JP4697302B2 - クロマトグラフ質量分析装置 - Google Patents

Description

本発明は、ガスクロマトグラフ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ）や液体クロマトグラフ質量分析装置（ＬＣ／ＭＳ）等、クロマトグラフと質量分析計とを組み合わせたクロマトグラフ質量分析装置に関し、さらに詳しくは、スキャン測定と選択イオンモニタリング測定とによる同時データ収集を行うクロマトグラフ質量分析装置に関する。

ＧＣ／ＭＳやＬＣ／ＭＳ等のクロマトグラフ質量分析装置を用いた測定方法としては、スキャン測定法と選択イオンモニタリング（以下ＳＩＭと略す）測定法とが知られている。スキャン測定法では、質量分析装置において分析対象のイオンの質量（厳密にはｍ／ｚ）を所定の質量範囲内で走査し、その質量範囲に含まれる全てのイオンを検出する。したがって、未知試料の定性分析等、分析対象成分の質量が不明である場合に特に有用であるが、あまりＳ／Ｎ比の良好なクロマトグラムが得られないため定量目的に使用するには不向きである。一方、ＳＩＭ測定法では、予め指定された１乃至複数の特定の質量を有するイオンのみを選択的に時分割で検出する。したがって、分析対象の物質が既知でその物質の定量分析を高感度で以て行う場合に有用であるが、特定の質量を持つイオンしか検出していないために、定性目的に使用するのは不向きである。

上述のようにスキャン測定法とＳＩＭ測定法とはちょうど補完的な関係にあり、両者の特徴を活かすために、任意の時間範囲についてスキャン測定法とＳＩＭ測定法とを同時に実行するスキャン／ＳＩＭ同時測定法も従来知られている（特許文献１など参照）。この測定法によれば、定性分析のためのマススペクトルと、定量分析のためのターゲットイオンについてのＳ/Ｎ比の良好なクロマトグラムとを１回の分析で取得することができる。

このようにスキャン／ＳＩＭ同時測定法は有益な測定法ではあるものの、スキャン／ＳＩＭ同時測定の必要のない化合物を含めて多数の化合物のスキャン／ＳＩＭ同時測定を行おうとすると、単位時間当たりに検出器に導入されるイオン量が多くなりすぎて検出感度が低下するという問題が起こる。そこで、一般的には、スキャン測定によっては十分なＳ／Ｎ比を有するマススペクトルを得られない化合物のみに限定してスキャン／ＳＩＭ同時測定を実行し、それ以外の化合物はスキャン測定のみを実行することが多い。そのため、測定の開始に先立って、スキャン／ＳＩＭ同時測定する対象化合物とその測定質量とを決定しておく必要がある。

従来のクロマトグラフ質量分析装置を用いた上記測定の標準的な手順は次の通りである。即ち、まずオペレータはスキャン測定法により、含有成分が既知である標準試料の予備測定を行い、クロマトグラム（トータルイオンクロマトグラム）を取得する。そしてそのクロマトグラムにより、定量したい化合物（ターゲット化合物）のＳ／Ｎ比が十分であるかどうかを確認していき、その結果に基づいてスキャン／ＳＩＭ同時測定する対象化合物を選定する。そして、その対象化合物のピークが含まれるように、スキャン／ＳＩＭ同時測定を行う時間範囲と、さらにその範囲におけるＳＩＭ測定の対象とする質量とを決定する。

その後、オペレータは装置の操作部において所定の操作を行い、表示部の画面上に図７に示すような測定条件テーブルを表示させる。そして、測定時間範囲毎に、その開始時間と終了時間、測定方法（スキャン又はＳＩＭ）、スキャン測定する質量範囲（開始質量と終了質量）又はＳＩＭ測定する質量、等の数値をテーブルの各欄に入力してゆく。そして、必要な項目について全ての入力が終了したならば、入力設定を確定させ、この測定条件に従って検量線作成用の標準試料の測定を行い、さらに未知試料の測定を実行する。

図７（ａ）の例では、測定開始時点を起点（０分）として経過時間が６分から２０分までの間で、スキャン測定により質量１００から４００までの範囲で測定が行われる。他方、図７（ｂ）の例では、測定開始時点から経過時間が６分から１１分までの間では、スキャン測定により質量１００から４００までの範囲で測定が行われる（テーブルの第１行目）。次の１１分から１３分までの間ではスキャン測定により質量１００から４００までの範囲で測定が行われ（テーブルの第２行目）、且つ同時にＳＩＭ測定により質量１００、２００、３００、４００の４つの質量についての測定が行われる（テーブルの第３行目）。さらに次の１３分から２０分までの間では、スキャン測定法により質量１００から４００までの範囲で測定が行われる（テーブルの第４行目）。

図７（ｂ）の例はスキャン／ＳＩＭ同時測定を行おうとする化合物が１つである場合であるが、実際は約１００成分以上の試料の分析も行われており、それに伴いスキャン／ＳＩＭ同時測定の対象とする化合物数も多くなる。図７（ａ）に示すように所定の測定時間範囲（この例では６〜２０分）でスキャン測定が設定されている状態から、図７（ｂ）に示す如くスキャン／ＳＩＭ同時測定を行う条件を追加するためには、化合物１つにつき、測定条件テーブルに３行の追加とその３行の各欄についてのパラメータのキー入力が必要となる。したがって、複数、例えば１０成分の化合物をスキャン／ＳＩＭ同時測定する場合には、測定条件テーブルには最大で３０行分の追加入力が必要となり、オペレータにとっては非常に手間が掛かる作業であり入力ミスも起こり易い。

またオペレータは上記のような測定条件テーブルに数値を入力する際に、スキャン／ＳＩＭ同時測定の時間範囲を適切に設定する必要がある。例えば２つの成分のクロマトグラムのピークの保持時間が近接している場合、これら２つのピークの間にスキャン／ＳＩＭ同時測定を行う時間範囲の境界を設けると、クロマトグラムのピークが時間範囲の境界のごく近くに存在することになる。この場合、未知試料の測定時に保持時間が僅かにずれただけでもクロマトグラムのピークが所定の時間範囲の境界と重なってしまい、ピークの検出及びピーク面積の計算が正しく行われず、正しい定量ができなくなってしまう。こうした不具合を避けるために、スキャン／ＳＩＭ同時測定の測定時間範囲の設定は、標準試料の予備測定で得られたクロマトグラムを参照しながら慎重に行う必要がある。しかしながら、従来、上述のようにスキャン／ＳＩＭ同時測定の時間範囲を設定する際に、予備測定によるクロマトグラムを同一画面上で参照する手段がなく、精密な設定が難しいという問題もあった。

特開平０８−１０２２８２号公報

本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、その目的とするところは、スキャン／ＳＩＭ同時測定を行うための測定条件を、簡便に、効率良く、しかも正確に設定することができるクロマトグラフ質量分析装置を提供することにある。

上記課題を解決するために成された本発明は、クロマトグラフにより時間方向に分離した試料成分を順次質量分析部に導入して質量分析を実行するクロマトグラフ質量分析装置であって、前記質量分析部において所定の質量範囲に亘る連続的な質量走査を繰り返し行うスキャン測定と、特定の質量について１つの質量を一定時間維持しつつ段階的に質量を切り替えるＳＩＭ測定と、スキャン測定による質量走査の途中でＳＩＭ測定を実行するスキャン／ＳＩＭ同時測定と、を選択的に実行可能なクロマトグラフ質量分析装置において、
a)予め作成された、化合物の種類、該化合物の標準的な保持時間、及び該化合物を特徴付ける質量を一覧表とする化合物テーブルを、表示部の画面上に表示する表示制御手段と、
b)表示された前記化合物テーブルの中でスキャン／ＳＩＭ同時測定を実行したい化合物をオペレータが選択するための選択手段と、
c)前記選択手段により選択された１乃至複数の化合物の保持時間に対しその前後にそれぞれ規定の時間幅を設定してその時間範囲でスキャン／ＳＩＭ同時測定を行い、その以外の時間範囲ではスキャン測定又はＳＩＭ測定を実行するように測定条件テーブルを作成する測定条件テーブル作成手段と、
を備えることを特徴としている。

一般にスキャン／ＳＩＭ同時測定を行いたい時間範囲は、トータルイオンクロマトグラム上で、定量を行いたい既知の化合物のピークが出現する範囲である。そこで、本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置において、表示制御手段は、予め作成された化合物テーブルを表示部の画面上に表示し、オペレータはその中からスキャン／ＳＩＭ同時測定で測定したい化合物を選択手段により選択する。すると、測定条件テーブル作成手段は、選択された化合物の保持時間の前と後にそれぞれ規定の時間幅を設定し、それによりその化合物のピークを含むスキャン／ＳＩＭ同時測定の時間範囲を決める。複数の化合物が選択された場合には、各化合物について同様の処理を行い、その結果、複数の時間範囲がオーバーラップする場合には、その部分を連続させて時間範囲を拡大すればよい。

測定条件テーブル作成手段は、このようにして自動的にスキャン／ＳＩＭ同時測定対象の時間範囲を決め、それ以外の時間範囲は例えば所定質量範囲に亘るスキャン測定を行うものとして測定条件テーブルを作成し、例えば表示部の画面上に表示する。但し、このようにして自動的に作成された測定条件テーブルは必ずしもオペレータの意図通りであるとは限らないし、特に複数の化合物の保持時間が時間的に近接している場合には、スキャン／ＳＩＭ同時測定の時間範囲の境界が適切でない位置に設定されてしまうことも起こり得る。そこで、上述のように作成された測定条件テーブルは、後でオペレータが適宜に修正できるようにしておくとよい。

また、ＳＩＭ／スキャン同時測定を行う化合物を選択したり上述したように測定条件テーブルを修正したりする際に、同一画面内にクロマトグラム（トータルイオンクロマトグラム）が描出されていると、これを参照して作業が行い易い。そこで、本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置において、前記表示制御手段は、前記化合物テーブル及び前記測定条件テーブルが表示されている同一画面内に、標準試料又はこれに準じる既知試料に対してスキャン測定法、ＳＩＭ測定、又はスキャン／ＳＩＭ同時測定法のいずれかにより得られたトータルイオンクロマトグラムを表示する構成とするとよい。

また、前記表示制御手段は、描出されている前記トータルイオンクロマトグラムに現れている１乃至複数のピークについて、前記化合物テーブル中に列記されている化合物と対応付けた表示を行う構成とするとよい。

この構成によれば、化合物テーブル中の各化合物とトータルイオンクロマトグラム上の各ピークとの対応関係が視覚的に理解し易く、また選択しようとする化合物由来のピークに近接したピークが存在するか否かも容易に確認できる。これにより、化合物の選択作業が容易になりミスも軽減できる。

さらにまた、前記測定条件テーブルが作成されたときに前記トータルイオンクロマトグラム上にスキャン測定、ＳＩＭ測定、及びスキャン／ＳＩＭ同時測定の時間範囲を識別できるような表示を重畳して行う構成とするとよい。この構成によれば、オペレータは測定条件テーブルに設定されている各測定の時間範囲を視覚的及び直感的に把握することができ、作業効率が改善されるとともに作業ミスも軽減できる。

さらにまた、上述したように測定条件テーブルを修正する際に、テーブル中の数値をキー入力によって消去・書き換えるよりも描出されているトータルイオンクロマトグラム上でグラフィカルに修正できるほうが作業効率がよくミスも少ない。そこで、前記トータルイオンクロマトグラム上に重畳して表示された、スキャン測定、ＳＩＭ測定、及びスキャン／ＳＩＭ同時測定の時間範囲は、ポインティングデバイスの指示によりグラフィカルに修正可能とした構成とするとよい。

なお、前記選択手段としては様々な選択方法が考えられるが、一態様として、前記化合物テーブル中の各化合物毎に設けられたチェックボックスにチェックマークを入力することにより化合物を選択するものとすることができる。これによれば、選択が容易であるとともに、選択結果も視覚的にわかり易い。

本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置によれば、スキャン／ＳＩＭ同時測定を行う測定条件を設定する際に必要な入力操作の手間を大幅に少なくすることでオペレータの負荷を軽減し、入力ミスの発生も防止することができる。また、測定時間範囲の設定や修正に必要となる情報がグラフィカルに表示されるため、オペレータがそれを直感的に認識して簡単且つ正確に測定時間範囲の設定を行うことができる。それによって、例えばクロマトグラム上で２つのピークがかなり近接している場合にその両者の間に測定時間範囲の境界がくることを回避する等、より精度の高いスキャン／ＳＩＭ同時測定が可能となる。

本発明の一実施例によるＧＣ／ＭＳの全体構成図。 本実施例によるＧＣ／ＭＳにおいてスキャン／ＳＩＭ同時測定時間設定時に使用する測定条件設定用画面の一例を示す図。 図２において測定条件テーブルの自動作成実行後に表示される測定条件設定用画面の一例を示す図。 予め設定されている化合物テーブルの一例を示す図。 測定時間範囲の境界を修正する際の手順を説明するための図。 測定時間範囲の境界を修正する際の手順を説明するための図。 従来のＧＣ／ＭＳにおいて測定条件テーブルを入力設定する手順を示す図。

以下、本発明の一実施例であるガスクロマトグラフ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ）について説明する。

図１は本実施例によるＧＣ／ＭＳの全体構成図である。ガスクロマトグラフ（ＧＣ）部１０では、カラムオーブン１４により適度の温度に加熱されるカラム１５の入口に試料気化室１１が設けられ、その試料気化室１１にはキャリアガス流路１３を通して所定流量でキャリアガスが供給されカラム１５へと流れ込む。その状態でマイクロシリンジ１２により試料気化室１１内に少量の液体試料が注入されると、液体試料は即座に気化しキャリアガス流に乗ってカラム１５内に送られる。カラム１５を通過する間に試料ガス中の各成分は時間的に分離されてその出口に到達し、インターフェイス部２０においてヒータ２２により加熱される試料導入管２１を通って質量分析（ＭＳ）部３０のイオン化室３１に導入される。

ＭＳ部３０において、イオン化室３１に導入された試料分子は例えば熱電子との接触によってイオン化される。発生したイオンはイオン化室３１の外側に引き出され、イオンレンズ３２により収束されて４本のロッド電極から構成される四重極質量フィルタ３３の長軸方向の空間に導入される。四重極質量フィルタ３３には電源部３６から直流電圧と高周波電圧とを重畳した電圧が印加され、その印加電圧に応じた質量を有するイオンのみがその長軸方向の空間を通過し、イオン検出器３４に到達して検出される。イオン化室３１、イオンレンズ３２、四重極質量フィルタ３３、及びイオン検出器３４は、図示しない真空ポンプにより真空吸引される真空容器３５内に配設されている。

イオン検出器３４による検出信号はＡ／Ｄ変換器４０によりデジタルデータに変換されてデータ処理部４４に送られる。データ処理部４４は所定の演算処理を行うことによりマススペクトル、マスクロマトグラム、或いはトータルイオンクロマトグラムを作成し、さらに定量分析や定性分析などを実行する。ＧＣ部１０、インターフェイス部２０及びＭＳ部３０を構成する各ブロックの動作は、分析制御部４３により統括的に制御される。データ処理部４４や分析制御部４３の機能はパーソナルコンピュータ４１に搭載された専用の制御／処理ソフトウエアを実行することにより具現化され、パーソナルコンピュータ４１に含まれる中央制御部４２はキーボードやマウス等のポインティングデバイスを含む操作部４５や表示部４６などの入出力制御など、基本的な制御を実行するものである。本発明における表示制御手段、及び測定条件テーブル作成手段はこのパーソナルコンピュータ４１に搭載されている制御／処理ソフトウエアの実行により具現化される機能であり、選択手段はそのソフトウエアの実行と操作部４５とにより達成される機能である。

次に、このＧＣ／ＭＳにおいて、未知試料の測定を実行する場合の特徴的な動作について説明する。
まず、ＧＣ部１０のカラム１５から溶出する試料ガスの代わりに、図示しない標準ガス供給部から予め用意された標準試料ガスをＭＳ部３０のイオン化室３１に導入し、この標準試料に対しスキャン測定法による質量分析を実行する。標準試料は複数の既知成分を既知量で含むものである。この質量分析により、データ処理部４４では、既知成分に対応するピークが出現したトータルイオンクロマトグラムが作成され、そのデータは図示しない記憶部に保持される。なお、標準試料の測定は未知試料の測定の度毎に行う必要はなく、未知試料に含まれる定量対象の成分を含むような標準試料が過去に測定されている場合には、標準試料の測定は省略できる。

また、図４に示すような化合物テーブルは予め設定されているものとする。化合物テーブルは複数の化合物についてその名称（化合物名）と所定のＧＣ分析条件（例えばＧＣ部１０でのキャリアガス流量、温度プロファイルなど）の下での保持時間、その化合物を特徴付ける質量などの情報が一覧表形式で列記されたものである。この化合物テーブルは例えば手動で入力される場合もあるし、上述したような標準試料の測定結果に基づいて自動的に作成することもできる。こうした化合物テーブルも未知試料の測定の度毎に作成する必要はなく、ＧＣ分析条件が同一であれば過去に作成されたものを利用することができる。

未知試料の測定に先立って、オペレータが操作部４５において所定の操作を行うと、この操作を受けた分析制御部４３ではウィザードを起動し、表示部４６の画面上に図２に示すような測定条件設定用画面５０を表示させる。即ち、この測定条件設定用画面５０には、標準試料の予備的測定により取得されたトータルイオンクロマトグラム５１と、上述した化合物テーブル５２と、測定条件テーブル５３とが含まれる。このとき、トータルイオンクロマトグラム５１には、化合物テーブル５２に列記されている各化合物とピークとの対応関係が明確になるように、化合物テーブル５２に列記されている化合物の化合物名のみを対応するピークの近傍に表示し、テーブル５２に記載のない化合物名は表示しないようにしている。或いは、化合物テーブル５２に記載されている化合物の化合物名は矩形状の枠で囲う等、表示がなされ、化合物テーブル５２に記載されていない化合物は矩形状の枠がない表示がなされるようにしてもよい。また、ここでは初期的な測定条件テーブル５３として終了時間のみが記載されたテーブルが表示されているが、これはこの終了時間まで所定の質量範囲に亘るスキャン測定を実行することを意味している。但し、この初期状態の測定条件テーブル５３は所定の質量で以てＳＩＭ測定を行うものであってもよい。

オペレータがトータルイオンクロマトグラム５１によりピークの位置を確認しながら、スキャン／ＳＩＭ同時測定を行いたい化合物を選定し、化合物テーブル５２の最右欄のチェックボックス５２１にチェックマークを入れる。ここでは、成分Ｂ及び成分Ｃの２つの化合物についてスキャン／ＳＩＭ同時測定を行いたいものとする。そして、チェックマークを入れた後に「自動作成」ボタン５４をマウス等のポインティングデバイスでクリック操作する。すると、中央制御部４２を介してこの操作を受けた分析制御部４３は、選択された成分の保持時間を抽出し、その保持時間に対し前後に所定の時間幅を確保した測定時間範囲をスキャン／ＳＩＭ同時測定の時間範囲と決める。上記時間幅は予めオペレータが決めておくことができ、例えば±０．５分、±１分とすればよく、前方の時間幅と後方の時間幅とを別の値に設定できるようにしてもよい。

例えばいま時間幅が±０．５分である場合、成分Ｂは保持時間が１２分であるから、その前後に０．５分ずつの時間幅を設定して１２．５分〜１３．５分がスキャン／ＳＩＭ同時測定の時間範囲となる。また成分Ｃについても同様に保持時間１８分に対し、１７．５分〜１８．５分がスキャン／ＳＩＭ同時測定の時間範囲となる。また、各スキャン／ＳＩＭ同時測定の時間範囲における測定質量は化合物テーブルに記載されている質量とする。したがって、成分Ｂについて測定質量は１００、２００、３００、４００、成分Ｃについて測定質量は１５０、１６０となる。これに基づいて自動的に測定条件テーブルが作成される。そして、図３に示すように測定条件設定画面５０が更新される。即ち、スキャン／ＳＩＭ同時測定が考慮された測定条件テーブル５３が表示されるとともに、トータルイオンクロマトグラム５１上には測定条件テーブル５３の各行に対応する時間範囲の表示が重畳される。図３中の測定条件テーブル５３において、質量が設定されている行については、その前の行の終了時間を開始時間として、記載されている質量についてのＳＩＭ測定をスキャン測定と同時に実行するものとする。

したがって、図３に示した測定条件テーブル５３によれば、標準試料の予備測定データの測定開始時点を起点として経過時間が１１．５分までの間では、スキャン測定により所定質量範囲に亘る測定が行われ（測定条件テーブル５３の第１行目）、次の１１．５分から１２．５分までの間ではスキャン測定により所定質量範囲に亘る測定が行われると同時にＳＩＭ測定により質量１００、２００、３００、３００、４００の４つの質量についての測定が行われ（測定条件テーブル５３の第２行目）、次の１２．５分から１７．５分までの間では、スキャン測定により所定質量範囲に亘る測定が行われ（測定条件テーブル５３の第３行目）、次の１７．５分から１８．５分までの間ではスキャン測定により所定質量範囲に亘る測定が行われると同時にＳＩＭ測定により質量１５０、１６０の２つの質量についての測定が行われ（測定条件テーブル５３の第４行目）、さらに１８．５分から２２分までの間では、スキャン測定により所定質量範囲に亘る測定が行われる（測定条件テーブル５３の第５行目）。

以上のようにして、面倒な入力操作を行うことなく測定条件テーブルを作成することができる。但し、前述のように自動作成された測定条件テーブルは必ずしもそのまま利用できるとは限らない。例えば、図３の例では、トータルイオンクロマトグラム上で非常に近接している成分Ｂ由来のピークとその直後の成分Ｅ（図３中には化合物名記載無し）由来のピークとの間に測定時間範囲の境界が設定されており、成分Ｂを含む未知試料を測定する際に成分Ｂの保持時間がずれた場合、成分Ｂのピークが測定時間範囲の境界と重なって溶出してしまうおそれがある。その場合、成分Ｂのピーク検出及びピーク面積の算出を正しく行えず、定量解析に支障をきたすおそれがある。そこで、上記のように自動作成された測定条件テーブルを修正・変更する必要がある場合には、次のようにして簡単に測定時間範囲を修正することができる。

測定時間範囲を修正する際には、まず測定条件テーブル５３の中で測定時間範囲を変更したい行をポインティングデバイスでクリック操作する。いま例えば測定条件テーブル５３の２行目をクリック操作する。すると、トータルイオンクロマトグラム５１において指定した行の終了時間の位置にマーカーＭが表示される（図３、図５参照）。このマーカーＭをポインティングデバイスで指定して適宜の位置まで移動させて指定を解除すると、マーカーＭが移動された位置に対応する時間まで測定時間範囲が広がったり又は狭まったりする。いま、図５に示すようにマーカーＭを１２．５分の位置から１３．５分の位置まで移動したとすると、それに伴い測定時間範囲を指示している矢印の長さも変化する。また、図６に示すように測定条件テーブル５３中のパラメータ（２行目の終了時間）もそれに応じて１２．５分→１３．５分と変更される。このように測定時間範囲の修正・変更も、数値をキー入力することなくポインティングデバイスによる操作によってグラフィカル且つ直感的に行うことができる。

以上のようにして測定条件テーブル５３をオペレータが適宜に変更・修正した後に、「設定完了」ボタン５５をクリック操作すれば、測定条件テーブル５３の設定が確定し、その内容に従って測定を実行するための測定条件ファイルが自動的に作成され、実際の未知試料の測定の準備が整う。

以上説明したように、本実施例によるＧＣ／ＭＳによれば、スキャン測定、ＳＩＭ測定、スキャン／ＳＩＭ同時測定のいずれかを実行する測定時間範囲の入力設定が非常に簡便に行え、オペレータの負担が軽減され入力ミスも減らすことができる。

なお、上記実施例はいずれも一例であって、本発明の趣旨の範囲で適宜変形や修正、追加を行なえることは明らかである。

Claims (6)

1. クロマトグラフにより時間方向に分離した試料成分を順次質量分析部に導入して質量分析を実行するクロマトグラフ質量分析装置であって、前記質量分析部において所定の質量範囲に亘る連続的な質量走査を繰り返し行うスキャン測定と、特定の質量について１つの質量を一定時間維持しつつ段階的に質量を切り替えるＳＩＭ測定と、スキャン測定による質量走査の途中でＳＩＭ測定を実行するスキャン／ＳＩＭ同時測定と、を選択的に実行可能なクロマトグラフ質量分析装置において、
   a)予め作成された、化合物の種類、該化合物の標準的な保持時間、及び該化合物を特徴付ける質量を一覧表とする化合物テーブルを、表示部の画面上に表示する表示制御手段と、
   b)表示された前記化合物テーブルの中でスキャン／ＳＩＭ同時測定を実行したい化合物をオペレータが選択するための選択手段と、
   c)前記選択手段により選択された１乃至複数の化合物の保持時間に対しその前後にそれぞれ規定の時間幅を設定してその時間範囲でスキャン／ＳＩＭ同時測定を行い、その以外の時間範囲ではスキャン測定又はＳＩＭ測定を実行するように測定条件テーブルを作成する測定条件テーブル作成手段と、
   を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。
2. 前記表示制御手段は、前記化合物テーブル及び前記測定条件テーブルが表示されている同一画面内に、標準試料又はこれに準じる既知試料に対してスキャン測定法、ＳＩＭ測定、又はスキャン／ＳＩＭ同時測定法のいずれかにより得られたトータルイオンクロマトグラムを表示することを特徴とする請求項１に記載のクロマトグラフ質量分析装置。
3. 前記表示制御手段は、描出されている前記トータルイオンクロマトグラムに現れている１乃至複数のピークについて、前記化合物テーブル中に列記されている化合物と対応付けた表示を行うことを特徴とする請求項２に記載のクロマトグラフ質量分析装置。
4. 前記表示制御手段は、前記測定条件テーブルが作成されたときに描出されている前記トータルイオンクロマトグラム上にスキャン測定、ＳＩＭ測定、及びスキャン／ＳＩＭ同時測定の時間範囲を識別できるような表示を重畳して行うことを特徴とする請求項２又は３に記載のクロマトグラフ質量分析装置。
5. 前記トータルイオンクロマトグラム上に重畳して表示された、スキャン測定、ＳＩＭ測定、及びスキャン／ＳＩＭ同時測定の時間範囲を、ポインティングデバイスの指示によりグラフィカルに修正可能としたことを特徴とする請求項４に記載のクロマトグラフ質量分析装置。
6. 前記選択手段は、前記化合物テーブル中の各化合物毎に設けられたチェックボックスにチェックマークを入力することにより化合物を選択するものであることを特徴とする請求項１に記載のクロマトグラフ質量分析装置。

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