JP2004271422A - クロマトグラフ用データ処理装置 - Google Patents

Abstract

【課題】大きなピークのリーディング部やテーリング部に重畳している微小ピークを確実に検出する。
【解決手段】大きなピークＰ１のリーディング部又はテーリング部で２個の変曲点をＣ１，Ｃ２を見つけ、見つかった場合にはその両変曲点Ｃ１，Ｃ２を結ぶ直線を基準線として定める。そして、ピークカーブ上の各点で接線を引き、その接線が上記基準線と成す傾きが、分析者により予め設定された設定値以上になった位置を微小ピークＰ２の開始点Ｐ２Ｓとし、その後方側でその接線が上記基準線と成す傾きが上記設定値以下になった位置を終了点Ｐ２Ｅとする。これにより、リーディング部又はテーリング部でカーブが上昇から下降又は下降から上昇に転じなくとも、微小ピークを確実に検出することが可能となる。
【選択図】 図８

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ガスクロマトグラフ（ＧＣ）、液体クロマトグラフ（ＬＣ）等のクロマトグラフ用のデータ処理装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＧＣやＬＣでは、横軸に経過時間、縦軸に検出信号の信号強度をプロットしたクロマトグラムが作成される。このクロマトグラムに現れているピークの面積を計算するためには、そのピークの開始点及び終了点を確定する必要がある。この処理を自動的に行うのが自動ピーク検出処理である。
【０００３】
従来、図１１（Ａ）に示すようなクロマトグラムにおいてピーク開始点ＰＳ及び終了点ＰＥを求める方法としては、例えばピークカーブ上の各点で接線を引き、その接線の上昇方向の傾きが水平な基準線に対して所定値以上となった位置をピーク開始点ＰＳと定め、その後、ピークトップＰＴを過ぎてピークカーブの接線の下降方向の傾きが上記基準線に対して所定値以下となった位置をピーク終了点ＰＥと定める方法が一般的である（例えば特許文献１など参照）。
【０００４】
【特許文献１】
特開２００２−２８６７０４号（段落０００４）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のようなピーク検出処理には次のような問題がある。
（１）例えばＧＣにおける昇温分析、或いはＬＣにおけるグラジエント分析ではベースラインＢＬは水平にならず、図１１（Ｂ）に示すように上昇（右上がり）や図１１（Ｃ）に示すように下降（右下がり）することが多い。上記のような従来のピーク検出方法では、例えばベースラインＢＬが上昇する場合にはピーク開始点ＰＳ及び終了点ＰＥともに前方向にずれてしまい、ベースラインＢＬが下降する場合には逆にピーク開始点ＰＳ及び終了点ＰＥともに後方向にずれてしまう。こうした場合、本来のピーク開始点ＰＳ及び終了点ＰＥからずれが生じ、正確にピーク面積を求めることができなくなる。
【０００６】
従来、こうしたベースラインの時間的変動の影響を補正するために、予め試料を注入しない移動相（ＬＣの場合）又はキャリアガス（ＧＣの場合）のみを同一の分析条件で分析してベースラインのみのクロマトグラムを採取しておき、実際に試料を注入して分析したクロマトグラムとの差を計算して、その差分クロマトグラムでピークを検出することが行われている。しかしながら、こうした分析方法では、試料の有無の２回の分析を実行する必要があるために、約２倍の分析時間を要するとともに、流す移動相やキャリアガスも約２倍量が必要となる。
【０００７】
（２）この種の装置では、保持時間が近接した２つの物質の混合物を分析した場合、図１２（Ａ）、（Ｂ）に示すように一方の大きなピークＰａのテーリング部（又はリーディング部）に他方の小さなピークＰｂが重畳した状態となることがよくある。上記従来のピーク検出方法では、図１２（Ａ）に描出したように大きなピークＰａのテーリング部（又はテーリング部）に重畳している小さなピークＰｂに相当する部分の波形Ｑが上昇カーブを描いていさえすれば、そのピークＰｂを検出することが可能である。しかしながら、図１２（Ｂ）に描出したようにその小さなピークＰｂに相当する部分の波形Ｑが上昇しておらず、単になで肩形状に盛り上がりつつ下降している場合にはピークＰｂを検出することができなかった。
【０００８】
本発明はかかる課題を解決するために成されたものであり、その第１の目的とするところは、クロマトグラムのベースラインが上昇又は下降等、変動している場合でもピークの開始点及び終了点を精度よく検出することができ、それによってピーク面積等を精度よく算出することが可能なクロマトグラフ用データ処理装置を提供することにある。
【０００９】
また本発明の第２の目的とするところは、大きなピークに対し時間的に近接して出現する他の小さなピークが重なっている状態でも、その小さなピークの開始点及び終了点を見逃すことなく且つ精度よく検出することができ、それによってピーク面積等を精度よく算出することが可能なクロマトグラフ用データ処理装置を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段、及び効果】
上記第１の目的を達成するために成された第１発明は、クロマトグラフ分析により取得されたクロマトグラムデータを処理し、そのクロマトグラムに現れる１乃至複数のピークに関連する情報を算出するデータ処理装置において、
ａ）処理対象であるクロマトグラムのベースラインの時間的変動を表す情報を外部より設定するための入力手段と、
ｂ）該入力手段により与えられた情報に基づき、ベースラインの時間的変動が補正されたクロマトグラムを算出する補正処理手段と、
ｃ）該補正処理手段により補正されたクロマトグラムに現れるピークカーブ上の各点での接線が、そのクロマトグラムのベースラインに対して成す傾きに基づいて、そのピークの開始点及び終了点を検出するピーク検出手段と、
を備えることを特徴としている。
【００１１】
この第１発明に係るデータ処理装置では、例えば分析担当者はクロマトグラフ分析により取得されたクロマトグラムをディスプレイの画面上で確認し、そのベースラインの時間的変動を読み取り、それを表す情報を入力手段から設定する。例えばベースラインが直線的に上昇又は下降するような時間的変動を有する場合には、その直線の傾きを表現する情報を入力すればよい。補正処理手段は、こうして外部から与えられた情報に基づいて例えばベースラインを表す波形データを生成し、各時刻毎に対応するクロマトグラムデータから上記ベースラインを表す波形データを差し引くことによって、ベースラインの時間的変動が補正されたクロマトグラムを算出する。こうした補正処理によってベースラインはほぼ水平になるから、ピーク検出手段は、その略水平であるベースラインに対し、クロマトグラムに現れるピークカーブ上の各点での接線が成す傾きに基づいて、そのピークの開始点及び終了点を検出する。
【００１２】
この第１発明に係るデータ処理装置によれば、ＧＣの昇温分析又は降温分析やＬＣのグラジエント分析のようにクロマトグラムのベースラインが上昇又は下降している場合であっても、各ピークの開始点及び終了点を精度よく検出することができ、それによってピーク面積などのピーク関連情報を正確に求めることができる。また、この発明に係るデータ処理装置では、従来行われているように試料無しでの分析を予め行う必要がないので、分析時間を短縮化できるとともに移動相やキャリアガスの消費量を節約することができるという効果を奏する。
【００１３】
上記第２の目的を達成するために成された第２発明は、クロマトグラフ分析により取得されたクロマトグラムデータを処理し、そのクロマトグラムに現れる１乃至複数のピークに関連する情報を算出するデータ処理装置において、
ａ）クロマトグラムに現れるピークカーブ上の各点での接線が、そのクロマトグラムのベースラインに対して成す傾きに基づいて第１のピークを検出する第１ピーク検出手段と、
ｂ）前記第１のピークのリーディング部及び／又はテーリング部上でそのカーブの形状に基づいて２個の変曲点を検出する変曲点検出手段と、
ｃ）前記２個の変曲点を結ぶ直線を基準線として定め、第１のピークのリーディング部及び／又はテーリング部のカーブ上の各点での接線が前記基準線に対して成す傾きに基づいて第２のピークを検出する第２ピーク検出手段と、
を備えることを特徴としている。
【００１４】
この第２発明に係るデータ処理装置では、第１ピーク検出手段は、クロマトグラフ分析により取得されたクロマトグラムのベースラインに対し、そのクロマトグラムに現れるピークカーブ上の各点での接線が成す傾きに基づいて第１のピークとして比較的大きなピークを検出する。その後、変曲点検出手段は、上記第１のピークのリーディング部及び／又はテーリング部上でそのカーブの形状に基づいて２個の変曲点を検出する。この変曲点は必ず２個見つかるとは限らず、例えばリーディング部（又はテーリング部）上で２個の変曲点が存在しない場合には、第２のピークが存在しないものと看做すことができる。リーディング部又はテーリング部、或いはその両方でそれぞれ２個の変曲点が見い出された場合には、そのリーディング部又はテーリング部、或いはその両方で第１のピークに他のピークが重畳しているものと推測できる。そこで、第２ピーク検出手段は、２個の変曲点を結ぶ直線を基準線として定め、該基準線に対して、第１のピークのリーディング部及び／又はテーリング部のカーブ上の各点での接線が成す傾きに基づいて第２のピークを比較的小さなピークとして検出する。
【００１５】
この第２発明に係るデータ処理装置によれば、第１のピークに第２のピークが重畳したときの波形形状が上昇が下降に転じる又は逆に下降が上昇に転じるような状態でなくとも（つまり既述のようななで肩形状であっても）、重畳した第２のピークを確実に検出することができる。これによって、クロマトグラフにおける定性分析や定量分析の精度を向上させることができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、第１及び第２発明に係るクロマトグラフ用データ処理装置の一実施例について、図１〜図８を参照して説明する。
【００１７】
図１は、本実施例によるデータ処理装置を備えるＧＣの概略構成図である。液体試料はシリンジ１等により試料気化室２に注入されてそこで気化され、キャリアガス流路３を通し一定流量で供給されるキャリアガス流に乗ってカラム４内に送り込まれる。試料に含まれる各種成分は、カラム４を通過する間に時間的に分離され、順次、検出器５により検出される。検出器５による検出信号はデジタルデータに変換された後、逐次、データ処理装置６に送られ、そこで一旦、ハードディスク駆動装置（ＨＤＤ）等の外部記憶装置に格納される。１つの試料の分析が終了した後（或いは、連続に実行される複数の試料の分析が終了した後）、外部記憶装置に格納されたデータが読み出され、クロマトグラムの作成、ピーク検出等の各種のデータ処理が行われる。もちろん、測定中にクロマトグラムを作成することも可能である。
【００１８】
多くの場合、データ処理装置６の実体はキーボードやマウス等の操作部７やＬＣＤ等の表示部８を備えた汎用のパーソナルコンピュータであり、そのパソコンで所定の処理プログラムを動作させることにより、クロマトグラムの作成のほか、後述するような各種のデータ処理が実行される。
【００１９】
このデータ処理装置６では、クロマトグラムに関する特徴的なデータ処理を実行する。まず、その１つとして、クロマトグラムのベースライン補正処理について詳述する。図２はクロマトグラムのベースライン補正処理を実行するために、データ処理装置６が備える機能ブロックの構成図である。
【００２０】
まず、分析担当者は操作部７により所定の操作を行うことにより、ベースライン補正を行っていない状態のクロマトグラムを表示部８の画面上に表示させる。例えば昇温分析を行った場合には、図３（Ａ）に示すようにクロマトグラムのベースラインＢＬは昇温を開始した時点（この例では時刻ｔ１）から右上がりになる。分析担当者はこのクロマトグラムからベースラインＢＬの大体の傾斜ＳＬを読み取る。ここでは、ｔ１＝１分経過時からＳＬ＝７００［μＶ／ｍｉｎ］の傾斜が読み取れるものとする。
【００２１】
分析担当者は操作部７を操作することにより、仮想的なベースラインを設定するための波形処理プログラムとして、図４に示すようなパラメータを入力設定する。図４の意味するところは、１分経過時点から７００［μＶ／ｍｉｎ］の傾斜勾配で直線状に上昇するということである。こうしたベースライン設定を含む波形処理プログラムを設定した後、クロマトグラムの波形処理を指示する。この指示を受けて、補正データ作成部１１は上記設定情報に基づいて、図３（Ｂ）に示すような仮想的なベースライン波形を構成するデータを生成する。ベースライン補正部１２は、図３（Ａ）に示すような波形を構成するデータと上記仮想的なベースライン波形を構成するデータとを取得し、同一時刻毎に前者から後者を差し引く演算を行うことにより、各データを補正する。
【００２２】
補正クロマトグラム作成部１３は、上記のようにベースラインＢＬが補正されたデータを用いてクロマトグラムを作成する。その結果、図３（Ｃ）に示すようにベースラインＢＬがほぼ水平になったクロマトグラムが取得できる。ピーク検出部１４は従来と同様に、例えばピークのカーブ上の各点における接線と水平なベースラインＢＬとの成す角度（傾き）に基づいてピークの開始点及び終了点を検出し、これをピーク情報として出力する。
【００２３】
一方、元のクロマトグラムのベースラインが右下がりである場合でも、上記と同様の方法によってそのベースラインの傾きを補正したクロマトグラムを作成してピーク検出を行えばよい。従って、このデータ処理によれば、ベースラインが変動している場合であっても、ピークの開始点及び終了点を正確に求め、これによってピーク面積も高い精度で計算することができる。
【００２４】
なお、上記説明ではベースラインＢＬが直線的に上昇している場合について説明したが、図４に示したようなベースライン情報を設定する際に「処理命令」として様々な関数を設定できるようにしたり、経過時間毎に異なる処理命令を設定できるようにしたりすることで、ベースラインのより複雑な時間的変動にも対応することができる。
【００２５】
次に、このデータ処理装置６における他の特徴的なデータ処理として、微小ピークが大きなピークに重なった場合のピーク検出処理について、図５〜図７のフローチャート及び図８の波形図を参照して説明する。
【００２６】
分析担当者は操作部７を操作することにより、クロマトグラムの波形処理のパラメータとして、図１２（Ｂ）に示したような大きなピークＰａのリーディング又はテーリングに重畳した微小ピークＰｂを検出するための情報を入力する。いま、例えば、波形処理プログラムとして、時間：１分、処理命令：Ｌ．ＳＬＯＰＥ（リーディング）、設定値：２００［μＶ／ｍｉｎ］（微小ピーク検出の判定に使用する値）と、時間：１分、処理命令：Ｔ．ＳＬＯＰＥ（テーリング）、設定値：２００［μＶ／ｍｉｎ］（微小ピーク検出の判定に使用する値）を設定するものとする。
【００２７】
処理が開始されると、まず、初期設定としてｔ＝０，ＬＢ．ｔ１＝−１，ＬＢ．ｔ２＝−１，ＴＢ．ｔ１＝−１，ＴＢ．ｔ２＝−１とする（ステップＳ１）。次いで、時間ｔにおけるクロマトグラムデータを例えば外部記憶装置等から読み出すことによって取得する（ステップＳ２）。その後、そのクロマトグラムデータに基づき（実際には時間的に前後のクロマトグラムデータを加えて）、ピーク検出処理を行う（ステップＳ３）。この処理は既述のように時間ｔにおけるピークカーブ上の点で接線を引き、その接線が水平な基準線（ベースラインＢＬ）に対して成す傾きを求める。従って、ピーク検出処理では、その時間ｔでのカーブが上昇しているか、下降しているか、或いは変化しないのかが識別可能である。
【００２８】
そこで、ピーク検出状況で時間ｔにおけるピーク状況が上記「上昇中」つまりリーディング上にあるか、「下降中」つまりテーリング上にあるか、或いは、「変化なし」つまり例えばピーク外にあるかを判別する（ステップＳ４）。上昇中である場合には、後述するリーディング上の微小ピーク検出処理を実行し（ステップＳ５）、下降中である場合には、後述するテーリング上の微小ピーク検出処理を実行し（ステップＳ６）、いずれもステップＳ７へ進む。他方、ステップＳ４で変化無しと判定された場合にはそのままステップＳ７へと進む。ステップＳ７では、時間ｔがクロマトグラムの終了時間に達したか否かを判定し、未だクロマトグラムの終了時間に達していなければステップＳ２へと戻る。
【００２９】
リーディング上の微小ピーク検出処理（図６参照）では、まず、ＬＢ．ｔ１が０より大であるか否かを判定することにより、前方変曲点Ｃ１が既に見い出されているか否かを判定する（ステップＳ１１）。前方変曲点Ｃ１は、微小ピークＰ２の立ち上がり側の変曲点という意味である。前方変曲点Ｃ１が未だ存在しない場合には、時間ｔにおけるカーブ上の位置が前方変曲点Ｃ１であるか否かを判定する（ステップＳ１２）。変曲点の求め方は従来から知られている各種の方法を用いることができる。一例としては、リーディングにおいて前方変曲点Ｃ１を求める場合には、目的とする位置の前後の所定個数のデータから１次微分値と２次微分値を計算し、１次微分値が正値であり且つ２次微分値が０又は正負の変わり目である場合にそこを前方変曲点Ｃ１とすればよい。
【００３０】
時間ｔにおけるカーブ上の位置が前方変曲点Ｃ１である場合にはＬＢ．ｔ１＝ｔとし（ステップＳ１３）、他方、前方変曲点Ｃ１でなければそのまま処理を終了して図５のルーチンへ戻る。ｔ＝０において前方変曲点Ｃ１であると判定されることはあり得ないから、前方変曲点Ｃ１が見つかった場合にはＬＢ．ｔ１は必ず０よりも大なる値になる。そのため、前方変曲点Ｃ１が検出されると、次にこの微小ピーク検出処理が実行される際には、ステップＳ１１でＹｅｓと判定されステップＳ１４へと進む。
【００３１】
ステップＳ１４では、ＬＢ．ｔ２が０より大であるか否かを判定することにより、後方変曲点Ｃ２が既に見い出されているか否かを判定する。後方変曲点Ｃ２は、微小ピークＰ２の立ち下がり側の変曲点という意味である。後方変曲点Ｃ２が未だ存在しない場合には、時間ｔにおけるカーブ上の位置が後方変曲点Ｃ２であるか否かを判定する（ステップＳ１５）。この後方変曲点Ｃ２の求め方は上述した前方変曲点Ｃ１の求め方と同様である。
【００３２】
時間ｔにおけるカーブ上の位置が後方変曲点Ｃ２でなければそのまま処理を終了して図５のルーチンへ戻る。他方、後方変曲点Ｃ２である場合にはＬＢ．ｔ２＝ｔとし（ステップＳ１６）、次に、微小ピークＰ２の開始点Ｐ２Ｓの検出処理を実行する（ステップＳ１７）。即ち、図８（Ａ）に示すように、前方変曲点Ｃ１の位置であるＬＢ．ｔ１と後方変曲点Ｃ２の位置であるＬＢ．ｔ２とを結ぶ直線を基準線として定め、ピークＰ１の開始点から後方向（時間的にプラス側）に順次移動しながら、上記基準線に対する各点の接線の傾きを求め、その傾きが設定値（ここでは２００［μＶ／ｍｉｎ］以上）である場合にそこを微小ピークＰ２の開始点Ｐ２Ｓと決める。
【００３３】
その後、リーディング上に微小ピークＰ２の開始点Ｐ２Ｓが検出できたか否かを判定し（ステップＳ１８）、開始点Ｐ２Ｓが検出されない場合にはＬＢ．ｔ１＝−１、ＬＢ．ｔ２＝−１とそれぞれクリアして（ステップＳ２４）、図５のルーチンへ戻る。この場合には、リーディング上には微小ピークＰ２が存在しないものと結論付けられる。一方、ステップＳ１８で開始点Ｐ２Ｓが検出されたと判定されたときには、その開始点Ｐ２ＳをＬＰ．ｔ１にセットして（ステップＳ１９）、図５のルーチンへ戻る。
【００３４】
上記ステップＳ１４で後方変曲点Ｃ２が存在しない場合には、時間ｔにおけるカーブ上の位置が後方変曲点Ｃ２であるか否かを判定する（ステップＳ１５）。この後方変曲点Ｃ２の求め方は上述した前方変曲点Ｃ１の求め方と同様である。時間ｔにおけるカーブ上の位置が前方変曲点Ｃ１である場合にはＬＢ．ｔ１＝ｔとし（ステップＳ１３）、他方、前方変曲点Ｃ１でなければそのまま処理を終了して図５のルーチンへ戻る。ｔ＝０において後方変曲点Ｃ２であると判定されることはあり得ないから、ステップＳ１５で後方変曲点Ｃ２が見つかり、且つ微小ピークＰ２の開始点Ｐ２Ｓが見つかった場合には、ＬＢ．ｔ２は必ず０よりも大なる値になる。そのため、次にこの微小ピーク検出処理が実行される際には、ステップＳ１４でＹｅｓと判定されステップＳ２０へと進む。
【００３５】
ステップＳ２０では、微小ピークＰ２の終了点Ｐ２Ｅの検出処理を実行する。即ち、前方変曲点Ｃ１の位置であるＬＢ．ｔ１と後方変曲点Ｃ２の位置であるＬＢ．ｔ２とを結ぶ直線を基準線として定め、上記基準線に対し、そのときの時間ｔの位置での接線の傾きを求め、その傾きが設定値以下であればそこを微小ピークＰ２の終了点Ｐ２Ｅと決める。次に、その時間ｔの位置が微小ピークＰ２の終了点Ｐ２Ｅであるか否かを判定し（ステップＳ２１）、終了点Ｐ２Ｅでなければ図５のルーチンへ戻る。
【００３６】
時間ｔにおけるカーブ上の位置が微小ピークＰ２の終了点Ｐ２Ｅである場合にはその時間ｔをＬＰ．ｔ２にセットし（ステップＳ２２）、ピーク開始点Ｐ２Ｓを示すＬＰ．ｔ１、ピーク終了点Ｐ２Ｅを示すＬＰ．ｔ２を有するような微小ピークＰ２をピークリストに追加する処理を実行する（ステップＳ２３）。その後、ＬＢ．ｔ１＝−１、ＬＢ．ｔ２＝−１とそれぞれクリアして（ステップＳ２４）、図５のルーチンへ戻る。
【００３７】
即ち、上記リーディング上の微小ピーク検出処理では、図８（Ａ）に示すようなクロマトグラムのピーク波形に対し前方変曲点Ｃ１及び後方変曲点Ｃ２を見つけ（ステップＳ３２及びＳ３５）、その前方変曲点Ｃ１及び後方変曲点Ｃ２を結ぶ直線を引いてこれを基準線と定める。そして、図８（Ｂ）に示すように、上記基準線に対して、ピークカーブ上の各点の接線の傾きを求め、その傾きが所定値以上である場合にそこを微小ピークＰ２の開始点Ｐ２Ｓとし、それよりも後方でその傾きが所定値以下になった場合にそこを微小ピークＰ２の終了点Ｐ２Ｅとする。このようにして、微小ピークＰ２の重畳部分の波形が下降するカーブを有していなくても、微小ピークＰ２を確実に検出して、開始点Ｐ２Ｓ及び終了点Ｐ２Ｅを確定することができる。
【００３８】
図７に示したピークＰ１のテーリング部に重畳した微小ピークＰ２の検出方法も基本的には上記のリーディング部に重畳した微小ピークの検出方法と同様であるので説明を省略する。このようにして、大きなピークＰ１のリーディング部又はテーリング部のいずれに微小ピークＰ２が重畳している場合でも、これを確実に検出することができる。
【００３９】
図９は上記図５に示したフローチャートの変形例を示すフローチャートである。図５で説明した波形処理の例では、通常のピーク検出処理つまり大きなピークＰ１の検出を行いつつ、微小ピークＰ２の検出処理を実行していた。それに対し、この図９に示した波形処理では、まずステップＳ５１〜Ｓ５５の各処理によってクロマトグラム全体に対する通常のピーク検出処理を終了させる。これによって、クロマトグラム全体に亘って１乃至複数の大きなピークが検出される。その後、ステップＳ５６〜Ｓ６０の処理によってクロマトグラム全体に対する微小ピークの検出処理を行う。このようにしても、上記説明と同様に、大きなピークのリーディング部及びテーリング部に重畳している微小ピークの開始点及び終了点を確実に検出することが可能である。
【００４０】
また、上述したように微小ピークが見い出された後の波形処理として、例えばピーク面積を算出するために微小ピークを大きなピークと分離する必要がある。その場合の一方法として、例えば図１０に示すように、リーディング部に重畳している微小ピークに対しては終了点Ｐ２Ｅで垂直線を引いてその前後で波形を分離し、テーリング部に重畳している微小ピークに対しては開始点Ｐ２Ｓで垂直線を引いてその前後で波形を分離する方法が考えられる。こうした波形分離は、微小ピークＰ２が大きなピークＰのピークトップから離れた位置に重畳している場合に特に有効である。
【００４１】
なお、上記実施例は本発明の一例にすぎず、上記記載以外の点についても、本発明の趣旨の範囲で適宜に変更や修正を加えることができることは明らかである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例によるデータ処理装置を備えるＧＣ装置の概略構成図。
【図２】本実施例によるデータ処理装置においてクロマトグラムのベースライン補正処理を実行するためにパソコンが備える機能ブロックの構成図。
【図３】ベースライン補正処理の動作説明のための波形図。
【図４】仮想的なベースラインを設定するための波形処理タイムプログラムの一例を示す図。
【図５】微小ピークが大きなピークに重なった場合のピーク検出処理の一例を示すフローチャート。
【図６】ピーク波形のリーディング上の微小ピーク検出処理を示すフローチャート。
【図７】ピーク波形のテーリング上の微小ピーク検出処理を示すフローチャート。
【図８】微小ピーク検出処理の動作説明のための波形図。
【図９】微小ピークが大きなピークに重なった場合のピーク検出処理の他の例を示すフローチャート。
【図１０】大きなピークと微小ピークとを分離する際の方法の一例を示す波形図。
【図１１】従来のピーク検出処理の問題点を説明するためのクロマトグラム波形図。
【図１２】従来のピーク検出処理の問題点を説明するためのクロマトグラム波形図。
【符号の説明】
１…シリンジ
２…試料気化室
３…キャリアガス流路
４…カラム
５…検出器
６…データ処理装置
７…操作部
８…表示部
１１…補正データ作成部
１２…ベースライン補正部
１３…補正クロマトグラム作成部
１４…ピーク検出部

Claims (2)

1. クロマトグラフ分析により取得されたクロマトグラムデータを処理し、そのクロマトグラムに現れる１乃至複数のピークに関連する情報を算出するデータ処理装置において、
   ａ）処理対象であるクロマトグラムのベースラインの時間的変動を表す情報を外部より設定するための入力手段と、
   ｂ）該入力手段により与えられた情報に基づき、ベースラインの時間的変動が補正されたクロマトグラムを算出する補正処理手段と、
   ｃ）該補正処理手段により補正されたクロマトグラムに現れるピークカーブ上の各点での接線が、そのクロマトグラムのベースラインに対して成す傾きに基づいて、そのピークの開始点及び終了点を検出するピーク検出手段と、
   を備えることを特徴とするクロマトグラフ用データ処理装置。
2. クロマトグラフ分析により取得されたクロマトグラムデータを処理し、そのクロマトグラムに現れる１乃至複数のピークに関連する情報を算出するデータ処理装置において、
   ａ）クロマトグラムに現れるピークカーブ上の各点での接線が、そのクロマトグラムのベースラインに対して成す傾きに基づいて第１のピークを検出する第１ピーク検出手段と、
   ｂ）前記第１のピークのリーディング部及び／又はテーリング部上でそのカーブの形状に基づいて２個の変曲点を検出する変曲点検出手段と、
   ｃ）前記２個の変曲点を結ぶ直線を基準線として定め、第１のピークのリーディング部及び／又はテーリング部のカーブ上の各点での接線が前記基準線に対して成す傾きに基づいて第２のピークを検出する第２ピーク検出手段と、
   を備えることを特徴とするクロマトグラフ用データ処理装置。

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