JP2008249694A - 質量分析装置、質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法 - Google Patents
質量分析装置、質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008249694A JP2008249694A JP2008043820A JP2008043820A JP2008249694A JP 2008249694 A JP2008249694 A JP 2008249694A JP 2008043820 A JP2008043820 A JP 2008043820A JP 2008043820 A JP2008043820 A JP 2008043820A JP 2008249694 A JP2008249694 A JP 2008249694A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integration
- ion
- memory
- signal
- result
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0036—Step by step routines describing the handling of the data generated during a measurement
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】質量分析用データ処理装置において、ノイズ成分を除去するためのしきい値をマススペクトルを得る前に取得しておき、イオン検出信号をA/D変換器53でサンプリングし、積算処理回路54は、しきい値以上の信号はそのまま積算メモリ55に格納し、しきい値未満の信号はしきい値レベルに置き換える。また、サンプリング中に所望の時間のサンプリング結果の生値を積算メモリ55に格納する。積算終了後にしきい値レベルとなった積算結果には、前記サンプリングの生値結果から所定の演算処理を行って得たベースライン値に置き換える。この処理を終えた積算結果をマススペクトルとする。
【選択図】図1
Description
図1により、本発明の実施の形態1であるA/D変換方式の質量分析用データ処理装置を用いた質量分析装置の構成の一例を説明する。図1は、A/D変換方式の質量分析用データ処理装置を用いた質量分析装置の構成を示す。
次に、本発明の実施の形態2における質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法について説明する。
次に、本発明の実施の形態3における質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法について説明する。
次に、本発明の実施の形態4における質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法について説明する。
上述した実施の形態1〜4で説明したサンプリング結果に対する積算時のデータ処理は、質量分析装置内の判定アルゴリズム等で行っても良いが、装置ユーザが実施の有無を決定してもなんら支障はなく、例えば、質量分析装置の入出力装置から、選択的に測定モード変更として行っても良い。
Claims (14)
- 質量分析用検出系を備えた飛行時間型の質量分析装置であって、
イオンを検出し電気信号に変換する検出器と、前記検出器からのイオン検出信号をサンプリングするA/D変換器と、前記A/D変換器からのサンプリングデータを積算処理する積算処理回路と、前記積算処理回路による積算処理結果を格納する積算メモリとを備え、
前記積算処理回路は、ノイズ成分を除去するためのしきい値を取得しておき、前記A/D変換器からのサンプリングデータに基づき、イオン計測時間帯において、前記しきい値以上の信号はそのまま前記積算メモリに格納し、前記しきい値未満の信号は所定の値に置き換えて前記積算メモリに格納し、ベースライン計測時間帯の積算処理結果はそのまま前記積算メモリに格納し、積算処理終了後に前記ベースライン計測時間帯の前記積算メモリの結果からベースライン値を算出し、前記イオン計測時間帯に得た前記積算メモリの結果に対して前記所定の値を前記ベースライン値に置き換えることを特徴とする質量分析装置。 - 質量分析用検出系を備えた飛行時間型の質量分析装置であって、
イオンを検出し電気信号に変換する検出器と、前記検出器からのイオン検出信号をサンプリングするA/D変換器と、前記A/D変換器からのサンプリングデータを積算処理する第1、第2の積算処理回路と、前記第1、第2の積算処理回路による積算処理結果を格納する第1、第2の積算メモリとを備え、
前記第1の積算処理回路は、ノイズ成分を除去するためのしきい値を取得しておき、前記A/D変換器からのサンプリングデータに基づき、イオン計測時間帯において、前記しきい値以上の信号はそのまま前記第1の積算メモリに格納し、前記しきい値未満の信号は所定の値に置き換えて前記第2の積算メモリに格納し、ベースライン計測時間帯の積算処理結果はそのまま前記第2の積算メモリに格納し、積算処理終了後に前記ベースライン計測時間帯の前記第2の積算メモリの結果からベースライン値を算出し、前記イオン計測時間帯に得た前記第1の積算メモリの結果に対して前記所定の値を前記ベースライン値に置き換えることを特徴とする質量分析装置。 - 質量分析用検出系を備えた飛行時間型の質量分析装置であって、
イオン打ち出し信号発生器と、イオン検出信号をサンプリングするA/D変換器と、前記A/D変換器からのサンプリングデータを積算処理する積算処理回路と、前記積算処理回路による積算処理結果を格納する積算メモリとを備え、
前記イオン打ち出し信号発生器は、イオン打ち出し信号を所定の時間ずつ遅延して発生し、
前記A/D変換器は、前記イオン打ち出し信号の発生によるイオン検出信号をサンプリングし、
前記積算処理回路は、前記積算メモリに積算処理結果を格納する際に、遅延した時間分を元に戻して格納することを特徴とする質量分析装置。 - 質量分析用検出系を備えた飛行時間型の質量分析装置であって、
イオン打ち出し信号発生器と、イオン検出信号をサンプリングするA/D変換器と、前記A/D変換器からのサンプリングデータを積算処理する積算処理回路と、前記積算処理回路による積算処理結果を格納する積算メモリとを備え、
前記積算処理回路は、ノイズ成分を除去するためのしきい値を取得しておき、前記A/D変換器からのサンプリングデータに基づき、イオン計測時間帯において、前記しきい値以上の信号はそのまま前記積算メモリに格納し、前記しきい値未満の信号は所定の値に置き換えて前記積算メモリに格納し、ベースライン計測時間帯の積算処理結果はそのまま前記積算メモリに格納し、積算処理終了後に前記ベースライン計測時間帯の前記積算メモリの結果からベースライン値を算出し、前記イオン計測時間帯に得た前記積算メモリの結果に対して前記所定の値を前記ベースライン値に置き換えるものであり、
前記イオン計測時間帯において、
前記イオン打ち出し信号発生器は、イオン打ち出し信号を所定の時間ずつ遅延して発生し、
前記A/D変換器は、前記イオン打ち出し信号の発生によるイオン検出信号をサンプリングし、
前記積算処理回路は、前記積算メモリに積算処理結果を格納する際に、遅延した時間分を元に戻して格納することを特徴とする質量分析装置。 - 飛行時間型の質量分析装置における質量分析用データ処理装置であって、
イオン検出信号をサンプリングするA/D変換器と、前記A/D変換器からのサンプリングデータを積算処理する積算処理回路と、前記積算処理回路による積算処理結果を格納する積算メモリとを備え、
前記積算処理回路は、ノイズ成分を除去するためのしきい値を取得しておき、前記A/D変換器からのサンプリングデータに基づき、イオン計測時間帯において、前記しきい値以上の信号はそのまま前記積算メモリに格納し、前記しきい値未満の信号は所定の値に置き換えて前記積算メモリに格納し、ベースライン計測時間帯の積算処理結果はそのまま前記積算メモリに格納し、積算処理終了後に前記ベースライン計測時間帯の前記積算メモリの結果からベースライン値を算出し、前記イオン計測時間帯に得た前記積算メモリの結果に対して前記所定の値を前記ベースライン値に置き換えることを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 請求項5記載の質量分析用データ処理装置において、
前記所定の値は、前記しきい値と同じ値であることを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 飛行時間型の質量分析装置における質量分析用データ処理装置であって、
イオン打ち出し信号発生器と、イオン検出信号をサンプリングするA/D変換器と、前記A/D変換器からのサンプリングデータを積算処理する積算処理回路と、前記積算処理回路による積算処理結果を格納する積算メモリとを備え、
前記イオン打ち出し信号発生器は、イオン打ち出し信号を所定の時間ずつ遅延して発生し、
前記A/D変換器は、前記イオン打ち出し信号の発生によるイオン検出信号をサンプリングし、
前記積算処理回路は、前記積算メモリに積算処理結果を格納する際に、遅延した時間分を元に戻して格納することを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 請求項7記載の質量分析用データ処理装置において、
前記所定の時間は、前記イオン検出信号をサンプリングするサンプリングクロックの周期分の時間であることを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 飛行時間型の質量分析装置における質量分析用データ処理装置であって、
イオン打ち出し信号発生器と、イオン検出信号をサンプリングするA/D変換器と、前記A/D変換器からのサンプリングデータを積算処理する積算処理回路と、前記積算処理回路による積算処理結果を格納する積算メモリとを備え、
前記積算処理回路は、ノイズ成分を除去するためのしきい値を取得しておき、前記A/D変換器からのサンプリングデータに基づき、イオン計測時間帯において、前記しきい値以上の信号はそのまま前記積算メモリに格納し、前記しきい値未満の信号は所定の値に置き換えて前記積算メモリに格納し、ベースライン計測時間帯の積算処理結果はそのまま前記積算メモリに格納し、積算処理終了後に前記ベースライン計測時間帯の前記積算メモリの結果からベースライン値を算出し、前記イオン計測時間帯に得た前記積算メモリの結果に対して前記所定の値を前記ベースライン値に置き換えるものであり、
前記イオン計測時間帯において、
前記イオン打ち出し信号発生器は、イオン打ち出し信号を所定の時間ずつ遅延して発生し、
前記A/D変換器は、前記イオン打ち出し信号の発生によるイオン検出信号をサンプリングし、
前記積算処理回路は、前記積算メモリに積算処理結果を格納する際に、遅延した時間分を元に戻して格納することを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 請求項9記載の質量分析用データ処理装置において、
前記ベースライン計測時間帯において、
前記イオン打ち出し信号発生器は、イオン打ち出し信号を所定の時間ずつ遅延して発生し、
前記A/D変換器は、前記イオン打ち出し信号の発生によるイオン検出信号をサンプリングし、
前記積算処理回路は、前記積算メモリに積算処理結果を格納する際に、遅延した時間分を元に戻して格納することを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 請求項10記載の質量分析用データ処理装置において、
前記所定の値は、前記しきい値と同じ値であることを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 請求項11記載の質量分析用データ処理装置において、
前記所定の時間は、前記イオン検出信号をサンプリングするサンプリングクロックの周期分の時間であることを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 飛行時間型の質量分析装置における質量分析用データ処理方法であって、
ノイズ成分を除去するためのしきい値を積算処理回路に取得しておき、
イオン検出信号をA/D変換器でサンプリングし、
前記積算処理回路は、前記A/D変換器からのサンプリングデータに基づき、イオン計測時間帯において、前記しきい値以上の信号はそのまま前記積算メモリに格納し、前記しきい値未満の信号は所定の値に置き換えて前記積算メモリに格納し、ベースライン計測時間帯の積算処理結果はそのまま前記積算メモリに格納し、積算処理終了後に前記ベースライン計測時間帯の前記積算メモリの結果からベースライン値を算出し、前記イオン計測時間帯に得た前記積算メモリの結果に対して前記所定の値を前記ベースライン値に置き換えることを特徴とする質量分析用データ処理方法。 - 飛行時間型の質量分析装置における質量分析用データ処理方法であって、
イオン打ち出し信号を所定の時間ずつ遅延してイオン打ち出し信号発生器から発生し、
前記イオン打ち出し信号の発生によるイオン検出信号をA/D変換器でサンプリングし、
積算処理回路は、積算メモリに積算処理結果を格納する際に、遅延した時間分を元に戻して格納することを特徴とする質量分析用データ処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008043820A JP5171312B2 (ja) | 2007-03-02 | 2008-02-26 | 質量分析装置、質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007052261 | 2007-03-02 | ||
JP2007052261 | 2007-03-02 | ||
JP2008043820A JP5171312B2 (ja) | 2007-03-02 | 2008-02-26 | 質量分析装置、質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008249694A true JP2008249694A (ja) | 2008-10-16 |
JP5171312B2 JP5171312B2 (ja) | 2013-03-27 |
Family
ID=39974787
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008043820A Expired - Fee Related JP5171312B2 (ja) | 2007-03-02 | 2008-02-26 | 質量分析装置、質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5171312B2 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009264970A (ja) * | 2008-04-25 | 2009-11-12 | Shimadzu Corp | 質量分析データ処理方法及び質量分析装置 |
EP2363877A1 (en) * | 2010-03-02 | 2011-09-07 | Tofwerk AG | Method for chemical analysis |
WO2012039061A1 (ja) | 2010-09-24 | 2012-03-29 | 株式会社島津製作所 | データ処理方法及び装置 |
JP2012527601A (ja) * | 2009-05-13 | 2012-11-08 | マイクロマス・ユーケイ・リミテッド | 飛行時間取得システム |
DE112011102595T5 (de) | 2010-08-04 | 2013-05-08 | Hitachi High-Technologies Corporation | Erfassungsverfahren für die Lichtmenge und Vorrichtung dafür |
US8633841B2 (en) | 2009-09-14 | 2014-01-21 | Hitachi High-Technologies Corporation | Signal processing device, mass spectrometer, and photometer |
JP2019079521A (ja) * | 2017-10-20 | 2019-05-23 | イマージョン コーポレーションImmersion Corporation | 内蔵加速度計を用いる触覚プロファイルの確定 |
JP2020061272A (ja) * | 2018-10-10 | 2020-04-16 | 株式会社島津製作所 | 分析装置 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08321278A (ja) * | 1995-05-24 | 1996-12-03 | Shimadzu Corp | Icp質量分析装置 |
JP2000206103A (ja) * | 1999-01-07 | 2000-07-28 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析計 |
JP2000299083A (ja) * | 1999-04-15 | 2000-10-24 | Jeol Ltd | 質量分析装置用データ収集システム |
JP2005166627A (ja) * | 2003-11-10 | 2005-06-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
JP2005183328A (ja) * | 2003-12-24 | 2005-07-07 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ/飛行時間型質量分析計 |
JP2005268152A (ja) * | 2004-03-22 | 2005-09-29 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析用データ処理装置および方法 |
JP2006032207A (ja) * | 2004-07-20 | 2006-02-02 | Shimadzu Corp | 飛行時間分析装置 |
JP2006236795A (ja) * | 2005-02-25 | 2006-09-07 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置および質量分析方法 |
-
2008
- 2008-02-26 JP JP2008043820A patent/JP5171312B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08321278A (ja) * | 1995-05-24 | 1996-12-03 | Shimadzu Corp | Icp質量分析装置 |
JP2000206103A (ja) * | 1999-01-07 | 2000-07-28 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析計 |
JP2000299083A (ja) * | 1999-04-15 | 2000-10-24 | Jeol Ltd | 質量分析装置用データ収集システム |
JP2005166627A (ja) * | 2003-11-10 | 2005-06-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
JP2005183328A (ja) * | 2003-12-24 | 2005-07-07 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ/飛行時間型質量分析計 |
JP2005268152A (ja) * | 2004-03-22 | 2005-09-29 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析用データ処理装置および方法 |
JP2006032207A (ja) * | 2004-07-20 | 2006-02-02 | Shimadzu Corp | 飛行時間分析装置 |
JP2006236795A (ja) * | 2005-02-25 | 2006-09-07 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置および質量分析方法 |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009264970A (ja) * | 2008-04-25 | 2009-11-12 | Shimadzu Corp | 質量分析データ処理方法及び質量分析装置 |
US8729462B2 (en) | 2009-05-13 | 2014-05-20 | Micromass Uk Limited | Time of flight acquisition system |
JP2012527601A (ja) * | 2009-05-13 | 2012-11-08 | マイクロマス・ユーケイ・リミテッド | 飛行時間取得システム |
US8633841B2 (en) | 2009-09-14 | 2014-01-21 | Hitachi High-Technologies Corporation | Signal processing device, mass spectrometer, and photometer |
EP2363877A1 (en) * | 2010-03-02 | 2011-09-07 | Tofwerk AG | Method for chemical analysis |
DE112011102595T5 (de) | 2010-08-04 | 2013-05-08 | Hitachi High-Technologies Corporation | Erfassungsverfahren für die Lichtmenge und Vorrichtung dafür |
US8797522B2 (en) | 2010-08-04 | 2014-08-05 | Hitachi High-Technologies Corporation | Light quantity detection method and device therefor |
WO2012039061A1 (ja) | 2010-09-24 | 2012-03-29 | 株式会社島津製作所 | データ処理方法及び装置 |
CN103119848A (zh) * | 2010-09-24 | 2013-05-22 | 株式会社岛津制作所 | 数据处理方法及装置 |
JP5447680B2 (ja) * | 2010-09-24 | 2014-03-19 | 株式会社島津製作所 | データ処理方法及び装置 |
US8710919B2 (en) | 2010-09-24 | 2014-04-29 | Shimadzu Corporation | Data processing method |
JP2019079521A (ja) * | 2017-10-20 | 2019-05-23 | イマージョン コーポレーションImmersion Corporation | 内蔵加速度計を用いる触覚プロファイルの確定 |
JP2020061272A (ja) * | 2018-10-10 | 2020-04-16 | 株式会社島津製作所 | 分析装置 |
JP7047698B2 (ja) | 2018-10-10 | 2022-04-05 | 株式会社島津製作所 | 分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5171312B2 (ja) | 2013-03-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5171312B2 (ja) | 質量分析装置、質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法 | |
JP4907196B2 (ja) | 質量分析用データ処理装置 | |
US7423259B2 (en) | Mass spectrometer and method for enhancing dynamic range | |
US11373848B2 (en) | Saturation correction for ion signals in time-of-flight mass spectrometers | |
JP5305053B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP4575193B2 (ja) | 質量分析装置および質量分析方法 | |
JP5645829B2 (ja) | 信号処理装置、質量分析装置及び光度計 | |
US8803083B2 (en) | Time of flight mass spectrometer | |
JP2015519566A (ja) | 二重adc取得装置の校正 | |
JP2005302622A (ja) | 飛行時間型質量分析装置および分析方法 | |
JP4313234B2 (ja) | 質量分析用データ処理装置および方法 | |
US9196467B2 (en) | Mass spectrum noise cancellation by alternating inverted synchronous RF | |
US20070090287A1 (en) | Intelligent SIM acquisition | |
US9543133B2 (en) | Processing of ion current measurements in time-of-flight mass spectrometers | |
US20080073504A1 (en) | Data acquisition system | |
JP2006032207A (ja) | 飛行時間分析装置 | |
GB2540730A (en) | Time interval management | |
WO2012095648A1 (en) | A method of deadtime correction in mass spectrometry | |
JP7400643B2 (ja) | X線分析装置、x線分析用信号処理装置およびx線分析方法 | |
US7450042B2 (en) | Mass spectrometer and method for compensating sampling errors | |
CN106053930A (zh) | 一种抗随机噪声的无开关弱信号同步积分测量装置及测量方法 | |
JP6683015B2 (ja) | 分析データ処理装置 | |
Steinmann et al. | Continuous Bunch-by-Bunch Reconstruction of Short Detector Pulses | |
US20210175065A1 (en) | Mass Spectrometer | |
CN116092911A (zh) | 信号采集方法、装置、质谱仪和计算机存储介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100805 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120323 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120403 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120601 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120814 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121015 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121127 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121225 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5171312 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |