CN101400995A - 色谱仪质量分析装置 - Google Patents

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Abstract

一种色谱仪质量分析装置，适当设定测定时间范围，能够选择扫描测定、选择离子监测(SIM)测定或扫描/SIM同时测定的任一种，在进行测定条件表格的输入设定时，在显示部的画面上显示通过扫描测定标准试料得到的总离子色谱(51)、和预先制作的化合物表格(52)。操作人选定作为扫描/SIM测定的对象的化合物，向化合物表格(52)中的复选框输入标记，点击操作“自动制作”按钮(54)。这样，确定在选择的化合物的保持时间的前后带有规定的时间幅度的测定时间范围，自动制作在该范围内执行将对化合物赋予特征的质量数作为测定质量数的扫描/SIM同时测定的测定条件表格(53)而显示。

Description

色谱仪质量分析装置
技术领域
本发明涉及气相色谱仪质量分析装置(GC/MS)或液相色谱仪质量分析装置(LC/MS)等组合了色谱仪和质量分析仪的色谱仪质量分析装置，更具体来说，涉及利用扫描测定和选择离子监测(
Figure A200680053732D0004081630QIETU
択イォンモニタリング)测定进行同时数据收集的色谱仪质量分析装置。
背景技术
作为使用GC/MS或LC/MS等色谱仪质量分析装置的测定方法，知道的有扫描测定法和选择离子监测测定(以下，简称为SIM)法。在扫描测定法中，用质量分析仪在规定的质量数范围内扫描分析对象的离子的质量数(m/z)检测含于该质量数范围的所有离子。从而，尤其在未知试料的定性分析等分析对象成分的质量数不明确的情况下有用，但由于不太能得到S/N比良好的色谱，因此，不面向定量目的的使用。另一方面，在SIM测定法中，按时间分割有选择地仅检测具有预先指定的1至多个特定质量数的离子。从而，在分析对象的物质为已知且以高灵敏度进行其物质的定量分析的情况下有用，但只能检测出具有特定的质量数的离子，因此，不面向定性目的的使用。
如上所述，扫描测定法和SIM测定法是正好补的关系，以往，还知道足有为了应用两者的特征，对于任意的时间范围同时执行扫描测定法和SIM测定法的扫描/SIM同时测定法(参照专利文献1)。根据该测定法可知，能够通过一次分析获得用于定性分析的质谱和用于定量分析的关于目标离子的S/N比良好的色谱。
这样，扫描/SIM同时测定法虽然是有益的测定法，但如果包含扫描/SIM同时测定中不需要的化合物而进行多个化合物的扫描/SIM同时测定，则每单位时间导入检测器的离子量变得过多，导致检测灵敏度降低的问题。因此，通常，大部分情况下仅限定于利用扫描测定得不到具有充分的S/N比的质谱的化合物，执行扫描/SIM同时测定，对其以外的化合物仅执行扫描测定。因此，需要在开始测定之前，预先确定扫描/SIM同时测定法的对象化合物和其测定质量数。
使用了以往的色谱仪质量分析装置的上述测定的标准的步骤如下所述。即，首先，操作人利用扫描测定法，进行含有成分为已知的标准试料的预备测定，获得色谱(总离子色谱)。然后，利用该色谱，确认欲定量的化合物(目标化合物)的S/N比是否充分，基于其结果，选定扫描/SIM同时测定的对象化合物。然后，按照包含该对象化合物的波峰的方式，确定进行扫描/SIM同时测定的时间范围、和进而作为该范围中的SIM测定的对象的质量数。
然后，操作人在装置的操作部进行规定的操作，在显示部的画面上显示如图7所示的测定条件表格。然后，按每个测定时间范围向表格的各栏中输入其开始时间和结束时间、测定方法(扫描或SIM)、扫描测定的质量数范围(开始质量数和结束质量数)或SIM测定的质量数等数值。然后，若对必要的项目的所有的输入结束，则确定输入设定，按照该测定条件进行检量线制作用标准试料的测定，进而执行未知试料的测定。
在图7(a)的例子中，将测定开始时点作为起点(0分钟)，在经过时间为6分钟到20分钟为止的期间，利用扫描测定，在质量数100到400的范围内进出测定。另一方面，在图7(b)的例子中，在测定开始时点到经过时间为6分钟到11分钟为止的期间，利用扫描测定，在质量数100到400的范围内进行测定(表格的第一行)。在接下来的11分钟到13分钟为止的期间，利用扫描测定，在质量数100到质量数400的范围内进行测定(表格的第二行)，且同时利用SIM测定对质量数100、200、300、400的四个质量数进行测定(表格的第三行)。进而，在接下来的13分钟到20分钟为止的期间，利用扫描测定法，在质量数100到400的范围内进行测定(表格的第四行)。
图7(b)的例子是进行扫描/SIM同时测定的化合物为一个的情况，但实际上也进行约100成分以上的试料的分析，伴随于此，作为扫描/SIM同时测定的对象的化合物数量也变多。为了从如图7(a)所示的在规定的测定时间范围(在该例中为6～20分钟)设定有扫描测定的状态，追加如图7(b)所示地进行扫描/SIM同时测定的条件，需要对每一个化合物，在测定条件表格中追加三行，且对其三行的各栏进行参数的键输入。从而，将多个例如10成分的化合物扫描/SIM同时测定的情况，测定条件表格需要最多输入30行程度的追加输入，对操作人来说是非常花费工时的作业，而且也容易引起输入错误。
另外，操作人在向如上所述的测定条件表格输入数值时，需要适当设定扫描/SIM同时测定的时间范围。例如，在两个成分的色谱的波峰的保持时间接近的情况下，若在这些两个波峰之间设置进行扫描/SIM同时测定的时间范围的边界，则色谱的波峰极其靠近时间范围的边界存在。在这种情况下，在未知试料的测定时，保持时间即使偏离少许，色谱的波峰也与规定的时间范围的边界重叠，导致不能正确地进行波峰的检测及波峰面积的计算，不能进行正确的定量。为了避免这样的不妥善情况，扫描/SIM同时测定的测定时间范围的设定需要参照在标准试料的预备测定中得到的色谱的同时谨慎进行。然而，以往，在如上所述地设定扫描/SIM同时测定的时间范围时，没有在同一画面上参照基于预备测定的色谱的机构，还存在难以进行精密的设定的问题。
【专利文献1】日本特开平08—102282号公报
发明内容
本发明是为了解决上述问题而做成的，其目的在于提供能够简便、效率良好地、而且正确地设定用于进行扫描/SIM同时测定的测定条件的色谱仪质量分析装置。
为了解决上述问题而做成的本发明是一种色谱仪质量分析装置，其是将利用色谱仪在时间方向上分离的试料成分依次导入至质量分析部来执行质量分析的色谱仪质量分析装置，其可以有选择地执行如下所述的测定，即：在所述质量分析部反复进行在规定的质量数范围内的连续的质量扫描的扫描测定；对于特定的质量数，将一个质量数维持一定时间，同时阶段性地切换质量数的SIM测定；在扫描测定进行的质量扫描的中途执行SIM测定的扫描/SIM同时测定，所述色谱仪质量分析装置的特征在于，具备：
a)显示控制机构，其在显示部的画面上显示预先制作的将化合物的种类、该化合物的标准的保持时间及对该化合物赋予特征的质量数形成为一览表的化合物表格；
b)选择机构，其用于使操作人从显示的所述化合物表格中选择欲执行扫描/SIM同时测定的化合物；
c)测定条件表格制作机构，其将测定条件表格如下作成：对于由所述选择机构选择的1至多个化合物的保持时间，在该保持时间的前后分别设定规定的时间幅度并在该时间范围内进行扫描/SIM同时测定，在该时间范围以外的时间范围内执行扫描测定或SIM测定。
通常，欲进行扫描/SIM同时测定的时间范围是在总离子色谱(ト—タルイォンクロマトグラム)上出现欲进行定量的已知的化合物的波峰的范围。因此，在本发明的色谱仪质量分析装置中，显示控制机构在显示部的画面上显示预先制作的化合物表格，操作人利用选择机构从其中选择欲利用扫描/SIM同时测定进行测定的化合物。这样，测定条件表格制作机构在选择的化合物的保持时间的前后分别设定规定的时间幅度，由此确定包含该化合物的波峰的扫描/SIM同时测定的时间范围。在选择了多个化合物的情况下，对各化合物进行相同的处理，其结果，多个时间范围重叠的情况下，使该部分连续，扩大时间范围即可。
测定条件表格制作机构如上所述地自动地确定扫描/SIM同时测定对象的时间范围，在其以外的时间范围，例如规定质量数范围内进行扫描测定的时间范围，制作测定条件表格，例如，将其在显示部的画面上显示。但是，这样自动制作的测定条件表格不限于一定按操作人的意图，尤其在多个化合物的保持时间在时间上靠近的情况下，有时也导致扫描/SIM同时测定的时间范围的边界设定在不适当的位置。因此，如上所述地制作的测定条件表格设为在之后操作人能够适当修改为佳。
另外，在选择进行扫描/SIM同时测定的化合物，或如上所述地修改测定条件表格时，若在同一画面内描绘出色谱(总离子色谱)，则容易参照其进行作业。因此，也可以在本发明的色谱仪质量分析装置中，所述显示控制机构在显示有所述化合物表格及所述测定条件表格的同一画面内显示总离子色谱，该总离子色谱是对于标准试料或以该标准试料为标准的已知试料，使用扫描测定法、SIM测定法、或扫描/SIM同时测定法的任一种得到的。
另外，所述显示控制机构进行：将描绘出的所述总离子色谱中出现的1至多个波峰，进行与列举记载于所述化合物表格中的化合物具有对应关系的显示也可。
根据该结构可知，视觉上容易理解化合物表格中的各化合物和总离子色谱上的各波峰的对应关系，另外，能够容易确认接近来源于欲选择的化合物的波峰的波峰存在与否。由此，化合物的选择作业变得容易，还能够减轻错误。
进而，所述显示控制机构在制作所述测定条件表格时描绘出的所述总离子色谱上重叠显示能够识别扫描测定、SIM测定、及扫描/SIM同时测定的时间范围的显示也可。根据该结构可知，操作人能够视觉上及直观上掌握设定于测定条件表格的各测定的时间范围，从而改进作业效果并且还能够减轻作业错误。
进而，在如上所述地修改测定条件表格时，利用表格中的数值的键输入，能够在总离子色谱上版面可视地进行修改的情况与消除·改写的情况相比，作业效率更好，错误也少。因此，能够利用指示设备的指示，版面可视地修改在所述总离子色谱上重叠显示的扫描测定、SIM测定、及扫描/SIM同时测定的时间范围的构成也可。
还有，作为所述选择机构考虑各种选择方法，但作为一个方式，通过向所述化合物表格中的各化合物的每一个上设置的复选框输入复选标记，能够选择化合物。由此可知选择容易，并且视觉上也容易分辨选择结果。
根据本发明的色谱仪质量分析装置可知，通过大幅度减少在设定进行扫描/SIM同时测定的测定条件时所需的输入操作的工时，减轻操作人的负荷，还能够防止输入错误的发生。另外，可视地显示测定时间范围的设定或修改所需的信息，因此，操作人直观地识别其，能够简单且正确地设定测定时间范围。由此，例如在色谱上两个波峰相当靠近的情况下，能够进行避免测定时间范围的边界位于该两者之间的情况等更高精度的扫描/SIM同时测定。
附图说明
图1是本发明的一实施方式的GC/MS的整体结构图。
图2是表示本实施例的GC/MS中扫描/SIM同时测定时间设定时使用的测定条件设定用画面的一例的图。
图3是表示图2中执行测定条件表格的自动制作后显示的测定条件设定用画面的一例的图。
图4是表示预先设定的化合物表格的一例的图。
图5是用于说明校正测定时间范围的边界时的步骤的图。
图6是用于说明校正测定时间范围的边界时的步骤的图。
图7是表示在以往的GC/MS中输入设定测定条件表格的步骤的图。
具体实施方式
以下，对作为本发明的一实施例的气相色谱仪质量分析装置(GC/MS)进行说明。
图1是本实施例的GC/MS的整体结构图。在气相色谱仪部(GC)10中，在利用柱式加热炉14加热为适度的温度的柱15的入口设置有试料气化室11，规定量的运载气体通过运载气体流路13供给于该试料气化室11，并流入柱15中。若在该状态下，利用微注射器12，向试料气化室11内注入少量的液体试料，则液体试料随即气化并随着运载气体流送至柱15内。通过柱15的期间，运载气体中的各成分按时间分离，到达其出口，在接口部20通过由加热器22加热的试料导入管21，导入质量分析部(MS)30的离子化室31中。
在MS部30中，导入离子化室31的试料分子例如通过与热电子的接触而被离子化。产生的离子引出至离子化室31的外侧，被离子透镜32聚集，导入四条杆电极构成的四重极质量过滤器33的长轴方向的空间中。从电源部36向四重极质量过滤器33施加重叠了直流电压和高频电压的电压，仅使具有对应于该施加电压的质量数的离子通过其长轴方向的空间，到达离子检测器34并被检测。离子化室31、离子透镜32、四重极质量过滤器33及离子检测器34配设于利用未图示的真空泵真空吸引的真空容器35内。
基于离子检测器34的检测信号通过A/D变换器40转换为数字数据，并被送至数据处理部44。数据处理部44通过进行规定的运算处理，制作质谱、色谱、或总离子色谱，进而执行定量分析或定性分析等。构成GC部10、接口部20及MS部30的各部件的动作由分析控制部43统筹控制。数据处理部44或分析控制部43的功能通过执行搭载于个人计算机41的专用控制/处理软件来具体实现，含于个人计算机41的中央控制部42执行包含键盘或鼠标等指示设备的操作部45或显示部46等的输入输出控制等基本的控制。本发明中的显示控制机构、及测定条件表格制作机构是通过搭载于该个人计算机41的控制/处理软件的执行来更具体实现的功能，选择机构是通过该软件的执行和操作部45来实现的功能。
然后，在该GC/MS中，对执行未知试料的测定的情况下的特征动作进行说明。
首先，代替从GC部10的柱15析出的试料气体，将由未图示的标准气体供给部预先准备的标准试料气体导入MS部30的离子化室31中，对该标准试料执行基于扫描测定法的质量分析。标准试料含有多个已知成分的已知量。通过该质量分析，在数据处理部44中，制作出现有对应于已知成分的波峰的总离子色谱，将其数据保存于未图示的存储部中。还有，标准试料的测定不需要每次在未知试料的测定时进行，在过去已经测定了含有含于未知试料的定量对象的成分的标准试料的情况下，可以省略标准试料的测定。
另外，预先设定如图4所示的化合物表格。化合物表格是对多个化合物清单列举记载了其名称(化合物名)和规定GC条件(例如，GC部10中的运载气体流量、温度分布图等)下的保持时间、对该化合物赋予特征的质量数等信息的表格。该化合物表格例如有时可以用手动输入，也可以基于如上所述的标准试料的测定结果自动制作。这样的化合物表格也不需要在每次测定未知试料时制作，只要是GC分析条件相同，就可以利用过去制作的表格。
若在测定未知试料之前，操作人在操作部45进行规定的操作，则接受了该操作的分析控制部43中，起动向导，在显示部46的画面上显示如图2所示的测定条件设定用画面50。即，该测定条件设定用画面50包括利用标准试料的预备测定获得的总离子色谱51、上述化合物表格52、测定条件表格53。此时，总离子色谱51为了明确列举记载于化合物表格52的各化合物和波峰的对应关系，仅将列举记载于化合物表格52的化合物的化合物名显示在对应的波峰附近，不显示表格52中没有记载的化合物名。或者，也可以将记载于化合物表格52的化合物的化合物名用矩形状框圈起来进行显示等，将没有记载于化合物表格52的化合物显示为没有矩形状的框。另外，在此作为初始的测定条件表格53，显示仅记载结束时间的表格，但这表示在规定的质量数范围内执行扫描测定直至该结束时间为止。但是，该初始状态的测定条件表格53也可以以规定的质量数进行SIM测定。
操作人利用总离子色谱51确认波峰的位置，同时，选定欲进行扫描/SIM同时测定的化合物，向化合物表格52的最右栏的复选框521输入复选标记。在此，对成分B及成分C两个化合物进行扫描/SIM同时测定。还有，在输入复选标记后，用鼠标等指示设备点击操作“自动制作”按钮54。这样，经由中央控制部42结束该操作的分析控制部43提取选择的成分的保持时间，将对该保持时间前后确保规定的时间幅度的测定时间范围确定为扫描/SIM同时测定的时间范围。上述时间幅度可以预先由操作人确定，例如，±0.5分钟、±1分钟即可，也可以将前方的时间幅度和后方的时间幅度设定为其他值。
例如，在时间幅度为±0.5分钟的情况下，成分B的保持时间为12分钟，因此在其前后各设定0.5分钟的时间幅度，将12.5分钟～13.5分钟作为扫描/SIM同时测定的时间范围。另外，对于成分C，同样对于保持时间18分钟，将17.5～18.5分钟作为扫描/SIM同时测定的时间范围。另外，各扫描/SIM同时测定的时间范围中的测定质量数作为记载于化合物表格的质量数。从而，关于成分B，测定质量数为100、200、300、400，关于成分C，测定质量数为150、160。基于此，自动制作测定条件表格。还有，如图3所示地更新测定条件设定用画面50。即，显示考虑了扫描/SIM同时测定的测定条件表格53，并且，在总离子色谱51上重叠与测定条件表格53的各行对应的时间范围的显示。在图3的测定条件表格53中，对于设定有质量数的行，将之前的行的结束时间作为开始时间，将对于记载的质量数的SIM测定与扫描测定同时执行。
从而，根据图3所示的测定条件表格53可知，在标准试料的预备测定数据的测定开始时点作为起点到经过时间11.5分钟为止的期间，利用扫描测定，在规定质量数范围内进行测定(测定条件表格53的第一行)，在接下来的11.5分钟到12.5分钟的期间，利用扫描测定在规定质量数范围内进行测定，同时利用SIM测定对于质量数100、200、300、400的四个质量数进行测定(测定条件表格53的第二行)，在接下来的12.5分钟到17.5分钟的期间，利用扫描测定在规定的质量数范围内进行测定(测定条件表格53的第三行)，在接下来的17.5分钟到18.5分钟的期间，利用扫描测定在规定的质量数范围内进出测定，同时利用SIM测定对于质量数150、160的两个质量数进行测定(测定条件表格53的第四行)，进而在18.5分钟到22分钟的期间，利用扫描测定在规定的质量数范围内进行测定(测定条件表格53的第五行)。
如上所述，能够在不进行繁杂的输入操作的情况下制作测定条件表格。但是，如上所述地自动制作的测定条件表格不限于一定直接利用。例如，在图3的例子中，在总离子色谱上非常靠近的来源于成分B的波峰、和来源于刚好之后的成分E(图3中没有记载化合物名)的波峰之间设定有测定时间范围的边界，在测定含有成分B的未知试料时，成分B的保持时间偏离的情况下，成分B的波峰与测定时间范围的边界重叠，从而有可能导致偏析。在那种情况下，不能正确进行成分B的波峰检测及波峰面积的算出，有时对定量解析带来故障。因此，在需要对如上所述地自动制作的测定条件表格进行修改、变更的情况下，可以如下所述地简单地修改测定时间范围。
在修改测定时间范围时，首先，用指示设备点击操作测定条件表格53中欲变更测定时间范围的行。当期，例如，点击操作测定条件表格53的第二行。这样，在总离子色谱51中指定的行的结束时间的位置显示标记M(参照图3、图5)。若将该M用指示设备指定，并将其移动至适当的位置解除指定，则测定时间范围变宽或变窄对应于标记M移动的位置的时间为止。当期，如图5所示，若欲将标记M从12.5分钟的位置移动至13.5分钟的位置，则伴随于此，指示测定时间范围的箭头的长度也变化。另外，如图6所示，测定条件表格53中的参数(第二行的结束时间)也相应地从12.5分钟—>13.5分钟变化。这样，测定时间范围的修改、变更也可以在对输入不进行键输入的情况下，利用基于指示设备的操作，可视且直观地进行。
若在操作人如上所述地将测定条件表格53适当地变更、修改后，点击操作“设定结束”按钮55，则确定测定条件表格53的设定，按照其内容自动制作用于执行测定的测定条件分布图，进行实际的未知试料的测定的准备。
如上所述，根据本实施例的GC/MS可知，能够非常简便地进行执行扫描测定、SIM测定、扫描/SIM同时测定的任一种的测定时间范围的输入设定，减轻操作人的负担，还能够减少输入错误。
还有，上述实施例均为一例，可以在本发明的宗旨的范围内进行适当变形或修改、追加是显而易见的。

Claims (6)

1.一种色谱仪质量分析装置，其是将利用色谱仪在时间方向上分离的试料成分依次导入至质量分析部来执行质量分析的色谱仪质量分析装置，其可以有选择地执行如下所述的测定，即：在所述质量分析部反复进行在规定的质量数范围内的连续的质量扫描的扫描测定；对于特定的质量数，将一个质量数维持一定时间，同时阶段性地切换质量数的SIM测定；在扫描测定进行的质量扫描的中途执行SIM测定的扫描/SIM同时测定，所述色谱仪质量分析装置的特征在于，具备：
a)显示控制机构，其在显示部的画面上显示预先制作的将化合物的种类、该化合物的标准的保持时间及对该化合物赋予特征的质量数形成为一览表的化合物表格；
b)选择机构，其用于使操作人从显示的所述化合物表格中选择欲执行扫描/SIM同时测定的化合物；
c)测定条件表格制作机构，其将测定条件表格如下作成：对于由所述选择机构选择的1至多个化合物的保持时间，在该保持时间的前后分别设定规定的时间幅度并在该时间范围内进行扫描/SIM同时测定，在该时间范围以外的时间范围内执行扫描测定或SIM测定。
2.根据权利要求1所述的色谱仪质量分析装置，其特征在于，
所述显示控制机构在显示有所述化合物表格及所述测定条件表格的同一画面内显示总离子色谱，该总离子色谱是对于标准试料或以该标准试料为标准的已知试料，使用扫描测定法、SIM测定法或扫描/SIM同时测定法的任一种而得到的。
3.根据权利要求2所述的色谱仪质量分析装置，其特征在于，
所述显示控制机构进行：对于所描绘出的所述总离子色谱中出现的1至多个波峰，进行与列举记载于所述化合物表格中的化合物具有对应关系的显示。
4.根据权利要求2或3所述的色谱仪质量分析装置，其特征在于，
所述显示控制机构在制作所述测定条件表格时描绘出的所述总离子色谱上重叠显示能够识别扫描测定、SIM测定及扫描/SIM同时测定的时间范围的显示。
5.根据权利要求4所述的色谱仪质量分析装置，其特征在于，
能够通过指示设备的指示，版面可视地修改在所述总离子色谱上重叠显示的扫描测定、SIM测定及扫描/SIM同时测定的时间范围。
6.根据权利要求1所述的色谱仪质量分析装置，其特征在于，
所述选择机构通过向对所述化合物表格中的各化合物的每一个设置的复选框输入复选标记而选择化合物。
CN2006800537320A 2006-03-07 2006-03-07 色谱仪质量分析装置 Active CN101400995B (zh)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103376301A (zh) * 2012-04-20 2013-10-30 株式会社岛津制作所 色谱串联四极型质谱仪
CN105021719A (zh) * 2014-04-15 2015-11-04 罗斯蒙特分析公司 具有减少校准气体的使用的在线气相色谱仪操作
CN105492903A (zh) * 2013-08-26 2016-04-13 株式会社岛津制作所 色谱质量分析装置
CN108604525A (zh) * 2015-12-01 2018-09-28 Dh科技发展私人贸易有限公司 用于靶向ms方法中的自适应保留时间的前哨信号

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5003508B2 (ja) * 2008-01-24 2012-08-15 株式会社島津製作所 質量分析システム
JP5166932B2 (ja) * 2008-03-21 2013-03-21 日本電子株式会社 クロマトグラフ質量分析装置
JP5568994B2 (ja) * 2010-01-08 2014-08-13 株式会社島津製作所 分析装置制御システム及び該システム用プログラム
JP5561016B2 (ja) * 2010-08-19 2014-07-30 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析装置
JP5454462B2 (ja) * 2010-12-22 2014-03-26 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析装置
JP5811023B2 (ja) * 2012-05-07 2015-11-11 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析用データ処理装置
US9285381B2 (en) 2012-07-18 2016-03-15 Shimadzu Corporation Analyzing apparatus control system and program for chromatograph measurements
WO2014049823A1 (ja) * 2012-09-28 2014-04-03 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析装置
US10794880B2 (en) 2013-02-28 2020-10-06 Shimadzu Corporation Chromatograph mass spectrometer
JP6260351B2 (ja) * 2014-03-04 2018-01-17 株式会社島津製作所 クロマトグラフ用データ処理装置及びデータ処理方法
JP6226823B2 (ja) 2014-06-12 2017-11-08 株式会社日立ハイテクノロジーズ クロマトグラフ質量分析装置及びその制御方法
US10317380B2 (en) * 2014-07-03 2019-06-11 Shimadzu Corporation Chromatograph mass spectrometer and program
JP6834582B2 (ja) 2017-02-23 2021-02-24 株式会社島津製作所 質量分析装置
CN109507315B (zh) * 2018-11-15 2021-06-25 宁夏医科大学 复杂样本gc-ms自动解析实现化合物准确鉴别与差异性组分筛查的方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0740016B2 (ja) * 1991-03-22 1995-05-01 株式会社島津製作所 クロマトグラフ／質量分析装置
JPH08102282A (ja) 1994-09-30 1996-04-16 Shimadzu Corp 質量分析装置
JP4057664B2 (ja) * 1996-05-31 2008-03-05 株式会社島津製作所 クロマトグラフ／質量分析装置のデータ処理装置
DE19845699C1 (de) * 1998-10-05 1999-12-02 Bruker Daltonik Gmbh Verfahren für die interaktive Steuerung von Meß-oder Auswerteverfahren in Chromatographie, Spektroskopie oder Elektrophorese
JP2003172726A (ja) * 2001-12-07 2003-06-20 Shimadzu Corp クロマトグラフ質量分析装置
JP3791455B2 (ja) * 2002-05-20 2006-06-28 株式会社島津製作所 イオントラップ型質量分析装置
GB2404194A (en) * 2003-07-21 2005-01-26 Amersham Biosciences Ab Automated chromatography/mass spectrometry analysis
US7759130B2 (en) * 2003-11-21 2010-07-20 Eisai R & D Management Co., Ltd. Mass spectrometric quantitation method for biomolecules based on metabolically labeled internal standards
JP4407337B2 (ja) * 2004-03-25 2010-02-03 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析装置
JP2005291715A (ja) * 2004-03-31 2005-10-20 Shimadzu Corp におい測定装置
JP4461919B2 (ja) * 2004-06-22 2010-05-12 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析測定方法及び装置
JP4725082B2 (ja) * 2004-11-18 2011-07-13 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103376301A (zh) * 2012-04-20 2013-10-30 株式会社岛津制作所 色谱串联四极型质谱仪
CN103376301B (zh) * 2012-04-20 2016-02-10 株式会社岛津制作所 色谱串联四极型质谱仪
CN105492903A (zh) * 2013-08-26 2016-04-13 株式会社岛津制作所 色谱质量分析装置
CN105492903B (zh) * 2013-08-26 2017-08-01 株式会社岛津制作所 色谱质谱分析装置
CN105021719A (zh) * 2014-04-15 2015-11-04 罗斯蒙特分析公司 具有减少校准气体的使用的在线气相色谱仪操作
CN108604525A (zh) * 2015-12-01 2018-09-28 Dh科技发展私人贸易有限公司 用于靶向ms方法中的自适应保留时间的前哨信号
CN111785608A (zh) * 2015-12-01 2020-10-16 Dh科技发展私人贸易有限公司 用于靶向ms方法中的自适应保留时间的前哨信号
CN111785608B (zh) * 2015-12-01 2023-11-03 Dh科技发展私人贸易有限公司 用于靶向ms方法中的自适应保留时间的前哨信号

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EP1995593A1 (en) 2008-11-26

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