JPH085625A - クロマトグラフ分析装置 - Google Patents
クロマトグラフ分析装置Info
- Publication number
- JPH085625A JPH085625A JP15937294A JP15937294A JPH085625A JP H085625 A JPH085625 A JP H085625A JP 15937294 A JP15937294 A JP 15937294A JP 15937294 A JP15937294 A JP 15937294A JP H085625 A JPH085625 A JP H085625A
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- JP
- Japan
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- peak
- time
- reference table
- standard sample
- sample
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 自動連続分析において、常に正しい分析が行
なわれるようにする。 【構成】 標準試料が分析される場合（ステップＳ１２
〜Ｓ１９）には、測定された各ピークの保持時間（Ｓ１
６）を直ちに参照テーブルに書き込む（Ｓ１７）ことに
より、参照テーブルを更新する。 【効果】 その後の未知試料に対する分析は更新された
参照テーブルを参照して行なわれるため、常に正しい分
析結果が出力され、後に再解析する必要がなくなる。
なわれるようにする。 【構成】 標準試料が分析される場合（ステップＳ１２
〜Ｓ１９）には、測定された各ピークの保持時間（Ｓ１
６）を直ちに参照テーブルに書き込む（Ｓ１７）ことに
より、参照テーブルを更新する。 【効果】 その後の未知試料に対する分析は更新された
参照テーブルを参照して行なわれるため、常に正しい分
析結果が出力され、後に再解析する必要がなくなる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、クロマトグラフ分析装
置に関する。
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】クロマトグラフ分析装置では、固定相を
通過した移動相の特性を連続的に測定することにより、
固定相通過時に分離された試料成分を検出器で検出し、
試料の分析を行なう。ここで、固定相や移動相等の測定
条件を一定にした場合、試料を移動相に注入してから試
料の各成分が検出器で検出されるまでの時間（保持時間
又はリテンションタイムと呼ぶ）は各成分により定ま
る。従って、予め多数の既知の成分について保持時間を
測定しておき、成分と保持時間との関係を表わす参照テ
ーブルを作っておけば、未知試料について得られた各ピ
ークの保持時間をこれらの参照テーブルと照合すること
により試料の分析を行なうことができる。
通過した移動相の特性を連続的に測定することにより、
固定相通過時に分離された試料成分を検出器で検出し、
試料の分析を行なう。ここで、固定相や移動相等の測定
条件を一定にした場合、試料を移動相に注入してから試
料の各成分が検出器で検出されるまでの時間（保持時間
又はリテンションタイムと呼ぶ）は各成分により定ま
る。従って、予め多数の既知の成分について保持時間を
測定しておき、成分と保持時間との関係を表わす参照テ
ーブルを作っておけば、未知試料について得られた各ピ
ークの保持時間をこれらの参照テーブルと照合すること
により試料の分析を行なうことができる。
【０００３】しかし、固定相や移動相を変える等、何ら
かの条件を変化させた場合には新たに参照テーブルを作
成し直さなければならない。また、条件を積極的に変化
させなくとも、多数の試料を連続的に測定している間に
は測定条件が徐々に変化し、各成分の保持時間が変化し
てゆく場合がある。このため、一定期間毎に、或いは、
特に精度を必要とする分析を行なう前又は後には、標準
試料により参照テーブルの校正を行なう必要がある。
かの条件を変化させた場合には新たに参照テーブルを作
成し直さなければならない。また、条件を積極的に変化
させなくとも、多数の試料を連続的に測定している間に
は測定条件が徐々に変化し、各成分の保持時間が変化し
てゆく場合がある。このため、一定期間毎に、或いは、
特に精度を必要とする分析を行なう前又は後には、標準
試料により参照テーブルの校正を行なう必要がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来、標準試料により
校正を行なう際は、検出器から出力される測定カーブよ
りピークを検出し、注入時から各ピーク出現時までの時
間（保持時間）を測定するというところまでは通常の未
知試料の分析の場合と同じ方法を用いて行なっていた
が、その後は、得られた各ピークの保持時間を手動で入
力することにより参照テーブルを作成又は変更してい
た。このため、多数の試料を連続的に分析する自動分析
装置では、途中で標準試料を介在させて分析を行なった
としても、その結果は直ちには参照テーブルには反映さ
れず、一連の分析が終了した後に集積されたデータを解
析し、その標準試料の分析結果を抜き出して手動で参照
テーブルに入力せざるを得なかった。従って、その標準
試料の分析結果により参照テーブルを変更する必要があ
る場合であっても、自動分析の際にはその標準試料の後
に流された未知試料の分析は古い参照テーブルを参照し
て行なわれてしまっているため、正しい分析結果を得る
ためには、手動入力により参照テーブルを更新した後、
再度解析を行なう必要があった。
校正を行なう際は、検出器から出力される測定カーブよ
りピークを検出し、注入時から各ピーク出現時までの時
間（保持時間）を測定するというところまでは通常の未
知試料の分析の場合と同じ方法を用いて行なっていた
が、その後は、得られた各ピークの保持時間を手動で入
力することにより参照テーブルを作成又は変更してい
た。このため、多数の試料を連続的に分析する自動分析
装置では、途中で標準試料を介在させて分析を行なった
としても、その結果は直ちには参照テーブルには反映さ
れず、一連の分析が終了した後に集積されたデータを解
析し、その標準試料の分析結果を抜き出して手動で参照
テーブルに入力せざるを得なかった。従って、その標準
試料の分析結果により参照テーブルを変更する必要があ
る場合であっても、自動分析の際にはその標準試料の後
に流された未知試料の分析は古い参照テーブルを参照し
て行なわれてしまっているため、正しい分析結果を得る
ためには、手動入力により参照テーブルを更新した後、
再度解析を行なう必要があった。
【０００５】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、自動連続分析の際に常に正しい分
析結果を得ることができ、後でデータを再解析する必要
のないクロマトグラフ分析装置を提供するものである。
成されたものであり、自動連続分析の際に常に正しい分
析結果を得ることができ、後でデータを再解析する必要
のないクロマトグラフ分析装置を提供するものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明は、検出器から出力される測定カーブ
からピークを検出し、各ピークの保持時間を測定して、
参照テーブルに保持されている値と比較することにより
試料の分析を行なうクロマトグラフ分析装置において、
標準試料が分析される場合には、測定された各ピークの
保持時間を直ちに参照テーブルに書き込むことにより参
照テーブルを更新することを特徴とするものである。
に成された本発明は、検出器から出力される測定カーブ
からピークを検出し、各ピークの保持時間を測定して、
参照テーブルに保持されている値と比較することにより
試料の分析を行なうクロマトグラフ分析装置において、
標準試料が分析される場合には、測定された各ピークの
保持時間を直ちに参照テーブルに書き込むことにより参
照テーブルを更新することを特徴とするものである。
【０００７】
【作用】標準試料が分析される場合であっても、検出器
による測定、測定カーブの出力、測定カーブからのピー
クの検出、及び、各ピークの保持時間の測定までは通常
の未知試料の分析と同様に行なう。しかし、標準試料が
分析されると予め指示された場合（所定の規則により、
標準試料が分析される番であることが定まっている場合
を含む）には、測定された各ピークの保持時間は直ちに
参照テーブルの該当成分の保持時間の欄に書き込み、参
照テーブルを更新する。これにより、その後の未知試料
に対する分析は、更新された（すなわち、校正された）
参照テーブルを参照して行なわれることになり、後に再
解析する必要がなくなる。
による測定、測定カーブの出力、測定カーブからのピー
クの検出、及び、各ピークの保持時間の測定までは通常
の未知試料の分析と同様に行なう。しかし、標準試料が
分析されると予め指示された場合（所定の規則により、
標準試料が分析される番であることが定まっている場合
を含む）には、測定された各ピークの保持時間は直ちに
参照テーブルの該当成分の保持時間の欄に書き込み、参
照テーブルを更新する。これにより、その後の未知試料
に対する分析は、更新された（すなわち、校正された）
参照テーブルを参照して行なわれることになり、後に再
解析する必要がなくなる。
【０００８】
【実施例】本発明を実施したノンサプレッサ型イオンク
ロマト分析装置を図１〜図７により説明する。本実施例
のイオンクロマト分析装置は図１に示すように、移動相
１１を送給するポンプ１２、試料１３を注入するインジ
ェクタ（注入器）１４、イオン交換体固定相を充填した
カラム１５、カラム１５の温度を一定に保持するオーブ
ン１６、カラム１５から流出する移動相の電気伝導度を
測定するＣＤＤ（ConDuctivity Detector）型検出器１
７、及び、それらを制御し、得られたデータから試料の
分析を行なう制御部２０から構成される。制御部２０に
は図３に示すように、各部の動作を制御する制御用ＣＰ
Ｕ２１と、検出器１７からのデータを制御用ＣＰＵ２１
を介して受け取り、各成分の分析を行なうデータ処理用
ＣＰＵ２２とが備えられている。制御用ＣＰＵ２１には
ポンプ駆動部３１、注入器駆動部３２、オーブン駆動部
３３、検出器駆動部３４が接続され、各駆動部にはそれ
ぞれポンプ１２、注入器（インジェクタ）１４、カラム
用オーブン１６、検出器１７が接続されている。データ
処理用ＣＰＵ２２にはキーボード２７及び液晶表示装置
（ＬＣＤ）２８が接続され、インタフェイス（Ｉ／Ｆ）
３５、３６を介してハードディスク装置、フロッピーデ
ィスク装置等の外部記憶装置３７及びプリンタ３８とも
接続されている。なお、各ＣＰＵ２１、２２にはそれぞ
れ専用のＲＯＭ２３、２５及びＲＡＭ２４、２６が備え
られている。
ロマト分析装置を図１〜図７により説明する。本実施例
のイオンクロマト分析装置は図１に示すように、移動相
１１を送給するポンプ１２、試料１３を注入するインジ
ェクタ（注入器）１４、イオン交換体固定相を充填した
カラム１５、カラム１５の温度を一定に保持するオーブ
ン１６、カラム１５から流出する移動相の電気伝導度を
測定するＣＤＤ（ConDuctivity Detector）型検出器１
７、及び、それらを制御し、得られたデータから試料の
分析を行なう制御部２０から構成される。制御部２０に
は図３に示すように、各部の動作を制御する制御用ＣＰ
Ｕ２１と、検出器１７からのデータを制御用ＣＰＵ２１
を介して受け取り、各成分の分析を行なうデータ処理用
ＣＰＵ２２とが備えられている。制御用ＣＰＵ２１には
ポンプ駆動部３１、注入器駆動部３２、オーブン駆動部
３３、検出器駆動部３４が接続され、各駆動部にはそれ
ぞれポンプ１２、注入器（インジェクタ）１４、カラム
用オーブン１６、検出器１７が接続されている。データ
処理用ＣＰＵ２２にはキーボード２７及び液晶表示装置
（ＬＣＤ）２８が接続され、インタフェイス（Ｉ／Ｆ）
３５、３６を介してハードディスク装置、フロッピーデ
ィスク装置等の外部記憶装置３７及びプリンタ３８とも
接続されている。なお、各ＣＰＵ２１、２２にはそれぞ
れ専用のＲＯＭ２３、２５及びＲＡＭ２４、２６が備え
られている。
【０００９】本実施例のイオンクロマト分析装置による
分析の手順を図７のフローチャートにより説明する。ま
ず、これから注入される試料が標準試料であるか否かを
キーボード２７からの入力の有無により判定し（ステッ
プＳ１）、標準試料でない場合にはステップＳ３に、標
準試料である場合はステップＳ１２に進む。なお、所定
回数毎に標準試料による校正が行なわれるようになって
いる場合には、その回数に達した時点でステップＳ１２
へ進み、それ以外の時はステップＳ３へ進む。
分析の手順を図７のフローチャートにより説明する。ま
ず、これから注入される試料が標準試料であるか否かを
キーボード２７からの入力の有無により判定し（ステッ
プＳ１）、標準試料でない場合にはステップＳ３に、標
準試料である場合はステップＳ１２に進む。なお、所定
回数毎に標準試料による校正が行なわれるようになって
いる場合には、その回数に達した時点でステップＳ１２
へ進み、それ以外の時はステップＳ３へ進む。
【００１０】次に注入される試料が標準試料ではない場
合は、次のような手順で試料の分析を行なう。まずステ
ップＳ３で、注入器１４に対して注入信号を出力し、試
料を移動相中に注入させる。データ処理用ＣＰＵ２２
は、その注入時刻をｔ＝０として時間をカウントすると
ともに、検出器１７から送られてくる測定データを逐次
Ａ／Ｄ変換し、ＲＡＭ２６又は外部記憶装置３７に記憶
させてゆく（ステップＳ４）。検出器１７で測定される
データのカーブは例えば図２に示すようなものとなり、
ベースライン上に１個又は複数個のピークｐ1、ｐ2、…
が現われたカーブとなる。なお、最初に出てくるピーク
ｐMは、試料の溶媒のピークである。予め定められた時
間が経過した時点でデータの収集を終え、蓄積されたデ
ータを読み出して、まず、図２にような測定カーブから
ピークを検出する（ステップＳ５）。具体的には例えば
図５に示すように、測定カーブの各点の接線Ｔの傾きθ
が所定のピーク開始角度θs以上となる点をピーク開始
点、傾き０及び傾き最小値を経由した後所定のピーク終
了角度θe以上となる点をピーク終了点とし、その間の
最大値が所定値以上であるものをピークと認識する方法
が考えられる。このような方法で全てのピークを検出し
た後、値が最大となる点を各ピークの頂点として検出
し、試料を注入してからその点が現われるまでの経過時
間を保持時間ｔtとして検出する。各ピークｐ1〜ｐmに
ついてこうして保持時間ｔ1〜ｔmを検出した（ステップ
Ｓ６）後、それらの値ｔ1〜ｔmをＲＡＭ２６に記憶され
ている参照テーブル（図４）の保持時間の欄と照らし合
わせ（ステップＳ７）、各成分を決定する（ステップＳ
８）。以上が通常の試料の分析の手順である。
合は、次のような手順で試料の分析を行なう。まずステ
ップＳ３で、注入器１４に対して注入信号を出力し、試
料を移動相中に注入させる。データ処理用ＣＰＵ２２
は、その注入時刻をｔ＝０として時間をカウントすると
ともに、検出器１７から送られてくる測定データを逐次
Ａ／Ｄ変換し、ＲＡＭ２６又は外部記憶装置３７に記憶
させてゆく（ステップＳ４）。検出器１７で測定される
データのカーブは例えば図２に示すようなものとなり、
ベースライン上に１個又は複数個のピークｐ1、ｐ2、…
が現われたカーブとなる。なお、最初に出てくるピーク
ｐMは、試料の溶媒のピークである。予め定められた時
間が経過した時点でデータの収集を終え、蓄積されたデ
ータを読み出して、まず、図２にような測定カーブから
ピークを検出する（ステップＳ５）。具体的には例えば
図５に示すように、測定カーブの各点の接線Ｔの傾きθ
が所定のピーク開始角度θs以上となる点をピーク開始
点、傾き０及び傾き最小値を経由した後所定のピーク終
了角度θe以上となる点をピーク終了点とし、その間の
最大値が所定値以上であるものをピークと認識する方法
が考えられる。このような方法で全てのピークを検出し
た後、値が最大となる点を各ピークの頂点として検出
し、試料を注入してからその点が現われるまでの経過時
間を保持時間ｔtとして検出する。各ピークｐ1〜ｐmに
ついてこうして保持時間ｔ1〜ｔmを検出した（ステップ
Ｓ６）後、それらの値ｔ1〜ｔmをＲＡＭ２６に記憶され
ている参照テーブル（図４）の保持時間の欄と照らし合
わせ（ステップＳ７）、各成分を決定する（ステップＳ
８）。以上が通常の試料の分析の手順である。
【００１１】これから注入される試料が標準試料である
場合には、まず、外部記憶装置３７又はＲＯＭ２５か
ら、その標準試料の測定カーブに現われるべきピークの
数ｎを読み出す（ステップＳ１２）。そして、前記の場
合と同様、標準試料を注入器１４により移動相中に注入
し（ステップＳ１３）、検出器１７からのデータを集積
する（ステップＳ１４）。そして所定時間経過後、蓄積
したデータを読み出し（例えば、図６に示すグラフのよ
うになっている）、後部から（すなわち、時間の値の大
きい方から）ピークｐkを検出してゆく（ステップＳ１
５）。後部から検出してゆくのは、時間の値の小さい方
の最初のピークは溶媒のピーク（図２のｐM）と重なる
場合があり、この場合には正しいピーク検出が行なえな
い可能性があるからである。そして、上記同様に、その
ピークｐkの保持時間ｔkを検出する（ステップＳ１
６）。これまでは上記通常の分析の場合と同様である
が、ここからが標準試料について独特の処理となり、求
められた保持時間ｔkを、参照テーブル（図４）の該当
成分の保持時間の欄に直ちに記憶させる（ステップＳ１
７）。詳しくは、図６に示すように、標準試料の各成分
の各ピークｐkの保持時間ｔkに対して所定の幅を持たせ
た上下限値ｔkL及びｔkUを決定し、それらの値を参照テ
ーブル（図４）に格納する。その後、カウンタｋ及びｎ
をそれぞれ１づつデクリメントし（ステップＳ１８）、
最初のピークｐ1まで（ステップＳ１９）、ステップＳ
１５のピーク検出及びステップＳ１６の保持時間検出ｔ
kを繰り返す。
場合には、まず、外部記憶装置３７又はＲＯＭ２５か
ら、その標準試料の測定カーブに現われるべきピークの
数ｎを読み出す（ステップＳ１２）。そして、前記の場
合と同様、標準試料を注入器１４により移動相中に注入
し（ステップＳ１３）、検出器１７からのデータを集積
する（ステップＳ１４）。そして所定時間経過後、蓄積
したデータを読み出し（例えば、図６に示すグラフのよ
うになっている）、後部から（すなわち、時間の値の大
きい方から）ピークｐkを検出してゆく（ステップＳ１
５）。後部から検出してゆくのは、時間の値の小さい方
の最初のピークは溶媒のピーク（図２のｐM）と重なる
場合があり、この場合には正しいピーク検出が行なえな
い可能性があるからである。そして、上記同様に、その
ピークｐkの保持時間ｔkを検出する（ステップＳ１
６）。これまでは上記通常の分析の場合と同様である
が、ここからが標準試料について独特の処理となり、求
められた保持時間ｔkを、参照テーブル（図４）の該当
成分の保持時間の欄に直ちに記憶させる（ステップＳ１
７）。詳しくは、図６に示すように、標準試料の各成分
の各ピークｐkの保持時間ｔkに対して所定の幅を持たせ
た上下限値ｔkL及びｔkUを決定し、それらの値を参照テ
ーブル（図４）に格納する。その後、カウンタｋ及びｎ
をそれぞれ１づつデクリメントし（ステップＳ１８）、
最初のピークｐ1まで（ステップＳ１９）、ステップＳ
１５のピーク検出及びステップＳ１６の保持時間検出ｔ
kを繰り返す。
【００１２】以上の処理により、参照テーブルにはその
時点での測定条件に応じた正確な保持時間が書き込ま
れ、それ以降に行なわれる未知試料の分析においては、
更新された最新の参照テーブルにより成分の決定が行な
われる（ステップＳ７、Ｓ８）。
時点での測定条件に応じた正確な保持時間が書き込ま
れ、それ以降に行なわれる未知試料の分析においては、
更新された最新の参照テーブルにより成分の決定が行な
われる（ステップＳ７、Ｓ８）。
【００１３】なお、上記実施例ではノンサプレッサ型イ
オンクロマト分析装置を一例として採り上げたが、本発
明はもちろんサプレッサ型イオンクロマト分析装置にも
適用可能であり、更に、一般の液体クロマトグラフ分析
装置、ガスクロマトグラフ分析装置等、あらゆる種類の
クロマトグラフ分析装置に適用することが可能である。
オンクロマト分析装置を一例として採り上げたが、本発
明はもちろんサプレッサ型イオンクロマト分析装置にも
適用可能であり、更に、一般の液体クロマトグラフ分析
装置、ガスクロマトグラフ分析装置等、あらゆる種類の
クロマトグラフ分析装置に適用することが可能である。
【００１４】
【発明の効果】本発明に係るクロマトグラフ分析装置で
は、標準試料が分析されると予め指示された場合（所定
の規則により、標準試料が分析される番であることが定
まっている場合を含む）には、測定された各ピークの保
持時間は直ちに参照テーブルの該当成分の保持時間の欄
に書き込まれ、参照テーブルが更新される。これによ
り、その後の未知試料に対する分析は更新された参照テ
ーブルを参照して行なわれるため、常に正しい分析結果
が出力され、後に再解析する必要がなくなる。
は、標準試料が分析されると予め指示された場合（所定
の規則により、標準試料が分析される番であることが定
まっている場合を含む）には、測定された各ピークの保
持時間は直ちに参照テーブルの該当成分の保持時間の欄
に書き込まれ、参照テーブルが更新される。これによ
り、その後の未知試料に対する分析は更新された参照テ
ーブルを参照して行なわれるため、常に正しい分析結果
が出力され、後に再解析する必要がなくなる。
【図１】 本発明の一実施例であるイオンクロマト分析
装置の概略構成図。
装置の概略構成図。
【図２】 実施例のイオンクロマト分析装置で得られる
測定カーブの一例を示すグラフ。
測定カーブの一例を示すグラフ。
【図３】 実施例のイオンクロマト分析装置の制御部の
構成を示すブロック図。
構成を示すブロック図。
【図４】 参照テーブルの説明図。
【図５】 測定カーブからピーク及び保持時間を検出す
る手順を示す説明図。
る手順を示す説明図。
【図６】 標準試料の測定カーブ例を示すグラフ。
【図７】 実施例のイオンクロマト分析装置における自
動連続分析の手順を示すフローチャート。
動連続分析の手順を示すフローチャート。
【符号の説明】 １１…移動相 １２…ポンプ １３…試料 １４…注入器 １５…カラム １６…オーブン １７…ＣＤＤ型検出器 ２０…制御部 θs…ピーク開始角度 θe…ピーク終了角度
Claims (1)
- 【請求項１】 検出器から出力される測定カーブからピ
ークを検出し、各ピークの保持時間を測定して、参照テ
ーブルに保持されている値と比較することにより試料の
分析を行なうクロマトグラフ分析装置において、 標準試料が分析される場合には、測定された各ピークの
保持時間を直ちに参照テーブルに書き込むことにより参
照テーブルを更新することを特徴とするクロマトグラフ
分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15937294A JPH085625A (ja) | 1994-06-16 | 1994-06-16 | クロマトグラフ分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15937294A JPH085625A (ja) | 1994-06-16 | 1994-06-16 | クロマトグラフ分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH085625A true JPH085625A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=15692393
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15937294A Pending JPH085625A (ja) | 1994-06-16 | 1994-06-16 | クロマトグラフ分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH085625A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1172498A (ja) * | 1997-08-28 | 1999-03-16 | Hitachi Ltd | 分析装置 |
| JP2002267646A (ja) * | 2001-03-08 | 2002-09-18 | Sekisui Chem Co Ltd | クロマトグラフのピーク検出方法及びクロマトグラフ装置 |
| JP2004508566A (ja) * | 2000-09-08 | 2004-03-18 | ウォーターズ・インヴェストメンツ・リミテッド | 検出器応答プロフィールの境界を決定し、かつプロセスを制御するための方法および装置 |
| WO2015056329A1 (ja) * | 2013-10-17 | 2015-04-23 | 株式会社島津製作所 | 波形中のピーク端点検出方法および検出装置 |
| JP2018179853A (ja) * | 2017-04-18 | 2018-11-15 | 東ソー株式会社 | 溶出時間の変動に影響を受けないピーク同定方法 |
-
1994
- 1994-06-16 JP JP15937294A patent/JPH085625A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1172498A (ja) * | 1997-08-28 | 1999-03-16 | Hitachi Ltd | 分析装置 |
| JP2004508566A (ja) * | 2000-09-08 | 2004-03-18 | ウォーターズ・インヴェストメンツ・リミテッド | 検出器応答プロフィールの境界を決定し、かつプロセスを制御するための方法および装置 |
| JP4865981B2 (ja) * | 2000-09-08 | 2012-02-01 | ウォーターズ・テクノロジーズ・コーポレーション | 検出器応答プロフィールの境界を決定し、かつプロセスを制御するための方法および装置 |
| JP2002267646A (ja) * | 2001-03-08 | 2002-09-18 | Sekisui Chem Co Ltd | クロマトグラフのピーク検出方法及びクロマトグラフ装置 |
| JP4511751B2 (ja) * | 2001-03-08 | 2010-07-28 | 積水化学工業株式会社 | クロマトグラフのピーク検出方法及びクロマトグラフ装置 |
| WO2015056329A1 (ja) * | 2013-10-17 | 2015-04-23 | 株式会社島津製作所 | 波形中のピーク端点検出方法および検出装置 |
| JPWO2015056329A1 (ja) * | 2013-10-17 | 2017-03-09 | 株式会社島津製作所 | 波形中のピーク端点検出方法および検出装置 |
| JP2018179853A (ja) * | 2017-04-18 | 2018-11-15 | 東ソー株式会社 | 溶出時間の変動に影響を受けないピーク同定方法 |
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