JP2002109772A - 光ディスク装置 - Google Patents
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- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
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- G—PHYSICS
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- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
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- G11B7/094—Methods and circuits for servo offset compensation
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- G11B7/0945—Methods for initialising servos, start-up sequences
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 光ディスク装置において、周囲温度等が変化
することによって装置内の温度が変化した場合でも、起
動時に設定されたオフセット値やレーザ出力値の影響を
受けず、適切な記録、再生を行うことができる光ディス
ク装置を提供する。 【解決手段】 ピックアップ１０に取り付けられた温度
センサ１２により温度を測定して、温度変化が所定値よ
りも大きい場合には、フォーカスオフセットにおけるオ
フセット値や、トラッキングオフセットにおけるオフセ
ット値や、ピックアップ１０から出力されるレーザのレ
ーザ出力値を再設定する。
することによって装置内の温度が変化した場合でも、起
動時に設定されたオフセット値やレーザ出力値の影響を
受けず、適切な記録、再生を行うことができる光ディス
ク装置を提供する。 【解決手段】 ピックアップ１０に取り付けられた温度
センサ１２により温度を測定して、温度変化が所定値よ
りも大きい場合には、フォーカスオフセットにおけるオ
フセット値や、トラッキングオフセットにおけるオフセ
ット値や、ピックアップ１０から出力されるレーザのレ
ーザ出力値を再設定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光磁気ディスク等
の光ディスクに対して記録、再生を行う光ディスク装置
に関するものであり、特に、フォーカスオフセット、ト
ラッキングオフセット、さらには、レーザ出力値の制御
に関するものである。
の光ディスクに対して記録、再生を行う光ディスク装置
に関するものであり、特に、フォーカスオフセット、ト
ラッキングオフセット、さらには、レーザ出力値の制御
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、光磁気ディスク等の光ディス
クに対して記録、再生を行う光ディスク装置や、再生専
用の光ディスク装置が存在する。そのような光ディスク
装置においては、フォーカス制御や、トラッキング制御
が行われている。このフォーカス制御やトラッキング制
御においては、個体差や使用状況に適合させるためにオ
フセット調整を行っている。つまり、フォーカスオフセ
ットや、トラッキングオフセットの調整を行っている。
クに対して記録、再生を行う光ディスク装置や、再生専
用の光ディスク装置が存在する。そのような光ディスク
装置においては、フォーカス制御や、トラッキング制御
が行われている。このフォーカス制御やトラッキング制
御においては、個体差や使用状況に適合させるためにオ
フセット調整を行っている。つまり、フォーカスオフセ
ットや、トラッキングオフセットの調整を行っている。
【０００３】このオフセットは、光ディスク装置の起動
時、つまり、該光ディスク装置にディスクを装着した際
に１度だけ行われている。つまり、光ディスク装置の起
動時に、フォーカスオフセットについては、ＲＦ信号が
最大となる値にオフセット値を設定し、また、トラッキ
ングオフセットについては、ＯＮトラック時のトラッキ
ングエラー信号がＯＦＦトラック時のトラッキングエラ
ー信号のセンターの位置となる値にオフセット値を設定
する。そして、ディスクを取り出すまでの間、この設定
されたオフセット値を基準としてフォーカス制御やトラ
ッキング制御を行っていく。
時、つまり、該光ディスク装置にディスクを装着した際
に１度だけ行われている。つまり、光ディスク装置の起
動時に、フォーカスオフセットについては、ＲＦ信号が
最大となる値にオフセット値を設定し、また、トラッキ
ングオフセットについては、ＯＮトラック時のトラッキ
ングエラー信号がＯＦＦトラック時のトラッキングエラ
ー信号のセンターの位置となる値にオフセット値を設定
する。そして、ディスクを取り出すまでの間、この設定
されたオフセット値を基準としてフォーカス制御やトラ
ッキング制御を行っていく。
【０００４】また、ピックアップから照射されるレーザ
のレーザ出力値についても、光ディスク装置の起動時に
設定される。つまり、光ディスク装置の起動時に、デー
タ誤り率が最少となる値にレーザ出力値を設定する。
のレーザ出力値についても、光ディスク装置の起動時に
設定される。つまり、光ディスク装置の起動時に、デー
タ誤り率が最少となる値にレーザ出力値を設定する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の光
ディスク装置においては、起動時にのみフォーカスオフ
セット、トラッキングオフセット、さらに、レーザ出力
値の設定を行うので、該光ディスク装置の周囲温度が変
化したり、該光ディスク装置内の基板温度が変化する等
によって、光ディスク装置内の温度が変化した場合に、
回路のオフセット特性や、ピックアップの光学特性に変
化が現れ、設定されているオフセット値やレーザ出力値
が最適値から外れてしまう。特に、光ディスク装置が携
帯性を有している場合には、該光ディスク装置を屋外か
ら屋内に移動した場合等には、設定されているオフセッ
ト値等が最適値から大きく外れる可能性がある。
ディスク装置においては、起動時にのみフォーカスオフ
セット、トラッキングオフセット、さらに、レーザ出力
値の設定を行うので、該光ディスク装置の周囲温度が変
化したり、該光ディスク装置内の基板温度が変化する等
によって、光ディスク装置内の温度が変化した場合に、
回路のオフセット特性や、ピックアップの光学特性に変
化が現れ、設定されているオフセット値やレーザ出力値
が最適値から外れてしまう。特に、光ディスク装置が携
帯性を有している場合には、該光ディスク装置を屋外か
ら屋内に移動した場合等には、設定されているオフセッ
ト値等が最適値から大きく外れる可能性がある。
【０００６】例えば、フォーカスオフセットにおいて、
オフセット値とエラー発生率との関係を示すと、２５℃
と６５℃とで図６（ａ）に示すように相違する。また、
トラッキングオフセットにおいて、オフセット値とエラ
ー発生率との関係を示すと、２５℃と６５℃とで図６
（ｂ）に示すように相違する。つまり、温度に応じて最
適なオフセット値は異なる。オフセット値が適切な値か
ら外れた場合には、適切な記録、再生が行えない可能性
がある。
オフセット値とエラー発生率との関係を示すと、２５℃
と６５℃とで図６（ａ）に示すように相違する。また、
トラッキングオフセットにおいて、オフセット値とエラ
ー発生率との関係を示すと、２５℃と６５℃とで図６
（ｂ）に示すように相違する。つまり、温度に応じて最
適なオフセット値は異なる。オフセット値が適切な値か
ら外れた場合には、適切な記録、再生が行えない可能性
がある。
【０００７】そこで、本発明は、光ディスク装置におい
て、周囲温度等が変化することによって装置内の温度が
変化した場合でも、起動時に設定されたオフセット値や
レーザ出力値の影響を受けず、適切な記録、再生を行う
ことができる光ディスク装置を提供することを目的とす
るものである。
て、周囲温度等が変化することによって装置内の温度が
変化した場合でも、起動時に設定されたオフセット値や
レーザ出力値の影響を受けず、適切な記録、再生を行う
ことができる光ディスク装置を提供することを目的とす
るものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は上記問題点を解
決するために創作されたものであって、第１には、光デ
ィスク装置であって、該光ディスク装置の内部の温度を
測定する温度測定手段と、該温度測定手段により測定さ
れた温度の変化に応じて、オフセット値及び／又はレー
ザ出力値を再設定する再設定手段と、を有することを特
徴とする。
決するために創作されたものであって、第１には、光デ
ィスク装置であって、該光ディスク装置の内部の温度を
測定する温度測定手段と、該温度測定手段により測定さ
れた温度の変化に応じて、オフセット値及び／又はレー
ザ出力値を再設定する再設定手段と、を有することを特
徴とする。
【０００９】この第１の構成の光ディスク装置において
は、上記温度測定手段が、該光ディスク装置の内部の温
度を測定する。そして、上記再設定手段が、該温度測定
手段により測定された温度の変化に応じて、オフセット
値及び／又はレーザ出力値を再設定する。よって、温度
の変化が大きい場合には、変化後の温度に最適なオフセ
ット値やレーザ出力値に設定することができ、適切な記
録、再生を行うことが可能となる。
は、上記温度測定手段が、該光ディスク装置の内部の温
度を測定する。そして、上記再設定手段が、該温度測定
手段により測定された温度の変化に応じて、オフセット
値及び／又はレーザ出力値を再設定する。よって、温度
の変化が大きい場合には、変化後の温度に最適なオフセ
ット値やレーザ出力値に設定することができ、適切な記
録、再生を行うことが可能となる。
【００１０】また、第２には、上記第１の構成におい
て、上記オフセット値が、フォーカスオフセットにおけ
るオフセット値及び／又はトラッキングオフセットにお
けるオフセット値であることを特徴とする。これによ
り、温度が大きく変化しても、フォーカスオフセットの
オフセット値やトラッキングオフセットのオフセット値
を最適にすることができる。
て、上記オフセット値が、フォーカスオフセットにおけ
るオフセット値及び／又はトラッキングオフセットにお
けるオフセット値であることを特徴とする。これによ
り、温度が大きく変化しても、フォーカスオフセットの
オフセット値やトラッキングオフセットのオフセット値
を最適にすることができる。
【００１１】また、第３には、光ディスク装置であっ
て、該光ディスク装置の内部の温度を測定する温度測定
手段と、該温度測定手段により測定された温度の変化量
が所定値を越えているか否かを判定する判定手段と、該
判定手段により、温度の変化量が所定値を越えていると
判定された場合には、フォーカスオフセットにおけるオ
フセット値及び／又はトラッキングオフセットにおける
オフセット値を再設定するオフセット値再設定手段と、
を有することを特徴とする。
て、該光ディスク装置の内部の温度を測定する温度測定
手段と、該温度測定手段により測定された温度の変化量
が所定値を越えているか否かを判定する判定手段と、該
判定手段により、温度の変化量が所定値を越えていると
判定された場合には、フォーカスオフセットにおけるオ
フセット値及び／又はトラッキングオフセットにおける
オフセット値を再設定するオフセット値再設定手段と、
を有することを特徴とする。
【００１２】この第３の構成の光ディスク装置において
は、上記温度測定手段が、該光ディスク装置の内部の温
度を測定する。そして、上記判定手段が、該温度測定手
段により測定された温度の変化量が所定値を越えている
か否かを判定し、該判定手段により、温度測定手段によ
り測定された温度の変化量が所定値を越えていると判定
された場合には、上記オフセット値再設定手段は、フォ
ーカスオフセットにおけるオフセット値及び／又はトラ
ッキングオフセットにおけるオフセット値をオフセット
値を再設定する。よって、温度の変化が大きい場合に
は、変化後の温度に最適なオフセット値に設定すること
ができ、適切な記録、再生を行うことが可能となる。
は、上記温度測定手段が、該光ディスク装置の内部の温
度を測定する。そして、上記判定手段が、該温度測定手
段により測定された温度の変化量が所定値を越えている
か否かを判定し、該判定手段により、温度測定手段によ
り測定された温度の変化量が所定値を越えていると判定
された場合には、上記オフセット値再設定手段は、フォ
ーカスオフセットにおけるオフセット値及び／又はトラ
ッキングオフセットにおけるオフセット値をオフセット
値を再設定する。よって、温度の変化が大きい場合に
は、変化後の温度に最適なオフセット値に設定すること
ができ、適切な記録、再生を行うことが可能となる。
【００１３】また、第４には、上記第３の構成におい
て、上記光ディスク装置が、さらに、上記判定手段によ
り、温度の変化量が所定値を越えていると判定された場
合には、光ディスクの記録及び／又は再生に用いるレー
ザを発光する発光部からのレーザ出力値を再設定するレ
ーザ出力値再設定手段を有することを特徴とする。
て、上記光ディスク装置が、さらに、上記判定手段によ
り、温度の変化量が所定値を越えていると判定された場
合には、光ディスクの記録及び／又は再生に用いるレー
ザを発光する発光部からのレーザ出力値を再設定するレ
ーザ出力値再設定手段を有することを特徴とする。
【００１４】よって、温度の変化が大きい場合には、変
化後の温度に最適なレーザ出力値に設定することがで
き、適切な記録、再生を行うことが可能となる。
化後の温度に最適なレーザ出力値に設定することがで
き、適切な記録、再生を行うことが可能となる。
【００１５】また、第５には、光ディスク装置であっ
て、該光ディスク装置の内部の温度を測定する温度測定
手段と、該温度測定手段により測定された温度の変化量
が所定値を越えているか否かを判定する判定手段と、該
判定手段により、温度の変化量が所定値を越えていると
判定された場合には、光ディスクの記録及び／又は再生
に用いるレーザを発光する発光部からのレーザ出力値を
再設定するレーザ出力値再設定手段と、を有することを
特徴とする。
て、該光ディスク装置の内部の温度を測定する温度測定
手段と、該温度測定手段により測定された温度の変化量
が所定値を越えているか否かを判定する判定手段と、該
判定手段により、温度の変化量が所定値を越えていると
判定された場合には、光ディスクの記録及び／又は再生
に用いるレーザを発光する発光部からのレーザ出力値を
再設定するレーザ出力値再設定手段と、を有することを
特徴とする。
【００１６】この第５の構成の光ディスク装置において
は、上記温度測定手段が、該光ディスク装置の内部の温
度を測定する。そして、上記判定手段が、該温度測定手
段により測定された温度の変化量が所定値を越えている
か否かを判定し、該判定手段により、温度測定手段によ
り測定された温度の変化量が所定値を越えていると判定
された場合には、上記レーザ出力値再設定手段が、レー
ザを発光する発光部からのレーザ出力値を再設定する。
よって、温度の変化が大きい場合には、変化後の温度に
最適なレーザ出力値に設定することができ、適切な記
録、再生を行うことが可能となる。
は、上記温度測定手段が、該光ディスク装置の内部の温
度を測定する。そして、上記判定手段が、該温度測定手
段により測定された温度の変化量が所定値を越えている
か否かを判定し、該判定手段により、温度測定手段によ
り測定された温度の変化量が所定値を越えていると判定
された場合には、上記レーザ出力値再設定手段が、レー
ザを発光する発光部からのレーザ出力値を再設定する。
よって、温度の変化が大きい場合には、変化後の温度に
最適なレーザ出力値に設定することができ、適切な記
録、再生を行うことが可能となる。
【００１７】また、第６には、光ディスク装置であっ
て、光ディスク装置の起動時に、フォーカスオフセット
におけるオフセット値及び／又はトラッキングオフセッ
トにおけるオフセット値を設定する設定手段と、該光デ
ィスク装置の起動時における該光ディスク装置の内部の
温度を測定する第１の温度測定手段と、該光ディスク装
置の起動後における該光ディスク装置の内部の温度を測
定する第２の温度測定手段と、該第２の温度測定手段に
より測定された温度と、該第１の温度測定手段により測
定された温度との差分が所定値を越えているか否かを判
定する判定手段と、該判定手段により、上記差分が所定
値を越えていると判定された場合には、上記設定手段に
より設定されたオフセット値を再設定する再設定手段
と、を有することを特徴とする。
て、光ディスク装置の起動時に、フォーカスオフセット
におけるオフセット値及び／又はトラッキングオフセッ
トにおけるオフセット値を設定する設定手段と、該光デ
ィスク装置の起動時における該光ディスク装置の内部の
温度を測定する第１の温度測定手段と、該光ディスク装
置の起動後における該光ディスク装置の内部の温度を測
定する第２の温度測定手段と、該第２の温度測定手段に
より測定された温度と、該第１の温度測定手段により測
定された温度との差分が所定値を越えているか否かを判
定する判定手段と、該判定手段により、上記差分が所定
値を越えていると判定された場合には、上記設定手段に
より設定されたオフセット値を再設定する再設定手段
と、を有することを特徴とする。
【００１８】この第６の構成の光ディスク装置において
は、光ディスク装置の起動時において、上記設定手段
が、フォーカスオフセットにおけるオフセット値及び／
又はトラッキングオフセットにおけるオフセット値を設
定する。また、第１の温度測定手段が、該光ディスク装
置の起動時における該光ディスク装置の内部の温度を測
定する。その後、第２の温度測定手段が、該光ディスク
装置の起動後における該光ディスク装置の内部の温度を
測定する。そして、上記判定手段が、該第２の温度測定
手段により測定された温度と、該第１の温度測定手段に
より測定された温度との差分が所定値を越えているか否
かを判定し、上記判定手段により、該第２の温度測定手
段により測定された温度と、該第１の温度測定手段によ
り測定された温度との差分が所定値を越えていると判定
された場合には、上記再設定手段は、上記設定手段によ
り設定されたオフセット値を再設定する。よって、起動
時に比べて温度の変化が大きくなった場合には、変化後
の温度に最適なオフセット値に設定することができ、適
切な記録、再生を行うことが可能となる。
は、光ディスク装置の起動時において、上記設定手段
が、フォーカスオフセットにおけるオフセット値及び／
又はトラッキングオフセットにおけるオフセット値を設
定する。また、第１の温度測定手段が、該光ディスク装
置の起動時における該光ディスク装置の内部の温度を測
定する。その後、第２の温度測定手段が、該光ディスク
装置の起動後における該光ディスク装置の内部の温度を
測定する。そして、上記判定手段が、該第２の温度測定
手段により測定された温度と、該第１の温度測定手段に
より測定された温度との差分が所定値を越えているか否
かを判定し、上記判定手段により、該第２の温度測定手
段により測定された温度と、該第１の温度測定手段によ
り測定された温度との差分が所定値を越えていると判定
された場合には、上記再設定手段は、上記設定手段によ
り設定されたオフセット値を再設定する。よって、起動
時に比べて温度の変化が大きくなった場合には、変化後
の温度に最適なオフセット値に設定することができ、適
切な記録、再生を行うことが可能となる。
【００１９】また、第７には、上記第６の構成におい
て、上記第２の温度測定手段が、所定周期で温度の測定
を行い、上記判定手段が、該第２の温度測定手段により
直近に測定された温度と、該温度の１つ前に該第２の温
度測定手段により測定された温度との差分が所定値を越
えているか否かの判定を行い、上記判定手段により、上
記差分が所定値を越えていると判定された場合には、上
記再設定手段が、設定されているオフセット値を再設定
することを特徴とする。よって、起動後の動作中におい
て温度の変化が大きくなった場合には、変化後の温度に
最適なオフセット値に設定することができ、適切な記
録、再生を行うことが可能となる。
て、上記第２の温度測定手段が、所定周期で温度の測定
を行い、上記判定手段が、該第２の温度測定手段により
直近に測定された温度と、該温度の１つ前に該第２の温
度測定手段により測定された温度との差分が所定値を越
えているか否かの判定を行い、上記判定手段により、上
記差分が所定値を越えていると判定された場合には、上
記再設定手段が、設定されているオフセット値を再設定
することを特徴とする。よって、起動後の動作中におい
て温度の変化が大きくなった場合には、変化後の温度に
最適なオフセット値に設定することができ、適切な記
録、再生を行うことが可能となる。
【００２０】また、第８には、光ディスク装置であっ
て、光ディスク装置の起動時に、光ディスクの記録及び
／又は再生に用いるレーザを発光する発光部からのレー
ザ出力値を設定する設定手段と、該光ディスク装置の起
動時における該光ディスク装置の内部の温度を測定する
第１の温度測定手段と、該光ディスク装置の起動後にお
ける該光ディスク装置の内部の温度を測定する第２の温
度測定手段と、該第２の温度測定手段により測定された
温度と、該第１の温度測定手段により測定された温度と
の差分が所定値を越えているか否かを判定する判定手段
と、該判定手段により、上記差分が所定値を越えている
と判定された場合には、上記設定手段により設定された
レーザ出力値を再設定する再設定手段と、を有すること
を特徴とする。
て、光ディスク装置の起動時に、光ディスクの記録及び
／又は再生に用いるレーザを発光する発光部からのレー
ザ出力値を設定する設定手段と、該光ディスク装置の起
動時における該光ディスク装置の内部の温度を測定する
第１の温度測定手段と、該光ディスク装置の起動後にお
ける該光ディスク装置の内部の温度を測定する第２の温
度測定手段と、該第２の温度測定手段により測定された
温度と、該第１の温度測定手段により測定された温度と
の差分が所定値を越えているか否かを判定する判定手段
と、該判定手段により、上記差分が所定値を越えている
と判定された場合には、上記設定手段により設定された
レーザ出力値を再設定する再設定手段と、を有すること
を特徴とする。
【００２１】この第８の構成の光ディスク装置において
は、光ディスク装置の起動時において、上記設定手段
が、光ディスクの記録及び／又は再生に用いるレーザを
発光する発光部からのレーザ出力値を設定する。また、
第１の温度測定手段が、該光ディスク装置の起動時にお
ける該光ディスク装置の内部の温度を測定する。その
後、第２の温度測定手段が、該光ディスク装置の起動後
における該光ディスク装置の内部の温度を測定する。そ
して、上記判定手段が、該第２の温度測定手段により測
定された温度と、該第１の温度測定手段により測定され
た温度との差分が所定値を越えているか否かを判定し、
上記判定手段により、該第２の温度測定手段により測定
された温度と、該第１の温度測定手段により測定された
温度との差分が所定値を越えていると判定された場合に
は、上記再設定手段は、上記設定手段により設定された
レーザ出力値を再設定する。よって、起動時に比べて温
度の変化が大きくなった場合には、変化後の温度に最適
なレーザ出力値に設定することができ、適切な記録、再
生を行うことが可能となる。
は、光ディスク装置の起動時において、上記設定手段
が、光ディスクの記録及び／又は再生に用いるレーザを
発光する発光部からのレーザ出力値を設定する。また、
第１の温度測定手段が、該光ディスク装置の起動時にお
ける該光ディスク装置の内部の温度を測定する。その
後、第２の温度測定手段が、該光ディスク装置の起動後
における該光ディスク装置の内部の温度を測定する。そ
して、上記判定手段が、該第２の温度測定手段により測
定された温度と、該第１の温度測定手段により測定され
た温度との差分が所定値を越えているか否かを判定し、
上記判定手段により、該第２の温度測定手段により測定
された温度と、該第１の温度測定手段により測定された
温度との差分が所定値を越えていると判定された場合に
は、上記再設定手段は、上記設定手段により設定された
レーザ出力値を再設定する。よって、起動時に比べて温
度の変化が大きくなった場合には、変化後の温度に最適
なレーザ出力値に設定することができ、適切な記録、再
生を行うことが可能となる。
【００２２】また、第９には、上記第８の構成におい
て、上記第２の温度測定手段が、所定周期で温度の測定
を行い、上記判定手段が、該第２の温度測定手段により
直近に測定された温度と、該温度の１つ前に該第２の温
度測定手段により測定された温度との差分が所定値を越
えているか否かの判定を行い、上記判定手段により、上
記差分が所定値を越えていると判定された場合には、上
記再設定手段が、設定されているレーザ出力値を再設定
することを特徴とする。よって、起動後の動作中におい
て温度の変化が大きくなった場合には、変化後の温度に
最適なレーザ出力値に設定することができ、適切な記
録、再生を行うことが可能となる。
て、上記第２の温度測定手段が、所定周期で温度の測定
を行い、上記判定手段が、該第２の温度測定手段により
直近に測定された温度と、該温度の１つ前に該第２の温
度測定手段により測定された温度との差分が所定値を越
えているか否かの判定を行い、上記判定手段により、上
記差分が所定値を越えていると判定された場合には、上
記再設定手段が、設定されているレーザ出力値を再設定
することを特徴とする。よって、起動後の動作中におい
て温度の変化が大きくなった場合には、変化後の温度に
最適なレーザ出力値に設定することができ、適切な記
録、再生を行うことが可能となる。
【００２３】また、第１０には、上記第１又は第２又は
第４又は第５又は第８又は第９の構成において、上記光
ディスク装置が、さらに、温度とレーザ出力値との関係
を示す温度テーブルを格納した記憶部を有し、上記再設
定手段がレーザ出力値の再設定をする場合に、該再設定
手段は、上記温度テーブルに従い、再設定を行うことを
特徴とする。
第４又は第５又は第８又は第９の構成において、上記光
ディスク装置が、さらに、温度とレーザ出力値との関係
を示す温度テーブルを格納した記憶部を有し、上記再設
定手段がレーザ出力値の再設定をする場合に、該再設定
手段は、上記温度テーブルに従い、再設定を行うことを
特徴とする。
【００２４】また、第１１には、上記第１０の構成にお
いて、上記温度テーブルにおいては、温度とレーザ出力
値との関係が、記録時と再生時のそれぞれについて設け
られていることを特徴とする。
いて、上記温度テーブルにおいては、温度とレーザ出力
値との関係が、記録時と再生時のそれぞれについて設け
られていることを特徴とする。
【００２５】また、第１２には、上記第１から第１１ま
でのいずれかの構成において、上記温度測定手段が、光
ディスク装置内に設けられたピックアップの外面に取り
付けられていることを特徴とする。
でのいずれかの構成において、上記温度測定手段が、光
ディスク装置内に設けられたピックアップの外面に取り
付けられていることを特徴とする。
【００２６】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態としての実施
例を図面を利用して説明する。本発明に基づく光ディス
ク装置Ａは、図１に示されるように、ピックアップ１０
と、温度センサ（温度測定手段）１２と、サーボ信号生
成部１４と、ＲＦ信号生成部１６と、Ａ／Ｄ変換部１８
と、ＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）２０と、Ｄ
／Ａ変換部２２と、アクチュエータ及びスレッドモータ
駆動制御部２４と、レーザ駆動制御部２６と、モータ駆
動制御部２８と、モータ３０と、磁気ヘッド３２と、磁
気ヘッド駆動制御部３４と、スレッドモータ３６と、メ
モリ４０とを有している。
例を図面を利用して説明する。本発明に基づく光ディス
ク装置Ａは、図１に示されるように、ピックアップ１０
と、温度センサ（温度測定手段）１２と、サーボ信号生
成部１４と、ＲＦ信号生成部１６と、Ａ／Ｄ変換部１８
と、ＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）２０と、Ｄ
／Ａ変換部２２と、アクチュエータ及びスレッドモータ
駆動制御部２４と、レーザ駆動制御部２６と、モータ駆
動制御部２８と、モータ３０と、磁気ヘッド３２と、磁
気ヘッド駆動制御部３４と、スレッドモータ３６と、メ
モリ４０とを有している。
【００２７】ここで、上記ピックアップ１０は、光磁気
ディスク（以下「ディスク」とする）５の記録面にレー
ザを照射するとともに、ディスクから反射したレーザを
受光する機能を有し、図２に示すように、発光部１０ａ
と、対物レンズ１０ｂと、アクチュエータ１０ｃと、受
光部１０ｄ等を有している。ここで、該発光部１０ａ
は、レーザを照射する発光素子であり、また、対物レン
ズ１０ｂは、発光部１０ａから照射されたレーザを集光
するものである。また、アクチュエータ１０ｃは、該対
物レンズ１０ｂをディスクの半径方向及び垂直方向、つ
まり、Ｘ方向及びＺ方向（図１参照）に移動させるもの
であり、フォーカス制御において駆動される。また、受
光部１０ｄは、ディスク５の記録面から反射したレーザ
を受光する受光素子である。このピックアップ１０は、
光学ヘッドとしての機能を有している。
ディスク（以下「ディスク」とする）５の記録面にレー
ザを照射するとともに、ディスクから反射したレーザを
受光する機能を有し、図２に示すように、発光部１０ａ
と、対物レンズ１０ｂと、アクチュエータ１０ｃと、受
光部１０ｄ等を有している。ここで、該発光部１０ａ
は、レーザを照射する発光素子であり、また、対物レン
ズ１０ｂは、発光部１０ａから照射されたレーザを集光
するものである。また、アクチュエータ１０ｃは、該対
物レンズ１０ｂをディスクの半径方向及び垂直方向、つ
まり、Ｘ方向及びＺ方向（図１参照）に移動させるもの
であり、フォーカス制御において駆動される。また、受
光部１０ｄは、ディスク５の記録面から反射したレーザ
を受光する受光素子である。このピックアップ１０は、
光学ヘッドとしての機能を有している。
【００２８】また、温度センサ１２は、温度を検知する
機能を有し、この温度センサ１２は、ピックアップ１０
の外面の側面に取り付けられている。
機能を有し、この温度センサ１２は、ピックアップ１０
の外面の側面に取り付けられている。
【００２９】また、上記サーボ信号生成部１４は、ピッ
クアップ１０の受光部１０ｄから出力される再生信号に
基づいてサーボ信号を生成するものである。このサーボ
信号としては、フォーカスエラー信号や、トラッキング
エラー信号が挙げられる。また、上記ＲＦ信号生成部１
６は、ピックアップ１０の受光部１０ｄから出力される
再生信号に基づいてＲＦ信号を生成するものである。
クアップ１０の受光部１０ｄから出力される再生信号に
基づいてサーボ信号を生成するものである。このサーボ
信号としては、フォーカスエラー信号や、トラッキング
エラー信号が挙げられる。また、上記ＲＦ信号生成部１
６は、ピックアップ１０の受光部１０ｄから出力される
再生信号に基づいてＲＦ信号を生成するものである。
【００３０】また、ＤＳＰ２０は、各種制御を行うため
の制御装置であり、特に、温度計測や、オフセット調整
や、レーザ制御や、エラー検出、エラー訂正、ゲイン調
整、等の各動作を行い、また、イコライザとしての機能
も果たす。
の制御装置であり、特に、温度計測や、オフセット調整
や、レーザ制御や、エラー検出、エラー訂正、ゲイン調
整、等の各動作を行い、また、イコライザとしての機能
も果たす。
【００３１】例えば、温度計測においては、温度センサ
１２からの情報に従い温度計測を行う。つまり、温度セ
ンサ１２とＤＳＰ２０とが上記温度測定手段として機能
する。また、オフセット調整については、サーボ信号生
成部１４から出力されるサーボ信号や、ＲＦ信号生成部
１６から出力されるＲＦ信号に基づき行われる。また、
レーザ制御については、特に、レーザの出力値の制御に
ついて、ＲＦ信号生成部１６から出力されるＲＦ信号に
基づき行われる。オフセット調整とレーザ制御について
は、図５に示すフローチャートに従い制御される。特
に、温度変化が所定値を越えた場合に、オフセット調整
や、レーザ出力値の調整を再度行うよう動作する。詳し
くは、後述する。
１２からの情報に従い温度計測を行う。つまり、温度セ
ンサ１２とＤＳＰ２０とが上記温度測定手段として機能
する。また、オフセット調整については、サーボ信号生
成部１４から出力されるサーボ信号や、ＲＦ信号生成部
１６から出力されるＲＦ信号に基づき行われる。また、
レーザ制御については、特に、レーザの出力値の制御に
ついて、ＲＦ信号生成部１６から出力されるＲＦ信号に
基づき行われる。オフセット調整とレーザ制御について
は、図５に示すフローチャートに従い制御される。特
に、温度変化が所定値を越えた場合に、オフセット調整
や、レーザ出力値の調整を再度行うよう動作する。詳し
くは、後述する。
【００３２】また、アクチュエータ及びスレッドモータ
駆動制御部２４は、ＤＳＰ２０による制御に基づき、ア
クチュエータ１０ｃや、スレッドモータ３６の駆動を制
御する。また、レーザ駆動制御部２６は、ＤＳＰ２０に
よる制御に基づき、発光部１０ａからのレーザ出力値を
制御する。また、モータ駆動制御部２８は、ＤＳＰ２０
による制御に基づき、モータ３０の動作を制御する。こ
のモータ３０は、ディスク５を回転させるためのもので
ある。
駆動制御部２４は、ＤＳＰ２０による制御に基づき、ア
クチュエータ１０ｃや、スレッドモータ３６の駆動を制
御する。また、レーザ駆動制御部２６は、ＤＳＰ２０に
よる制御に基づき、発光部１０ａからのレーザ出力値を
制御する。また、モータ駆動制御部２８は、ＤＳＰ２０
による制御に基づき、モータ３０の動作を制御する。こ
のモータ３０は、ディスク５を回転させるためのもので
ある。
【００３３】また、磁気ヘッド３２は、ディスク５の記
録面を磁化するために用いられ、特に、データをディス
ク５に記録する際に用いられる。また、磁気ヘッド駆動
制御部３４は、ＤＳＰ２０による制御に基づき、磁気ヘ
ッド３２の動作を制御する。
録面を磁化するために用いられ、特に、データをディス
ク５に記録する際に用いられる。また、磁気ヘッド駆動
制御部３４は、ＤＳＰ２０による制御に基づき、磁気ヘ
ッド３２の動作を制御する。
【００３４】上記ピックアップ１０と磁気ヘッド３２と
は、一体化されており、ヘッド３８を構成している。
は、一体化されており、ヘッド３８を構成している。
【００３５】上記スレッドモータ３６は、ヘッド３８を
ディスク５の半径方向にディスクの内周から外周に渡り
（Ｘ方向、図１参照）移動させるものであり、シーク及
びトラッキング制御において駆動される。
ディスク５の半径方向にディスクの内周から外周に渡り
（Ｘ方向、図１参照）移動させるものであり、シーク及
びトラッキング制御において駆動される。
【００３６】また、メモリ４０は、各種データを保持す
るためのものであり、特に、図３に示すように、温度テ
ーブル格納部４０ａや、温度情報格納部４０ｂが設けら
れている。この温度テーブル格納部４０ａには、レーザ
出力値の制御を行うための温度テーブル（図４参照）の
データが格納されている。この温度テーブルは、図４に
示すように、記録時と再生時のそれぞれについて、温度
とレーザ出力値との関係を示すものであり、後述するレ
ーザ出力値の再調整において、この温度テーブルが用い
られる。また、温度情報格納部４０ｂは、測定された温
度の情報を格納するためのものである。さらに、このメ
モリ４０には、設定されたオフセット値等オフセットに
おける各種データの格納等にも用いられる。
るためのものであり、特に、図３に示すように、温度テ
ーブル格納部４０ａや、温度情報格納部４０ｂが設けら
れている。この温度テーブル格納部４０ａには、レーザ
出力値の制御を行うための温度テーブル（図４参照）の
データが格納されている。この温度テーブルは、図４に
示すように、記録時と再生時のそれぞれについて、温度
とレーザ出力値との関係を示すものであり、後述するレ
ーザ出力値の再調整において、この温度テーブルが用い
られる。また、温度情報格納部４０ｂは、測定された温
度の情報を格納するためのものである。さらに、このメ
モリ４０には、設定されたオフセット値等オフセットに
おける各種データの格納等にも用いられる。
【００３７】上記構成の光ディスク装置Ａの動作につい
て説明する。まず、光ディスク装置Ａを起動したとする
（Ｓ１０）。この光ディスク装置Ａの起動は、光ディス
ク装置Ａにディスク５を装着することにより行われる。
て説明する。まず、光ディスク装置Ａを起動したとする
（Ｓ１０）。この光ディスク装置Ａの起動は、光ディス
ク装置Ａにディスク５を装着することにより行われる。
【００３８】光ディスク装置Ａが起動されると、オフセ
ット等の各種調整が行われるとともに、温度測定が行わ
れる（Ｓ１１）。つまり、オフセットについては、フォ
ーカスオフセットとトラッキングオフセットとが行われ
るが、まず、フォーカスオフセットにおいては、オフセ
ット値を変化させてフォーカス位置をずらしながら、所
定の情報について記録及び再生を行い、ＲＦ信号の出力
レベルをサーチしていく。そして、ＲＦ信号が最大とな
る場合のオフセット値を設定する。なお、フォーカスオ
フセットにおいては、データの誤り率が最低となるオフ
セット値に設定する場合もある。一方、トラッキングオ
フセットにおいては、ＯＮトラック時のトラッキングエ
ラー信号がＯＦＦトラック時のトラッキングエラー信号
のセンターとなるようにオフセット値を設定する。な
お、トラッキングオフセットにおいては、オフセット値
を変化させてトラッキング位置をずらしながら、所定の
情報について記録及び再生を行い、データの誤り率が最
低となるオフセット値を設定する。このオフセット値の
設定は、上記ＤＳＰ２０により行われる。つまり、この
場合、上記ＤＳＰ２０が、上記「光ディスク装置の起動
時に、フォーカスオフセットにおけるオフセット値及び
／又はトラッキングオフセットにおけるオフセット値を
設定する設定手段」として機能する。この設定されたオ
フセット値の情報は、メモリ４０に格納され、また、設
定されたオフセット値に従い、アクチュエータ及びスレ
ッドモータ駆動制御部２４が位置設定を行う。
ット等の各種調整が行われるとともに、温度測定が行わ
れる（Ｓ１１）。つまり、オフセットについては、フォ
ーカスオフセットとトラッキングオフセットとが行われ
るが、まず、フォーカスオフセットにおいては、オフセ
ット値を変化させてフォーカス位置をずらしながら、所
定の情報について記録及び再生を行い、ＲＦ信号の出力
レベルをサーチしていく。そして、ＲＦ信号が最大とな
る場合のオフセット値を設定する。なお、フォーカスオ
フセットにおいては、データの誤り率が最低となるオフ
セット値に設定する場合もある。一方、トラッキングオ
フセットにおいては、ＯＮトラック時のトラッキングエ
ラー信号がＯＦＦトラック時のトラッキングエラー信号
のセンターとなるようにオフセット値を設定する。な
お、トラッキングオフセットにおいては、オフセット値
を変化させてトラッキング位置をずらしながら、所定の
情報について記録及び再生を行い、データの誤り率が最
低となるオフセット値を設定する。このオフセット値の
設定は、上記ＤＳＰ２０により行われる。つまり、この
場合、上記ＤＳＰ２０が、上記「光ディスク装置の起動
時に、フォーカスオフセットにおけるオフセット値及び
／又はトラッキングオフセットにおけるオフセット値を
設定する設定手段」として機能する。この設定されたオ
フセット値の情報は、メモリ４０に格納され、また、設
定されたオフセット値に従い、アクチュエータ及びスレ
ッドモータ駆動制御部２４が位置設定を行う。
【００３９】また、オフセット調整の他にレーザ出力値
（レーザ出力量、レーザパワー値）の設定も行われる
が、この場合には、レーザ出力値を変化させながら、所
定の情報について記録及び再生を行い、エラー誤り率を
サーチしていく。このエラー誤り率は、上記ＲＦ信号生
成部１６からのＲＦ信号に基づいて検出される。そし
て、エラー誤り率が最低となる場合のレーザ出力値を設
定する。このレーザ出力値の設定も、上記ＤＳＰ２０に
より行われる。つまり、この場合、上記ＤＳＰ２０が、
上記「光ディスク装置の起動時に、光ディスクの記録及
び再生に用いるレーザを発光する発光部からのレーザ出
力値を設定する設定手段」として機能する。この設定さ
れたレーザ出力値の情報は、メモリ４０に格納され、ま
た、設定されたレーザ出力値に従い、レーザ駆動制御部
２６が、発光部１０ａのレーザ出力値を設定する。
（レーザ出力量、レーザパワー値）の設定も行われる
が、この場合には、レーザ出力値を変化させながら、所
定の情報について記録及び再生を行い、エラー誤り率を
サーチしていく。このエラー誤り率は、上記ＲＦ信号生
成部１６からのＲＦ信号に基づいて検出される。そし
て、エラー誤り率が最低となる場合のレーザ出力値を設
定する。このレーザ出力値の設定も、上記ＤＳＰ２０に
より行われる。つまり、この場合、上記ＤＳＰ２０が、
上記「光ディスク装置の起動時に、光ディスクの記録及
び再生に用いるレーザを発光する発光部からのレーザ出
力値を設定する設定手段」として機能する。この設定さ
れたレーザ出力値の情報は、メモリ４０に格納され、ま
た、設定されたレーザ出力値に従い、レーザ駆動制御部
２６が、発光部１０ａのレーザ出力値を設定する。
【００４０】また、温度測定においては、温度センサ１
２からの情報に従い温度測定を行い、この測定された温
度の情報は、メモリ４０に格納される。つまり、メモリ
４０の温度情報格納部４０ｂに格納される。この場合、
温度センサ１２やＤＳＰ２０が、上記第１の温度測定手
段として機能する。
２からの情報に従い温度測定を行い、この測定された温
度の情報は、メモリ４０に格納される。つまり、メモリ
４０の温度情報格納部４０ｂに格納される。この場合、
温度センサ１２やＤＳＰ２０が、上記第１の温度測定手
段として機能する。
【００４１】そして、所定時間内に停止処理が行われた
か否かが判定され（Ｓ１２）、停止処理が行われた場合
（Ｓ１２，ＹＥＳ）には、処理を終了し、一方、停止処
理が行われていない場合（Ｓ１２，ＮＯ）には、ステッ
プＳ１３に移行する。この停止処理とは、上記ステップ
Ｓ１０における起動状態を解除する場合をいい、具体的
には、ディスク５を光ディスク装置Ａから取り出す操作
をした場合には、停止処理があったものとする。
か否かが判定され（Ｓ１２）、停止処理が行われた場合
（Ｓ１２，ＹＥＳ）には、処理を終了し、一方、停止処
理が行われていない場合（Ｓ１２，ＮＯ）には、ステッ
プＳ１３に移行する。この停止処理とは、上記ステップ
Ｓ１０における起動状態を解除する場合をいい、具体的
には、ディスク５を光ディスク装置Ａから取り出す操作
をした場合には、停止処理があったものとする。
【００４２】次に、ステップＳ１３においては、温度測
定を行う（Ｓ１３）。この温度測定は、温度センサ１２
からの情報に基づき行う。このステップＳ１３における
温度測定は、周期的に常時行う。この測定された温度の
情報は、ＤＳＰ２０において一旦保持される。この場
合、温度センサ１２やＤＳＰ２０が、上記第２の温度測
定手段として機能する。
定を行う（Ｓ１３）。この温度測定は、温度センサ１２
からの情報に基づき行う。このステップＳ１３における
温度測定は、周期的に常時行う。この測定された温度の
情報は、ＤＳＰ２０において一旦保持される。この場
合、温度センサ１２やＤＳＰ２０が、上記第２の温度測
定手段として機能する。
【００４３】そして、温度変化の度合いを算出する（Ｓ
１４）。これは、直近に測定された温度とその１つ前に
測定された温度との温度差を算出することにより行う。
ここで、直近に測定された温度の情報は、ＤＳＰ２０に
保持されており、また、該１つ前の測定された温度の情
報は、メモリ４０に格納されているので、ＤＳＰ２０
は、メモリ４０から温度の情報を読み出し、ＤＳＰ２０
が保持している温度の情報と比較して、両温度の差分を
求める。具体的には、直近に測定された温度をＴ i、該
直近に測定された温度の１つ前の温度をＴi-1とした場
合に、Ｔi−Ｔi-1の絶対値を算出する。例えば、ステッ
プＳ１３で測定された温度をＴ２とし、該Ｔ２の測定の
１つ前に測定された温度が、ステップＳ１１において測
定された温度Ｔ１である場合には、Ｔ２−Ｔ１の値が測
定される。
１４）。これは、直近に測定された温度とその１つ前に
測定された温度との温度差を算出することにより行う。
ここで、直近に測定された温度の情報は、ＤＳＰ２０に
保持されており、また、該１つ前の測定された温度の情
報は、メモリ４０に格納されているので、ＤＳＰ２０
は、メモリ４０から温度の情報を読み出し、ＤＳＰ２０
が保持している温度の情報と比較して、両温度の差分を
求める。具体的には、直近に測定された温度をＴ i、該
直近に測定された温度の１つ前の温度をＴi-1とした場
合に、Ｔi−Ｔi-1の絶対値を算出する。例えば、ステッ
プＳ１３で測定された温度をＴ２とし、該Ｔ２の測定の
１つ前に測定された温度が、ステップＳ１１において測
定された温度Ｔ１である場合には、Ｔ２−Ｔ１の値が測
定される。
【００４４】そして、算出された温度差が、所定の温度
差（所定値）を越えているか否かを判定する（Ｓ１
５）。つまり、所定の温度差をＴαとした場合に、Ｔi
−Ｔi-1の絶対値とＴαとを比較する。この判定は、上
記ＤＳＰ２０により行われる。つまり、ＤＳＰ２０は、
上記判定手段として機能する。なお、所定の温度差Ｔα
は、温度が変化することにより最適なオフセット値やレ
ーザ出力値が変化して記録、再生に支障を来すような値
に設定される。この値としては、例えば、２０℃程度の
値が考えられる。そして、該温度差を越えている場合
（Ｓ１５，ＹＥＳ）には、ステップＳ１６に移行し、越
えていない場合には、ステップＳ１３に戻って再び温度
測定を行う。なお、このステップＳ１５の判定が完了し
たら、ＤＳＰ２０において保持していた直近の温度の情
報をメモリ４０の温度情報格納部４０ｂに格納する。そ
の際、すでに温度情報格納部４０ｂに格納されている温
度の情報は必要ないので、この情報に上書きするように
すればよい。
差（所定値）を越えているか否かを判定する（Ｓ１
５）。つまり、所定の温度差をＴαとした場合に、Ｔi
−Ｔi-1の絶対値とＴαとを比較する。この判定は、上
記ＤＳＰ２０により行われる。つまり、ＤＳＰ２０は、
上記判定手段として機能する。なお、所定の温度差Ｔα
は、温度が変化することにより最適なオフセット値やレ
ーザ出力値が変化して記録、再生に支障を来すような値
に設定される。この値としては、例えば、２０℃程度の
値が考えられる。そして、該温度差を越えている場合
（Ｓ１５，ＹＥＳ）には、ステップＳ１６に移行し、越
えていない場合には、ステップＳ１３に戻って再び温度
測定を行う。なお、このステップＳ１５の判定が完了し
たら、ＤＳＰ２０において保持していた直近の温度の情
報をメモリ４０の温度情報格納部４０ｂに格納する。そ
の際、すでに温度情報格納部４０ｂに格納されている温
度の情報は必要ないので、この情報に上書きするように
すればよい。
【００４５】ステップＳ１６では、上記ステップＳ１２
と同様に、停止処理が行われたか否かが判定され（Ｓ１
６）、停止処理が行われた場合（Ｓ１６，ＹＥＳ）に
は、処理を終了し、一方、停止処理が行われていない場
合（Ｓ１６，ＮＯ）には、ステップＳ１７に移行する。
この停止処理とは、上記ステップＳ１０における起動状
態を解除する場合をいい、具体的には、ディスク５を光
ディスク装置Ａから取り出す操作をした場合には、停止
処理があったものとする。
と同様に、停止処理が行われたか否かが判定され（Ｓ１
６）、停止処理が行われた場合（Ｓ１６，ＹＥＳ）に
は、処理を終了し、一方、停止処理が行われていない場
合（Ｓ１６，ＮＯ）には、ステップＳ１７に移行する。
この停止処理とは、上記ステップＳ１０における起動状
態を解除する場合をいい、具体的には、ディスク５を光
ディスク装置Ａから取り出す操作をした場合には、停止
処理があったものとする。
【００４６】そして、ステップＳ１７では、オフセット
の再調整と、レーザ出力値の再調整を行う（Ｓ１７）。
つまり、オフセットに関しては、フォーカスオフセット
とトラッキングオフセットについて、上記ステップＳ１
１の場合と同様の方法でオフセット値を再設定する。す
なわち、フォーカスオフセットについては、ＲＦ信号の
出力レベルをサーチしていき、ＲＦ信号が最大となる場
合のオフセット値を設定する。また、トラッキングオフ
セットについては、ＯＮトラック時のトラッキングエラ
ー信号がＯＦＦトラック時のトラッキングエラー信号の
センターとなるようにオフセット値を設定する。つま
り、その時の温度において、最適のオフセット値を設定
し直すのである。このオフセット値の再設定は、上記Ｄ
ＳＰ２０により行われる。つまり、ＤＳＰ２０は、上記
再設定手段、オフセット値再設定手段として機能する。
新たに設定したオフセット値の情報は、メモリ４０に格
納され、また、設定されたオフセット値に従い、アクチ
ュエータ及びスレッドモータ駆動制御部２４がアクチュ
エータ１０ｃ等の位置設定を行う。
の再調整と、レーザ出力値の再調整を行う（Ｓ１７）。
つまり、オフセットに関しては、フォーカスオフセット
とトラッキングオフセットについて、上記ステップＳ１
１の場合と同様の方法でオフセット値を再設定する。す
なわち、フォーカスオフセットについては、ＲＦ信号の
出力レベルをサーチしていき、ＲＦ信号が最大となる場
合のオフセット値を設定する。また、トラッキングオフ
セットについては、ＯＮトラック時のトラッキングエラ
ー信号がＯＦＦトラック時のトラッキングエラー信号の
センターとなるようにオフセット値を設定する。つま
り、その時の温度において、最適のオフセット値を設定
し直すのである。このオフセット値の再設定は、上記Ｄ
ＳＰ２０により行われる。つまり、ＤＳＰ２０は、上記
再設定手段、オフセット値再設定手段として機能する。
新たに設定したオフセット値の情報は、メモリ４０に格
納され、また、設定されたオフセット値に従い、アクチ
ュエータ及びスレッドモータ駆動制御部２４がアクチュ
エータ１０ｃ等の位置設定を行う。
【００４７】また、レーザ出力値の再調整については、
上記温度テーブルに従い、最適なレーザ出力値を割り出
して、そのレーザ出力値に再設定する。つまり、ＤＳＰ
２０は、ステップＳ１３において、直近に測定された温
度の情報がメモリ４０に格納されているので、この温度
に応じたレーザ出力値を記録時及び再生時のそれぞれに
ついて温度テーブルに従い検出し、そのレーザ出力値を
設定する。つまり、その時の温度において、最適のレー
ザ出力値の値を設定し直すのである。つまり、ＤＳＰ２
０は、上記再設定手段、レーザ出力値再設定手段として
機能する。新たに設定したレーザ出力値の情報は、メモ
リ４０に格納され、また、設定されたレーザ出力値に従
い、レーザ駆動制御部２６がピックアップ１０の発光部
１０ａを制御する。これにより、記録時及び再生時にお
いて、再設定されたレーザ出力値によりレーザが出力さ
れることになる。
上記温度テーブルに従い、最適なレーザ出力値を割り出
して、そのレーザ出力値に再設定する。つまり、ＤＳＰ
２０は、ステップＳ１３において、直近に測定された温
度の情報がメモリ４０に格納されているので、この温度
に応じたレーザ出力値を記録時及び再生時のそれぞれに
ついて温度テーブルに従い検出し、そのレーザ出力値を
設定する。つまり、その時の温度において、最適のレー
ザ出力値の値を設定し直すのである。つまり、ＤＳＰ２
０は、上記再設定手段、レーザ出力値再設定手段として
機能する。新たに設定したレーザ出力値の情報は、メモ
リ４０に格納され、また、設定されたレーザ出力値に従
い、レーザ駆動制御部２６がピックアップ１０の発光部
１０ａを制御する。これにより、記録時及び再生時にお
いて、再設定されたレーザ出力値によりレーザが出力さ
れることになる。
【００４８】なお、このステップＳ１７の処理について
は、このステップＳ１７の処理をしようとする際に記録
又は再生処理を行っている場合には、該記録又は再生処
理の方を優先させて、該記録又は再生処理が終了した後
に、ステップＳ１７の処理を行うようにする。ステップ
Ｓ１７の処理が終了したら、ステップＳ１３に戻って再
び温度測定を行う。
は、このステップＳ１７の処理をしようとする際に記録
又は再生処理を行っている場合には、該記録又は再生処
理の方を優先させて、該記録又は再生処理が終了した後
に、ステップＳ１７の処理を行うようにする。ステップ
Ｓ１７の処理が終了したら、ステップＳ１３に戻って再
び温度測定を行う。
【００４９】そして、上記と同様に、１つ前に測定した
温度との差を算出し（Ｓ１４）、その温度差が所定値よ
りも大きい場合には、再びオフセット値とレーザ出力値
の再調整を行う（Ｓ１５〜Ｓ１７）。つまり、周期的に
温度の測定を行って、温度変化が大きい場合には、オフ
セット値とレーザ出力値の設定をし直す処理を繰り返し
ていく。
温度との差を算出し（Ｓ１４）、その温度差が所定値よ
りも大きい場合には、再びオフセット値とレーザ出力値
の再調整を行う（Ｓ１５〜Ｓ１７）。つまり、周期的に
温度の測定を行って、温度変化が大きい場合には、オフ
セット値とレーザ出力値の設定をし直す処理を繰り返し
ていく。
【００５０】上記のように、本実施例の光ディスク装置
によれば、光ディスク装置Ａ内の温度の変化に応じて、
オフセット値やレーザ出力値を再設定する。つまり、温
度変化が大きい場合には、フォーカスオフセット及びト
ラッキングオフセットの各オフセット値を設定し直し、
また、レーザ出力値についても、記録時と再生時のそれ
ぞれについて設定し直すので、変化後の温度に最適なオ
フセット値及びレーザ出力値とすることができ、適切な
記録、再生を行うことが可能となる。
によれば、光ディスク装置Ａ内の温度の変化に応じて、
オフセット値やレーザ出力値を再設定する。つまり、温
度変化が大きい場合には、フォーカスオフセット及びト
ラッキングオフセットの各オフセット値を設定し直し、
また、レーザ出力値についても、記録時と再生時のそれ
ぞれについて設定し直すので、変化後の温度に最適なオ
フセット値及びレーザ出力値とすることができ、適切な
記録、再生を行うことが可能となる。
【００５１】なお、上記の説明において、ステップＳ１
４における温度変化の算出では、直近に測定した温度と
その１つ前の温度の温度差を算出するものとして説明し
たが、これには限られず、例えば、所定時間内に測定さ
れた複数の温度のうち、最高温度と最低温度との差を算
出するようにしてもよい。
４における温度変化の算出では、直近に測定した温度と
その１つ前の温度の温度差を算出するものとして説明し
たが、これには限られず、例えば、所定時間内に測定さ
れた複数の温度のうち、最高温度と最低温度との差を算
出するようにしてもよい。
【００５２】また、上記の説明では、光磁気ディスクを
用いる光ディスク装置を例に挙げて説明したが、これに
は限られず、他の光ディスクを用いる光ディスク装置で
あってもよい。つまり、書換え可能な光ディスクの他の
例である相変化型光ディスクを用いる光ディスク装置
や、再生専用のディスクを用いる光ディスク装置であっ
てもよい。つまり、フォーカスオフセットやトラッキン
グオフセットにおいて、温度変化が所定よりも大きい場
合には、オフセット値を再設定し、また、レーザ出力値
においても、温度変化が所定よりも大きい場合には、レ
ーザ出力値を再設定する。
用いる光ディスク装置を例に挙げて説明したが、これに
は限られず、他の光ディスクを用いる光ディスク装置で
あってもよい。つまり、書換え可能な光ディスクの他の
例である相変化型光ディスクを用いる光ディスク装置
や、再生専用のディスクを用いる光ディスク装置であっ
てもよい。つまり、フォーカスオフセットやトラッキン
グオフセットにおいて、温度変化が所定よりも大きい場
合には、オフセット値を再設定し、また、レーザ出力値
においても、温度変化が所定よりも大きい場合には、レ
ーザ出力値を再設定する。
【００５３】また、上記ステップＳ１７におけるレーザ
出力値の再設定においては、温度テーブルを用いて再設
定するものとして説明したが、ステップＳ１１において
行う方法で再設定するようにしてもよい。
出力値の再設定においては、温度テーブルを用いて再設
定するものとして説明したが、ステップＳ１１において
行う方法で再設定するようにしてもよい。
【００５４】
【発明の効果】本発明に基づく光ディスク装置において
は、光ディスク装置内の温度の変化が所定値よりも大き
い場合には、フォーカスオフセット及びトラッキングオ
フセットの各オフセット値を設定し直し、また、レーザ
出力値についても、記録時と再生時のそれぞれについて
設定し直すので、変化後の温度に最適なオフセット値及
びレーザ出力値とすることができ、適切な記録、再生を
行うことが可能となる。
は、光ディスク装置内の温度の変化が所定値よりも大き
い場合には、フォーカスオフセット及びトラッキングオ
フセットの各オフセット値を設定し直し、また、レーザ
出力値についても、記録時と再生時のそれぞれについて
設定し直すので、変化後の温度に最適なオフセット値及
びレーザ出力値とすることができ、適切な記録、再生を
行うことが可能となる。
【図１】本発明の実施例に基づく光ディスク装置の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】光ディスク装置に設けられたピックアップの構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
【図３】メモリの構成を説明するための説明図である。
【図４】温度テーブルを説明するための説明図である。
【図５】本発明の実施例に基づく光ディスク装置の動作
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【図６】オフセット値とエラー発生率との関係を異なる
温度について示す説明図であり、（ａ）は、フォーカス
オフセットについての説明図であり、（ｂ）は、トラッ
キングオフセットについての説明図である。
温度について示す説明図であり、（ａ）は、フォーカス
オフセットについての説明図であり、（ｂ）は、トラッ
キングオフセットについての説明図である。
Ａ 光ディスク装置 １０ ピックアップ １０ａ 発光部 １０ｂ 対物レンズ １０ｃ アクチュエータ １０ｄ 受光部 １２ 温度センサ １４ サーボ信号生成部 １６ ＲＦ信号生成部 ２０ ＤＳＰ ２４ アクチュエータ及びスレッドモータ駆動制御部 ２６ レーザ駆動制御部 ２８ モータ駆動制御部 ３２ 磁気ヘッド ３４ 磁気ヘッド駆動制御部 ３６ スレッドモータ ３８ ヘッド ４０ メモリ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野口 仁志 大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 石田 弘毅 大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三 洋電機株式会社内 Ｆターム(参考） 5D118 AA20 BA01 BB05 BF03 CB07 5D119 AA32 BA01 BB03 FA05 HA46 MA08
Claims (12)
- 【請求項１】 光ディスク装置であって、 該光ディスク装置の内部の温度を測定する温度測定手段
と、 該温度測定手段により測定された温度の変化に応じて、
オフセット値及び／又はレーザ出力値を再設定する再設
定手段と、を有することを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項２】 上記オフセット値が、フォーカスオフセ
ットにおけるオフセット値及び／又はトラッキングオフ
セットにおけるオフセット値であることを特徴とする請
求項１に記載の光ディスク装置。 - 【請求項３】 光ディスク装置であって、 該光ディスク装置の内部の温度を測定する温度測定手段
と、 該温度測定手段により測定された温度の変化量が所定値
を越えているか否かを判定する判定手段と、 該判定手段により、温度の変化量が所定値を越えている
と判定された場合には、フォーカスオフセットにおける
オフセット値及び／又はトラッキングオフセットにおけ
るオフセット値を再設定するオフセット値再設定手段
と、を有することを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項４】 上記光ディスク装置が、さらに、 上記判定手段により、温度の変化量が所定値を越えてい
ると判定された場合には、光ディスクの記録及び／又は
再生に用いるレーザを発光する発光部からのレーザ出力
値を再設定するレーザ出力値再設定手段を有することを
特徴とする請求項３に記載の光ディスク装置。 - 【請求項５】 光ディスク装置であって、 該光ディスク装置の内部の温度を測定する温度測定手段
と、 該温度測定手段により測定された温度の変化量が所定値
を越えているか否かを判定する判定手段と、 該判定手段により、温度の変化量が所定値を越えている
と判定された場合には、光ディスクの記録及び／又は再
生に用いるレーザを発光する発光部からのレーザ出力値
を再設定するレーザ出力値再設定手段と、を有すること
を特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項６】 光ディスク装置であって、 光ディスク装置の起動時に、フォーカスオフセットにお
けるオフセット値及び／又はトラッキングオフセットに
おけるオフセット値を設定する設定手段と、 該光ディスク装置の起動時における該光ディスク装置の
内部の温度を測定する第１の温度測定手段と、 該光ディスク装置の起動後における該光ディスク装置の
内部の温度を測定する第２の温度測定手段と、 該第２の温度測定手段により測定された温度と、該第１
の温度測定手段により測定された温度との差分が所定値
を越えているか否かを判定する判定手段と、 該判定手段により、上記差分が所定値を越えていると判
定された場合には、上記設定手段により設定されたオフ
セット値を再設定する再設定手段と、を有することを特
徴とする光ディスク装置。 - 【請求項７】 上記第２の温度測定手段が、所定周期で
温度の測定を行い、 上記判定手段が、該第２の温度測定手段により直近に測
定された温度と、該温度の１つ前に該第２の温度測定手
段により測定された温度との差分が所定値を越えている
か否かの判定を行い、 上記判定手段により、上記差分が所定値を越えていると
判定された場合には、上記再設定手段が、設定されてい
るオフセット値を再設定することを特徴とする請求項６
に記載の光ディスク装置。 - 【請求項８】 光ディスク装置であって、 光ディスク装置の起動時に、光ディスクの記録及び／又
は再生に用いるレーザを発光する発光部からのレーザ出
力値を設定する設定手段と、 該光ディスク装置の起動時における該光ディスク装置の
内部の温度を測定する第１の温度測定手段と、 該光ディスク装置の起動後における該光ディスク装置の
内部の温度を測定する第２の温度測定手段と、 該第２の温度測定手段により測定された温度と、該第１
の温度測定手段により測定された温度との差分が所定値
を越えているか否かを判定する判定手段と、 該判定手段により、上記差分が所定値を越えていると判
定された場合には、上記設定手段により設定されたレー
ザ出力値を再設定する再設定手段と、を有することを特
徴とする光ディスク装置。 - 【請求項９】 上記第２の温度測定手段が、所定周期で
温度の測定を行い、 上記判定手段が、該第２の温度測定手段により直近に測
定された温度と、該温度の１つ前に該第２の温度測定手
段により測定された温度との差分が所定値を越えている
か否かの判定を行い、 上記判定手段により、上記差分が所定値を越えていると
判定された場合には、上記再設定手段が、設定されてい
るレーザ出力値を再設定することを特徴とする請求項８
に記載の光ディスク装置。 - 【請求項１０】 上記光ディスク装置が、さらに、温度
とレーザ出力値との関係を示す温度テーブルを格納した
記憶部を有し、 上記再設定手段がレーザ出力値の再設定をする場合に、
該再設定手段は、上記温度テーブルに従い、再設定を行
うことを特徴とする請求項１又は２又は４又は５又は８
又は９に記載の光ディスク装置。 - 【請求項１１】 上記温度テーブルにおいては、温度と
レーザ出力値との関係が、記録時と再生時のそれぞれに
ついて設けられていることを特徴とする請求項１０に記
載の光ディスク装置。 - 【請求項１２】 上記温度測定手段が、光ディスク装置
内に設けられたピックアップの外面に取り付けられてい
ることを特徴とする請求項１又は２又は３又は４又は５
又は６又は７又は８又は９又は１０又は１１に記載の光
ディスク装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000299750A JP2002109772A (ja) | 2000-09-29 | 2000-09-29 | 光ディスク装置 |
| US09/964,874 US7280446B2 (en) | 2000-09-29 | 2001-09-28 | Optical disk drive responsive to internal temperature change |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000299750A JP2002109772A (ja) | 2000-09-29 | 2000-09-29 | 光ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002109772A true JP2002109772A (ja) | 2002-04-12 |
Family
ID=18781515
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000299750A Pending JP2002109772A (ja) | 2000-09-29 | 2000-09-29 | 光ディスク装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7280446B2 (ja) |
| JP (1) | JP2002109772A (ja) |
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| JP3917878B2 (ja) * | 2002-02-28 | 2007-05-23 | 富士通株式会社 | 光記憶装置及び、その最適フォーカスオフセット値決定方法 |
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| JP2005135460A (ja) * | 2003-10-28 | 2005-05-26 | Toshiba Corp | 光ディスク装置 |
| TWI329870B (en) * | 2005-01-26 | 2010-09-01 | Via Tech Inc | Power control method of optical drive |
| TWI307095B (en) * | 2005-01-26 | 2009-03-01 | Via Tech Inc | Power control device and method of single base power for optical drive |
| CN101542617A (zh) * | 2006-12-08 | 2009-09-23 | 三菱电机株式会社 | 光盘装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPH0721868B2 (ja) | 1989-08-04 | 1995-03-08 | キヤノン株式会社 | 光情報処理装置 |
| JPH04206037A (ja) | 1990-11-30 | 1992-07-28 | Teac Corp | 光ディスク装置 |
| JPH04283435A (ja) | 1991-03-12 | 1992-10-08 | Ricoh Co Ltd | 光磁気記録方式及び光磁気記録媒体 |
| JP2692774B2 (ja) * | 1992-05-29 | 1997-12-17 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション | 光ドライブ装置の動作温度を動的に制御する装置及び方法 |
| US5276697A (en) * | 1992-11-04 | 1994-01-04 | Eastman Kodak Company | Laser diode automatic power control circuit with means of protection of the laser diode |
| JP3243883B2 (ja) * | 1993-04-12 | 2002-01-07 | ソニー株式会社 | 記録又は再生装置 |
| JP3871358B2 (ja) * | 1994-12-22 | 2007-01-24 | ソニー株式会社 | 光ディスク再生装置及び光ディスク再生方法 |
| JPH08306052A (ja) * | 1995-05-09 | 1996-11-22 | Olympus Optical Co Ltd | 光ディスク装置 |
| JPH097178A (ja) * | 1995-06-15 | 1997-01-10 | Nikon Corp | 光ディスクの再生方法、再生装置及び光ディスク |
| JPH09102147A (ja) | 1995-10-05 | 1997-04-15 | Sony Corp | デイスク記録装置 |
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| JPH10283645A (ja) * | 1997-04-01 | 1998-10-23 | Nippon Columbia Co Ltd | 光ディスク装置 |
| JPH10340415A (ja) * | 1997-06-10 | 1998-12-22 | Fujitsu Ltd | ライト電流設定方法、及び、ライト電流設定装置、及び、情報記憶装置 |
| US6494370B1 (en) * | 1997-12-11 | 2002-12-17 | Ceyx Technologies | Electro-optic system controller and method of operation |
| US6259466B1 (en) * | 1998-02-25 | 2001-07-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Light source drive apparatus and image formation apparatus |
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| JP3091737B2 (ja) * | 1999-02-17 | 2000-09-25 | 三洋電機株式会社 | 温度情報を記憶する手段を具えたディスク記録再生装置 |
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-
2000
- 2000-09-29 JP JP2000299750A patent/JP2002109772A/ja active Pending
-
2001
- 2001-09-28 US US09/964,874 patent/US7280446B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20020048237A1 (en) | 2002-04-25 |
| US7280446B2 (en) | 2007-10-09 |
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