JP3091737B2

JP3091737B2 - 温度情報を記憶する手段を具えたディスク記録再生装置

Info

Publication number: JP3091737B2
Application number: JP11038006A
Authority: JP
Inventors: 仁士尾方
Original assignee: Sanyo Electric Co Ltd
Current assignee: Sanyo Electric Co Ltd
Priority date: 1999-02-17
Filing date: 1999-02-17
Publication date: 2000-09-25
Anticipated expiration: 2019-02-17
Also published as: JP2000236188A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、内部の温度を測定
して制御を行なう電気機器に関するものである。具体的
には、収容された光磁気ディスク周辺の温度を検出する
温度センサを具えた光磁気ディスクドライブに関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】光磁気ディスクドライブは、記録媒体と
して、保磁力の強い磁性体を記録層に配備したディスク
（光磁気ディスク）を使用し、該光磁気ディスクに対
し、レーザ光および外部磁界を用いて信号の書込みを行
ない、レーザ光を用いて信号の読出しを行なうディスク
記録再生装置である。信号を書込む際には、光磁気ディ
スクにおける記録層の所定位置にレーザ光を照射して、
キュリー温度に加熱することにより、該所定位置におけ
る磁性体の保磁力が弱まる。この状態で外部磁界を加え
ることにより、該磁性体の磁化の向きが変化して、信号
の書込みが行なわれる。信号を読出す際には、前記記録
層の所定位置にレーザ光を照射し、その反射光の偏光角
を検出する。該偏光角は、磁気カー効果により、該所定
位置における磁性体の磁化方向に応じて変化するから、
偏光角の検出により信号の読出しが行なわれる。

【０００３】光磁気ディスクドライブの信号書込み方式
としては、レーザ光を連続照射しつつ、外部磁界の向き
を変化させる磁界変調方式と、外部磁界の向きを一定と
し、レーザ光をオン／オフする光変調方式とが挙げられ
る。磁界変調方式を採用したドライブとしてＭＤドライ
ブがあり、光変調方式を採用したドライブとしてＭＯド
ライブがある。

【０００４】前述のように、光磁気ディスクドライブ
は、データの書込み時に、光磁気ディスクにおける記録
層の所定位置をキュリー温度に加熱する必要があるか
ら、光磁気ディスクの配備位置近くに温度センサを配備
して温度を測定し、該測定値に基づいてレーザ出力を制
御して、前記所定位置の温度をキュリー温度付近に維持
している。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】前記光磁気ディスクド
ライブにおいて、もし、信号の書込みが不正確であるな
らば、使用者は製造元へ修理を依頼するであろう。この
とき、信号の書込みが不正確となる原因には、レーザ、
センサ等の部品の故障や、使用時の温度異常が考えられ
る。部品の故障によるものならば、部品の検査により容
易に特定できる。しかしながら、使用時の温度異常のよ
うに使用状況によるものならば、修理時に再現できると
は限らず、原因を特定し難い場合が多い。このため、修
理期間が長期化したり、レーザ、センサ、制御回路等、
原因と考えられる部品全てを交換したりすることにな
り、修理にかかる時間および費用が増大する結果となっ
ていた。本発明は、使用時の温度異常が故障の原因であ
っても、原因の特定が従来よりも容易である電気機器を
提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明の電気機器は、内
部の温度制御を行なう電気機器であって、温度制御の対
象となる物体又はその周辺の温度を検出する検出手段
と、検出手段からの信号により温度の測定値を算出する
算出手段と、算出手段からの温度測定値に基づいて、前
記物体の温度制御を行なう制御手段を具える電気機器に
於て、算出手段による温度測定値を記憶する記憶手段を
具えることを特徴とする。

【０００７】

【作用及び効果】本発明の電気機器は、前記検出手段お
よび算出手段により使用時の温度が測定され、前記記憶
手段により、該測定値を記憶する。従って、修理の際に
は、記憶手段により記憶された温度測定値を、電気機器
の内部または外部に配備した読出手段により読み出すこ
とができ、温度異常が原因である故障を容易に特定でき
る。その結果、修理期間を短縮でき、多数の部品交換が
不要となり、修理にかかる時間および費用を抑えること
ができる。

【０００８】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。実施形態１図１は、本発明に係る光磁気ディスクドライブ(10)の構
成を示すブロック図である。光磁気ディスクドライブ(1
0)は、光磁気ディスク(11)に対し、信号の読出しおよび
書込みを行なう駆動部(12)を具える。駆動部(12)は、光
磁気ディスク(11)を回転させるディスクモータ(13)、光
磁気ディスク(11)のトラック上にレーザ光を照射すると
共に、その反射光を検出する光ピックアップ(14)、およ
び、光磁気ディスク(11)のトラックに磁界を印加する磁
気ヘッド(15)を具える。また、光磁気ディスクドライブ
(10)は、駆動部(12)における各デバイス(13)(14)(15)の
駆動を制御する駆動制御部(21)と、オーディオ信号また
はデジタルデータを、光磁気ディスク(11)の記録に適し
た記録信号に変換し、または該記録信号をオーディオ信
号またはデジタルデータに変換する信号処理部(22)を具
える。駆動制御部(21)は、具体的には、ディスクモータ
サーボ回路、ピックアップサーボ回路、レーザ出力制御
回路、ヘッド制御回路、等を具える。

【０００９】前記駆動制御部(21)および信号処理部(22)
は、装置全体の制御を行なうマイクロコンピュータ(30)
（以下、「マイコン」と略称する。）に接続されて制御
される。マイコン(30)は、プログラムを実行し、データ
を処理すると共に、各種デバイスに対しデータを送受信
するＣＰＵ（中央処理装置）(31)と、プログラムおよび
データを記憶する記憶手段を具える。記憶手段は、読出
し専用の不揮発性メモリであるＲＯＭ（リードオンリー
メモリ）(32)と、揮発性メモリであり、任意のアドレス
に対し高速アクセスできるＲＡＭ（ランダムアクセスメ
モリ）(33)とを具える。ＲＯＭ(32)には、装置の基本プ
ログラムおよび基本データであるファームウェアが予め
記憶されており、ＲＡＭ(33)には、装置の稼働時にＣＰ
Ｕ(31)にて処理される各種プログラムや各種データが記
憶される。また、マイコン(30)は、時間の経過を計測す
るタイマ(34)を具える。本実施例では、タイマ(34)は、
日付と時間を刻むカレンダー機能を有する。ＣＰＵ(3
1)、ＲＯＭ(32)、ＲＡＭ(33)、およびタイマ(34)は、バ
スライン(35)を介して接続されており、前記機構部(21)
および信号処理部(22)は、ポート(36)を介してバスライ
ン(35)に接続している。

【００１０】また、光磁気ディスクドライブ(10)は、該
ドライブ(10)に対し使用者が各種操作を行なう操作部(2
3)を具える。操作部(23)には、使用者が光磁気ディスク
ドライブ(10)に操作を指示する各種スイッチ（図示せ
ず）が配備されている。操作部(23)は、Ａ／Ｄコンバー
タ(37)を介してバスライン(35)に接続されており、使用
者が所望のスイッチを操作すると、操作部(23)は、該操
作に対応する操作信号を生成してＡ／Ｄコンバータ(37)
に送信する。また、光磁気ディスクドライブ(10)は、該
ドライブ(10)の動作状況を表示する表示部(24)を具え
る。表示部(24)は、表示コントローラ(38)を介してバス
ライン(35)に接続されており、マイコン(30)にて生成し
た表示信号を受信して、表示部(24)に配備したディスプ
レイ（図示せず）に文字、記号、画像等を表示する。ま
た、光磁気ディスクドライブ(10)は、変更可能なデータ
を保持し、且つ、電源をオフにした後も該データを保持
できる書換え可能な不揮発性メモリ(25)を具える。この
ようなデータとしては、光磁気ディスクドライブ(10)の
作動に必要とされる可変のパラメータデータや、ファー
ムウェアに対する修正プログラムおよび修正データが挙
げられる。さらに、本実施形態では、後記する温度測定
データが前記不揮発性メモリ(25)に格納される。不揮発
性メモリ(25)は、ポート(36)を介してバスライン(35)に
接続される。本実施例では、不揮発性メモリ(25)とし
て、ＥＥＰＲＯＭを使用している。

【００１１】上記構成の光磁気ディスクドライブ(10)に
おいて、電源スイッチ（図示せず）をオンにして通電を
始めると、ＣＰＵ(31)は、ＲＯＭ(32)内の基本プログラ
ムを実行し、ＲＯＭ(32)内の基本データと、不揮発性メ
モリ(25)内の各種パラメータデータを処理する。次に、
ＣＰＵ(31)は、操作部(23)からの操作信号を、Ａ／Ｄコ
ンバータ(37)およびバスライン(35)を介して受信し、該
操作信号に基づいて各種指示信号を、バスライン(35)お
よびポート(36)を介して駆動制御部(21)または信号処理
部(22)に送信する。駆動制御部(21)は、ＣＰＵ(31)から
の指示信号に基づいて駆動部(12)の駆動を制御し、信号
処理部(22)は、ＣＰＵ(31)からの指示信号に基づいて各
種の信号処理を行なう。

【００１２】例えば、光磁気ディスク(11)からの読出し
操作を行なう場合には、ＣＰＵ(31)は、読出し指示信号
を駆動制御部(21)および信号処理部(22)に送信する。駆
動制御部(21)は、駆動部(12)のディスクモータ(13)およ
び光ピックアップ(14)を制御し、光ピックアップ(14)が
光磁気ディスク(11)から記録信号を読み出して信号処理
部(22)に送信する。信号処理部(22)は、光ピックアップ
(14)からの記録信号を、オーディオ信号に変換してオー
ディオ出力端子(220)送信し、或いは、デジタルデータ
に変換してマイコン(30)に送信する。また、光磁気ディ
スク(11)への書込み操作を行なう場合には、ＣＰＵ(31)
は、書込み指示信号を駆動制御部(21)および信号処理部
(22)に送信する。信号処理部(22)は、オーディオ入力端
子(221)から受信したオーディオ信号、或いは、マイコ
ン(30)から受信したデジタルデータを、記録信号に変換
して駆動制御部(21)に送信する。駆動制御部(21)は、駆
動部(12)におけるディスクモータ(13)、光ピックアップ
(14)および磁気ヘッド(15)を制御して、信号処理部(22)
からの記録信号を光磁気ディスク(11)に書き込む。ま
た、光磁気ディスクドライブ(10)の上記動作状況に応じ
て、ＣＰＵ(31)は、表示信号を生成して表示部(24)に送
信し、表示部(24)にて動作状況が表示される。

【００１３】光磁気ディスクドライブ(10)には、温度を
検出する温度センサ(26)が光磁気ディスク(11)の近くに
配備される。温度センサ(26)は、前記Ａ／Ｄコンバータ
(37)を介してバスライン(35)に接続しており、温度セン
サ(26)から検出信号が、Ａ／Ｄコンバータ(37)およびバ
スライン(35)を介してＣＰＵ(31)に送信される。ＣＰＵ
(31)は、ＲＯＭ(32)に予め格納した温度測定プログラム
を実行すると、温度センサ(26)からの検出信号に基づい
て、光磁気ディスク(11)の周囲の温度測定値を算出す
る。光磁気ディスク(11)への書込み操作では、ＣＰＵ(3
1)は、前記温度測定値に基づいて、駆動制御部(21)に制
御信号を送信し、駆動部(12)の光ピックアップ(14)にお
けるレーザ出力を制御する。

【００１４】図２のフローチャートは、本実施形態にお
いて、光磁気ディスク(11)周辺の温度測定値の最大値、
すなわち最高温度を不揮発性メモリ(25)に記憶させる最
高温度記憶プログラムを示している。このプログラム
は、光磁気ディスクドライブ(10)の通電開始時から通電
終了時まで実行される。まず、不揮発性メモリ(25)の所
定位置から最高温度を読み出す（Ｓ10）。なお、製品出
荷時には、温度センサ(26)が通常検出し得る温度より稍
高い温度を最高温度として不揮発性メモリ(25)に予め書
き込むことが望ましい。次に、上記温度測定プログラム
から、光磁気ディスク(11)の周囲における現在の温度測
定値を受け取る（Ｓ11）。次に、最高温度と温度測定値
を比較する（Ｓ12）。最高温度よりも温度測定値の方が
大きい場合には、最高温度を温度測定値に更新し（Ｓ1
3）、更新した最高温度を不揮発性メモリ(25)の前記所
定位置に書き込み（Ｓ14）、且つ、現在の日時を、タイ
マ(34)から受け取って、不揮発性メモリ(25)の他の所定
位置に書き込む（Ｓ15）。最高温度よりも温度測定値の
方が小さい場合には、次のステップＳ16に進む。次に、
光磁気ディスクドライブ(10)の通電が終了したか否かを
判断する（Ｓ16）。終了していない場合には、所定時間
待機した後（Ｓ17）、ステップＳ11に戻り、終了してい
る場合には、所定の終了処理を行って（Ｓ18）、このプ
ログラムを終了する。

【００１５】なお、前記最高温度記憶プログラムにおい
て、通電が終了したか否かを判断するステップＳ16を、
ステップＳ17へ進むステップに変えて無限ループとし、
通電終了時に割込み処理により強制終了させてもよい。
また、最高温度を温度測定値に更新するステップＳ13に
おいて、最高温度を温度測定値に更新してＲＡＭ(33)に
格納すると共に、現在の日時をＲＡＭ(33)に格納してお
き、不揮発性メモリ(25)に書き込むステップＳ14及びＳ
15を、終了処理のステップＳ18にて実行するようにして
もよい。

【００１６】上記最高温度記憶プログラムを実行するこ
とにより、光磁気ディスク(11)の周辺における温度測定
値の最大値（最高温度）と、最高温度を測定した日時を
不揮発性メモリ(25)に記憶することができる。修理の際
に、前記最高温度および測定日時を不揮発性メモリ(25)
から読み出す方法としては、外部の治具を利用する方法
が考えられるが、本実施形態では、最高温度および測定
日時を読み出す読出しプログラムを、ＲＯＭ(32)または
不揮発性メモリ(25)に予め配備している。

【００１７】図３は、前記読出しプログラムの一例を示
している。このプログラムは、使用者による誤動作防止
のため、装置(10)の内部スイッチ（図示せず）を入れる
か、或いは操作部(23)において、所定の２つのキーを同
時に押すなどの特定の操作の組合せにより実行される。
まず、不揮発性メモリ(25)の所定位置から最高温度及び
測定日時を示すデータを読み出し（Ｓ20）、該データを
表示器(24)に送信して表示させる（Ｓ21）。次に、上記
温度測定プログラムから、光磁気ディスク(11)の周囲に
おける現在の温度測定値を受け取り（Ｓ22）、該測定値
を表示器(24)に送信して表示させる（Ｓ23）。そして、
操作部(23)から終了操作が有ったか否かを判断し（Ｓ2
4）、終了操作が無い場合には、ステップＳ22に戻り、
有る場合には、所定の終了処理を行って（Ｓ25）、この
プログラムを終了する。

【００１８】前記読出しプログラムを実行することによ
り、不揮発性メモリ(25)に記憶された最高温度および測
定日時を表示器(24)に表示させることができると共に、
光磁気ディスク(11)の周辺における現在の温度測定値を
表示器(24)に表示させることができる。

【００１９】従って、本実施形態の光磁気ディスクドラ
イブ(10)は、前記最高温度記憶プログラムにより、光磁
気ディスク(11)の周辺における使用時の最高温度および
その測定日時を不揮発性メモリ(25)に記憶しており、修
理の際には、前記読出しプログラムにより、不揮発性メ
モリ(25)に記憶された最高温度および測定日時を表示器
(24)に表示できるから、温度異常が原因である故障を容
易に特定できる。その結果、修理期間を短縮でき、多数
の部品交換が不要となり、修理にかかる時間および費用
を抑えることができる。また、前記読出しプログラムに
より、光磁気ディスク(11)の周辺における最高温度と現
在の温度測定値を表示器(24)に表示できるから、光磁気
ディスクドライブ(10)を稼働して、前記最高温度および
温度測定値を参照しつつ修理を行うことができ、修理効
率が上昇する。

【００２０】実施形態２次に、第２実施形態の光磁気ディスクドライブを説明す
る。第２実施形態は、第１実施形態に比べて、温度を記
憶するプログラムと、不揮発性メモリ(25)に温度を記憶
する位置および数が異なり、その他は同じである。従っ
て、光磁気ディスクドライブ(10)の構成に関する説明は
省略する。図４のフローチャートは、本実施形態におい
て、光磁気ディスク(11)周辺の温度測定値のうち、所定
温度以上の測定値を不揮発性メモリ(25)に記憶させる所
定温度記憶プログラムを示している。このプログラム
は、光磁気ディスクドライブ(10)の通電開始時から通電
終了時まで実行される。前記所定温度としては、温度セ
ンサ(26)が通常検出し得る温度より稍高い温度が望まし
い。図５（ａ）及び（ｂ）のメモリマップは、本実施形
態において、不揮発性メモリ(25)の所定アドレス(40)か
ら温度測定値および測定日時を記憶した状態を示してい
る。所定温度記憶プログラムの動作を以下に説明する。

【００２１】まず、図５（ａ）に示すように、不揮発性
メモリ(25)の記憶領域において、温度測定値および測定
日時を最後に書き込んだ領域に隣接する空き領域のアド
レス(41)（以下、「書込みアドレス」と称する。）を確
認する（Ｓ30）。なお、製品出荷時には、所定アドレス
(40)を書込みアドレス(41)としておく。次に、前記温度
測定プログラムから、光磁気ディスク(11)の周囲におけ
る現在の温度測定値を受け取る（Ｓ31）。次に、所定温
度と温度測定値を比較する（Ｓ32）。所定温度よりも温
度測定値の方が大きい場合には、図５（ｂ）に示すよう
に、不揮発性メモリ(25)の書込みアドレス(41)から、温
度測定値を書き込み（Ｓ33）、引き続いて、タイマ(34)
から得た現在の日時を測定日時として書き込んで（Ｓ3
4）、ステップＳ33およびＳ34にて書込みを行った領域
に隣接する空き領域のアドレスに書込みアドレス(41)を
移動する（Ｓ35）。所定温度よりも温度測定値の方が小
さい場合には、次のステップＳ36に進む。次に、光磁気
ディスクドライブ(10)の通電が終了したか否かを判断す
る（Ｓ36）。終了していない場合には、所定時間待機し
た後（Ｓ37）、ステップＳ31に戻り、終了している場合
には、所定の終了処理を行って（Ｓ38）、このプログラ
ムを終了する。

【００２２】上記所定温度記憶プログラムを実行するこ
とにより、光磁気ディスク(11)の周辺における所定温度
以上の温度測定値と、該測定値を記録した測定日時を不
揮発性メモリ(25)に記憶することができる。修理の際に
は、外部の治具や、上述のように、ＲＯＭ(32)または不
揮発性メモリ(25)に予め配備した読出しプログラムによ
り、前記温度測定値および測定日時を不揮発性メモリ(2
5)から読み出すことができる。従って、本実施形態の光
磁気ディスクドライブ(10)は、温度異常が原因である故
障を容易に特定できるから、修理期間を短縮でき、多数
の部品交換が不要となり、修理にかかる時間および費用
を抑えることができる。また、本実施形態の光磁気ディ
スクドライブ(10)は、温度異常の発生履歴を知ることが
できる。温度異常の発生履歴は、部品の取替えが必要
か、或いは、装置の再調整で対処できるかといった修理
方法を判断するための効果的な材料となる。

【００２３】上記実施形態の説明は、本発明を説明する
ためのものであって、特許請求の範囲に記載の発明を限
定し、或いは範囲を減縮する様に解すべきではない。
又、本発明の各部構成は上記実施形態に限らず、特許請
求の範囲に記載の技術的範囲内で種々の変形が可能であ
ることは勿論である。例えば、レーザ光を利用した光デ
ィスクドライブには、ＭＤドライブ、ＭＯドライブのよ
うな光磁気記録方式のものの他に、ＰＤドライブのよう
な、相変化記録方式のものがある。相変化記録方式は、
レーザビームが与える温度によって、記録媒体の状態を
変化させるものであり、光磁気記録方式と同様に、温度
異常により書込みが不正確となる故障が起こり得る。従
って、本発明は、相変化記録方式の光ディスクドライブ
にも適用できる。同様に、温度制御を必要とする電気機
器であれば、温度異常による故障が起こり得るから、本
発明を適用できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態である光磁気ディスクドライ
ブの構成を示すブロック図である。

【図２】第１実施形態における最高温度記憶プログラム
を示すフローチャートである。

【図３】第１実施形態における読出しプログラムを示す
フローチャートである。

【図４】第２実施形態における所定温度記憶プログラム
を示すフローチャートである。

【図５】（ａ）および（ｂ）は、第２実施形態の不揮発
性メモリにおける温度測定値および測定日時の格納状態
を示すメモリマップである。

【符号の説明】

(10) 光磁気ディスクドライブ (24) 表示部 (25) 不揮発性メモリ (26) 温度センサ (30) マイクロコンピュータ (34) タイマ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H05K 7/20 G11B 33/14

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】光磁気ディスク(11)にレーザー光を照射
して、該照射箇所を加熱するピックアップ(14)と、光磁
気ディスク(11)の周辺の温度を検出する温度センサ(26)
と、該温度センサ(26)からの信号により温度の測定値を
算出する算出手段と、算出手段からの温度測定値に基づ
いて、前記ピックアップ(14)のレーザ出力を制御する制
御手段と、算出手段からの温度測定値を記憶する記憶手
段と、記憶手段から温度測定値を読み出す読出手段を具
えるディスク記録再生装置に於いて、機器の状態を表示する表示手段と、読出手段からの温度
測定値を表示手段に表示させる表示制御手段とを具え、記憶手段は、算出手段からの温度測定値が、読出手段か
らの温度測定値よりも大きい場合に、算出手段からの温
度測定値を記憶するディスク記録再生装置。
【請求項２】日時を計測するタイマ(34)を具えてお
り、記憶手段は、温度測定値を記憶する際に、タイマ(34)か
らの日時を記憶する請求項１に記載のディスク記録再生
装置。