JP5295360B2 - 記憶装置試験システム内での記憶装置の移動 - Google Patents

Description

本開示は、記憶装置試験システム内で記憶装置を移すことに関する。

ディスクドライブ製造業者は、典型的には、一まとまりの必要条件の遵守について、製造されたディスクドライブを試験する。大量のディスクドライブを連続的にまたは並行して試験するための試験装置および技法が存在する。製造業者は、大量のディスクドライブを同時にバッチ式で試験する傾向がある。ディスクドライブ試験システムは、典型的には、試験のためにディスクドライブを受ける複数の試験用スロットを有する１以上の架台を具える。

そのディスクドライブのすぐ周りの試験環境は厳密に調節される。その試験環境の中の最小の温度変動が、正確な試験条件およびそのディスクドライブの安全性にとって非常に重要である。最新世代のディスクドライブはより高容量、より速い回転速度およびより小さいヘッドクリアランスを有するので、それらは振動により敏感である。過剰の振動は、試験結果の信頼性および電気的接続の完全性に影響を及ぼす可能性がある。試験条件下では、ドライブ自体が、支持構造体または隣接するユニットへの治具を通して振動を伝搬させる可能性がある。この振動の「クロストーキング」は、振動の外部供給源と一緒に、バンプエラー（ｂｕｍｐ ｅｒｒｏｒｓ）、ヘッドスラップ（ｈｅａｄ ｓｌａｐ）および回転非同期振れ（ｎｏｎ−ｒｅｐｅｔｉｔｉｖｅ ｒｕｎ−ｏｕｔ、ＮＲＲＯ）に寄与し、これはより低い試験歩留まりおよび製造原価の上昇を生じる可能性がある。

現在のディスクドライブ試験システムは、オペレータ、ロボットアーム、またはコンベヤーベルトを使用して、試験のためにその試験システムの中へと投入するための搬送位置までディスクドライブを個々に供給する。試験システムのロボットアームは、個々に、その搬送位置からディスクドライブを回収し、試験のためにそれらを試験のためにスロットの中に投入する。

１つの態様では、記憶装置試験システム内で記憶装置を移す方法は、自動運搬装置（例えばロボットアーム、ガントリーシステム、または多軸リニアアクチュエータ）を作動させて、試験のために提示された複数の記憶装置を回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて、各回収された記憶装置を当該記憶装置試験システムのそれぞれの試験用スロットへと届け、各記憶装置をそれぞれの試験用スロットに挿入する工程と、を含む。

本開示のこの態様の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでいてもよい。いくつかの実施態様では、当該方法は、この自動運搬装置を作動させて複数の記憶装置運搬装置を回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて、記憶装置の各々をそれぞれの記憶装置運搬装置を用いて運ぶことにより、試験のために提示された記憶装置を回収する工程と、自動運搬装置を作動させて各々が記憶装置のうちの１つを運ぶ記憶装置運搬装置をそれぞれの試験用スロットへと届ける工程と、を含む。いくつかの例では、この記憶装置運搬装置の各々はそれぞれの試験用スロットの中へと挿入され、運ばれた記憶装置を当該記憶装置試験システムのそれぞれのコネクタと係合させる。挿入された記憶装置運搬装置は、そのそれぞれの試験用スロットの閉鎖をもたらす。

いくつかの実施態様では、この記憶装置は当該記憶装置試験システムに提示された少なくとも１つの記憶装置運搬器の中に存在する。この自動運搬装置は、記憶装置運搬装置を記憶装置の下に配置し、記憶装置運搬器の記憶装置支持体から記憶装置を持ち上げ、そして記憶装置運搬装置の中の記憶装置を記憶装置運搬器から離して運ぶことにより、記憶装置の各々を少なくとも１つの記憶装置運搬器から対応する記憶装置運搬装置を用いて回収する。

この自動運搬装置は、好ましくは、複数の記憶装置を運搬するように構成されているマニピュレータを具える。例えば、自動運搬装置としてのロボットアームの場合、このマニピュレータはロボットアームの遠位端に固定される。いくつかの例では、このマニピュレータは、マニピュレータ本体の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１および第２のコネクタを具える。このコネクタは記憶装置運搬装置に解放可能に取り付くように構成されている。

別の態様では、記憶装置試験システム内で記憶装置を移す方法は、マニピュレータを有する自動運搬装置を作動させて、試験のために提示された未試験の記憶装置を回収する工程を含む。このマニピュレータは複数の記憶装置を運搬するように構成されている。当該方法は、自動運搬装置を作動させて、回収された未試験の記憶装置を、当該記憶装置試験システムのそれぞれの試験用スロットへと届け、試験のためにこの未試験の記憶装置をそのそれぞれの試験用スロットに挿入する工程を含む。

本開示のこの態様の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでいてもよい。いくつかの実施態様では、このマニピュレータは、マニピュレータ本体の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１および第２のコネクタを具える。しかしながら、いくつかの例では、この第１および第２のコネクタは互いから１８０°で配置される。このコネクタは、記憶装置運搬装置に解放可能に取り付くように構成されている。

いくつかの例では、当該方法は、自動運搬装置を作動させて記憶装置運搬装置を回収する工程と、自動運搬装置を作動させて、記憶装置運搬装置を用いて未試験の記憶装置を運ぶことにより試験のために提示された未試験の記憶装置を回収する工程と、自動運搬装置を作動させて、記憶装置運搬装置をそれぞれの試験用スロットへと届ける工程とを含む。この記憶装置運搬装置は、試験用スロットの中へと挿入され、運ばれた未試験の記憶装置を当該記憶装置試験システムのそれぞれのコネクタと係合させる。この挿入された記憶装置運搬装置は、そのそれぞれの試験用スロットの閉鎖をもたらす。

いくつかの実施態様では、未試験の記憶装置は記憶装置試験システムに提示された記憶装置運搬器の中に存在する。この自動運搬装置は、記憶装置運搬装置を未試験の記憶装置の下に配置し、記憶装置運搬器の記憶装置支持体からこの未試験の記憶装置を持ち上げ、そして記憶装置運搬装置の中の未試験の記憶装置を記憶装置運搬器から離して運ぶことにより、未試験の記憶装置を記憶装置運搬器から対応する記憶装置運搬装置を用いて回収する。

いくつかの実施態様では、当該方法は、自動運搬装置およびマニピュレータを作動させて、試験された記憶装置をそのそれぞれの試験用スロットから回収する工程と、試験された記憶装置を届け先記憶装置運搬器などの届け先場所へと運ぶ工程とを含む。当該方法は、自動運搬装置を作動させて、マニピュレータを作動させて、試験された記憶装置のそれぞれの記憶装置運搬装置を係合し、試験された記憶装置をそのそれぞれの記憶装置運搬装置を用いて届け先場所へと運ぶことにより、試験された記憶装置をそのそれぞれの試験用スロットから回収する工程を含んでもよい。当該方法は、自動運搬装置を作動させて、そのそれぞれの記憶装置運搬装置によって運ばれる記憶装置を届け先記憶装置運搬器の置き場へと届ける工程を含んでもよい。

別の態様では、記憶装置試験システム内で記憶装置を移す方法は、マニピュレータを有する自動運搬装置を作動させて、当該記憶装置試験システムの第１の試験用スロットの中に収容された第１の記憶装置を回収する工程を含む。このマニピュレータは、複数の記憶装置を運搬するように構成されている。当該方法は、自動運搬装置を作動させて、回収された第１の記憶装置を第２の試験用スロットへと届ける工程と、自動運搬装置を作動させて、第１の記憶装置を運びつつ、第２の記憶装置を第２の試験用スロットから回収する工程と、自動運搬装置を作動させて、第２の記憶装置を運びつつ、第１の記憶装置を第２の試験用スロットの中へと挿入する工程とを含む。

本開示のこの態様の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでいてもよい。いくつかの実施態様では、当該方法は、自動運搬装置を作動させて、回収された第２の記憶装置を第１の試験用スロットへと届ける工程と、自動運搬装置を作動させて、第２の記憶装置を第１の試験用スロットの中へと挿入する工程とを含む。このマニピュレータは、マニピュレータ本体と、このマニピュレータ本体の上に配置された第１および第２のコネクタとを具える。このコネクタは、互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられており、各々、記憶装置運搬装置に解放可能に取り付くように構成されている。このマニピュレータは、対応する解放可能に取り付けられた記憶装置運搬装置の中に第１および第２の記憶装置を運搬する。記憶装置が各々対応する記憶装置運搬装置の中で運ばれる例では、各記憶装置を試験用スロットのうちの１つの中へと挿入する工程は、その対応する記憶装置運搬装置をそれぞれの試験用スロットの中へと挿入する工程と、運ばれた記憶装置を当該記憶装置試験システムのそれぞれのコネクタと係合する工程であって、挿入された記憶装置運搬装置はそのそれぞれの試験用スロットの閉鎖をもたらす工程と、を含む。

さらに別の態様では、記憶装置試験システムは、自動運搬装置と、この自動運搬装置によるアクセスのためのこの自動運搬装置の周りの少なくとも１つの架台と、各架台によって収容された複数の試験用スロットを具える。各試験用スロットは、試験のために記憶装置を受けるように構成されている。自動運搬装置によるアクセスのために並べられた搬送ステーションは、試験のために複数の記憶装置を提示する。自動運搬装置に取り付けられたマニピュレータは、複数の記憶装置を運ぶように構成されている。

本開示のこの態様の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでいてもよい。いくつかの実施態様では、このマニピュレータは、複数の記憶装置運搬装置に解放可能に取り付くように構成されている。このマニピュレータは、マニピュレータ本体の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１および第２のコネクタを具える。このコネクタは、記憶装置運搬装置に解放可能に取り付くように構成されている。

いくつかの例では、搬送ステーションは、当該自動運搬装置によるサービス提供のために、複数の記憶装置運搬器を提示位置で受けて支持するように構成された搬送ステーション筐体を具える。各記憶装置運搬器は、各々記憶装置を収容するように構成された複数の記憶装置置き場を画定する運搬器本体を具える。

本開示の１以上の実施態様の詳細は、添付の図面および以下の説明で示される。他の特徴、対象、および利点は、説明および図面から、ならびに特許請求の範囲から明らかとなろう。

記憶装置試験システムおよび搬送ステーションの斜視図である。 記憶装置試験システムおよび搬送ステーションの上面図である。 記憶装置試験システムおよび搬送ステーションの斜視図である。 記憶装置試験システムの試験用スロットの中へと挿入されている記憶装置の斜視図である。 記憶装置運搬装置の斜視図である。 記憶装置を運ぶ記憶装置運搬装置の斜視図である。 記憶装置を運ぶ記憶装置運搬装置の底面斜視図である。 マニピュレータが遠位端に固定されているロボットアームの斜視図である。 ロボットアームのためのマニピュレータの上方正面斜視図である。 図９に示されるマニピュレータの上方後面斜視図である。 ロボットアームのためのマニピュレータの上方正面斜視図である。 投入位置にある記憶装置運搬器の斜視図である。 提示位置にある記憶装置運搬器の斜視図である。 搬送ステーションの斜視図である。 搬送ステーションの運搬器提示支持システム上に配置するための提示位置にある運搬器の斜視図である。

種々の図面における同じ参照記号は、同じ要素を示す。

記憶装置試験システムにおける記憶装置のバルク供給は、とりわけ記憶装置試験システムの処理量および効率の増加を与えることにより、記憶装置の手作業による個々の供給よりも有利である。詳細に論じられることになろうが、複数の記憶装置を保持する複数の記憶装置運搬器（運搬器とも呼ばれる）を記憶装置試験システムに提示することは、とりわけ現在のシステムに勝って連続的な記憶装置試験、複数の記憶装置運搬器の中でのディスクの並べ替え、最小のユーザの介入および効率の増加を可能にする。記憶装置運搬器の中での記憶装置のバルク供給は、（例えば、固定式のコンベヤーを別経路に変えることに対して、記憶装置運搬器または記憶装置運搬器を運ぶ手押し車もしくは台車の方向を簡単に変える能力を提供することにより）工場の作業現場の融通性という利点をもたらす。オペレータは（例えば、上記記憶装置運搬器を介して）ドライブの処理単位をこの記憶装置試験システムへと提示することができ、次いで別のシステムにサービスを提供するために遠ざかることができる。記憶装置運搬器の中での記憶装置のバルク供給はまた、記憶装置運搬器を用いた試験されるドライブの自動の並べ替えも可能にする。これは後述されることになる。

記憶装置は、本願明細書で使用する場合、ディスクドライブ、ソリッドステートドライブ、メモリ素子、および検証のために非同期の試験を必要とするいずれかの装置を包含する。ディスクドライブは、一般に、磁気表面を有する高速で回転するプラッタ上に数字でコード化されたデータを保存する、不揮発性記憶装置である。ソリッドステートドライブ（ＳＳＤ）は、永続的データを保存するためにソリッドステートメモリを使用するデータ記憶装置である。（フラッシュメモリの代わりに）ＳＲＡＭまたはＤＲＡＭを使用するＳＳＤは、ＲＡＭドライブと呼ばれることが多い。用語「ソリッドステート」は、一般にソリッドステート電子機器と電気機械装置とを区別する。

図１〜図３を参照すると、いくつかの実施態様では、記憶装置試験システム１００は、床面１０に対して実質的に法線方向の第１の軸２０５（図３を参照）を画定する少なくとも１つの自動運搬装置２００（例えばロボットアーム、ガントリーシステム、または多軸リニアアクチュエータ）を具える。示される例では、自動運搬装置２００は、第１の軸２０５の周りで所定の弧を通して回転しかつ第１の軸２０５から半径方向に延在するように動作可能であるロボットアーム２００を具える。ロボットアーム２００は第１の軸２０５の周りで３６０°回転するように動作可能であり、１以上の記憶装置５００および／または記憶装置５００を運ぶための記憶装置運搬装置５５０（例えば図５〜図６を参照）を取り扱うためにロボットアーム２００の遠位端に配置されたマニピュレータ７００を具える。複数の架台３００は、ロボットアーム２００によるサービス提供のためにロボットアーム２００の周りに配置される。各架台３００は、試験のために記憶装置５００を受けるように構成された複数の試験用スロット３１０を収容する。ロボットアーム２００は実質的に円筒形の作業用安全運行範囲容積２１０を画定し、架台３００は、ロボットアーム２００によるサービス提供のために、各試験用スロット３１０のアクセスのしやすさのためにその作業用安全運行範囲２１０内に配置されている。実質的に円筒形の作業用安全運行範囲容積２１０は、コンパクトな設置面積を提供し、一般に高さの制約により容量が制限されるだけである。いくつかの例では、ロボットアーム２００は、床面１０上の台座またはリフト２５０によって持ち上げられ、その上に支持される。台座またはリフト２５０は、ロボットアーム２００が上方向だけではなく下方向にも到達して試験用スロット３１０にサービスを提供できるようにすることにより、作業用安全運行範囲容積２１０のサイズを増大させる。作業用安全運行範囲容積２１０のサイズは、鉛直方向アクチュエータを台座またはリフト２５０に加えることにより、さらに増大させることができる。

自動運搬装置２００（例えば、ロボットアーム）は、各試験用スロット３１０に独立にサービスを提供するように構成されており、試験システム１００を通る記憶装置５００の連続流を提供する。試験システム１００を通る個々の記憶装置５００の連続流は各記憶装置５００に対して成り行き任せの開始および停止時間を許容するが、記憶装置５００の処理単位が投入された試験全体として一斉に実行されることを必要とする他のシステムは、すべて同じ開始および終了時間を有しなければならない。それゆえ、連続流を用いると、異なる容量の記憶装置５００を、必要に応じて、同時に実行しサービス提供する（投入される／取り出される）ことができる。

図３〜図４を参照すると、記憶装置試験システム１００は、自動運搬装置２００（例えば、示されるようなロボットアーム）への記憶装置５００のバルク供給用に構成された搬送ステーション４００を具える。自動運搬装置２００は、記憶装置５００を搬送ステーション４００と試験用スロット３１０との間で移すことにより、各試験用スロット３１０に独立にサービスを提供する。搬送ステーション４００は、自動運搬装置２００によるサービス提供のために提示される複数の記憶装置５００を運ぶ１以上の運搬器６００を収容する。搬送ステーション４００は、記憶装置試験システム１００へ記憶装置５００を届け、かつ記憶装置試験システム１００から記憶装置５００を回収するためのサービス提供する地点である。運搬器６００は、オペレータが一まとまりの記憶装置５００を搬送ステーション４００へと届け、および搬送ステーション４００から回収することを可能にする。図３に示された例では、各運搬器６００は、提示位置にあるそれぞれの運搬器提示支持システム４２０からアクセス可能であり、それは試験のために一まとまりの記憶装置５００を供給するための供給源運搬器６００として、または試験された記憶装置５００を受けるための届け先運搬器６００として（またはその両方として）指定されてもよい。届け先運搬器６００は、それぞれ機能性試験に合格したかまたは不合格であったかいずれかのそれぞれの記憶装置５００を受けるための「合格した戻りの運搬器」または「不合格の戻りの運搬器」と分類されてもよい。

記憶装置５００を操作するために記憶装置運搬装置５５０を用いる実施態様では、図４に示されるように、ロボットアーム２００は、マニピュレータ７００を用いて試験用スロット３１０のうちの１つから記憶装置運搬装置５５０を取り出して、搬送ステーション４００で提示された運搬器６００のうちの１つから記憶装置運搬装置５５０を用いて記憶装置５００を持ち上げ、次いで記憶装置５００の試験のために、記憶装置５００が中に入っている記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０まで戻すように構成される。試験後、ロボットアーム２００は、試験された記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０から（すなわち、マニピュレータ７００を用いて）取り出し、記憶装置運搬装置５５０の中の試験された記憶装置５００を搬送ステーション４００まで運び、そして記憶装置運搬装置５５０を操作して試験された記憶装置５００を搬送ステーション４００で運搬器６００のうちの１つに戻すことにより、試験された記憶装置５００を試験用スロット３１０から回収する。

図４に示される試験用スロット３１０は、記憶装置運搬装置５５０を受けるように構成された開口３１２を画定する。この場合、記憶装置運搬装置５５０は試験用スロット３１０の閉鎖をもたらす。記憶装置運搬装置５５０は、図５に示されるように記憶装置５００を受けて、自動運搬装置２００により取り扱われるように構成される。使用時には、記憶装置運搬装置５５０のうちの１つは、ロボット２００を用いて（例えば、ロボット２００のマニピュレータ７００を用いて運搬装置５５０のくぼみ５５２を掴むことにより、または別の態様で係合することにより）試験用スロット３１０のうちの１つから取り出される。いくつかの例では、図５〜図７に図示されるように、記憶装置運搬装置５５０は、側壁５６２、５６４および底板５６６によって形成される実質的にＵ字型の開口５６１を画定するフレーム５６０を具える。この側壁５６２、５６４および底板５６６は、フレーム５６０が運搬器６００の中で記憶装置支持体（図示せず）の周りに嵌合することを共同で可能にし、そのため記憶装置運搬装置５５０は（例えば、ロボットアーム２００を介して）、運搬器６００によって画定される複数の記憶装置置き場６２０のうちの１つの中に収容された記憶装置５００のうちの１つの下の位置へと移動できる（例えば、図８〜図９を参照）。次に記憶装置運搬装置５５０は、運搬器６００からの取り外しのために記憶装置６００を係合する位置まで（例えば、ロボットアーム３１０によって）持ち上げられることができる。

記憶装置５００が記憶装置運搬装置５５０のフレーム５６０内の適所にあると、記憶装置運搬装置５５０および記憶装置５００は一緒に、図４に示されるように、試験用スロット３１０のうちの１つの内部での配置のために自動運搬装置２００によって動かされることができる。いくつかの実施態様では、マニピュレータ７００は、記憶装置運搬装置５５０の中に配置されたクランプ機構５７０の作動を開始するようにも構成される。これにより、運搬装置５５０が運搬器６００から試験用スロット３１０へと動かされる前のクランプ機構５７０の作動が可能になり、移動の間の記憶装置運搬装置５５０に対する記憶装置５００の移動が抑制される。試験用スロット３１０への挿入に先立って、マニピュレータ７００は、ここでも、クランプ機構５７０を作動させてフレーム５６０内の記憶装置５００を解放することができる。これにより、記憶装置コネクタ５１０が試験用スロットコネクタ（図示せず）と係合している試験位置に記憶装置５００があるまで、試験用スロット３１０のうちの１つへの記憶装置運搬装置５５０の挿入が可能になる。クランプ機構５７０はまた、ひとたび試験用スロット３１０の中に受けられると、試験用スロット３１０と係合して、試験用スロット３１０に対する記憶装置運搬装置５５０の移動を抑制するように構成されてもよい。このような実施態様では、ひとたび記憶装置５００が試験位置にあるとき、クランプ機構５７０は、（例えば、マニピュレータ７００によって）再度係合され、試験用スロット３１０に対する記憶装置運搬装置５５０の移動が抑制される。このような運搬装置５５０のクランプ止めは、試験の間の振動を減少させるのに役立つ可能性がある。いくつかの例では、挿入後、記憶装置運搬装置５５０およびその中で運ばれる記憶装置５００は、両方とも試験用スロット３１０内で組み合わせてまたは個々にクランプ止めまたは固定される。

図８〜図１１を参照すると、マニピュレータ７００はロボットアーム２００の遠位端２０２に固定される。マニピュレータ７００は、マニピュレータ本体７１０上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１および第２のアーム７２０、７３０を具える。いくつかの実施態様では、アーム７２０、７３０は、互いから１８０°またはそれらの間の何らかの他の角度などの他の配置で配置されてもよい。アーム７２０、７３０は各々、記憶装置運搬装置５５０に解放可能に取り付くように構成されているコネクタ７４０を有する。示される例では、各コネクタ７４０は、アーム７２０，７３０上に配置されるツメアクチュエータ７５０に対向して結合される第１および第２のツメ７４２、７４４を具える。ツメアクチュエータ７５０は、記憶装置運搬装置５５０を解放可能に係合および保持するためにその結合されたツメ７４２、７４４を反対の方向に移動させるように動作可能である。記憶装置運搬装置５５０を掴むために、ロボットアーム２００およびマニピュレータ７００は、コネクタ７４０のうちの１つを巧みに操作してツメ７４２、７４４を記憶装置運搬装置５５０のくぼみ５５２の中へと置くように作動され、次いでツメアクチュエータ７４０を作動させてツメ７４２、７４４を互いから離れるように移動させて、くぼみ５５２を記憶装置運搬装置５５０に解放可能に取り付くように係合させる。いくつかの例では、ツメ７４２、７４４は、フック形状であり、かつ／または記憶装置運搬装置５５０のくぼみ５５２を係合するための摩擦パッドを有する。マニピュレータ７００の各アーム７２０、７３０は、記憶装置運搬装置５５０のクランプ機構５７０を係合するように構成された第１および第２のクランプアクチュエータ７６２、７６４を有する。このクランプアクチュエータ７６２、７６４は、クランプ機構５７０を係合／解放するために、クランプ機構５７０上で押したり引いたりするように動作可能であってもよい。

図１２〜図１３に図示される例では、運搬器６００は、正面６１１、裏面６１２、上面６１３、底部側６１４、右側６１５および左側６１６を有する運搬器本体６１０を具える。運搬器本体６１０は、正面６１１に、各々が記憶装置５００を収容するように構成された複数の記憶装置置き場６２０を画定する。いくつかの例では、運搬器６００は、投入位置にある間は裏面６１２を下にして置かれ、そのため図１２に示されるように、記憶装置置き場６２０は実質的に鉛直方向であり、上方向を向く。他の例では、運搬器６００は投入位置にあるあいだ別の配向で、例えば斜めの配向で、または提示位置の場合のように鉛直方向の配向で保持される。提示位置では、運搬器６００はその底部側６１４を下にして置かれ、そのため記憶装置置き場６２０は、図１３に示されるように実質的に水平方向であり、横方向を向く。運搬器本体６１０は、運搬器本体６１０の右側および左側６１５、６１６に、運搬器６００を支持するように構成されたアームの溝６３０を画定する。

示された例では、各記憶装置置き場６２０は、受けられた記憶装置５００の中央部分５０２（図７を参照）を支持するように構成された記憶装置支持体６２２を具え、これにより非中央部分に沿った記憶装置５００の操作が可能になる。いくつかの実施態様では、記憶装置支持体６２２は、運搬器６００が実質的に鉛直方向の配向にあるあいだ斜めに記憶装置５００を支持するように構成され、そのため、記憶装置５００は、記憶装置置き場６２０から外へではなく、記憶装置置き場６２０の中へより深く滑り落ちる傾向を有する。収容された記憶装置５００を記憶装置置き場６２０から取り出すために、記憶装置運搬装置５５０は（例えばロボットアーム２００によって）記憶装置置き場６２０の中の記憶装置５００の下に配置され、記憶装置支持体６２２から記憶装置５００を持ち上げるために上げられる。次いで記憶装置運搬装置５５０は、試験用スロット３１０などの届け先の目標へと届けるために記憶装置５００を保有したまま、記憶装置置き場６２０から取り出される。

図１４を参照すると、いくつかの実施態様では、搬送ステーション４００は搬送ステーション筐体４１０と、搬送ステーション筐体４１０上に配置された複数の運搬器提示支持システム４２０とを具える。各運搬器提示支持システム４２０は、記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために記憶装置運搬器６００を提示位置で受けて支持するように構成されている。

いくつかの実施態様では、運搬器提示支持システム４２０は、各々、搬送ステーション筐体４１０の同じ側に配置され、互いに対して鉛直方向に並べられている。各運搬器提示支持システム４２０は他に対して異なる高さ位置を有する。いくつかの例では、図１５に示されるように、運搬器提示支持システム４２０は、記憶装置運搬器６００の運搬器本体６１０によって画定されるそれぞれのアームの溝６３０によって受けられるように構成された運搬器支持アーム４２６の第１および第２の対向する対４２２、４２４を具える。

再度図１４を参照すると、運搬器移動装置４３０は搬送ステーション筐体４１０上に配置され、記憶装置運搬器６００を受けて支持するように構成された枢動可能に結合された運搬器投入支持体４４０を動かすように構成されている。運搬器投入支持体４４０は、第１の位置と第２の位置との間で枢動および移動する。運搬器移動装置４３０は、記憶装置運搬器６００を（例えば、投入支持体の第１の位置で水平方向配向にある）投入位置で保持するための第１の位置と、（例えばロボットアーム２００による）記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために記憶装置運搬器６００を運搬器提示支持システム４２０のうちの１つでの提示位置で（例えば実質的に鉛直方向配向にある）保持するための第２の位置との間で、運搬器投入支持体４４０を移動させるように構成されている。いくつかの例では、運搬器６００から外への偶発的な滑り落ちから記憶装置５００を守るために、運搬器提示支持システム４２０は、運搬器６００をわずかに斜めになった（例えば鉛直方向からずれた）配向で保持する。

記憶装置の試験を実施する方法は、試験のために複数の記憶装置５００を記憶装置試験システム１００に提示する工程と、自動運搬装置２００（例えばロボットアーム）を作動させて、記憶装置５００のうちの１つを記憶装置運搬器６００から回収し、この回収された記憶装置５００を記憶装置試験システム１００の架台３００の試験用スロット３１０へと届ける工程とを含む。当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて記憶装置５００を試験用スロット３１０に挿入する工程と、試験用スロット３１０によって受けられた記憶装置５００上で機能性試験を実施する工程とを含む。当該方法はまた、自動運搬装置２００を作動させてこの試験された記憶装置５００を試験用スロット３１０から回収し、この試験された記憶装置５００を届け先場所へと戻すように届ける工程をも含んでよい。いくつかの実施態様では、当該方法は、複数の提示された記憶装置５００を回収する工程と、その記憶装置の各々をそれぞれの試験用スロット３１０へと届ける工程とを含む。他の実施態様では、当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて第１の記憶装置５００を第１の試験用スロット３１０から取り出し、それをマニピュレータ７００の第１のアーム７２０を用いて運び、第２の試験用スロット３１０へと移動し、そして第２の記憶装置５００を取り出してそれをマニピュレータ７００の第２のアーム７３０を用いて運び、次いで第１の記憶装置５００を第２のスロット３１０の中へと挿入することにより、記憶装置５００を試験用スロット３１０の中で入れ替える工程を含む。当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて第２の記憶装置を第１の試験用スロット３１０へと移動させ、第２の記憶装置５００を第１の試験用スロット３１０に挿入する工程をも含んでよい。この動作モード（記憶装置の入れ替え）については、当該２本アームのマニピュレータ７００は、記憶装置５００を第１の試験用スロット３１０から取り上げ、記憶装置５００を空のスロット３１０または運搬器６００の中に置いておき、別の記憶装置５００を第２のスロット３１０から回収し、そしてその記憶装置５００を第１の試験用スロット３１０へと挿入し、次いで置いておいた記憶装置５００を回収してそれを第２のスロット３１０に挿入しなければならないことよりはむしろ、各停止における記憶装置５００の直接交換を可能にすることにより、１本アームのマニピュレータに勝る明確な利点をもたらす。この２本アームのマニピュレータ７００は、２つの試験用スロット３１０の間で記憶装置５００を取り換えている間、記憶装置５００のうちの１つを置いておくという工程をなくす。

試験のために複数の記憶装置５００を提示する工程は、記憶装置５００を記憶装置運搬器６００によって画定される記憶装置置き場６２０の中へと投入し、そして記憶装置運搬器６０を搬送ステーション４００の中／上へと投入することによるように、複数の記憶装置５００を搬送ステーション４００の中／上へと投入することにより、成し遂げられてもよい。搬送ステーション４００の運搬器移動装置４３０は、記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために、記憶装置運搬器６００を投入位置から提示位置へと移動させるように作動される。記憶装置運搬器６００は、搬送ステーション筐体４１０の上に配置されかつ互いに対して鉛直方向に並べられた複数の運搬器提示支持システム４２０のうちの１つによって、提示位置で支持される。各々が記憶装置５００を収容する複数の記憶装置運搬器６００は、連続的に、搬送ステーション４００上に投入位置で置かれ、記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために、複数の運搬器提示支持システム４２０のうちの１つでのそのそれぞれの提示位置へと運搬器移動装置４３０によって移動されることができる。

試験のために提示された記憶装置５００のうちの１以上を回収する際には、当該方法は、好ましくは、自動運搬装置２００を作動させて（例えば架台３００の中に収容された試験用スロット３１０から）記憶装置運搬装置５５０を回収する工程と、自動運搬装置２００を作動させて搬送ステーション４００から記憶装置５００のうちの１つを回収し、記憶装置５００を記憶装置運搬装置５５０の中に運ぶ工程とを含む。当該方法は、受けられた記憶装置運搬装置５５０および試験用スロット３１０によって収容された記憶装置５００上で機能性試験を実施するために、自動運搬装置２００を作動させて記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０へと届ける工程を含む。いくつかの例では、記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０へと届ける工程は、記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を架台３００の中の試験用スロット３１０の中へと挿入する工程と、記憶装置５００と架台３００との間の電気的接続を確立する工程とを含む。試験が記憶装置５００について完了した後は、当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて、試験された記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０から回収して、この試験された記憶装置５００を搬送ステーション４００上の届け先記憶装置運搬器６００などの届け先場所へと戻すように届ける工程を含む。いくつかの実施態様では、架台３００および２以上の関連付けられた試験用スロット３１０は、試験用スロット３１０が異なる種類の試験用に設定されている場合に備えて、記憶装置５００を１つの試験用スロット３１０から別の試験用スロット３１０へと内部で移動させるように構成される。

いくつかの例では、当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて、届け先場所で（例えば届け先記憶装置運搬器６００の記憶装置置き場６２０の中に）試験された記憶装置５００を置いた後に試験用スロット３１０の中に記憶装置運搬装置５５０を置く工程か、または（例えば供給源記憶装置運搬器６００の記憶装置置き場６２０から）試験のために別の記憶装置５００を回収することにより、当該方法を繰り返す工程を含む。

いくつかの実施態様では、自動運搬装置２００は、自動運搬装置２００が複数の記憶装置５００および／または記憶装置運搬装置５５０を回収する、取り扱う、および届けることを可能にする上で論じたマニピュレータ７００を具える。例えば、自動運搬装置２００は、マニピュレータ７００の１本のアーム７２０、７３０によって保持された記憶装置運搬装置５００の中に１つの未試験の記憶装置５００を回収して運び、そして未試験の記憶装置５００を試験用スロット３１０へと届けることができる。試験用スロット３１０で、自動運搬装置２００は、現在試験用スロット３１０の中にある試験用記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を取り出し、その後で試験のために未試験の記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０の中へと挿入する。次いで自動運搬装置２００は、試験された記憶装置５００を届け先記憶装置運搬器６００の置き場６２０などの届け先場所へと届ける。別の例では、自動運搬装置２００は、２つの未試験の記憶装置５００をマニピュレータ７００の各アーム７２０、７３０上に１つずつ回収して運び、次いで試験のためにこの２つの未試験の記憶装置５００をそれぞれの試験用スロット３１０へと届けることができる。次いで自動運搬装置７００は、２つの試験された記憶装置５００を（例えばそのそれぞれの記憶装置運搬装置５５０をマニピュレータ７００と係合して取り出すことにより）そのそれぞれのスロット３１０から回収し、試験された記憶装置５００を、１以上の届け先記憶装置運搬器６００の２つの置き場６２０などの届け先場所へと届けるように作動されることができる。一方の試験された記憶装置５００が記憶装置の試験に合格し、他方が不合格であった場合、それらは「合格した」記憶装置運搬器６００および「不合格の」記憶装置運搬器６００などの異なる届け先記憶装置運搬器６００の中に置かれてもよい。

マニピュレータ７００は、自動運搬装置２００が複数の記憶装置５００および／または記憶装置運搬装置５５０を記憶装置試験システム１００内で移動させて、一度に１つの記憶装置５００および／または記憶装置運搬装置５５０を取り扱うことしかできないマニピュレータによってこれまでに達成可能であったタスクよりも多くのタスクを成し遂げることを可能にする。増大した融通性によって、自動運搬装置２００の移動を最適化するための自動運搬装置２００の経路計画が可能になる。

いくつかの実施態様が記載された。しかしながら、本開示の技術思想および範囲から逸脱することなく種々の改変がなされてもよいということを理解されたい。従って、他の実施態様は添付の特許請求の範囲の範囲内にある。

Claims (26)

1. ディスクドライブシステム内でディスクドライブを移す方法であって、
   第１位置にある前記ディスクドライブシステムの中に、複数のディスクドライブを保持する一以上のディスクドライブ運搬器を受ける工程であって、前記一以上のディスクドライブ運搬器は、前記ディスクドライブシステムの外部位置と前記ドライブシステムにある自動運搬装置にアクセス可能な位置との間で動くべく構成される工程と、
   前記自動運搬装置を作動させて、前記一以上のディスクドライブ運搬器から２以上のディスクドライブを回収する工程と、
   前記自動運搬装置を作動させて、前記２以上のディスクドライブからの一のディスクドライブを第２位置にあるディスクドライブスロットへ届け、前記ディスクドライブを前記ディスクドライブスロットに挿入する工程と
   を含む、方法。
2. 前記自動運搬装置を作動させて複数のディスクドライブ運搬装置を回収する工程と、
   前記自動運搬装置を作動させて、前記ディスクドライブを、前記複数のディスクドライブ運搬装置からの一のディスクドライブ運搬装置を用いて運ぶ工程と、
   前記自動運搬装置を作動させて、前記ディスクドライブを運ぶディスクドライブ運搬装置を前記ディスクドライブスロットへ届ける工程と、
   をさらに含む、請求項１に記載の方法。
3. 前記ディスクドライブの前記ディスクドライブスロットへの挿入は、前記ディスクドライブスロットの閉鎖をもたらす、請求項１に記載の方法。
4. 前記一以上のディスクドライブ運搬器を前記ディスクドライブシステムに提示する工程をさらに含む、請求項１に記載の方法。
5. 前記自動運搬装置を作動させて、前記ディスクドライブ運搬装置を前記ディスクドライブの下に配置する工程と、
   前記ディスクドライブ運搬器の記憶装置支持体から前記ディスクドライブを持ち上げる工程と、
   前記ディスクドライブ運搬装置の中の前記ディスクドライブを前記ディスクドライブ運搬器から離れるように運ぶ工程と
   をさらに含む、請求項２に記載の方法。
6. 前記自動運搬装置は、前記複数のディスクドライブを移すべく構成されるマニピュレータを含む、請求項１に記載の方法。
7. 前記マニピュレータは、
   マニピュレータ本体と、
   前記マニピュレータ本体の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１及び第２コネクタであって、各コネクタは、ディスクドライブ運搬装置に解放可能に取り付けられるべく構成される第１及び第２コネクタと
   を含む、請求項６に記載の方法。
8. ディスクドライブシステム内でディスクドライブを移す方法であって、
   第１位置にある前記ディスクドライブシステムの中に、複数のディスクドライブを保持する一以上のディスクドライブ運搬器を受ける工程であって、前記一以上のディスクドライブ運搬器は、前記ディスクドライブシステムの外側位置と前記ドライブシステムにある自動運搬装置にアクセス可能位置との間で動くべく構成される工程と、
   マニピュレータを有する前記自動運搬装置を作動させて、前記一以上のディスクドライブ運搬器から一のディスクドライブを回収する工程であって、前記マニピュレータは前記複数のディスクドライブを運搬するべく構成される工程と、
   前記自動運搬装置を作動させて、回収された前記ディスクドライブを、前記ディスクドライブシステムの一のディスクドライブスロットへ届け、そのスロットにある前記ディスクドライブの中に前記ディスクドライブスロットに挿入する工程と
   を含む方法。
9. 前記マニピュレータは、
   マニピュレータ本体と、
   前記マニピュレータ本体の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１及び第２のコネクタであって、各コネクタは、ディスクドライブ運搬装置に解放可能に取り付けられるべく構成される、第１及び第２のコネクタと
   を含む、請求項８に記載の方法。
10. 前記自動運搬装置を作動させてディスクドライブ運搬装置を回収する工程と、
    前記自動運搬装置を作動させて、前記ディスクドライブ運搬装置を用いて前記ディスクドライブを運ぶことにより、前記ディスクドライブを回収する工程と、
    前記自動運搬装置を作動させて、前記ディスクドライブ運搬装置を前記ディスクドライブスロットへ届ける工程と
    をさらに含む、請求項８に記載の方法。
11. 前記ディスクドライブの前記ディスクドライブスロットへの挿入は、前記ディスクドライブスロットの閉鎖をもたらす、請求項１０に記載の方法。
12. 前記一以上のディスクドライブ運搬器を前記ドライブシステムに提示する工程をさらに含む、請求項１０に記載の方法。
13. 前記自動運搬装置を作動させて、前記ディスクドライブ運搬装置を前記ディスクドライブの下に配置する工程と、
    前記ディスクドライブ運搬器のディスクドライブ支持体から前記ディスクドライブを持ち上げる工程と、
    前記ディスクドライブ運搬装置の中の前記ディスクドライブを前記ディスクドライブ運搬器から離れるように運ぶ工程と
    をさらに含む、請求項１２に記載の方法。
14. 前記ディスクドライブスロットは第1ディスクドライブスロットを含み、
    前記方法は、
    前記自動運搬装置及び前記マニピュレータを作動させて、ディスクドライブを第２ディスクドライブスロットから回収する工程と、
    前記ディスクドライブを届け先場所へ運ぶ工程と
    をさらに含む、請求項８に記載の方法。
15. 前記自動運搬装置を作動させて、
    前記マニピュレータを作動させて、前記ディスクドライブのディスクドライブ運搬装置と係合し、前記ディスクドライブを前記ディスクドライブ運搬装置を用いて前記届け先場所へと運ぶことにより、
    前記ディスクドライブを前記第２ディスクドライブスロットから回収する工程をさらに含む、請求項１４に記載の方法。
16. 前記自動運搬装置を作動させて、前記ディスクドライブ運搬装置によって運ばれる前記ディスクドライブを届け先ディスクドライブ運搬器の置き場へ届ける工程をさらに含む、請求項１５に記載の方法。
17. ディスクドライブシステム内でディスクドライブを移す方法であって、
    第１位置にある前記ディスクドライブシステムの中に、複数のディスクドライブを保持する一以上のディスクドライブ運搬器を受ける工程であって、前記一以上のディスクドライブ運搬器は、前記ディスクドライブシステムの外部位置と前記ドライブシステムにある自動運搬装置にアクセス可能な位置との間で動くべく構成される工程と、
    前記複数のディスクドライブを移すべく構成されるマニピュレータを有する前記自動運搬装置を作動させて、前記一以上のディスクドライブ運搬器から第１ディスクドライブ及び第２ディスクドライブを回収する工程と、
    前記自動運搬装置を作動させて、前記第１ディスクドライブを前記ディスクドライブシステムの第１ディスクドライブスロットに挿入する工程と、
    前記自動運搬装置を作動させて、前記第２ディスクドライブを前記ディスクドライブシステムの第２ディスクドライブスロットに挿入する工程と、
    前記自動運搬装置を作動させて、前記第１ディスクドライブスロットの中に収容された前記第１ディスクドライブを回収する工程と、
    前記自動運搬装置を作動させて、前記第１ディスクドライブを前記第２ディスクドライブスロットへ届ける工程と、
    前記自動運搬装置を作動させて、前記第１ディスクドライブを運びつつ、前記第２ディスクドライブを前記第２ディスクドライブスロットから回収する工程と、
    前記自動運搬装置を作動させて、前記第２ディスクドライブを運びつつ、前記第１ディスクドライブを前記第２ディスクドライブスロットに挿入する工程と
    を含む、方法。
18. 前記自動運搬装置を作動させて、前記第２ディスクドライブを前記第１ディスクドライブスロットへ届ける工程と、
    前記自動運搬装置を作動させて、前記第２ディスクドライブを前記第１ディスクドライブスロットに挿入する工程と、
    をさらに含む、請求項１７に記載の方法。
19. 前記マニピュレータは、
    マニピュレータ本体と、
    前記マニピュレータ本体の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１及び第２コネクタであって、各コネクタは、前記ディスクドライブ運搬装置に解放可能に取り付けられるべく構成される第１及び第２コネクタと
    を含み、
    前記マニピュレータは、対応する解放可能に取り付けられたディスクドライブ運搬装置の中の前記第１及び第２ディスクドライブを運搬するべく構成される、請求項１７に記載の方法。
20. 前記ディスクドライブは、各々、対応するディスクドライブ運搬装置の中で運ばれ、
    各ディスクドライブを前記ディスクドライブスロットのうちの一つに挿入する工程は、
    前記対応するディスクドライブ運搬装置を前記ディスクドライブスロットそれぞれに挿入する工程と、
    運ばれた前記ディスクドライブを前記ディスクドライブシステムのそれぞれのコネクタと係合する工程であって、挿入された前記ディスクドライブ運搬装置はそのそれぞれのディスクドライブスロットの閉鎖をもたらす工程と
    を含む、請求項１７に記載の方法。
21. ディスクドライブシステムであって、
    自動運搬装置と、
    前記自動運搬装置によるアクセスのために前記自動運搬装置の周りに並べられた少なくとも１つの架台と、
    各架台によって収容された複数のスロットであって、一つのスロットは、試験のために一つのディスクドライブを受けるように構成される複数のスロットと、
    前記自動運搬装置によるアクセスのために並べられた搬送ステーションであって、
    （ｉ）試験のために提示された複数のディスクドライブを保持する一以上のディスクドライブ運搬器を受けることであって、前記一以上のディスクドライブ運搬器は、前記ディスクドライブシステムの外部位置と前記ドライブシステムにある前記自動運搬装置にアクセス可能な位置との間で動くべく構成されることと、
    （ｉｉ）前記ディスクドライブシステムにおける試験のために前記複数のディスクドライブを提示することと
    を行うべく構成される搬送ステーションと、
    前記自動運搬装置に取り付けられたマニピュレータであって、前記マニピュレータは前記複数のディスクドライブを運ぶべく構成されるマニピュレータと
    を含む、ディスクドライブシステム。
22. 前記マニピュレータは、複数のディスクドライブ運搬装置に解放可能に取り付けられるべく構成される、請求項２１に記載の記憶装置試験システム。
23. 前記マニピュレータは、
    マニピュレータ本体と、
    前記マニピュレータ本体の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１及び第２コネクタであって、各コネクタは、ディスクドライブ運搬装置に解放可能に取り付けられるべく構成される第１及び第２コネクタと
    を含む、請求項２１に記載の記憶装置試験システム。
24. 前記搬送ステーションは、前記自動運搬装置によるサービス提供のために、一以上のディスクドライブ運搬器を提示位置で受けて支持するべく構成される搬送ステーション筐体を含み、
    各ディスクドライブ運搬器は、各々一つのディスクドライブを収容するべく構成される複数のディスクドライブ置き場を画定する運搬器本体を含む、請求項２１に記載の記憶装置試験システム。
25. 前記第１位置から離れている前記第２位置に、前記２以上のディスクドライブを実質的に同時に動かす工程をさらに含む、請求項１に記載の方法。
26. 前記ディスクドライブのディスクドライブコネクタが前記ディスクドライブスロットのディスクドライブスロットコネクタと係合する位置において前記ディスクドライブを前記ディスクドライブスロットの中に置く工程をさらに含む、請求項１に記載の方法。

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