JPH04294271A - クロマトグラフ／質量分析装置 - Google Patents
クロマトグラフ／質量分析装置Info
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- JPH04294271A JPH04294271A JP5867691A JP5867691A JPH04294271A JP H04294271 A JPH04294271 A JP H04294271A JP 5867691 A JP5867691 A JP 5867691A JP 5867691 A JP5867691 A JP 5867691A JP H04294271 A JPH04294271 A JP H04294271A
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- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 claims description 56
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 36
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 11
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000002098 selective ion monitoring Methods 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ガスクロマトグラフや
液体クロマトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量
分析計とを接続してなるクロマトグラフ／質量分析装置
に係り、特には選択イオンモニタ（ＳＩＭ）法を適用す
る場合に必要となるＳＩＭ測定テーブル作成のための手
段に関する。
液体クロマトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量
分析計とを接続してなるクロマトグラフ／質量分析装置
に係り、特には選択イオンモニタ（ＳＩＭ）法を適用す
る場合に必要となるＳＩＭ測定テーブル作成のための手
段に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、ガスクロマトグラフや液体クロ
マトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量分析計と
を接続してなるクロマトグラフ／質量分析装置において
、特定の成分の定量分析を行う場合には、選択イオンモ
ニタ（ＳＩＭ）法が採用されることがある。この選択イ
オンモニタ法は、定量対象となる成分に対応する特定の
ターゲットイオンを予め選定しておき、質量分析計の加
速電圧をターゲットイオンの特有の質量数（ｍ／ｚ）に
対応する値に設定して、ターゲットイオンの経時的な強
度変化を示すクロマトグラムを測定するものである。な
お、その後は、上記のクロマトグラムについて、ピーク
面積（たとえばピーク高さ×半値幅）を算出して予め求
めた検量線に基づいて成分の含有量などを決定する。
マトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量分析計と
を接続してなるクロマトグラフ／質量分析装置において
、特定の成分の定量分析を行う場合には、選択イオンモ
ニタ（ＳＩＭ）法が採用されることがある。この選択イ
オンモニタ法は、定量対象となる成分に対応する特定の
ターゲットイオンを予め選定しておき、質量分析計の加
速電圧をターゲットイオンの特有の質量数（ｍ／ｚ）に
対応する値に設定して、ターゲットイオンの経時的な強
度変化を示すクロマトグラムを測定するものである。な
お、その後は、上記のクロマトグラムについて、ピーク
面積（たとえばピーク高さ×半値幅）を算出して予め求
めた検量線に基づいて成分の含有量などを決定する。
【０００３】このように、選択イオンモニタ法は、イオ
ン種を予め限定してクロマトグラムを測定するので、共
存する妨害成分の影響を受け難く、しかも、各成分につ
いてデータの採取時間を長くとることができるのでＳ／
Ｎ比に優れ、測定感度が非常に高く、定量分析に適して
いる。
ン種を予め限定してクロマトグラムを測定するので、共
存する妨害成分の影響を受け難く、しかも、各成分につ
いてデータの採取時間を長くとることができるのでＳ／
Ｎ比に優れ、測定感度が非常に高く、定量分析に適して
いる。
【０００４】ところで、上記のような選択イオンモニタ
法による定量分析を行う場合には、予め定量すべき対象
成分のターゲットイオンを特定するのに必要な同定テー
ブルと、これらのターゲットイオンの各クロマトグラム
の測定条件を決めるに必要なＳＩＭ測定テーブルとをそ
れぞれ作成する必要がある。
法による定量分析を行う場合には、予め定量すべき対象
成分のターゲットイオンを特定するのに必要な同定テー
ブルと、これらのターゲットイオンの各クロマトグラム
の測定条件を決めるに必要なＳＩＭ測定テーブルとをそ
れぞれ作成する必要がある。
【０００５】上記の同定テーブルとＳＩＭ測定テーブル
は、従来、次のようにして作成している。
は、従来、次のようにして作成している。
【０００６】たとえば、質量数がそれぞれ（ｍ／ｚ）１
，（ｍ／ｚ）２，（ｍ／ｚ）３の既知の各ターゲットイ
オンａ〜ｃについて、図７に示すような各クロマトグラ
ムが観察される場合、これらのクロマトグラムを特定す
るために、ターゲットイオンａ〜ｃの質量数（ｍ／ｚ）
１〜（ｍ／ｚ）３、各ターゲットイオンａ〜ｃのクロマ
トグラムのピークトップ位置を示す標準保持時間ｔ１〜
ｔ３、およびクロマトグラムのピークトップのゆらぎ幅
を決める許容保持時間幅Δｔ１〜Δｔ３を予め決定し、
これらの質量数（ｍ／ｚ）１〜（ｍ／ｚ）３、標準保持
時間ｔ１〜ｔ３、許容保持時間幅Δｔ１〜Δｔ３を互い
に対応付けることにより同定テーブルを作成する。
，（ｍ／ｚ）２，（ｍ／ｚ）３の既知の各ターゲットイ
オンａ〜ｃについて、図７に示すような各クロマトグラ
ムが観察される場合、これらのクロマトグラムを特定す
るために、ターゲットイオンａ〜ｃの質量数（ｍ／ｚ）
１〜（ｍ／ｚ）３、各ターゲットイオンａ〜ｃのクロマ
トグラムのピークトップ位置を示す標準保持時間ｔ１〜
ｔ３、およびクロマトグラムのピークトップのゆらぎ幅
を決める許容保持時間幅Δｔ１〜Δｔ３を予め決定し、
これらの質量数（ｍ／ｚ）１〜（ｍ／ｚ）３、標準保持
時間ｔ１〜ｔ３、許容保持時間幅Δｔ１〜Δｔ３を互い
に対応付けることにより同定テーブルを作成する。
【０００７】また、クロマトグラムの測定条件を決める
ために、各ターゲットイオンａ〜ｃの質量数（ｍ／ｚ）
１〜（ｍ／ｚ）３、および測定保持時間範囲Ｒ１〜Ｒ３
を決定し、さらに、測定保持時間範囲Ｒ１〜Ｒ３の重な
りの有無を調べ、測定保持時間範囲が互いに重なる場合
には（この例ではＲ１とＲ２とが重なっている）、これ
らの測定保持時間範囲をカバーする最小の時間範囲Ｒ０
を改めて測定保持時間範囲として決定し、これらの質量
数（ｍ／ｚ）と測定保持時間範囲Ｒ０、Ｒ３とを互いに
対応付けることによりＳＩＭ測定テーブルを作成する。
ために、各ターゲットイオンａ〜ｃの質量数（ｍ／ｚ）
１〜（ｍ／ｚ）３、および測定保持時間範囲Ｒ１〜Ｒ３
を決定し、さらに、測定保持時間範囲Ｒ１〜Ｒ３の重な
りの有無を調べ、測定保持時間範囲が互いに重なる場合
には（この例ではＲ１とＲ２とが重なっている）、これ
らの測定保持時間範囲をカバーする最小の時間範囲Ｒ０
を改めて測定保持時間範囲として決定し、これらの質量
数（ｍ／ｚ）と測定保持時間範囲Ｒ０、Ｒ３とを互いに
対応付けることによりＳＩＭ測定テーブルを作成する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来技術
では、同定テーブルとＳＩＭ測定テーブルとをそれぞれ
別個に作成しているので、テーブル作成に手間がかかる
ばかりでなく、ＳＩＭ測定テーブルの作成に際しては、
さらに、測定保持時間範囲の重なりの有無を調べてその
範囲を再調整する必要があり、テーブル作成が煩雑にな
っていた。
では、同定テーブルとＳＩＭ測定テーブルとをそれぞれ
別個に作成しているので、テーブル作成に手間がかかる
ばかりでなく、ＳＩＭ測定テーブルの作成に際しては、
さらに、測定保持時間範囲の重なりの有無を調べてその
範囲を再調整する必要があり、テーブル作成が煩雑にな
っていた。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した課題
を解決するためになされたものであって、同定テーブル
を作成すると、これに伴ってＳＩＭ測定テーブルが自動
的に作成されるようにして、選択イオンモニタ（ＳＩＭ
）法に基づく定量分析を効率良く行えるようにするもの
である。
を解決するためになされたものであって、同定テーブル
を作成すると、これに伴ってＳＩＭ測定テーブルが自動
的に作成されるようにして、選択イオンモニタ（ＳＩＭ
）法に基づく定量分析を効率良く行えるようにするもの
である。
【００１０】そのため、本発明では、定量すべき対象成
分を特定するのに必要なターゲットイオンの質量数、各
ターゲットイオンのクロマトグラムのピークトップ位置
を示す標準保持時間（ｔｉ、ｉ＝１，２，…）、および
クロマトグラムのピークトップのゆらぎ幅を決める許容
保持時間幅（Δｔｉ、ｉ＝１，２，…）をそれぞれ与え
る同定テーブルを備えたクロマトグラフ／質量分析装置
において、次の構成を採る。
分を特定するのに必要なターゲットイオンの質量数、各
ターゲットイオンのクロマトグラムのピークトップ位置
を示す標準保持時間（ｔｉ、ｉ＝１，２，…）、および
クロマトグラムのピークトップのゆらぎ幅を決める許容
保持時間幅（Δｔｉ、ｉ＝１，２，…）をそれぞれ与え
る同定テーブルを備えたクロマトグラフ／質量分析装置
において、次の構成を採る。
【００１１】すなわち、本発明の装置では、図１の機能
ブロック図に示すように、同定テーブルに基づいて、許
容保持時間幅（Δｔｉ）に一定値（ｆ）を掛けた測定保
持時間幅（ｆ・Δｔｉ）を算出するとともに、この測定
保持時間幅（ｆ・Δｔｉ）と前記標準保持時間（ｔｉ）
とから各ターゲットイオンについての測定保持時間範囲
（Ｒｉ＝ｔｉ−ｆ・Δｔｉ〜ｔｉ＋ｆ・Δｔｉ）を設定
する測定保持時間範囲設定手段１と、この測定保持時間
範囲設定手段１で設定された各測定保持時間範囲（Ｒｉ
）を各ターゲットイオンごとに時間軸上にプロットして
タイムチャートを作成するタイムチャート作成手段２と
、このタイムチャート作成手段２で作成されたタイムチ
ャートの測定保持時間範囲（Ｒｉ）が互いに重なるター
ゲットイオンどうしを一つのグループとし、各グループ
に含まれるターゲットイオンの測定保持時間範囲（Ｒｉ
）を全てカバーする最小の時間範囲を最適測定保持時間
範囲（Ｔｉ）として決定するとともに、各グループごと
にそのターゲットイオンの質量数と前記最適測定保持時
間範囲（Ｔｉ）とを互いに対応付けたＳＩＭ測定テーブ
ルを作成するＳＩＭ測定テーブル作成手段３とを備えて
いる。
ブロック図に示すように、同定テーブルに基づいて、許
容保持時間幅（Δｔｉ）に一定値（ｆ）を掛けた測定保
持時間幅（ｆ・Δｔｉ）を算出するとともに、この測定
保持時間幅（ｆ・Δｔｉ）と前記標準保持時間（ｔｉ）
とから各ターゲットイオンについての測定保持時間範囲
（Ｒｉ＝ｔｉ−ｆ・Δｔｉ〜ｔｉ＋ｆ・Δｔｉ）を設定
する測定保持時間範囲設定手段１と、この測定保持時間
範囲設定手段１で設定された各測定保持時間範囲（Ｒｉ
）を各ターゲットイオンごとに時間軸上にプロットして
タイムチャートを作成するタイムチャート作成手段２と
、このタイムチャート作成手段２で作成されたタイムチ
ャートの測定保持時間範囲（Ｒｉ）が互いに重なるター
ゲットイオンどうしを一つのグループとし、各グループ
に含まれるターゲットイオンの測定保持時間範囲（Ｒｉ
）を全てカバーする最小の時間範囲を最適測定保持時間
範囲（Ｔｉ）として決定するとともに、各グループごと
にそのターゲットイオンの質量数と前記最適測定保持時
間範囲（Ｔｉ）とを互いに対応付けたＳＩＭ測定テーブ
ルを作成するＳＩＭ測定テーブル作成手段３とを備えて
いる。
【００１２】
【作用】上記構成において、測定保持時間範囲設定手段
１は、同定テーブルに基づいて、各ターゲットイオンに
ついての測定保持時間範囲（Ｒｉ）を設定し、次いで、
タイムチャート作成手段２は、この各測定保持時間範囲
（Ｒｉ）を各ターゲットイオンごとに時間軸上にプロッ
トしてタイムチャートを作成する。続いて、最適測定保
持時間範囲作成手段３は、タイムチャート上の測定保持
時間範囲（Ｒｉ）が互いに重なるターゲットイオンどう
しを一つのグループとし、各グループに含まれるターゲ
ットイオンの測定保持時間範囲（Ｒｉ）を全てカバーす
る最小の時間範囲を最適測定保持時間範囲（Ｔｉ）とし
て決定してＳＩＭ測定テーブルを作成する。
１は、同定テーブルに基づいて、各ターゲットイオンに
ついての測定保持時間範囲（Ｒｉ）を設定し、次いで、
タイムチャート作成手段２は、この各測定保持時間範囲
（Ｒｉ）を各ターゲットイオンごとに時間軸上にプロッ
トしてタイムチャートを作成する。続いて、最適測定保
持時間範囲作成手段３は、タイムチャート上の測定保持
時間範囲（Ｒｉ）が互いに重なるターゲットイオンどう
しを一つのグループとし、各グループに含まれるターゲ
ットイオンの測定保持時間範囲（Ｒｉ）を全てカバーす
る最小の時間範囲を最適測定保持時間範囲（Ｔｉ）とし
て決定してＳＩＭ測定テーブルを作成する。
【００１３】つまり、同定テーブルが一旦作成されると
、これに伴ってＳＩＭ測定テーブルが自動的に作成され
ることになる。
、これに伴ってＳＩＭ測定テーブルが自動的に作成され
ることになる。
【００１４】
【実施例】図２は本発明の実施例に係るガスクロマトグ
ラフ／質量分析装置の全体を示すブロック図である。
ラフ／質量分析装置の全体を示すブロック図である。
【００１５】同図において、符号１０はガスクロマトグ
ラフ／質量分析装置の全体を示し、１２はガスクロマト
グラフ、１４は質量分析計、１６はガスクロマトグラフ
１２と質量分析計１４の動作を制御するとともに、質量
分析計１４で得られるデータを処理するＣＰＵ、１８は
必要な制御プログラムや後述する同定テーブル、ＳＩＭ
測定テーブル、および測定データが格納されるメモリ、
２０は同定テーブルのパラメータ等を入力するためのキ
ーボード、２２はメモリ１８の内容を表示するＣＲＴで
ある。
ラフ／質量分析装置の全体を示し、１２はガスクロマト
グラフ、１４は質量分析計、１６はガスクロマトグラフ
１２と質量分析計１４の動作を制御するとともに、質量
分析計１４で得られるデータを処理するＣＰＵ、１８は
必要な制御プログラムや後述する同定テーブル、ＳＩＭ
測定テーブル、および測定データが格納されるメモリ、
２０は同定テーブルのパラメータ等を入力するためのキ
ーボード、２２はメモリ１８の内容を表示するＣＲＴで
ある。
【００１６】そして、図１の機能ブロック図に示した測
定保持時間範囲設定手段１、タイムチャート作成手段２
、およびＳＩＭ測定テーブル作成手段３は、本例ではＣ
ＰＵ１６とメモリ１８により実現される。
定保持時間範囲設定手段１、タイムチャート作成手段２
、およびＳＩＭ測定テーブル作成手段３は、本例ではＣ
ＰＵ１６とメモリ１８により実現される。
【００１７】次に、上記構成のガスクロマトグラフ／質
量分析装置１０によるＳＩＭ測定テーブルの作成動作に
ついて説明する。
量分析装置１０によるＳＩＭ測定テーブルの作成動作に
ついて説明する。
【００１８】いま、たとえば、７種の成分を定量するた
め、図３に示すような同定テーブルが作成されたものと
する。この同定テーブルの作成は、たとえば、所定の質
量範囲を繰り返し走査してその範囲内の全ての質量数の
マススペクトルを測定し、その結果に基づいて各成分ご
との時間変化を示すマスクロマトグラムを求める。そし
て、このマスクロマトグラムから、各成分ａ〜ｇに対応
するターゲットイオンの質量数（ｍ／ｚ）１〜（ｍ／ｚ
）７、各ターゲットイオンのクロマトグラムのピークト
ップ位置を示す標準保持時間（ｔｉ、ｉ＝１〜７）、お
よびクロマトグラムのピークトップのゆらぎ幅を決める
許容保持時間幅（Δｔｉ、ｉ＝１〜７）をそれぞれ決定
し、これらの各パラメータをキーボード２０から入力す
ることにより行われる。 こうして作成された同定テーブルは、メモリ１８に格納
される。
め、図３に示すような同定テーブルが作成されたものと
する。この同定テーブルの作成は、たとえば、所定の質
量範囲を繰り返し走査してその範囲内の全ての質量数の
マススペクトルを測定し、その結果に基づいて各成分ご
との時間変化を示すマスクロマトグラムを求める。そし
て、このマスクロマトグラムから、各成分ａ〜ｇに対応
するターゲットイオンの質量数（ｍ／ｚ）１〜（ｍ／ｚ
）７、各ターゲットイオンのクロマトグラムのピークト
ップ位置を示す標準保持時間（ｔｉ、ｉ＝１〜７）、お
よびクロマトグラムのピークトップのゆらぎ幅を決める
許容保持時間幅（Δｔｉ、ｉ＝１〜７）をそれぞれ決定
し、これらの各パラメータをキーボード２０から入力す
ることにより行われる。 こうして作成された同定テーブルは、メモリ１８に格納
される。
【００１９】次に、ＣＰＵ１６は、メモリ１８に記憶さ
れている同定テーブルに基づいて、許容保持時間幅（Δ
ｔｉ）に一定値（ｆ）を掛けた測定保持時間幅（ｆ・Δ
ｔｉ）を算出する。ここに（ｆ）はピ−クの開始点と終
点が測定保持時間範囲内に入り、しかもピ−ク検出でき
る測定保持時間範囲を与える値である。
れている同定テーブルに基づいて、許容保持時間幅（Δ
ｔｉ）に一定値（ｆ）を掛けた測定保持時間幅（ｆ・Δ
ｔｉ）を算出する。ここに（ｆ）はピ−クの開始点と終
点が測定保持時間範囲内に入り、しかもピ−ク検出でき
る測定保持時間範囲を与える値である。
【００２０】続いて、この測定保持時間幅（ｆ・Δｔｉ
）と標準保持時間（ｔｉ）とから各ターゲットイオンに
ついての測定保持時間範囲（Ｒｉ＝ｔｉ−ｆ・Δｔｉ〜
ｔｉ＋ｆ・Δｔｉ、ｉ＝１〜７）を設定する。
）と標準保持時間（ｔｉ）とから各ターゲットイオンに
ついての測定保持時間範囲（Ｒｉ＝ｔｉ−ｆ・Δｔｉ〜
ｔｉ＋ｆ・Δｔｉ、ｉ＝１〜７）を設定する。
【００２１】次に、各測定保持時間範囲（Ｒｉ）を各タ
ーゲットイオンごとに（この例では質量数（ｍ／ｚ）１
〜（ｍ／ｚ）７ごとに）時間軸上にプロットして、図４
に示すようなタイムチャートを作成する。
ーゲットイオンごとに（この例では質量数（ｍ／ｚ）１
〜（ｍ／ｚ）７ごとに）時間軸上にプロットして、図４
に示すようなタイムチャートを作成する。
【００２２】引き続いて、タイムチャート上の測定保持
時間範囲（Ｒｉ）が重なるターゲットイオンどうしを一
つのグループとする。この例では、Ｒ１，Ｒ２，Ｒ４が
重なるので１グループ、Ｒ３は重なるものがないので単
独で１グループ、Ｒ５，Ｒ６，Ｒ７が重なるので１グル
ープとなり、全部で３つのグループができる。
時間範囲（Ｒｉ）が重なるターゲットイオンどうしを一
つのグループとする。この例では、Ｒ１，Ｒ２，Ｒ４が
重なるので１グループ、Ｒ３は重なるものがないので単
独で１グループ、Ｒ５，Ｒ６，Ｒ７が重なるので１グル
ープとなり、全部で３つのグループができる。
【００２３】そして、各グループごとに、そのグループ
に含まれるターゲットイオンの測定保持時間範囲（Ｒｉ
）を全てカバーする最小の時間範囲を最適測定保持時間
範囲（Ｔｉ）として決定する。したがって、この例では
、Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３がそれぞれ最適測定保持時間範囲と
なる。ここで、Ｔ１＝ｔ１−ｆ・Δｔｉ〜ｔ４＋ｆ・Δ
ｔ４、Ｔ２＝ｔ３−ｆ・Δｔ３〜ｔ３＋ｆ・Δｔ３、Ｔ
３＝ｔ５−ｆ・Δｔ５〜ｔ７＋ｆ・Δｔ７である。
に含まれるターゲットイオンの測定保持時間範囲（Ｒｉ
）を全てカバーする最小の時間範囲を最適測定保持時間
範囲（Ｔｉ）として決定する。したがって、この例では
、Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３がそれぞれ最適測定保持時間範囲と
なる。ここで、Ｔ１＝ｔ１−ｆ・Δｔｉ〜ｔ４＋ｆ・Δ
ｔ４、Ｔ２＝ｔ３−ｆ・Δｔ３〜ｔ３＋ｆ・Δｔ３、Ｔ
３＝ｔ５−ｆ・Δｔ５〜ｔ７＋ｆ・Δｔ７である。
【００２４】こうして、最適測定保持時間範囲（Ｔｉ、
ｉ＝１〜３）が決定されると、各グループごとにそのタ
ーゲットイオンの質量数と最適測定保持時間範囲（Ｔｉ
）とを互いに対応付けて、図５に示すようなＳＩＭ測定
テーブルを作成する。こうしてＣＰＵ１６により作成さ
れたＳＩＭ測定テーブルは、メモリ１８に格納される。
ｉ＝１〜３）が決定されると、各グループごとにそのタ
ーゲットイオンの質量数と最適測定保持時間範囲（Ｔｉ
）とを互いに対応付けて、図５に示すようなＳＩＭ測定
テーブルを作成する。こうしてＣＰＵ１６により作成さ
れたＳＩＭ測定テーブルは、メモリ１８に格納される。
【００２５】選択イオンモニタ法に基づいて各成分の定
量分析を行う場合には、ＣＰＵ１６は、図３に示す同定
テーブルと図５に示すＳＩＭ測定テーブルとを共に参照
して、たとえば、図６に示すように、ガスクロマトグラ
フで分離して得られる成分の保持時間が一つの最適測定
保持時間範囲Ｔ１内にあるときには、質量分析計の加速
電圧をターゲットイオンの各質量数（ｍ／ｚ）１，（ｍ
／ｚ）２，（ｍ／ｚ）４に対応する３つの値にそれぞれ
時分割（たとえば０．５ｓｅｃ単位）で切り換えて各タ
ーゲットイオンのクロマトグラムのデータを採取する。 他の最適保持時間範囲Ｔ２，Ｔ３についても同様である
。
量分析を行う場合には、ＣＰＵ１６は、図３に示す同定
テーブルと図５に示すＳＩＭ測定テーブルとを共に参照
して、たとえば、図６に示すように、ガスクロマトグラ
フで分離して得られる成分の保持時間が一つの最適測定
保持時間範囲Ｔ１内にあるときには、質量分析計の加速
電圧をターゲットイオンの各質量数（ｍ／ｚ）１，（ｍ
／ｚ）２，（ｍ／ｚ）４に対応する３つの値にそれぞれ
時分割（たとえば０．５ｓｅｃ単位）で切り換えて各タ
ーゲットイオンのクロマトグラムのデータを採取する。 他の最適保持時間範囲Ｔ２，Ｔ３についても同様である
。
【００２６】なお、この実施例では、ガスクロマトグラ
フと質量分析計とを結合した装置について説明したが、
液体クロマトグラフやその他のクロマトグラフと質量分
析計とを結合した装置についても本発明を適用すること
ができるのは勿論である。
フと質量分析計とを結合した装置について説明したが、
液体クロマトグラフやその他のクロマトグラフと質量分
析計とを結合した装置についても本発明を適用すること
ができるのは勿論である。
【００２７】
【発明の効果】本発明によれば、同定テーブルが一旦作
成されると、これに伴ってＳＩＭ測定テーブルが自動的
に作成されるので、従来のように、同定テーブルとＳＩ
Ｍ測定テーブルとを個別に作成していた場合に比べてテ
ーブル作成の手間を大幅に削減することができる。
成されると、これに伴ってＳＩＭ測定テーブルが自動的
に作成されるので、従来のように、同定テーブルとＳＩ
Ｍ測定テーブルとを個別に作成していた場合に比べてテ
ーブル作成の手間を大幅に削減することができる。
【図１】本発明のクロマトグラフ／質量分析装置の機能
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】本発明の実施例に係るガスクロマトグラフ／質
量分析装置の全体を示すブロック図である。
量分析装置の全体を示すブロック図である。
【図３】同定テーブルの内容を示す説明図である。
【図４】タイムチャート作成手段で作成されるタイムチ
ャートである。
ャートである。
【図５】ＳＩＭ測定テーブル作成手段で作成されたＳＩ
Ｍ測定テーブルの説明図である。
Ｍ測定テーブルの説明図である。
【図６】同定テーブルとＳＩＭ測定テーブルに基づいて
選択イオンモニタ法により定量分析を行う場合の説明図
である。
選択イオンモニタ法により定量分析を行う場合の説明図
である。
【図７】各成分のターゲットイオンに基づいて得られる
クロマトグラムである。
クロマトグラムである。
１…測定保持時間範囲設定手段、２…タイムチャート作
成手段、３…ＳＩＭ測定テーブル作成手段、１０…クロ
マトグラフ／質量分析装置、１６…ＣＰＵ、１８…メモ
リ。
成手段、３…ＳＩＭ測定テーブル作成手段、１０…クロ
マトグラフ／質量分析装置、１６…ＣＰＵ、１８…メモ
リ。
Claims (1)
- 【請求項１】 定量すべき対象成分を特定するのに必
要なターゲットイオンの質量数、前記各ターゲットイオ
ンのクロマトグラムのピークトップ位置を示す標準保持
時間（ｔｉ、ｉ＝１，２，…）、および前記クロマトグ
ラムのピークトップのゆらぎ幅を決める許容保持時間幅
（Δｔｉ、ｉ＝１，２，…）をそれぞれ与える同定テー
ブルを備えたクロマトグラフ／質量分析装置において、
前記同定テーブルに基づいて、前記許容保持時間幅（Δ
ｔｉ）に一定値（ｆ）を掛けた測定保持時間幅（ｆ・Δ
ｔｉ）を算出するとともに、この測定保持時間幅（ｆ・
Δｔｉ）と前記標準保持時間（ｔｉ）とから各ターゲッ
トイオンについての測定保持時間範囲（Ｒｉ＝ｔｉ−ｆ
・Δｔｉ〜ｔｉ＋ｆ・Δｔｉ）を設定する測定保持時間
範囲設定手段（１）と、この測定保持時間範囲設定手段
（１）で設定された各測定保持時間範囲（Ｒｉ）を各タ
ーゲットイオンごとに時間軸上にプロットしてタイムチ
ャートを作成するタイムチャート作成手段（２）と、こ
のタイムチャート作成手段（２）で作成されたタイムチ
ャートの測定保持時間範囲（Ｒｉ）が互いに重なるター
ゲットイオンどうしを一つのグループとし、各グループ
に含まれるターゲットイオンの測定保持時間範囲（Ｒｉ
）を全てカバーする最小の時間範囲を最適測定保持時間
範囲（Ｔｉ）として決定するとともに、各グループごと
にそのターゲットイオンの質量数と前記最適測定保持時
間範囲（Ｔｉ）とを互いに対応付けたＳＩＭ測定テーブ
ルを作成するＳＩＭ測定テーブル作成手段（３）と、を
備えることを特徴とするクロマトグラフ／質量分析装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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