JP2017191002A - データ処理装置 - Google Patents

データ処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2017191002A
JP2017191002A JP2016080276A JP2016080276A JP2017191002A JP 2017191002 A JP2017191002 A JP 2017191002A JP 2016080276 A JP2016080276 A JP 2016080276A JP 2016080276 A JP2016080276 A JP 2016080276A JP 2017191002 A JP2017191002 A JP 2017191002A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
parameter
peak
waveform
processing unit
chromatogram
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016080276A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6631373B2 (ja
Inventor
太 黒飛
Futoshi Kurotobi
太 黒飛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2016080276A priority Critical patent/JP6631373B2/ja
Publication of JP2017191002A publication Critical patent/JP2017191002A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6631373B2 publication Critical patent/JP6631373B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【課題】自動で波形処理されたデータを補正する作業を効率化できるデータ処理装置を提供する。
【解決手段】データ処理装置1において、制御部14は、自動波形処理部143及び手動波形処理部144などとして機能する。自動波形処理部143は、予め記憶部13に記憶されているパラメータ132に基づいて、クロマトグラムにおけるピークを自動で検出する。自動波形処理部143によって検出されるピークが分析に適さないものである場合には、ユーザは、操作部11を操作して、ピークに対して手動操作による補正を行う。手動波形処理部144は、ユーザによる手動操作に基づいて、ピークのパラメータを抽出し、その抽出したパラメータを記憶部13のパラメータ132に反映させる。その後は、変更された後のパラメータ132に基づいて、正確なピークが自動で検出される。
【選択図】 図2

Description

本発明は、クロマトグラムデータに対して自動で波形処理を行うデータ処理装置に関するものである。
従来より、クロマトグラフで得られるクロマトグラムデータの分析を行うに際して、自動で波形処理を行うデータ処理装置が利用されている。
このようなデータ処理装置は、波形処理として、例えば、クロマトグラムデータにおけるピークを検出する処理などを行う。具体的には、データ処理装置は、クロマトグラムデータにおけるピークの開始点及び終了点を検出することで、その開始点から終了点までの波形をピークとして認識(検出)する。そして、データ処理装置は、ピークの開始点と終了点とを結ぶベースラインを作成し、このベースラインとピークとで囲まれる領域の面積を算出する。データ処理装置では、このような処理が自動で行われている(例えば、下記特許文献1参照)。
データ処理装置では、自動での波形処理を行うための各種パラメータを予め記憶している。そして、データ処理装置は、クロマトグラムデータ上の各情報(各点)と、パラメータとを比較し、パラメータを満たす部分を検出している。
このようなデータ処理装置を用いる場合において、データ処理装置による処理結果がユーザが所望する内容とは異なる場合がある。例えば、ピークの開始点及び終了点が本来の位置からずれて検出される場合がある。この場合には、ユーザは、表示部などに表示されるクロマトグラムを確認しながら、手動操作でピークの開始点及び終了点を変更(補正)する。そして、ユーザは、変更した後の正確なピークに基づいて分析を行う。
特開2004−271422号公報
上記のような従来のデータ処理装置では、ユーザ作業が煩雑化するおそれがあった。具体的には、分析動作を複数回にわたって行うような場合には、ピークの開始点及び終了点が適切な位置からずれて検出されることが繰り返し発生してしまう。そして、ユーザは、分析動作のたびに、手動操作でピークの開始点及び終了点を変更する必要がある。また、クロマトグラムデータに含まれるピークの数が多い場合や、分析動作の回数が多い場合などには、ユーザ作業が一層煩雑化してしまう。
本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであり、自動で波形処理されたデータを補正する作業を効率化できるデータ処理装置を提供することを目的とする。
(1)本発明に係るデータ処理装置は、自動波形処理部と、記憶部と、表示処理部と、手動波形処理部とを備える。前記自動波形処理部は、クロマトグラムデータの中から特定のパラメータを満たす部分の波形をピークとして自動で検出する。前記記憶部は、前記自動波形処理部による処理に用いられる前記パラメータを記憶する。前記表示処理部は、前記自動波形処理部により検出されたピークを表示画面に表示させる。前記手動波形処理部は、前記表示画面に表示されているピークに対するユーザによる手動操作に基づいて、当該ピークのパラメータが指定された場合に、その指定されたパラメータを前記記憶部に記憶されている前記パラメータに反映させる。
このような構成によれば、自動波形処理部によって、記憶部に記憶されるパラメータに基づいて、クロマトグラムデータから自動でピークが検出された場合であって、検出されたピークが分析に適さないものである場合には、ユーザは、ピークに対して手動操作を行うことにより、ピークを補正できる。そして、手動波形処理部は、ユーザによる手動操作に基づいて、ピークのパラメータが指定された場合には、その指定されたパラメータを記憶部に記憶されているパラメータに反映させる。
すなわち、記憶部に記憶されるパラメータが適切な値でない場合には、手動波形処理部によって、ユーザの手動操作によるピークの補正に伴うパラメータの指定を受け付け、その指定を記憶部のパラメータに反映させて適切な値に変更できる。そして、その後に波形処理を行う際には、自動波形処理部によって、適切な値のパラメータに基づいてピークが自動で検出される。
このように、ユーザによって、一度、手動操作でピークが補正されれば、その後は、変更された後のパラメータに基づいて、正確なピークが自動で検出される。
そのため、ユーザによる手動操作が繰り返し行われることを抑制できる。
その結果、自動で波形処理されたデータ(クロマトグラムデータ)を補正する作業を効率化できる。
(2)また、前記表示処理部は、前記手動波形処理部により指定が反映された前記パラメータを前記表示画面に表示させてもよい。
このような構成によれば、ユーザは、適切な値のパラメータを表示画面において確認できる。
具体的には、ユーザが表示画面に表示されているピークに対して手動操作を行い、ピークのパラメータを指定した場合には、その指定が反映されたパラメータの値を正確に確認することが難しい場合がある。しかし、その指定が反映されたパラメータを表示画面に表示させることにより、ユーザは、適切な値のパラメータを正確に確認することができる。
(3)また、前記パラメータには、ピークの開始点における波形の傾き、ピークの終了点における波形の傾き、及び、前記開始点と前記終了点との間の幅の少なくとも1つが含まれてもよい。
このような構成によれば、ピークを自動で検出するのに適切な種類のパラメータが、ユーザの手動操作により指定され、記憶部に記憶されているパラメータに反映される。したがって、その後に変更された後のパラメータに基づいてピークを自動で検出すれば、クロマトグラムデータから精度よくピークを検出できる。
本発明によれば、記憶部に記憶されるパラメータが適切な値でない場合には、ユーザの手動操作によるピークの補正に伴うパラメータの指定を受け付け、その指定を記憶部のパラメータに反映させて適切な値に変更できる。そして、その後に波形処理を行う際には、適切な値のパラメータに基づいてピークが自動で検出される。そのため、ユーザによる手動操作が繰り返し行われることを抑制できる。その結果、自動で波形処理されたデータを補正する作業を効率化できる。
本発明の一実施形態に係るデータ処理装置、及び、当該データ処理装置とともに用いられるガスクロマトグラフの構成例を示した概略図である。 図1のデータ処理装置の制御部、及び、その周辺の部材の具体的構成を示したブロック図である。 表示画面の表示態様の一例であって、予め記憶部に記憶しているパラメータに基づいて自動波形処理が行われる際の表示例を示した概略図である。 制御部による処理の一例を示したフローチャートである。 表示画面の表示態様の一例であって、手動波形処理が行われる際の表示例を示した概略図である。
1.ガスクロマトグラフの全体構成
図1は、本発明の一実施形態に係るデータ処理装置1、及び、当該データ処理装置1とともに用いられるガスクロマトグラフ2の構成例を示した概略図である。
データ処理装置1は、ガスクロマトグラフ2で得られるデータに対して各種のデータ処理を行うための装置である。データ処理装置1は、例えば、コンピュータにより構成される。データ処理装置1の詳しい構成については、後述する。
ガスクロマトグラフ2は、キャリアガスとともに試料ガスをカラム3内に供給することにより分析を行うためのものであり、上記カラム3以外に、カラムオーブン4、試料導入部5及び検出器6などを備えている。
カラム3は、例えば、キャピラリカラムからなる。カラム3は、ヒータ及びファンなど(いずれも図示せず)とともにカラムオーブン4内に収容されている。
カラムオーブン4は、カラム3を加熱するためのものであり、分析時にはヒータ及びファンを適宜駆動させる。
試料導入部5は、カラム3内にキャリアガス及び試料ガスを導入するためのものであり、その内部に試料気化室(図示せず)が形成されている。この試料気化室には、液体試料が注入され、試料気化室内で気化された試料が、キャリアガスとともにカラム3内に導入される。また、試料気化室には、ガス供給流路7及びスプリット流路8が連通している。
ガス供給流路7は、試料導入部5の試料気化室内にキャリアガスを供給するための流路である。
スプリット流路8は、スプリット導入法によりカラム3内にキャリアガス及び試料ガスを導入する際に、試料気化室内のガス(キャリアガス及び試料ガスの混合ガス)の一部を所定のスプリット比で外部に排出するための流路である。
検出器6は、例えば、水素炎イオン化検出器(FID)や、炎光光度検出器(FPD)により構成される。検出器6は、カラム3から導入されるキャリアガスに含まれる各試料成分を順次検出する。
ガスクロマトグラフ2において試料を測定する際は、分析対象となる試料が試料導入部5に注入される。試料は、試料気化室において気化される。また、試料導入部5の試料気化室には、ガス供給流路7を介してキャリアガスが供給される。
試料気化室内で気化された試料は、キャリアガスとともにカラム3内に導入される。試料に含まれる各試料成分は、カラム3内を通過する過程で分離されて、検出器6に順次導入される。
そして、検出器6において、カラム3から導入されるキャリアガスに含まれる各試料成分が順次検出される。また、検出器6からの検出信号が、データ処理装置1に入力される。
データ処理装置1では、入力された信号に基づいてクロマトグラムが生成される。そして、ユーザは、得られたクロマトグラムを確認して、各種分析を行う。
2.制御部及び周辺の部材の具体的構成
図2は、データ処理装置1の制御部14、及び、その周辺の部材の具体的構成を示したブロック図である。
データ処理装置1は、操作部11と、表示部12と、記憶部13と、制御部14とを備えている。
操作部11は、例えば、キーボード及びマウスなどにより構成される。ユーザは、操作部11を操作することにより、分析条件などの各種情報を制御部14に入力することができる。
表示部12は、例えば、液晶表示器などにより構成される。表示部12には、制御部14の制御により、分析結果などの各種情報が表示される。
記憶部13は、例えば、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)及びハードディスクなどにより構成されている。記憶部13は、検出データ131と、複数のパラメータ132とを記憶している。
検出データ131は、後述するデータ処理部141によって、検出器6からの検出信号に基づいて生成されるクロマトグラムのデータ(クロマトグラムデータ)である。
各パラメータ132は、クロマトグラムにおけるピークを特定するための数値データ(閾値)であって、予め記憶部13に記憶されている。具体的には、パラメータ132には、クロマトグラムにおけるピークの開始点における波形の傾きを表す数値データ、ピークの終了点における波形の傾きを表す数値データ、及び、ピークの開始点と終了点との間の幅を表す数値データが含まれる。
制御部14は、例えば、CPU(Central Processing Unit)を含む構成である。制御部14は、操作部11、表示部12及び検出器6との間で、電気信号の入力又は出力が可能である。制御部14は、必要に応じて、記憶部13に情報を格納し、また、記憶部13に記憶されている情報を読み出す。制御部14は、CPUがプログラムを実行することにより、データ処理部141、表示処理部142、自動波形処理部143及び手動波形処理部144などとして機能する。
データ処理部141は、検出器6からの検出信号に基づいてクロマトグラムを得る。データ処理部141で生成されたクロマトグラムのデータ(クロマトグラムデータ)は、検出データ131として記憶部13に格納される。
表示処理部142は、データ処理部141によって生成されたクロマトグラムデータに基づいて、表示部12にリアルタイムでクロマトグラムを表示させる処理を行う。すなわち、データ処理部141でクロマトグラムデータが生成されると、上記したように、そのデータが検出データ131として記憶部13に格納されるとともに、リアルタイムで表示部12にクロマトグラムが表示される。
自動波形処理部143は、記憶部13に記憶されている検出データ131及びパラメータ132を読み出し、検出データ131(クロマトグラムデータ)の中からパラメータ132を満たす部分の波形をピークとして自動で検出する処理を行う。具体的には、自動波形処理部143は、パラメータ132に基づいて、検出データ131で表されるクロマトグラムにおけるピークの開始点及び終了点を検出するとともに、その開始点と終了点との間の幅が所定値以上であるか否かを検出する。
手動波形処理部144は、詳しくは後述するが、ユーザによる操作部11の操作に基づいて、クロマトグラムのピークに関する変更(補正)を受け付ける。また、手動波形処理部144は、当該受け付けた内容を記憶部13に記憶されているパラメータ132に反映させる。
表示処理部142は、上記した処理に加えて、自動波形処理部143によって検出されたクロマトグラムのピークを、表示部12に表示させる処理を行う。また、表示処理部142は、手動波形処理部144が受け付けた内容に基づいて、表示部12に表示されているクロマトグラムのピークを補正して表示する処理を行う。
3.表示画面の画面構成
図3は、表示画面121の表示態様の一例であって、予め記憶部13に記憶しているパラメータ132に基づいて自動波形処理が行われる際の表示例を示した概略図である。
上記した表示部12(図2参照)には、表示画面121が含まれている。
表示画面121には、クロマトグラム領域122と、パラメータ領域123とが含まれている。
クロマトグラム領域122は、記憶部13に記憶されている検出データ131に基づくクロマトグラムを表示するための領域である。なお、クロマトグラム領域122では、横軸が時間を表し、縦軸が信号強度を表している。
パラメータ領域123は、記憶部13に記憶されているパラメータ132を表示するための領域である。パラメータ領域123には、第1パラメータ表示領域124と、第2パラメータ表示領域125と、第3パラメータ表示領域126とが含まれる。第1パラメータ表示領域124、第2パラメータ表示領域125及び第3パラメータ表示領域126のそれぞれに表示される内容は、記憶部123に記憶される各パラメータ132に対応している。
第1パラメータ表示領域124は、クロマトグラム上のデータをピークの開始点として検出するための波形の傾きの数値を表示する領域である。すなわち、第1パラメータ表示領域124には、クロマトグラムにおいて、ピークの開始点を検出するときの閾値となる数値が表示される。具体的には、第1パラメータ表示領域124には、単位時間当たりの信号強度の増加量(Slope)が表示される。
第2パラメータ表示領域125は、クロマトグラム上のデータをピークの終了点として検出するための波形の傾きの数値を表示する領域である。すなわち、第2パラメータ表示領域125には、クロマトグラムにおいて、ピークの終了点を検出するときの閾値となる数値が表示される。具体的には、第2パラメータ表示領域125には、単位時間当たりの信号強度の減少量(Slope)が表示される。
第3パラメータ表示領域126は、クロマトグラムの波形をピークとして検出するためのピークの開始点から終了点までの幅の数値を表示する領域である。すなわち、第3パラメータ表示領域126には、クロマトグラムにおいて、ピークを検出するときの閾値となる数値が表示される。具体的には、第3パラメータ表示領域126には、ピークの開始点から終了点までの時間(Width)が表示される。
4.制御部による制御動作、及び、表示画面の表示態様
図4は、制御部14による処理の一例を示したフローチャートである。
データ処理装置1及びガスクロマトグラフ2において分析動作が開始されると、データ処理部141(図2参照)は、検出器6からの検出信号に基づいてクロマトグラムを生成する。そして、図示しないが、表示画面121には、クロマトグラムがリアルタイムで表示される。また、生成されたクロマトグラムのデータは、検出データ131として記憶部13に格納される。
そして、ユーザによって操作部11が操作されて、波形処理のための操作が行われると、自動波形処理部143は、記憶部13に記憶されている検出データ131及びパラメータ132を読み出す(ステップS101)。また、表示処理部142は、自動波形処理部143が読み出したパラメータ132を、パラメータ領域123に表示させる。
具体的には、図3に示すように、第1パラメータ表示領域124、第2パラメータ表示領域125及び第3パラメータ表示領域126のそれぞれに、記憶部13のパラメータ132の内容が表示される。この例では、第1パラメータ表示領域124に「30」と表示され、第2パラメータ表示領域125に「50」と表示され、第3パラメータ表示領域126に「5」と表示される。
そして、自動波形処理部143は、記憶部13のパラメータ132の内容、すなわち、パラメータ領域123に表示されている内容に基づいて、検出データ131で表されるクロマトグラムにおけるピークを検出する(ステップS102)。また、表示処理部142は、自動波形処理部143によって検出されるクロマトグラムのピークを、表示画面121のクロマトグラム領域122に表示させる。
この例では、表示処理部142は、検出データ131に対応するクロマトグラムを表すグラフAにおける検出されたピークの周辺部分をクロマトグラム領域122に表示させる。
また、自動波形処理部143は、グラフA上において、第1パラメータ表示領域124に表示される条件を満たす部分(点)を、ピークの開始点Bとして検出する。具体的には、自動波形処理部143は、グラフA上において、接線の傾きが正の値となる点であって、その傾きの絶対値(波形の傾きの数値)が30となる点をピークの開始点Bとして検出する。
また、自動波形処理部143は、グラフA上において、第2パラメータ表示領域125に表示される条件を満たす部分(点)を、ピークの終了点Cとして検出する。具体的には、自動波形処理部143は、グラフA上において、接線の傾きが負の値となる点であって、その傾きの絶対値(波形の傾きの数値)が50となる点をピークの終了点Cとして検出する。
また、自動波形処理部143は、検出したピークの開始点から終了点までの幅(時間)が、第3パラメータ表示領域126に表示される条件を満たす場合に、それらの間の波形をピークとして検出する。具体的には、自動波形処理部143は、開始点Bから終了点Cまでの時間が、5秒以上であるか否かを検出する。なお、この例では、検出した開始点Bから終了点Cまでの時間が、5秒以上であるとする。そのため、自動波形処理部143は、グラフAにおいて、開始点Bから終了点Cまでの波形をピークPとして検出する。
そして、表示処理部142は、クロマトグラム領域122において、開始点Bと終了点Cとを結ぶベースラインDを表示させる。これにより、クロマトグラム領域122では、ベースラインDの一端(左端)が開始点Bとして表され、ベースラインDの他端(右端)が終了点Cとして表され、ベースラインDの一端(点B)から他端(点C)までの間の波形がピークPとして表される。
また、ユーザは、クロマトグラム領域122に表示されている内容を確認して分析を行う。
ここで、ユーザは、クロマトグラム領域122で表示されるクロマトグラム(グラフA)のピークPが適切でないと判断した場合には、以下のように、ピークPに対する補正を行う。この例では、グラフA上において、終了点Cが本来の位置からずれている点であるため、ユーザは、以下のようにして、手動操作で終了点Cを補正する。
図5は、表示画面121の表示態様の一例であって、手動波形処理が行われる際の表示例を示した概略図である。
具体的には、ユーザは、操作部11を操作して、ポインタ(図示せず)を終了点Cに重ねる。そして、ユーザは、例えば、ドラッグ操作などにより、終了点Cを選択した後、グラフA上の点Eを選択する。このように、ユーザは、グラフA上のピークの終了点を点Cから点Eに補正する指定を行う(ステップS103でYES)。
そして、手動波形処理部144は、ユーザの指定を受け付け、その内容を記憶部13のパラメータ132に反映させる。具体的には、手動波形処理部144は、グラフAにおける点Eの接線の傾きを抽出する。そして、手動波形処理部144は、その抽出した数値を、記憶部13のパラメータ132に上書きするようにして、反映させる(ステップS104)。
また、表示処理部142は、クロマトグラム領域122において、開始点Bと終了点Eとを結ぶベースラインFを表示させる。これにより、クロマトグラム領域122では、ベースラインFの一端(左端)が開始点Bとして表され、ベースラインFの他端(右端)が終了点Eとして表され、ベースラインFの一端(点B)から他端(点E)までの間の波形がピークPとして表される。
さらに、表示処理部142は、記憶部13で上書きされたパラメータ132に基づいて、パラメータ領域123の表示内容を更新する(ステップS105)。この例では、表示処理部142は、グラフAにおける終了点Eの接線の傾きの絶対値(波形の傾きの数値)である「2」を第2パラメータ表示領域125に表示させる。
なお、この例では、開始点Bは、補正されていないため、パラメータ領域123の第1パラメータ表示領域124の表示内容は変更されない。同様に、開始点Bから新たな終了点Eまでの幅(時間)は、短くなっていないため、パラメータ領域123の第3パラメータ表示領域126の表示内容は変更されない。
すなわち、図示しないが、ユーザによる操作部11の操作(手動操作)によって、開始点Bが補正された場合には、その内容が記憶部13のパラメータ132に反映されるとともに、補正後のパラメータ132に基づいて、第1パラメータ表示領域124の表示が更新される。同様に、補正された後のピークの幅が、予め第3パラメータ表示領域126に表示される幅よりも短い場合には、補正後のピークの幅が記憶部13のパラメータ132に反映されるとともに、補正後のパラメータ132に基づいて、第3パラメータ表示領域126の表示が更新される。
そして、再度、波形処理が開始された場合には、自動波形処理部143によって、補正後のパラメータ132に基づいて、クロマトグラムのピークが自動で検出される。そして、表示処理部142によって、検出されたピークがクロマトグラム領域122に表示される。
5.作用効果
(1)本実施形態では、図2に示すように、自動波形処理部143によって、記憶部13に記憶されるパラメータ132に基づいて、クロマトグラムデータから自動でピークが検出された場合であって、検出されたピークが分析に適さないものである場合には、ユーザは、操作部11を操作して、ピークに対して手動操作を行うことにより、ピークを補正できる。そして、手動波形処理部144は、ユーザによる手動操作に基づいて、ピークのパラメータが指定された場合には、その指定されたパラメータを記憶部13に記憶されているパラメータ132に反映させる。
すなわち、記憶部13に予め記憶されるパラメータ132が適切な値でない場合には、手動波形処理部144によって、ユーザの手動操作によるピークの補正に伴うパラメータの指定を受け付け、その指定を記憶部13のパラメータ132に反映させて適切な値に変更できる。そして、その後に波形処理を行う際には、自動波形処理部143によって、適切な値のパラメータ132(補正後のパラメータ132)に基づいてピークが自動で検出される。
具体的には、図5に示すように、ユーザによって、一度、手動操作でピークが補正されると、手動波形処理部144は、その手動操作による補正に基づいて、適切な値のパラメータを抽出する。そして、抽出されたパラメータは、記憶部13のパラメータ132に反映される。その後は、変更された後(補正後)のパラメータ132に基づいて、正確なピークが自動で検出される。
そのため、ユーザによる手動操作が繰り返し行われることを抑制できる。
その結果、自動で波形処理されたデータ(クロマトグラムデータ)を補正する作業を効率化できる。
(2)また、表示処理部142は、図5に示すように、ユーザの指定が反映された新たなパラメータ132を表示画面121のパラメータ領域123に表示させる。
そのため、ユーザは、適切な値のパラメータ132を表示画面121において確認できる。
具体的には、ユーザが表示画面121に表示されているピークに対して手動操作を行って、ピークのパラメータを指定した場合には、その指定が反映されたパラメータの値を正確に確認することが難しい場合がある。
そこで、本実施形態のように、その指定が反映された新たなパラメータ132を表示画面121に表示させることにより、ユーザは、適切な値のパラメータ132を正確に確認することができる。
(3)また、パラメータ132には、クロマトグラムにおけるピークの開始点における波形の傾きを表す数値データ、ピークの終了点における波形の傾きを表す数値データ、及び、ピークの開始点と終了点との間の幅を表す数値データが含まれる。
そのため、ピークを自動で検出するのに適切な種類のパラメータが、ユーザの手動操作により指定され、記憶部13に記憶されているパラメータ132に反映される。したがって、その後に変更された後のパラメータ132に基づいてピークを自動で検出すれば、クロマトグラムデータから精度よくピークを検出できる。
6.変形例
上記実施形態で説明したパラメータ132、すなわち、ユーザの手動操作により指定されて、記憶部13で指定が反映されるパラメータ132は、その後の波形処理における全てのピークの検出に用いられるような構成に限らない。例えば、記憶部13で指定が反映されたパラメータ132が、その後の波形処理における同一成分のピークの検出のみに用いられてもよいし、同一のクロマトグラムにおける他の成分のピークの検出に用いられてもよい。
また、以上の説明では、データ処理装置1は、ガスクロマトグラフ2とともに用いられるとして説明した。しかし、データ処理装置1は、ガスクロマトグラフ(GC)以外の装置とともに用いることが可能である。例えば、データ処理装置1は、液体クロマトグラフ(LC)、液体クロマトグラフ質量分析装置(LCMS)、又は、ガスクロマトグラフ質量分析装置(GCMS)などとともに用いることが可能である。
また、以上の説明では、パラメータ132には、クロマトグラムにおけるピークの開始点における波形の傾きを表す数値データ、ピークの終了点における波形の傾きを表す数値データ、及び、ピークの開始点と終了点との間の幅を表す数値データが含まれるとして説明した。しかし、パラメータ132には、クロマトグラムにおけるピークの開始点における波形の傾きを表す数値データ、ピークの終了点における波形の傾きを表す数値データ、及び、ピークの開始点と終了点との間の幅を表す数値データの少なくとも1つが含まれればよく、また、他のパラメータが含まれてもよい。
1 データ処理装置
13 記憶部
14 制御部
121 表示画面
132 パラメータ
142 表示処理部
143 自動波形処理部
144 手動波形処理部

Claims (3)

  1. クロマトグラムデータの中から特定のパラメータを満たす部分の波形をピークとして自動で検出する自動波形処理部と、
    前記自動波形処理部による処理に用いられる前記パラメータを記憶する記憶部と、
    前記自動波形処理部により検出されたピークを表示画面に表示させる表示処理部と、
    前記表示画面に表示されているピークに対するユーザによる手動操作に基づいて、当該ピークのパラメータが指定された場合に、その指定されたパラメータを前記記憶部に記憶されている前記パラメータに反映させる手動波形処理部とを備えることを特徴とするデータ処理装置。
  2. 前記表示処理部は、前記手動波形処理部により指定が反映された前記パラメータを前記表示画面に表示させることを特徴とする請求項1に記載のデータ処理装置。
  3. 前記パラメータには、ピークの開始点における波形の傾き、ピークの終了点における波形の傾き、及び、前記開始点と前記終了点との間の幅の少なくとも1つが含まれることを特徴とする請求項1又は2に記載のデータ処理装置。
JP2016080276A 2016-04-13 2016-04-13 データ処理装置 Active JP6631373B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016080276A JP6631373B2 (ja) 2016-04-13 2016-04-13 データ処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016080276A JP6631373B2 (ja) 2016-04-13 2016-04-13 データ処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017191002A true JP2017191002A (ja) 2017-10-19
JP6631373B2 JP6631373B2 (ja) 2020-01-15

Family

ID=60085860

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016080276A Active JP6631373B2 (ja) 2016-04-13 2016-04-13 データ処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6631373B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114646715A (zh) * 2020-12-21 2022-06-21 株式会社岛津制作所 波形处理辅助装置以及波形处理辅助方法
JP7463944B2 (ja) 2020-11-09 2024-04-09 株式会社島津製作所 波形処理支援装置および波形処理支援方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0335162A (ja) * 1989-06-30 1991-02-15 Shimadzu Corp クロマトグラフ用データ処理装置
JPH11218530A (ja) * 1998-02-02 1999-08-10 Shimadzu Corp クロマトグラフ用データ処理装置
JP2003161725A (ja) * 2002-10-10 2003-06-06 Hitachi Ltd クロマトグラム解析方法
JP2004271422A (ja) * 2003-03-11 2004-09-30 Shimadzu Corp クロマトグラフ用データ処理装置
JP2010256070A (ja) * 2009-04-22 2010-11-11 Jasco Corp クロマトグラフィー・データ処理装置およびプログラム
JP2011141217A (ja) * 2010-01-08 2011-07-21 Shimadzu Corp 分析装置制御システム及び該システム用プログラム
JP2014134514A (ja) * 2013-01-11 2014-07-24 Shimadzu Corp クロマトグラフ用データ処理装置
US10371676B2 (en) * 2013-10-04 2019-08-06 Shimadzu Corporation Waveform data processing device and waveform data processing program

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0335162A (ja) * 1989-06-30 1991-02-15 Shimadzu Corp クロマトグラフ用データ処理装置
JPH11218530A (ja) * 1998-02-02 1999-08-10 Shimadzu Corp クロマトグラフ用データ処理装置
JP2003161725A (ja) * 2002-10-10 2003-06-06 Hitachi Ltd クロマトグラム解析方法
JP2004271422A (ja) * 2003-03-11 2004-09-30 Shimadzu Corp クロマトグラフ用データ処理装置
JP2010256070A (ja) * 2009-04-22 2010-11-11 Jasco Corp クロマトグラフィー・データ処理装置およびプログラム
JP2011141217A (ja) * 2010-01-08 2011-07-21 Shimadzu Corp 分析装置制御システム及び該システム用プログラム
JP2014134514A (ja) * 2013-01-11 2014-07-24 Shimadzu Corp クロマトグラフ用データ処理装置
US10371676B2 (en) * 2013-10-04 2019-08-06 Shimadzu Corporation Waveform data processing device and waveform data processing program

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7463944B2 (ja) 2020-11-09 2024-04-09 株式会社島津製作所 波形処理支援装置および波形処理支援方法
CN114646715A (zh) * 2020-12-21 2022-06-21 株式会社岛津制作所 波形处理辅助装置以及波形处理辅助方法
CN114646715B (zh) * 2020-12-21 2023-08-04 株式会社岛津制作所 波形处理辅助装置以及波形处理辅助方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP6631373B2 (ja) 2020-01-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4697302B2 (ja) クロマトグラフ質量分析装置
JP5821767B2 (ja) クロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置
JP6036304B2 (ja) クロマトグラフ質量分析用データ処理装置
JP5262482B2 (ja) ガスクロマトグラフ装置
JP5454462B2 (ja) クロマトグラフ質量分析装置
CN105492903A (zh) 色谱质量分析装置
US11209406B2 (en) Data processing device
JP6658884B2 (ja) クロマトグラフ質量分析用データ処理装置
JP2006292446A (ja) ガスクロマトグラフ装置
JP2017191002A (ja) データ処理装置
JP6593528B2 (ja) データ処理装置及びデータ処理方法
JP6508334B2 (ja) クロマトグラムデータ処理装置及びプログラム
US10203309B2 (en) Chromatogram display method, chromatogram display device, and chromatograph comprising said device
JP5954497B2 (ja) クロマトグラフ用データ処理装置及びデータ処理方法
JP4057664B2 (ja) クロマトグラフ/質量分析装置のデータ処理装置
JP7230687B2 (ja) クロマトグラフおよびクロマトグラフのカラム選択方法
JP6123300B2 (ja) クロマトグラフ用データ処理装置
JP2004271422A (ja) クロマトグラフ用データ処理装置
JP2022537622A (ja) パラメータ調節を伴わないピーク積分補正
JP6555414B2 (ja) データ処理方法及び装置
JP7472775B2 (ja) 波形処理支援装置および波形処理支援方法
US20230094950A1 (en) Method and program for assisting development of analysis procedure
JP2009250748A (ja) 分析装置用制御装置
US20200013202A1 (en) Analyzer
WO2020255340A1 (ja) クロマトグラフ質量分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180913

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190305

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190312

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190508

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20191112

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20191125

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6631373

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151