JP2003172726A - クロマトグラフ質量分析装置 - Google Patents
クロマトグラフ質量分析装置Info
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- JP2003172726A JP2003172726A JP2001373609A JP2001373609A JP2003172726A JP 2003172726 A JP2003172726 A JP 2003172726A JP 2001373609 A JP2001373609 A JP 2001373609A JP 2001373609 A JP2001373609 A JP 2001373609A JP 2003172726 A JP2003172726 A JP 2003172726A
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- Japan
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- condition table
- group
- measurement
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＳＩＭ測定条件の変更や修正に関する操作を
簡単化する。 【解決手段】 ＳＩＭ測定条件設定用の入力画面１０で
は、横軸を時間軸とし、それぞれの保持時間の位置に成
分を表示するとともに各グループの測定時間範囲を表示
した入力指示用グラフ１３を、ＳＩＭ測定条件テーブル
１１及び化合物テーブル１２と同一画面上に表示する。
例えば、或るグループを２つに分割したい場合、ＳＩＭ
測定条件テーブル１１上でそのグループの枠を指定し、
入力指示用グラフ１３上で分割したい位置をマウス等で
指定する。すると、そのグラフ１３上ではマーカＭが移
動し、テーブル１１上では、その指示位置が終了時間と
なるようにグループが分割されて内容が変更される。変
更内容等がグラフィカルに表示されるため、ユーザは直
感的に理解し易く、操作ミスも減少する。
簡単化する。 【解決手段】 ＳＩＭ測定条件設定用の入力画面１０で
は、横軸を時間軸とし、それぞれの保持時間の位置に成
分を表示するとともに各グループの測定時間範囲を表示
した入力指示用グラフ１３を、ＳＩＭ測定条件テーブル
１１及び化合物テーブル１２と同一画面上に表示する。
例えば、或るグループを２つに分割したい場合、ＳＩＭ
測定条件テーブル１１上でそのグループの枠を指定し、
入力指示用グラフ１３上で分割したい位置をマウス等で
指定する。すると、そのグラフ１３上ではマーカＭが移
動し、テーブル１１上では、その指示位置が終了時間と
なるようにグループが分割されて内容が変更される。変
更内容等がグラフィカルに表示されるため、ユーザは直
感的に理解し易く、操作ミスも減少する。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ガスクロマトグラ
フ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ）や液体クロマトグラフ質
量分析装置（ＬＣ／ＭＳ）などのクロマトグラフ質量分
析装置に関し、更に詳しくは、ＳＩＭ（Selected Ion M
onitering：選択イオンモニタリング）測定を行うため
のクロマトグラフ質量分析装置に関する。 【０００２】 【従来の技術】図１１は従来知られているＧＣ／ＭＳの
概略構成図である。ＧＣ部１はカラムを含み、分析対象
の試料に含まれる成分を時間的に分離してＭＳ部２へと
送る。ＭＳ部２は時間経過に伴って順次与えられる試料
成分をイオン化し、このイオンを質量数（＝質量／電
荷）毎に分離して検出する。データ処理部３はそのイオ
ン検出信号を受けて所定の演算処理を実行する。元の試
料中の各成分はＧＣ部１で時間軸方向に分離された後
に、更にＭＳ部２で質量数軸上で分離されるから、デー
タ処理部３では、図１２に示すような概念の３次元方向
のデータが得られる。 【０００３】このようなＧＣ／ＭＳを用いた測定方法と
しては、いわゆるスキャン測定と、ＳＩＭ測定とが知ら
れている。スキャン測定では、所定の質量数範囲内で質
量数を走査するから、その質量数範囲に含まれる全ての
イオンが検出される。したがって、未知試料の定性分析
等、分析対象成分の質量数が不明である場合に有用であ
る。一方、ＳＩＭ測定では、予め指定された複数の特定
の質量数を有するイオンのみを選択的に時分割で検出す
る。したがって、分析対象の物質が既知で、その物質の
定量分析を高感度で行う場合に有用である。 【０００４】上述のようにＳＩＭ測定では、測定に先立
って測定対象の質量数を設定しておく必要がある。従来
のＧＣ／ＭＳにおけるＳＩＭ測定条件の設定方法は次の
通りである。すなわち、ＳＩＭ測定条件を設定する際に
は、図２に示すようなテーブルを表示部６の画面上に表
示させる。このテーブルでは、１行が１つの測定時間範
囲に対応しており、その１つの測定時間範囲内で測定対
象とする１乃至複数の質量数が列方向に記載されてい
る。したがって、ＳＩＭ測定条件の設定としては、この
ようなテーブル上で、測定しようとする時間範囲を１乃
至複数入力し、それぞれの測定時間範囲内において測定
したい質量数を１乃至複数入力する。なお、ここではＳ
ＩＭ測定条件テーブルの１行のことをグループと呼んで
いる。 【０００５】図２の例では、測定開始時点を０分とした
とき、６分から８分までの間に100，200，300及び400の
４つの質量数を測定し（第１グループ）、次の８分から
１１分までの間に140，240，150，250及び350の５つの
質量数を測定し（第２グループ）、次の１１分から１３
分までの間に300の１つの質量数を測定する（第３グル
ープ）。なお、１つの測定時間範囲（つまりグループ）
内では、その範囲に設定されている質量数を選択的に繰
り返し測定する。 【０００６】上記のような測定条件テーブルの全ての入
力項目を手動のキー操作で入力するのは面倒である。そ
こで、例えば図３に示すように、分析対象成分を表にし
た化合物テーブルが予め設定されている場合には、この
化合物テーブルの情報から自動的に上記ＳＩＭ測定条件
テーブルを作成することもできるようになっている。そ
うした機能を利用すれば、ＳＩＭ測定条件テーブルの情
報を一々手動で入力する手間は省ける。 【０００７】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たように手動でＳＩＭ測定条件テーブルを入力設定した
場合はもちろんのこと、自動的にＳＩＭ測定条件テーブ
ルを作成した場合でも、一旦ＳＩＭ測定条件テーブルを
設定した後に、その内容を変更したり修正したりするの
は容易ではない。例えば自動で作成された或るＳＩＭ測
定条件テーブルで１行に多くの質量数が設定されてしま
ったため、それを２行に分けようとする場合、先ず該当
する行の次に空白行を追加し、適切な終了時間を入力し
た後、該当する測定時間範囲にあるクロマトグラムピー
クの質量数を元の行から新たな挿入行に移動するという
操作を行わなければならない。 【０００８】また、こうした分析では、測定を繰り返し
ているうちにクロマトグラムピークの出現位置が時間軸
方向にずれてくることが頻繁にあるが、そのときにはＳ
ＩＭ測定条件テーブル内で各測定時間範囲における終了
時間を変更し、適切な測定範囲に設定し直さなければな
らない。しかしながら、従来のＧＣ／ＭＳではこのよう
な変更もたいへん面倒な作業である。 【０００９】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、その目的とするところは、ＳＩＭ
測定における測定条件の設定入力や一旦設定した測定条
件の変更や修正などを容易に、つまり効率良く行うこと
ができるようにしたクロマトグラフ質量分析装置を提供
することにある。 【００１０】 【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置では、手
動又は自動で作成されたＳＩＭ測定条件テーブルを修正
・変更する際に、時間軸上においてその時点で設定され
ている測定時間範囲とその範囲に属する目的成分とが視
覚的に理解できるように表示したグラフ上で、その測定
時間範囲の設定や修正・変更をグラフィカルに行うこと
により、直感的且つ容易にその操作を行えるようにして
いる。 【００１１】すなわち、本発明は、目的となる化合物を
表すクロマトグラムピークの前後でいくつかの質量数を
選択的に測定する選択イオンモニタリング（ＳＩＭ）測
定を実行するクロマトグラフ質量分析装置において、 a)二次元画像を表示可能な表示手段と、 b)ユーザにより操作される操作手段と、 c)前記表示手段の画面内に、 c1)測定時間範囲とその範囲内での測定対象の質量数と
を表形式で記載したＳＩＭ測定条件テーブル、及び、 c2)分析対象の試料に含まれる既知の成分名又はその成
分を示す記号をその保持時間に応じて時間軸上に配置す
るとともに、その時点で設定されている測定時間範囲を
前記時間軸上に記載したグラフであって、前記操作手段
による操作に応じ前記時間軸に沿って移動自在である指
示標識を重畳して表示したグラフ、を同時に表示する表
示制御手段と、 d)前記グラフ上での操作に応じて前記ＳＩＭ測定条件テ
ーブルの内容を変更又は修正する処理手段と、を備える
ことを特徴としている。 【００１２】なお、本発明に係るクロマトグラフ質量分
析装置では、前記グラフ上におけるグラフィカルな入力
のみで前記ＳＩＭ測定条件テーブルの内容が変更又は修
正されるようにしてもよいが、そのほかに、ＳＩＭ測定
条件テーブル内の一部領域の指示操作と前記グラフ上に
おけるグラフィカルな入力操作との併用により、そのＳ
ＩＭ測定条件テーブルの内容が変更又は修正されるよう
にしてもよい。 【００１３】 【発明の実施形態】本発明の一実施形態について図面を
参照しながら説明する。本実施形態によるＧＣ／ＭＳは
図１１に示した従来装置と同様の構成を有しているが、
制御部４における、操作部５及び表示部６と関連したマ
ン-マシンインタフェイス、より詳しくはＳＩＭ測定の
際の測定条件の設定方法が相違している。実際には制御
部４の実体はパーソナルコンピュータであり、そのコン
ピュータ上で所定のプログラムが動作することによりそ
の機能が達成されるから、ＳＩＭ測定条件の設定方法の
相違とはそのプログラムの相違である。 【００１４】以下、本実施形態によるＧＣ／ＭＳの特徴
であるＳＩＭ測定条件の設定方法について詳細に説明す
る。ここでは、図３に示したように、測定したい成分ピ
ークの保持時間と質量数とが設定された化合物テーブル
が、予め入力されているものとする。そして、その化合
物テーブルから手動或いは自動処理によって、図２に示
すような初期的なＳＩＭ測定条件テーブルが作成されて
いるものとする。初期的なＳＩＭ測定条件テーブルの作
成は如何なる方法であってもよい。所定の規則に基づい
て、１つの測定時間範囲内に適当な個数の質量数が割り
当てられるようにして、複数の測定時間範囲が設定され
ているものとする。 【００１５】このようなＳＩＭ測定条件テーブルの設定
内容を修正・変更したい場合、ユーが操作部５より所定
の操作を行うと、表示部６の画面上には図１に示すよう
な入力画面１０が表示される。すなわち、１つの画面内
に、図２に示すようなＳＩＭ測定条件テーブル１１、図
３に示すような化合物テーブル１２、及び、図４に示す
ような入力指示用グラフ１３が同時に表示される。な
お、図１では、これら３つが同一ウインドウ内に表示さ
れているが、それぞれ異なるウインドに表示されたもの
が同時に開いて重なって表示されていてもよい。 【００１６】図２、図３については既述の通りのテーブ
ルである。図４について説明すると、横軸は時間軸であ
って、少なくともＳＩＭ測定条件テーブル１１に記載さ
れている開始時間（ここでは６分）から最後のグループ
の終了時間（ここでは１３分）までの範囲を含むような
時間軸である。この時間軸上で、ＳＩＭ測定条件テーブ
ル１１で設定されている各グループの測定時間範囲が両
端矢印の範囲として表示されるとともに、そのグループ
番号（図１、図４中での（＊）で示す数字）が表示され
ている。また、化合物テーブル１２に列記されている全
ての成分（成分Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ）の名称（又はそれ
を特定可能な記号等）が、ほぼその保持時間に対応する
位置に表示されている。したがって、このグラフを見れ
ば、その時点で設定されている測定時間範囲とその範囲
に属する成分とを直感的に認識することができる。 【００１７】更に、同グラフ１３には垂直に延伸する太
線であるマーカＭが重畳して表示されている。このマー
カＭは、ＳＩＭ測定条件テーブル１１において選択され
ているグループの終了時間を表している。ここで「選択
されているグループ」とは、ＳＩＭ測定条件テーブル１
１において太線の枠で囲まれた行のことである。また、
マーカＭは、操作部５に含まれるポインティングデバイ
ス（マウス、トラックボール、スライドパッドなど）の
操作に応じて時間軸に沿って移動可能な一種のカーソル
であると看做すことができる。 【００１８】上記入力設定画面を表示した状態から、Ｓ
ＩＭ測定条件テーブル１１の内容を変更したい場合の操
作は次の通りである。 【００１９】（Ａ）グループの終了時間を移動すること
によって、そのグループに所属する質量数を変更する場
合 いま、化合物テーブル１２に設定されている成分Ｄに関
する質量数を、ＳＩＭ測定条件テーブル１１の第２グル
ープから第３グループに移動したい場合、図１及び図２
に示すようにＳＩＭ測定条件テーブル１１上で第２グル
ープが選択されている状態において、入力指示用グラフ
１３上に表示されている成分Ｃと成分Ｄの間の一点を、
例えばマウスによるクリック操作により指示する。する
と、入力指示用グラフ１３上のマーカＭは、図５に示す
ように成分Ｃと成分Ｄとの間の指定された位置に移動す
る。そしてこれに連動して、図６に示すようにＳＩＭ測
定条件テーブル１１において第２グループの終了時間が
マーカＭが移動した先の時間に変更され、また該当する
質量数が第２グループから第３グループに移動する。更
にこれに伴い、入力指示用グラフ１３上の測定時間範囲
も図５に示すように変更される。 【００２０】すなわち、設定変更（Ａ）のための手順と
しては、先ず、ＳＩＭ測定条件テーブル１１上で移動の
対象となるグループを選択し（この選択の操作として
は、例えば目的とするグループの枠の一部や枠内をマウ
スでクリック操作する等でよい）、その後、入力指示用
グラフ１３上で特定の時間を指定する、という２段階の
操作を行えばよい。 【００２１】（Ｂ）１つのグループを２つに分割する場
合 例えば図４に示されているＳＩＭ測定条件テーブル１１
上の第３グループを２つに分割する場合、先ず、第３グ
ループの前に空白行を挿入する。空白行を挿入するコマ
ンドは予めＳＩＭ測定条件テーブル１１の編集機能の１
つとして搭載しておくものとする。そして、ＳＩＭ測定
条件テーブル１１上において挿入した行を選択した後、
入力指示用グラフ１３上で第３グループの測定時間範囲
内の特定の箇所（この例では11.5分の位置）をポインテ
ィングデバイスにより指定する。この指定により上記挿
入行の測定時間範囲が確定され、これに伴い、図７に示
すように入力指示用グラフ１３上でマーカＭが移動する
とともに、測定時間範囲の矢印表示が変更される。また
同時に、図９に示すように、確定した測定時間範囲に応
じた終了時間と質量数とがＳＩＭ測定条件テーブル１１
上の先の挿入行に自動的に入力される。 【００２２】すなわち、設定変更（Ｂ）のための手順と
しては、先ず、ＳＩＭ測定条件テーブル１１上で分割の
対象となるグループの前に行を追加し、同じＳＩＭ測定
条件テーブル１１上でその追加した行を選択する。その
後、入力指示用グラフ１３上で特定の時間を指定する、
という３段階の操作を行えばよい。 【００２３】（Ｃ）２つのグループを１つに統合する場
合 例えば図９に示されているＳＩＭ測定条件テーブル１１
上の第３グループと第４グループとを１つに統合する場
合、先ず、そのＳＩＭ測定条件テーブル１１上におい
て、統合したい２つのグループの先のほうの第３グルー
プに対応する行を削除する。行を削除するコマンドも、
予めＳＩＭ測定条件テーブル１１の編集機能の１つとし
て搭載しておくものとする。すると、入力指示用グラフ
１３上では、図８に示すように、削除された次のグルー
プ（この場合第４グループ）の終了時間までマーカＭが
移動し、測定時間範囲も変更される。また、ＳＩＭ測定
条件テーブル１１上では、図１０に示すように、新しい
第３グループの測定時間範囲に属する質量数が自動的に
入力される。 【００２４】なお、仮に図９において第４グループを削
除した場合には、第３グループの終了時間が11.5分であ
るため、成分Ｅに関する質量数はＳＩＭ測定条件テーブ
ル１１のうちのどのグループにも属さなくなる。そこで
この場合、入力指示用グラフ１３上で成分Ｅよりも右側
の適宜の箇所を指定することにより、成分Ｅに関する質
量数を第３グループに所属させる必要がある。 【００２５】すなわち、設定変更（Ｃ）のための手順と
しては、ＳＩＭ測定条件テーブル１１上で、統合しよう
とする２つのグループのうち、前のグループの行を削除
する、という操作を行えばよい。 【００２６】以上説明したように、本実施形態によるＧ
Ｃ／ＭＳによれば、一旦設定したＳＩＭ測定条件テーブ
ル１１の設定内容を変更・修正する際に、その手順が非
常に簡単になるとともに、変更がグラフフィカルに表示
されるためユーザが直感的に理解し易く、操作ミスも軽
減することができる。 【００２７】なお、上記例では、ＳＩＭ測定条件テーブ
ル１１上での操作と入力指示用グラフ１３上での操作を
併用することにより、最終的にＳＩＭ測定条件テーブル
１１に設定されている情報の変更や修正を行うようにし
ていたが、入力指示用グラフ１３上での操作のみによっ
てＳＩＭ測定条件テーブル１１に設定されている情報の
変更や修正を行うように変形することもできる。すなわ
ち、上記例でのＳＩＭ測定条件テーブル１１上での操作
は、グループに対応した行の選択や削除、或いは空白行
の追加等であるから、これに対応する操作を入力指示用
グラフ１３上で行えるようにしておきさえすればよい。 【００２８】また、上記実施形態は本発明の単に一例で
あって、上記変形以外にも、適宜の変更や修正を行える
ことは明らかである。 【００２９】 【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るクロ
マトグラフ質量分析装置によれば、従来のＳＩＭ測定条
件テーブル及び化合物テーブルに加えてグラフィカルな
入力指示が可能であるようなグラフを併用しているの
で、ＳＩＭ測定条件テーブルの情報を修正したり変更し
たりするための操作回数を減らすことができる。また、
修正や変更に必要となる情報がグラフィカルに表示され
るため、ユーザがそれを直感的に認識することができ、
入力ミスの発生も防止することができる。
フ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ）や液体クロマトグラフ質
量分析装置（ＬＣ／ＭＳ）などのクロマトグラフ質量分
析装置に関し、更に詳しくは、ＳＩＭ（Selected Ion M
onitering：選択イオンモニタリング）測定を行うため
のクロマトグラフ質量分析装置に関する。 【０００２】 【従来の技術】図１１は従来知られているＧＣ／ＭＳの
概略構成図である。ＧＣ部１はカラムを含み、分析対象
の試料に含まれる成分を時間的に分離してＭＳ部２へと
送る。ＭＳ部２は時間経過に伴って順次与えられる試料
成分をイオン化し、このイオンを質量数（＝質量／電
荷）毎に分離して検出する。データ処理部３はそのイオ
ン検出信号を受けて所定の演算処理を実行する。元の試
料中の各成分はＧＣ部１で時間軸方向に分離された後
に、更にＭＳ部２で質量数軸上で分離されるから、デー
タ処理部３では、図１２に示すような概念の３次元方向
のデータが得られる。 【０００３】このようなＧＣ／ＭＳを用いた測定方法と
しては、いわゆるスキャン測定と、ＳＩＭ測定とが知ら
れている。スキャン測定では、所定の質量数範囲内で質
量数を走査するから、その質量数範囲に含まれる全ての
イオンが検出される。したがって、未知試料の定性分析
等、分析対象成分の質量数が不明である場合に有用であ
る。一方、ＳＩＭ測定では、予め指定された複数の特定
の質量数を有するイオンのみを選択的に時分割で検出す
る。したがって、分析対象の物質が既知で、その物質の
定量分析を高感度で行う場合に有用である。 【０００４】上述のようにＳＩＭ測定では、測定に先立
って測定対象の質量数を設定しておく必要がある。従来
のＧＣ／ＭＳにおけるＳＩＭ測定条件の設定方法は次の
通りである。すなわち、ＳＩＭ測定条件を設定する際に
は、図２に示すようなテーブルを表示部６の画面上に表
示させる。このテーブルでは、１行が１つの測定時間範
囲に対応しており、その１つの測定時間範囲内で測定対
象とする１乃至複数の質量数が列方向に記載されてい
る。したがって、ＳＩＭ測定条件の設定としては、この
ようなテーブル上で、測定しようとする時間範囲を１乃
至複数入力し、それぞれの測定時間範囲内において測定
したい質量数を１乃至複数入力する。なお、ここではＳ
ＩＭ測定条件テーブルの１行のことをグループと呼んで
いる。 【０００５】図２の例では、測定開始時点を０分とした
とき、６分から８分までの間に100，200，300及び400の
４つの質量数を測定し（第１グループ）、次の８分から
１１分までの間に140，240，150，250及び350の５つの
質量数を測定し（第２グループ）、次の１１分から１３
分までの間に300の１つの質量数を測定する（第３グル
ープ）。なお、１つの測定時間範囲（つまりグループ）
内では、その範囲に設定されている質量数を選択的に繰
り返し測定する。 【０００６】上記のような測定条件テーブルの全ての入
力項目を手動のキー操作で入力するのは面倒である。そ
こで、例えば図３に示すように、分析対象成分を表にし
た化合物テーブルが予め設定されている場合には、この
化合物テーブルの情報から自動的に上記ＳＩＭ測定条件
テーブルを作成することもできるようになっている。そ
うした機能を利用すれば、ＳＩＭ測定条件テーブルの情
報を一々手動で入力する手間は省ける。 【０００７】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たように手動でＳＩＭ測定条件テーブルを入力設定した
場合はもちろんのこと、自動的にＳＩＭ測定条件テーブ
ルを作成した場合でも、一旦ＳＩＭ測定条件テーブルを
設定した後に、その内容を変更したり修正したりするの
は容易ではない。例えば自動で作成された或るＳＩＭ測
定条件テーブルで１行に多くの質量数が設定されてしま
ったため、それを２行に分けようとする場合、先ず該当
する行の次に空白行を追加し、適切な終了時間を入力し
た後、該当する測定時間範囲にあるクロマトグラムピー
クの質量数を元の行から新たな挿入行に移動するという
操作を行わなければならない。 【０００８】また、こうした分析では、測定を繰り返し
ているうちにクロマトグラムピークの出現位置が時間軸
方向にずれてくることが頻繁にあるが、そのときにはＳ
ＩＭ測定条件テーブル内で各測定時間範囲における終了
時間を変更し、適切な測定範囲に設定し直さなければな
らない。しかしながら、従来のＧＣ／ＭＳではこのよう
な変更もたいへん面倒な作業である。 【０００９】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、その目的とするところは、ＳＩＭ
測定における測定条件の設定入力や一旦設定した測定条
件の変更や修正などを容易に、つまり効率良く行うこと
ができるようにしたクロマトグラフ質量分析装置を提供
することにある。 【００１０】 【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置では、手
動又は自動で作成されたＳＩＭ測定条件テーブルを修正
・変更する際に、時間軸上においてその時点で設定され
ている測定時間範囲とその範囲に属する目的成分とが視
覚的に理解できるように表示したグラフ上で、その測定
時間範囲の設定や修正・変更をグラフィカルに行うこと
により、直感的且つ容易にその操作を行えるようにして
いる。 【００１１】すなわち、本発明は、目的となる化合物を
表すクロマトグラムピークの前後でいくつかの質量数を
選択的に測定する選択イオンモニタリング（ＳＩＭ）測
定を実行するクロマトグラフ質量分析装置において、 a)二次元画像を表示可能な表示手段と、 b)ユーザにより操作される操作手段と、 c)前記表示手段の画面内に、 c1)測定時間範囲とその範囲内での測定対象の質量数と
を表形式で記載したＳＩＭ測定条件テーブル、及び、 c2)分析対象の試料に含まれる既知の成分名又はその成
分を示す記号をその保持時間に応じて時間軸上に配置す
るとともに、その時点で設定されている測定時間範囲を
前記時間軸上に記載したグラフであって、前記操作手段
による操作に応じ前記時間軸に沿って移動自在である指
示標識を重畳して表示したグラフ、を同時に表示する表
示制御手段と、 d)前記グラフ上での操作に応じて前記ＳＩＭ測定条件テ
ーブルの内容を変更又は修正する処理手段と、を備える
ことを特徴としている。 【００１２】なお、本発明に係るクロマトグラフ質量分
析装置では、前記グラフ上におけるグラフィカルな入力
のみで前記ＳＩＭ測定条件テーブルの内容が変更又は修
正されるようにしてもよいが、そのほかに、ＳＩＭ測定
条件テーブル内の一部領域の指示操作と前記グラフ上に
おけるグラフィカルな入力操作との併用により、そのＳ
ＩＭ測定条件テーブルの内容が変更又は修正されるよう
にしてもよい。 【００１３】 【発明の実施形態】本発明の一実施形態について図面を
参照しながら説明する。本実施形態によるＧＣ／ＭＳは
図１１に示した従来装置と同様の構成を有しているが、
制御部４における、操作部５及び表示部６と関連したマ
ン-マシンインタフェイス、より詳しくはＳＩＭ測定の
際の測定条件の設定方法が相違している。実際には制御
部４の実体はパーソナルコンピュータであり、そのコン
ピュータ上で所定のプログラムが動作することによりそ
の機能が達成されるから、ＳＩＭ測定条件の設定方法の
相違とはそのプログラムの相違である。 【００１４】以下、本実施形態によるＧＣ／ＭＳの特徴
であるＳＩＭ測定条件の設定方法について詳細に説明す
る。ここでは、図３に示したように、測定したい成分ピ
ークの保持時間と質量数とが設定された化合物テーブル
が、予め入力されているものとする。そして、その化合
物テーブルから手動或いは自動処理によって、図２に示
すような初期的なＳＩＭ測定条件テーブルが作成されて
いるものとする。初期的なＳＩＭ測定条件テーブルの作
成は如何なる方法であってもよい。所定の規則に基づい
て、１つの測定時間範囲内に適当な個数の質量数が割り
当てられるようにして、複数の測定時間範囲が設定され
ているものとする。 【００１５】このようなＳＩＭ測定条件テーブルの設定
内容を修正・変更したい場合、ユーが操作部５より所定
の操作を行うと、表示部６の画面上には図１に示すよう
な入力画面１０が表示される。すなわち、１つの画面内
に、図２に示すようなＳＩＭ測定条件テーブル１１、図
３に示すような化合物テーブル１２、及び、図４に示す
ような入力指示用グラフ１３が同時に表示される。な
お、図１では、これら３つが同一ウインドウ内に表示さ
れているが、それぞれ異なるウインドに表示されたもの
が同時に開いて重なって表示されていてもよい。 【００１６】図２、図３については既述の通りのテーブ
ルである。図４について説明すると、横軸は時間軸であ
って、少なくともＳＩＭ測定条件テーブル１１に記載さ
れている開始時間（ここでは６分）から最後のグループ
の終了時間（ここでは１３分）までの範囲を含むような
時間軸である。この時間軸上で、ＳＩＭ測定条件テーブ
ル１１で設定されている各グループの測定時間範囲が両
端矢印の範囲として表示されるとともに、そのグループ
番号（図１、図４中での（＊）で示す数字）が表示され
ている。また、化合物テーブル１２に列記されている全
ての成分（成分Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ）の名称（又はそれ
を特定可能な記号等）が、ほぼその保持時間に対応する
位置に表示されている。したがって、このグラフを見れ
ば、その時点で設定されている測定時間範囲とその範囲
に属する成分とを直感的に認識することができる。 【００１７】更に、同グラフ１３には垂直に延伸する太
線であるマーカＭが重畳して表示されている。このマー
カＭは、ＳＩＭ測定条件テーブル１１において選択され
ているグループの終了時間を表している。ここで「選択
されているグループ」とは、ＳＩＭ測定条件テーブル１
１において太線の枠で囲まれた行のことである。また、
マーカＭは、操作部５に含まれるポインティングデバイ
ス（マウス、トラックボール、スライドパッドなど）の
操作に応じて時間軸に沿って移動可能な一種のカーソル
であると看做すことができる。 【００１８】上記入力設定画面を表示した状態から、Ｓ
ＩＭ測定条件テーブル１１の内容を変更したい場合の操
作は次の通りである。 【００１９】（Ａ）グループの終了時間を移動すること
によって、そのグループに所属する質量数を変更する場
合 いま、化合物テーブル１２に設定されている成分Ｄに関
する質量数を、ＳＩＭ測定条件テーブル１１の第２グル
ープから第３グループに移動したい場合、図１及び図２
に示すようにＳＩＭ測定条件テーブル１１上で第２グル
ープが選択されている状態において、入力指示用グラフ
１３上に表示されている成分Ｃと成分Ｄの間の一点を、
例えばマウスによるクリック操作により指示する。する
と、入力指示用グラフ１３上のマーカＭは、図５に示す
ように成分Ｃと成分Ｄとの間の指定された位置に移動す
る。そしてこれに連動して、図６に示すようにＳＩＭ測
定条件テーブル１１において第２グループの終了時間が
マーカＭが移動した先の時間に変更され、また該当する
質量数が第２グループから第３グループに移動する。更
にこれに伴い、入力指示用グラフ１３上の測定時間範囲
も図５に示すように変更される。 【００２０】すなわち、設定変更（Ａ）のための手順と
しては、先ず、ＳＩＭ測定条件テーブル１１上で移動の
対象となるグループを選択し（この選択の操作として
は、例えば目的とするグループの枠の一部や枠内をマウ
スでクリック操作する等でよい）、その後、入力指示用
グラフ１３上で特定の時間を指定する、という２段階の
操作を行えばよい。 【００２１】（Ｂ）１つのグループを２つに分割する場
合 例えば図４に示されているＳＩＭ測定条件テーブル１１
上の第３グループを２つに分割する場合、先ず、第３グ
ループの前に空白行を挿入する。空白行を挿入するコマ
ンドは予めＳＩＭ測定条件テーブル１１の編集機能の１
つとして搭載しておくものとする。そして、ＳＩＭ測定
条件テーブル１１上において挿入した行を選択した後、
入力指示用グラフ１３上で第３グループの測定時間範囲
内の特定の箇所（この例では11.5分の位置）をポインテ
ィングデバイスにより指定する。この指定により上記挿
入行の測定時間範囲が確定され、これに伴い、図７に示
すように入力指示用グラフ１３上でマーカＭが移動する
とともに、測定時間範囲の矢印表示が変更される。また
同時に、図９に示すように、確定した測定時間範囲に応
じた終了時間と質量数とがＳＩＭ測定条件テーブル１１
上の先の挿入行に自動的に入力される。 【００２２】すなわち、設定変更（Ｂ）のための手順と
しては、先ず、ＳＩＭ測定条件テーブル１１上で分割の
対象となるグループの前に行を追加し、同じＳＩＭ測定
条件テーブル１１上でその追加した行を選択する。その
後、入力指示用グラフ１３上で特定の時間を指定する、
という３段階の操作を行えばよい。 【００２３】（Ｃ）２つのグループを１つに統合する場
合 例えば図９に示されているＳＩＭ測定条件テーブル１１
上の第３グループと第４グループとを１つに統合する場
合、先ず、そのＳＩＭ測定条件テーブル１１上におい
て、統合したい２つのグループの先のほうの第３グルー
プに対応する行を削除する。行を削除するコマンドも、
予めＳＩＭ測定条件テーブル１１の編集機能の１つとし
て搭載しておくものとする。すると、入力指示用グラフ
１３上では、図８に示すように、削除された次のグルー
プ（この場合第４グループ）の終了時間までマーカＭが
移動し、測定時間範囲も変更される。また、ＳＩＭ測定
条件テーブル１１上では、図１０に示すように、新しい
第３グループの測定時間範囲に属する質量数が自動的に
入力される。 【００２４】なお、仮に図９において第４グループを削
除した場合には、第３グループの終了時間が11.5分であ
るため、成分Ｅに関する質量数はＳＩＭ測定条件テーブ
ル１１のうちのどのグループにも属さなくなる。そこで
この場合、入力指示用グラフ１３上で成分Ｅよりも右側
の適宜の箇所を指定することにより、成分Ｅに関する質
量数を第３グループに所属させる必要がある。 【００２５】すなわち、設定変更（Ｃ）のための手順と
しては、ＳＩＭ測定条件テーブル１１上で、統合しよう
とする２つのグループのうち、前のグループの行を削除
する、という操作を行えばよい。 【００２６】以上説明したように、本実施形態によるＧ
Ｃ／ＭＳによれば、一旦設定したＳＩＭ測定条件テーブ
ル１１の設定内容を変更・修正する際に、その手順が非
常に簡単になるとともに、変更がグラフフィカルに表示
されるためユーザが直感的に理解し易く、操作ミスも軽
減することができる。 【００２７】なお、上記例では、ＳＩＭ測定条件テーブ
ル１１上での操作と入力指示用グラフ１３上での操作を
併用することにより、最終的にＳＩＭ測定条件テーブル
１１に設定されている情報の変更や修正を行うようにし
ていたが、入力指示用グラフ１３上での操作のみによっ
てＳＩＭ測定条件テーブル１１に設定されている情報の
変更や修正を行うように変形することもできる。すなわ
ち、上記例でのＳＩＭ測定条件テーブル１１上での操作
は、グループに対応した行の選択や削除、或いは空白行
の追加等であるから、これに対応する操作を入力指示用
グラフ１３上で行えるようにしておきさえすればよい。 【００２８】また、上記実施形態は本発明の単に一例で
あって、上記変形以外にも、適宜の変更や修正を行える
ことは明らかである。 【００２９】 【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るクロ
マトグラフ質量分析装置によれば、従来のＳＩＭ測定条
件テーブル及び化合物テーブルに加えてグラフィカルな
入力指示が可能であるようなグラフを併用しているの
で、ＳＩＭ測定条件テーブルの情報を修正したり変更し
たりするための操作回数を減らすことができる。また、
修正や変更に必要となる情報がグラフィカルに表示され
るため、ユーザがそれを直感的に認識することができ、
入力ミスの発生も防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の一実施形態であるＧＣ／ＭＳでＳＩ
Ｍ測定条件を設定する場合の入力画面を示す図。 【図２】 図１中のＳＩＭ測定条件テーブルを示す図。 【図３】 図１中の化合物テーブルを示す図。 【図４】 図１中の入力指示用グラフを示す図。 【図５】 変更後の入力指示用グラフを示す図。 【図６】 変更後のＳＩＭ測定条件テーブルを示す図。 【図７】 変更後の入力指示用グラフを示す図。 【図８】 変更後の入力指示用グラフを示す図。 【図９】 変更後のＳＩＭ測定条件テーブルを示す図。 【図１０】 変更後のＳＩＭ測定条件テーブルを示す
図。 【図１１】 一般的なＧＣ／ＭＳの概略構成図。 【図１２】 ＧＣ／ＭＳで得られる３次元方向のデータ
の概念図。 【符号の説明】 １…ＧＣ部 ２…ＭＳ部 ３…データ処理部 ４…制御部 ５…操作部 ６…表示部 １０…ＳＩＭ測定条件設定用の入力画面 １１…ＳＩＭ測定条件テーブル １２…化合物テーブル １３…入力指示用グラフ
Ｍ測定条件を設定する場合の入力画面を示す図。 【図２】 図１中のＳＩＭ測定条件テーブルを示す図。 【図３】 図１中の化合物テーブルを示す図。 【図４】 図１中の入力指示用グラフを示す図。 【図５】 変更後の入力指示用グラフを示す図。 【図６】 変更後のＳＩＭ測定条件テーブルを示す図。 【図７】 変更後の入力指示用グラフを示す図。 【図８】 変更後の入力指示用グラフを示す図。 【図９】 変更後のＳＩＭ測定条件テーブルを示す図。 【図１０】 変更後のＳＩＭ測定条件テーブルを示す
図。 【図１１】 一般的なＧＣ／ＭＳの概略構成図。 【図１２】 ＧＣ／ＭＳで得られる３次元方向のデータ
の概念図。 【符号の説明】 １…ＧＣ部 ２…ＭＳ部 ３…データ処理部 ４…制御部 ５…操作部 ６…表示部 １０…ＳＩＭ測定条件設定用の入力画面 １１…ＳＩＭ測定条件テーブル １２…化合物テーブル １３…入力指示用グラフ
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(51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考）
Ｇ０１Ｎ 30/86 Ｇ０１Ｎ 30/86 Ｄ
Ｇ
Ｈ０１Ｊ 49/26 Ｈ０１Ｊ 49/26
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 目的となる化合物を表すクロマトグラム
ピークの前後でいくつかの質量数を選択的に測定する選
択イオンモニタリング（ＳＩＭ）測定を実行するクロマ
トグラフ質量分析装置において、 a)二次元画像を表示可能な表示手段と、 b)ユーザにより操作される操作手段と、 c)前記表示手段の画面内に、 c1)測定時間範囲とその範囲内での測定対象の質量数と
を表形式で記載したＳＩＭ測定条件テーブル、及び、 c2)分析対象の試料に含まれる既知の成分名又はその成
分を示す記号をその保持時間に応じて時間軸上に配置す
るとともに、その時点で設定されている測定時間範囲を
前記時間軸上に記載したグラフであって、前記操作手段
による操作に応じ前記時間軸に沿って移動自在である指
示標識を重畳して表示したグラフ、 を同時に表示する表示制御手段と、 d)前記グラフ上での操作に応じて前記ＳＩＭ測定条件テ
ーブルの内容を変更又は修正する処理手段と、 を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001373609A JP2003172726A (ja) | 2001-12-07 | 2001-12-07 | クロマトグラフ質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001373609A JP2003172726A (ja) | 2001-12-07 | 2001-12-07 | クロマトグラフ質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003172726A true JP2003172726A (ja) | 2003-06-20 |
| JP2003172726A5 JP2003172726A5 (ja) | 2005-04-07 |
Family
ID=19182300
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001373609A Pending JP2003172726A (ja) | 2001-12-07 | 2001-12-07 | クロマトグラフ質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
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Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007064958A (ja) * | 2005-08-30 | 2007-03-15 | Rigaku Corp | 分析装置 |
| WO2007102201A1 (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-13 | Shimadzu Corporation | クロマトグラフ質量分析装置 |
| JP2009192388A (ja) * | 2008-02-15 | 2009-08-27 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
| JP2009229150A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Jeol Ltd | クロマトグラフ質量分析装置 |
| JP2011122822A (ja) * | 2009-12-08 | 2011-06-23 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析装置 |
| JP2012042322A (ja) * | 2010-08-19 | 2012-03-01 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析装置 |
| WO2013187070A1 (ja) * | 2012-06-14 | 2013-12-19 | 信越化学工業株式会社 | 高純度多結晶シリコンの製造方法 |
| WO2014049823A1 (ja) * | 2012-09-28 | 2014-04-03 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析装置 |
| US8735809B2 (en) | 2010-12-22 | 2014-05-27 | Shimadzu Corporation | Chromatograph mass spectrometer |
| WO2017093861A1 (en) * | 2015-12-01 | 2017-06-08 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Sentinel signal for adaptive retention time in targeted ms methods |
| US10317380B2 (en) | 2014-07-03 | 2019-06-11 | Shimadzu Corporation | Chromatograph mass spectrometer and program |
| WO2020031703A1 (ja) | 2018-08-07 | 2020-02-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置および質量分析方法 |
| US10794880B2 (en) | 2013-02-28 | 2020-10-06 | Shimadzu Corporation | Chromatograph mass spectrometer |
-
2001
- 2001-12-07 JP JP2001373609A patent/JP2003172726A/ja active Pending
Cited By (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007064958A (ja) * | 2005-08-30 | 2007-03-15 | Rigaku Corp | 分析装置 |
| JP4627710B2 (ja) * | 2005-08-30 | 2011-02-09 | 株式会社リガク | 分析装置 |
| WO2007102201A1 (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-13 | Shimadzu Corporation | クロマトグラフ質量分析装置 |
| US20090008542A1 (en) * | 2006-03-07 | 2009-01-08 | Takashi Sumiyoshi | Chromatograph Mass Spectrometer |
| JPWO2007102201A1 (ja) * | 2006-03-07 | 2009-07-23 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析装置 |
| JP4697302B2 (ja) * | 2006-03-07 | 2011-06-08 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析装置 |
| US8168942B2 (en) | 2006-03-07 | 2012-05-01 | Shimadzu Corporation | Chromatograph mass spectrometer |
| JP2009192388A (ja) * | 2008-02-15 | 2009-08-27 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
| JP2009229150A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Jeol Ltd | クロマトグラフ質量分析装置 |
| JP2011122822A (ja) * | 2009-12-08 | 2011-06-23 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析装置 |
| JP2012042322A (ja) * | 2010-08-19 | 2012-03-01 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析装置 |
| US8735809B2 (en) | 2010-12-22 | 2014-05-27 | Shimadzu Corporation | Chromatograph mass spectrometer |
| JP2013256431A (ja) * | 2012-06-14 | 2013-12-26 | Shin-Etsu Chemical Co Ltd | 高純度多結晶シリコンの製造方法 |
| WO2013187070A1 (ja) * | 2012-06-14 | 2013-12-19 | 信越化学工業株式会社 | 高純度多結晶シリコンの製造方法 |
| US9355918B2 (en) | 2012-06-14 | 2016-05-31 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method for producing high-purity polycrystalline silicon |
| WO2014049823A1 (ja) * | 2012-09-28 | 2014-04-03 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析装置 |
| JP5858166B2 (ja) * | 2012-09-28 | 2016-02-10 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析装置 |
| US9429549B2 (en) | 2012-09-28 | 2016-08-30 | Shimadzu Corporation | Chromatograph mass spectrometer |
| US10794880B2 (en) | 2013-02-28 | 2020-10-06 | Shimadzu Corporation | Chromatograph mass spectrometer |
| US10317380B2 (en) | 2014-07-03 | 2019-06-11 | Shimadzu Corporation | Chromatograph mass spectrometer and program |
| WO2017093861A1 (en) * | 2015-12-01 | 2017-06-08 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Sentinel signal for adaptive retention time in targeted ms methods |
| US10566178B2 (en) | 2015-12-01 | 2020-02-18 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Sentinel signal for adaptive retention time in targeted MS methods |
| WO2020031703A1 (ja) | 2018-08-07 | 2020-02-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置および質量分析方法 |
| US11251030B2 (en) | 2018-08-07 | 2022-02-15 | Hitachi High-Tech Corporation | Mass spectrometry apparatus and mass spectrometry method |
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