JP6158965B2 - Srmアッセイにおけるバックグラウンド干渉の決定のためのtof−msmsデータの可変xic幅の使用 - Google Patents
Srmアッセイにおけるバックグラウンド干渉の決定のためのtof−msmsデータの可変xic幅の使用 Download PDFInfo
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Description
本願は、米国仮特許出願第61/493,352号(2011年6月3日出願)の利益を主張する。該仮出願は、参照によりその全体が本明細書に引用される。
例えば、本願発明は以下の項目を提供する。
(項目1)
干渉を含まない生成イオンを識別するためのシステムであって、
1つ以上の前駆体スキャンを使用して第1の試料を分析するタンデム質量分析計と、
前記タンデム質量分析計と通信するプロセッサと
を備え、前記プロセッサは、
前記タンデム質量分析計から、前記第1の試料中の検体のある質量範囲に対する第1のフル生成イオンスペクトルを受信することと、
第1の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用して、前記第1のフル生成イオンスペクトル内の生成イオンに対する第1の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
第2の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用して、前記第1のフル生成イオンスペクトル内の生成イオンに対する第2の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
前記第1の組の1つ以上のピークパラメータと前記第2の組の1つ以上のピークパラメータとが、実質的に同一である場合、干渉を含まないとして、前記生成イオンを識別することと
を行う、システム。
(項目2)
前記第1の試料は、前記検体に加え、第1のマトリクスを含み、前記プロセッサは、
前記生成イオンを前記第1の試料中の前記検体の前駆体イオンに関係づけ、
前記第1の組の1つ以上のピークパラメータと前記第2の組の1つ以上のピークパラメータとが、実質的に同一であり、かつ、前記生成イオンが、前記第1のマトリクスではなく前記検体に由来する場合、前記第1のマトリクスから独特であるとして、前記前駆体イオンおよび前記生成イオンを識別する、
項目1に記載のシステム。
(項目3)
前記タンデム質量分析計は、前記質量範囲にわたり2つ以上の単離窓幅を使用し、1つ以上の前駆体イオンの単一の質量分析スキャンおよび前記生成イオンの2つ以上の質量分析スキャンを使用して、前記第1の試料を分析する、項目1または項目2に記載のシステム。
(項目4)
前記2つ以上の単離窓幅は、均一である、項目1〜3のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目5)
前記2つ以上の単離窓幅は、可変である、項目1〜4のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目6)
前記タンデム質量分析計は、1つ以上の前駆体イオンの2つ以上の質量分析スキャンを使用して、前記第1の試料を分析する、項目1〜5のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目7)
前記第1の抽出イオンクロマトグラム窓幅は、前記第2の抽出イオンクロマトグラム窓幅より狭い、項目1〜6のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目8)
前記生成イオンは、前記検体の既知の生成イオンであり、前記第1のマトリクスが、前記生成イオンに干渉していないかどうかを決定するために、前記第1の組の1つ以上のピークパラメータおよび前記第2の組の1つ以上のピークパラメータが計算され、前記生成イオンが、前記検体の前駆体イオンと関係づけられ、前記生成イオンが、前記第1のマトリクスではなく前記検体に由来することを確認する、項目1〜7のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目9)
前記生成イオンは、未知の生成イオンであり、前記生成イオンは、前記検体の前駆体イオンと関係づけられ、前記生成イオンが、前記第1のマトリクスではなく前記検体に由来することを決定し、前記第1のマトリクスが、前記生成イオンに干渉していないかどうかを決定するために、前記第1の組の1つ以上のピークパラメータおよび前記第2の組の1つ以上のピークパラメータが計算される、項目1〜8のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目10)
前記プロセッサは、前記生成イオンおよび前記前駆体イオンを含む選択的反応モニタリングアッセイを生成する、項目1〜9のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目11)
前記タンデム質量分析計は、1つ以上の前駆体スキャンを使用して、前記検体および第2のマトリクスを含む第2の試料を分析し、前記プロセッサは、
前記タンデム質量分析計から、前記第2の試料中の前記検体の前記質量範囲に対する第2のフル生成イオンスペクトルを受信することと、
前記第1の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用して、前記第2のフル生成イオンスペクトル内の前記生成イオンに対する第3の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
前記第2の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用して、前記第2のフル生成イオンスペクトル内の前記生成イオンに対する第4の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
前記生成イオンを前記第2の試料中の前記検体の前駆体イオンに関係づけることと、
前記第3の組の1つ以上のピークパラメータと前記第4の組の1つ以上のピークパラメータとが、実質的に同一であり、かつ、前記生成イオンが、前記第2のマトリクスではなく前記検体に由来する場合、前記第1のマトリクスおよび前記第2のマトリクスから独特であるとして、前記前駆体イオンおよび前記生成イオンを識別することと
を行う、項目1〜10のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目12)
干渉を含まない生成イオンを識別する方法であって、
第1の試料を分析するタンデム質量分析計から、第1の試料中の検体のある質量範囲に対する第1のフル生成イオンスペクトルを受信することと、
第1の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用して、前記第1のフル生成イオンスペクトル内の生成イオンに対する第1の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
第2の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用して、前記第1のフル生成イオンスペクトル内の生成イオンに対する第2の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
前記第1の組の1つ以上のピークパラメータと前記第2の組の1つ以上のピークパラメータとが、実質的に同一である場合、干渉を含まないとして、前記生成イオンを識別することと
を含む、方法。
(項目13)
前記第1の試料は、前記検体に加え、第1のマトリクスを含み、前記方法は、
前記生成イオンを前記第1の試料中の前記検体の前駆体イオンに関係づけることと、
前記第1の組の1つ以上のピークパラメータと前記第2の組の1つ以上のピークパラメータとが、実質的に同一であり、かつ、前記生成イオンが、前記第1のマトリクスではなく前記検体に由来する場合、前記第1のマトリクスから独特であるとして、前記前駆体イオンおよび前記生成イオンを識別することと
をさらに含む、項目12に記載の方法。
(項目14)
前記第1の抽出イオンクロマトグラム窓幅は、前記第2の抽出イオンクロマトグラム窓幅より狭い、項目12または項目13に記載の方法。
(項目15)
有形のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体を備えているコンピュータプログラム製品であって、前記有形のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体のコンテンツは、プロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含み、前記命令は、干渉を含まない生成イオンを識別する方法を実行し、前記方法は、
システムを提供することであって、前記システムは、1つ以上の個別のソフトウェアモジュールを備え、前記個別のソフトウェアモジュールは、測定モジュールと、干渉および相関モジュールと、識別モジュールとを備えている、ことと、
前記測定モジュールを使用して、前記第1の試料を分析するタンデム質量分析計から、第1の試料中の検体のある質量範囲に対する第1のフル生成イオンスペクトルを受信することと、
前記干渉および相関モジュールを使用して、第1の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用し、前記第1のフル生成イオンスペクトル内の生成イオンに対する第1の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
前記干渉および相関モジュールを使用して、第2の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用し、前記第1のフル生成イオンスペクトル内の生成イオンに対する第2の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
前記識別モジュールを使用して、前記第1の組の1つ以上のピークパラメータと前記第2の組の1つ以上のピークパラメータとが、実質的に同一である場合、干渉を含まないとして、前記生成イオンを識別することと
を含む、コンピュータプログラム製品。
図1は、本教示の実施形態が実装され得る、コンピュータシステム100を図示するブロック図である。コンピュータシステム100は、情報を通信するためのバス102または他の通信機構と、情報を処理するためにバス102と結合されたプロセッサ104とを含む。コンピュータシステム100は、プロセッサ104によって実行される命令を記憶するために、バス102に結合されるランダムアクセスメモリ(RAM)または他の動的記憶デバイスであり得るメモリ106も含む。メモリ106は、プロセッサ104によって実行される命令の実行の間、一時的変数または他の中間情報を記憶するためにも使用され得る。コンピュータシステム100は、プロセッサ104のための静的情報および命令を記憶するために、バス102に結合された読取専用メモリ(ROM)108または他の静的記憶デバイスをさらに含む。磁気ディスクまたは光ディスク等の記憶デバイス110は、情報および命令を記憶するために提供され、バス102に結合される。
単一または選択的反応モニタリング(SRM)は、これの既知の実施例であって、前駆体イオンが、選択され、断片化され、第2の分析器に移され、第2の分析器は、単一イオンを伝送するように設定される。選択された質量の前駆体が断片化し、選択された断片質量のイオンをもたらすと、応答が生じ、この出力信号は、定量化のために使用することができる。装置は、確認目的のために、いくつかの断片イオンを測定するように、または異なる化合物を定量化するためのいくつかの前駆体−断片の組み合わせを測定するように設定され得る。多重反応モニタリング(MRM)では、前駆体イオンが、選択され、断片化され、第2の分析器に移され、第2の分析器は、2つ以上のイオンを伝送するように設定される。
図2は、種々の実施形態による、干渉を含まない生成イオンを識別するためのシステム200を示す、概略図である。システム200は、タンデム質量分析計210およびプロセッサ220を含む。プロセッサ220は、コンピュータ、マイクロプロセッサ、または制御信号およびデータを質量分析計210から送受信し、データを処理可能な任意のデバイスであることができるが、それらに限定されない。
図3は、種々の実施形態による、干渉を含まない生成イオンを識別する方法300を示す、例示的流れ図である。
種々の実施形態では、コンピュータプログラム製品は、有形のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体を含み、そのコンテンツは、干渉を含まない生成イオンを識別する方法を行うように、プロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含む。この方法は、1つ以上の個別のソフトウェアモジュールを含むシステムによって行われる。
Claims (14)
- 干渉を含まない生成イオンを識別するためのシステムであって、
経時的に検体を含む第1の試料を分離する分離デバイスと、
タンデム質量分析計と、
前記タンデム質量分析計と通信するプロセッサと
を備え、
前記タンデム質量分析計は、前記第1の試料が分離されるたびに、可変幅を有する2つ以上の前駆体イオン単離窓を使用して前記第1の試料の質量範囲の単一の前駆体イオンスキャンを実行し、可変幅を有する前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の断片化スキャンを実行して、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の各々のフル生成イオンスペクトルを生成し、前記タンデム質量分析計は、可変幅を有する前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の選択を可能にする四重極質量フィルタを含み、前記四重極質量フィルタは、可変幅を有する前記2つ以上の前駆体イオン単離窓を選択することにより、適切な時間フレーム内において、前記第1の試料のマトリクスの影響を調査し、定量化に適切なイオンの選択を可能にし、
前記プロセッサは、
前記四重極質量フィルタに印加される無線周波数(RF)および直流(DC)電圧の両方を独立して制御することにより、前記第1の試料が分離されるたびに可変幅を有する前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の前記選択を可能にすることと、
前記タンデム質量分析計から、前記第1の試料が分離されるたびに前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の各々に対するフル生成イオンスペクトルを受信することと、
第1の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用して、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの1つの前駆体イオン単離窓の前記フル生成イオンスペクトル内の生成イオンに対する第1の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
第2の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用して、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの前記1つの前駆体イオン単離窓の前記フル生成イオンスペクトル内の前記生成イオンに対する第2の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
前記第1の組の1つ以上のピークパラメータと前記第2の組の1つ以上のピークパラメータとが実質的に同一である場合、干渉を含まないとして、前記生成イオンを識別することと
を行う、システム。 - 前記第1の試料は、前記検体に加え、第1のマトリクスを含み、前記プロセッサは、
前記生成イオンを前記第1の試料中の前記検体の前駆体イオンに関係づけることと、
前記第1の組の1つ以上のピークパラメータと前記第2の組の1つ以上のピークパラメータとが実質的に同一であり、かつ、前記生成イオンが前記第1のマトリクスに由来せず前記検体に由来する場合、前記第1のマトリクスから独特であるとして、前記前駆体イオンおよび前記生成イオンを識別することと
を行う、請求項1に記載のシステム。 - 前記第1の抽出イオンクロマトグラム窓幅は、前記第2の抽出イオンクロマトグラム窓幅より狭い、請求項1に記載のシステム。
- 前記生成イオンは、前記検体の既知の生成イオンであり、前記第1のマトリクスが前記生成イオンに干渉しているかどうかを決定するために、前記第1の組の1つ以上のピークパラメータおよび前記第2の組の1つ以上のピークパラメータが、計算され、前記生成イオンが、前記検体の前記前駆体イオンと関係づけられて、前記生成イオンが前記第1のマトリクスに由来せず前記検体に由来することを確認する、請求項2に記載のシステム。
- 前記生成イオンは、未知の生成イオンであり、前記生成イオンが、前記検体の前記前駆体イオンと関係づけられて、前記生成イオンが前記第1のマトリクスに由来せず前記検体に由来することを決定し、前記第1のマトリクスが前記生成イオンに干渉しているかどうかを決定するために、前記第1の組の1つ以上のピークパラメータおよび前記第2の組の1つ以上のピークパラメータが、計算される、請求項2に記載のシステム。
- 前記プロセッサは、前記生成イオンおよび前記前駆体イオンを含む選択的反応モニタリングアッセイを生成する、請求項1に記載のシステム。
- 前記分離デバイスは、経時的に第2のマトリクスおよび前記検体を含む第2の試料を分離し、
前記タンデム質量分析計は、前記第2の試料が分離されるたびに、可変幅を有する2つ以上の前駆体イオン単離窓を使用して前記第2の試料の質量範囲の単一の前駆体スキャンを実行し、可変幅を有する前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の断片化スキャンを実行して、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の各々のフル生成イオンスペクトルを生成し、
前記プロセッサは、
前記四重極質量フィルタに印加される無線周波数(RF)および直流(DC)電圧の両方を独立して制御することにより、前記第2の試料が分離されるたびに可変幅を有する前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の前記選択を可能にすることと、
前記タンデム質量分析計から、前記第2の試料が分離されるたびに前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の各々に対するフル生成イオンスペクトルを受信することと、
前記第1の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用して、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの1つの前駆体イオン単離窓の前記フル生成イオンスペクトル内の前記生成イオンに対する第3の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
前記第2の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用して、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの前記1つの前駆体イオン単離窓の前記フル生成イオンスペクトル内の前記生成イオンに対する第4の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
前記生成イオンを前記第2の試料中の前記検体の前駆体イオンに関係づけることと、
前記第3の組の1つ以上のピークパラメータと前記第4の組の1つ以上のピークパラメータとが実質的に同一であり、かつ、前記生成イオンが前記第2のマトリクスに由来せず前記検体に由来する場合、前記第1のマトリクスおよび前記第2のマトリクスから独特であるとして、前記前駆体イオンおよび前記生成イオンを識別することと
を行う、請求項2に記載のシステム。 - 干渉を含まない生成イオンを識別するための方法であって、
分離デバイスを使用して、経時的に検体を含む第1の試料を分離することと、
タンデム質量分析計を使用して、前記第1の試料が分離されるたびに、可変幅を有する2つ以上の前駆体イオン単離窓を使用して前記第1の試料の質量範囲の単一の前駆体イオンスキャンを実行し、可変幅を有する前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の断片化スキャンを実行して、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の各々のフル生成イオンスペクトルを生成することであって、前記タンデム質量分析計は、可変幅を有する前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の選択を可能にする四重極質量フィルタを含み、前記四重極質量フィルタは、可変幅を有する前記2つ以上の前駆体イオン単離窓を選択することにより、適切な時間フレーム内において、前記第1の試料のマトリクスの影響を調査し、定量化に適切なイオンの選択を可能にする、ことと、
プロセッサを使用して、前記四重極質量フィルタに印加される無線周波数(RF)および直流(DC)電圧の両方を独立して制御することにより、前記第1の試料が分離されるたびに可変幅を有する前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の前記選択を可能にすることと、
前記プロセッサを使用して、タンデム質量分析計から、前記第1の試料が分離されるたびに前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の各々に対するフル生成イオンスペクトルを受信することと、
前記プロセッサを使用して、第1の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用して、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの1つの前駆体イオン単離窓の前記フル生成イオンスペクトル内の生成イオンに対する第1の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
前記プロセッサを使用して、第2の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用して、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの前記1つの前駆体イオン単離窓の前記フル生成イオンスペクトル内の前記生成イオンに対する第2の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
前記プロセッサを使用して、前記第1の組の1つ以上のピークパラメータと前記第2の組の1つ以上のピークパラメータとが実質的に同一である場合、干渉を含まないとして、前記生成イオンを識別することと
を含む、方法。 - 前記第1の試料は、前記検体に加え、第1のマトリクスを含み、
前記生成イオンを前記第1の試料中の前記検体の前駆体イオンに関係づけることと、
前記第1の組の1つ以上のピークパラメータと前記第2の組の1つ以上のピークパラメータとが実質的に同一であり、かつ、前記生成イオンが前記第1のマトリクスに由来せず前記検体に由来する場合、前記第1のマトリクスから独特であるとして、前記前駆体イオンおよび前記生成イオンを識別することと
をさらに含む、請求項8に記載の方法。 - 前記第1の抽出イオンクロマトグラム窓幅は、前記第2の抽出イオンクロマトグラム窓幅より狭い、請求項8に記載の方法。
- 前記生成イオンは、前記検体の既知の生成イオンであり、前記第1のマトリクスが前記生成イオンに干渉しているかどうかを決定するために、前記第1の組の1つ以上のピークパラメータおよび前記第2の組の1つ以上のピークパラメータが、計算され、前記生成イオンが、前記検体の前記前駆体イオンと関係づけられて、前記生成イオンが前記第1のマトリクスに由来せず前記検体に由来することを確認する、請求項9に記載の方法。
- 前記生成イオンは、未知の生成イオンであり、前記生成イオンが、前記検体の前記前駆体イオンと関係づけられて、前記生成イオンが前記第1のマトリクスに由来せず前記検体に由来することを決定し、前記第1のマトリクスが前記生成イオンに干渉しているかどうかを決定するために、前記第1の組の1つ以上のピークパラメータおよび前記第2の組の1つ以上のピークパラメータが、計算される、請求項9に記載の方法。
- 前記プロセッサは、前記生成イオンおよび前記前駆体イオンを含む選択的反応モニタリングアッセイを生成する、請求項8に記載の方法。
- 非一時的な有形のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体を備えているコンピュータプログラム製品であって、前記非一時的な有形のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体のコンテンツは、干渉を含まない生成イオンを識別するための方法を実行するようにプロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含み、前記方法は、
システムを提供することであって、前記システムは、1つ以上の個別のソフトウェアモジュールを備え、前記個別のソフトウェアモジュールは、測定モジュールと、干渉および相関モジュールと、識別モジュールとを備えている、ことと、
前記測定モジュールを使用して、経時的に検体を含む第1の試料を分離するように分離デバイスに命令することと、
前記測定モジュールを使用して、前記第1の試料が分離されるたびに、可変幅を有する2つ以上の前駆体イオン単離窓を使用して前記第1の試料の質量範囲の単一の前駆体イオンスキャンを実行し、可変幅を有する前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の断片化スキャンを実行して、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の各々のフル生成イオンスペクトルを生成するようにタンデム質量分析計に命令することであって、前記タンデム質量分析計は、可変幅を有する前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の選択を可能にする四重極質量フィルタを含み、前記四重極質量フィルタは、可変幅を有する前記2つ以上の前駆体イオン単離窓を選択することにより、適切な時間フレーム内において、前記第1の試料のマトリクスの影響を調査し、定量化に適切なイオンの選択を可能にする、ことと、
前記測定モジュールを使用して、前記四重極質量フィルタに印加される無線周波数(RF)および直流(DC)電圧の両方を独立して制御することにより、前記第1の試料が分離されるたびに可変幅を有する前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の前記選択を可能にすることと、
前記測定モジュールを使用して、タンデム質量分析計から、前記第1の試料が分離されるたびに前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の各々に対するフル生成イオンスペクトルを受信することと、
前記干渉および相関モジュールを使用して、第1の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用して、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの1つの前駆体イオン単離窓の前記フル生成イオンスペクトル内の生成イオンに対する第1の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
前記干渉および相関モジュールを使用して、第2の抽出イオンクロマトグラム窓幅を使用して、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの前記1つの前駆体イオン単離窓の前記フル生成イオンスペクトル内の前記生成イオンに対する第2の組の1つ以上のピークパラメータを計算することと、
前記識別モジュールを使用して、前記第1の組の1つ以上のピークパラメータと前記第2の組の1つ以上のピークパラメータとが実質的に同一である場合、干渉を含まないとして、前記生成イオンを識別することと
を含む、コンピュータプログラム製品。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201161493352P | 2011-06-03 | 2011-06-03 | |
US61/493,352 | 2011-06-03 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014513263A Division JP5889402B2 (ja) | 2011-06-03 | 2012-05-30 | Srmアッセイにおけるバックグラウンド干渉の決定のためのtof−msmsデータの可変xic幅の使用 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016118562A JP2016118562A (ja) | 2016-06-30 |
JP6158965B2 true JP6158965B2 (ja) | 2017-07-05 |
Family
ID=46551784
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014513263A Active JP5889402B2 (ja) | 2011-06-03 | 2012-05-30 | Srmアッセイにおけるバックグラウンド干渉の決定のためのtof−msmsデータの可変xic幅の使用 |
JP2016008479A Active JP6158965B2 (ja) | 2011-06-03 | 2016-01-20 | Srmアッセイにおけるバックグラウンド干渉の決定のためのtof−msmsデータの可変xic幅の使用 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014513263A Active JP5889402B2 (ja) | 2011-06-03 | 2012-05-30 | Srmアッセイにおけるバックグラウンド干渉の決定のためのtof−msmsデータの可変xic幅の使用 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9583323B2 (ja) |
EP (1) | EP2715770B1 (ja) |
JP (2) | JP5889402B2 (ja) |
CN (1) | CN103563044B (ja) |
CA (1) | CA2836112C (ja) |
WO (1) | WO2012164375A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
2012
- 2012-05-30 EP EP12738172.1A patent/EP2715770B1/en active Active
- 2012-05-30 CA CA2836112A patent/CA2836112C/en not_active Expired - Fee Related
- 2012-05-30 CN CN201280026843.8A patent/CN103563044B/zh active Active
- 2012-05-30 WO PCT/IB2012/001049 patent/WO2012164375A1/en active Application Filing
- 2012-05-30 US US14/123,185 patent/US9583323B2/en active Active
- 2012-05-30 JP JP2014513263A patent/JP5889402B2/ja active Active
-
2016
- 2016-01-20 JP JP2016008479A patent/JP6158965B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2016118562A (ja) | 2016-06-30 |
CA2836112A1 (en) | 2012-12-06 |
EP2715770A1 (en) | 2014-04-09 |
EP2715770B1 (en) | 2021-11-24 |
JP2014517477A (ja) | 2014-07-17 |
CN103563044A (zh) | 2014-02-05 |
CA2836112C (en) | 2019-09-24 |
JP5889402B2 (ja) | 2016-03-22 |
US9583323B2 (en) | 2017-02-28 |
WO2012164375A1 (en) | 2012-12-06 |
US20140095084A1 (en) | 2014-04-03 |
CN103563044B (zh) | 2017-04-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161031 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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