JP5646342B2 - 銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層の製造方法 - Google Patents

銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5646342B2
JP5646342B2 JP2010540020A JP2010540020A JP5646342B2 JP 5646342 B2 JP5646342 B2 JP 5646342B2 JP 2010540020 A JP2010540020 A JP 2010540020A JP 2010540020 A JP2010540020 A JP 2010540020A JP 5646342 B2 JP5646342 B2 JP 5646342B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sulfur
gallium
copper
indium
selenium
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2010540020A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011508439A (ja
JP2011508439A5 (ja
Inventor
富強 黄
富強 黄
耀明 王
耀明 王
Original Assignee
中国科学院上海硅酸塩研究所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 中国科学院上海硅酸塩研究所 filed Critical 中国科学院上海硅酸塩研究所
Publication of JP2011508439A publication Critical patent/JP2011508439A/ja
Publication of JP2011508439A5 publication Critical patent/JP2011508439A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5646342B2 publication Critical patent/JP5646342B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0256Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
    • H01L31/0264Inorganic materials
    • H01L31/032Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312
    • H01L31/0322Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312 comprising only AIBIIICVI chalcopyrite compounds, e.g. Cu In Se2, Cu Ga Se2, Cu In Ga Se2
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02521Materials
    • H01L21/02568Chalcogenide semiconducting materials not being oxides, e.g. ternary compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
    • H01L21/02623Liquid deposition
    • H01L21/02628Liquid deposition using solutions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/184Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof the active layers comprising only AIIIBV compounds, e.g. GaAs, InP
    • H01L31/1844Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof the active layers comprising only AIIIBV compounds, e.g. GaAs, InP comprising ternary or quaternary compounds, e.g. Ga Al As, In Ga As P
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/541CuInSe2 material PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/544Solar cells from Group III-V materials

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Description

本発明は、主に、銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層の製造方法に関する。太陽電池系エネルギー分野に属する。
エネルギーと環境は、人類社会の持続可能な開発における二つの重要な戦略課題であり、クリーンな再生可能エネルギーの開発と利用はますます重要になり、緊迫してきた。太陽エネルギーは、クリーンで、豊富で、且つ地域に制限されない再生可能エネルギーであり、その有効な開発と利用に極めて重要な意義がある。太陽電池は、人類が太陽エネルギーを有効に利用する主な様態の一つである。銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池は、最も有望な次世代の太陽電池である。このような太陽電池には、低コスト、高効率、長寿命、優れた弱光性能、強い耐放射能などの多くの利点がある。しかし、銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池が未だに産業化されていない主なネックは、その光吸収層の銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の製造プロセスの複雑による電池の歩留率の低下、生産コストの向上にある。
銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層の製造方法は、大きく二種類に分けているが、一種類は、高真空気相法で、例えば熱蒸着、マグネトロン・スパッタリングや分子線エピタキシーなどがある。この種類の方法で製造される小面積の銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜は、品質が良く、相応の電池の光電変換効率が高い。米国国立再生可能エネルギー研究所(NREL)が三段階共蒸着法で製造した有効面積が0.405cmの銅・インジウム・ガリウム・セレン薄膜太陽電池は、光電変換効率が最高で19.5%に達した。しかし、この種類の方法は、大面積の薄膜の製造の際、薄膜の均一性の維持が困難で、且つ製造プロセスが複雑で、歩留率が低く、設備コストが高く、原料の利用率が低下し、生産効率も劣るため、生産コストが非常に高く、大規模の生産が困難になる。もう一種類は、非真空液相法であり、伝統的な高真空気相法と比べれば、非真空液相法で製造される銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層は、電池の生産コストを大幅に降下することができ、そして、簡易に大面積の薄膜を製造することもできる。近年、非真空液相法による銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層の製造に関連の研究が広く、深く行われており、主に以下の種類がある。
(1)酸化物ベース非真空液相法
酸化物ベース非真空液相法のプロセスの手順は、(a)銅、インジウム、ガリウムなどを含む各元素の酸化物微粉末の液相前駆体を製造し、(b)液相前駆体を各種の非真空プロセスで基板に塗布することによって前駆薄膜が得られ、(c)前駆薄膜を高温還元してからセレン化することにより、銅・インジウム・ガリウム・セレン薄膜を得るようになっている。Kapurらによって報告された酸化物非真空液相法の特徴は、その液相前駆体における酸化物が機械的なボールミルによるサブミクロン級の微粉末であることにある(米国特許6,127,202号)。また、EberspacherとPaulsによって報告された方法において、サブミクロン級の混合酸化物微粉末が高温で液滴を分解することによって得られ、その後得られた微粉末を基板に超音波噴射して前駆薄膜を得るようになっている(米国特許6,268,014号)。
酸化物ベース非真空液相法による銅・インジウム・ガリウム・セレン薄膜の光吸収層の製造は、プロセスのコストが低いという特徴を持つものの、このプロセス方法の不足も明らかである。まず、酸化物前駆体薄膜は、高温下で水素(H)によって還元する必要があるため、大量の時間とエネルギーが無駄になる。そして、ガリウムの酸化物が非常に安定しており、ひいては極厳しい条件でも完全に還元されるのが困難であることにより、目的の銅・インジウム・ガリウム・セレン薄膜は、不純物の含有量が高く、ガリウム元素のドープが困難になる。最後に、反応速度論的な問題のため、還元によって得られた銅・インジウム・ガリウム合金薄膜も完全にセレン化することが難しい。
(2)噴霧熱分解法
噴霧熱分解法による銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の製造は、プロセスのコストが低いという特徴を持つものの、この方法で製造される銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜は、不純物の含有量が高すぎるため、薄膜の平坦度の制御が困難で、大面積均一性が維持しにくい。
噴霧熱分解法で製造される銅・インジウム・ガリウム・セレン薄膜太陽電池は、光電変換効率がいずれも低い。この方法では、太陽電池の品質を有する銅・インジウム・ガリウム・セレン薄膜の製造が困難で、工業的生産の潜在力が殆どない。
(3)電気化学法
1983年にBhattacharyaが初めて電気化学法でCuInSe薄膜の堆積に成功して以来(J.Electrochem.Soc.130,2040,1983)、電気化学法による銅・インジウム・ガリウム・セレン薄膜の製造に関連の研究が広く、深く展開されてきた。Bhattacharyaが二段階法を用い、すなわち、一層の銅リッチの銅・インジウム・ガリウム・セレン薄膜を電気化学堆積で得た後、その薄膜にインジウム、ガリウム、セレンなどの元素を蒸着することにより、太陽電池の要求に満足するように薄膜の成分を調整する。このプロセスによって製造された銅・インジウム・ガリウム・セレン太陽電池の光電変換効率が15.4%で(Thin Solid Films 361−362,396,2000)、今まで電気化学法で製造された銅・インジウム・ガリウム・セレン薄膜太陽電池の中で一番高い効率である。
電気化学法による銅・インジウム・ガリウム・セレン薄膜の製造は、コストが低い、原料利用率が高い、大面積の薄膜の堆積が容易であるなどの利点がある。しかし、銅とインジウム、ガリウムとは、堆積電位のマッチが困難なので、製造される銅・インジウム・ガリウム・セレン薄膜は銅リッチの傾向があり、薄膜の化学量論比の制御が難しく、不純物相の成分が多い。銅・インジウム・ガリウム・セレン薄膜における各元素の化学量論比を調整するため、しばしば後の物理気相法の補助が必要となり、薄膜の製造のプロセスコストが大幅に増加する。
(4)非酸化物ベース非真空液相法
非酸化物ベース非真空液相法は、Nanosolar社によって開発された銅・インジウム・ガリウム・セレン薄膜を製造する新規なプロセスである(米国特許7,306,823号)。このプロセスの特徴は、まず、銅或いはインジウム或いはガリウム或いはセレンなどの元素のナノ粒子或いは量子ドットを作り、さらにこのナノ粒子或いは量子ドットの表面に一層或いは複数層の銅、インジウム、ガリウム、硫黄、セレンなどの元素を含有するコーティングを被覆し、コーティングの成分と厚さを制御することにより、コーティングナノ粒子における各元素の化学量論比を制御することである。得られたコーティングナノ粒子を所定の溶媒に分散してスラリーとし、得られたスラリーを印刷、プリントなどの非真空プロセスによって前駆薄膜を形成し、さらに急速アニールを経て銅・インジウム・ガリウム・セレン薄膜を形成する。
このプロセスは、コストが低い、原料利用率が高い、フレキシブル基板が使用できる、大面積の薄膜が製造しやすいなどの特徴を持つものの、ナノ顆粒が使用されているため、ナノ顆粒の粒子径の大きさ、粒子径の分布、表面の状態及び化学量論比などの多くのパラメーターをすべて厳格に制御する必要があるので、このプロセスの制御が困難で、手順が複雑で、再現性が保証できない。
このように、従来の銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の製造方法には、各種各様の欠点があり、上述方法の欠点を克服する新規な製造方法の開発は、銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の産業化に対して、必ず大きな促進となり、とても重要な意義がある。
本発明の目的は、新規な銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層の製造方法を提供することにある。
そのため、本発明は、非真空液相化学方法を使用する、製造プロセスに以下の工程を含む新規な銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層の製造方法を提供する。
(1) 銅、インジウム、ガリウムの硫黄系化合物或いはハロゲン系化合物と、硫黄、セレンの単体或いはアミン系塩或いはヒドラジン系塩と、を強い配位子を含有する溶媒に溶解させ、且つ溶液調整剤を入れ、安定した銅、インジウム、ガリウム、硫黄、セレンの源溶液を形成させる工程。
(2) 工程(1)で得られた各種の源溶液を、銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層Cu1−xIn1−yGaSe2−z(但し、0≦x≦0.3、0≦y≦1、0≦z≦2)における銅、インジウム、ガリウムの化学量論比になるように、過剰量の硫黄及びセレンと混合して、銅、インジウム、ガリウム、硫黄、セレンを含有する混合溶液を調製する工程。
(3) 工程(2)で調製された混合溶液を各種の非真空液相プロセスにより各種の基板に適用して前駆薄膜を製造する工程。
(4) 工程(3)で製造された前駆薄膜を、乾燥し、アニールし、目的の銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン化合物薄膜を形成させる工程。
図1は銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜前駆溶液の調製プロセスのフローチャートである。 図2は銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜前駆溶液が160℃で乾燥されて得られた粉体のX線回折スペクトルである。 図3は石英基板に製造された銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜のX線回折スペクトルである。 図4は石英基板に製造された銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の紫外−可視透過スペクトルである。 図5は石英基板に製造された銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の正面と断面の走査型電子顕微鏡の図である。 図6は銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の高解像度電子顕微鏡の図である。 図7は銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の構造の簡略図である。
発明者らは、大量の実験と研究を行ったところ、新規な非真空液相化学方法を使用することにより、プロセスが簡単で、コストが低く、設備の投資が少なく、原料利用率が高く、制御が可能で、再現性が優れ、大面積で高品質の薄膜の製造及び大規模の生産が容易であるという利点が実現できることを見出した。これに基づき、本発明を完成させた。
本文で用いられるように、かかる「アリール基」とは、6個の炭素原子を含有する単環式アレーン、10個の炭素原子を含有する二環式アレーン、14個の炭素原子を含有する三環式アレーンを含み、且つ一つの環に1〜4個の置換基を有してもよいものである。例えば、アリール基は、フェニル基、ナフチル基、アントリル基を含むが、これらに限定されない。
[工程1]
本発明の工程1において、銅、インジウム、ガリウムの硫黄系化合物或いはハロゲン系化合物と、硫黄、セレンの単体或いはアミン系塩或いはヒドラジン系塩と、を強い配位子を含有する溶媒に溶解させ、且つ溶液調整剤を入れ、安定した銅、インジウム、ガリウム、硫黄、セレンの源溶液を形成させる。
ここで、工程1における前述の硫黄系化合物は、MQを含むが、Mは銅(Cu)で、Qは硫黄(S)、セレン(Se)、テルル(Te)のうちの一種又は複数種の組合せである。例えば、相応の硫黄系化合物は、CuS、CuSe、Cu(S,Se)などでもよいが、これらに限定されない。
ここで、工程1における前述の硫黄系化合物は、さらに、MQを含むが、Mは銅(Cu)で、Qは硫黄(S)、セレン(Se)、テルル(Te)のうちの一種又は複数種の組合せである。例えば、相応の硫黄系化合物は、CuS、CuSe、Cu(S,Se)などでもよいが、これらに限定されない。
ここで、工程1における前述の硫黄系化合物は、さらに、M’を含むが、M’はインジウム(In)、ガリウム(Ga)のうちの一種又は二種の組合せで、Qは硫黄(S)、セレン(Se)、テルル(Te)のうちの一種又は複数種の組合せである。例えば、相応の硫黄系化合物は、InSe、GaSe、(In,Ga)Se、(In,Ga)(S,Se)などでもよいが、これらに限定されない。
ここで、工程1における前述の硫黄系化合物は、さらに、MM’Q を含むが、Mは銅(Cu)で、M’はインジウム(In)、ガリウム(Ga)のうちの一種又は二種の組合せで、Qは硫黄(S)、セレン(Se)、テルル(Te)のうちの一種又は複数種の組合せである。例えば、相応の硫黄系化合物は、CuInS、Cu(In,Ga)Se、Cu(In,Ga)(S,Se)などでもよいが、これらに限定されない。
ここで、工程1における前述のハロゲン系化合物は、MXを含むが、Mは銅(Cu)で、Xは塩素(Cl)、臭素(Br)、ヨウ素(I)のうちの一種又は複数種の組合せである。例えば、相応のハロゲン系化合物は、CuI、CuBr、Cu(Br,I)などでもよいが、これらに限定されない。
ここで、工程1における前述のハロゲン系化合物は、さらに、MXを含むが、Mは銅(Cu)で、Xは塩素(Cl)、臭素(Br)、ヨウ素(I)のうちの一種又は複数種の組合せである。例えば、相応のハロゲン系化合物は、CuI、CuBr、Cu(Br,I)などでもよいが、これらに限定されない。
ここで、工程1における前述のハロゲン系化合物は、さらに、M’Xを含むが、M’はインジウム(In)、ガリウム(Ga)のうちの一種又は二種の組合せで、Xは塩素(Cl)、臭素(Br)、ヨウ素(I)のうちの一種又は複数種の組合せである。例えば、相応のハロゲン系化合物は、InI、GaI、(In,Ga)I、(In,Ga)(Br,I)などでもよいが、これらに限定されない。
ここで、工程1における前述のハロゲン系化合物は、さらに、MM’Xを含むが、Mは銅(Cu)で、M’はインジウム(In)、ガリウム(Ga)のうちの一種又は二種の組合せで、Xは塩素(Cl)、臭素(Br)、ヨウ素(I)のうちの一種又は複数種の組合せである。例えば、相応のハロゲン系化合物は、CuInI、Cu(In,Ga)I、Cu(In,Ga)(I,Br)などでもよいが、これらに限定されない。
前述工程1において、銅、インジウム、ガリウムの硫黄系化合物とハロゲン系化合物は、単独で使用してもよく、混合して使用してもよい。
また、言うまでもなく、前述銅、インジウム、ガリウムの源溶液は、併せて調製してもよく、単独で調製してもよい。単独で調製する場合、単独の源溶液を調製しておき、必要な時複数種の源溶液を(例えば、化学量論比にしたがって)混合してもよい。例えば、銅及びインジウムの源溶液とガリウムの源溶液を調製し、必要な時両者を併せて銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆物を得る。
前述工程1において、銅、インジウム、ガリウムの硫黄系化合物或いはハロゲン系化合物と、硫黄、セレンの単体或いはアミン系塩或いはヒドラジン系塩との配合比率は産物の要求によって調整する。即ち、その配合比率と使用量は、銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層Cu1−xIn1−yGaSe2−z(但し、0≦x≦0.3、0≦y≦1、0≦z≦2)における銅、インジウム、ガリウムの化学量論比によって決定される。
ここで、工程1における前述の強い配位子を含有する溶媒は、水(HO)、液体アンモニア(NH)、ヒドラジン系化合物(RN−NR)、低級アルコール、エタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン、イソプロパノールアミン、ホルムアミド、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、アセトアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、スルホラン、ピロリドンのうちの一種又は複数種の混合物を含む。好ましくは、前述強い配位子を含有する溶媒は、液体アンモニア、ヒドラジン系化合物(RN−NR)、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン或いはその組合せを含む。ここで、ヒドラジン系化合物(RN−NR)におけるR、R、R、Rはそれぞれ独立でアリール基、水素基、メチル基、エチル基、炭素原子3〜6個のアルキル基を表す。低級アルコールは、メタノール、エタノール、プロパノール、イソプロパノール、ブタノール、イソブタノール、sec−ブタノール、t−ブタノール、ペンタノール、旋光性ペンタノール、イソペンタノール、sec−ペンタノール、t−ペンタノール、sec−イソペンタノールを含む。本文で用いられるように、本発明に係るアルキル基は、直鎖又は分枝のアルキル基を含む。前述アルキル基は、環状アルキル基でもよい。
当該分野の技術者に理解されるが、得られる溶液をより安定化させるため、さらに溶液調整剤を入れてもよい。ここで、工程1における前述の溶液調整剤は、(1)硫黄族元素、(2)遷移金属、(3)アルカリ金属の硫黄系化合物、(4)アルカリ土金属の硫黄系化合物、(5)硫黄族元素のアミン系塩、(6)アルカリ金属、(7)アルカリ土金属を含む。ここで、硫黄族元素は、硫黄(S)、セレン(Se)、テルル(Te)のうちの一種又は複数種を含む。遷移金属は、ニッケル(Ni)、パラジウム(Pd)、白金(Pt)、ロジウム(Rh)、イリジウム(Ir)、ルテニウム(Ru)のうちの一種又は複数種の合金或いは混合物を含む。アルカリ金属の硫黄系化合物は、AQを含むが、ここで、Aはリチウム(Li)、ナトリウム(Na)、カリウム(K)、ルビジウム(Rb)、セシウム(Cs)のうちの一種又は複数種で、Qは硫黄(S)、セレン(Se)、テルル(Te)のうちの一種又は複数種である。アルカリ土金属の硫黄系化合物は、BQを含むが、ここで、Bはマグネシウム(Mg)、カルシウム(Ca)、ストロンチウム(Sr)、バリウム(Ba)のうちの一種又は複数種で、Qは硫黄(S)、セレン(Se)、テルル(Te)のうちの一種又は複数種である。硫黄族元素のアミン系塩は、硫化水素(HS)、セレン化水素(HSe)、或いはテルル化水素(HTe)とN−Rとで形成された各種の塩のうちの一種又は複数種の混合物を含むが、R、R、Rはそれぞれ独立でアリール基、水素基、メチル基、エチル基、炭素原子3〜6個のアルキル基を表す。アルカリ金属は、リチウム(Li)、ナトリウム(Na)、カリウム(K)、ルビジウム(Rb)、セシウム(Cs)のうちの一種又は複数種の合金或いは混合物を含む。アルカリ土金属は、マグネシウム(Mg)、カルシウム(Ca)、ストロンチウム(Sr)、バリウム(Ba)のうちの一種又は複数種の合金或いは混合物を含む。
言うまでもなく、源溶液が十分に安定している場合、必ずしも溶液調整剤を入れる必要がない。前述溶液調整剤の添加量は、必要によって決定されるが、溶液を安定させることができればよい。これは、当該分野の技術者に既知である。
前述溶液調整剤の成分は分離することができる。例えば、ろ過の方法で上述溶液調整剤における成分を除去する。言うまでもなく、ある溶液調整剤の成分は、源溶液に残留しても目的の産物に影響を与えることがないため、分離しなくてもよい。
[工程2]
本発明の工程2において、工程1で得られた各種の源溶液を、銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層Cu1−xIn1−yGaSe2−z(但し、0≦x≦0.3、0≦y≦1、0≦z≦2)における銅、インジウム、ガリウムの化学量論比になるように、過剰量の硫黄及びセレンと混合して、銅、インジウム、ガリウム、硫黄、セレンを含有する混合溶液を調製する。
工程2のCu1−xIn1−yGaSe2−z式において、0≦x≦0.3、0.2≦y≦0.4、0≦z≦0.2であることが好ましい。
ここで、工程2における前述の硫黄、セレンは過剰で、その過剰の程度は0%〜800%、好ましくは100%〜400%である。その過剰の程度は目的の銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン化合物薄膜の要求によって決定される。
[工程3]
本発明の工程3において、工程2で調製された混合溶液を各種の非真空液相プロセスにより各種の基板に適用して前駆薄膜を製造する。
ここで、工程3における前述の非真空プロセスは、(1)スピンコート法(Spin−coating)、(2)キャスト法(Tape−casting)、(3)噴霧堆積法(Spray−deposition)、(4)ディッピング法(Dip−coating)、(5)スクリーン印刷法(Screen−printing)、(6)インクジェット印刷法(Ink−jet printing)、(7)ドロップキャスティング法(Drop−casting)、(8)ロールコート法(Roller−coating)、(9)スロットダイコート法(Slot Die Coating)、(10)バーコート法(Meiyerbar coating)、(11)毛細管コート法(Capillary coating)、(12)コンマコート法(Comma−coating)、(13)グラビアコート法(Gravure−coating)などの各種の非真空プロセスを含む。
ここで、工程3における前述の基板は、ポリイミド、シリコンウェハー、非晶質水素化シリコンウェハー、炭化珪素、シリカ、石英、サファイア、ガラス、金属、ダイヤモンドライクカーボン、水素化ダイヤモンドライクカーボン、窒化ガリウム、ヒ化ガリウム、ゲルマニウム、シリコン−ゲルマニウム合金、ITO、炭化ホウ素、窒化ホウ素、窒化珪素、アルミナ、セリア、酸化スズ、チタン酸亜鉛、プラスチックなどを含む。
[工程4]
本発明の工程4において、工程3で製造された前駆薄膜を、乾燥し、アニールし、目的の銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン化合物薄膜を形成させる。
ここで、工程4の乾燥は、室温〜80℃で行ってもよい。前述乾燥は、他の温度範囲で行ってもよいが、本発明の発明目的の制限にならなければよい。
ここで、工程4における前述の前駆薄膜のアニール温度は50℃〜850℃、好ましくは250℃〜650℃である。
ここで、工程4における前述の目的の銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン化合物薄膜の化学成分は、Cu1−xIn1−yGaSe2−zで、但し、0≦x≦0.3、0≦y≦1、0≦z≦2。
ここで、工程4における前述の目的の銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン化合物薄膜の厚さは、要求によって決定される。例えば、5nm〜5000nm、好ましくは100nm〜3000nmである。
[利点]
本発明によって提供される銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層の非真空液相化学的な製造方法は、伝統的な高真空気相法と比べて、プロセスが簡単で、コストが低く、制御が可能で、再現性が優れ、大面積で高品質の薄膜の製造及び大規模の生産が容易であると同時に、設備の投資が少なく、原料利用率が高く、銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の生産コストを大幅に低減することができ、銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の産業化の急速な発展を促進させる。
そして、本発明によって提供される方法は、従来の非真空液相法と比べて、酸化物ベース非真空液相法における前駆薄膜のセレン化の不完全の問題が存在しないだけではなく、Nanosolarによって開発された非酸化物ベース非真空液相法に必要なコーティングナノ粒子に対する複雑なコントロールの問題も存在しなく、そして電気化学堆積法における薄膜の化学量論比の制御が困難であるという問題もなく、さらに噴霧熱分解法における薄膜の不純物元素の含有量が高すぎるという問題もない。
本発明によって提供される方法は、簡易に原子のオーダーで目的の銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜における各元素の化学量論比に対する正確な制御及び連続的な調整を実現することができると同時に、複数層の膜を製造することや各層の膜の化学成分を調整することにより、目的の銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜における各元素の分布に対する有効な制御を実現することができる。
本発明によって提供される方法は、アニール温度が低く、製造される薄膜の成分の均一性が良く、表面平坦度が高く、結晶性がよく、配向度が高く、不純物の含有量が少なく、ポリイミドなどの有機フレキシブル基板を含む各種の基板を使用することができ、簡易に薄膜における各元素の化学量論比及びその分布を調整することができ、大面積で高品質の銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン化合物薄膜の製造が容易で、かつ銅、インジウム、ガリウム、硫黄、セレンなどの原料の利用率が殆ど100%に達している。
本発明の他の主旨は、本文の公開される内容によって、この分野の技術者にとっては明らかになっている。
以下、具体的な実施例によって、さらに本発明を説明する。これらの実施例は本発明を説明するために用いられるものだけで、本発明の範囲の制限にはならないと理解されるものである。以下の実施例において、具体的な条件が記載されていない実験方法は、通常、通常の条件、或いはメーカーの薦めの条件で行われた。特に説明しない限り、すべての部は重量部で、すべての百分比は重量百分比である。
特に定義や説明がない限り、本文に用いられるすべての専門用語と科学用語は、本分野の技術者に知られている意味と同様である。また、記載の内容と類似或いは同等の方法及び材料は、いずれも本発明の方法に用いることができる。
1.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製
(a)銅・インジウム含有溶液の調製
硫化セレン化第一銅Cu(S,Se)を1mmol、三セレン化二インジウムInSeを0.5mmol、三ヨウ化インジウムInIを0.2mmol、硫黄Sを0〜8mmol、及びセレンSeを0〜8mmol取り、メチルヒドラジンとエタノールアミンとジメチルスルホキシドの混合溶媒2〜16mlにいれ、メチルヒドラジンとエタノールアミンとジメチルスルホキシドの体積比は1〜3:1〜6:1〜8で、撹拌して清澄溶液を得た。
(b)ガリウム含有溶液の調製
三セレン化二ガリウムGaSeを0.6mmol、三臭化ガリウムGaBrを0.3mmol、三ヨウ化ガリウムGaIを0.1mmol、セレンSeを0〜8mmol及び微量のルテニウム粉末を取り、メチルヒドラジンとエタノールアミンとジメチルスルホキシドの混合溶媒1〜8mlにいれ、メチルヒドラジンとエタノールアミンとジメチルスルホキシドの体積比は1〜3:1〜6:1〜8で、十分に攪拌してから、孔径0.2μmのフィルターでろ過した後、清澄のガリウム含有溶液を得た。
(c)銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製
銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜における銅、インジウム、ガリウムの化学量論比にしたがって、相応の体積の上述銅・インジウム含有溶液とガリウム含有溶液を取って混合し、銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液を得た。
2.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の製造
上述で得られた銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン前駆溶液を非真空製膜プロセス(スピンコート法、キャスト法、印刷法、プリント法など)で基板に適用して銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン前駆薄膜とし、前駆薄膜を低温(室温〜80℃)で乾燥した後、高温(250℃〜650℃)での急速アニールを経て銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜を形成させた。
3.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の特徴付け
(a)物質相の特徴付け
銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン前駆溶液を乾燥の不活性ガス流において120℃〜200℃で乾燥し、黒色の粉体が得られ、この粉体をX線回折で特徴づけたところ(図のように)、得られた粉体が銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン相であることが示された。石英基板に製造された銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜をX線回折で特徴づけたところ(図3のように)、X線回折スペクトルにより、薄膜が銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン相で、且つ比較的に強い(112)配向を持つことが示された。
(b)電気学性能の特徴付け
4電極法によってAccent HL5500ホール効果測定器で薄膜の電気学性能を測定したところ、(表1のように)製造された銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜が銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン太陽電池装置の要求を満たすことが示された。
Figure 0005646342
(c)光学性能の特徴付け
石英基板に製造された銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜に対して、紫外−可視透過スペクトルの測定を行ったところ、(図4のように)製造された銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の禁止帯幅が銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン太陽電池装置の要求を満たすことが示された。
(d)微構造の特徴付け
製造された銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜に対して、微構造の特徴付けを行い、図5の左側は銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の正面の走査型電子顕微鏡の図で、右側は銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の断面の走査型電子顕微鏡の図であるが、図から、製造された銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜は、表面平坦度が高く、成分の均一性が良く、結晶度が高いことがわかった。図6は銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の高解像度の透過型電子顕微鏡の図であるが、図から、薄膜の結晶性がよく、格子面間隔が0.331nmで、銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン結晶の(112)面間隔と相応であることがわかった。
4.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池装置の製造
製造された銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜に、厚さが50nm程度のバッファ層を堆積し、さらに窓層と交差指電極を作り、最後に反射防止膜を堆積することにより、銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の単セル装置を得たが、電池の構造は図7に示すようである。製造された銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の単セルを最適化した後、有効面積が1.5cmの単セルになり、光電変換効率が13%に達した。
1.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製
(a)銅含有溶液の調製
ヨウ化第一銅CuIを1mmol取り、エチレンジアミン2〜16mlにいれ、十分に撹拌して清澄溶液を得た。
(b)インジウム含有溶液の調製
ヨウ化インジウムを1mmol、セレンSeを4〜8mmol取り、メチルヒドラジンとn−ブタノールの混合溶媒1〜8mlにいれ、メチルヒドラジンとn−ブタノールの体積比は1〜3:1〜8で、十分に撹拌してから、孔径0.2μmのフィルターでろ過した後、清澄のインジウム含有溶液を得た。
(c)ガリウム含有溶液の調製
三ヨウ化ガリウムGaIを1mmol、セレンSeを4〜8mmol取り、メチルヒドラジンとn−ブタノールの混合溶媒1〜8mlにいれ、メチルヒドラジンとn−ブタノールの体積比は1〜3:1〜8で、十分に撹拌してから、孔径0.2μmのフィルターでろ過した後、清澄のガリウム含有溶液を得た。
(d)銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製
銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜における銅、インジウム、ガリウムの化学量論比にしたがって、相応の体積の上述銅・インジウム含有溶液とガリウム含有溶液を取って混合し、銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液を得た。
2.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の製造
上述で得られた銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン前駆溶液を非真空製膜プロセス(スピンコート法、キャスト法、印刷法、プリント法など)で基板に適用して銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン前駆薄膜を製造し、前駆薄膜を低温(室温〜80℃)で乾燥した後、高温(250℃〜650℃)での急速アニールを経て銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜を形成させた。
3.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の特徴付け
(a)物質相の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
(b)電気学性能の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
(c)光学性能の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
(d)微構造の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
4.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池装置の製造は実施例1と同様で、測定結果は実施例1と近似である。
1.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製
(a)銅・セレン含有溶液の調製
塩化第一銅CuClを1mmol取り、エチレンジアミンとドデシルメルカプタンとN,N−ジメチルホルムアミドの混合溶媒2〜16mlにいれ、エチレンジアミンとドデシルメルカプタンとN,N−ジメチルホルムアミドの体積比は1〜8:1〜3:1〜6で、十分に撹拌して清澄の銅含有溶液を得た。セレンSeを2〜6mmol取り、エチレンジアミン4〜16mlにいれ、80℃で十分に撹拌して還流し、清澄のエチレンジアミン・セレン溶液を得た。得られたエチレンジアミンセレン溶液を撹拌ながら上述の銅含有溶液に入れ、銅・セレン含有溶液を得た。
(b)インジウム含有溶液の調製
三ヨウ化インジウムInIを1mmol取り、エタノールとイソプロパノールの混合溶媒2〜16mlにいれ、エタノールとイソプロパノールの体積比は1〜3:1〜6で、十分に撹拌して清澄のインジウム含有溶液を得た。
(c)ガリウム含有溶液の調製
三ヨウ化ガリウムGaIを1mmol取り、エタノールとイソプロパノールの混合溶媒2〜16mlにいれ、エタノールとイソプロパノールの体積比は1〜3:1〜6で、十分に撹拌して清澄のガリウム含有溶液を得た。
(d)銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製
銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製方法は実施例1と同様である。
2.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の製造
銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の製造方法は実施例1と同様である。
3.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の特徴付け
(a)物質相の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
(b)電気学性能の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
(c)光学性能の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
(d)微構造の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
4.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池装置の製造は実施例1と同様で、測定結果は実施例1と近似である。
1.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製
(a)銅含有溶液の調製
塩化第一銅CuClを1mmol取り、エチレンジアミンとドデシルメルカプタンとN,N−ジメチルホルムアミドの混合溶媒2〜16mlにいれ、エチレンジアミンとドデシルメルカプタンとN,N−ジメチルホルムアミドの体積比は1〜8:1〜3:1〜6で、十分に撹拌して清澄の銅含有溶液を得た。セレンSeを2〜6mmol取り、ジメチルヒドラジン4〜16mlにいれ、十分に撹拌して清澄のジメチルヒドラジン・セレン溶液を得た。得られたジメチルヒドラジンセレン溶液を撹拌ながら上述の銅含有溶液に入れ、銅・セレン含有溶液を得た。
(b)インジウム・ガリウム含有溶液の調製
三ヨウ化インジウム・ガリウム(In,Ga)Iを1mmol取り、エタノールとイソプロパノールの混合溶媒2〜16mlにいれ、エタノールとイソプロパノールの体積比は1〜3:1〜6で、十分に撹拌して清澄のインジウム含有溶液を得た。
(c)銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製
銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製方法は実施例1と同様である。
2.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の製造
銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の製造方法は実施例1と同様である。
3.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の特徴付け
(a)物質相の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
(b)電気学性能の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
(c)光学性能の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
(d)微構造の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
4.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池装置の製造は実施例1と同様で、測定結果は実施例1と近似である。
1.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製
(a)銅含有溶液の調製
硫化銅CuSを1mmol、硫化アンモニウム(NHSを2mmol取り、トリエタノールアミンと水加ヒドラジンとジメチルスルホキシドの混合溶媒2〜16mlにいれ、トリエタノールアミンと水加ヒドラジンとジメチルスルホキシドの体積比は1〜8:1〜3:1〜6で、十分に撹拌して清澄の銅含有溶液を得た。セレンSeを2〜6mmol取り、水加ヒドラジン4〜16mlにいれ、80℃で十分に撹拌して還流し、清澄の水加ヒドラジン・セレン溶液を得た。得られた水加ヒドラジンセレン溶液を撹拌ながら上述の銅含有溶液に入れ、銅・セレン含有溶液を得た。
(b)インジウム・ガリウム含有溶液の調製
三ヨウ化インジウム・ガリウム(In,Ga)Iを1mmol取り、エタノールとイソプロパノールの混合溶媒2〜16mlにいれ、エタノールとイソプロパノールの体積比は1〜3:1〜6で、十分に撹拌して清澄のインジウム・ガリウム含有溶液を得た。
(c)銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製
銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製方法は実施例1と同様である。
2.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の製造
銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の製造方法は実施例1と同様である。
3.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の特徴付け
(a)物質相の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
(b)電気学性能の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
(c)光学性能の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
(d)微構造の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
4.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池装置の製造は実施例1と同様で、測定結果は実施例1と近似である。
1.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製
(a)銅含有溶液の調製
二セレン化銅インジウムCuInSeを1mmol、硫化アンモニウム(NHSを2mmol取り、エチレンジアミンと無水ヒドラジンとジメチルスルホキシドの混合溶媒2〜16mlにいれ、エチレンジアミンと無水ヒドラジンとジメチルスルホキシドの体積比は1〜3:1〜8:1〜6で、低温で十分に撹拌し、孔径0.2μmのフィルターでろ過した後、清澄の銅含有溶液を得た。
(b)インジウム・ガリウム含有溶液の調製
三セレン化二インジウム・ガリウム(In,Ga)Seを1mmol取り、エチレンジアミンと無水ヒドラジンの混合溶媒2〜16mlにいれ、エチレンジアミンと無水ヒドラジンの体積比は1〜3:1〜6で、十分に撹拌して清澄のインジウム・ガリウム含有溶液を得た。
(c)銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製
銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の前駆溶液の調製方法は実施例1と同様である。
2.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の製造
銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の製造方法は実施例1と同様である。
3.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜の特徴付け
(a)物質相の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
(b)電気学性能の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
(c)光学性能の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
(d)微構造の特徴付け方法は実施例1と同様で、特徴づけ結果は実施例1と近似である。
4.銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池装置の製造は実施例1と同様で、測定結果は実施例1と近似である。

Claims (15)

  1. 非真空液相化学方法を使用して製造するプロセスの工程は、(1) 銅、インジウム、ガリウムの硫黄系化合物或いはハロゲン系化合物と、硫黄、セレンの単体或いはアミン系塩或いはヒドラジン系塩と、を強い配位子を含有する溶媒に溶解させ、且つ溶液調整剤を入れ、安定した銅、インジウム、ガリウム、硫黄、セレンの源溶液を形成させる工程と、(2) 工程(1)で得られた各種の源溶液を、銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層Cu1−xIn1−yGaSe2−z(但し、0≦x≦0.3、0≦y≦1、0≦z≦2)における銅、インジウム、ガリウムの化学量論比になるように、過剰の程度が0〜800%の過剰量の硫黄、セレンと混合して、銅、インジウム、ガリウム、硫黄、セレンを含有する混合溶液を調製する工程と、(3) 工程(2)で調製された混合溶液を各種の非真空液相プロセスにより各種の基板に適用して前駆薄膜とする工程と、(4) 工程(3)で製造された前駆薄膜を、乾燥し、アニールして、目的の銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン化合物薄膜を形成させる工程とであることを特徴とする銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層の製造方法。
  2. 工程(1)における前述の銅、インジウム、ガリウムの硫黄系化合物はMQで、Mは銅で、Qは硫黄、セレン及びテルルのうちの一種又は複数種の組合せであること、或いは
    工程(1)における前述の銅、インジウム、ガリウムの硫黄系化合物はMQで、Mは銅で、Qは硫黄、セレン及びテルルのうちの一種又は複数種の組合せであること、或いは
    工程(1)における前述の銅、インジウム、ガリウムの硫黄系化合物はM’で、M’はインジウム、ガリウムのうちの一種又は二種の組合せで、Qは硫黄、セレン及びテルルのうちの一種又は複数種の組合せであること、或いは
    工程(1)における前述の硫黄系化合物はMM’Qで、Mは銅で、M’はインジウム、ガリウムのうちの一種又は二種の組合せで、Qは硫黄、セレン及びテルルのうちの一種又は複数種の組合せであること、
    を特徴とする請求項1に記載の製造方法。
  3. 工程(1)における前述のハロゲン系化合物はMXで、Mは銅で、Xは塩素、臭素及びヨウ素のうちの一種又は複数種の組合せであること、或いは
    工程(1)における前述の銅、インジウム、ガリウムのハロゲン系化合物はMXで、Mは銅で、Xは塩素、臭素及びヨウ素のうちの一種又は複数種の組合せであること、或いは
    工程(1)における前述の銅、インジウム、ガリウムのハロゲン系化合物はM’Xで、M’はインジウム、ガリウムのうちの一種又は二種の組合せで、Xは塩素、臭素及びヨウ素のうちの一種又は複数種の組合せであること、或いは
    工程(1)における前述の銅、インジウム、ガリウムのハロゲン系化合物はMM’Xで、Mは銅で、M’はインジウム、ガリウムのうちの一種又は二種の組合せで、Xは塩素、臭素及びヨウ素のうちの一種又は複数種の組合せであること、
    を特徴とする請求項1に記載の製造方法。
  4. a)工程(1)における前述の硫黄、セレンのアミン系塩は、硫化水素或いはセレン化水素とN−Rとで形成された各種の塩で、R、R、Rはそれぞれ独立でアリール基、水素基、メチル基、エチル基或いは炭素原子3〜6個のアルキル基を表すこと、あるいは
    b)工程(1)における前述の硫黄、セレンのヒドラジン系塩は、硫化水素或いはセレン化水素とRN−NRとで形成された各種の塩で、R、R、R、Rはそれぞれ独立でアリール基、水素基、メチル基、エチル基或いは炭素原子3〜6個のアルキル基を表すこと、
    を特徴とする請求項1に記載の製造方法。
  5. 工程(1)における前述の強い配位子を含有する溶媒は、水、液体アンモニア、ヒドラジン系化合物RN−NR(ただし、R、R、R、Rはそれぞれ独立でアリール基、水素基、メチル基、エチル基或いは炭素原子3〜6個のアルキル基を表す)、低級アルコール、エタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン、イソプロパノールアミン、ホルムアミド、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、アセトアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、スルホラン、ピロリドンのうちの一種又は複数種の混合物であること
    を特徴とする請求項1に記載の製造方法。
  6. 前述の低級アルコールは、メタノール、エタノール、プロパノール、イソプロパノール、ブタノール、イソブタノール、sec−ブタノール、t−ブタノール、ペンタノール、旋光性ペンタノール、イソペンタノール、sec−ペンタノール、t−ペンタノール、sec−イソペンタノール或いはその組合せであることを特徴とする請求項5に記載の製造方法。
  7. 工程(1)における前述の溶液調整剤は、(1)硫黄族元素、(2)遷移金属、(3)アルカリ金属の硫黄系化合物、(4)アルカリ土類金属の硫黄系化合物、(5)硫黄族元素のアミン系塩、(6)アルカリ金属或いは(7)アルカリ土類金属であること
    を特徴とする請求項1に記載の製造方法。
  8. (a)前述の硫黄族元素は硫黄、セレン及びテルルのうちの一種又は複数種であること、
    (b)前述の遷移金属は、ニッケル、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム及びルテニウムのうちの一種又は複数種の合金或いは混合物であること、
    (c)前述のアルカリ金属の硫黄系化合物はAQで、Aはリチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウム及びセシウムのうちの一種又は複数種で、Qは硫黄、セレン及びテルルのうちの一種又は複数種であること、
    (d)前述のアルカリ土類金属の硫黄系化合物はBQで、Bはマグネシウム、カルシウム、ストロンチウム及びバリウムのうちの一種又は複数種で、Qは硫黄、セレン及びテルルのうちの一種又は複数種であること、
    (e)前述の硫黄族元素のアミン系塩は、硫化水素、セレン化水素或いはテルル化水素とN−Rとで形成された各種の塩のうちの一種又は複数種の混合物で、R、R、Rはそれぞれ独立でアリール基、水素基、メチル基、エチル基、炭素原子3〜6個のアルキル基を表すこと、
    (f)前述のアルカリ金属は、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウム及びセシウムのうちの一種又は複数種の合金或いは混合物であること、或いは
    (g)前述のアルカリ土類金属は、マグネシウム、カルシウム、ストロンチウム及びバリウムのうちの一種又は複数種の合金或いは混合物であること、
    を特徴とする請求項7に記載の製造方法。
  9. 工程(2)において、硫黄或いはセレンの過剰の程度が100%〜400%であることを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
  10. 工程(2)のCu1−xIn1−yGaSe2−z式において、0≦x≦0.3、0.2≦y≦0.4、0≦z≦0.2であることを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
  11. a)工程(3)で前駆薄膜形成させる非真空液相プロセスは、スピンコート法、キャスト法、噴霧堆積法、ディッピング法、スクリーン印刷法、インクジェット印刷法、ドロップキャスティング法、ロールコート法、スロットダイコート法、バーコート法、毛細管コート法、コンマコート法、或いはグラビアコート法であること、或いは
    b)工程(3)における前述の基板は、ポリイミド、シリコンウェハー、非晶質水素化シリコンウェハー、炭化珪素、シリカ、石英、サファイア、ガラス、金属、ダイヤモンドライクカーボン、水素化ダイヤモンドライクカーボン、窒化ガリウム、ヒ化ガリウム、ゲルマニウム、シリコン−ゲルマニウム合金、ITO、炭化ホウ素、窒化ホウ素、窒化珪素、アルミナ、セリア、酸化スズ、チタン酸亜鉛、プラスチックのうちのいずれかであること
    を特徴とする請求項1に記載の製造方法。
  12. 前述の前駆薄膜のアニール温度が50〜850℃であることを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
  13. 前述の前駆薄膜のアニール温度が250〜650℃であることを特徴とする請求項12に記載の製造方法。
  14. 工程(4)で形成された目的の銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン化合物薄膜の厚さが5nm〜5000nmであることを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
  15. 工程(1)における前述の強い配位子を含有する溶媒は、ヒドラジン系化合物R N−NR 、低級アルコール、エタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン、イソプロパノールアミン、ホルムアミド、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、アセトアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミドのうちの一種又は複数種の混合物であること
    を特徴とする請求項1に記載の製造方法。
JP2010540020A 2007-12-29 2008-12-29 銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層の製造方法 Active JP5646342B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200710173785.2 2007-12-29
CNA2007101737852A CN101471394A (zh) 2007-12-29 2007-12-29 铜铟镓硫硒薄膜太阳电池光吸收层的制备方法
PCT/CN2008/073805 WO2009089754A1 (fr) 2007-12-29 2008-12-29 Procédé de préparation d'une couche d'absorption de la lumière d'une pile solaire à film de cuivre-indium-gallium-soufre-sélénium

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2011508439A JP2011508439A (ja) 2011-03-10
JP2011508439A5 JP2011508439A5 (ja) 2011-09-22
JP5646342B2 true JP5646342B2 (ja) 2014-12-24

Family

ID=40828635

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010540020A Active JP5646342B2 (ja) 2007-12-29 2008-12-29 銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層の製造方法

Country Status (8)

Country Link
US (1) US9735297B2 (ja)
EP (1) EP2234168A4 (ja)
JP (1) JP5646342B2 (ja)
KR (1) KR101633388B1 (ja)
CN (2) CN101471394A (ja)
BR (1) BRPI0821501B8 (ja)
RU (1) RU2446510C1 (ja)
WO (1) WO2009089754A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9735297B2 (en) 2007-12-29 2017-08-15 Shanghai Institute Of Ceramics, Chinese Academy Of Sciences Method for preparing light absorption layer of copper-indium-gallium-sulfur-selenium thin film solar cells

Families Citing this family (77)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5511320B2 (ja) * 2008-11-11 2014-06-04 京セラ株式会社 薄膜太陽電池の製法
CN101700873B (zh) * 2009-11-20 2013-03-27 上海交通大学 铜锌锡硒纳米粒子的制备方法
JP5464984B2 (ja) * 2009-11-26 2014-04-09 京セラ株式会社 半導体層の製造方法および光電変換装置の製造方法
US20120280362A1 (en) * 2009-12-18 2012-11-08 The Regents Of The University Of California Simple route for alkali metal incorporation in solution-processed crystalline semiconductors
CN102130202A (zh) * 2010-01-14 2011-07-20 正峰新能源股份有限公司 非真空形成铜铟镓硫硒吸收层及硫化镉缓冲层的方法及系统
CN102652367B (zh) * 2010-01-29 2015-01-28 京瓷株式会社 半导体层的制造方法,光电转换装置的制造方法及半导体层形成用溶液
CN101820030A (zh) * 2010-02-11 2010-09-01 昆山正富机械工业有限公司 非真空制作铜铟镓硒和/或硫光吸收层的方法
CN101820029A (zh) * 2010-02-11 2010-09-01 昆山正富机械工业有限公司 非真空制作铜铟镓硒和/或硫的太阳能电池
CN101818375A (zh) * 2010-02-11 2010-09-01 昆山正富机械工业有限公司 以非真空工艺制作铜铟镓硒(硫)光吸收层的方法
DE102011004652A1 (de) * 2010-02-26 2011-09-01 Electronics And Telecommunications Research Institute Verfahren zur Herstellung einer lichtabsorbierenden Dünnfilmschicht und ein dieses verwendendes Verfahren zur Herstellung einer Dünnfilm-Solarzelle
CN101771106B (zh) * 2010-03-05 2011-10-05 中国科学院上海硅酸盐研究所 铜锌镉锡硫硒薄膜太阳电池光吸收层的制备方法
CN101789469B (zh) * 2010-03-05 2013-01-02 中国科学院上海硅酸盐研究所 铜铟镓硒硫薄膜太阳电池光吸收层的制备方法
CN102024858B (zh) * 2010-04-19 2013-12-04 福建欧德生光电科技有限公司 油墨、薄膜太阳能电池及其制造方法
CN101885071B (zh) * 2010-05-28 2012-04-25 电子科技大学 一种铜锌锡硒纳米粉末材料的制备方法
CN101958369B (zh) * 2010-07-27 2011-12-28 上海太阳能电池研究与发展中心 一种铜铟镓硒薄膜材料的制备方法
CN101944552B (zh) * 2010-07-30 2012-02-29 合肥工业大学 一种太阳能电池光吸收层材料cigs薄膜的制备方法
US8282995B2 (en) 2010-09-30 2012-10-09 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Selenium/group 1b/group 3a ink and methods of making and using same
WO2012044980A2 (en) * 2010-10-01 2012-04-05 Applied Materials, Inc. Gallium arsenide based materials used in thin film transistor applications
KR101116705B1 (ko) * 2010-10-06 2012-03-13 한국에너지기술연구원 Cigs 박막의 용액상 제조방법 및 이에 의해 제조된 cigs 박막
US20120100663A1 (en) * 2010-10-26 2012-04-26 International Business Machines Corporation Fabrication of CuZnSn(S,Se) Thin Film Solar Cell with Valve Controlled S and Se
CN102024878A (zh) * 2010-11-03 2011-04-20 上海联孚新能源科技有限公司 一种太阳能电池用铜铟镓硫薄膜的制备方法
US20130264526A1 (en) * 2010-12-03 2013-10-10 E I Du Pont De Nemours And Company Molecular precursors and processes for preparing copper indium gallium sulfide/selenide coatings and films
TWI531078B (zh) * 2010-12-29 2016-04-21 友達光電股份有限公司 太陽電池的製造方法
KR101124226B1 (ko) * 2011-02-15 2012-03-27 한국화학연구원 전구체를 이용한 cis 박막의 제조방법
JP5774727B2 (ja) * 2011-02-18 2015-09-09 ユニバーシティ オブ ワシントン スルー イッツ センター フォー コマーシャリゼーション I2−ii−iv−vi4及びi2−(ii、iv)−iv−vi4半導体フィルムを含む半導体フィルムを形成する方法
WO2013019299A2 (en) * 2011-05-11 2013-02-07 Qd Vision, Inc. Method for processing devices including quantum dots and devices
TW201318967A (zh) * 2011-06-10 2013-05-16 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd 聯胺配位Cu硫屬化物錯合物及其製造方法,光吸收層形成用塗佈液,以及光吸收層形成用塗佈液之製造方法
US8268270B1 (en) * 2011-06-10 2012-09-18 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Coating solution for forming a light-absorbing layer of a chalcopyrite solar cell, method of producing a light-absorbing layer of a chalcopyrite solar cell, method of producing a chalcopyrite solar cell and method of producing a coating solution for forming a light-absorbing layer of a chalcopyrite solar cell
CN102347401A (zh) * 2011-09-02 2012-02-08 普乐新能源(蚌埠)有限公司 太阳能电池铜铟镓硒膜层的制备方法
JP5739300B2 (ja) * 2011-10-07 2015-06-24 Dowaエレクトロニクス株式会社 セレン化インジウム粒子粉末およびその製造方法
RU2492938C1 (ru) * 2012-02-15 2013-09-20 Микаил Гаджимагомедович Вердиев Способ нанесения пленок веществ на различные подложки
WO2013125818A1 (ko) * 2012-02-24 2013-08-29 영남대학교 산학협력단 태양 전지 제조 장치 및 태양 전지 제조 방법
KR101326770B1 (ko) * 2012-02-24 2013-11-20 영남대학교 산학협력단 태양 전지 제조 방법
KR101326782B1 (ko) * 2012-02-24 2013-11-08 영남대학교 산학협력단 태양 전지 제조 장치
KR101298026B1 (ko) * 2012-04-13 2013-08-26 한국화학연구원 태양전지 광활성층의 제조방법
US9082619B2 (en) 2012-07-09 2015-07-14 International Solar Electric Technology, Inc. Methods and apparatuses for forming semiconductor films
CN102790130B (zh) * 2012-08-09 2015-08-05 中国科学院长春应用化学研究所 一种吸光层薄膜的制备方法
KR101388451B1 (ko) * 2012-08-10 2014-04-24 한국에너지기술연구원 탄소층이 감소한 ci(g)s계 박막의 제조방법, 이에 의해 제조된 박막 및 이를 포함하는 태양전지
US8992874B2 (en) * 2012-09-12 2015-03-31 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Method of producing hydrazine-coordinated Cu chalcogenide complex
US20140117293A1 (en) * 2012-10-29 2014-05-01 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Coating solution for forming light-absorbing layer, and method of producing coating solution for forming light-absorbing layer
CN102983222A (zh) * 2012-12-06 2013-03-20 许昌天地和光能源有限公司 具有梯度带隙分布的吸收层制备方法
TWI495740B (zh) * 2012-12-14 2015-08-11 Nat Inst Chung Shan Science & Technology 軟性太陽能電池光吸收層之真空製程設備及其製造方法
KR101450426B1 (ko) * 2013-01-09 2014-10-14 연세대학교 산학협력단 칼코겐화물 흡수층용 나트륨 도핑 용액 및 이를 이용한 박막태양전지 제조방법
ITUD20130030A1 (it) * 2013-03-01 2014-09-02 Sumeet Kumar Nanomateriali compositi ibridi
KR101590224B1 (ko) * 2013-04-11 2016-01-29 제일모직주식회사 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극
US9105798B2 (en) * 2013-05-14 2015-08-11 Sun Harmonics, Ltd Preparation of CIGS absorber layers using coated semiconductor nanoparticle and nanowire networks
CN105308760B (zh) * 2013-06-03 2019-06-18 东京应化工业株式会社 络合物溶液、光吸收层及太阳能电池的制造方法
CN103325886B (zh) * 2013-06-09 2017-07-18 徐东 一种具有能带梯度分布的铜铟铝硒(cias)薄膜的制备方法
PT3016149T (pt) * 2013-08-01 2021-05-06 Lg Chemical Ltd Precursor em fase de agregado para produzir uma camada de absorção de luz de uma célula solar e respetivo método de produção
KR102164628B1 (ko) * 2013-08-05 2020-10-13 삼성전자주식회사 나노 결정 합성 방법
US8999746B2 (en) 2013-08-08 2015-04-07 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Method of forming metal chalcogenide dispersion, metal chalcogenide dispersion, method of producing light absorbing layer of solar cell, method of producing solar cell
CN103602982A (zh) * 2013-11-21 2014-02-26 中国科学院上海硅酸盐研究所 铜铟镓硫硒薄膜太阳电池光吸收层的非真空制备方法
CN103633182B (zh) * 2013-11-27 2017-04-12 上海富际新能源科技有限公司 铜铟镓硫硒敏化半导体阳极太阳电池及其制备方法
KR101462498B1 (ko) * 2013-12-18 2014-11-19 한국생산기술연구원 Cigs 흡수층 제조방법, 이를 이용한 박막 태양전지 제조방법 및 박막 태양전지
CN103928575A (zh) * 2014-04-29 2014-07-16 中国科学院长春应用化学研究所 一种吸光层薄膜、其制备方法和铜基薄膜太阳能电池
CN104064626B (zh) * 2014-06-25 2017-11-17 青岛科技大学 一种循环浸渍制备Cu2ZnSn(S1‑x,Sex)4纳米晶薄膜的方法
CN104037248A (zh) * 2014-07-08 2014-09-10 厦门大学 一种铜铟镓硫硒薄膜材料的制备方法
KR101532883B1 (ko) * 2014-09-02 2015-07-02 성균관대학교산학협력단 전이금속 디칼코게나이드 박막의 형성 방법
JP6554332B2 (ja) * 2014-10-30 2019-07-31 東京応化工業株式会社 均一系塗布液及びその製造方法、太陽電池用光吸収層及びその製造方法、並びに太陽電池及びその製造方法
WO2016068155A1 (ja) * 2014-10-30 2016-05-06 東京応化工業株式会社 均一系塗布液及びその製造方法、太陽電池用光吸収層及びその製造方法、並びに太陽電池及びその製造方法
TW201621068A (zh) * 2014-12-09 2016-06-16 新能光電科技股份有限公司 銅銦鎵硒之表面硫化的製程方法
KR101793640B1 (ko) 2015-09-24 2017-11-20 재단법인대구경북과학기술원 인듐을 이용한 태양전지용 czts계 흡수층 박막, 이의 제조방법 및 이를 이용한 태양전지
CN106340545B (zh) * 2016-09-14 2018-06-12 南京邮电大学 Cis及cigs薄膜太阳能电池吸光层的制备及新溶剂在其中的应用
TWI619614B (zh) * 2017-05-04 2018-04-01 施權峰 太陽能吸收層及其製作方法
CN107195697B (zh) * 2017-06-01 2019-05-03 中南大学 一种铜钡(锶/钙)锡硫(硒)薄膜的制备方法
RU2660408C1 (ru) * 2017-08-11 2018-07-06 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом") Способ изготовления светопоглощающих элементов оптических систем на титановых подложках
JP2019087745A (ja) * 2017-11-08 2019-06-06 東京応化工業株式会社 均一系塗布液及びその製造方法
KR102031481B1 (ko) * 2018-02-06 2019-10-11 중앙대학교 산학협력단 금속-칼코겐 박막이 구비된 전자 부재의 제조 방법 및 이에 의해 제조된 금속-칼코겐 박막이 구비된 전자 부재를 포함하는 전자 소자
RU2682836C1 (ru) 2018-05-29 2019-03-21 Общество с ограниченной ответственностью "Солартек" Способ изготовления светопроницаемого тонкопленочного солнечного модуля на основе халькопирита
CN109817734A (zh) * 2018-12-26 2019-05-28 北京铂阳顶荣光伏科技有限公司 一种铜铟镓硒薄膜太阳能电池用吸收层的制备方法
CN110379872A (zh) * 2019-05-31 2019-10-25 北京铂阳顶荣光伏科技有限公司 铜铟镓硒太阳能电池吸收层的制备方法及太阳能电池
US11018275B2 (en) 2019-10-15 2021-05-25 Applied Materials, Inc. Method of creating CIGS photodiode for image sensor applications
CN110752272B (zh) * 2019-10-18 2021-07-06 信阳师范学院 一种提高柔性铜铟镓硒薄膜太阳能电池效率的方法
CN111569856B (zh) * 2020-04-03 2023-06-09 清华-伯克利深圳学院筹备办公室 In-Ga2O3复合光催化剂及其制备方法和应用
CN112756604B (zh) * 2020-12-22 2021-11-05 吉林大学 一种类地幔条件烧结聚晶金刚石复合片及其制备方法
RU2764711C1 (ru) * 2021-06-17 2022-01-19 Автономная некоммерческая образовательная организация высшего образования "Сколковский институт науки и технологий" (Сколковский институт науки и технологий) Электрон-селективный слой на основе оксида индия, легированного алюминием, способ его изготовления и фотовольтаическое устройство на его основе
CN113571406B (zh) * 2021-07-26 2023-06-27 福建师范大学 一种液相硒化制备硒硫化锑薄膜的方法

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8715082D0 (en) * 1987-06-26 1987-08-05 Prutec Ltd Solar cells
DE3887650T2 (de) * 1987-11-27 1994-08-04 Siemens Solar Ind Lp Herstellungsverfahren einer Dünnschichtsonnenzelle.
JPH01152766A (ja) * 1987-12-10 1989-06-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd セレン化インジウム銅の製造方法
JPH02180715A (ja) * 1988-12-30 1990-07-13 Dowa Mining Co Ltd 1 3 6族化合物の製造方法
JPH0789719A (ja) * 1993-09-20 1995-04-04 Hitachi Maxell Ltd 銅インジウム硫化物またはセレン化物の製造法
JPH08316515A (ja) * 1995-05-22 1996-11-29 Yazaki Corp 薄膜太陽電池の製造方法
JP3244408B2 (ja) * 1995-09-13 2002-01-07 松下電器産業株式会社 薄膜太陽電池及びその製造方法
US5730852A (en) * 1995-09-25 1998-03-24 Davis, Joseph & Negley Preparation of cuxinygazsen (X=0-2, Y=0-2, Z=0-2, N=0-3) precursor films by electrodeposition for fabricating high efficiency solar cells
US6126740A (en) * 1995-09-29 2000-10-03 Midwest Research Institute Solution synthesis of mixed-metal chalcogenide nanoparticles and spray deposition of precursor films
US6268014B1 (en) 1997-10-02 2001-07-31 Chris Eberspacher Method for forming solar cell materials from particulars
US6127202A (en) 1998-07-02 2000-10-03 International Solar Electronic Technology, Inc. Oxide-based method of making compound semiconductor films and making related electronic devices
JP4982641B2 (ja) * 2000-04-12 2012-07-25 株式会社林原 半導体層、これを用いる太陽電池、及びそれらの製造方法並びに用途
EP1428243A4 (en) * 2001-04-16 2008-05-07 Bulent M Basol METHOD OF FORMING A THIN LAYER OF SEMICONDUCTOR COMPOUND FOR THE MANUFACTURE OF AN ELECTRONIC DEVICE, AND THIN LAYER PRODUCED THEREBY
RU2212080C2 (ru) * 2001-11-16 2003-09-10 Государственное научное учреждение "Институт электроники НАН Беларуси" СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ХАЛЬКОПИРИТНЫХ CuInSe2, Cu (In, Ga)Se2, CuGaSe2 ТОНКИХ ПЛЕНОК
US6992202B1 (en) * 2002-10-31 2006-01-31 Ohio Aerospace Institute Single-source precursors for ternary chalcopyrite materials, and methods of making and using the same
US6875661B2 (en) * 2003-07-10 2005-04-05 International Business Machines Corporation Solution deposition of chalcogenide films
CN100490205C (zh) * 2003-07-10 2009-05-20 国际商业机器公司 淀积金属硫族化物膜的方法和制备场效应晶体管的方法
CN1809932A (zh) * 2003-12-05 2006-07-26 松下电器产业株式会社 复合半导体膜、太阳能电池及其制备方法
US7306823B2 (en) * 2004-09-18 2007-12-11 Nanosolar, Inc. Coated nanoparticles and quantum dots for solution-based fabrication of photovoltaic cells
US20070163383A1 (en) * 2004-02-19 2007-07-19 Nanosolar, Inc. High-throughput printing of nanostructured semiconductor precursor layer
US7736940B2 (en) * 2004-03-15 2010-06-15 Solopower, Inc. Technique and apparatus for depositing layers of semiconductors for solar cell and module fabrication
JP2006049768A (ja) * 2004-08-09 2006-02-16 Showa Shell Sekiyu Kk Cis系化合物半導体薄膜太陽電池及び該太陽電池の光吸収層の製造方法
US8679587B2 (en) * 2005-11-29 2014-03-25 State of Oregon acting by and through the State Board of Higher Education action on Behalf of Oregon State University Solution deposition of inorganic materials and electronic devices made comprising the inorganic materials
ES2373147T3 (es) * 2006-01-12 2012-01-31 Heliovolt Corporation Aparato para fabricar estructuras de dominios de fase segregados, de manera controlada.
WO2007101136A2 (en) * 2006-02-23 2007-09-07 Van Duren Jeroen K J High-throughput formation of semiconductor layer by use of chalcogen and inter-metallic material
US8071419B2 (en) * 2006-06-12 2011-12-06 Nanosolar, Inc. Thin-film devices formed from solid particles
KR101030780B1 (ko) * 2007-11-14 2011-04-27 성균관대학교산학협력단 Ⅰ-ⅲ-ⅵ2 나노입자의 제조방법 및 다결정 광흡수층박막의 제조방법
CN101471394A (zh) 2007-12-29 2009-07-01 中国科学院上海硅酸盐研究所 铜铟镓硫硒薄膜太阳电池光吸收层的制备方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9735297B2 (en) 2007-12-29 2017-08-15 Shanghai Institute Of Ceramics, Chinese Academy Of Sciences Method for preparing light absorption layer of copper-indium-gallium-sulfur-selenium thin film solar cells

Also Published As

Publication number Publication date
EP2234168A4 (en) 2015-04-29
JP2011508439A (ja) 2011-03-10
BRPI0821501A2 (pt) 2015-06-16
KR101633388B1 (ko) 2016-06-24
WO2009089754A1 (fr) 2009-07-23
RU2010131761A (ru) 2012-02-10
CN101960610B (zh) 2012-04-11
RU2446510C1 (ru) 2012-03-27
US9735297B2 (en) 2017-08-15
US20110008927A1 (en) 2011-01-13
EP2234168A1 (en) 2010-09-29
BRPI0821501B8 (pt) 2022-08-23
BRPI0821501B1 (pt) 2019-02-12
CN101960610A (zh) 2011-01-26
KR20100099753A (ko) 2010-09-13
CN101471394A (zh) 2009-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5646342B2 (ja) 銅・インジウム・ガリウム・硫黄・セレン薄膜太陽電池の光吸収層の製造方法
McCarthy et al. Solution processing of chalcogenide materials using thiol–amine “alkahest” solvent systems
US8470636B2 (en) Aqueous process for producing crystalline copper chalcogenide nanoparticles, the nanoparticles so-produced, and inks and coated substrates incorporating the nanoparticles
WO2012023519A1 (ja) 化合物半導体薄膜作製用インク、そのインクを用いて得た化合物半導体薄膜、その化合物半導体薄膜を備える太陽電池、およびその太陽電池の製造方法
TWI609840B (zh) 用於薄膜光伏打裝置之無機鹽-奈米粒子墨水及相關方法
CN102603201A (zh) 一种硒化亚铜薄膜的制备方法
JP5874645B2 (ja) 化合物半導体薄膜太陽電池及びその製造方法
KR101749137B1 (ko) 태양광 전지용 나노결정질 구리 인듐 디셀레니드 (cis) 및 잉크-기반 합금 흡수재층
Avellaneda et al. Synthesis of Cu2SnS3, Cu3SnS4, and Cu4SnS4 thin films by sulfurization of SnS-Cu layers at a selected temperature and/or Cu layers thickness
TW201300322A (zh) 銅銦鎵硫硒薄膜太陽電池光吸收層的製備方法
KR101311030B1 (ko) Czts 박막용 하이브리드 잉크
JP2019024106A (ja) 銅リッチな銅インジウム(ガリウム)ジセレニド/ジスルフィドの調製
Chen et al. Molecular-solution printing of Cu2ZnSnS4 (CZTS) thin film
JP2011099059A (ja) 化合物半導体薄膜作製用インク、そのインクを用いて得た化合物半導体薄膜、その化合物半導体薄膜を備える太陽電池、及びその太陽電池の製造方法
TWI485872B (zh) 漿料與太陽能電池之吸光層的形成方法
Chen et al. Synthesis and selenization of Cu 2 SnSe 3 nanocrystals by a novel solution method

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110801

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110801

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130206

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130219

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130517

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130524

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130618

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130625

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130718

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130725

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130807

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140304

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20140603

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20140610

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20140703

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20140711

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20140801

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20140808

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20141007

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20141105

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5646342

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D03

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250