JP6683015B2 - 分析データ処理装置 - Google Patents
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Description
TOFMS本体1に内蔵されたイオン検出器11は、図示しない飛行時間型質量分析器で質量電荷比に応じて分離されたイオンを検出し、そのイオンの数に応じた強度値のアナログ検出信号を時々刻々と出力する。この検出信号はアンプ12で増幅されたあと、アナログデジタル変換器(ADC)13において所定のサンプリング周波数で以てサンプリングされ、サンプル毎にデジタルデータに変換される。ADC値取込部14はADC13から出力されたデータ値を順次取り込んで一時的に保持するバッファとして機能する。
a)順次入力されるデータのうち、そのデータ値がベースライン付近の所定範囲内にあるデータを選別するデータ選別部と、
b)前記データ選別部で選別された時系列方向に複数個のデータについての平均化処理を行う平均化処理部と、
c)前記平均化処理によって得られた値を入力されたデータから差し引く減算部と、
を備え、前記データ選別部における前記所定範囲の下限を、ピーク波形出現直後のベースラインの想定沈み込みの大きさをカバーするように定めるとともに、前記平均化処理部による平均化処理の周期を前記想定沈み込みの時間に応じて定めるようにしたことを特徴としている。
a)順次入力される前記時系列状のデータのうち、該データの値がベースライン付近の所定範囲内にあるデータを選別するデータ選別部と、
b)前記データ選別部で選別された時系列方向に複数個のデータについての平均化処理を行う平均化処理部と、
c)前記平均化処理によって得られた値を、前記平均化処理に用いられた複数個のデータからそれぞれ差し引く減算部と、
を備え、前記データ選別部における前記所定範囲の下限を、前記分析装置の装置構成に依存するピーク波形出現直後のベースラインの沈み込みを想定した想定沈み込みの大きさをカバーするように定めるとともに、前記平均化処理部による平均化処理の周期を前記想定沈み込みの時間に応じて定めるようにしたことを特徴としている。
図1は本実施例による分析データ処理装置を用いたTOFMSにおけるイオン検出器以降の回路ブロックの概略構成図、図2は図1中のベースライン沈み込み補正部の概略構成図、図3は図1中のベースライン沈み込み補正部の詳細なブロック構成図である。なお、図1において図5で説明した構成要素と同じものには同じ符号を付している。
(1)直近のベースラインに対応するベースライン補正データ値より4LSB×√(積算回数)だけ大きい値を上限値Uとする。
(2)直近のベースラインに対応するベースライン補正データ値よりも8LSB×√(積算回数)だけ小さい値を下限値Lとする。
図3に示すように、図2における遅延処理部171はここではレジスタである。また、平均化処理部172は、減算部1721、加算部1722、レジスタ1723、1/m倍部1724、及びm倍部1725、を含む。平均化処理部172では出力値(ここでは1/m倍の前の値)が入力側にフィードバックされて平均化処理に利用されており、この平均化処理がIIR型のフィルタで実現されていることが分かる。
いま、ADC13におけるサンプリングクロックの時系列上の順番をnとし、入力されるデータの値がD(n)、平均化処理によって算出されるベースライン(ベースライン補正データ)の値がB(n)、補正後のデータの値がF(n)であるとすると、
F(n)=D(n)−B(n) …(1)
である。
B(n+1)={(m−1)/m}×B(n)+(1/m)×D(n)=B(n)+(1/m)×{D(n)−B(n)} …(2)
ただし、上記(2)式のように単に1/mを乗じる演算を行うと情報落ちが生じてしまう。そこで、図3に示した例では、これを避けるためにm倍部1725によりベースライン値B(n)をm倍にして演算を行ったあと、最終段の1/m倍部1724においてmで除している。即ち、ベースライン値B(n)は(3)式のように更新される。
B(n+1)=(1/m)×[m×B(n)+{D(n)−B(n)}] …(3)
例えば上記実施例は本発明をTOFMSで得られたデータの処理に利用したものであるが、本発明はTOFMS以外の様々な分析装置で得られたデータの処理に適用することができることは当然である。
11…イオン検出器
12…アンプ
13…ADC
14…ADC値取込部
15…積算処理部
16…ベースライン補正部
17…ベースライン沈み込み補正部
171…遅延処理部(レジスタ)
172…平均化処理部
1721…減算部
1722…加算部
1723…レジスタ
1724…1/m倍部
1725…m倍部
173…減算部
174…データ選別部
Claims (3)
- 分析装置により取得されたピーク波形が現れる強度信号をデジタル化して得られる時系列状のデータを処理する分析データ処理装置であって、ピーク波形出現直後のベースラインの変動を抑えるために、
a)順次入力される前記時系列状のデータのうち、該データの値がベースライン付近の所定範囲内にあるデータを選別するデータ選別部と、
b)前記データ選別部で選別された時系列方向に複数個のデータについての平均化処理を行う平均化処理部と、
c)前記平均化処理によって得られた値を、前記平均化処理に用いられた複数個のデータからそれぞれ差し引く減算部と、
を備え、前記データ選別部における前記所定範囲の下限を、前記分析装置の装置構成に依存するピーク波形出現直後のベースラインの沈み込みを想定した想定沈み込みの大きさをカバーするように定めるとともに、前記平均化処理部による平均化処理の周期を前記想定沈み込みの時間に応じて定めるようにしたことを特徴とする分析データ処理装置。
- 請求項1に記載の分析データ処理装置であって、
前記平均化処理はIIRフィルタにより行われることを特徴とする分析データ処理装置。 - 請求項2に記載の分析データ処理装置であって、
前記平均化処理部は、差し引くべきベースライン補正値を平均化処理により求める際に、直近のベースライン補正値をm倍(但しm>1)したうえで新たに入力されたデータ値を加えて平均化処理を行ったあとに、その値を1/m倍することで新たなベースライン補正値を求めることを特徴とする分析データ処理装置。
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JP2016104838A JP6683015B2 (ja) | 2016-05-26 | 2016-05-26 | 分析データ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2016104838A JP6683015B2 (ja) | 2016-05-26 | 2016-05-26 | 分析データ処理装置 |
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JP2017211285A JP2017211285A (ja) | 2017-11-30 |
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ID=60475510
Family Applications (1)
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JP2016104838A Active JP6683015B2 (ja) | 2016-05-26 | 2016-05-26 | 分析データ処理装置 |
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