０は、ＣＰＵ１１０の作業領域として用いられる。ＲＯＭ１３０にはシステムプログラムが記憶される。記憶部２０は、ハードディスクまたは半導体メモリ等の記憶媒体を含む。記憶部２０には、波形処理支援プログラムが記憶されている。波形処理支援プログラムは、波形処理支援装置１０が波形処理支援動作を行うためのコンピュータプログラムである。波形処理支援プログラムは、ＲＯＭ１３０または外部の記憶装置に記憶されていてもよい。

ＣＰＵ１１０が記憶部２０等に記憶された波形処理支援プログラムをＲＡＭ１２０上で実行することにより、波形処理支援動作が行われる。波形処理支援動作については、後述する。

操作部３０は、キーボード、マウスまたはタッチパネル等の入力デバイスであり、波形処理支援装置１０に所定の指示を与えるために使用者により操作される。表示部４０は、液晶表示装置等の表示デバイスである。入出力Ｉ／Ｆ５０は、分析装置２に接続される。

分析装置２は、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフまたは超臨界流体クロマトグラフ等のクロマトグラフであってもよく、または質量分析装置等であってもよい。本実施の形態において、分析装置２は液体クロマトグラフである。分析装置２は、表示部２１を有する。

分析装置２は、分析結果を示す波形データを生成する。分析装置２がクロマトグラフである場合には、波形データはクロマトグラムである。クロマトグラムの横軸は溶出時間（保持時間）であり、縦軸は信号強度である。分析装置２が質量分析装置である場合には、波形データはマススペクトルである。マススペクトルの横軸は質量電荷比（ｍ／ｚ）であり、縦軸は信号強度である。波形データの横軸を位置と呼ぶ。波形データの縦軸を強度と呼ぶ。本実施の形態において波形データは、クロマトグラムである。

（２）波形処理パラメータおよび波形処理結果
波形処理支援装置１０に与えられた波形データには、１種類または複数種類の波形処理パラメータの値に基づいてピークを分離するために波形処理が行われる。ここで、波形処理パラメータおよび波形処理について説明する。図２～図５は、波形処理パラメータおよび波形処理を説明するための図である。本実施の形態では、波形処理パラメータとして、“Ｓｌｏｐｅ”、“Ｗｉｄｔｈ”、“Ｄｒｉｆｔ”およびピーク分離方法が用いられる。ピーク分離方法には、垂直分割、完全分離（ベースライン分離）およびテーリングまたはリーディング上の完全分離等がある。

図２には“Ｓｌｏｐｅ”の値が異なる場合の波形処理結果が示される。“Ｓｌｏｐｅ”（単位：μＶ／ｍｉｎ）は、ピーク開始点ＳＰおよびピーク終了点ＥＰを検出するための傾きのしきい値であり、ピークの検出感度を表す。図２の左側の例では“Ｓｌｏｐｅ”の値がθ１に設定され、図２の右側の例では“Ｓｌｏｐｅ”の値がθ１よりも大きいθ２に設定される。

“Ｓｌｏｐｅ”の値に基づいて波形処理が行われると、左側のベースラインからピークに向かう波形の傾きが “Ｓｌｏｐｅ”の値になる位置がピーク開始点ＳＰとして検出される。また、ピークから右側のベースラインに向かう波形の傾きが“Ｓｌｏｐｅ”の値になる位置がピーク終了点ＥＰとして検出される。このように、“Ｓｌｏｐｅ”の値が異なると、検出されるピーク開始点ＳＰおよびピーク終了点ＥＰが異なる。

図３には“Ｗｉｄｔｈ”の値が異なる場合の波形処理結果が示される。“Ｗｉｄｔｈ”（単位：ｓｅｃ）は、検出されるべきピークの半値幅の最小値である。図３の左側の例では、“Ｗｉｄｔｈ”の値がｗ１に設定され、図３の右側の例では、“Ｗｉｄｔｈ”の値がｗ１よりも大きいｗ２に設定される。

“Ｗｉｄｔｈ”の値に基づいて波形処理が行われると、図３の左側の例では、半値幅ｗ１以上のピークがすべて検出される。例えば、ピークＰａとピークＰｂとが分離される。一方、ノイズがピークＰｎとして検出される。図３の右側の例では、半値幅ｗ２以上のピークＰｃのみが検出される。例えば、部分的に重なり合った隣接する２つのピークが１つのピークとして検出される。一方、ノイズｎはピークとして検出されない。

このように、“Ｗｉｄｔｈ”の値が大きく設定された場合には、ノイズがピークとして検出されることを防止することができる。一方、“Ｗｉｄｔｈ”の値が大きすぎる場合には、部分的に重なり合った隣接するピークが１つのピークとして検出されることがある。

図４には、“Ｄｒｉｆｔ”の値によるピーク分離方法の違いが示される。Ｄｒｉｆｔ（単位：μＶ／ｍｉｎ）は、ベースラインの変動のしきい値である。図４には、複数のピークＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４および複数の極小点（ピーク間の谷）Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅが示される。図４の例では、“Ｄｒｉｆｔ”の値がθ３に設定される。

“Ｄｒｉｆｔ”の値に基づいて波形処理が行われると、各極小点を通る傾きθ３のＤｒｉｆｔ設定線Ｌが描かれる。例えば、極小点Ｂは、極小点Ａを通るＤｒｉｆｔ設定線Ｌよりも上方に位置する。この場合、極小点Ａ，Ｂを結ぶ直線は、ベースラインとみなされない。これに対して、極小点Ｃは、極小点Ａを通るＤｒｉｆｔ設定線Ｌよりも下方に位置する。この場合、極小点Ａ，Ｃを結ぶベースライン補正線ＢＬ１が設定される。これにより、ピークＰ１，Ｐ２は、極小点Ｂで垂直分割される。極小点Ｄは、極小点Ｃを通るＤｒｉｆｔ設定線Ｌよりも下方に位置する。この場合、極小点Ｃ，Ｄを結ぶベースライン補正線ＢＬ２が設定される。これにより、ピークＰ３は完全分離される。同様に、極小点Ｅは、極小点Ｄを通るＤｒｉｆｔ設定線（図示せず）よりも下方に位置する。この場合、極小点Ｄ，Ｅを結ぶベースライン補正線ＢＬ３が設定される。これにより、ピークＰ４は完全分離される。

“Ｄｒｉｆｔ”の値が小さく設定された場合には、各ピークが垂直分割されやすい。一方、“Ｄｒｉｆｔ”の値が大きく設定された場合には、各ピークが完全分離されやすい。このように、“Ｄｒｉｆｔ”の値によりピーク分離方法を異ならせることができる。

ここで、ピークの分離方法について説明する。ピーク分離方法（垂直分割／完全分離）は、波形処理パラメータとして設定される場合と、“Ｄｒｉｆｔ”の値により波形処理結果として得られる場合とがある。本実施の形態においては、ピークの分離方法は、垂直分割および完全分離を含む。図５の左側および右側の例では、部分的に重なり合った隣接するピークＰ５，Ｐ６が示される。

図５の左側の例は、垂直分割を示す。垂直分割では、極小点Ａ１，Ｂ１，Ｃ１からそれぞれ横軸に垂直な直線Ａ１－Ａ２、直線Ｂ１－Ｂ２および直線Ｃ１－Ｃ２が設定される。ピークＰ５，Ｐ６は、直線Ａ１－Ａ２、直線Ｂ１－Ｂ２および直線Ｃ１－Ｃ２によりそれぞれ分離される。ピークＰ５の面積は、極小点Ａ１と極小点Ｂ１とを結ぶ曲線、直線Ａ１－Ａ２、直線Ｂ１－Ｂ２および横軸で囲まれた領域の面積である。ピークＰ６の面積は、極小点Ｂ１と極小点Ｃ１とを結ぶ曲線、直線Ｂ１－Ｂ２、直線Ｃ１－Ｃ２および横軸で囲まれた領域の面積である。

図５の右側の例は、完全分離を示す。完全分離では、隣り合う極小点Ａ１，Ｂ１を結ぶベースライン補助線ＢＬ５が設定され、隣り合う極小点Ｂ１，Ｃ１を結ぶベースライン補助線ＢＬ６が設定される。ピークＰ５，Ｐ６は、ベースライン補助線ＢＬ５，ＢＬ６によりそれぞれ分離される。ピークＰ５の面積は、極小点Ａ１と極小点Ｂ１とを結ぶ曲線およびベースライン補助線ＢＬ５で囲まれた領域の面積である。ピークＰ６の面積は、極小点Ｂ１と極小点Ｃ１とを結ぶ曲線およびベースライン補助線ＢＬ６で囲まれた領域の面積である。

このように、垂直分割により分離されたピークの面積は、完全分離により分離されたピークの面積よりも大きい。したがって、ピークに対応する成分を定量する場合には、同一成分のピークは同じ分離方法で分離されることが望ましい。

なお、波形処理パラメータの値は、数値に限らず、ピーク分離方法が垂直分割であるか完全分離であるかを特定する識別情報をも含む。このような識別情報は、ＣＰＵ１１０においては、デジタル値で表される。

ここで、本実施の形態における波形処理による得られる波形処理結果について説明する。波形処理結果は、設定された１種類または複数種類の波形処理パラメータの値に基づいて波形データから各ピークを分離することにより得られる。波形処理結果は、ピークの開始点の位置、ピークの開始点の強度、ピークの終了点の位置、ピークの終了点の強度、ピークトップの位置、ピークトップの強度、ピークの面積、Ｓ／Ｎ（信号ノイズ比）、ピーク分離方法の種類（垂直分割／完全分離）等を含む。

（３）波形処理支援装置１０の機能的な構成
図６は、波形処理支援装置１０の構成を示す図である。まず、波形処理支援装置１０は、機能部として、対象波形データ選択部１１、取得部１２、判定部１３、表示制御部１４、波形処理部１５、統計部１６、情報追加部１７および分析メソッドファイル作成部１８を含む。本実施の形態では、波形処理支援装置１０の各構成要素（１１～１８）は、図１のＣＰＵ１１０がＲＯＭ１３０または記憶部２０に記憶される波形処理支援プログラムを実行することにより実現される。波形処理支援装置１０の各構成要素（１１～１８）の一部または全てが電子回路等のハードウエアにより実現されてもよい。

記憶部２０には、分析装置２により得られた一または複数の波形データが記憶される。本例では、分析装置２により得られた波形データが波形処理の対象となる。以下、波形処理の対象となる波形データを対象波形データと呼ぶ。

また、一または複数の波形データの各ピークについて波形処理パラメータの値と波形処理結果との対応関係を示す情報をピーク分離情報と呼ぶ。記憶部２０には、一または複数のピークについての一または複数のピーク分離情報が記憶される。本実施の形態では、記憶部２０には、予め複数のピーク分離情報が記憶される。

対象波形データ選択部１１は、記憶部２０に記憶された一または複数の波形データから対象波形データを選択し、選択された対象波形データを表示制御部１４および波形処理部１５に与える。

取得部１２は、第１の選択部１２ａおよび第２の選択部１２ｂを含む。この取得部１２は、記憶部２０に記憶された複数のピーク分離情報から一部または全てのピーク分離情報を取得する。

第１の選択部１２ａは、記憶部２０に記憶された複数のピーク分離情報のうち予め定められた選択条件を満足する一または複数のピーク分離情報を選択する。本実施の形態において、例えば、第１の選択部１２ａは、記憶部２０に記憶された複数のピーク分離情報のうち同じ位置または同じ区間に存在するピークに対応する複数のピーク分離情報を選択する。

第２の選択部１２ｂは、記憶部２０に記憶される複数のピーク分離情報のうち、対象波形データにおける代表ピークに類似する形状を有する一または複数のピークを選択する。代表ピークは、対象波形データにおける複数のピークのうち使用者により選択されたピークである。第２の選択部１２ｂは、記憶部２０に記憶される複数のピーク分離情報に対応する複数のピークおよび代表ピークから特徴を抽出し、抽出された特徴に基づく階層クラスタリング等のクラスタリング手法を用いて代表ピークに類似する形状を有する一または複数のピークを選択する。特徴としては、各ピークの強度、隣り合うピーク間の谷の強度、隣り合うピークの強度、または隣り合うピークの分離度等を用いることができる。第２の選択部１２ｂは、機械学習による特徴抽出器を含んでもよい。

以下、第１の選択部１２ａまたは第２の選択部１２ｂにより選択されたピーク分離情報を選択ピーク分離情報と呼ぶ。また、選択ピーク分離情報に対応するピークを選択ピークと呼ぶ。第１の選択部１２ａおよび第２の選択部１２ｂは、ピーク分離方法の種類で複数の選択ピーク分離情報を分類してもよい。例えば、第１の選択部１２ａおよび第２の選択部１２ｂは、複数の選択ピーク分離情報を垂直分割で分離された複数のピークに対応する複数の選択ピーク分離情報のクラスタと完全分離で分離された複数のピークに対応する複数の選択ピーク分離情報のクラスタとに分類してもよい。

判定部１３は、複数の選択ピーク分離情報に基づいて波形処理パラメータの各値に対応する波形処理結果の再現性を算出し、算出された再現性に基づいて各値の頑健性を判定する。具体的には、複数の選択ピーク分離情報における波形処理パラメータと同じ値により波形処理が行われた場合に同じまたは近似する波形処理結果が得られる回数が多いほど、波形処理結果の再現性が高い。波形処理結果の再現性は、例えば、ピークの面積の相対標準偏差（（標準偏差／平均値）×１００）で表される。また、波形処理結果の再現性は、元の波形処理パラメータで処理したピークの面積と新しい波形処理パラメータで処理したピークの面積との重なり比率（ＩоＵ）で表されてもよい。波形処理結果の高い再現性を得ることが可能な波形処理パラメータの値が連続的に並ぶ場合には、波形処理パラメータの値の並びの中央部が端部よりも高い頑健性を有する。以下、判定部により算出された波形処理パラメータの各値の頑健性の判定結果を示す情報を頑健性情報と呼ぶ。

表示制御部１４は、対象波形データ選択部１１により選択された対象波形データを表示部４０に表示させる。また、表示制御部１４は、第１の選択部１２ａまたは第２の選択部１２ｂから与えられる選択ピーク分離情報および選択ピークを表示部４０に表示させるとともに、判定部１３から与えられる頑健性情報を表示部４０に表示させる。

使用者は、表示部４０に表示された選択ピーク分離情報、選択ピークおよび頑健性情報を視認することにより、対象波形データに波形処理を行うために設定すべき１種類または複数種類の波形処理パラメータの値を決定する。使用者は、決定された各波形処理パラメータの値を操作部３０の操作により波形処理部１５に設定する。また、使用者は、対象波形データの横軸の複数の区間ごとに波形処理パラメータの値を設定することもできる。この場合、各区間に設定された波形処理パラメータの値に基づいて各区間で波形処理が行われる。

波形処理部１５は、操作部３０の操作により設定された１種類または複数種類の波形処理パラメータの値に基づいて、対象波形データに波形処理を行う。その結果、対象波形データにおける各ピークについて波形処理結果が得られる。それにより、新たなピーク分離情報が得られる。波形データにおける各ピークについての波形処理結果は、表示制御部１４により表示部４０に表示される。使用者は、表示部４０に表示された波形処理結果を手動で修正することができる。例えば、使用者は、表示部４０に表示されたピークの開始点および終了点の位置を操作部３０を用いて修正することができる。この場合、波形処理部１５は、記憶部２０に記憶された複数のピーク分離情報に基づいて、修正後の波形処理結果を得るための波形処理パラメータの値を算出する。それにより、修正後の波形処理結果および算出された波形処理パラメータの値が新たなピーク分離情報として得られる。

さらに、波形処理部１５は、対象波形データの区間ごとに波形処理パラメータの異なる値に基づいて波形処理が行われた場合、複数の区間に設定された波形処理パラメータの複数の値で対象波形データの波形処理を行う。それにより、各区間の各ピークについて波形処理パラメータの複数の値に対応する複数の波形処理結果が得られる。この場合、各ピークについて新たな複数のピーク分離情報が得られる。

統計部１６は、同一の試料の複数回の分析により得られた複数の波形データの任意のピークについての複数の波形処理結果の統計量を算出する。統計量とは、例えば、複数の波形処理結果の平均値、最大値、最小値等をいう。例えば、統計部１６は、複数の波形データにおける複数の選択ピークの面積、ピークの開始点、ピークの終了点またはピークトップの強度等の平均値、最大値または最小値等を統計量として算出する。本実施の形態において、統計部１６は、複数の選択ピークの面積の平均値、最大値および最小値、各選択ピークの開始点の最大値および最小値、ならびに各選択ピークの終了点の最大値および最小値を算出する。統計部１６により算出された統計量は、表示制御部１４により表示部４０に表示される。

情報追加部１７は、波形処理部１５により得られた新たなピーク分離情報を記憶部２０に追加する。それにより、記憶部２０に記憶される複数のピーク分離情報の数が累積的に増加する。

分析メソッドファイル作成部１８は、分析装置２による試料の分析条件および波形データの波形処理条件を定義する分析メソッドファイルを作成する。

（４）波形処理支援装置１０の動作
図７～図９は、図６の波形処理支援装置１０の動作の一例を示すフローチャートである。図１０～図１５は、図６の波形処理支援装置１０により表示部４０の画面に表示される操作画像の一例を示す図である。本例では、使用者が波形処理パラメータである“Ｓｌｏｐｅ”の適切な値を決定する場合を説明する。他の種類の波形処理パラメータの値は、デフォルト値またはその他の値に固定されているものとする。以下の例では、分析装置２がクロマトグラフある。したがって、波形データはクロマトグラムである。

まず、対象波形データ選択部１１は、記憶部２０に記憶された複数の波形データから対象波形データを選択する（図７のステップＳ１）。表示制御部１４は、選択された対象波形データを表示部４０に表示させる（ステップＳ２）。図１０の例では、表示部４０の画面の上部に、対象波形データ２００ａが表示されている。

使用者は、操作部３０を用いて対象波形データ２００ａに含まれる複数のピークのうち、１つの代表ピーク２００ｂを画面上で選択する。表示制御部１４は、代表ピーク２００ｂが使用者により選択されたか否かを判定する（ステップＳ３）。代表ピーク２００ｂが使用者により選択されない場合、ステップＳ３の判定が繰り返される。

代表ピーク２００ｂが選択されると、表示制御部１４は、波形処理パラメータ設定ウィンドウ１６１を表示部４０に表示させる（ステップＳ４）。図１０の例では、表示部４０の画面上の下部に、波形処理パラメータ設定ウィンドウ１６１が表示される。波形処理パラメータ設定ウィンドウ１６１は、入力欄１６２～１６４、選択ボタン１６５～１７０、情報表示ボタン１７１および波形処理実行ボタン１７２を含む。

入力欄１６２～１６４には、“Ｓｌｏｐｅ”、“Ｗｉｄｔｈ”および“Ｄｒｉｆｔ”の値が入力される。選択ボタン１６５は、ピーク分離方法を垂直分割に設定する場合に選択される。選択ボタン１６６は、ピーク分離方法を完全分離に設定する場合に選択される。“Ｄｒｉｆｔ”の値が設定されると、ピーク分離方法が自動的に決定される。そのため、入力欄１６４に“Ｄｒｉｆｔ”の値が入力されると、選択ボタン１６５および１６６は選択不可になる。また、選択ボタン１６５および１６６のいずれか一方が選択されると、入力欄１６４の“Ｄｒｉｆｔ”の値は無視される。

選択ボタン１６７は、図６の第１の選択部１２ａの動作の実行を指示するために用いられる。選択ボタン１６７が選択されると、第１の選択部１２ａの動作が実行される。本例では、第１の選択部１２ａの選択条件は、溶出時間である。この場合、複数のピーク分離情報から代表ピークと同一の溶出時間の範囲内にある複数のピークについてのピーク分離情報が選択される。

選択ボタン１６８は、図６の第２の選択部１２ｂの動作の実行を指示するために用いられる。選択ボタン１６８が選択されると、第２の選択部１２ｂの動作が実行される。この場合、複数のピーク分離情報から代表ピークと同じまたは類似する形状を有する複数のピークについてのピーク分離情報が選択される。

選択ボタン１６９は、表示部４０に頑健性情報を表示させるために選択される。選択ボタン１７０は、表示部４０に統計量を表示させるために選択される。情報表示ボタン１７１は、選択ボタン１６７～１７０のうち選択された選択ボタンにより指定される情報の表示を指示するために用いられる。波形処理実行ボタン１７２は、対象波形データ２００ａについての波形処理の実行を指示するために用いられる。

本例では、使用者は、入力欄１６３および入力欄１６４に “Ｗｉｄｔｈ”および“Ｄｒｉｆｔ”の値を入力する。なお、使用者は、入力欄１６３および入力欄１６４に予め入力されているデフォルト値を用いてもよい。この場合、選択ボタン１６５および選択ボタン１６６は、選択不可能な状態になる。続いて、使用者は、選択ボタン１６７および選択ボタン１６８のうち少なくとも一方を選択する。本例では、選択ボタン１６７および選択ボタン１６８の両方が選択される。

この状態で、表示制御部１４は、情報表示が指示されたか否かを判定する（ステップＳ５）。本例では、図１０の情報表示ボタン１７１が操作されたか否かが判定される。

情報表示が指示された場合には、取得部１２は、記憶部２０に記憶された複数のピーク分離情報を取得する（ステップＳ６）。本例では、図１０の選択ボタン１６７，１６８が選択されているので、代表ピーク２００ｂと同じ溶出時間の範囲内にありかつ代表ピークと同じまたは類似する形状を有する複数のピークが選択されるとともに、選択された複数のピークに対応する複数のピーク分離情報が選択される。

表示制御部１４は、取得部１２により取得された一または複数のピークおよび一または複数のピーク分離情報を一または複数の選択ピークおよび一または複数のピーク分離情報として表示部４０に表示させる（ステップＳ７）。本例では、図１１に示すように、ピーク分離情報表示ウィンドウ１７３に複数の選択ピーク１７３ａの形状および複数の選択ピーク分離情報１７３ｂが表示される。各選択ピーク分離情報１７３ｂは、波形処理パラメータの値として“Ｓｌｏｐｅ”の値および波形処理結果としてピーク面積を含む。各選択ピーク１７３ａにおいてハッチングが付された範囲が波形処理により波形データから分離されたピークの区間である。

使用者は、画面に表示されたピーク分離情報表示ウィンドウ１７３を視認し、適切と考えられる波形処理結果が得られる波形処理パラメータの値がいずれであるかを判断することができる。例えば、使用者は、“Ｓｌｏｐｅ”が４、５および６である場合の波形処理結果（本例では、ピークの面積および区間）が適切であると考えることができる。

また、判定部１３は、複数の選択ピーク分離情報１７３ｂにおける波形処理パラメータの各値の頑健性を判定する（ステップＳ８）。具体的には、判定部１３は、複数の選択ピーク分離情報１７３ｂの波形処理パラメータの各値の再現性を算出し、再現性に基づいて波形処理パラメータの値の頑健性を算出する。表示制御部１４は、判定部１３により得られた判定結果を頑健性情報として表示部４０に表示させる（ステップＳ９）。本例では、図１１に示すように、表示部４０の画面上に頑健性情報１７４が表示される。図１１の頑健性情報１７４の横軸は“Ｓｌｏｐｅ”の値を表し、縦軸は“Ｓｌｏｐｅ”の波形処理結果の再現性を表す。頑健性情報１７４は、例えば、相対標準偏差を示す再現性曲線１７４ａとして表示される。

使用者は、適切であると考えられる波形処理パラメータの値を複数個見出した場合、頑健性情報１７４を視認し、波形処理パラメータの複数個の値のうち最も高い頑健性を有する値を判断することができる。図１１の頑健性情報１７４によると、“Ｓｌｏｐｅ”の値が４～６に設定された場合に波形処理結果の再現性が最も高くなっている。高い再現性を有する波形処理パラメータの値の並びにおいて、両端よりも中央部の値が高い頑健性を有すると考えられる。図１１の例では、最も高い再現性を有する値の範囲の中央の点１７４ｂでの“Ｓｌｏｐｅ”の値は５である。この場合、使用者は、“Ｓｌｏｐｅ”の値５が高い頑健性を有すると判断することができる。

さらに、使用者が頑健性情報１７４の点１７４ｂを選択すると、ピーク分離情報表示ウィンドウ１７３内の複数の選択ピーク１７３ａのうち、“Ｓｌｏｐｅ”の値が５である選択ピーク１７３ａが太い実線の枠で囲まれる。それにより、使用者は、選択された波形処理パラメータの値に対応する選択ピーク１７３ａおよび選択ピーク分離情報１７３ｂを再度確認することができる。

統計部１６は、複数の選択ピーク分離情報に基づいて波形処理パラメータの同一の値により得られた複数の波形処理結果の統計量を算出する（ステップＳ１０）。表示制御部１４は、統計部１６により算出された統計量を表示部４０に表示させる（ステップＳ１１）。本例では、図１１に示すように、複数の選択ピークの統計量１７５が表示部４０の画面上に表示される。図１１の例では、ピーク分離情報表示ウィンドウ１７３に表示された複数の選択ピーク１７３ａについてのピーク面積の平均値、最小値および最大値が表示されている。それにより、使用者は、波形処理パラメータの適切な値および範囲を統計量１７５に基づいて推測することができる。

使用者は、ピーク分離情報表示ウィンドウ１７３、頑健性情報１７４および統計量１７５に基づいて波形処理パラメータの値として適切でかつ高い頑健性を有する値を決定する。図１１の例では、使用者は、“Ｓｌｏｐｅ”の値を５に決定する。

図１１の例では、表示部４０の画面上に波形処理パラメータ入力ボタン１７６が表示される。表示制御部１４は、波形処理パラメータの値の入力が指示されたか否かを判定する（ステップＳ１２）。本例では、操作部３０を用いて波形処理パラメータ入力ボタン１７６が操作されたか否かが判定される。波形処理パラメータの値の入力が指示されない場合、表示制御部１４はステップＳ１２の判定を繰り返す。

波形処理パラメータの値の入力が指示されると、表示制御部１４は、図１２に示すように、表示部４０の画面上に波形処理パラメータ設定ウィンドウ１６１を表示させる。使用者は、決定した波形処理パラメータの値を入力欄１６２に入力する。本例では、使用者は、“Ｓｌｏｐｅ”の値として入力欄１６２に５を入力する。それにより、“Ｓｌｏｐｅ”の値が５に設定される。あるいは、使用者が図１１の頑健性情報１７４において波形処理パラメータの値を指定することにより、入力欄１６２に指定された値が入力されてもよい。また、使用者が図１１のピーク分離情報表示ウィンドウ１７３において１つの選択ピーク分離情報１７１ａを指定することにより、入力欄１６２に指定された選択ピーク分離情報１７１ａの波形処理パラメータの値が入力されてもよい。

表示制御部１４は、波形処理パラメータの値が入力されたか否かを判定する（図８のステップＳ１３）。図１２に示すように、入力欄１６２～１６４に“Ｓｌｏｐｅ”、“Ｗｉｄｔｈ”および“Ｄｒｉｆｔ”の値がそれぞれ入力されると、波形処理実行ボタン１７２が選択可能になる。表示制御部１４は、波形処理の実行が指示されたか否かを判定する（ステップＳ１４）。本例では、波形処理実行ボタン１７２が操作部３０を用いて操作されたか否かが判定される。波形処理の実行が指示されていない場合、ステップＳ１４の判定が繰り返される。

波形処理の実行が指示されると、波形処理部１５は、対象波形データ２００ａに対して図１２の入力欄１６２～１６４に入力された“Ｓｌｏｐｅ”、“Ｗｉｄｔｈ”および“Ｄｒｉｆｔ”の値に基づいて波形処理を実行する（ステップＳ１５）。それにより、対象波形データ２００ａの各ピークについての波形処理結果が得られる。表示制御部１４は、対象波形データ２００ａの各ピークについての波形処理結果を表示部４０に表示させる（ステップＳ１６）。本例では、対象波形データ２００ａのピーク“Ｎｏ．１”～“Ｎｏ．５”についての波形処理結果として、ピークの開始点、ピークの終了点、ピークの強度（ピークトップ強度）、ピークの面積およびピーク分離方法等が得られる。図１３の例では、表示部４０の画面上に、各ピークについての波形処理結果を示す波形処理結果表示ウィンドウ１７７が表示される。図１３には、波形処理結果表示ウィンドウ１７７にピーク“Ｎｏ．２”についてのピーク面積、ピーク強度およびピーク分離方法が表示されている。使用者は、操作部３０を用いて波形処理結果表示ウィンドウ１７７に他のピークについての波形処理結果を表示させることができる。

本例では、図１３に示すように、表示部４０の画面上に分析メソッドファイル作成ボタン１９９が表示される。表示制御部１４は、分析メソッドファイルの作成が指示されたか否かを判定する（ステップＳ１７）。本例では、分析メソッドファイル作成ボタン１９９が操作されたか否かが判定される。

分析メソッドファイルの作成が指示された場合には、分析メソッドファイル作成部１８は、波形処理条件として波形処理パラメータ設定ウィンドウ１６１において設定された複数の波形処理パラメータの値を含む分析メソッドファイルを作成する（ステップＳ１８）。本例では、使用者が図１１の頑健性情報１７４において波形処理パラメータの値を指定した場合、指定された波形処理パラメータの値を含む分析メソッドファイルが作成される。作成された分析メソッドファイルは、記憶部２０に記憶される。

また、情報追加部１７は、対象波形データ２００ａの各ピークの波形処理に用いられた１種類または複数種類の波形処理パラメータの値と波形処理結果とを新たなピーク分離情報として記憶部２０に追加する（ステップＳ１９）。この場合、情報追加部１７は、各ピーク分離情報に対応するピークの形状も記憶部２０に追加する。図１３の例では、ピーク“Ｎо．１”～“Ｎｏ．５”についてのピーク分離情報が各ピークの形状とともに記憶部２０に追加される。

使用者は、表示部４０の画面上に表示された波形処理結果が所望の波形処理結果でないと考える場合、対象波形データ２００ａの各ピークの波形処理結果を手動で修正することができる。本例では、図１３に示すように、表示部４０の画面上に手動波形処理ボタン１８２が表示される。この場合、使用者は、手動波形処理ボタン１８２を操作する。表示制御部１４は、手動波形処理の実行が指示されたか否かを判定する（ステップＳ２０）。本例では、手動波形処理ボタン１８２が操作されたか否かが判定される。

手動波形処理の実行が指示された場合、表示制御部１４は、図１４に示すように、表示部４０に手動波形処理ウィンドウ１９０を表示させる（図９のステップＳ２１）。図１４の例では、手動波形処理ウィンドウ１９０は、ピーク表示ウィンドウ１９１、統計量表示ウィンドウ１９２および修正値表示ウィンドウ１９３を含む。

ピーク表示ウィンドウ１９１には、代表ピーク２００ｂの拡大図が表示されるとともに、ステップＳ１５の波形処理により得られた波形処理結果のうちピーク開始点ＳＰＡおよびピーク終了点ＥＰＡが表示される。ピーク開始点ＳＰＡおよびピーク終了点ＥＰＡは、操作部３０の操作により手動で修正可能である。

統計量表示ウィンドウ１９２には、統計部１６により算出された複数の選択ピークに関するピーク開始点の平均値、最小値および最大値ならびにピーク終了点の平均値、最小値および最大値が表示される。ピーク表示ウィンドウ１９１には、開始点設定範囲Ｒ１および終了点設定範囲Ｒ２が表示される。開始点設定範囲Ｒ１は、統計部１６により算出されたピーク開始点の最小値から最大値までの範囲を示す。終了点設定範囲Ｒ２は、統計部１６により算出されたピーク終了点の最小値から最大値までの範囲を示す。

修正値表示ウィンドウ１９３は、ピーク開始点表示部１９４、ピーク終了点表示部１９５および選択ボタン１９６，１９７を含む。ピーク開始点表示部１９４には、ピーク開始点ＳＰＡの値が自動的に入力される。ピーク終了点表示部１９５には、ピーク終了点ＥＰＡの値が自動的に入力される。選択ボタン１９６は、ピーク分離方法を垂直分割に指定するために選択される。選択ボタン１９７は、ピーク分離方法を完全分離に指定するために選択される。

使用者は、ピーク表示ウィンドウ１９１の開始点設定範囲Ｒ１内でピーク開始点ＳＰＡを修正することができる。また、使用者は、終了点設定範囲Ｒ２内でピーク終了点ＥＰＡを修正することができる。この場合、使用者は、統計量表示ウィンドウ１９２の統計量を参考にすることができる。また、使用者は、修正値表示ウィンドウ１９３のピーク開始点表示部１９４の値またはピーク終了点表示部１９５の値を修正することができる。この場合には、ピーク表示ウィンドウ１９１内のピーク開始点ＳＰＡの位置またはピーク終了点ＥＰＡの位置が自動的に変更される。さらに、使用者は、選択ボタン１９６，１９７いずれかの一方を選択することができる。それにより、使用者は、ピーク分離方法を修正することができる。図１４の例では、ピーク分離方法として垂直分割が指定されている。

手動波形処理ウィンドウ１９０により波形処理結果が修正されると、修正後の波形処理結果を得るための波形処理パラメータの値が変更される。表示制御部１４は、手動波形処理により波形処理結果が修正されたか否かを判定する（ステップＳ２２）。手動波形処理により波形処理結果が修正されていない場合には、表示制御部１４はステップＳ２０に戻る。

ステップＳ２２で手動波形処理により波形処理結果が修正された場合には、波形処理部１５は、修正後の波形処理結果を得るための波形処理パラメータの値を算出する（ステップＳ２３）。この場合、波形処理部１５は、記憶部２０に記憶された複数のピーク分離情報を探索することにより修正後の波形処理結果と同じまたは類似する波形処理結果を得るための波形処理パラメータの値を検出する。

図１４に示すように、表示部４０の画面上には、波形処理実行ボタン１９８が表示される。使用者は、波形処理実行ボタン１９８を操作することにより算出された波形処理パラメータの値を用いた波形処理の実行を指示することができる。

表示制御部１４は、波形処理の実行が指示されたか否かを判定する（ステップＳ２４）。波形処理の実行が指示されていない場合には、波形処理部１５はステップＳ２０に戻る。

ステップＳ２４で波形処理の実行が指示された場合、波形処理部１５は、算出された波形処理パラメータの値を用いて対象波形データ２００ａの波形処理を実行する（ステップＳ２５）。それにより、対象波形データ２００ａの各ピークについて波形処理パラメータの値と波形処理結果との対応関係がピーク分離情報として得られる。表示制御部１４は、表示部４０に波形処理部１５により得られた波形処理結果を表示させる（ステップＳ２６）。

図１５の例では、図１３と同様に、表示部４０の画面上に対象波形データ２００ａ、波形処理パラメータ設定ウィンドウ１６１および波形処理結果表示ウィンドウ１７７が表示される。波形処理パラメータ設定ウィンドウ１６１には、修正後の波形処理結果を得るための波形処理パラメータの値が表示される。波形処理結果表示ウィンドウ１７７には、修正後の波形処理結果が表示される。

情報追加部１７は、波形処理部１５により得られた各ピークについてのピーク分離情報を記憶部２０に追加する（ステップＳ２７）。その後、表示制御部１４は、ステップＳ２０に戻る。

ステップＳ２０において、手動波形処理の実行が指示されない場合には、図６の波形処理支援装置１０の動作が終了する。

なお、対象波形データ２００ａの任意の区間ごとに波形処理パラメータの適切な値を設定する場合には、使用者が代表ピークの２００ｂの区間を変更しながら図７～図９の処理が実行される。

（５）実施の形態の効果
本実施の形態に係る波形処理支援装置１０によれば、複数の選択ピーク１７３ａの形状および複数の選択ピーク分離情報１７３ｂが表示部４０に表示される。この場合、使用者は、表示された複数の選択ピーク１７３ａの形状および複数の選択ピーク分離情報１７３ｂを視認することにより、適切な波形処理結果に対応する波形処理パラメータの値を認識することができる。また、頑健性情報１７４が表示部４０に表示される。それにより、使用者は、頑健性情報を視認することにより、頑健性の高い波形処理パラメータの値を認識することができる。これらの結果、高い頑健性を有しかつ適切な波形処理結果を得ることが可能な波形処理パラメータの値を容易に決定することができる。

また、第１の選択部１２ａにより予め定められた選択条件を満足する一または複数のピーク分離情報が選択され、一または複数の選択ピーク１７３ａの形状および選択ピーク分離情報１７３ｂが表示部４０に表示される。それにより、使用者は、分析装置２により得られた波形データから所望のピークを分離するために適切な波形処理パラメータの値を容易に認識することができる。

また、第２の選択部１２ｂにより対象波形データ２００ａにおける代表ピーク２００ｂに類似する形状を有する一または複数のピークについての一または複数のピーク分離情報が選択され、一または複数の選択ピーク１７３ａの形状および選択ピーク分離情報１７３ｂが表示部４０に表示される。それにより、使用者は、分析装置２により得られた波形データから所望のピークを分離するために適切な波形処理パラメータの値を容易に認識することができる。

さらに、第２の選択部１２ｂは、階層クラスタリング等のクラスタリング手法を用いて代表ピーク２００ｂに類似する形状を有する一または複数のピークを選択する。それにより、代表ピーク２００ｂと同じまたは類似する形状を有する一または複数のピークが容易かつ適切に選択される。

また、情報追加部１７は、波形処理部１５により得られた新たなピーク分離情報を記憶部２０に追加する。それにより、記憶部２０に記憶される多様な複数のピーク分離情報の数が累積的に増加するので、高い頑健性を有しかつ適切な波形処理結果を得ることが可能な波形処理パラメータの値を高い精度で決定することができる。

また、統計部１６は、同一の試料の複数回の分析により得られた複数の波形データの任意のピークについての複数の波形処理結果の統計量を算出する。また、統計部１６により算出された統計量は、表示制御部１４により表示部４０に表示される。この場合、使用者は、複数の波形処理結果の統計量に基づいて、波形処理パラメータの適切な値を認識することができる。

さらに、判定部１３は、複数の選択ピーク分離情報１７３ｂの波形処理パラメータの各値の再現性を算出し、算出された再現性に基づいて波形処理パラメータの値の頑健性を算出する。この場合、同じ試料の複数回の分析により得られた複数の波形データの形状に変化があっても、波形処理結果の再現性が高い場合には波形処理結果の変動が小さい。したがって、波形処理パラメータの各値に対応する波形処理結果の再現性に基づいて波形処理パラメータの各値の頑健性を容易に判定することができる。

また、使用者が頑健性情報１７４において波形処理パラメータの値を指定した場合、指定された波形処理パラメータの値を含む分析メソッドファイルが作成され、記憶部２０に記憶される。それにより、同一の試料についての分析が行われる場合、記憶部２０に記憶された分析メソッドファイルにより、分析装置２による試料の分析条件および波形データの波形処理条件を容易に決定することができる。

（６）他の実施の形態
上記実施の形態の動作の例では、使用者が１種類の波形処理パラメータである“Ｓｌｏｐｅ”の適切な値を決定するための頑健性情報１７４が表示されるが、使用者が２種類以上の波形処理パラメータの適切な値を決定するための頑健性情報が表示されてもよい。

図１６は、２種類の波形処理パラメータの値の頑健性を示す頑健性情報の例を示す図である。図１６の縦軸は“Ｓｌｏｐｅ”の値を表し、横軸は“Ｗｉｄｔｈ”の値を表す。図１６の頑健性情報においては、 “Ｓｌｏｐｅ”の値と“Ｗｉｄｔｈ”の値との組み合わせについての波形処理結果の再現性がドットの濃淡で示されている。最も高い頑健性を有する波形処理パラメータの値の組み合わせが黒いドットで示される。中間の頑健性を有する波形処理パラメータの値の組み合わせがドットパターンを有するドットで示される。最も低い頑健性を有する波形処理パラメータの値の組み合わせが白いドットで示される。図１６の例では、使用者は、“Ｓｌｏｐｅ”の値５および“Ｗｉｄｔｈ”の値４が高い頑健性を有すると判断することができる。

図１７は、３種類の波形処理パラメータの値の頑健性を示す頑健性情報の例を示す図である。図１７の頑健性情報は、互いに直交する第１～第３の軸を有する。第１～第３の軸は、それぞれ“Ｓｌｏｐｅ”の値、“Ｗｉｄｔｈ”の値および“Ｄｒｉｆｔ”の値を表す。図１７の頑健性情報においても、図１６の頑健性情報と同様に、３種類の波形処理パラメータの値の組み合わせについての波形処理結果の再現性がドットの濃淡で示されている。図１７の例では、使用者は、“Ｓｌｏｐｅ”の値５、“Ｗｉｄｔｈ”の値５および“Ｄｒｉｆｔ”の値４が高い頑健性を有すると判断することができる。

上記実施の形態において、第１の選択部１２ａの選択条件は、溶出時間であるが、第１の選択部１２ａの選択条件は、波形データにおけるピークの種別（例えば、リーディングピークおよびテーリングピーク等）、ピークの面積、ピークの強度、ピークの分離度および波形処理パラメータの値のうち少なくとも１つを含んでもよい。それにより、特定の属性または波形処理パラメータの特定の値を有する一または複数のピークの形状が表示部４０に表示される。この場合、使用者は、所望の波形処理結果を得るための波形処理パラメータの値を容易に認識することができる。

上記実施の形態において、波形処理支援装置１０は、機能部として、波形処理部１５を含むが、波形処理支援装置１０とは別に波形処理装置が設けられている場合、波形処理部１５は含まなくてもよい。

上記実施の形態において、表示部４０が制御装置１に設けられるが、表示部４０の機能として、分析装置２の表示部２１が用いられてもよい。また、記憶部２０が制御装置１に設けられるが、波形処理支援装置１０が機能部として記憶部２０を含んでもよい。

（７）態様
上述した複数の例示的な実施の形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

（第１項）一態様に係る波形処理支援装置は、分析装置の分析結果を示す波形データから波形処理パラメータの値に基づいてピークを分離する波形処理を表示部を用いて支援する波形処理支援装置であって、
波形処理パラメータの複数の値に基づいて一または複数の波形データから分離された複数のピークについて、波形処理パラメータの複数の値と複数の波形処理結果との対応関係を複数のピーク分離情報として取得する取得部と、
取得部により取得された複数のピーク分離情報に基づいて波形処理パラメータの各値の頑健性を判定する判定部と、
取得部により取得された複数のピーク分離情報および判定部により算出された波形処理パラメータの各値の頑健性を示す頑健性情報を表示部に表示させる表示制御部とを備えてもよい。

一態様に係る波形処理支援装置によれば、波形処理パラメータの複数の値と複数の波形処理結果との対応関係が複数のピーク分離情報として表示部に表示される。それにより、使用者は、表示された複数のピーク分離情報を視認することにより、使用者は、適切な波形処理結果に対応する波形処理パラメータの値を認識することができる。また、波形処理パラメータの各値の頑健性を示す頑健性情報が表示部に表示される。それにより、使用者は、頑健性情報を視認することにより、頑健性の高い波形処理パラメータの値を認識することができる。これらの結果、高い頑健性を有しかつ適切な波形処理結果を得ることが可能な波形処理パラメータの値を容易に決定することができる。

（第２項） 第１項に記載の波形処理支援装置において、
取得部は、複数のピーク分離情報のうち予め定められた選択条件を満足する一または複数のピーク分離情報を選択する第１の選択部を含み、
表示制御部は、第１の選択部により選択された一または複数のピーク分離情報にそれぞれ対応する一または複数のピークの形状を表示部に表示させてもよい。

第２項に記載の波形処理支援装置によれば、使用者は、表示された一または複数のピークの形状および波形処理結果に基づいて、適切な波形処理結果を得ることが可能な波形処理パラメータの値を容易かつ迅速に認識することができる。

（第３項） 第２項に記載の波形処理支援装置において、選択条件は、波形データにおけるピークの位置、ピークの種別、ピークの面積、ピークの強度、ピークの分離度および波形処理パラメータの値のうち少なくとも１つを含んでもよい。

第３項に記載の波形処理支援装置によれば、特定の属性または波形処理パラメータの特定の値を有する一または複数のピークについてのピーク分離情報が表示部に表示される。それにより、使用者は、所望の波形処理結果を得るための波形処理パラメータの値を容易に認識することができる。

（第４項） 第２または３項に記載の波形処理支援装置において、
取得部は、複数のピーク分離情報のうち、分析装置により得られた波形データにおける一のピークと同じまたは類似する形状を有する一または複数のピークに対応する一または複数のピーク分離情報を選択する第２の選択部を含み、
表示制御部は、第２の選択部により選択された一または複数のピーク分離情報にそれぞれ対応する一または複数のピークの形状を表示部に表示させてもよい。

第４項に記載の波形処理支援装置によれば、一のピークと同じまたは類似する形状を有する一または複数のピークが表示部に表示される。それにより、使用者は、分析装置により得られた波形データから所望のピークを分離するために適切な波形処理パラメータの値を容易に認識することができる。

（第５項） 第４項に記載の波形処理支援装置において、
第２の選択部は、記憶部に記憶される複数のピーク分離情報に対応する複数のピークから特徴を抽出し、抽出された特徴に基づくクラスタリング手法を用いて一のピークと同じまたは類似する形状を有する一または複数のピークを選択してもよい。

第５項に記載の波形処理支援装置によれば、一のピークと同じまたは類似する形状を有する一または複数のピークが容易かつ適切に選択される。

（第６項） 第１項～第５項のいずれか一項に記載の波形処理支援装置は、
複数のピーク分離情報を記憶する記憶部と、
一または複数の波形データとは異なる波形データに波形処理を行う波形処理部と、
波形処理部により得られた波形処理結果を含む新たなピーク分離情報を記憶部に追加する情報追加部とをさらに備えてもよい。

第６項に記載の波形処理支援装置によれば、記憶部に記憶される複数のピーク分離情報の数が累積的に増加するので、波形処理パラメータの値の決定の精度が向上する。

（第７項） 第６項に記載の波形処理支援装置において、
波形処理部は、取得部により取得された一または複数のピーク分離情報に対応するピークについて波形処理パラメータの複数の値に基づいて波形処理を行うことにより、各ピークについて複数のピーク分離情報を生成し、
情報追加部は、波形処理部により生成された複数の波形処理結果を含むピーク分離情報を記憶部に追加してもよい。

第７項に記載の波形処理支援装置によれば、多様なピーク分離情報が記憶部に記憶される。それにより、使用者は、高い頑健性を有しかつ適切な波形処理結果を得ることが可能な波形処理パラメータの値を高い精度で決定することができる。

（第８項） 第１項～第７項のいずれか一項に記載の波形処理支援装置は、
同じ試料の複数回の分析により得られた複数の波形データの波形処理により得られる複数の波形処理結果の統計量を算出する統計部をさらに備え、
表示制御部は、統計部により算出された統計量を表示部に表示させてもよい。

第８項に記載の波形処理支援装置によれば、使用者は、複数の波形処理結果の統計量に基づいて、波形処理パラメータの適切な値を認識することができる。

（第９項） 第１項～第７項のいずれか一項に記載の波形処理支援装置において、
判定部は、取得部により取得された複数のピーク分離情報に基づいて波形処理パラメータの各値に対応する波形処理結果の再現性を算出し、算出された再現性に基づいて頑健性を判定してもよい。

第９項に記載の波形処理支援装置によれば、同じ試料の複数回の分析により得られた複数の波形データの形状に変化があっても、波形処理結果の再現性が高い場合には波形処理結果の変動が小さい。したがって、波形処理パラメータの各値に対応する波形処理結果の再現性に基づいて波形処理パラメータの各値の頑健性を容易に判定することができる。

（第１０項） 第１項～第９項のいずれか一項に記載の波形処理支援装置は、
分析装置による試料の分析条件および分析装置により得られた波形データの波形処理条件を含む分析メソッドファイルを作成する作成部をさらに備え、
表示制御部は、波形処理パラメータの値を指定可能に頑健性情報を表示し、
作成部は、頑健性情報において指定された波形処理パラメータの値を含む分析メソッドファイルを作成してもよい。

第１０項に記載の波形処理支援装置によれば、使用者が頑健性情報において波形処理パラメータの値を指定した場合、指定された波形処理パラメータの値を含む分析メソッドファイルが作成される。それにより、同一の試料についての分析が行われる場合、作成された分析メソッドにより、分析装置による試料の分析条件および波形データの波形処理条件を容易に決定することができる。

（第１１項） 他の態様に係る波形処理支援方法は、分析装置の分析結果を示す波形データから波形処理パラメータの値に基づいてピークを分離する波形処理を表示部を用いて支援する波形処理支援方法であって、
波形処理パラメータの複数の値に基づいて一または複数の波形データから分離された複数のピークについて、波形処理パラメータの複数の値と複数の波形処理結果との対応関係を複数のピーク分離情報として取得するステップと、
取得された複数のピーク分離情報に基づいて波形処理パラメータの各値の頑健性を判定するステップと、
取得された複数のピーク分離情報および判定された波形処理パラメータの各値の頑健性を示す頑健性情報を表示部に表示させるステップとを含んでもよい。

他の態様に係る波形処理支援方法によれば、波形処理パラメータの複数の値と複数の波形処理結果との対応関係が複数のピーク分離情報として表示部に表示される。それにより、使用者は、表示された複数のピーク分離情報を視認することにより、適切な波形処理結果に対応する波形処理パラメータの値を認識することができる。また、波形処理パラメータの各値の頑健性を示す頑健性情報が表示部に表示される。それにより、使用者は、頑健性情報を視認することにより、頑健性の高い波形処理パラメータの値を認識することができる。これらの結果、高い頑健性を有しかつ適切な波形処理結果を得ることが可能な波形処理パラメータの値を容易に決定することができる。

（第１２項） 第１１項に記載の波形処理支援方法において、
取得するステップは、複数のピーク分離情報のうち予め定められた選択条件を満足する一または複数のピーク分離情報を選択することを含み、
表示させるステップは、選択された一または複数のピーク分離情報にそれぞれ対応する一または複数のピークの形状を表示部に表示させることを含んでもよい。

第１２項に記載の波形処理支援方法によれば、使用者は、表示された一または複数のピークの形状および波形処理結果に基づいて、適切な波形処理結果を得ることが可能な波形処理パラメータの値を容易かつ迅速に認識することができる。

（第１３項） 第１１または１２項に記載の波形処理支援方法において、
取得するステップは、複数のピーク分離情報のうち、分析装置により得られた波形データにおける一のピークに類似する形状を有する一または複数のピークに対応する一または複数のピーク分離情報を選択することを含み、
表示させるステップは、取得するステップにより取得された一または複数のピーク分離情報にそれぞれ対応する一または複数のピークの形状を表示部に表示させてもよい。

第１３項に記載の波形処理支援方法によれば、一のピークと同じまたは類似する形状を有する一または複数のピークが表示部に表示される。それにより、使用者は、分析装置により得られた波形データから所望のピークを分離するために適切な波形処理パラメータの値を容易に認識することができる。

（第１４項） 第１１～第１３項のいずれか一項に記載の波形処理支援方法は、
複数のピーク分離情報を記憶するステップと、
一または複数の波形データとは異なる波形データに波形処理を行うステップと、
異なる波形データの波形処理により得られた波形処理結果を含む新たなピーク分離情報を追加的に記憶するステップとをさらに含んでもよい。

第１４項に記載の波形処理支援方法によれば、記憶部に記憶される複数のピーク分離情報の数が累積的に増加するので、波形処理パラメータの値の決定の精度が向上する。

（第１５項） 第１１～第１４項のいずれか一項に記載の波形処理支援方法において、
頑健性を判定するステップは、取得された複数のピーク分離情報に基づいて波形処理パラメータの各値に対応する波形処理結果の再現性を算出し、算出された再現性に基づいて頑健性を判定することを含んでもよい。

第１５項に記載の波形処理支援方法によれば、同じ試料の複数回の分析により得られた複数の波形データの形状に変化があっても、波形処理結果の再現性が高い場合には波形処理結果の変動が小さい。したがって、波形処理パラメータの各値に対応する波形処理結果の再現性に基づいて波形処理パラメータの各値の頑健性を容易に判定することができる。

１…制御装置，２…分析装置，１０…波形処理支援装置，１１…対象波形データ選択部，１２…取得部，１２ａ…第１の選択部，１２ｂ…第２の選択部，１３…判定部，１４…表示制御部，１５…波形処理部，１６…統計部，１７…情報追加部，１８…分析メソッドファイル作成部，２０…記憶部，２１…表示部，３０…操作部，４０…表示部，５０…入出力Ｉ／Ｆ，６０…バス，１００…分析システム，１１０…ＣＰＵ，１２０…ＲＡＭ，１３０…ＲＯＭ，１６１…波形処理パラメータ設定ウィンドウ，１６２，１６３…入力欄，１６５～１７０…選択ボタン，１７１…情報表示ボタン，１７１ａ…選択ピーク分離情報，１７２…波形処理実行ボタン，１７３…ピーク分離情報表示ウィンドウ，１７３ａ…選択ピーク，１７３ｂ…選択ピーク分離情報，１７４…頑健性情報，１７４ａ…再現性曲線，１７５…統計量，１７６…波形処理パラメータ入力ボタン，１７７…波形処理結果表示ウィンドウ，１８２…手動波形処理ボタン，１９０…手動波形処理ウィンドウ，１９１…ピーク表示ウィンドウ，１９２…統計量表示ウィンドウ，１９３…修正値表示ウィンドウ，１９４…ピーク開始点表示部，１９５…ピーク終了点表示部，１９６，１９７…選択ボタン，１９８…波形処理実行ボタン，１９９…分析メソッドファイル作成ボタン，２００ａ…対象波形データ，２００ｂ…代表ピーク

Claims (15)

1. 分析装置の分析結果を示す波形データから波形処理パラメータの値に基づいてピークを分離する波形処理を表示部を用いて支援する波形処理支援装置であって、
   波形処理パラメータの複数の値に基づいて一または複数の波形データから分離された複数のピークについて、前記波形処理パラメータの複数の値と複数の波形処理結果との対応関係を複数のピーク分離情報として取得する取得部と、
   前記取得部により取得された前記複数のピーク分離情報に基づいて前記波形処理パラメータの各値の頑健性を判定する判定部と、
   前記取得部により取得された前記複数のピーク分離情報および前記判定部により算出された前記波形処理パラメータの各値の頑健性を示す頑健性情報を前記表示部に表示させる表示制御部とを備えた、波形処理支援装置。
2. 前記取得部は、前記複数のピーク分離情報のうち予め定められた選択条件を満足する一または複数のピーク分離情報を選択する第１の選択部を含み、
   前記表示制御部は、前記第１の選択部により選択された一または複数の前記複数のピーク分離情報にそれぞれ対応する一または複数のピークの形状を前記表示部に表示させる、請求項１記載の波形処理支援装置。
3. 前記選択条件は、波形データにおけるピークの位置、ピークの種別、ピークの面積、ピークの強度、ピークの分離度および波形処理パラメータの値のうち少なくとも１つを含む、請求項２記載の波形処理支援装置。
4. 前記取得部は、前記複数のピーク分離情報のうち、前記分析装置により得られた波形データにおける一のピークと同じまたは類似する形状を有する一または複数のピークに対応する一または複数のピーク分離情報を選択する第２の選択部を含み、
   前記表示制御部は、前記第２の選択部により選択された一または複数のピーク分離情報にそれぞれ対応する一または複数のピークの形状を前記表示部に表示させる、請求項２または３記載の波形処理支援装置。
5. 前記第２の選択部は、前記複数のピーク分離情報に対応する複数のピークから特徴を抽出し、抽出された特徴に基づくクラスタリング手法を用いて前記一のピークと同じまたは類似する形状を有する一または複数のピークを選択する、請求項４記載の波形処理支援装置。
6. 前記複数のピーク分離情報を記憶する記憶部と、
   前記一または複数の波形データとは異なる波形データに前記波形処理を行う波形処理部と、
   前記波形処理部により得られた波形処理結果を含む新たなピーク分離情報を前記記憶部に追加する情報追加部とをさらに備えた、請求項１～５のいずれか一項に記載の波形処理支援装置。
7. 前記波形処理部は、前記取得部により取得された一または複数のピーク分離情報に対応するピークについて前記波形処理パラメータの複数の値に基づいて波形処理を行うことにより、各ピークについて複数のピーク分離情報を生成し、
   前記情報追加部は、前記波形処理部により生成された前記複数の波形処理結果を含むピーク分離情報を前記記憶部に追加する、請求項６記載の波形処理支援装置。
8. 同じ試料の複数回の分析により得られた複数の波形データの波形処理により得られる複数の波形処理結果の統計量を算出する統計部をさらに備え、
   前記表示制御部は、前記統計部により算出された統計量を前記表示部に表示させる、請求項１～７のいずれか一項に記載の波形処理支援装置。
9. 前記判定部は、前記取得部により取得された前記複数のピーク分離情報に基づいて前記波形処理パラメータの各値に対応する波形処理結果の再現性を算出し、算出された前記再現性に基づいて前記頑健性を判定する、請求項１～７のいずれか一項に記載の波形処理支援装置。
10. 前記分析装置による試料の分析条件および前記分析装置により得られた波形データの波形処理条件を含む分析メソッドファイルを作成する作成部をさらに備え、
    前記表示制御部は、前記波形処理パラメータの値を指定可能に前記頑健性情報を表示し、
    前記作成部は、前記頑健性情報において指定された前記波形処理パラメータの値を含む分析メソッドファイルを作成する、請求項１～９のいずれか一項に記載の波形処理支援装置。
11. 分析装置の分析結果を示す波形データから波形処理パラメータの値に基づいてピークを分離する波形処理を表示部を用いて支援する波形処理支援方法であって、
    波形処理パラメータの複数の値に基づいて一または複数の波形データから分離された複数のピークについて、前記波形処理パラメータの複数の値と複数の波形処理結果との対応関係を複数のピーク分離情報として取得するステップと、
    前記取得された複数のピーク分離情報に基づいて前記波形処理パラメータの各値の頑健性を判定するステップと、
    前記取得された複数のピーク分離情報および前記判定された前記波形処理パラメータの各値の頑健性を示す頑健性情報を前記表示部に表示させるステップとを含む、波形処理支援方法。
12. 前記取得するステップは、前記複数のピーク分離情報のうち予め定められた選択条件を満足する一または複数の前記複数のピーク分離情報を選択することを含み、
    前記表示させるステップは、前記選択された一または複数の前記複数のピーク分離情報にそれぞれ対応する一または複数のピークの形状を前記表示部に表示させることを含む、請求項１１記載の波形処理支援方法。
13. 前記取得するステップは、前記複数のピーク分離情報のうち、前記分析装置により得られた波形データにおける一のピークに類似する形状を有する一または複数のピークに対応する一または複数のピーク分離情報を選択することを含み、
    前記表示させるステップは、前記取得するステップにより取得された一または複数の前記複数のピーク分離情報にそれぞれ対応する一または複数のピークの形状を前記表示部に表示させることを含む、請求項１１または１２記載の波形処理支援方法。
14. 前記複数のピーク分離情報を記憶するステップと、
    前記一または複数の波形データとは異なる波形データに前記波形処理を行うステップと、
    前記異なる波形データの波形処理により得られた波形処理結果を含む新たなピーク分離情報を追加的に記憶するステップとをさらに含む、請求項１１～１３のいずれか一項に記載の波形処理支援方法。
15. 前記頑健性を判定するステップは、前記取得された前記複数のピーク分離情報に基づいて前記波形処理パラメータの各値に対応する波形処理結果の再現性を算出し、算出された前記再現性に基づいて前記頑健性を判定することを含む、請求項１１～１４のいずれか一項に記載の波形処理支援方法。

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