KR102001963B1

KR102001963B1 - 지능형 백그라운드 데이터 획득 및 제거

Info

Publication number: KR102001963B1
Application number: KR1020147021325A
Authority: KR
Inventors: 마우로 애일로
Original assignee: 디에이치 테크놀로지즈 디벨롭먼트 피티이. 리미티드
Priority date: 2011-12-30
Filing date: 2012-11-28
Publication date: 2019-07-19
Also published as: JP2015503744A; CA2862249A1; CN104024845B; US20140319336A1; CN104024845A; EP2800969A4; KR20140105868A; US9117638B2; JP6276196B2; EP2800969B1; EP2800969A1; WO2013098601A1

Abstract

복수의 간격들 중 각각의 간격에서 질량 분석계로부터의 분리 샘플 혼합물의 스캔이 수신된다. 제1 간격에서의 수신된 질량 분석 스캔과 하나 이상의 선행한 수신된 질량 분석 스캔이 공지된 화합물의 이온을 나타내고 임계 레벨을 초과하는 강도를 가지는 변화하는 이온 신호를 포함하는 지가 상기 제1 간격에서 판정된다. 상기 제1 간격에서의 상기 이온에 대한 종속적인 스캔을 수행하여 상기 공지된 화합물에 대한 스펙트럼을 산출하도록 질량 분석계가 지시를 받는다. 제1 간격 후의, 변화하는 이온이 임계 레벨을 초과하지 않는 강도를 가지는 제2 간격이 선택된다. 상기 제2 간격에서의 상기 이온에 대한 종속적인 스캔을 수행하여 백그라운드에 대한 스펙트럼을 산출하도록 질량 분석계가 지시를 받는다.

Description

지능형 백그라운드 데이터 획득 및 제거{INTELLIGENT BACKGROUND DATA ACQUISITION AND SUBTRACTION}

본 출원은 본문에 그 전체 내용이 참조에 의해 통합된 2011년 12월 30일 출원된 미국특허 가출원번호 제 61/581,676에 대한 우선권을 주장한다.

본 발명은 지능형 백그라운드 데이터 획득 및 제거에 관한 것이다.

질량 분석계는 대개 테스트 샘플로부터의 추출 종(eluting species)을 식별하고 특징화하도록 크로마토그래피 시스템과 결합된다. 이러한 결합된 시스템에서, 추출 용매(eluting solvent)가 이온화되고 일련의 시간-변동 질량 스펙트럼 이미지가 특정 시간 간격으로 추출 용매로부터 획득되어 크로마토그램 또는 질량 스펙트럼의 컬렉션을 산출한다. 이들 시간 간격은 예를 들면 1초 내지 100분, 또는 그 이상의 범위이다. 테스트 샘플은 다수의 종과 화합물을 함유할 수 있기 때문에, 탠덤 질량 분석 또는, 질량 분석/질량 분석(MS/MS)을 추출 및 수행할때 자동으로 관심의 종 또는 화합물을 판정 또는 식별하여 그것들을 특징화할 수 있는 것이 대개 바람직하다.

추출시 관심있는 화합물을 식별하고 탠덤 질량 분석을 수행하는 예시적이고 공지된 시스템이 AB Sciex에 의해 판매되는 정보 종속 획득(IDA) 시스템이다. 데이터 획득 프로세스 동안, 이 소프트웨어는 전구체 이온(precursor ion)을 선택하기 위해 질량 스펙트럼의 컬렉션에서의 피크를 식별한다. 소프트웨어는 그런 다음 MS/MS 또는 질량 분석/질량 분석/질량 분석(MS/MS/MS)와 같은 질량 분석의 하나 이상의 후속하는 스테이지를 지시하고, 여기서 선택된 전구체 이온이 단편화된다(fragmented). 관심있는 화합물이 그런다음 특성화되고 프로덕트 이온(product ion) 또는 토막 이온(fragment ion), 스펙트럼에 대한 매칭을 위해 라이브러리를 검색함으로써 검증된다.

그러나, 대개, 이러한 시스템으로부터 획득되고 라이브러리에 대해 매칭되는 프로덕트 이온 스펙트럼은 관심있는 이온에 부가하여 동중핵(isobaric) 동시용출(co-eluting) 이온 또는 백그라운드 이온을 포함한다. 결과적으로 라이브러리 검색은 열화한 품질의 결과를 산출한다.

출원인의 교시의 다양한 양태에 따라, 데이터 획득동안 백그라운드 신호에 대한 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 시스템으로서, 샘플 혼합물로부터 하나 이상의 화합물을 분리하는 분리 장치; 복수의 간격에서 상기 분리 샘플 혼합물(separating sample mixture)에 대한 질량 분석 스캔을 수행하는 질량 분석계; 및 프로세서;를 포함하고, 상기 프로세서는 상기 질량 분석계로부터 상기 복수의 간격들 중 각각의 간격에서의 각각의 질량 분석 스캔을 수신하고, 상기 복수의 간격들 중 제1 간격에서 수신된 질량 분석 스캔과 하나 이상의 선행한 수신된 질량 분석 스캔이, 관심의 화합물의 이온을 나타내고 임계 레벨을 초과하는 강도를 가진 변화하는 이온 신호를 포함하는 지를, 상기 제1 간격에서 판정하고, 상기 질량 분석계로 하여금 상기 제1 간격에서의 상기 이온에 대한 상기 분리 샘플 혼합물의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 상기 관심의 화합물의 스펙트럼을 산출하도록 지시하고, 상기 제1 간격 후에 있고 상기 변화하는 이온 신호가 상기 임계 레벨을 초과하지 않는 강도를 가지는, 상기 복수의 간격들 중 제2 간격을 선택하고, 상기 질량 분석계로 하여금 상기 제2 간격에서의 상기 이온에 대한 상기 분리 샘플 혼합물의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 백그라운드에 대한 스펙트럼을 산출하도록 지시한다.

다양한 양태에서, 상기 프로세서는 상기 제1 간격 이후의 상기 복수의 간격들 중 각각의 간격에서 수신된 질량 분석 스캔으로부터의 상기 변화하는 이온 신호의 강도를 상기 각각의 간격에서 판정하고, 상기 강도가 상기 임계 레벨을 초과하지 않는 경우 상기 제2 간격으로서 상기 각각의 간격을 선택함으로써 상기 제2 간격을 선택할 수 있다. 다양한 양태에서, 상기 프로세서는 상기 제1 간격에 크기를 부가함으로써 상기 제2 간격을 선택할 수 있다. 다양한 양태에서, 상기 프로세서는 상기 관심의 화합물에 대한 상기 스펙트럼과 상기 백그라운드에 대한 상기 스펙트럼으로부터 상기 관심의 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 더 연산할 수 있다.

다양한 양태에서, 상기 프로세서는 상기 백그라운드에 대한 상기 스펙트럼을 상기 관심의 화합물에 대한 상기 스펙트럼으로부터 제거함으로써(subtracting) 상기 관심의 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 더 연산할 수 있다. 다양한 양태에서, 상기 프로세서는 데이터 획득동안 상기 관심의 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 더 연산할 수 있다.

출원인의 교시의 다양한 양태에 따라, 데이터 획득동안 백그라운드 신호에 대한 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 방법으로서, 질량 분석계로 하여금 복수의 간격에서 분리 샘플 혼합물에 대한 스캔을 수행하도록 지시하는 단계로서, 분리 장치가 샘플 혼합물로부터 하나 이상의 화합물을 분리하여 상기 분리 샘플 혼합물을 산출하는, 상기 스캔을 수행하도록 지시하는 단계; 상기 복수의 간격들 중 제1 간격에서의 질량 분석 스캔 및 하나 이상의 선행한 질량 분석 스캔이, 관심의 화합물의 이온을 나타내고 임계 레벨을 초과하는 강도를 가지는 변화하는 이온 신호를 포함하는지를, 상기 제1 간격에서 판정하는 단계; 상기 질량 분석계로 하여금 상기 제1 간격에서 상기 이온에 대한 상기 분리 샘플 혼합물의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 상기 관심의 화합물에 대한 스펙트럼을 산출하도록 지시하는 단계; 상기 제1 간격 후에 있고 상기 변화하는 이온 신호가 상기 임계 레벨을 초과하지 않는 강도를 가지는, 상기 복수의 간격들 중 제2 간격을 선택하는 단계; 및 상기 질량 분석계로 하여금 상기 제2 간격에서의 상기 이온에 대한 상기 분리 샘플 혼합물의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 백그라운드에 대한 스펙트럼을 산출하도록 지시하는 단계;를 포함하는 방법이 제공된다. 다양한 양태에서, 상기 복수의 간격들 중 제2 간격을 선택하는 단계는 상기 제1 간격 이후의 상기 복수의 간격들 중 각각의 간격에서 수신된 질량 분석 스캔으로부터의 상기 변화하는 이온 신호의 강도를 상기 각각의 간격에서 판정하고, 상기 강도가 상기 임계 레벨을 초과하지 않는 경우 상기 제2 간격으로서 상기 각각의 간격을 선택하는 단계를 포함할 수 있다. 다양한 양태에서, 상기 복수의 간격들 중 제2 간격을 선택하는 단계는 상기 제1 간격에 크기를 부가하는 단계를 포함할 수 있다. 다양한 양태에서, 상기 방법은 상기 관심의 화합물에 대한 상기 스펙트럼과 상기 백그라운드에 대한 상기 스펙트럼으로부터 상기 관심의 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 연산하는 단계를 더 포함할 수 있다. 다양한 양태에서, 상기 관심의 화합물에 대한 상기 스펙트럼과 상기 백그라운드에 대한 상기 스펙트럼으로부터 상기 관심의 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 연산하는 단계는 상기 백그라운드에 대한 상기 스펙트럼을 상기 관심의 화합물에 대한 상기 스펙트럼으로부터 제거하는 단계를 포함한다. 다양한 양태에서, 상기 관심의 화합물에 대한 상기 스펙트럼과 상기 백그라운드에 대한 상기 스펙트럼으로부터 상기 관심의 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 연산하는 단계는 데이터 획득동안 발생한다. 다양한 양태에서, 상기 관심의 화합물에 대한 상기 스펙트럼과 상기 백그라운드에 대한 상기 스펙트럼으로부터 상기 관심의 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 연산하는 단계는 데이터 획득후 발생한다.

출원인의 교시의 다양한 양태에 따라, 내부의 콘텐츠가 데이터 획득동안 백그라운드 신호에 대한 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 방법을 수행하기 위해 프로세서 상에서 실행되는 명령어를 가진 프로그램을 포함하는 비일시적이고 유형인(tangible) 컴퓨터 판독가능 저장 매체를 포함하는 컴퓨터 제품에 있어서, 상기 방법은 시스템을 제공하는 단계로서, 상기 시스템이 하나 이상의 개별 소프트웨어 모듈을 포함하고 상기 개별 소프트웨어 모듈은 측정 모듈, 분석 모듈 및 종속적인 스캔 제어 모듈을 포함하는 상기 시스템을 제공하는 단계; 질량 분석계로 하여금 상기 측정 모듈을 이용하여 복수의 간격에서 분리 샘플 혼합물에 대한 스캔을 수행하도록 지시하는 단계로서, 분리 장치가 샘플 혼합물로부터 하나 이상의 화합물을 분리하여 상기 분리 샘플 혼합물을 산출하는, 상기 스캔을 수행하도록 지시하는 단계; 상기 분석 모듈을 이용하여 상기 복수의 간격들 중 제1 간격에서의 질량 분석 스캔 및 하나 이상의 선행한 질량 분석 스캔이, 관심의 화합물의 이온을 나타내고 임계 레벨을 초과하는 강도를 가지는 변화하는 이온 신호를 포함하는 지를, 상기 제1 간격에서 판정하는 단계; 상기 종속적인 스캔 제어 모듈을 이용하여 상기 질량 분석계로 하여금 상기 제1 간격에서 상기 이온에 대한 상기 분리 샘플 혼합물의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 상기 관심의 화합물에 대한 스펙트럼을 산출하도록 지시하는 단계; 상기 분석 모듈을 이용하여, 상기 제1 간격 후에 있고 상기 변화하는 이온 신호가 상기 임계 레벨을 초과하지 않는 강도를 가지는, 상기 복수의 간격들 중 제2 간격을 선택하는 단계; 및 상기 종속적인 스캔 제어 모듈을 이용하여 상기 질량 분석계로 하여금 상기 제2 간격에서의 상기 이온에 대한 상기 분리 샘플 혼합물의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 백그라운드에 대한 스펙트럼을 산출하도록 지시하는 단계;를 포함하는 컴퓨터 제품이 제공된다.

당업자는 하기에 기술된 도면들이 단지 예시의 목적이라는 것을 이해할 것이다. 도면들은 어떠한 방식으로건 본 발명의 범위를 한정할 의도를 가지지 않는다.
도 1은 다양한 실시예에 따른 컴퓨터 시스템을 예시하는 블록도이다.
도 2는 시간에서의 종속적인 스캔이 일반적인 자동 질량 분석 획득 시스템에 의해 트리거되는 것을 도시하는 관심있는 화합물에 대한 질량 스펙트럼의 컬렉션으로부터의 피크의 예시적인 플롯이다.
도 3은 다양한 실시예에 따른 시간에서의 백그라운드의 종속적인 스캔이 자동 질량 분석 획득 시스템에 의해 트리거되는 것을 도시하는 관심있는 화합물에 대한 질량 스펙트럼의 컬렉션으로부터의 피크의 예시적인 플롯이다.
도 4는 다양한 실시예에 따른 데이터 획득 동안의 백그라운드 신호에 대한 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 시스템을 도시하는 개략도이다.
도 5는 다양한 실시예에 따른 데이터 획득 동안의 백그라운드 신호에 대한 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 방법을 도시하는 예시적인 플로우차트이다.
도 6은 다양한 실시예에 따른 데이터 획득 동안의 백그라운드 신호에 대한 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 방법을 실행하는 하나 이상의 개별 소프트웨어 모듈을 포함하는 시스템의 개략도이다.
본 교시의 하나 이상의 실시예들이 상술되기 전에, 당업자들은 본 교시가 본 출원서에서 구성의 상세, 컴포넌트의 배열, 및 하기의 상세한 설명에서 설명되거나 또는 도면에서 예시된 단계들의 배열에 한정되지 않는 다는 것을 이해할 것이다.

컴퓨터 구현 시스템

도 1은 본 교시의 실시예가 구현될 수 있는 컴퓨터 시스템(100)을 도시하는 블록도이다. 컴퓨터 시스템(100)은 정보를 통신하는 버스(102) 또는 기타 통신 메커니즘, 및 정보를 처리하기 위해 버스(102)와 결합된 프로세서(104)를 포함한다. 컴퓨터 시스템(100)은 또한 프로세서(104)에 의해 실행될 명령어들을 저장하기 위해 버스(102)에 결합된, 랜덤 액세스 메모리(RAM) 또는 기타 동적 저장 장치가 될 수 있는 메모리(106)를 포함한다. 메모리(106)는 또한 프로세서(104)에 의해 실행될 명령어들의 실행동안 임시 가변 또는 기타 중간 정보를 저장하도록 사용될 수 있다. 컴퓨터 시스템(100)은 프로세서(104)를 위한 정적 정보 및 명령어들을 저장하기 위해 버스(102)에 결합된 판독 전용 메모리(ROM)(108) 또는 기타 정적 저장장치를 더 포함한다. 자기 디스크 또는 광학 디스크와 같은 저장 장치(110)가 정보 및 명령어들을 저장하기 위해 제공되고 버스(102)와 결합된다.

컴퓨터 시스템(100)은 버스(102)를 통해 정보를 컴퓨터 사용자에게 디스플레이하기 위한 음극선관(CRT) 또는 액정 디스플레이(LCD)와 같은 디스플레이(112)에 결합될 수 있다. 문자숫자식 및 기타 키를 포함하는 입력 장치(114)가 정보와 지시 선택을 프로세서(104)에 통신하기 위해 버스(102)에 결합된다. 다른 유형의 사용자 입력 장치는 마우스와 같은 커서 제어(116), 방향 정보 및 지시 선택을 프로세서(104)에 통신하고 디스플레이(112) 상의 커서 이동을 제어하기 위한 트랙볼 또는 커서 방향 키이다. 이 입력 장치는 장치로 하여금 평면에서의 위치를 지정하도록 하는 일반적으로 2 축에 있는, 즉, 제1 축(즉, x), 및 제2 축(즉, y)에 있는 2개의 자유도를 가진다.

컴퓨터 시스템(100)은 본 교시를 수행할 수 있다. 본 교시의 특정한 구현에 따라, 메모리(106)에 저장된 하나 이상의 명령어들의 하나 이상의 시퀀스를 실행하는 프로세서(104)에 응답하여 컴퓨터 시스템(100)에 의해 결과가 제공된다. 이 명령어는 저장 장치(110)와 같은 기타 컴퓨터 판독가능 매체로부터 메모리(106)로 판독될 수 있다. 메모리(106)에 저장된 명령어의 시퀀스의 실행은 프로세서(104)로 하여금 본문에 기술된 프로세스를 수행하도록 한다. 대안으로, 고정 배선(hard-wired) 회로가 본 교시를 구현하기 위해 소프트웨어 명령어 대신에 또는 그와 함께 사용될 수 있다. 따라서, 본 교시의 구현은 임의의 특정한 하드웨어 회로 및 소프트웨어의 조합에 한정되지 않는다.

본문에 사용된 "컴퓨터 판독가능 매체"라는 용어는 실행을 위해 프로세서(104)에 명령어들을 제공하는 것에 참여하는 임의의 매체를 가리킨다. 이 매체는 비휘발성 매체, 휘발성 매체, 및 전송 매체를 포함하는(그러나 이에 한정되지 않음) 다수의 형태를 취할 수 있다. 비휘발성 매체는 예를 들면 저장 장치(110)와 같은 광학 또는 자기 디스크를 포함한다. 휘발성 매체는 메모리(106)와 같은 동적 메모리를 포함한다. 전송 매체는 버스(102)를 구비하는 배선을 포함하는 동축 케이블, 구리선, 및 광섬유를 포함한다.

일반적인 형태의 컴퓨터 판독가능 매체는 예를 들면 플로피 디스크, 플렉서블 디스크, 하드 디스크, 자기 테이프, 또는 임의의 기타 자기 매체, CD-ROM, 디지털 비디오 디스크(DVD), 블루 레이 디스크, 임의의 기타 광학 매체, USB 메모리(thumb drive), 메모리 카드, RAM, PROM, 및 EPROM, FLASH-EPROM, 임의의 기타 메모리 칩 또는 카트리지, 또는 컴퓨터가 판독할 수 있는 임의의 기타 유형인(tangible) 매체를 포함한다.

다양한 형태의 컴퓨터 판독가능 매체가 실행을 위해 프로세서(104)로 하나 이상의 명령어의 하나 이상의 시퀀스를 전달하는 데에 관련될 수 있다. 예를 들면, 명령어들은 최초에 원격 컴퓨터의 자기 디스크 상에서 실행될 수 있다. 원격 컴퓨터는 명령어들을 자신의 동적 메모리 상에 로딩하고, 명령어들을 모뎀을 이용하여 전화선을 통해 전송할 수 있다. 컴퓨터 시스템(100)에 대해 로컬인 모뎀은 전화선 상으로 데이터를 수신하고, 데이터를 적외선 신호로 변환하기 위해 적외선 송신기를 이용할 수 있다. 버스(102)에 결합된 적외선 검출기는 적외선 신호로 전달된 데이터를 수신하고 데이터를 버스(102) 상에 배치할 수 있다. 버스(102)는 데이터를 프로세서(104)가 명령어들을 검색하고 실행하는 메모리(106)로 가져온다. 메모리(106)에 의해 수신된 명령어들은 선택적으로 프로세서(104)에 의해 실행되기 전 또는 후에 저장 장치(110) 상에 저장될 수 있다.

다양한 실시예에 따라, 방법을 수행하기 위해 프로세서에 의해 실행되도록 설정된 명령어들이 컴퓨터 판독가능 매체 상에 저장된다. 컴퓨터 판독가능 매체는 디지털 정보를 저장하는 장치가 될 수 있다. 예를 들면, 컴퓨터 판독가능 매체는 소프트웨어를 저장하기 위해 당해 분야에서 공지된 컴팩트 디스크 판독 전용 메모리(CD-ROM)를 포함한다. 컴퓨터 판독가능 매체는 실행되도록 설정된 명령어들을 실행하기에 적합한 프로세서에 의해 액세스된다.

본 교시의 다양한 구현의 하기의 설명은 예시와 설명의 목적으로 제시되었다. 본 교시는 배타적이지 않고, 개시된 정확한 형태로 본 교시를 한정하지 않는다. 변형 및 변경이 상기 교시에 따라 가능하거나, 또는, 본 발명의 실시로부터 획득될 수 있다. 추가로, 기술된 구현은 소프트웨어를 포함하지만, 본 교시는 하드웨어와 소프트웨어의 조합 또는 하드웨어 단독으로 구현될 수 있다. 본 교시는 객체지향 프로그래밍 시스템 및 객체지향이 아닌 프로그래밍 시스템 모두를 가지고 구현될 수 있다.

자동 백그라운드 제거

상술한 바와 같이, 분리 시스템에 결합된 질량 분석계(mass spectrometer)는 시간에 따라 분리하고 관심 화합물들을 특징화시키기 위해 질량 분석을 수행할 때 관심 화합물들을 자동으로 식별하고 특징화시키는 데에 사용된다. 분리할 때 관심 화합물들을 식별하고 질량 분석법 분석(mass spectrometry analysis)을 이용하여 관심 화합물을 특징화시키기 위한 예시적인 자동 질량 분석 획득 시스템은 정보 종속적인 획득(IDA)가 된다. 질량 분석법 분석은 예를 들면 종속적인 스캔을 이용하여 수행된다.

그러나, 대개, 이러한 시스템은 종속적인 스캔에 포함되는 동시용출(co-eluting) 이온 또는 백그라운드 이온에 기인한 열화한 라이브러리 검색 결과를 산출한다. 종속적인 스캔은 질량 분석/질량 분석(MS/MS) 스캔, 토막 이온 스캔, 프로덕트 이온 스캔, 확장된 프로덕트 이온 스캔 또는 질량 분석/질량 분석/질량 분석(MS/MS/MS) 스캔을 포함할 수 있지만, 이에 한정되는 것은 아니다.

다양한 실시예에서, 자동 질량 분석 획득 시스템은 백그라운드 보정을 허용하기 위해 관심있는 화합물의 각각의 종속적인 스캔후에 백그라운드 신호의 종속적인 스캔을 자동으로 트리거한다. 백그라운드 신호의 종속적인 스캔은 관심있는 화합물의 종속적인 스캔 보다 나중의 시간에 수행된다. 백그라운드 신호의 종속적인 스캔은 그런다음 관심있는 화합물의 컴포넌트를 포함하기 때문에, 백그라운드 신호의 종속적인 스캔은 관심있는 화합물의 종속적인 스캔의 시간에 수행될 수 없다.

다양한 실시예에서, 백그라운드 신호의 종속적인 스캔은 크로마토그램 또는 질량 스펙트럼의 컬렉션에서 관심있는 각각의 화합물의 피크 이후의 시간에 수행된다. 이 시간은 예를 들면 피크가 검출된 후에 질량 스펙트럼의 컬렉션에서 관심있는 화합물의 질량 피크의 강도를 모니터링함으로써 발견될 수 있다. 대안으로, 시간은 또한 예를 들면 관심있는 공지된 화합물 또는 실험에 기초하여 미리정해지거나 또는 선택된 시간 지연 값 또는 델타를 포함할 수 있다.

백그라운드 신호의 종속적인 스캔으로부터 산출된 백그라운드 스펙트럼은 그런다음 관심있는 화합물의 종속적인 스캔으로부터 산출된 관심있는 스펙트럼의 화합물을 스펙트럼으로 보정하는 데에 이용된다. 관심있는 화합물의 스펙트럼은 예를 들면 관심있는 화합물의 스펙트럼으로부터 백그라운드 스펙트럼을 제거함으로써 보정된다.

도 2는 종래의 자동 질량 분석 획득 시스템에 의해 시간에서 종속적인 스캔이 트리거되는 것을 도시하는 관심있는 화합물에 대한 질량 스펙트럼 컬렉션으로부터의 피크(210)의 예시적인 플롯(200)이다. 플롯(200)에서, 종속적인 스캔이 시간(220)에서 트리거된다. 예를 들면, 종속적인 스캔은 피크(210)가 상승할 때 트리거된다. 종속적인 스캔은 스펙트럼(230)을 산출한다. 종속적인 스캔은 MS/MS 스캔이고 예를 들면 스펙트럼(230)은 프로덕트 이온 스펙트럼이다. 시간(220)에서 스펙트럼(230)을 보정하는 데에 사용하기에 가용한 백그라운드 스펙트럼은 없다.

도 3은 다양한 실시예에 따라 자동 질량 분석 획득 시스템에 의해 시간에서 종속적인 백그라운드의 스캔이 트리거되는 것을 도시하는 관심있는 화합물에 대한 질량 스펙트럼 컬렉션으로부터의 피크(210)의 예시적인 플롯(300)이다. 플롯(300)에서, 관심있는 화합물의 종속적인 스캔이 시간(220)에서 트리거된다. 이 종속적인 스캔은 관심있는 화합물의 스펙트럼(230)을 산출한다.

백그라운드의 종속적인 스캔은 시간(340)에서 트리거된다. 시간(340)은 시간(220) 이후의 시간이다. 시간(340)은 예를 들면, 피크(210)가 임계 레벨로 감소된 시간이다. 대안으로, 예를 들면 시간(340)은 시간(340)을 얻기 위해 시간(200)에 부가되는 미리정해지거나 또는 선택된 시간 지연으로부터 판정된다.

시간(340)에서 수행된 종속적인 스캔은 백그라운드 스펙트럼(350)을 산출한다. 시간(340)에서 수행된 종속적인 스캔은 시간(220)에서 수행된 질량 분석과 동일한 유형이다. 예를 들면, 시간(220)에서 수행된 종속적인 스캔이 MS/MS 스캔이라면, MS/MS 스캔은 또한 시간(340)에서도 수행된다.

스펙트럼(360)은 스펙트럼(230)과 스펙트럼(350)으로부터 연산된 스펙트럼이다. 스펙트럼(360)은 백그라운드가 제거된 관심있는 화합물의 스펙트럼이다. 스펙트럼(360)은 예를 들면 스펙트럼(230)으로부터 스펙트럼(350)을 제거함으로써 산출된다.

다양한 실시예에서, 질량 스펙트럼의 컬렉션에서 발견된 관심있는 각각의 피크에 대해, 백그라운드의 종속적인 스캔은 관심있는 피크에 대한 종속적인 스캔이 수행된 후의 시간에 트리거된다. 백그라운드의 종속적인 스캔의 결과인 스펙트럼은 그런다음 관심있는 피크에 대한 종속적인 스캔의 스펙트럼을 보정하기 위해 이용될 수 있다. 관심있는 피크에 대한 복수의 종속적인 스캔의 스펙트럼은 예를 들면 데이터 획득 후에 보정된다. 다양한 실시예에서, 그리고 대안으로, 관심있는 피크에 대한 복수의 종속적인 스캔의 스펙트럼은 데이터 획득 동안 실시간으로 보정될 수 있다. 예를 들면, 각각의 관심있는 피크의 각각의 스펙트럼은 백그라운드의 대응하는 스펙트럼의 획득 후에 즉시 보정될 수 있다. 관심있는 화합물의 스펙트럼의 보정은 추가적인 데이터 획득이 그 보정의 결과에 종속하는 경우 실시간으로 수행된다.

데이터 처리 시스템 및 방법

분리 결합 질량 분석 시스템

도 4는 다양한 실시예에 따라 데이터 획득 동안 백그라운드에 대한 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 시스템(400)의 개략도를 도시한다. 시스템(400)은 분리 장치(410), 질량 분석계(420) 및 프로세서(430)를 포함한다. 분리 장치(410)는 샘플 혼합물에서 하나 이상의 화합물을 분리한다. 분리 장치(410)는 전기 영동(electrophoretic) 장치, 크로마토그래픽 장치, 또는 이동 장치를 포함하지만 이에 한정되지 않는다.

질량 분석계(420)는 복수의 간격에서 분리 장치(410)로부터의 분리하는 샘플 혼합물에 대한 질량 분석 스캔 또는 서베이(survey) 스캔을 수행한다. 복수의 간격은 복수의 시간 간격 또는 복수의 이온 이동도(mobility)가 될 수 있지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 질량 분석계(420)는 예를 들어, 탠덤 질량 분석계(tandem mass spectrometer)이다. 탠덤 질량 분석계는 2개 이상의 질량 분석을 수행하는 하나 이상의 물리적 질량 분석기를 포함할 수 있다. 탠덤 질량 분석계의 질량 분석기는 비행시간형(TOF:time-of-flight), 사중극자(quadrupole), 이온트랩, 선형 이온트랩, 오비트랩(orbitrap), 자기 4섹터형 질량 분석기, 하이브리드 사중극자 비행시간형(Q-TOF) 질량 분석기, 또는 푸리에 변환 질량 분석기를 포함할 수 있지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 질량 분석계(420)는 각각 공간 또는 시간적으로 별개의 질량 분석 스테이지 또는 단계를 포함할 수 있다.

프로세서(430)는 탠덤 질량 분석기(420)와 통신한다. 프로세서(430)는 또한 분리 장치(410)와 통신할 수 있다. 프로세서(430)는 컴퓨터, 마이크로 프로세서 또는 탠덤 질량 분석기(420)와 제어 신호 및 데이터를 송수신하고 데이터를 처리할 수 있는 임의의 장치가 될 수 있지만 이에 한정되지 않는다.

프로세서(430)는 복수의 간격들 중 각각의 시간 간격에서 각각의 질량 분석 스캔을 탠덤 질량 분석계(420)로부터 수신한다. 그 결과로서, 질량 스펙트럼의 컬렉션이 샘플 혼합물이 분리할 때 실시간으로 불연속으로(piecewise) 생성될 수 있다. 질량 스펙트럼의 컬렉션은 크로마토그램, 질량 스펙트럼 사진(spectrogram), 또는 일련의 이온 이동도에 대한 질량 스펙트럼을 포함할 수 있지만, 이에 한정되지 않는다.

프로세서(430)는 복수의 간격들 중 제1 간격에서의 수신된 질량 분석 스캔과 하나 이상의 선행한 수신된 질량 분석 스캔이 공지된 화합물의 이온을 나타내는 변화하는 이온 신호를 포함하는지를 상기 제1 간격에서 판정한다. 즉, 변화하는 이온 신호는 각각의 간격에서 현재 스캔과 하나 이상의 선행한 스캔으로부터 판정된다. 변화하는 이온 신호는 예를 들면 시간 간격 또는 이온 이동도에 따라 변화할 수 있다. 예를 들면, 변화하는 이온 신호는 질량 스펙트럼의 컬렉션에서의 피크이다.

프로세서(430)는 질량 분석계(420)로 하여금 제1 간격에서 이온에 대한 분리 샘플 혼합물의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 공지된 화합물에 대한 스펙트럼을 산출하도록 지시한다. 프로세서(430)는 제1 간격 이후에 있는 복수의 간격들 중 제2 간격을 선택한다. 프로세서(430)는 또한 변화하는 이온 신호가 임계 레벨을 초과하지 않는 강도를 가지는 제2 간격을 선택한다. 따라서 기타 분리 분석물(analytes)에 대한 백그라운드 신호 또는 신호들만 존재하는 제2 간격이 선택된다.

프로세서(430)는 질량 분석계(420)로 하여금 제2 간격에서 이온에 대한 분리 샘플 혼합물의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 백그라운드에 대한 스펙트럼을 산출하도록 지시한다. 백그라운드는 백그라운드 신호, 노이즈 신호, 또는 기타 분리 분석물로부터의 신호를 포함할 수 있지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 백그라운드 신호는 예를 들면 동중핵(isobaric) 동시용출(co-eluting) 이온 또는 백그라운드 이온을 포함한다.

다양한 실시예에서, 프로세서(430)는 제1 간격 이후의 각각의 후속하는 간격에서 변화하는 이온 신호의 강도를 판정함으로써 제2 간격을 선택한다. 강도는 각각의 후속하는 간격에서 수신된 수신된 질량 분석 스캔으로부터 판정된다. 후속하는 간격은, 후속하는 간격에서의 강도가 임계 레벨을 초과하지 않는 경우 제2 간격으로서 선택된다. 즉, 후속하는 간격은 후속하는 간격에서 질량 스펙트럼의 컬렉션에서 검출가능한 피크가 없는 경우 제2 간격으로서 선택된다.

다양한 실시예에서, 프로세서(430)는 제1 간격에 크기를 추가함으로써 제2 간격을 선택한다. 미리정해진 크기는 시간 차이이거나 또는 이온 이동도에서의 차이가 될 수 있지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 즉, 프로세서(430)는 입력 파라미터로서 수신되거나 또는 특정한 실험에 기초한 크기에 기초하여 제2 간격을 선택한다.

다양한 실시예에서, 프로세서(430)는 공지된 화합물에 대한 스펙트럼과 백그라운드에 대한 스펙트럼으로부터 공지된 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 더 연산한다. 프로세서(430)는 예를 들면 백그라운드에 대한 스펙트럼을 공지된 화합물에 대한 스펙트럼으로부터 제거함으로써 공지된 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 더 연산한다.

프로세서(430)는 예를 들면 데이터 획득후에 공지된 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 연산한다. 즉, 공지된 화합물 및 대응하는 백그라운드에 대한 스펙트럼은 공지된 화합물에 대한 스펙트럼이 획득되는 각각의 간격에 대해 저장된다. 획득후에, 각각의 간격에 대한 각각의 스펙트럼이 보정된다.

대안으로, 프로세서(430)는 데이터 획득동안 공지된 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 연산한다. 샘플 혼합물이 분리될 때, 공지된 화합물에 대한 각각의 획득된 스펙트럼은 대응하는 백그라운드 스펙트럼을 이용하여 고쳐진다. 공지된 화합물에 대한 스펙트럼은 예를 들면 후속하는 종속적인 스캔이 보정된 정보에 종속하는 경우 데이터 획득동안 보정된다.

질량 분석법

도 5는 다양한 실시예에 따른 데이터 획득동안 백그라운드 신호에 대한 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 방법(500)을 도시하는 예시적인 플로우차트이다.

방법(500)의 단계(510)에서, 복수의 간격에서 분리 샘플 혼합물에 대한 스캔을 수행하도록 질량 분석계가 지시받는다. 분리 장치는 샘플 혼합물로부터 하나 이상의 화합물을 분리하여 분리 샘플 혼합물을 산출한다.

단계(520)에서, 복수의 간격들 중 제1 간격에서의 질량 분석 스캔과 하나 이상의 선행한 질량 분석 스캔이 공지된 화합물의 이온을 나타내고 임계 레벨을 초과하는 강도를 가지는 변화하는 이온 신호를 포함하는 지가 상기 제1 간격에서 판정된다.

단계(530)에서, 제1 간격에서 이온에 대한 분리 샘플 혼합물의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 공지된 화합물에 대한 스펙트럼을 산출하도록 질량 분석계가 지시받는다.

단계(540)에서, 제1 간격 후에 그리고 변화하는 이온 신호가 임계 레벨을 초과하지 않는 강도를 가지는 복수의 간격들 중 제2 간격이 선택된다.

단계(550)에서, 제2 간격에서 이온에 대한 분리 샘플 혼합물의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 백그라운드에 대한 스펙트럼을 산출하도록 질량 분석계가 지시받는다.

질량 분석 컴퓨터 프로그램 제품

다양한 실시예에서, 컴퓨터 프로그램 제품은 그 콘텐츠가 데이터 획득동안 백그라운드 신호에 대한 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하기 위한 방법을 수행하도록 프로세서 상에서 실행되는 명령어를 가진 프로그램을 포함하는 비 일시적이고 유형인(tangible) 컴퓨터 판독가능 저장 매체를 포함한다. 이 방법은 하나 이상의 개별 소프트웨어 모듈을 포함하는 시스템에 의해 수행된다.

도 6은 다양한 실시예에 따라 데이터 획득동안 백그라운드 신호에 대한 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하기 위한 방법을 수행하는 하나 이상의 개별 소프트웨어 모듈을 포함하는 시스템(600)의 개략도이다. 시스템(600)은 측정 모듈(610), 분석 모듈(620), 및 종속적인 스캔 제어 모듈(630)을 포함한다.

측정 모듈(610)은 질량 분석계로 하여금 복수의 간격에서 분리 샘플 혼합물에 대한 스캔을 수행하도록 지시한다. 분리 장치는 샘플 혼합물로부터 하나 이상의 화합물을 분리하여 분리 샘플 혼합물을 산출한다.

분석 모듈(620)은 복수의 간격들 중에서 제1 간격에서의 질량 분석 스캔과 하나 이상의 선행한 질량 분석 스캔이 공지된 화합물의 이온을 나타내고 임계 레벨을 초과하는 강도를 가진 변화하는 이온 신호를 포함하는지를 상기 제1 간격에서 판정한다.

종속적인 스캔 제어 모듈(630)은 질량 분석계로 하여금 제1 간격에서 이온에 대한 분리 샘플 혼합물의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 공지된 화합물에 대한 스펙트럼을 산출하도록 지시한다.

분석 모듈(620)은 제1 간격 이후에 있고 변화하는 이온 신호가 임계 레벨을 초과하지 않는 강도를 가지는 복수의 간격들 중 제2 간격을 선택한다. 마지막으로, 종속적인 스캔 제어 모듈(630)은 질량 분석계로 하여금 제2 간격에서 이온에 대한 분리 샘플 혼합물의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 백그라운드에 대한 스펙트럼을 산출하도록 지시한다.

본 교시는 다양한 실시예와 함께 기술되었지만, 본 교시가 이러한 실시예에 한정되는 것을 의도하지 않는다. 반대로, 본 교시는 당업자에 의해 이해되는 바와 같이, 다양한 대안, 변형 및 등가물을 포함한다.

추가로, 다양한 실시예를 설명할 때, 명세서는 특정한 순서의 단계로서 방법 및/또는 프로세스를 제시했을 수 있다. 그러나, 방법 또는 프로세스가 본 명세서에 기재된 단계의 특정 순서에 의존하지 않는 정도로, 방법 또는 프로세스는 기술된 특정한 순서의 단계들에 한정되지 않아야한다. 당업자는 다른 순서의 단계들이 가능할 수 있다는 것을 이해할 것이다. 따라서, 본 명세서에 기재된 단계의 특정 순서는 특허 청구 범위를 한정하는 것으로 해석되어서는 않된다. 추가로, 본 방법 및/또는 프로세스를 지시하는 청구범위들은 기록된 순서로 단계들을 수행하는 것에 한정되지 말아야하고, 당업자들은 상기 순서들이 변경될 수 있고, 다양한 실시예들의 취지 및 범위내에서 유지된다는 것을 용이하게 이해할 수 있다.

Claims

정보 종속 획득(IDA) 동안 백그라운드 신호에 대한 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 시스템으로서,
샘플 혼합물로부터 하나 이상의 화합물을 분리하는 분리 장치;
복수의 간격에서 분리 샘플 혼합물에 대한 질량 분석 스캔을 수행하는 질량 분석계; 및
프로세서;를 포함하고,
상기 프로세서는,
상기 질량 분석계로부터 상기 복수의 간격들 중 각각의 간격에서의 각각의 질량 분석 스캔을 수신하고,
상기 복수의 간격들 중 제1 간격에서 수신된 질량 분석 스캔과 하나 이상의 선행한 수신된 질량 분석 스캔이, 관심의 화합물의 이온을 나타내고 임계 레벨을 초과하는 강도를 가진 변화하는 이온 신호를 포함하는 지를, 상기 제1 간격에서 판정하고,
상기 질량 분석계로 하여금 상기 제1 간격에서의 상기 관심의 화합물의 이온의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 상기 관심의 화합물에 대한 스펙트럼을 산출하도록 지시하고,
상기 제1 간격 후에 있고 상기 변화하는 이온 신호가 상기 임계 레벨 이하로 감소하는 강도를 가지는, 상기 복수의 간격들 중 제2 간격을 선택하고,
상기 질량 분석계로 하여금 상기 제2 간격에서 백그라운드 신호를 위해 상기 분리 샘플 혼합물의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 백그라운드에 대한 스펙트럼을 산출하도록 지시하고,
상기 백그라운드 신호를 위한 상기 종속적인 질량 분석 스캔은 상기 관심의 화합물의 이온의 종속적인 질량 분석 스캔할 때가 아니라, 상기 변화하는 이온 신호가 상기 임계 레벨 이하인 강도를 가진 때에만 트리거되는 것을 특징으로 하는 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 시스템.
제1 항에 있어서, 상기 프로세서는 상기 제1 간격 이후의 상기 복수의 간격들 중 각각의 간격에서 수신된 질량 분석 스캔으로부터의 상기 변화하는 이온 신호의 강도를 상기 각각의 간격에서 판정하고, 상기 강도가 상기 임계 레벨을 초과하지 않는 경우 상기 제2 간격으로서 상기 각각의 간격을 선택함으로써 상기 제2 간격을 선택하는 것을 특징으로 하는 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 시스템.
제1 항에 있어서, 상기 프로세서는 상기 제1 간격에 크기를 부가함으로써 상기 제2 간격을 선택하는 것을 특징으로 하는 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 시스템.
제1 항에 있어서, 상기 프로세서는 상기 관심의 화합물에 대한 상기 스펙트럼과 상기 백그라운드에 대한 상기 스펙트럼으로부터 상기 관심의 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 더 연산하는 것을 특징으로 하는 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 시스템.
제4 항에 있어서, 상기 프로세서는 상기 백그라운드에 대한 상기 스펙트럼을 상기 관심의 화합물에 대한 상기 스펙트럼으로부터 제거함으로써(subtracting) 상기 관심의 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 더 연산하는 것을 특징으로 하는 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 시스템.
제4 항에 있어서, 상기 프로세서는 데이터 획득동안 상기 관심의 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 더 연산하는 것을 특징으로 하는 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 시스템.
제4 항에 있어서, 상기 프로세서는 데이터 획득후 상기 관심의 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 더 연산하는 것을 특징으로 하는 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 시스템.
정보 종속 획득(IDA) 동안 백그라운드 신호에 대한 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 방법으로서,
질량 분석계로 하여금 복수의 간격에서 분리 샘플 혼합물에 대한 스캔을 수행하도록 지시하는 단계로서, 분리 장치가 샘플 혼합물로부터 하나 이상의 화합물을 분리하여 상기 분리 샘플 혼합물을 산출하는, 상기 스캔을 수행하도록 지시하는 단계;
상기 복수의 간격들 중 제1 간격에서의 질량 분석 스캔과 하나 이상의 선행한 질량 분석 스캔이, 관심의 화합물의 이온을 나타내고 임계 레벨을 초과하는 강도를 가지는 변화하는 이온 신호를 포함하는 지를, 상기 제1 간격에서 판정하는 단계;
상기 질량 분석계로 하여금 상기 제1 간격에서의 상기 관심의 화합물의 이온의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 상기 관심의 화합물에 대한 스펙트럼을 산출하도록 지시하는 단계;
상기 제1 간격 후에 있고 상기 변화하는 이온 신호가 상기 임계 레벨 이하로 감소하는 강도를 가지는, 상기 복수의 간격들 중 제2 간격을 선택하는 단계; 및
상기 질량 분석계로 하여금 상기 제2 간격에서 백그라운드 신호를 위해 상기 분리 샘플 혼합물의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 백그라운드에 대한 스펙트럼을 산출하도록 지시하는 단계를 포함하고,
상기 백그라운드 신호를 위한 상기 종속적인 질량 분석 스캔은 상기 관심의 화합물의 이온의 종속적인 질량 분석 스캔할 때가 아니라, 상기 변화하는 이온 신호가 상기 임계 레벨 이하인 강도를 가진 때에만 트리거되는 것을 특징으로 하는 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 방법.
제8 항에 있어서, 상기 복수의 간격들 중 제2 간격을 선택하는 단계는 상기 제1 간격 이후의 상기 복수의 간격들 중 각각의 간격에서 수신된 질량 분석 스캔으로부터의 상기 변화하는 이온 신호의 강도를 상기 각각의 간격에서 판정하고, 상기 강도가 상기 임계 레벨을 초과하지 않는 경우 상기 제2 간격으로서 상기 각각의 간격을 선택하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 방법.
제8 항에 있어서, 상기 복수의 간격들 중 제2 간격을 선택하는 단계는 상기 제1 간격에 크기를 부가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 방법.
제8 항에 있어서, 상기 관심의 화합물에 대한 상기 스펙트럼과 상기 백그라운드에 대한 상기 스펙트럼으로부터 상기 관심의 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 연산하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 방법.
제11 항에 있어서, 상기 관심의 화합물에 대한 상기 스펙트럼과 상기 백그라운드에 대한 상기 스펙트럼으로부터 상기 관심의 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 연산하는 단계는 상기 백그라운드에 대한 상기 스펙트럼을 상기 관심의 화합물에 대한 상기 스펙트럼으로부터 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 방법.
제11 항에 있어서, 상기 관심의 화합물에 대한 상기 스펙트럼과 상기 백그라운드에 대한 상기 스펙트럼으로부터 상기 관심의 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 연산하는 단계는 데이터 획득동안 발생하는 것을 특징으로 하는 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 방법.
제11 항에 있어서, 상기 관심의 화합물에 대한 상기 스펙트럼과 상기 백그라운드에 대한 상기 스펙트럼으로부터 상기 관심의 화합물에 대한 보정된 스펙트럼을 연산하는 단계는 데이터 획득후 발생하는 것을 특징으로 하는 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 방법.
정보 종속 획득(IDA) 동안 백그라운드 신호에 대한 종속적인 질량 분석 스캔을 자동으로 트리거하는 방법을 수행하기 위해 프로세서 상에서 실행되는 명령어를 가진 프로그램을 내부의 콘텐츠가 포함하는 비일시적이고 유형인(tangible) 컴퓨터 판독가능 저장 매체를 구비하는 컴퓨터 제품으로서, 상기 방법은:
시스템을 제공하는 단계로서, 상기 시스템은 하나 이상의 개별 소프트웨어 모듈을 포함하고 상기 개별 소프트웨어 모듈은 측정 모듈, 분석 모듈 및 종속적인 스캔 제어 모듈을 포함하는 상기 시스템을 제공하는 단계;
질량 분석계로 하여금 상기 측정 모듈을 이용하여 복수의 간격에서 분리 샘플 혼합물에 대한 스캔을 수행하도록 지시하는 단계로서, 분리 장치가 샘플 혼합물로부터 하나 이상의 화합물을 분리하여 상기 분리 샘플 혼합물을 산출하는, 상기 스캔을 수행하도록 지시하는 단계;
상기 분석 모듈을 이용하여 상기 복수의 간격들 중 제1 간격에서의 질량 분석 스캔과 하나 이상의 선행한 질량 분석 스캔이, 관심의 화합물의 이온을 나타내고 임계 레벨을 초과하는 강도를 가지는 변화하는 이온 신호를 포함하는 지를, 상기 제1 간격에서 판정하는 단계;
상기 종속적인 스캔 제어 모듈을 이용하여 상기 질량 분석계로 하여금 상기 제1 간격에서의 상기 관심의 화합물의 이온의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 상기 관심의 화합물에 대한 스펙트럼을 산출하도록 지시하는 단계;
상기 분석 모듈을 이용하여, 상기 제1 간격 후에 있고 상기 변화하는 이온 신호가 상기 임계 레벨 이하로 감소하는 강도를 가지는, 상기 복수의 간격들 중 제2 간격을 선택하는 단계; 및
상기 종속적인 스캔 제어 모듈을 이용하여 상기 질량 분석계로 하여금 상기 제2 간격에서 백그라운드 신호를 위해 상기 분리 샘플 혼합물의 종속적인 질량 분석 스캔을 수행하여 백그라운드에 대한 스펙트럼을 산출하도록 지시하는 단계;를 포함하고,
상기 백그라운드 신호를 위한 상기 종속적인 질량 분석 스캔은 상기 관심의 화합물의 이온의 종속적인 질량 분석 스캔할 때가 아니라, 상기 변화하는 이온 신호가 상기 임계 레벨 이하인 강도를 가진 때에만 트리거되는 것을 특징으로 하는 비일시적이고 유형인 컴퓨터 판독가능 저장 매체를 구비하는 컴퓨터 제품.