JP4552888B2

JP4552888B2 - ハードディスクドライブの試験装置

Info

Publication number: JP4552888B2
Application number: JP2006131388A
Authority: JP
Inventors: 雅史金子; 裕樹大野
Original assignee: TDK Corp
Current assignee: TDK Corp
Priority date: 2006-05-10
Filing date: 2006-05-10
Publication date: 2010-09-29
Anticipated expiration: 2026-05-10
Also published as: JP2007305206A

Description

本発明は、ハードディスクドライブの試験装置に係り、より詳細には、ハードディスクドライブの周辺環境を変化させて試験できるハードディスクドライブの試験装置に関する。

近年のハードディスクドライブ（ＨＤＤ）は記録密度が高まり、磁気ヘッドスライダと磁気ディスク（記録メディア）との間隔が１０nm前後まで接近している。磁気ヘッドスライダと磁気ディスクとは、磁気ディスクの回転によって生じる空気流によって、前記間隔を保つように形成されている。一方、ハードディスクドライブが搭載されたいわゆる携帯パソコンなどの携帯機器は、航空機の中でも使用されることがある。航空機の中は地上よりも気圧が下がるため、磁気ヘッドスライダと磁気ディスクとの間隔が地上と異なる場合でも磁気ヘッドの磁気変換特性を補償する必要があり、この環境下での試験をする場合がある。

従来の磁気ヘッドスライダ、磁気ディスクの試験装置は、磁気ヘッドスライダを着脱自在に装着したヘッドアームをＸ-Ｙマイクロステージによって磁気ディスクの径方向および接線方向に直線移動させて磁気ヘッドスライダおよび磁気ディスクの試験を行う装置である（特許文献１）。そうしてこのような従来の試験装置を密封容器に収納して、密封容器内の気圧等の環境を調整して磁気ヘッドと磁気ディスク間の接触発生状況を強制的に発生させる試験を実行する試験装置が提案されている（特許文献２）。
国際公開ＷＯ２００４／０２７７６０号公報特開平７-２１７５２号公報

しかしながら従来の試験装置は、磁気ヘッドスライダを、製品に搭載されるスタックアームではなく、直交方向に駆動されるＸ-Ｙマイクロステージによって支持及びフォローイングさせている。そのため、試験で得た特性が製品のハードディスクドライブの特性とは大きく異なってしまうという問題があった。しかも引用文献２記載の従来の試験装置は、減圧下で強制的に磁気ヘッドと磁気ディスクを接触させて潤滑油等からのガス、塵等が磁気ヘッドスライダ、磁気ディスクに付着する状態を測定するものであり、減圧下で飛行状態の磁気ヘッドを試験できるものではなかった。

本発明はかかる従来技術の問題に鑑みてなされたものであって、ハードディスクドライブを製品に近い状態で周辺環境を変化させて試験できる、コンパクトなハードディスクドライブの試験装置を提供することを目的とする。

かかる課題を解決する本発明は、磁気ヘッドスライダを備えたヘッドジンバルアセンブリが着脱され、ボイスコイルモータによって駆動されるスタックアーム、および前記スタックアームに装着された磁気ヘッドスライダがロードされる回転メディアが搭載された基台と、前記基台に着脱自在に被せられ、この基台上に搭載された前記スタックアーム、ヘッドジンバルアセンブリ、および回転メディアを収容する気密空間を形成する密閉蓋と、前記気密空間に調圧ポンプを接続する空気穴と、前記磁気ヘッドスライダの磁気ヘッド素子に接続され、その端部に複数の電気接点が設けられたＦＰＣと、前記基台上に固定された垂直回転滑り軸であり、前記スタックアームを水平面内において回転自在に支持する軸部と、前記軸部の軸心を挟んで一方に設けられたコンタクトブロックと、前記軸部の軸心を挟んで他方に設けられたコンタクトレバー支持ブロックと、前記コンタクトレバー支持ブロックに軸支され、先端部に凸部を有し、前記軸部を跨いで揺動し、前記凸部に設けられた接続接点としての接続パッドが、前記コンタクトブロックの上面に設けられる前記ＦＰＣの前記電気接点に対して接離可能に形成されたコンタクトレバーと、前記コンタクトレバーを、前記接続パッドと前記電気接点が接触するコンタクト位置にロックするロックレバーと、を備えることを特徴とする。
また、本発明のハードディスクドライブの試験装置においては、前記接続パッドは、別のＦＰＣを介してスタックアームから引き出され、ヘッドドライブ回路に接続されることとしもよい。

好ましい実施形態では、前記空気穴は前記密閉蓋に設けられ、この空気穴と調圧ポンプとが可撓性のパイプを介して接続される。
前記ヘッドジンバルアセンブリとスタックアームとは、ヘッドジンバルアセンブリのベース部に設けられたボスが前記スタックアームの先端部に設けられた装着穴に嵌入され、さらに装着穴を貫通したねじ部材によって固定される。

前記ヘッドジンバルアセンブリを前記回転メディアから離反したアンロード位置において支持するランプ部材を備えたランプロード方式であって、ランプ部材は、垂直昇降部材によって高さ調整される。前記垂直昇降部材は、前記ヘッドジンバルアセンブリの着脱の際に前記ランプ部材を下降させることが好ましい。

実際的には、前記回転メディアは、スピンドルモータによって回転駆動される磁気ディスクである。前記スピンドルモータは、直動案内軸受けを介して前記スタックアームに対して接離移動自在に形成され、前記スタックアームがアンロード位置にあるときに離反し、前記スタックアームに接近して前記磁気ヘッドスライダのロードを許容することが好ましい。

さらに好ましい実施形態では、前記ヘッドジンバルアセンブリは前記磁気ヘッドスライダの磁気ヘッド素子に接続されたＦＰＣを有し、このＦＰＣの端部に複数の電気接点が設けられていて、前記スタックアームには、前記電気接点と接続される接続接点と、これらの電気接点と接続接点とを挟圧して接触させるコンタクト位置と離反させて接続を解除する解放位置とに移動するコンタクトレバーを備える。
実際的には、前記接続接点は、ＦＰＣの端部に設けられていて、前記接続接点はこのＦＰＣに実装されたヘッドアンプに接続される。

前記接続接点は、前記コンタクトレバーに配置されていて、前記コンタクトレバーがコンタクト位置にあるときに前記電気接点と接続するか、前記スタックアームに設けられたコンタクト台に配置されていて、前記コンタクト位置にあるコンタクトレバーに押圧された前記電気接点と接触する構成する。

前記コンタクト位置にある前記コンタクトレバーをコンタクト位置にロックするロックレバーを備えることが好ましい。

本発明によれば、磁気ヘッドスライダが装着されたヘッドジンバルアセンブリを、製品に搭載されるボイスコイルモータ駆動のスタックアームと同等のスタックアームに搭載して気圧変化等における特性試験を行うことができるので、より正確なハードディスクドライブの特性試験ができる。
しかもボイスコイルモータ駆動のスタックアームを使用しているので、試験装置をコンパクトに形成できる。

本発明の実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の実施形態の概要を、密閉蓋を透過して示す平面図、図２は図１の切断線II-IIに沿う断面図である。

この磁気ディスクドライブの試験装置は、基台１０およびこの基台１０上に着脱自在に被せられる箱状の密閉蓋２０を備えている。基台１０上には、回転メディアとしてスピンドルモータ３１によって回転駆動される磁気ディスク３０、およびボイスコイルモータ（ＶＣＭ）４１によって駆動制御されるスタックアーム４０が搭載されている。密閉蓋２０を基台１０に被せると、磁気ディスク３０、スタックアーム４０等を密閉する気密空間（気密室）１５が形成される（図２参照）。

スタックアーム４０は、磁気ディスク３０の外方に配置された軸部４２により水平面内において回動自在に支持されている。軸部４２は、基台１０上に固定された垂直回転滑り軸である。スタックアーム４０の先端部には、磁気ヘッドスライダ５１を有するＨＧＡ５０が着脱自在に装着されている。スタックアーム４０の後端部には、平面視においてスタックアーム４０の回動中心を中心とした扇形のボイスコイル４３が装着されている。さらにこのボイスコイル４３を両面側から挟んで、一対の永久磁石４４がヨーク４５を介して基台１０上に支持されている。さらにスタックアーム４０から引き出されたＦＰＣ４６が、リード／ライト回路、ボイスコイル駆動回路などを含むヘッドドライブ回路４７に接続されている。

ヘッドドライブ回路４７には、基台１０を気密状態で貫通するＦＰＣ４８が接続されている。基台１０から引き出されたＦＰＣ４８には、制御、分析装置として例えばパーソナルコンピュータが接続され、このパーソナルコンピュータによって磁気ヘッドスライダ５１による書き込み、読み出し特性の測定などの制御が実行される。

このスタックアーム４０は、磁気ディスク３０の上面に、ＨＧＡ５０の磁気ヘッドスライダ５１をロードするランプ／ロードタイプである。ＨＧＡ５０はスタックアーム４０に対して、ＨＧＡ５０のベース部５２に設けられたボス５２ａが、スタックアーム４０の先端部に設けられた装着穴４０ａに嵌入され、さらにボス５２ａの穴を貫通したねじ５７およびそのねじ５７に螺合されたナット５８によって締め付け固定されている（図３）。ナット５８またはねじ５７を回動させることにより、ＨＧＡ５０とスタックアーム４０とを締結固定し、またはナット５８をねじ５７から取り外し、ねじ５７をボス５２ａから抜き去ってＨＧＡ５０を交換することができる。なお、ねじ５７をボス５２ａに挿入する方向は上からでもよい。

ＨＧＡ５０は、磁気ディスク３０の外周よりもさらに外方のアンロード位置にあるときは、サスペンション部５３がその弾性によって大きく屈曲する。そこでこの実施形態では、磁気ヘッドスライダ５１の先端部の回動軌跡上であって、磁気ディスク３０の外周部およびその外方に延びていて、サスペンション部５３の先端部に突設されたタブ５３ａを摺動支持するランプブロック６０を設けてある。

ランプブロック６０の平面図を図４（Ａ）に、側面図を図４（Ｂ）に示した。このランプブロック６０は、磁気ヘッドスライダ５１をスタックアーム４０により磁気ディスク３０の外周よりもさらに外方のアンロード位置方向に移動する際に、サスペンション部５３のタブ５３ａが乗り上げて磁気ヘッドスライダ５１を磁気ディスク３０の上面３０ａから引き離し、アンロード位置に導くランプ面６１を備えている。またこのランプ面６１は、アンロード位置の磁気ヘッドスライダ５１がロード位置方向に移動するときは、磁気ヘッドスライダ５１が徐々に磁気ディスク３０の上面３０ａに接近して磁気ディスク３０の上面３０ａにロードするようにタブ５３ａをガイドする輪郭に形成されている。
ＨＧＡ５０の着脱は、スタックアーム４０をタブ５３ａがランプ面６１に乗り上げたアンロード位置に移動させた状態で行う。

気密空間１５を形成する密閉蓋２０には、一つの側面に、気密空間１５の外方に延びる接続管２２を有する空気穴２１が形成されている。この接続管２２には、調圧ポンプ（真空ポンプ）２５が、可撓性のある空気パイプ２３を介して接続される。この空気パイプ２３としては、容易に撓むが潰れ難い構造のものが使用される。調圧ポンプ２５は、使用者が設定した圧力を保つように動作する。空気穴２１の位置または向きは、この空気穴２１を通って流入した気体が、気密室内に収容された磁気ディスク３０、スタックアーム４０、磁気ヘッドスライダ５１などの可動部に直接当たらない位置、向きに設けることが好ましい。

密閉蓋２０は、開口縁部２０ａが、基台１０の周囲に形成された段差部１０ａにはめ込まれる。開口縁部２０ａまたは段差部１０ａの少なくとも一方に、他方と密着するシール部材を設ければ、より気密性が高くなる。密閉蓋２０と基台１０とヒンジで連結して回動により開閉可能に形成すると、密閉蓋２０の開閉操作が楽になる。
また、空気穴および接続管を密閉蓋２０ではなく基台１０側に設けて、空気パイプ２３を基台１０の接続管に接続する構成にすると、密閉蓋２０を着脱、開閉しても空気パイプ２３は移動しないので、空気パイプ２３の取り回し、密閉蓋２０の着脱、開閉操作が容易になる。

以上の本発明の実施形態によれば、製品の磁気ディスク装置と同等のスタックアーム４０、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）４１を使用して、気圧などの環境を任意に設定して、製品に近い状態でＨＧＡ５０、磁気ヘッドスライダ５１の試験を実施できる。

スタックアーム４０の軸受け、スピンドルモータ３１などの可動部は、気密空間１５の気圧が下がっても潤滑油等の漏れを生じるおそれが無いもの、例えば転がり軸受仕様または滑り軸受仕様のものが適している。

このハードディスクドライブの試験装置の動作は次の通りである。まず、調圧ポンプ２５動作前の１気圧状態で、磁気ディスク３０上の試験用データをＶＣＭ４１を駆動制御することで磁気ヘッドスライダ５１へ読み出し、変換後の電気特性を記録する。次に、例えば、０.５気圧あるいは０.２気圧となるように調圧ポンプ２５を動作させ、気密室１５内を減圧する。減圧下で、磁気ディスク３０上の試験用データをＶＣＭ４１を駆動制御することで磁気ヘッドスライダ５１へ読み出し、変換後の電気特性を記録する。例えば、０.２気圧下で得られた電気特性が所定の値に達しているかどうか検査する。また、１気圧と減圧状態との電気特性の変化率を計算し、変化率が所定範囲内に収まっているかどうか検査する。

次に、ＨＧＡ５０の着脱を容易にした着脱機構を備えた本発明の実施形態について、図５および図６を参照して説明する。図５には、基台１０を長手方向に縦断した断面図を示した。

スピンドルモータ３１は直進案内軸受け８０に搭載され、ヨーク４５は直動案内軸受け８４に搭載され、これらの直動案内軸受け８０、８４を介して基台１０上を直線移動自在に支持されている。これらの直動案内軸受け８０、８４は、移動方向が互いに平行になるように配置されている。

各直動案内軸受け８０、８４は、基台１０上に固定されたレール８１、８５と、レール８１、８５上に摺動自在に嵌合された滑りガイド８２、８６を備え、滑りガイド８２にスピンドルモータ３１、滑りガイド８６にヨーク４５が搭載されている。これらの直動案内軸受け８０、８４としては、例えば公知の、無給油タイプの転がり軸受け仕様、滑り軸受け仕様などが適している。

スピンドルモータ３１はモータベース３２に固定され、モータベース３２が、直動案内軸受け８０の滑りガイド８２に固定され、滑りガイド８２が、基台１０上に固定されたレール８１に摺動自在に支持されている。滑りガイド８２は、磁気ヘッドスライダ５１をロードして試験する試験位置と、アンロード位置においてＨＧＡ５０を着脱する際に、磁気ディスク３０をよりＨＧＡ５０から離反して着脱を容易にする離反位置とに移動可能に形成されている。
この移動は、例えば手動により、またはリニアモータによって行う。また、図示しないが、スピンドルモータ３１に駆動電流を伝えるＦＰＣは、スピンドルモータ３１の移動を許容するように撓みをもって引き回されている。

ＶＣＭ４１を構成する永久磁石４４およびヨーク４５は、直動案内軸受け８４の滑りガイド８６に固定され、この滑りガイド８６が、基台１０上に固定されたレール８５に摺動自在に支持されている。レール８１、８５は互いに平行に固定されている。
直動案内軸受け８４は、永久磁石４４およびヨーク４５を滑りガイド８６を介してレール８５に沿って移動させることにより、スタックアーム４０の回動範囲を拡大することができる。

ＨＧＡ５０から引き出されたＦＰＣ（フレキシブルプリント配線基板）５４の端部に設けられた電気パッド５５は、スタックアーム４０の側部に沿って延びて、スタックアーム４０の軸部４２に設けられた、接続パッド４６ａに接続される。の対応する接続接点に接続される。なお、電気パッド５５は、磁気ヘッドスライダ５１の磁気ヘッド素子に接続された複数の電気接点を備えており、接続パッド４６ａには、電気パッド５５の対応する電気接点と接続される接続接点を備えている。

電気パッド５５と接続パッド４６ａの接離構造について、さらに図６(Ａ）、（Ｂ）を参照して説明する。これらの図は、図５の切断線VI-VIに沿う断面図である。

スタックアーム４０の軸部４２には、軸心を挟んで、一方に、コンタクトブロック７５が設けられ、他方にコンタクトレバー支持ブロック７１が設けられている。コンタクトレバー支持ブロック７１には、先端部に凸部７４を備えたコンタクトレバー７３が軸７２を介して軸支されている。凸部７４には、ＦＰＣ４６から連なるＦＰＣ（図示せず）の端部に形成された接続パッド４６ａが装着されている。接続パッド４６ａは、ＦＰＣ４６を介してスタックアーム４０から引き出され、ヘッドドライブ回路４７に接続されている。なお、図示しないが、ヘッドアンプは接続パッド４６ａ近傍のスタックアーム４０に搭載することがノイズ対策上好ましい。

コンタクトレバー７３は、軸部４２を跨いで揺動し、凸部７４の接続パッド４６ａが、コンタクトブロック７５の上面に対して接離可能に形成されている。コンタクトブロック７５の上面には、ＦＰＣ５４の端部に設けられた電気パッド５５が乗るように形成されている。つまり、コンタクトブロック７５の上面に電気パッド５５が乗った状態でコンタクトレバー７３を閉じると、接続パッド４６ａの電気接点が対応する電気パッド５５の電気接点と接触して導通する（図６（Ａ））。このコンタクトレバー７３の位置がコンタクト位置となる。

一方、コンタクトブロック７５には、ロックレバー７７の一端部が軸７６を介して揺動自在に軸支されている。ロックレバー７７の自由端部には、コンタクト位置にあるコンタクトレバー７３をコンタクト位置に係止するロック爪７８が突設されている。このロック爪７８は、ロックレバー７７をロック解除位置（図６（Ｂ））からロック位置に回動させると、コンタクト位置にあるコンタクトレバー７３の上面に係合して、接続パッド４６ａを電気パッド５５に押圧したコンタクト状態でコンタクトレバー７３を係止する（図６（Ｂ））。

ＨＧＡ５０を着脱するときは、ロックレバー７７をロック解除方向に回動させてロック爪７８をコンタクトレバー７３の背面から離反させる。そうして、コンタクトレバー７３を解放位置に回動させて電気パッド５５から離反させる（図６（Ｂ））。この操作によって電気パッド５５は解放され、自由になる。この自由状態で、ＨＧＡ５０をスタックアーム４０から取り外す。そうして別のＨＧＡ５０を装着し、電気パッド５５をコンタクトブロック７５上に乗せる。そうして、コンタクトレバー７３をコンタクト位置に回動させ、ロックレバー７７をロック位置に回動させてコンタクトレバー７３をロックし、接続パッド４６ａと電気パッド５５とを接続する。

以上の通りこの実施形態によれば、ＨＧＡ５０の電気パッド５５を簡単な操作でスタックアーム４０の接続パッド４６ａに接続することができるので、着脱操作時間を短縮できる。

なお、接続パッド４６ａは、コンタクトブロック７５上に配置するように形成してもよい。

さらに本発明の実施形態では、ランプブロック６０を、基台１０に対して垂直に装着された、直動シリンダ６３のピストンロッド６４に固定した。この直動シリンダ６３は、ＨＧＡ５０を着脱するときはピストンロッド６４を引き込んでランプブロック６０をＨＧＡ５０（タブ５３ａ）から離反させ、装着後にピストンロッド６４を上昇させてランプ面６１でタブ５３ａを支持し、ロード可能とした。なお、この直動シリンダ６３として、例えば公知のエアシリンダまたは電動シリンダが使用される。

ランプブロック６０を直動シリンダ６３によって昇降自在としたことにより、例えばＨＧＡ５０着脱の際にランプブロック６０を下降させて、ＨＧＡ５０の着脱を容易にすることができる。

以上の各スピンドルモータ３１、軸受け８０、８４、シリンダ６３等の可動部は、減圧したときに潤滑油等が飛散するまたはガス発生のおそれの無い仕様のものが好ましい。

以上の通り本発明の実施形態によれば、ヘッドジンバルアセンブリ４０を、実際のハードディスクドライブに近いＶＣＭ４１で駆動するスタックアーム４０に装着して試験を行うことができるので、製品と同等の特性試験を行うことができる。しかも、試験装置の大きさは、製品のハードディスクドライブよりやや大きい程度で済む。

本発明の磁気ディスクドライブ試験装置の実施形態を、密閉蓋を透視して示す平面図である。図１の切断線II-IIに沿う断面図である。ＨＧＡとスタックアームとの着脱構造を示す拡大側面図である。ＨＧＡとランプブロックの関係を説明する図であって、（Ａ）は平面、（Ｂ）は側面図である。本発明の他の実施形態の要部を、図２同様に縦断して示す図である。ＨＧＡの電気コンタクトとスタックアームの試験コンタクトとの接続構造の一例を示す、図５の切断線VI-VI切断線に沿う断面図であって、（Ａ）はコンタクトレバーがコンタクト位置にあるロック状態を示す図、（Ｂ）はコンタクトレバーが解放位置にある解放状態を示す図である。

符号の説明

１０基台
１５気密空間
２０密閉蓋
２１空気穴
２３空気パイプ
２５調圧ポンプ（真空ポンプ）
３０磁気ディスク
３１スピンドルモータ
４０スタックアーム
４０ａ装着穴
４２軸部
４３ボイスコイル
４４永久磁石
４６ＦＰＣ
４６ａ接続パッド
５０ＨＧＡ
５１磁気ヘッドスライダ
５２ａボス
５３サスペンション部
５３ａタブ
５４ＦＰＣ
５５電気パッド
５７ねじ
５８ナット
６０ランプブロック
６１ランプ面
６３直動シリンダ
６４ピストンロッド
７１コンタクトレバー支持ブロック
７３コンタクトレバー
７４凸部
７７ロックレバー
７８ロック爪
８０直進案内軸受け
８４直動案内軸受け

Claims

磁気ヘッドスライダを備えたヘッドジンバルアセンブリが着脱され、ボイスコイルモータによって駆動されるスタックアーム、および前記スタックアームに装着された磁気ヘッドスライダがロードされる回転メディアが搭載された基台と、
前記基台に着脱自在に被せられ、この基台上に搭載された前記スタックアーム、ヘッドジンバルアセンブリ、および回転メディアを収容する気密空間を形成する密閉蓋と、
前記気密空間に調圧ポンプを接続する空気穴と、
前記磁気ヘッドスライダの磁気ヘッド素子に接続され、その端部に複数の電気接点が設けられたＦＰＣと、
前記基台上に固定された垂直回転滑り軸であり、前記スタックアームを水平面内において回転自在に支持する軸部と、
前記軸部の軸心を挟んで一方に設けられたコンタクトブロックと、
前記軸部の軸心を挟んで他方に設けられたコンタクトレバー支持ブロックと、
前記コンタクトレバー支持ブロックに軸支され、先端部に凸部を有し、前記軸部を跨いで揺動し、前記凸部に設けられた接続接点としての接続パッドが、前記コンタクトブロックの上面に設けられる前記ＦＰＣの前記電気接点に対して接離可能に形成されたコンタクトレバーと、
前記コンタクトレバーを、前記接続パッドと前記電気接点が接触するコンタクト位置にロックするロックレバーと、
を備えることを特徴とするハードディスクドライブの試験装置。
請求項１記載のハードディスクドライブの試験装置において、前記空気穴は前記密閉蓋に設けられ、この空気穴と調圧ポンプとが可撓性のパイプを介して接続されるハードディスクドライブの試験装置。
請求項１または２記載のハードディスクドライブの試験装置において、前記ヘッドジンバルアセンブリとスタックアームとは、ヘッドジンバルアセンブリのベース部に設けられたボスが前記スタックアームの先端部に設けられた装着穴に嵌入され、さらに装着穴を貫通したねじ部材によって固定されるハードディスクドライブの試験装置。
請求項１ないし３のいずれか一項記載のハードディスクドライブの試験装置は、前記ヘッドジンバルアセンブリを前記回転メディアから離反したアンロード位置において支持するランプ部材を備えたランプロード方式であって、ランプ部材は、垂直昇降部材によって高さ調整されるハードディスクドライブの試験装置。
請求項４記載のハードディスクドライブの試験装置において、前記垂直昇降部材は、前記ヘッドジンバルアセンブリの着脱の際に前記ランプ部材を下降させるハードディスクドライブの試験装置。
請求項１乃至５のいずれか一項記載のハードディスクドライブの試験装置において、前記回転メディアは、スピンドルモータによって回転駆動される磁気ディスクであるハードディスクドライブの試験装置。
請求項６記載のハードディスクドライブの試験装置において、前記スピンドルモータは、直動案内軸受けを介して前記スタックアームに対して接離移動自在に形成され、前記スタックアームがアンロード位置にあるときに離反し、前記スタックアームに接近して前記磁気ヘッドスライダのロードを許容するハードディスクドライブの試験装置。
請求項１ないし７のいずれか一項記載のハードディスクドライブの試験装置において、前記接続パッドは、別のＦＰＣを介してスタックアームから引き出され、ヘッドドライブ回路に接続されていることを特徴とするハードディスクドライブの試験装置。