JPS6382357A - マスクロマトグラフイ分析方法 - Google Patents
マスクロマトグラフイ分析方法Info
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- JPS6382357A JPS6382357A JP61228571A JP22857186A JPS6382357A JP S6382357 A JPS6382357 A JP S6382357A JP 61228571 A JP61228571 A JP 61228571A JP 22857186 A JP22857186 A JP 22857186A JP S6382357 A JPS6382357 A JP S6382357A
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- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 claims abstract description 26
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Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は、ガスクロマトグラフィ質量分析計を用いたマ
スクロマトグラフィ分析方法に関する。
スクロマトグラフィ分析方法に関する。
（ロ）従来技術とその問題点
一般に、ガスクロマトグラフィ質量分析計を用いて試料
に含まれる各物質について、定性、定量分析を行なう方
法として、マスクロマトグラフ（ＭＣ）を利用した手法
がある。これは、コンピュータを利用した分析手法であ
って、試料について質１走査を一定時間間隔で繰り返し
行なってマススペクトルを測定した後、得られた試料に
ついての数百のマススペクトルから分析対象物質の特定
の質量数を設定し、その設定した質量数についてのイオ
ン強度の時間変化をマスクロマトグラムとして作成し、
そのマスクロマトグラムから試料に分析対象物質が含ま
れているか否かを調べ、また、分析対象物質が含まれて
いる場合には、その量を決定するものである。− したがって、この分析方法においては、マスクロマトグ
ラム作成時の分析対象物質についての質量数の設定が最
も重要なパラメータであり、これを誤ったり、また不適
切である場合には、良い結果が得られない。
に含まれる各物質について、定性、定量分析を行なう方
法として、マスクロマトグラフ（ＭＣ）を利用した手法
がある。これは、コンピュータを利用した分析手法であ
って、試料について質１走査を一定時間間隔で繰り返し
行なってマススペクトルを測定した後、得られた試料に
ついての数百のマススペクトルから分析対象物質の特定
の質量数を設定し、その設定した質量数についてのイオ
ン強度の時間変化をマスクロマトグラムとして作成し、
そのマスクロマトグラムから試料に分析対象物質が含ま
れているか否かを調べ、また、分析対象物質が含まれて
いる場合には、その量を決定するものである。− したがって、この分析方法においては、マスクロマトグ
ラム作成時の分析対象物質についての質量数の設定が最
も重要なパラメータであり、これを誤ったり、また不適
切である場合には、良い結果が得られない。
ところで、従来、質量数を設定するには、分析の際に試
料とともに標準物質について得られたマススペクトルを
見て分析者がその都度判断して決めていた。このため、
質量数の設定は分析者によりまちまちとなり、統一した
マスクロマトグラフィの分析結果が得られなかった。そ
のため、分析データ相互間の比較ができなかったり、質
量数指定の自動化が図れない等の不都合を生じていた。
料とともに標準物質について得られたマススペクトルを
見て分析者がその都度判断して決めていた。このため、
質量数の設定は分析者によりまちまちとなり、統一した
マスクロマトグラフィの分析結果が得られなかった。そ
のため、分析データ相互間の比較ができなかったり、質
量数指定の自動化が図れない等の不都合を生じていた。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、質量数が一義的に設定されるようにして、質量数の
指定の自動化が図れるようにするとともに、マスクロマ
トグラフィ分析について統一したデータが得られるよう
にすることを目的とする。
て、質量数が一義的に設定されるようにして、質量数の
指定の自動化が図れるようにするとともに、マスクロマ
トグラフィ分析について統一したデータが得られるよう
にすることを目的とする。
（ハ）問題点を解決するための手段
本発明は、上記の目的を達成するために、ガスクロマト
グラフィ質量分析計とコンピュータとを適用し、試料に
ついて質量走査を一定時間間隔で繰り返し行なってマス
スペクトルを測定した後、得られた多数のマススペクト
ルに基づいて分析対象となる物質の特定の質量数につい
てのマスクロマトグラムを作成し、作成されたマスクロ
マトグラムから前記試料に含まれる物質の定性、定量分
析を行なうマスクロマトグラフィ分析方法において、 分針対象物質の名称、化学式等を指定して、予めライブ
ラリーとして格納されている多数の物質のマススペクト
ルのデータから前記指定した分析対象物質に対応するマ
ススペクトルを抽出し、抽出したマススペクトルに含ま
れる各ピークのイオン強度に対して、イオンの存在確立
の分布に基づく重み付けをして重み付けされた値の大き
いピークの順に対応する質量数を設定し、設定した質量
数に対してマスクロマトグラムを作成するようにしてい
る。
グラフィ質量分析計とコンピュータとを適用し、試料に
ついて質量走査を一定時間間隔で繰り返し行なってマス
スペクトルを測定した後、得られた多数のマススペクト
ルに基づいて分析対象となる物質の特定の質量数につい
てのマスクロマトグラムを作成し、作成されたマスクロ
マトグラムから前記試料に含まれる物質の定性、定量分
析を行なうマスクロマトグラフィ分析方法において、 分針対象物質の名称、化学式等を指定して、予めライブ
ラリーとして格納されている多数の物質のマススペクト
ルのデータから前記指定した分析対象物質に対応するマ
ススペクトルを抽出し、抽出したマススペクトルに含ま
れる各ピークのイオン強度に対して、イオンの存在確立
の分布に基づく重み付けをして重み付けされた値の大き
いピークの順に対応する質量数を設定し、設定した質量
数に対してマスクロマトグラムを作成するようにしてい
る。
（ニ）実施例
第１図は、本発明方法を実施するために適用される分析
装置のブロック図である。同図において、■はガスクロ
マトグラフィ質量分析計（ＧＣ／ＭＳ）、２はコンピュ
ータ、４はコンピュータ２のＣＰＵ、６はコンピュータ
２を構成する内部メモリ、８はガスクロマトグラフィ質
量分析計１とコンピュータ２とを結合するインクフェイ
ス、１０は予め多数の既知物質についてのマススペクト
ルのデータがライブラリーとして格納されている外部記
憶装置、１２はＣＲＴディスプレイ等の出力装置、Ｉ４
はＣＰＵ４に各種の指令を与える操作部である。
装置のブロック図である。同図において、■はガスクロ
マトグラフィ質量分析計（ＧＣ／ＭＳ）、２はコンピュ
ータ、４はコンピュータ２のＣＰＵ、６はコンピュータ
２を構成する内部メモリ、８はガスクロマトグラフィ質
量分析計１とコンピュータ２とを結合するインクフェイ
ス、１０は予め多数の既知物質についてのマススペクト
ルのデータがライブラリーとして格納されている外部記
憶装置、１２はＣＲＴディスプレイ等の出力装置、Ｉ４
はＣＰＵ４に各種の指令を与える操作部である。
次に、上記の分析装置を適用した本発明方法について、
第２図に示すフローチャートを参照して説明する。
第２図に示すフローチャートを参照して説明する。
まず、ガスクロマトグラフィ質ぷ分析計１を用いて所定
の質量範囲に渡って一定時間間隔で操り返し質量走査を
行なって試料のマススペクトルを測定する。そして、測
定したこれらのマススペクトルのデータを、インタフェ
イス８、ＣＰＵ４を介して内部メモリ６に一時記憶する
（ステップ■）。
の質量範囲に渡って一定時間間隔で操り返し質量走査を
行なって試料のマススペクトルを測定する。そして、測
定したこれらのマススペクトルのデータを、インタフェ
イス８、ＣＰＵ４を介して内部メモリ６に一時記憶する
（ステップ■）。
マスフラグメントグラムの作成にあたっては、分析対象
物質は予め決まっているので、次に、分針対象物質の名
称を指定する（ステップ■）。そして、この指定に応じ
て、予めライブラリーとして格納されている多数の物質
のマススペクトルのデータから前記指定した分析対象物
質に対応するマススペクトルを抽出する（ステップ■）
。これには、たとえば、操作部１４から分析対象物質の
名称を指定すると、ＣＰＵがこれに対応するマススペク
トルのデータを外部記憶装置ＩＯから読み出すことによ
り行なわれる。具体例として、メチルブチレートを分析
対象物質とする場合には、この名称であるメチルブチレ
ートを指定すると、第３図に示すようなメチルブチレー
トのマススペクトルが抽出される。分析対象物質の名称
の他に、化学式や物質に対応した番号を指定して、対応
するマススペクトルを抽出するようにしてもよい。
物質は予め決まっているので、次に、分針対象物質の名
称を指定する（ステップ■）。そして、この指定に応じ
て、予めライブラリーとして格納されている多数の物質
のマススペクトルのデータから前記指定した分析対象物
質に対応するマススペクトルを抽出する（ステップ■）
。これには、たとえば、操作部１４から分析対象物質の
名称を指定すると、ＣＰＵがこれに対応するマススペク
トルのデータを外部記憶装置ＩＯから読み出すことによ
り行なわれる。具体例として、メチルブチレートを分析
対象物質とする場合には、この名称であるメチルブチレ
ートを指定すると、第３図に示すようなメチルブチレー
トのマススペクトルが抽出される。分析対象物質の名称
の他に、化学式や物質に対応した番号を指定して、対応
するマススペクトルを抽出するようにしてもよい。
続いて、抽出されたマススペクトルに含まれる各ピーク
位置のイオン強度に対して、イオンの存在確立の分布に
基づく重み付けをする（ステップ■）。重み付けの方法
には、たとえば、第４図に示すように、多数の既知物質
から得られたイオンの存在確立の分布曲線に基づき重み
付けした値を求めることができる。すなわち、いま、重
み付けされた値をイオンファクタＰｉとすると、Ｐｉ＝
Ｕｉ＋Ａｉ ここに、Ｕｉはある質量Ｍｉのデータファイル中に出現
する確率が（１／２） であるとした場合の指数であ
り、また、Ａｉはイオンピークの強度の出現確率が（１
／２） として定められた値である。したがって、イ
オン強度が大きく、しかも、出現確率の小さいもの（す
なわちピークが出現するのが特徴的であるもの）程、上
式におけるイオンファクタＰｉの値が大きくなる。上記
のメチルブチレートの４３．７１．７４の各質量数につ
いて、イオンファクタＰｉを計算すると、 Ｐ４３”４．３÷８０＝６４ Ｐ ７．＝ ６．０＋ ４８＝ ５４ Ｐ 、４＝ ８．０＋ ５２＝ ６６ となる。
位置のイオン強度に対して、イオンの存在確立の分布に
基づく重み付けをする（ステップ■）。重み付けの方法
には、たとえば、第４図に示すように、多数の既知物質
から得られたイオンの存在確立の分布曲線に基づき重み
付けした値を求めることができる。すなわち、いま、重
み付けされた値をイオンファクタＰｉとすると、Ｐｉ＝
Ｕｉ＋Ａｉ ここに、Ｕｉはある質量Ｍｉのデータファイル中に出現
する確率が（１／２） であるとした場合の指数であ
り、また、Ａｉはイオンピークの強度の出現確率が（１
／２） として定められた値である。したがって、イ
オン強度が大きく、しかも、出現確率の小さいもの（す
なわちピークが出現するのが特徴的であるもの）程、上
式におけるイオンファクタＰｉの値が大きくなる。上記
のメチルブチレートの４３．７１．７４の各質量数につ
いて、イオンファクタＰｉを計算すると、 Ｐ４３”４．３÷８０＝６４ Ｐ ７．＝ ６．０＋ ４８＝ ５４ Ｐ 、４＝ ８．０＋ ５２＝ ６６ となる。
次に、重み付けされた値の大きいピークの頓に対応する
質量数を設定する（ステップ■）。したがって、上記の
例では、質量数が７４．４３．７１の順に選定されるこ
とになる。なお、この演算はＣＰＵ４で行なう。
質量数を設定する（ステップ■）。したがって、上記の
例では、質量数が７４．４３．７１の順に選定されるこ
とになる。なお、この演算はＣＰＵ４で行なう。
次に、設定した質量数の下でのイオン強度の時間変化の
関係を示すマスクロマトグラムを作成する（ステップ■
）。上記の例で、フレオン１３のマスクロマトグラムの
データを出力装置１２に送出しｆこ場合には、第５図に
示すようなプロファイルが表示される。
関係を示すマスクロマトグラムを作成する（ステップ■
）。上記の例で、フレオン１３のマスクロマトグラムの
データを出力装置１２に送出しｆこ場合には、第５図に
示すようなプロファイルが表示される。
作成されたマスクロマトグラムのピークから試料に分析
対象物質が含まれているか否かを調べ、また、分析対象
物質が含まれている場合には、ピーク面積からその物質
の量を決定する（ステップ■）。
対象物質が含まれているか否かを調べ、また、分析対象
物質が含まれている場合には、ピーク面積からその物質
の量を決定する（ステップ■）。
なお、本発明では、マスクロマトグラフィ分析方法につ
いて説明したが、マスフラグメントグラフィ分析方法に
ついても本発明方法を適用することが可能である。
いて説明したが、マスフラグメントグラフィ分析方法に
ついても本発明方法を適用することが可能である。
（ホ）効果
以上のように本発明によれば、質量数が一義的に設定さ
れろため、質量数の指定の自動化が図れるようになる。
れろため、質量数の指定の自動化が図れるようになる。
しかも、分析者の質量数設定の個人差が無くなるので、
マスクロマトグラフィ分析について統一したデータが得
られ、同一物質につ′ いて長期におよぶ分析データ相
互間の比較ができるようになる等の効果が発揮される。
マスクロマトグラフィ分析について統一したデータが得
られ、同一物質につ′ いて長期におよぶ分析データ相
互間の比較ができるようになる等の効果が発揮される。
第１図は本発明方法を実施するために適用される分析装
置のブロック図、第２図は本発明方法の説明に供するフ
ローチャート、第３図は分析対象物質のマススペクトル
の一例を示す特性図、第４図はマススペクトルの各ピー
ク強度に対する重み付けの存在確立の分布曲線を示す特
性図、第５図は試料について全イオン検出器で検出され
たピークと、この試料に含まれる分析対象物質のマスク
ロマトグラムを示す特性図である。 ｌ・・・ガスクロマトグラフィ質量分析計、２・・・コ
ンピュータ、１０・・外部記憶装置。
置のブロック図、第２図は本発明方法の説明に供するフ
ローチャート、第３図は分析対象物質のマススペクトル
の一例を示す特性図、第４図はマススペクトルの各ピー
ク強度に対する重み付けの存在確立の分布曲線を示す特
性図、第５図は試料について全イオン検出器で検出され
たピークと、この試料に含まれる分析対象物質のマスク
ロマトグラムを示す特性図である。 ｌ・・・ガスクロマトグラフィ質量分析計、２・・・コ
ンピュータ、１０・・外部記憶装置。
Claims (1)
- （１）ガスクロマトグラフィ質量分析計とコンピュータ
とを適用し、試料について質量走査を一定時間間隔で繰
り返し行なってマススペクトルを測定した後、得られた
多数のマススペクトルに基づいて分析対象となる物質の
特定の質量数についてのマスクロマトグラムを作成し、
作成されたマスクロマトグラムから前記試料に含まれる
物質の定性、定量分析を行なうマスクロマトグラフィ分
析方法において、 分析対象物質の名称、化学式等を指定して、予めライブ
ラリーとして格納されている多数の物質のマススペクト
ルのデータから前記指定した分析対象物質に対応するマ
ススペクトルを抽出し、抽出したマススペクトルに含ま
れる各ピークのイオン強度に対して、イオンの存在確立
の分布に基づく重み付けをして重み付けされた値の大き
いピークの順に対応する質量数を設定し、 設定した質量数に対してマスクロマトグラムを作成する
ことを特徴とするマスクロマトグラフィ分析方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61228571A JPS6382357A (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | マスクロマトグラフイ分析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61228571A JPS6382357A (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | マスクロマトグラフイ分析方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6382357A true JPS6382357A (ja) | 1988-04-13 |
Family
ID=16878446
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61228571A Pending JPS6382357A (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | マスクロマトグラフイ分析方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6382357A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01304651A (ja) * | 1988-05-31 | 1989-12-08 | Yokogawa Electric Corp | 高周波誘導結合プラズマ質量分析計 |
| JP2006138755A (ja) * | 2004-11-12 | 2006-06-01 | Hitachi Ltd | 危険物探知装置および危険物探知方法 |
| JP2014502725A (ja) * | 2010-12-29 | 2014-02-03 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 依存的質量分析走査をトリガするための方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4976592A (ja) * | 1972-09-30 | 1974-07-24 | ||
| JPS512484A (ja) * | 1974-05-16 | 1976-01-10 | Yunibaasaru Monitaa Corp |
-
1986
- 1986-09-26 JP JP61228571A patent/JPS6382357A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4976592A (ja) * | 1972-09-30 | 1974-07-24 | ||
| JPS512484A (ja) * | 1974-05-16 | 1976-01-10 | Yunibaasaru Monitaa Corp |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01304651A (ja) * | 1988-05-31 | 1989-12-08 | Yokogawa Electric Corp | 高周波誘導結合プラズマ質量分析計 |
| JP2006138755A (ja) * | 2004-11-12 | 2006-06-01 | Hitachi Ltd | 危険物探知装置および危険物探知方法 |
| JP2014502725A (ja) * | 2010-12-29 | 2014-02-03 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 依存的質量分析走査をトリガするための方法 |
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