JP5171312B2 - 質量分析装置、質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法 - Google Patents
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Description
図1により、本発明の実施の形態1であるA/D変換方式の質量分析用データ処理装置を用いた質量分析装置の構成の一例を説明する。図1は、A/D変換方式の質量分析用データ処理装置を用いた質量分析装置の構成を示す。
次に、本発明の実施の形態2における質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法について説明する。
次に、本発明の実施の形態3における質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法について説明する。
次に、本発明の実施の形態4における質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法について説明する。
上述した実施の形態1〜4で説明したサンプリング結果に対する積算時のデータ処理は、質量分析装置内の判定アルゴリズム等で行っても良いが、装置ユーザが実施の有無を決定してもなんら支障はなく、例えば、質量分析装置の入出力装置から、選択的に測定モード変更として行っても良い。
Claims (17)
- 質量分析用検出系を備えた飛行時間型の質量分析装置であって、
イオンを検出し電気信号に変換する検出器と、
前記検出器からのイオン検出信号をサンプリングするA/D変換器と、
前記A/D変換器からのサンプリングデータを積算処理する積算処理回路と、
前記積算処理回路による積算処理結果を格納する積算メモリとを備え、
前記積算処理回路は、
ノイズ成分を除去するためのしきい値を取得しておき、前記A/D変換器からのサンプリングデータに基づき、イオン計測時間帯において、前記しきい値以上の信号はそのまま前記積算メモリに格納し、前記しきい値未満の信号は所定の値に置き換えて前記積算メモリに格納し、
前記イオン計測時間帯とは異なり、前記イオン計測時間帯には包含されない任意の時間帯であるベースライン計測時間帯において、このベースライン計測時間帯の積算処理結果はそのまま前記積算メモリに格納し、積算処理終了後に前記ベースライン計測時間帯の前記積算メモリの結果からベースライン値を算出し、前記イオン計測時間帯に得た前記積算メモリの結果に対して前記所定の値を前記ベースライン値に置き換えることを特徴とする質量分析装置。 - 質量分析用検出系を備えた飛行時間型の質量分析装置であって、
イオンを検出し電気信号に変換する検出器と、
前記検出器からのイオン検出信号をサンプリングするA/D変換器と、
前記A/D変換器からのサンプリングデータを積算処理する第1、第2の積算処理回路と、
前記第1、第2の積算処理回路による積算処理結果を格納する第1、第2の積算メモリとを備え、
前記第1の積算処理回路は、ノイズ成分を除去するためのしきい値を取得しておき、前記A/D変換器からのサンプリングデータに基づき、イオン計測時間帯において、前記しきい値以上の信号はそのまま前記第1の積算メモリに格納し、前記しきい値未満の信号は所定の値に置き換えて前記第2の積算メモリに格納し、
前記第2の積算処理回路は、前記イオン計測時間帯とは異なり、前記イオン計測時間帯には包含されない任意の時間帯であるベースライン計測時間帯において、このベースライン計測時間帯の積算処理結果はそのまま前記第2の積算メモリに格納し、積算処理終了後に前記ベースライン計測時間帯の前記第2の積算メモリの結果からベースライン値を算出し、前記イオン計測時間帯に得た前記第1の積算メモリの結果に対して前記所定の値を前記ベースライン値に置き換えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1記載の質量分析装置において、
さらにイオン打ち出し信号発生器を備え、
前記イオン打ち出し信号発生器は、イオン打ち出し信号を所定の時間ずつ遅延して発生し、
前記A/D変換器は、前記イオン打ち出し信号の発生によるイオン検出信号をサンプリングし、
前記積算処理回路は、前記積算メモリに積算処理結果を格納する際に、遅延した時間分を元に戻して格納することを特徴とする質量分析装置。 - 質量分析用検出系を備えた飛行時間型の質量分析装置であって、
イオン打ち出し信号発生器と、
イオン検出信号をサンプリングするA/D変換器と、
前記A/D変換器からのサンプリングデータを積算処理する積算処理回路と、
前記積算処理回路による積算処理結果を格納する積算メモリとを備え、
前記積算処理回路は、
ノイズ成分を除去するためのしきい値を取得しておき、前記A/D変換器からのサンプリングデータに基づき、イオン計測時間帯において、前記しきい値以上の信号はそのまま前記積算メモリに格納し、前記しきい値未満の信号は所定の値に置き換えて前記積算メモリに格納し、
前記イオン計測時間帯とは異なり、前記イオン計測時間帯には包含されない任意の時間帯であるベースライン計測時間帯において、このベースライン計測時間帯の積算処理結果はそのまま前記積算メモリに格納し、積算処理終了後に前記ベースライン計測時間帯の前記積算メモリの結果からベースライン値を算出し、前記イオン計測時間帯に得た前記積算メモリの結果に対して前記所定の値を前記ベースライン値に置き換えるものであり、
前記イオン計測時間帯において、
前記イオン打ち出し信号発生器は、イオン打ち出し信号を所定の時間ずつ遅延して発生し、
前記A/D変換器は、前記イオン打ち出し信号の発生によるイオン検出信号をサンプリングし、
前記積算処理回路は、前記積算メモリに積算処理結果を格納する際に、遅延した時間分を元に戻して格納することを特徴とする質量分析装置。 - 飛行時間型の質量分析装置における質量分析用データ処理装置であって、
イオン検出信号をサンプリングするA/D変換器と、
前記A/D変換器からのサンプリングデータを積算処理する積算処理回路と、
前記積算処理回路による積算処理結果を格納する積算メモリとを備え、
前記積算処理回路は、
ノイズ成分を除去するためのしきい値を取得しておき、前記A/D変換器からのサンプリングデータに基づき、イオン計測時間帯において、前記しきい値以上の信号はそのまま前記積算メモリに格納し、前記しきい値未満の信号は所定の値に置き換えて前記積算メモリに格納し、
前記イオン計測時間帯とは異なり、前記イオン計測時間帯には包含されない任意の時間帯であるベースライン計測時間帯において、このベースライン計測時間帯の積算処理結果はそのまま前記積算メモリに格納し、積算処理終了後に前記ベースライン計測時間帯の前記積算メモリの結果からベースライン値を算出し、前記イオン計測時間帯に得た前記積算メモリの結果に対して前記所定の値を前記ベースライン値に置き換えることを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 請求項5記載の質量分析用データ処理装置において、
前記所定の値は、前記しきい値と同じ値であることを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 請求項5記載の質量分析用データ処理装置において、
さらにイオン打ち出し信号発生器を備え、
前記イオン打ち出し信号発生器は、イオン打ち出し信号を所定の時間ずつ遅延して発生し、
前記A/D変換器は、前記イオン打ち出し信号の発生によるイオン検出信号をサンプリングし、
前記積算処理回路は、前記積算メモリに積算処理結果を格納する際に、遅延した時間分を元に戻して格納することを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 請求項7記載の質量分析用データ処理装置において、
前記所定の時間は、前記イオン検出信号をサンプリングするサンプリングクロックの周期分の時間であることを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 飛行時間型の質量分析装置における質量分析用データ処理装置であって、
イオン打ち出し信号発生器と、
イオン検出信号をサンプリングするA/D変換器と、
前記A/D変換器からのサンプリングデータを積算処理する積算処理回路と、
前記積算処理回路による積算処理結果を格納する積算メモリとを備え、
前記積算処理回路は、
ノイズ成分を除去するためのしきい値を取得しておき、前記A/D変換器からのサンプリングデータに基づき、イオン計測時間帯において、前記しきい値以上の信号はそのまま前記積算メモリに格納し、前記しきい値未満の信号は所定の値に置き換えて前記積算メモリに格納し、
前記イオン計測時間帯とは異なり、前記イオン計測時間帯には包含されない任意の時間帯であるベースライン計測時間帯において、このベースライン計測時間帯の積算処理結果はそのまま前記積算メモリに格納し、積算処理終了後に前記ベースライン計測時間帯の前記積算メモリの結果からベースライン値を算出し、前記イオン計測時間帯に得た前記積算メモリの結果に対して前記所定の値を前記ベースライン値に置き換えるものであり、
前記イオン計測時間帯において、
前記イオン打ち出し信号発生器は、イオン打ち出し信号を所定の時間ずつ遅延して発生し、
前記A/D変換器は、前記イオン打ち出し信号の発生によるイオン検出信号をサンプリングし、
前記積算処理回路は、前記積算メモリに積算処理結果を格納する際に、遅延した時間分を元に戻して格納することを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 請求項9記載の質量分析用データ処理装置において、
前記ベースライン計測時間帯において、
前記イオン打ち出し信号発生器は、イオン打ち出し信号を所定の時間ずつ遅延して発生し、
前記A/D変換器は、前記イオン打ち出し信号の発生によるイオン検出信号をサンプリングし、
前記積算処理回路は、前記積算メモリに積算処理結果を格納する際に、遅延した時間分を元に戻して格納することを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 請求項10記載の質量分析用データ処理装置において、
前記所定の値は、前記しきい値と同じ値であることを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 請求項11記載の質量分析用データ処理装置において、
前記所定の時間は、前記イオン検出信号をサンプリングするサンプリングクロックの周期分の時間であることを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 飛行時間型の質量分析装置における質量分析用データ処理方法であって、
ノイズ成分を除去するためのしきい値を積算処理回路に取得しておき、
イオン検出信号をA/D変換器でサンプリングし、
前記積算処理回路は、
前記A/D変換器からのサンプリングデータに基づき、イオン計測時間帯において、前記しきい値以上の信号はそのまま前記積算メモリに格納し、前記しきい値未満の信号は所定の値に置き換えて前記積算メモリに格納し、
前記イオン計測時間帯とは異なり、前記イオン計測時間帯には包含されない任意の時間帯であるベースライン計測時間帯において、このベースライン計測時間帯の積算処理結果はそのまま前記積算メモリに格納し、積算処理終了後に前記ベースライン計測時間帯の前記積算メモリの結果からベースライン値を算出し、前記イオン計測時間帯に得た前記積算メモリの結果に対して前記所定の値を前記ベースライン値に置き換えることを特徴とする質量分析用データ処理方法。 - 請求項13記載の質量分析用データ処理方法において、
イオン打ち出し信号を所定の時間ずつ遅延してイオン打ち出し信号発生器から発生し、
前記イオン打ち出し信号の発生によるイオン検出信号を前記A/D変換器でサンプリングし、
前記積算処理回路は、前記積算メモリに積算処理結果を格納する際に、遅延した時間分を元に戻して格納することを特徴とする質量分析用データ処理方法。 - 請求項1、2または4記載の質量分析装置において、
前記ベースライン計測時間帯は、前記イオン計測時間帯よりも短い時間であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項5または9記載の質量分析用データ処理装置において、
前記ベースライン計測時間帯は、前記イオン計測時間帯よりも短い時間であることを特徴とする質量分析用データ処理装置。 - 請求項13記載の質量分析用データ処理方法において、
前記ベースライン計測時間帯は、前記イオン計測時間帯よりも短い時間であることを特徴とする質量分析用データ処理方法。
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