JPH09318599A - クロマトグラフ/質量分析装置のデータ処理装置 - Google Patents
クロマトグラフ/質量分析装置のデータ処理装置Info
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- JPH09318599A JPH09318599A JP16086196A JP16086196A JPH09318599A JP H09318599 A JPH09318599 A JP H09318599A JP 16086196 A JP16086196 A JP 16086196A JP 16086196 A JP16086196 A JP 16086196A JP H09318599 A JPH09318599 A JP H09318599A
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Abstract
に設定できるようにする。 【解決手段】 スキャンモードでの標準試料の測定によ
りトータルイオンクロマトグラムが得られると、ピーク
同定部6はピークトップでのマススペクトル対し、デー
タベースのマススペクトル情報を使ってスペクトル検索
を行ない、そのピークがどのターゲット化合物であるか
を同定する。定量テーブル作成部8は、ピーク同定部6
によるピーク同定の結果得られたターゲット化合物のピ
ークについてのトータルイオンクロマトグラムでの標準
保持時間、データベースに記憶された定量用質量数及び
確認用質量数、並びに定量パラメータに記憶された各パ
ラメータをもとにして定量テーブルを作成する。SIM
パラメータ作成部10は、トータルイオンクロマトグラ
ムに基づいて、選択イオンモニタリングモードでの各タ
ーゲット化合物の定量用質量数及び確認用質量数での測
定を行なうのに必要なSIMパラメータを決定する。
Description
や液体クロマトグラフと質量分析計とを接続したクロマ
トグラフ/質量分析装置におけるデータ処理装置に関す
るものである。
C/MS)や液体クロマトグラフ/質量分析装置(LC
/MS)で定量分析を行なう方法として、選択イオンモ
ニタリング(SIM)モードでの測定が行なわれてい
る。SIMでは定量しようする化合物(ターゲット化合
物)について定量用の質量数(m/z)を予め選定して
おき、その質量数での経時的強度変化を示すクロマトグ
ラムを測定する。そして、そのクロマトグラムのピーク
面積を算出し、予め作成しておいた検量線に基づいてタ
ーゲット化合物の定量を行なう。
ず、質量数を走査しながら行なうスキャンニングモード
で標準試料の測定を行ない、各時点で全イオン強度を積
算してトータルイオンクロマトグラム(TIC)を作成
し、そのクロマトグラムからターゲット化合物のピーク
をオペレータが探し出し、その保持時間を求める。その
後、各ターゲット化合物についてSIMモードで必要な
パラメータ(モニターする定量用質量数、各ターゲット
化合物の質量数への切換え時間)、及び定量パラメータ
(ターゲット化合物名、定量用質量数、確認用質量数、
波形処理範囲、保持時間)を定め、オペレータがキーボ
ードから入力することにより設定している。
イオンクロマトグラムからターゲット化合物のピークを
探しだすのは、化合物数が増えるに伴ない、煩雑で時間
を要する作業となる。そして、クロマトグラフのカラム
の種類や分離条件を変更するたびにSIMパラメータ及
び定量パラメータを設定しなおす作業が必要になる。そ
こで、本発明は定量パラメータとSIMパラメータを自
動的に設定できるようにすることを目的とするものであ
る。
合物に関する情報のデータベースを予め作成しておき、
標準試料を測定したときにそのデータベースをもとにト
ータルイオンクロマトグラムからターゲット化合物のピ
ークを自動的に見つけ出す。さらにSIMモードで必要
なパラメータや定量のパラメータについてもピーク同定
の結果とデータベースとをもとに自動的に決定する。
1に示されるように、各ターゲット化合物の名称、マス
スペクトル、定量用質量数及び確認用質量数を含むデー
タベースと、検量線作成時のポイント数を示すレベル
数、各レベルの濃度、検量法、回帰式の種類、保持時間
の許容範囲、定量用質量数でのピークと確認用質量数で
のピークとの強度比の許容範囲及び波形処理範囲を含む
定量パラメータとを記憶しておく記憶部2と、標準試料
を測定したときのクロマトグラフ/質量分析装置4のス
キャンモードでのデータからトータルイオンクロマトグ
ラムを作成し、そのトータルイオンクロマトグラムのピ
ークのピークトッブのマススペクトルを記憶部2に記憶
されたデータベースのマススペクトルと比較して定量し
ようとするターゲット化合物のピークを探しだすピーク
同定部6と、ピーク同定部6によるピーク同定の結果得
られたターゲット化合物のピークについてのトータルイ
オンクロマトグラムでの標準保持時間、記憶部2のデー
タベースに記憶された定量用質量数及び確認用質量数、
並びに記憶部2に記憶された定量パラメータに記憶され
た各パラメータをもとにして定量テーブルを作成する定
量テーブル作成部8と、得られたトータルイオンクロマ
トグラムに基づいて、SIMモードでの各ターゲット化
合物の定量用質量数及び確認用質量数での測定を行なう
のに必要なパラメータを決定するSIMパラメータ作成
部10とを備えている。
ターゲット化合物のマススペクトル、SIMモードでク
ロマトグラムを測定するための定量用質量数、定量用質
量数でのピーク値との比較からその定量用質量数で測定
中のクロマトグラムのピークが目的とするターゲット化
合物であることを確認するための確認用質量数、及びタ
ーゲット化合物の化合物名をキーボードから入力し、デ
ータベースとして記憶部2に記憶させておく。データベ
ースは一度作ると繰り返し使用することができる。
ポイント数を示すレベル数、各レベルの濃度、検量法、
回帰式の種類、保持時間の許容範囲、定量用質量数での
ピークと確認用質量数でのピークとの強度比の許容範
囲、及び波形処理範囲)もキーボードから入力し、記憶
部2に記憶させておく。
囲で走査するスキャンモードで測定する。その後の動作
を図2と図3を参照して説明する。スキャンモードでの
標準試料の測定により各時点でマススペクトルが得られ
るので、各時点でのイオン強度を積算することによっ
て、図3(A)に示されるように、その経時変化として
トータルイオンクロマトグラムが得られる。
出が行なわれる。検出されたピークのピークトップでの
マススペクトル対し、データベースのマススペクトル情
報を使ってスペクトル検索が行なわれ、そのピークがど
のターゲット化合物であるかが、同定される。これらの
処理は記憶部2に記憶されたデータベースをもとにして
ピーク同定部6が行なう。ピーク同定の結果がプリンタ
やCRTに表示されるととも、次の場合にはエラーメッ
セージも合わせて出力されるようにすることができる。 a.ターゲット化合物のうちにピーク同定されていない
ものがある場合。 b.同一のターゲット化合物が複数のピークで同定され
た場合。 c.同定された結果、その類似度(標準試料を分析して
得られたピークのスペクトルとデータベースのスペクト
ルの類似度)が予め定めた基準値より低い場合。
ペレータはエラーメッセージの結果を参考にしてピーク
同定結果の確認と修正を行なうことができる。ターゲッ
ト化合物がトータルイオンクロマトグラムのどのピーク
に対応するかが確認されると、定量テーブル作成部8
は、ピーク同定部6によるピーク同定の結果得られたタ
ーゲット化合物のピークについてのトータルイオンクロ
マトグラムでの標準保持時間、データベースに記憶され
た定量用質量数及び確認用質量数、並びに定量パラメー
タに記憶された各パラメータをもとにして定量テーブル
を作成する。その定量テーブルは、例えば図3(B)に
示されるようなものである。
ータルイオンクロマトグラムに基づいて、選択イオンモ
ニタリングモードでの各ターゲット化合物の定量用質量
数及び確認用質量数での測定を行なうのに必要なSIM
パラメータを決定する。SIMパラメータは、例えば図
3(C)に示されるように決定される。イオンセットは
各ターゲット化合物のクロマトグラムピークを示したも
のであり、それぞれのピークを測定するためにそれぞれ
の定量用質量数と確認用質量数で測定を行なう開始時点
(スタートタイム)と終了時点(エンドタイム)が自動
的に決定される。
マトグラムにおいて、ピークの一部が重なる場合には重
なるピークを含む時間を設定し、その時間では重なった
ピークに対応するターゲット化合物全てについての定量
用質量数と確認用質量数で測定するようにすればよい。
る。クロマトグラフ/質量分析装置4はGC/MS又は
LC/MSである。CPU12はクロマトグラフ/質量
分析装置4の動作を制御するとともに、クロマトグラフ
/質量分析装置4の質量分析計から得られたデータを処
理する。14は制御に必要なプログラムや本発明でのデ
ータベース、定量パラメータのほか、本発明で作成され
る定量テーブルやSIMパラメータを記憶する記憶装置
である。16はデータベースや定量パラメータを設定す
る際の入力用のキーボード、18は作成された定量テー
ブル及びSIMパラメータを出力するプリンターであ
る。図1における記憶部2は記憶装置14に対応し、ピ
ーク同定部6、定量テーブル作成部8及びSIMパラメ
ータ作成部10はCPU12と記憶装置14により実現
される。
ースと定量のためのパラメータを予め設定しておくだけ
で、標準化合物を測定することにより定量テーブルとS
IMパラメータを自動的に決定することができ、従来の
ようにオペレータがカラムの種類や分離条件を変更する
たびに設定しなおす煩わしい作業を省くことができる。
クロマトグラム、(B)は作成される定量テーブルを示
す図表、(C)は作成されるSIMパラメータの図表で
ある。
Claims (1)
- 【請求項1】 各ターゲット化合物の名称、マススペク
トル、定量用質量数及び確認用質量数を含むデータベー
スと、検量線作成時のポイント数を示すレベル数、各レ
ベルの濃度、検量法、回帰式の種類、保持時間の許容範
囲、定量用質量数でのピークと確認用質量数でのピーク
との強度比の許容範囲及び波形処理範囲を含む定量パラ
メータとを記憶しておく記憶部と、 標準試料を測定したときのクロマトグラフ/質量分析装
置のスキャンモードでのデータからトータルイオンクロ
マトグラムを作成し、そのトータルイオンクロマトグラ
ムのピークのピークトッブのマススペクトルを前記デー
タベースのマススペクトルと比較して定量しようとする
ターゲット化合物のピークを探しだすピーク同定部と、 ピーク同定部によるピーク同定の結果得られたターゲッ
ト化合物のピークについての前記トータルイオンクロマ
トグラムでの標準保持時間、前記データベースに記憶さ
れた定量用質量数及び確認用質量数、並びに前記定量パ
ラメータに記憶された各パラメータをもとにして定量テ
ーブルを作成する定量テーブル作成部と、 前記トータルイオンクロマトグラムに基づいて、選択イ
オンモニタリングモードでの各ターゲット化合物の定量
用質量数及び確認用質量数での測定を行なうのに必要な
パラメータを決定するSIMパラメータ作成部と、を備
えたことを特徴とするクロマトグラフ/質量分析装置の
データ処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16086196A JP4057664B2 (ja) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | クロマトグラフ/質量分析装置のデータ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP16086196A JP4057664B2 (ja) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | クロマトグラフ/質量分析装置のデータ処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH09318599A true JPH09318599A (ja) | 1997-12-12 |
JP4057664B2 JP4057664B2 (ja) | 2008-03-05 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16086196A Expired - Fee Related JP4057664B2 (ja) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | クロマトグラフ/質量分析装置のデータ処理装置 |
Country Status (1)
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---|---|
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-
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- 1996-05-31 JP JP16086196A patent/JP4057664B2/ja not_active Expired - Fee Related
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