JP4953175B2 - クロマトグラフ/質量分析装置における定量精度向上方法 - Google Patents
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Description
イ)質量スペクトル確認用標準物質又はチューニング用標準物質とその標準質量スペクトルを決定するステップ、
ロ)チューニング後、チューニング結果又は前記質量スペクトル確認用標準物質を測定し、得られた質量スペクトルと標準質量スペクトルの差を求めるステップ、
ハ)標準質量スペクトルとチューニング後の測定質量スペクトルの全ての質量数について両者の差がなくなるような係数を演算算出するステップ、
標準イオン強度=測定時イオン強度×補正係数
ニ)データベースの作成時及び試料測定時には、前記補正係数を求めて対象物質と内標準の測定イオン強度に前記補正係数を乗じてそれぞれのピーク強度を補正するステップ、
を有するクロマトグラフ/質量分析装置における定量精度向上方法である。
標準イオン強度=測定時イオン強度×補正係数
データベース作成時(又は検量線作成時)及び試料測定時には、前記のように、スペクトル補正係数を求めて、測定対象物質と内標準のイオン強度に補正係数を乗じてそれぞれの標準ピーク強度を求める。
(1)質量スペクトル補正用標準物質又は質量校正(チューニング)用標準物質とその基準質量スペクトルを決定する。ここで、質量校正(チューニング)用標準物質を質量スペクトル補正用標準物質とするときは、下記(3)ステップは省略できる。
(2)使用するクロマトグラフ/質量分析装置のチューニング(質量校正)を行う。
(3)クロマトグラフ/質量分析装置に質量スペクトル補正用標準物質を導入し、質量スペクトルを測定する。
(4)測定して得られた質量スペクトル補正用標準物質の質量スペクトル(測定質量スペクトル)と、ステップ(1)で決定していた質量スペクトル補正用標準物質の基準質量スペクトルを用い、所定のフラグメントイオン(質量数)を対象として両者の相対イオン強度の比を求める。その際、質量分析装置のチューニングに用いる物質を質量スペクトル補正用標準物質としてもよい。
(5)所定のフラグメントイオン(質量数)の基準質量スペクトルの相対イオン強度と測定質量スペクトルの相対イオン強度の比から、質量走査範囲の全ての質量数に関して、次式に示す補正係数を求める。
相対イオン強度(i)=測定時相対イオン強度(i)×補正係数(i)
注)i:質量走査の下限
相対イオン強度(i+1)=測定時相対イオン強度(i+1)×補正係数(i+1)
・
・
・
相対イオン強度(n)=測定時相対イオン強度(n)×補正係数(n)
注)n:質量走査の上限
(6)試料を測定して得られた測定対象物質(X)の質量スペクトルの全てのフラグメントイオンに上記の補正係数を乗じてXの補正質量スペクトルを求める。また、試料測定時のXの測定イオンのマスクロマトグラム(選択イオン検出法の場合は、測定イオンのSIM(selected ion monitoring)クロマトグラム)のピーク面積(高さ)に補正係数を乗じたものが補正ピーク面積(高さ)である。
(7)対象物質の検量線作成時にステップ(1)からステップ(5)を実施して補正係数を求め、この補正係数によって測定イオンのピーク面積(高さ)を補正することにより、標準化した検量線の作成ができる。また、試料から得られた測定イオンのピーク面積(高さ)を補正係数で補正することによって、標準化した検量線での定量が可能となる。
2)事前に決定している質量スペクトル補正用標準物質の基準質量スペクトルと、測定質量スペクトルをベースピーク(m/z=198)でそれぞれ規格化した後、各フラグメントイオンの相対強度を求めた。その結果を、表1に示す。
Claims (1)
- クロマトグラフからの溶出成分の質量スペクトルを一定時間間隔で測定した後、質量スペクトル、保持時間から求めた保持指標、および内標準法による検量線を作成して、それらをデータベース化するステップ、内標準を添加した測定試料について、同様に質量スペクトルを測定してそのクロマトグラムのピークの相対保持指標を求め、前記データベースに登録された成分の質量スペクトルが、試料クロマトグラムのその相対保持指標を含む一定範囲内に含まれているか否かその存否をリバースサーチによって検索するステップ、および所定の確度で存在することが判明したときに内標準とのピーク面積比を求め、上記データベースに登録されている検量線から当該成分の存在量を演算算出するステップを有するクロマトグラフ/質量分析装置における汎用多成分一斉同定・定量方法において、
イ)質量スペクトル確認用標準物質又はチューニング用標準物質とその標準質量スペクトルを決定するステップ、
ロ)チューニング後、チューニング結果又は前記質量スペクトル確認用標準物質を測定し、得られた質量スペクトルと標準質量スペクトルの差を求めるステップ、
ハ)標準質量スペクトルとチューニング後の測定質量スペクトルの全ての質量数について両者の差がなくなるような係数を演算算出するステップ、
標準イオン強度=測定時イオン強度×補正係数
ニ)データベースの作成時及び試料測定時には、前記補正係数を求めて対象物質と内標準の測定イオン強度に前記係数を乗じてそれぞれのピーク強度を補正するステップ、
を有することを特徴とするクロマトグラフ/質量分析装置における定量精度向上方法。
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