JP2009014424A - クロマトグラフ質量分析装置 - Google Patents

クロマトグラフ質量分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2009014424A
JP2009014424A JP2007174768A JP2007174768A JP2009014424A JP 2009014424 A JP2009014424 A JP 2009014424A JP 2007174768 A JP2007174768 A JP 2007174768A JP 2007174768 A JP2007174768 A JP 2007174768A JP 2009014424 A JP2009014424 A JP 2009014424A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
analysis
mass
ions
mass spectrometer
precursor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007174768A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4985153B2 (ja
Inventor
Shinichi Yamaguchi
真一 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2007174768A priority Critical patent/JP4985153B2/ja
Priority to US12/166,707 priority patent/US8198585B2/en
Publication of JP2009014424A publication Critical patent/JP2009014424A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4985153B2 publication Critical patent/JP4985153B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0027Methods for using particle spectrometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/62Detectors specially adapted therefor
    • G01N30/72Mass spectrometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/86Signal analysis
    • G01N30/8624Detection of slopes or peaks; baseline correction
    • GPHYSICS
    • G16INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR SPECIFIC APPLICATION FIELDS
    • G16CCOMPUTATIONAL CHEMISTRY; CHEMOINFORMATICS; COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE
    • G16C20/00Chemoinformatics, i.e. ICT specially adapted for the handling of physicochemical or structural data of chemical particles, elements, compounds or mixtures
    • G16C20/20Identification of molecular entities, parts thereof or of chemical compositions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/004Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn

Abstract

【課題】構造や特徴が類似した複数の化合物を包含する化合物系列について、構造解析に有益な情報を簡単な操作・作業で取得できるようにする。
【解決手段】まず通常のLC/MS分析により収集されたデータに基づいて、保持時間と質量電荷比とを二軸にとり、信号強度を等高線として描いた2次元的な等強度線グラフを作成して表示する(S1、S2)。オペレータがそのグラフ上でマウスのドラッグ操作等により任意の範囲を指定すると(S3)、指定された範囲に含まれるピークを抽出し、該ピークに基づいてプリカーサイオンを選択する(S5、S6)。そして、目的試料に対するLC/MS分析の過程において選択されたプリカーサイオンについてのMS2分析が実行されるようにスケジュールを作成し(S7)、このスケジュールに則って適宜プリカーサイオンの選別・開裂操作を行いながら分析を実行してMS2スペクトルデータを収集する(S8)。
【選択図】図2

Description

本発明は、ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC/MS)や液体クロマトグラフ質量分析装置(LC/MS)など、試料中に含まれる各種成分を時間方向に分離するクロマトグラフと、分離された成分を順次質量分析する質量分析計とを組み合わせたクロマトグラフ質量分析装置に関し、さらに詳しくは、MSn分析が可能な質量分析計を用いたクロマトグラフ質量分析装置に関する。
分子量が大きな物質の同定やその構造の解析を行うために、質量分析の1つの手法としてMS/MS分析(タンデム分析)という手法が知られている。即ち、まず試料に由来して生成される各種のイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別し、そのプリカーサイオンを衝突誘起解離などにより開裂させて各種のプロダクトイオンを生成させる。そして、このプロダクトイオンを質量分析して例えばマススペクトル(MS/MSスペクトル、又はMS2スペクトル)を作成し、これを解析処理することで元の分子を同定したり構造を推定したりする。場合によっては、プロダクトイオンの中からさらにプリカーサイオンを選択して開裂させ、それにより生成されたプロダクトイオンを質量分析する、という操作・分析を繰り返すMSn分析を行うこともある。
従来、こうしたMSn分析が可能な質量分析計を液体クロマトグラフの検出器として利用した液体クロマトグラフ質量分析装置(LC/MS)が開発されている(非特許文献1参照)。こうしたLC/MSでは、リテンションタイム(保持時間)、質量電荷比、信号強度という3つのディメンジョンを持つデータが収集され、このデータから、特定の質量電荷比についての保持時間と信号強度との関係を示すマスクロマトグラム、特定の保持時間における質量電荷比と信号強度との関係を示すマススペクトル、質量電荷比を限定しない保持時間と信号強度との関係を示すトータルイオンクロマトグラムが作成される。また、分析により得られたデータに基づいて着目するイオンをプリカーサイオンとして定め、該プリカーサイオンを設定したMS2分析を実行することもできる。
従来、MS1分析により得られたデータに基づいてプリカーサイオンを選択するために、マススペクトルに現れたピークの中で所定の閾値以上の信号強度を持つ複数のピークについて、強度の大きい順、或いは質量電荷比の小さい順などといった選択基準が用いられている。しかしながら、こうした従来のプリカーサイオン選択手法では、例えば多数のピークが出現するような場合に、必ずしも着目している成分由来のイオンがプリカーサイオンとして選択されないことがある。
「液体クロマトグラフ質量分析計LCMS-IT-TOF」、[online]、株式会社島津製作所、[平成19年6月26日検索]、インターネット<URL: http://www.an.shimadzu.co.jp/products/lcms/it-tof.htm>
例えば医農薬品の開発・研究などの分野では、構造や特徴の類似した化合物の系列を調べたいようなことがよくある。こうした化合物系列は、保持時間と質量電荷比とが特定の関係となっている場合が多いが、化合物系列に包含される複数の化合物を網羅的に選択してMSnスペクトルを取得するといったことは、従来の装置では考慮されていない。そのため、こうした解析作業を行うには煩雑な操作が必要であり、作業効率を上げることが困難であった。
本発明はこうした点に鑑みて成されたものであって、その目的とするところは、特定の化合物系列などについての情報を簡単な操作で且つ的確に得ることができるクロマトグラフ質量分析装置を提供することにある。
上記課題を解決するために成された本発明は、試料を成分分離するクロマトグラフと、該クロマトグラフで成分分離された試料を質量分析する質量分析計と、を組み合わせたクロマトグラフ質量分析装置であって、質量分析計として、特定の質量電荷比を持つイオンをプリカーサイオンとして選別し、その選別されたプリカーサイオンを開裂させ、それによって生成されたプロダクトイオンを質量分析するMSn分析が可能な質量分析計を用いたクロマトグラフ質量分析装置において、
a)試料に対するMS1分析を実行して取得したデータに基づいて、保持時間と質量電荷比とを平面上の二軸とし、信号強度を等高線又はそれに相当する強度の相違が識別可能な表現で表したグラフを作成して表示画面上に表示するグラフ表示手段と、
b)前記グラフ表示手段により表示されたグラフ上でユーザが任意の範囲を指定するための指定手段と、
c)前記指定手段により指定された範囲内に存在するピーク又は該範囲内に存在するピークを除外した残りのピークについて、該ピークに対応したイオンをプリカーサイオンとして選択するプリカーサイオン選択手段と、
d)前記プリカーサイオン選択手段により選択されたプリカーサイオンを順次設定したMS2分析を実行する分析制御手段と、
を備えることを特徴としている。
ここでいうクロマトグラフ質量分析装置とは、典型的には、液体クロマトグラフ質量分析装置又はガスクロマトグラフ質量分析装置である。また、質量分析装置は、MSn分析が可能なものであればよく、特定の質量電荷比を有するイオンを選別して開裂を生じさせるための手段としては、例えば三次元四重極型イオントラップ、リニアイオントラップなどが考えられ、通常のイオン又はプロダクトイオンを質量分離する手段としては、例えば、四重極質量フィルタ、飛行時間型質量分析器などが考えられるが、いずれもこれらに限定されるものではない。
また、本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置において、MS1分析の対象とする試料と分析制御手段による制御の下で実行されるMS2分析の対象とする試料とは同一であってもよいが、必ずしも同一試料である必要はなく、例えば、MS1分析では目的試料に含まれると予想される成分を含む標準試料(又は既知の試料)を分析対象とし、MS2分析では目的試料(又は既知の試料)を分析対象とするようにしてもよい。具体的には、或る1つの化合物系列に包含される構造の類似した複数の化合物についてのMS2スペクトルを得たいような場合に、こうした複数の化合物が含まれるような試料をMS1分析に供すればよい。
さらに上記「保持時間と質量電荷比とを平面上の二軸とし」たグラフは、例えば、該二軸が直交し信号強度を真上から見た等高線として表した、いわゆる2次元等高線グラフ、或いは、信号強度の高さを斜め方向から見た、いわゆる3次元等高線グラフなど、保持時間、質量電荷比、及び信号強度の3つのディメンジョンが表現できるグラフであれば特にその形式は限定されない。
本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置において、上記指定手段は、例えばマウス等のポインティングデバイスを利用したドラッグ操作などにより、表示されたグラフ上で適宜の形状、大きさの枠を設定することで、該枠で囲まれる領域を上記範囲として指定するものとすることができる。また、例えばグラフ上で観察したい範囲のおおよその関係が一次式などの式で表せることが分かっている場合には、例えばその式を入力するとともにその式からのずれを表すマージン値を入力し(これはデフォルト値でもよい)、それに基づいて上記範囲を設定するようにしてもよい。
指定手段により或る範囲が指定されると、プリカーサイオン選択手段は、例えば指定された範囲内に存在するピークに関する情報(質量電荷比や保持時間)を収集し、そのピークに対応するイオンをプリカーサイオンとして定める。この際、指定された範囲内に存在する全てのピークを選択せずに、例えば信号強度が所定の閾値以上であるものといった別の条件の適合性を調べることでピークを取捨選択した上でプリカーサイオンを定めてもよい。プリカーサイオンが選択されたならば、分析制御手段は、クロマトグラフで成分分離された試料に対し、選択されたプリカーサイオンについてのMS2分析が実行されるように、所定のタイミングでイオンの質量選別と選別された特定質量電荷比のイオンの開裂操作、及び開裂操作により生成されたプロダクトイオンの質量分析を実行する。
本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置によれば、例えば質量電荷比と保持時間とが特定の関係を示すような1つの化合物系列を含むようにグラフ上でユーザが適切な範囲を指定することにより、この化合物系列に含まれる複数の化合物由来のイオンをプリカーサイオンとしたMSnスペクトルデータを収集することができる。これにより、興味のない不要なピークに対応したイオンはプリカーサイオンとして選択されることがなく、着目する化合物系列に含まれる或る化合物由来のイオンの信号強度が比較的小さい場合であってもこのイオンをプリカーサイオンとしたMSnスペクトルを確実に得ることができる。従って、非常に簡単な操作や作業によって、化合物系列に属する複数の化合物に関する構造解析に有用な情報を得ることができる。
以下、本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置の一実施例であるLC/MSについて図面を参照して説明する。図1は本実施例によるLC/MSの概略構成図である。
液体クロマトグラフ1では、移動相容器2に貯留された移動相が送液ポンプ3により略一定流量で吸引されてカラム5に送給される。所定のタイミングでインジェクタ4から移動相中に分析対象の試料が導入され、移動相に乗ってカラム5に送り込まれる。カラム5を通過する間に、試料に含まれる各種成分は時間方向に分離され、カラム5から順番に溶出する。この溶出した試料成分を含む試料液が質量分析計10に導入される。
試料液はエレクトロスプレイノズル12から略大気圧雰囲気であるイオン化室11内に噴霧され、それによって試料液中の成分分子はイオン化され、生成されたイオンは加熱パイプ13を通って低真空雰囲気である第1中間真空室14へと送り込まれる。イオン化室11内ではエレクトロスプレイイオン化のほかに、大気圧化学イオン化などの別の大気圧イオン化法を採用してもよく、それらを併用してもよい。いずれにしてもイオンは第1中間真空室14内に配置された第1イオンレンズ15により収束されつつ、スキマー16の頂部に形成された小孔を通して中真空雰囲気である第2中間真空室17に送り込まれ、第2中間真空室17内に配置されたオクタポール型の第2イオンレンズ18により収束されつつ高真空雰囲気である分析室19に送り込まれる。
分析室19において、イオンは一旦、三次元四重極型のイオントラップ20内に蓄積され、場合によっては質量分離(質量選別)及び衝突誘起解離による開裂操作を受け、所定のタイミングで一斉にイオントラップ20から排出されて飛行時間型質量分離器21に導入される。なお、イオントラップ20におけるイオンの操作はIT電源部28から各電極(エンドキャップ電極、リング電極)に印加される電圧により制御される。
飛行時間型質量分離器21は静電場によりイオンを反射させるリフレクトロン22を備えるリフレクトロン型であり、折返し飛行する間にイオンは質量(厳密には質量電荷比m/z)に応じて分離され、質量が小さなイオンほど早くイオン検出器23に到達する。イオン検出器23は例えばイオンを電子に変換するコンバージョンダイノードと二次電子増倍管との組み合わせから成り、到達したイオン量に応じたイオン強度信号を出力する。このイオン強度信号はA/D変換器24によりデジタル値に変換されてデータ処理部25へと入力され、データ処理部25においてマススペクトル、マスクロマトグラム、トータルイオンクロマトグラムの作成、それら結果に基づく定性分析や定量分析などが実行される。また、データ処理部25にはデータ記憶部26が付設され、LC/MSで収集されたデータはデータ記憶部26に格納され保存される。
また、上記のような質量分析動作を実行するために各部を制御する制御部27には、キーボードやマウスなどの操作部29、LCDディスプレイなどの表示部30が接続されている。なお、データ処理部25や制御部27の実体はパーソナルコンピュータであって、パーソナルコンピュータにインストールされた専用の制御・処理プログラムをコンピュータで実行することにより、データ処理部25や制御部27としての機能が発揮される。
上記質量分析計10では、イオントラップ20において単にイオンの蓄積及び出射を行うことで通常のMS(=MS1)分析を行うことができるとともに、イオントラップ20においてn−1回のイオンの質量選別及び衝突誘起解離によるイオンの開裂操作を行うことで、MSn分析を行うことができる。衝突誘起解離を行うために図示しないガス供給手段からイオントラップ20内に例えばArガスなどの衝突ガスが供給されるようになっている。なお、イオンの蓄積及び開裂操作を行うために三次元四重極型のイオントラップを設ける代わりにリニアイオントラップなどを用いてもよく、また開裂操作も衝突誘起解離でなく赤外多光子解離などの他の手法を利用してもよい。
次に、本実施例のLC/MSにおける特徴的な分析動作について、図2〜図4を参照して説明する。図2はこの特徴的な分析動作の処理手順を示すフローチャートである。
まず、制御部27の制御の下に、所定の試料についてLC/MS1分析、つまり質量分析計10で開裂操作を伴わない通常のMS1分析を実行するLC/MS分析を行うことによりデータを収集する(ステップS1)。即ち、液体クロマトグラフ1において所定の試料をインジェクタ4により移動相中に注入した後、質量分析計10において、所定期間中にイオントラップ20に導入された各種イオンをイオントラップ20内に蓄積し、これを或るタイミングで一斉に出射して飛行時間型質量分離器21に導入して質量分析を行う、というサイクルを繰り返すことにより、所定の質量範囲のマススペクトルデータを時間経過に伴って繰り返し取得する。こうして、保持時間、質量電荷比、信号強度の3つのディメンジョンを持つデータを収集することができ、所定の試料に対して収集されたデータは1つのファイルとしてデータ記憶部26に格納される。
上記LC/MS1分析の対象とする試料は、分析目的の試料を用いてもよいが、その場合には2回のLC/MS分析のための試料を用意する必要がある。そこで、一般的には、このLC/MS1分析の対象とする試料は、分析目的とする成分を含む試料(例えば標準試料でもよい)とすればよい。
データ処理部25は、データ記憶部26に格納されている上述したような3つのディメンジョンを持つデータに基づいて、保持時間を横軸に、質量電荷比を縦軸にとり、信号強度を等高線で表した、2次元的な等強度線グラフを作成し、これを制御部27を介して表示部30の画面上に表示する(ステップS2)。図3がこの等強度線グラフの一例である。オペレータはこの等強度線グラフを見て、操作部29のマウス(又は他のポインティングデバイス)のドラッグ操作により、又はキーボードからの数値入力により、MS2分析を実行したい範囲を指定する(ステップS3)。
等強度線グラフ上では、類似した構造を持つ複数の化合物に対応したピークが、例えば図3中に右上がり傾斜の線Bに沿って出現する。いま、これら複数の化合物を包含する化合物系列に着目してMS2分析を実行したい場合、線Bに沿ったピークを囲むようにドラッグ操作等により枠Aを設定すればよい。また、そうしたグラフィカルな範囲指定操作でなく、保持時間と質量電荷比との関係を示す関数や、その関数で2次元グラフ上に表現される線(直線又は曲線)の幅を広げるためのマージン値などを操作部29のキーボードからの数値入力、或いはマウスによる選択操作により行い、これによってMS2分析対象の範囲を設定してもよい。
例えば、上記線Bで示される保持時間RTと質量電荷比m/zとの関係が、
m/z=a・RT+b、但しa、bは適宜の定数
の一次式であるとすると、こうした一次式を入力するとともに、m/zのマージン値Δを入力する。このような入力に対し、図3中に示すように等強度線グラフ上に帯状の枠Aが設定される。
上記のようなMS2分析対象の範囲が設定されると、データ処理部25は指定された範囲に含まれるデータをデータ記憶部26から収集する(ステップS4)。そして、上記範囲に含まれるピークを抽出し、各ピークの関連情報、つまり、質量電荷比及び保持時間を収集する。但し、保持時間はピークトップの出現する保持時間だけでなく、例えば所定の閾値以上の信号強度が得られるような保持時間の時間幅を情報として収集する(ステップS5)。こうして収集した情報に基づいてプリカーサイオンを選択し、選択したイオンを例えばプリカーサイオンリストとしてまとめる(ステップS6)。指定された範囲内に存在する全てのピークに対応するイオンをプリカーサイオンとしてもよいし、或いは、その中でもピークトップの信号強度が所定の閾値以上であるピークを選別して、選別されたピークに対応するイオンをプリカーサイオンとしてもよい。
次に、制御部27は上記プリカーサイオンリストに基づいて、試料注入からの時間経過に伴って分析すべきプリカーサイオンの質量電荷比と保持時間との関係を示すLC/MS2実行スケジュールを作成する(ステップS7)。ここで、「LC/MS2」とは特に液体クロマトグラフでの成分分離の後に、MS2分析を実行することを意味している。図4はLC/MS2実行スケジュールの一例を示す図である。
次に、制御部27は上記のように作成されたLC/MS2実行スケジュールに従って、LC/MS2分析を実行する(ステップS8)。図4に示したスケジュールによれば、保持時間がt0〜t1の期間ではMS2分析を実行せず、これに引き続く保持時間t1〜t2の期間では、質量電荷比m1、m2の2つのイオンをプリカーサイオンとしたMS2分析を実行する。
即ち、このMS2分析においては、イオントラップ20に各種イオンを導入した後、IT電源部28から所定の電圧をリング電極等に印加することにより、質量電荷比m1のイオンを除いた他のイオンをイオントラップ20から排除する。そうしてプリカーサイオンの選別を行った後に、イオントラップ20内に衝突ガスを導入してプリカーサイオンを開裂させ、各種のプロダクトイオンを発生させる。続いて、生成されたプロダクトイオンをイオントラップ20から一斉に出射させて飛行時間型質量分離器21に導入し、質量分析を行うことでデータ処理部25においてMS2スペクトルデータを収集する。次に、同様の手順で質量電荷比m2のプリカーサイオンに対するMS2スペクトルデータも収集する。このように2種のプリカーサイオンに対するMS2スペクトルデータの収集を保持時間t1〜t2の期間中繰り返す。なお、一般に、プロダクトイオンの信号強度は低いため、MS2スペクトルのS/N比を向上させるためには、複数回同一のプリカーサイオンに対するデータを収集してそれを積算するとよい。
次の保持時間t2〜t3の期間では質量m4のイオンをプリカーサイオンとして、さらにその次の保持時間t3〜t4の期間では質量m4、m5、m6の3種のイオンをプリカーサイオンとして上述したようにMS2分析を実行してMS2スペクトルデータを取得する。なお、保持時間0の時点以降、通常のMS1分析を繰り返し実行し、スケジュールにプリカーサイオンが設定されている期間だけ、MS1分析に追加してMS2分析も実行するとよい。
以上のようにして本実施例のLC/MSでは、図3に示した等強度線グラフ上でオペレータが任意に指定した範囲に含まれるピークに対応したイオンのMS2スペクトルを簡便に得ることができる。例えば1つの化合物系列に属する複数の化合物に対応したピークが含まれ、それ以外の不要なピークができるだけ含まれないように上記範囲を適切に設定しさえすれば、目的とする化合物の構造情報を含むMS2スペクトルを確実に得ることができ、これに基づいて構造解析などを容易に行うことができる。
また、上記実施例では等強度線グラフ上で指定した(例えば枠Aで囲んだ)範囲に包含されるピークに基づいてプリカーサイオンの選択が行われていたが、これとは逆に、枠Aで囲まれる範囲を除いたピークに基づいてプリカーサイオンの選択を行うようにしてもよい。これは、例えば比較的信号強度が大きな複数の化合物のピークが妨害になっているときに、これを排除して目的とする化合物由来のイオンを観察したいような場合に有用である。
もちろん、等強度線グラフ上で任意の位置及び任意の大きさの範囲を指定する方法は、上記記載の方法に限定されない。また、指定できる範囲は1つのみならず、任意の数だけ指定できるようにすることができる。
また、上記実施例はいずれも一例であって、本発明の趣旨の範囲で適宜修正や変更、追加を行っても本願特許請求の範囲に包含されることは明らかである。例えば、上記実施例はLC/MSに本発明を適用していたが、GC/MSでも同様に適用が可能である。また、質量分析装置は、四重極型に限るものではなく、飛行時間型、イオントラップ型など、いずれの質量分析装置でも構わない。
本発明の一実施例によるLC/MSの概略構成図。 本実施例のLC/MSにおける特徴的な分析動作の手順を示すフローチャート。 本実施例のLC/MSにおいて表示部の画面上に表示される等強度線グラフの一例を示す図。 本実施例のLC/MSにおいて作成されるLC/MS2実行スケジュールの一例を示す図。
符号の説明
1…液体クロマトグラフ
2…移動相容器
3…送液ポンプ
4…インジェクタ
5…カラム
10…質量分析計
11…イオン化室
12…エレクトロスプレイノズル
13…加熱パイプ
14…第1中間真空室
15…第1イオンレンズ
16…スキマー
17…第2中間真空室
18…第2イオンレンズ
19…分析室
20…イオントラップ
21…飛行時間型質量分離器
22…リフレクトロン
23…イオン検出器
24…A/D変換器
25…データ処理部
26…データ記憶部
27…制御部
28…IT電源部
29…操作部
30…表示部

Claims (1)

  1. 試料を成分分離するクロマトグラフと、該クロマトグラフで成分分離された試料を質量分析する質量分析計と、を組み合わせたクロマトグラフ質量分析装置であって、質量分析計として、特定の質量電荷比を持つイオンをプリカーサイオンとして選別し、その選別されたプリカーサイオンを開裂させ、それによって生成されたプロダクトイオンを質量分析するMSn分析が可能な質量分析計を用いたクロマトグラフ質量分析装置において、
    a)MS1分析を実行して取得したデータに基づいて、保持時間と質量電荷比とを平面上の二軸とし、信号強度を等高線又はそれに相当する強度の相違が識別可能な表現で表したグラフを作成して表示画面上に表示するグラフ表示手段と、
    b)前記グラフ表示手段により表示されたグラフ上でユーザが任意の範囲を指定するための指定手段と、
    c)前記指定手段により指定された範囲内に存在するピーク又は該範囲内に存在するピークを除外した残りのピークについて、該ピークに対応したイオンをプリカーサイオンとして選択するプリカーサイオン選択手段と、
    d)前記プリカーサイオン選択手段により選択されたプリカーサイオンを時間経過に伴い順次設定したMS2分析を実行する分析制御手段と、
    を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。
JP2007174768A 2007-07-03 2007-07-03 クロマトグラフ質量分析装置 Active JP4985153B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007174768A JP4985153B2 (ja) 2007-07-03 2007-07-03 クロマトグラフ質量分析装置
US12/166,707 US8198585B2 (en) 2007-07-03 2008-07-02 Chromatograph mass spectrometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007174768A JP4985153B2 (ja) 2007-07-03 2007-07-03 クロマトグラフ質量分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009014424A true JP2009014424A (ja) 2009-01-22
JP4985153B2 JP4985153B2 (ja) 2012-07-25

Family

ID=40220703

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007174768A Active JP4985153B2 (ja) 2007-07-03 2007-07-03 クロマトグラフ質量分析装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8198585B2 (ja)
JP (1) JP4985153B2 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010116409A1 (ja) * 2009-04-07 2010-10-14 株式会社島津製作所 質量分析データ処理方法及び装置
JP2011249069A (ja) * 2010-05-25 2011-12-08 Jeol Ltd 質量分析装置
JP2013088215A (ja) * 2011-10-17 2013-05-13 Shimadzu Corp 質量分析装置
WO2014041886A1 (ja) * 2012-09-14 2014-03-20 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析システム及び方法
JP2014116595A (ja) * 2012-11-13 2014-06-26 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光素子、発光装置、照明装置および電子機器
WO2021240576A1 (ja) * 2020-05-25 2021-12-02 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析データ処理方法、クロマトグラフ質量分析装置、及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013001618A1 (ja) * 2011-06-29 2013-01-03 株式会社島津製作所 分析データ処理方法及び装置
JP5780312B2 (ja) * 2011-11-22 2015-09-16 株式会社島津製作所 質量分析装置
JP5821767B2 (ja) * 2012-04-20 2015-11-24 株式会社島津製作所 クロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置
WO2014045360A1 (ja) * 2012-09-20 2014-03-27 株式会社島津製作所 質量分析装置
JP6495905B2 (ja) * 2013-08-09 2019-04-03 ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド Tofデータ取得のための強度補正
EP3166129A4 (en) * 2014-07-03 2018-06-13 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
JP6191778B2 (ja) * 2014-08-20 2017-09-06 株式会社島津製作所 質量分析装置
US20210116468A1 (en) * 2018-05-24 2021-04-22 Shimadzu Corporation Analysis system
JP7460988B2 (ja) * 2021-01-22 2024-04-03 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001165922A (ja) * 1999-12-10 2001-06-22 Hitachi Ltd クロマトグラフ質量分析装置
JP2001249114A (ja) * 1999-12-27 2001-09-14 Hitachi Ltd 質量分析方法および装置
JP2007017218A (ja) * 2005-07-06 2007-01-25 Kao Corp マスクロマトグラム表示方法
JP2007147464A (ja) * 2005-11-29 2007-06-14 Shimadzu Corp クロマトグラム表示処理装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4353242A (en) * 1980-12-16 1982-10-12 University Of Utah Research Foundation Multichannel detection and resolution of chromatographic peaks
AU2666897A (en) * 1996-04-12 1997-11-07 Waters Investments Limited Chromatographic pattern analysis system employing chromatographic variability characterization
AU2003237306A1 (en) * 2002-05-31 2003-12-19 Waters Investments Limited A method of using data binning in the analysis of chromatograhpy/spectrometry data
JP4058449B2 (ja) * 2003-06-23 2008-03-12 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析方法および質量分析装置
US7473892B2 (en) * 2003-08-13 2009-01-06 Hitachi High-Technologies Corporation Mass spectrometer system
US7693899B2 (en) * 2003-10-28 2010-04-06 Media Cybernetics, Inc. Method, system, and computer program product for constructing a query with a graphical user interface
US7233333B2 (en) * 2004-11-23 2007-06-19 Buxco Electric, Inc. Collapsible (folding) graph
US7373256B2 (en) * 2005-04-19 2008-05-13 Nicholson Jeremy K Method for the identification of molecules and biomarkers using chemical, biochemical and biological data
JP4522910B2 (ja) * 2005-05-30 2010-08-11 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析方法及び質量分析装置
WO2007012643A1 (en) * 2005-07-25 2007-02-01 Metanomics Gmbh Means and methods for analyzing a sample by means of chromatography-mass spectrometry
WO2007019485A1 (en) * 2005-08-08 2007-02-15 Metabolon Inc. A system, method, and computer program product using a database in a computing system to compile and compare metabolomic data obtained from a plurality of samples
US7653496B2 (en) * 2006-02-02 2010-01-26 Agilent Technologies, Inc. Feature selection in mass spectral data
JP4602374B2 (ja) * 2007-03-30 2010-12-22 株式会社日立ハイテクノロジーズ クロマトグラフィー質量分析方法、及びクロマトグラフ質量分析装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001165922A (ja) * 1999-12-10 2001-06-22 Hitachi Ltd クロマトグラフ質量分析装置
JP2001249114A (ja) * 1999-12-27 2001-09-14 Hitachi Ltd 質量分析方法および装置
JP2007017218A (ja) * 2005-07-06 2007-01-25 Kao Corp マスクロマトグラム表示方法
JP2007147464A (ja) * 2005-11-29 2007-06-14 Shimadzu Corp クロマトグラム表示処理装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010116409A1 (ja) * 2009-04-07 2010-10-14 株式会社島津製作所 質量分析データ処理方法及び装置
JP5293809B2 (ja) * 2009-04-07 2013-09-18 株式会社島津製作所 質量分析データ処理方法及び装置
US9305755B2 (en) 2009-04-07 2016-04-05 Shimadzu Corporation Mass analysis data processing method and mass analysis data processing apparatus
JP2011249069A (ja) * 2010-05-25 2011-12-08 Jeol Ltd 質量分析装置
JP2013088215A (ja) * 2011-10-17 2013-05-13 Shimadzu Corp 質量分析装置
WO2014041886A1 (ja) * 2012-09-14 2014-03-20 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析システム及び方法
JP2014116595A (ja) * 2012-11-13 2014-06-26 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光素子、発光装置、照明装置および電子機器
WO2021240576A1 (ja) * 2020-05-25 2021-12-02 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析データ処理方法、クロマトグラフ質量分析装置、及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム
JPWO2021240576A1 (ja) * 2020-05-25 2021-12-02
CN115605749A (zh) * 2020-05-25 2023-01-13 株式会社岛津制作所(Jp) 色谱质量分析数据处理方法、色谱质量分析装置及色谱质量分析数据处理用程序
JP7380866B2 (ja) 2020-05-25 2023-11-15 株式会社島津製作所 クロマトグラフ質量分析データ処理方法、クロマトグラフ質量分析装置、及びクロマトグラフ質量分析データ処理用プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JP4985153B2 (ja) 2012-07-25
US8198585B2 (en) 2012-06-12
US20090008548A1 (en) 2009-01-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4985153B2 (ja) クロマトグラフ質量分析装置
JP4967857B2 (ja) クロマトグラフ質量分析データ処理装置
JP4983451B2 (ja) クロマトグラフ質量分析データ処理装置
JP6176049B2 (ja) タンデム四重極型質量分析装置
US10607722B2 (en) Data-processing for chromatographic mass spectrometry
JP2010019655A (ja) クロマトグラフ質量分析装置
JP5293809B2 (ja) 質量分析データ処理方法及び装置
JP4900048B2 (ja) 質量分析装置
US10288589B2 (en) Mass spectrometry method and mass spectrometer
JP6107978B2 (ja) 質量分析装置及び質量分析方法
US20130289893A1 (en) Data-Processing System for Chromatograph Mass Spectrometry
JP6540298B2 (ja) 質量分析を用いた多成分一斉分析方法及び質量分析装置
JP6176334B2 (ja) 質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析データ処理プログラム
EP3457124A1 (en) Imaging mass spectrometer
JP6048590B2 (ja) 包括的2次元クロマトグラフ用データ処理装置
EP3232189A1 (en) Multidimensional mass spectrometry data processing device
JP6265280B2 (ja) クロマトグラフ質量分析装置
JP5780312B2 (ja) 質量分析装置
JP4905265B2 (ja) クロマトグラフ質量分析装置用データ処理装置
WO2009095957A1 (ja) 質量分析装置及び質量分析方法
US10186412B2 (en) Digital waveform manipulations to produce MSn collision induced dissociation
JP6702501B2 (ja) タンデム型質量分析装置及び該装置用プログラム
JP5979306B2 (ja) 質量分析装置
US10267765B2 (en) Wideband isolation directed by ion mobility separation for analyzing compounds
JP5860833B2 (ja) 質量分析データ処理方法及び装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100121

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20100121

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111202

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111206

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120203

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120403

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120416

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4985153

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150511

Year of fee payment: 3