JP4461919B2 - クロマトグラフ質量分析測定方法及び装置 - Google Patents
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Description
試料中の目的成分に対応する質量を選択的に測定する選択イオンモニタリング(SIM)測定機能を有するクロマトグラフ質量分析装置において、
a) トータルイオンクロマトグラム作成手段と、
b) トータルイオンクロマトグラムより所定の基準に基づきピークを選択し、各ピークの保持時間及び構成質量を決定するピーク決定手段と、
c) 各ピークの構成質量を選択的に測定するSIM測定を行う時間範囲である各ピークに応じた各時間範囲を、各ピークの保持時間の前後の、ピークによらない所定の時間ずつとし、前記各時間範囲がオーバーラップする複数のピークに含まれる各ピークの前記SIM測定を、前記各時間範囲のみ行うSIM測定手段と、
を備えることを特徴とする。
そして、多くのピークが近接している箇所において、同時に測定する質量の個数が従来よりも少なくなるため、1つの質量に対する測定時間を十分にとることができ、高い感度で測定を行うことができるようになる。
本実施例で用いるクロマトグラフ質量分析装置の構成は、基本的には図1に示したガスクロマトグラフ質量分析装置と同じである。但し、SIM測定の方法が従来とは異なる。以下、本実施例のクロマトグラフ質量分析測定装置におけるSIM測定の方法を説明する。
12…MS部
13…データ処理部
14…制御部
15…入力部
16…記憶部
17…時間範囲決定部
18…カラム
21〜25…SIM測定を行う時間範囲(従来)
30−1〜30−11…SIM測定を行う時間範囲(本発明)
Claims (4)
- 試料中の目的成分に対応する質量を選択的に測定する選択イオンモニタリング(SIM)測定を行うクロマトグラフ質量分析測定方法において、
各目的成分に対応する質量を選択的に測定するSIM測定を行う時間範囲である各目的成分に応じた各時間範囲を、各目的成分の保持時間の前後の、目的成分によらない所定の時間ずつとし、前記各時間範囲がオーバーラップする複数の目的成分に含まれる各目的成分の前記SIM測定を、前記各時間範囲のみ行うことを特徴とするクロマトグラフ質量分析測定方法。 - 前記SIM測定において1つの質量当たりに割り当てられる測定時間を同時に測定する目的成分の数に拘わらず所定の時間に固定することを特徴とする請求項1に記載のクロマトグラフ質量分析測定方法。
- 試料中の目的成分に対応する質量を選択的に測定する選択イオンモニタリング(SIM)測定機能を有するクロマトグラフ質量分析装置において、
a) トータルイオンクロマトグラム作成手段と、
b) トータルイオンクロマトグラムより所定の基準に基づきピークを選択し、各ピークの保持時間及び構成質量を決定するピーク決定手段と、
c) 各ピークの構成質量を選択的に測定するSIM測定を行う時間範囲である各ピークに応じた各時間範囲を、各ピークの保持時間の前後の、ピークによらない所定の時間ずつとし、前記各時間範囲がオーバーラップする複数のピークに含まれる各ピークの前記SIM測定を、前記各時間範囲のみ行うSIM測定手段と、
を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。 - SIM測定手段が、1つの質量当たりに割り当てられる測定時間を同時に測定する目的成分の数に拘わらず所定の時間に固定して行うことを特徴とする請求項3に記載のクロマトグラフ質量分析装置。
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