JP2004273004A - 情報記録装置及び情報記録方法等 - Google Patents
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Abstract
【課題】エラー発生の際の、より正確な装置内の情報を得ること等が可能な情報記録装置及び情報記録方法等を提供する。
【解決手段】情報記録装置は、装置内部におけるエラー発生を検出する。そして、情報記録装置は、そのエラー発生が検出された時に、少なくとも、前記装置内部における温度情報、電圧情報、及び動作情報のうちの何れか一つの情報を取得して情報記録手段に記録する。
【選択図】 図３
【解決手段】情報記録装置は、装置内部におけるエラー発生を検出する。そして、情報記録装置は、そのエラー発生が検出された時に、少なくとも、前記装置内部における温度情報、電圧情報、及び動作情報のうちの何れか一つの情報を取得して情報記録手段に記録する。
【選択図】 図３
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、情報の記録を行う情報記録装置等の技術分野に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｃ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｃ）、ＭＤ（Ｍｉｎｉ Ｄｉｓｃ）等の情報記録媒体から情報を再生するディスク再生装置、或いは、情報記録媒体に情報を記録し再生するディスク記録再生装置等のＡＶ（Ａｕｄｉｏ Ｖｉｓｕａｌ）装置は、様々な環境下において使用されるものであるため、温度変化等の様々な状況を想定して製品前試験や、不具合解析等を行う必要がある。特に、不具合解析では、実際の使用環境、例えば、使用環境温度が重要な役割を果すものである。これは、使用環境温度によって部品等の性能の変化や、メカ等に与える影響度が変わってくるからである。例えば、ＡＶ装置等に備える光ピックアップは、高温等においてその動作に影響を受ける性質があるため、温度が設定範囲外になると、装置の制御部が光ピックアップの動作を停止するように制御していた。
【特許文献１】
特開号特開２００１−２５６７１３公報
また、特許文献１には、情報書込読取手段の温度を検出し、その温度が設定温度範囲の外にある場合、情報信号の書込動作を停止する情報記録再生装置が開示されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の装置においては、温度が設定範囲外になった場合に光ピックアップの動作を停止させるのみであったため、装置に何らかのエラーが発生した場合に、製造者側は、ユーザからの情報（例えば、どのような温度環境下で使用していたかなど）に頼らざるをえず、かかる情報はユーザの感覚でしかなく、しかも、例えば装置外部と装置内部の温度には差があるので、正確な情報を得ることができないという不便さがあった。
【０００４】
そこで、本発明は、上記不便さの解消を一つの課題としてなされたもので、エラー発生の際の、より正確な装置内の情報を得ること等が可能な情報記録装置及び情報記録方法等を提供することを目的する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、情報の記録を行う情報記録装置において、装置内部におけるエラー発生を検出するエラー検出手段と、前記エラー発生が検出された時に、少なくとも、前記装置内部における温度情報、電圧情報、及び動作情報のうちの何れか一つの情報を取得する情報取得手段と、前記取得された情報を情報記録手段に記録する記録制御手段と、を備えることを特徴とする。
【０００６】
請求項１２に記載の発明は、情報の記録を行う情報記録方法において、装置内部におけるエラー発生を検出する工程と、前記エラー発生が検出された時に、少なくとも、前記装置内部における温度情報、電圧情報、及び動作情報のうちの何れか一つの情報を取得する工程と、前記取得された情報を情報記録手段に記録する工程と、を備えることを特徴とする。
【０００７】
請求項１３に記載の発明は、情報の記録を行う情報記録装置に含まれるコンピュータを、装置内部におけるエラー発生を検出し、前記エラー発生が検出された時に、少なくとも、前記装置内部における温度情報、電圧情報、及び動作情報のうちの何れか一つの情報を取得し、前記取得された情報を情報記録手段に記録するように機能させることを特徴とする。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施の形態を添付図面に基づいて説明する。なお、以下の実施形態は、ＣＤ、若しくはＤＶＤ（以下、「光ディスク」という）等の情報記録媒体に記録された情報を再生するディスク再生装置に対して本発明を適用した場合の実施形態である。
【０００９】
先ず、図１及び図２を参照して、本実施形態にかかるディスク再生装置の構成及び機能を説明する。
【００１０】
図１は、ディスク再生装置の概要構成例を示す図である。図１に示すように、ディスク再生装置Ｓは、スピンドルモータ１、光ピックアップ２、信号処理部３、サーボ回路４、信号出力部５、温度検知回路６、システム制御部７、及び情報記録手段としてのメモリ８を含んで構成されている。なお、ディスク再生装置Ｓは、この他にも、ユーザからの操作指示（再生、停止、トラック番号選択指示など）を受け付けシステム制御部７に出力する操作部、各種情報を表示する表示部、更には、時計機能等を備えているが図示を省略している。
【００１１】
スピンドルモータ１は、ターンテーブル（図示せず）上の所定のクランプ位置に載置された光ディスク１０を一定の線速度で回転させるようになっている。
【００１２】
光ピックアップ２は、光ビームの光源、光センサ、集光レンズ、及びアクチュエータ等を備えており、光ビームを光ディスク１０へ照射し、その反射光を光センサにて検出して、その検出信号を信号処理部３に出力するようになっている。
【００１３】
信号処理部３は、ＲＦ（Ｒａｄｉｏ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）アンプ、及びＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）等を備えており、光ピックアップ２から出力された検出信号をＲＦアンプにてＲＦ信号に変換し、そのＲＦ信号に対してＤＳＰにてＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ ｔｏ Ｆｏｕｒｔｅｅｎ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）復調処理及び誤り訂正処理等を行って、ディジタル信号として信号出力部５に出力するようになっている。また、信号処理部３は、光ピックアップ２から出力された検出信号に基づき、ＲＦアンプにてトラッキングエラー信号、及びフォーカスエラー信号を生成してサーボ回路４に出力する。
【００１４】
サーボ回路４は、信号処理部３から出力されたトラッキングエラー信号、及びフォーカスエラー信号に基づいてスピンドルモータ１及び光ピックアップ２をサーボ制御、すなわち、光ピックアップ２や光ディスク１０の速度、トラック位置、集光レンズのフォーカス等を閉回路ループを形成することにより制御するようになっている。
【００１５】
信号出力部５は、Ｄ（Ｄｉｇｉｔａｌ）／Ａ（Ａｎａｌｏｇ）変換器、アンプ、及びスピーカ等を備えており、信号処理部３から出力されたディジタル信号をＤ／Ａ変換器にてアナログ信号に変換し、アンプで増幅した後、スピーカから音波として出力するようになっている。
【００１６】
温度検知回路６は、サーミスタ回路、Ａ／Ｄ変換器等を備えており、サーミスタ回路にてディスク再生装置Ｓの内部（以下、「装置内部」という）における温度を検知するようになっている。
【００１７】
図２は、温度検知回路６におけるサーミスタ回路の一例を示す図である。図２に示すように、サーミスタ回路６ａは、抵抗６１とサーミスタ６２が直列接続されて構成されており、抵抗６１の一端に電圧（一定電圧）Ｖｃが印加され、サーミスタの一端が接地されている。サーミスタ６２の抵抗値は、装置内部の温度変化に伴い変化するので、この変化に伴い抵抗６１とサーミスタ６２との接続点Ｘの電圧も変化することになる。温度検知回路６は、かかる接続点Ｘの電圧を取得しＡ／Ｄ変換器にてディジタル値に変換した後、この電圧値を温度情報としてシステム制御部７に供給する。つまり、サーミスタ６２の電圧−温度特性（曲線）よりこの電圧値から温度値が分かる。なお、温度変化によって抵抗値が変化する素子であれば、サーミスタ６２以外の温度検出用素子（例えば、半導体）を適用してもよい。
【００１８】
システム制御部７は、演算機能を有するＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、作業用ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ−Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、処理プログラム（情報記録プログラムも含む）、データ、及びテーブル等を記憶するＲＯＭ（Ｒｅａｄ−Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、及び発振回路等を備えており、ＣＰＵがＲＯＭに記憶された処理プログラムを実行することにより、ディスク再生装置Ｓ全体の動作を制御するようになっている。
【００１９】
より具体的には、システム制御部７は、信号処理部３及びサーボ回路４と通信を行い、光ディスク１０からの情報再生に必要な制御を行う。また、システム制御部７は、本願のエラー検出手段、情報取得手段、及び記録制御手段として機能する（後述）。
【００２０】
メモリ８は、例えば、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）等の不揮発性メモリであり、装置内部におけるエラー発生がシステム制御部７により検出された際に、システム制御部７により取得された情報が記録されるものである。
【００２１】
以上説明した構成において、ディスク再生装置Ｓは、システム制御部７の制御の下、光ディスク１０からの情報を再生しスピーカから出力するように動作する。
【００２２】
次に、このようなディスク再生装置Ｓにおけるエラー発生処理について、図３を参照して説明する。
【００２３】
図３は、システム制御部７におけるエラー発生処理の一例を示すフローチャートである。
【００２４】
図３の処理において、エラー発生が無い場合、システム制御部７は、通常の処理（例えば、光ディスク１０の再生動作に関連する処理等）を行っている（ステップＳ１）。
【００２５】
このような通常の処理の中で、システム制御部７は、装置内部における温度情報、電圧情報、及び動作情報等の情報を監視している。
【００２６】
ここで、温度情報は、上述のように、温度検知回路６からシステム制御部７に与えられる。また、電圧情報には、例えば、信号処理部３、サーボ回路４、温度検知回路６、及びシステム制御部７自身等への電源電圧、信号処理部３及びサーボ回路４等における信号電圧、更には、信号処理部３及びサーボ回路４等における制御電圧などが含まれる。この電圧情報は、電源供給経路や、信号処理部３及びサーボ回路４等からシステム制御部７に与えられる。
【００２７】
また、動作情報には、例えば、スピンドルモータ１及び光ピックアップ２の駆動機構や、光ディスク１０の搬入・排出機構等における機械的なスイッチの動作状態（オン／オフ）、更には、装置内部の各種回路における電気的なスイッチの動作状態が含まれる。このようなスイッチの動作状態は、機械的、電気的スイッチから直接、若しくは間接的（例えば、サーボ回路４等から）にシステム制御部７に与えられる。この他にも、動作情報には、例えば、信号処理部３及びサーボ回路４での信号処理動作に関する情報が含まれる。
【００２８】
次に、装置内部におけるエラー発生があった場合には、システム制御部７は、エラー検出手段として、当該エラー発生を検出し（ステップＳ２：Ｙ）、ステップＳ３に移行する。一方、エラー発生を検出しない（ステップＳ２：Ｎ）場合には、上記通常の処理を繰り返す。
【００２９】
ここで、エラー発生に係るエラー内容には、温度、電圧、及び動作等に関するものが含まれる。なお、エラー発生の原因には、装置外部の温度等の環境、ユーザの使い方によるものと、装置内部における部品、回路等の不具合（寿命、不良も含む）等の影響によるものが含まれる。
【００３０】
例えば、温度に関するエラー発生は、温度情報に係る値（ここでは、電圧値）が、温度上限値（例えば、８０°Ｃ）以上になった場合、若しくは温度下限値（例えば、−２０°Ｃ）になった場合に検出される。また、電圧に関するエラー発生は、電圧情報に係る電源電圧、若しくは制御電圧の値が所定範囲内に無い場合に検出される。
【００３１】
また、光ピックアップ２の動作に関するエラー発生は、例えば、システム制御部７がサーボ回路４に対し光ピックアップ２が内周に動くように動作指令を与えても、光ピックアップ２が内周に動かない（例えば、光ピックアップ２が内周に動いた時にオン動作するスイッチからの動作情報がオフ動作を示す）場合に検出される。
【００３２】
また、光ディスク１０の排出の動作に関するエラー発生は、例えば、システム制御部７が光ディスク１０の搬入・排出機構に対して光ディスク１０の排出指令を与えても、光ディスク１０が排出（イジェクト）されない（例えば、光ディスク１０が排出された時にオン動作するスイッチからの動作情報がオフ動作を示す）場合に検出される。
【００３３】
また、例えば、ディスクチャンジャーを備えた光ディスク１０の搬入・排出機構であるとき、ディスクチェンジャーの動作に関するエラー発生は、システム制御部７がそのディスクチャンジャーに対してトレイ選択指令を与えても、目標のトレイに動けない場合に検出される。
【００３４】
さらに、信号処理の動作に関するエラー発生は、例えば、システム制御部７がフォーカスエラー（光ディスク１０との焦点がとれない）、或いはトラッキングエラー（情報トラックへの位置ずれ）の情報を動作情報としてサーボ回路４から受けた場合に検出される。
【００３５】
以上の説明したエラー内容は、一例であって、この他にも様々なエラー発生が検出される。
【００３６】
次に、システム制御部７は、情報取得手段として、少なくとも、装置内部における温度情報、電圧情報、及び動作情報のうちの何れか一つの情報を取得する（ステップＳ３）。例えば、上述したように、システム制御部７は、温度検知回路６から温度情報を取得する。また、システム制御部７は、電源供給経路、信号処理部３、又はサーボ回路４等から電圧情報を取得する。また、システム制御部７は、機械的、電気的スイッチ等から動作情報を取得する。なお、システム制御部７は、温度情報、電圧情報、及び動作情報のうちの何れの情報を取得するかを、例えば、ユーザからの操作部を介した指示に従い設定することができる。
【００３７】
次に、システム制御部７は、記録制御手段として、上記取得した情報（例えば、温度情報に係る値等）と、そのエラー発生に係るエラー内容（例えば、温度に関するエラー等）とを、対応付けてメモリ８に記録する（ステップＳ４）。
【００３８】
次に、システム制御部７は、上記エラー発生後に、エラーが復帰したか否かを判断し（ステップＳ５）、エラーが復帰した場合（例えば、一過性のエラー発生の場合）にはステップＳ１に戻り、システム制御部７は上記と同様の処理を実行する。一方、エラーが復帰しない場合には、システム制御部７は、エラー内容に応じた制御を実行することになる。例えば、温度に関するエラーや、光ピックアップ２の動作に関するエラーであった場合には、システム制御部７は、サーボ回路４に対し光ピックアップ２の動作停止命令を与える。
【００３９】
こうして、上記ステップＳ２にてエラー発生が検出される度に、上記ステップＳ３にて取得した情報がメモリ８に記録され、エラー発生履歴として蓄積されることになる。
【００４０】
図４は、メモリ８に蓄積されたエラー発生履歴例を示す図である。図４（Ａ）の例では、３回分のエラー発生履歴が蓄積されており、例えば、履歴１では、温度に関するエラー（ＴＥ０）に対応付けられて温度情報に係る値（００１０１００）が、履歴２では、電源電圧に関するエラー（ＶＥ１）に対応付けられて温度情報に係る値（００１１１０１）が、履歴３では、光ピックアップ２の動作に関するエラー（ＡＥ２）に対応付けられて温度情報に係る値（０１１１１００）が、それぞれ記録されている。また、図４（Ａ）の例では、温度情報に係る値は７ビト（ｂｉｔ）での記録値になっている。
【００４１】
なお、図４（Ａ）の例では、温度情報に係る値が記録された例を示したが、電圧情報に係る値や、動作情報に係る値（例えば、スイッチのオン、又はオフ）も記録がされる場合もある。
【００４２】
また、図４（Ｂ）に示すように、一回のエラー発生の際に複数の情報が記録されるようにしてもよい。また、例えば、温度検知回路６におけるサーミスタ回路を装置内部の複数の場所に設け、エラー発生が検出された時に複数の場所の温度情報が取得され、メモリ８に記録されるようにしてもよい。
【００４３】
さらに、エラー発生の際に、システム制御部７が装置Ｓ内の時計機能から日と時間の少なくとも何れかを取得し、図４（Ｃ）に示すように、エラー内容等に対応付けて記録するようにしてもよい。
【００４４】
以上説明したように上記実施形態によれば、エラー発生が検出された時の装置内部における温度情報等の情報がメモリ８に記録されるので、製造者側は、その後の解析時（例えば、メモリ８に記録された情報をパソコンで読み出す）に役立つ正確な情報を得ることができる。
【００４５】
特に、かかる情報は、例えば再現性が低い不具合解析において、極めて重要な情報となる。また、エラー発生が検出された時の装置内部における温度情報等の情報は、例えば、どの温度でエラー発生したかを知ることができ、ある温度で発生しやすい不具合を発見する等の上で極めて重要である。従って、製造者側は、迅速な解析、迅速，的確な不具合究明を行い、迅速な対応を図ることができる。
【００４６】
さらに、エラー発生が検出された時の装置内部における温度情報等の情報に対応つけてそのエラー発生日時をメモリ８に記録すれば、製造者側は、どのくらいの間隔（頻度）でエラーが発生していたかを、後の解析で把握することができ、一過性の不具合原因等を究明することができる。
【００４７】
なお、上記実施形態において、例えば、装置Ｓ内に湿度検知装置を設け、エラー発生が検出された時に、システム制御部７が、装置内部における湿度情報を取得しメモリ８に記録するように構成してもよい。
【００４８】
ところで、上記実施形態において、温度検知回路６におけるサーミスタ回路６ａを使用することにより判定可能な温度範囲が、例えば、−１００°Ｃ〜２５０°Ｃであるとし、温度検知回路６におけるＡ／Ｄ変換器がアナログ値を１０ビットのディジタル値（温度情報に係る値）に変換するものとすると、−１００〜２５０°Ｃの温度範囲は、１０２４等分できるので、システム制御部７では約０．３４°Ｃ（３５０／１０２４＝０．３４°Ｃ）の間隔（１ビット当たりの温度）という高い精度で装置内部の温度（温度情報に係る値）を認識することができる。
【００４９】
しかしながら、上記実施形態のように、メモリ容量等の関係で上記温度情報に係る値をメモリ８にて７ビットの値で記録するとした場合、−１００〜２５０°Ｃの温度範囲は、１２８等分となり、約２．７°Ｃ（３５０／１２７＝２．７°Ｃ）の間隔という低い精度でしか記録できないという不便さが生じる。これでは、部品のバラツキにより、温度値のバラツキも大きくなってしまう。
【００５０】
そこで、かかる不便さを解決するために、取得された温度情報に係る値が含まれる温度範囲に応じて当該値の精度を変化させてメモリ８に記録させる制御について以下に説明する。
【００５１】
システム制御部７は、図３のステップＳ４において、上記温度情報に係る値の精度を変化させてメモリ８に記録することになる。
【００５２】
図５は、１０ビットの値から７ビットの値に変換するためのビット変換テーブル７０の一例を示す図である。このビット変換テーブル７０は、システム制御部７におけるＲＯＭ等に記憶されており、上記温度情報に係る値がメモリ８に記録される際に、システム制御部７により参照されるようになっている。これにより、ある温度範囲における１０ビットの値は、その精度を維持しつつ７ビットの値に変換されることができる。
【００５３】
図６は、温度範囲に応じて値の精度が変化されてメモリ８に記録される様子の一例を示す概念図である。図６に示すように、−４１°Ｃ以下の温度範囲Ａ、及び１００°Ｃ以上の温度範囲Ｄでは、例えば装置Ｓの性能保証外等の理由から、システム制御部７により取得された温度情報に係る値（１０ビットでの取得値）が、一つの値にまとめられてメモリ８に記録（７ビットでの記録値）される。
【００５４】
また、−１４°Ｃ以上〜９９°Ｃ以下の温度範囲Ｃでは、例えば温度の影響の少ない等の理由から、１０ビットでの取得値のうち下位３ビットが削除された値でメモリ８に記録（７ビットでの記録値）される。
【００５５】
そして、−４０°Ｃ以上〜−１５°Ｃ以下の温度範囲Ｂでは、例えば詳細に知りたい温度範囲である等の理由から、１０ビットでの取得値が、図５に示すビット変換テーブル７０に基づいて変換された値でメモリ８に記録（７ビットでの記録値）される。なお、温度範囲は、上記の４つ以上に複数に設定されるようにしてもよい。
【００５６】
このように、システム制御部７は、取得した温度情報に係る値が、上記のように段階的に設定された複数の温度範囲の何れの範囲に含まれるかを判断し、当該値が含まれる範囲に応じて当該値の精度を変化させてメモリ８に記録する。例えば、システム制御部７は、取得した温度情報に係る値が、所定範囲（精度維持範囲）としての温度範囲Ｂ内にあるとき、当該値の精度を維持しつつメモリ８に記録する。一方、システム制御部７は、取得した温度情報に係る値が、温度範囲Ｂ外（温度範囲Ａ，Ｃ，Ｄ）にあるとき、温度範囲Ｂ内にあるときよりも上記値の精度を低下させてメモリ８に記録する。また、このような温度範囲（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）は、温度とエラー発生率との関係に基づいて設定され、例えば温度範囲Ｂは、エラー発生率が最も高い温度範囲である。
【００５７】
このように、取得された温度情報に係る値が含まれる範囲に応じて当該値の精度を変化させて記録するように構成すれば、解析ために詳細に必要な範囲について精度を高くし、そうでない場合には、精度を次第に低下させていくことができるので、より効率的に情報を記録することができる。また、記録の精度を高くすることにより、部品のバラツキレベルまで詳細な情報を得ることができる。
【００５８】
なお、上記実施形態においては、温度情報に係る値の精度を変化させて記録させる例について説明したが、温度情報の代わりに、電圧情報、動作情報、及び湿度情報に係る値の精度を変化させて記録させるようにしてもよい。
【００５９】
また、上記実施形態においては、光ディスク等の情報記録媒体に記録された情報を再生するディスク再生装置に対して本発明を適用した場合の例について説明したが、これに限定されるものではなく、例えば、光ディスク等の情報記録媒体に情報を記録及び再生するディスク記録装置に対して本発明を適用することができ、また、ＭＤに情報を記録及び再生する装置等のＡＶ装置（車載用も含む）に対して本発明を適用することもできる。さらに、その他の車載用ナビゲーション装置等に対しても本発明を適用することができる。
【００６０】
また、上記実施形態においては、エラー発生が検出された時の装置内部における温度情報等の情報を取得し記録するように構成したが、当該エラー発生が検出された時を中心とした所定範囲（例えば、５秒間）の情報を取得して記録するように構成してもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】ディスク再生装置の概要構成例を示す図である。
【図２】温度検知回路６におけるサーミスタ回路の一例を示す図である。
【図３】システム制御部７におけるエラー発生処理の一例を示すフローチャートである。
【図４】メモリ８に蓄積されたエラー発生履歴例を示す図である。
【図５】１０ビットの値から７ビットの値に変換するためのビット変換テーブル７０の一例を示す図である。
【図６】温度範囲に応じて値の精度が変化されてメモリ８に記録される様子の一例を示す概念図である。
【符号の説明】
１ スピンドルモータ
２ 光ピックアップ
３ 信号処理部
４ サーボ回路
５ 信号出力部
６ 温度検知回路
７ システム制御部
８ メモリ
Ｓ ディスク再生装置
【発明の属する技術分野】
本発明は、情報の記録を行う情報記録装置等の技術分野に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｃ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｃ）、ＭＤ（Ｍｉｎｉ Ｄｉｓｃ）等の情報記録媒体から情報を再生するディスク再生装置、或いは、情報記録媒体に情報を記録し再生するディスク記録再生装置等のＡＶ（Ａｕｄｉｏ Ｖｉｓｕａｌ）装置は、様々な環境下において使用されるものであるため、温度変化等の様々な状況を想定して製品前試験や、不具合解析等を行う必要がある。特に、不具合解析では、実際の使用環境、例えば、使用環境温度が重要な役割を果すものである。これは、使用環境温度によって部品等の性能の変化や、メカ等に与える影響度が変わってくるからである。例えば、ＡＶ装置等に備える光ピックアップは、高温等においてその動作に影響を受ける性質があるため、温度が設定範囲外になると、装置の制御部が光ピックアップの動作を停止するように制御していた。
【特許文献１】
特開号特開２００１−２５６７１３公報
また、特許文献１には、情報書込読取手段の温度を検出し、その温度が設定温度範囲の外にある場合、情報信号の書込動作を停止する情報記録再生装置が開示されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の装置においては、温度が設定範囲外になった場合に光ピックアップの動作を停止させるのみであったため、装置に何らかのエラーが発生した場合に、製造者側は、ユーザからの情報（例えば、どのような温度環境下で使用していたかなど）に頼らざるをえず、かかる情報はユーザの感覚でしかなく、しかも、例えば装置外部と装置内部の温度には差があるので、正確な情報を得ることができないという不便さがあった。
【０００４】
そこで、本発明は、上記不便さの解消を一つの課題としてなされたもので、エラー発生の際の、より正確な装置内の情報を得ること等が可能な情報記録装置及び情報記録方法等を提供することを目的する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、情報の記録を行う情報記録装置において、装置内部におけるエラー発生を検出するエラー検出手段と、前記エラー発生が検出された時に、少なくとも、前記装置内部における温度情報、電圧情報、及び動作情報のうちの何れか一つの情報を取得する情報取得手段と、前記取得された情報を情報記録手段に記録する記録制御手段と、を備えることを特徴とする。
【０００６】
請求項１２に記載の発明は、情報の記録を行う情報記録方法において、装置内部におけるエラー発生を検出する工程と、前記エラー発生が検出された時に、少なくとも、前記装置内部における温度情報、電圧情報、及び動作情報のうちの何れか一つの情報を取得する工程と、前記取得された情報を情報記録手段に記録する工程と、を備えることを特徴とする。
【０００７】
請求項１３に記載の発明は、情報の記録を行う情報記録装置に含まれるコンピュータを、装置内部におけるエラー発生を検出し、前記エラー発生が検出された時に、少なくとも、前記装置内部における温度情報、電圧情報、及び動作情報のうちの何れか一つの情報を取得し、前記取得された情報を情報記録手段に記録するように機能させることを特徴とする。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施の形態を添付図面に基づいて説明する。なお、以下の実施形態は、ＣＤ、若しくはＤＶＤ（以下、「光ディスク」という）等の情報記録媒体に記録された情報を再生するディスク再生装置に対して本発明を適用した場合の実施形態である。
【０００９】
先ず、図１及び図２を参照して、本実施形態にかかるディスク再生装置の構成及び機能を説明する。
【００１０】
図１は、ディスク再生装置の概要構成例を示す図である。図１に示すように、ディスク再生装置Ｓは、スピンドルモータ１、光ピックアップ２、信号処理部３、サーボ回路４、信号出力部５、温度検知回路６、システム制御部７、及び情報記録手段としてのメモリ８を含んで構成されている。なお、ディスク再生装置Ｓは、この他にも、ユーザからの操作指示（再生、停止、トラック番号選択指示など）を受け付けシステム制御部７に出力する操作部、各種情報を表示する表示部、更には、時計機能等を備えているが図示を省略している。
【００１１】
スピンドルモータ１は、ターンテーブル（図示せず）上の所定のクランプ位置に載置された光ディスク１０を一定の線速度で回転させるようになっている。
【００１２】
光ピックアップ２は、光ビームの光源、光センサ、集光レンズ、及びアクチュエータ等を備えており、光ビームを光ディスク１０へ照射し、その反射光を光センサにて検出して、その検出信号を信号処理部３に出力するようになっている。
【００１３】
信号処理部３は、ＲＦ（Ｒａｄｉｏ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）アンプ、及びＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）等を備えており、光ピックアップ２から出力された検出信号をＲＦアンプにてＲＦ信号に変換し、そのＲＦ信号に対してＤＳＰにてＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ ｔｏ Ｆｏｕｒｔｅｅｎ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）復調処理及び誤り訂正処理等を行って、ディジタル信号として信号出力部５に出力するようになっている。また、信号処理部３は、光ピックアップ２から出力された検出信号に基づき、ＲＦアンプにてトラッキングエラー信号、及びフォーカスエラー信号を生成してサーボ回路４に出力する。
【００１４】
サーボ回路４は、信号処理部３から出力されたトラッキングエラー信号、及びフォーカスエラー信号に基づいてスピンドルモータ１及び光ピックアップ２をサーボ制御、すなわち、光ピックアップ２や光ディスク１０の速度、トラック位置、集光レンズのフォーカス等を閉回路ループを形成することにより制御するようになっている。
【００１５】
信号出力部５は、Ｄ（Ｄｉｇｉｔａｌ）／Ａ（Ａｎａｌｏｇ）変換器、アンプ、及びスピーカ等を備えており、信号処理部３から出力されたディジタル信号をＤ／Ａ変換器にてアナログ信号に変換し、アンプで増幅した後、スピーカから音波として出力するようになっている。
【００１６】
温度検知回路６は、サーミスタ回路、Ａ／Ｄ変換器等を備えており、サーミスタ回路にてディスク再生装置Ｓの内部（以下、「装置内部」という）における温度を検知するようになっている。
【００１７】
図２は、温度検知回路６におけるサーミスタ回路の一例を示す図である。図２に示すように、サーミスタ回路６ａは、抵抗６１とサーミスタ６２が直列接続されて構成されており、抵抗６１の一端に電圧（一定電圧）Ｖｃが印加され、サーミスタの一端が接地されている。サーミスタ６２の抵抗値は、装置内部の温度変化に伴い変化するので、この変化に伴い抵抗６１とサーミスタ６２との接続点Ｘの電圧も変化することになる。温度検知回路６は、かかる接続点Ｘの電圧を取得しＡ／Ｄ変換器にてディジタル値に変換した後、この電圧値を温度情報としてシステム制御部７に供給する。つまり、サーミスタ６２の電圧−温度特性（曲線）よりこの電圧値から温度値が分かる。なお、温度変化によって抵抗値が変化する素子であれば、サーミスタ６２以外の温度検出用素子（例えば、半導体）を適用してもよい。
【００１８】
システム制御部７は、演算機能を有するＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、作業用ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ−Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、処理プログラム（情報記録プログラムも含む）、データ、及びテーブル等を記憶するＲＯＭ（Ｒｅａｄ−Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、及び発振回路等を備えており、ＣＰＵがＲＯＭに記憶された処理プログラムを実行することにより、ディスク再生装置Ｓ全体の動作を制御するようになっている。
【００１９】
より具体的には、システム制御部７は、信号処理部３及びサーボ回路４と通信を行い、光ディスク１０からの情報再生に必要な制御を行う。また、システム制御部７は、本願のエラー検出手段、情報取得手段、及び記録制御手段として機能する（後述）。
【００２０】
メモリ８は、例えば、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）等の不揮発性メモリであり、装置内部におけるエラー発生がシステム制御部７により検出された際に、システム制御部７により取得された情報が記録されるものである。
【００２１】
以上説明した構成において、ディスク再生装置Ｓは、システム制御部７の制御の下、光ディスク１０からの情報を再生しスピーカから出力するように動作する。
【００２２】
次に、このようなディスク再生装置Ｓにおけるエラー発生処理について、図３を参照して説明する。
【００２３】
図３は、システム制御部７におけるエラー発生処理の一例を示すフローチャートである。
【００２４】
図３の処理において、エラー発生が無い場合、システム制御部７は、通常の処理（例えば、光ディスク１０の再生動作に関連する処理等）を行っている（ステップＳ１）。
【００２５】
このような通常の処理の中で、システム制御部７は、装置内部における温度情報、電圧情報、及び動作情報等の情報を監視している。
【００２６】
ここで、温度情報は、上述のように、温度検知回路６からシステム制御部７に与えられる。また、電圧情報には、例えば、信号処理部３、サーボ回路４、温度検知回路６、及びシステム制御部７自身等への電源電圧、信号処理部３及びサーボ回路４等における信号電圧、更には、信号処理部３及びサーボ回路４等における制御電圧などが含まれる。この電圧情報は、電源供給経路や、信号処理部３及びサーボ回路４等からシステム制御部７に与えられる。
【００２７】
また、動作情報には、例えば、スピンドルモータ１及び光ピックアップ２の駆動機構や、光ディスク１０の搬入・排出機構等における機械的なスイッチの動作状態（オン／オフ）、更には、装置内部の各種回路における電気的なスイッチの動作状態が含まれる。このようなスイッチの動作状態は、機械的、電気的スイッチから直接、若しくは間接的（例えば、サーボ回路４等から）にシステム制御部７に与えられる。この他にも、動作情報には、例えば、信号処理部３及びサーボ回路４での信号処理動作に関する情報が含まれる。
【００２８】
次に、装置内部におけるエラー発生があった場合には、システム制御部７は、エラー検出手段として、当該エラー発生を検出し（ステップＳ２：Ｙ）、ステップＳ３に移行する。一方、エラー発生を検出しない（ステップＳ２：Ｎ）場合には、上記通常の処理を繰り返す。
【００２９】
ここで、エラー発生に係るエラー内容には、温度、電圧、及び動作等に関するものが含まれる。なお、エラー発生の原因には、装置外部の温度等の環境、ユーザの使い方によるものと、装置内部における部品、回路等の不具合（寿命、不良も含む）等の影響によるものが含まれる。
【００３０】
例えば、温度に関するエラー発生は、温度情報に係る値（ここでは、電圧値）が、温度上限値（例えば、８０°Ｃ）以上になった場合、若しくは温度下限値（例えば、−２０°Ｃ）になった場合に検出される。また、電圧に関するエラー発生は、電圧情報に係る電源電圧、若しくは制御電圧の値が所定範囲内に無い場合に検出される。
【００３１】
また、光ピックアップ２の動作に関するエラー発生は、例えば、システム制御部７がサーボ回路４に対し光ピックアップ２が内周に動くように動作指令を与えても、光ピックアップ２が内周に動かない（例えば、光ピックアップ２が内周に動いた時にオン動作するスイッチからの動作情報がオフ動作を示す）場合に検出される。
【００３２】
また、光ディスク１０の排出の動作に関するエラー発生は、例えば、システム制御部７が光ディスク１０の搬入・排出機構に対して光ディスク１０の排出指令を与えても、光ディスク１０が排出（イジェクト）されない（例えば、光ディスク１０が排出された時にオン動作するスイッチからの動作情報がオフ動作を示す）場合に検出される。
【００３３】
また、例えば、ディスクチャンジャーを備えた光ディスク１０の搬入・排出機構であるとき、ディスクチェンジャーの動作に関するエラー発生は、システム制御部７がそのディスクチャンジャーに対してトレイ選択指令を与えても、目標のトレイに動けない場合に検出される。
【００３４】
さらに、信号処理の動作に関するエラー発生は、例えば、システム制御部７がフォーカスエラー（光ディスク１０との焦点がとれない）、或いはトラッキングエラー（情報トラックへの位置ずれ）の情報を動作情報としてサーボ回路４から受けた場合に検出される。
【００３５】
以上の説明したエラー内容は、一例であって、この他にも様々なエラー発生が検出される。
【００３６】
次に、システム制御部７は、情報取得手段として、少なくとも、装置内部における温度情報、電圧情報、及び動作情報のうちの何れか一つの情報を取得する（ステップＳ３）。例えば、上述したように、システム制御部７は、温度検知回路６から温度情報を取得する。また、システム制御部７は、電源供給経路、信号処理部３、又はサーボ回路４等から電圧情報を取得する。また、システム制御部７は、機械的、電気的スイッチ等から動作情報を取得する。なお、システム制御部７は、温度情報、電圧情報、及び動作情報のうちの何れの情報を取得するかを、例えば、ユーザからの操作部を介した指示に従い設定することができる。
【００３７】
次に、システム制御部７は、記録制御手段として、上記取得した情報（例えば、温度情報に係る値等）と、そのエラー発生に係るエラー内容（例えば、温度に関するエラー等）とを、対応付けてメモリ８に記録する（ステップＳ４）。
【００３８】
次に、システム制御部７は、上記エラー発生後に、エラーが復帰したか否かを判断し（ステップＳ５）、エラーが復帰した場合（例えば、一過性のエラー発生の場合）にはステップＳ１に戻り、システム制御部７は上記と同様の処理を実行する。一方、エラーが復帰しない場合には、システム制御部７は、エラー内容に応じた制御を実行することになる。例えば、温度に関するエラーや、光ピックアップ２の動作に関するエラーであった場合には、システム制御部７は、サーボ回路４に対し光ピックアップ２の動作停止命令を与える。
【００３９】
こうして、上記ステップＳ２にてエラー発生が検出される度に、上記ステップＳ３にて取得した情報がメモリ８に記録され、エラー発生履歴として蓄積されることになる。
【００４０】
図４は、メモリ８に蓄積されたエラー発生履歴例を示す図である。図４（Ａ）の例では、３回分のエラー発生履歴が蓄積されており、例えば、履歴１では、温度に関するエラー（ＴＥ０）に対応付けられて温度情報に係る値（００１０１００）が、履歴２では、電源電圧に関するエラー（ＶＥ１）に対応付けられて温度情報に係る値（００１１１０１）が、履歴３では、光ピックアップ２の動作に関するエラー（ＡＥ２）に対応付けられて温度情報に係る値（０１１１１００）が、それぞれ記録されている。また、図４（Ａ）の例では、温度情報に係る値は７ビト（ｂｉｔ）での記録値になっている。
【００４１】
なお、図４（Ａ）の例では、温度情報に係る値が記録された例を示したが、電圧情報に係る値や、動作情報に係る値（例えば、スイッチのオン、又はオフ）も記録がされる場合もある。
【００４２】
また、図４（Ｂ）に示すように、一回のエラー発生の際に複数の情報が記録されるようにしてもよい。また、例えば、温度検知回路６におけるサーミスタ回路を装置内部の複数の場所に設け、エラー発生が検出された時に複数の場所の温度情報が取得され、メモリ８に記録されるようにしてもよい。
【００４３】
さらに、エラー発生の際に、システム制御部７が装置Ｓ内の時計機能から日と時間の少なくとも何れかを取得し、図４（Ｃ）に示すように、エラー内容等に対応付けて記録するようにしてもよい。
【００４４】
以上説明したように上記実施形態によれば、エラー発生が検出された時の装置内部における温度情報等の情報がメモリ８に記録されるので、製造者側は、その後の解析時（例えば、メモリ８に記録された情報をパソコンで読み出す）に役立つ正確な情報を得ることができる。
【００４５】
特に、かかる情報は、例えば再現性が低い不具合解析において、極めて重要な情報となる。また、エラー発生が検出された時の装置内部における温度情報等の情報は、例えば、どの温度でエラー発生したかを知ることができ、ある温度で発生しやすい不具合を発見する等の上で極めて重要である。従って、製造者側は、迅速な解析、迅速，的確な不具合究明を行い、迅速な対応を図ることができる。
【００４６】
さらに、エラー発生が検出された時の装置内部における温度情報等の情報に対応つけてそのエラー発生日時をメモリ８に記録すれば、製造者側は、どのくらいの間隔（頻度）でエラーが発生していたかを、後の解析で把握することができ、一過性の不具合原因等を究明することができる。
【００４７】
なお、上記実施形態において、例えば、装置Ｓ内に湿度検知装置を設け、エラー発生が検出された時に、システム制御部７が、装置内部における湿度情報を取得しメモリ８に記録するように構成してもよい。
【００４８】
ところで、上記実施形態において、温度検知回路６におけるサーミスタ回路６ａを使用することにより判定可能な温度範囲が、例えば、−１００°Ｃ〜２５０°Ｃであるとし、温度検知回路６におけるＡ／Ｄ変換器がアナログ値を１０ビットのディジタル値（温度情報に係る値）に変換するものとすると、−１００〜２５０°Ｃの温度範囲は、１０２４等分できるので、システム制御部７では約０．３４°Ｃ（３５０／１０２４＝０．３４°Ｃ）の間隔（１ビット当たりの温度）という高い精度で装置内部の温度（温度情報に係る値）を認識することができる。
【００４９】
しかしながら、上記実施形態のように、メモリ容量等の関係で上記温度情報に係る値をメモリ８にて７ビットの値で記録するとした場合、−１００〜２５０°Ｃの温度範囲は、１２８等分となり、約２．７°Ｃ（３５０／１２７＝２．７°Ｃ）の間隔という低い精度でしか記録できないという不便さが生じる。これでは、部品のバラツキにより、温度値のバラツキも大きくなってしまう。
【００５０】
そこで、かかる不便さを解決するために、取得された温度情報に係る値が含まれる温度範囲に応じて当該値の精度を変化させてメモリ８に記録させる制御について以下に説明する。
【００５１】
システム制御部７は、図３のステップＳ４において、上記温度情報に係る値の精度を変化させてメモリ８に記録することになる。
【００５２】
図５は、１０ビットの値から７ビットの値に変換するためのビット変換テーブル７０の一例を示す図である。このビット変換テーブル７０は、システム制御部７におけるＲＯＭ等に記憶されており、上記温度情報に係る値がメモリ８に記録される際に、システム制御部７により参照されるようになっている。これにより、ある温度範囲における１０ビットの値は、その精度を維持しつつ７ビットの値に変換されることができる。
【００５３】
図６は、温度範囲に応じて値の精度が変化されてメモリ８に記録される様子の一例を示す概念図である。図６に示すように、−４１°Ｃ以下の温度範囲Ａ、及び１００°Ｃ以上の温度範囲Ｄでは、例えば装置Ｓの性能保証外等の理由から、システム制御部７により取得された温度情報に係る値（１０ビットでの取得値）が、一つの値にまとめられてメモリ８に記録（７ビットでの記録値）される。
【００５４】
また、−１４°Ｃ以上〜９９°Ｃ以下の温度範囲Ｃでは、例えば温度の影響の少ない等の理由から、１０ビットでの取得値のうち下位３ビットが削除された値でメモリ８に記録（７ビットでの記録値）される。
【００５５】
そして、−４０°Ｃ以上〜−１５°Ｃ以下の温度範囲Ｂでは、例えば詳細に知りたい温度範囲である等の理由から、１０ビットでの取得値が、図５に示すビット変換テーブル７０に基づいて変換された値でメモリ８に記録（７ビットでの記録値）される。なお、温度範囲は、上記の４つ以上に複数に設定されるようにしてもよい。
【００５６】
このように、システム制御部７は、取得した温度情報に係る値が、上記のように段階的に設定された複数の温度範囲の何れの範囲に含まれるかを判断し、当該値が含まれる範囲に応じて当該値の精度を変化させてメモリ８に記録する。例えば、システム制御部７は、取得した温度情報に係る値が、所定範囲（精度維持範囲）としての温度範囲Ｂ内にあるとき、当該値の精度を維持しつつメモリ８に記録する。一方、システム制御部７は、取得した温度情報に係る値が、温度範囲Ｂ外（温度範囲Ａ，Ｃ，Ｄ）にあるとき、温度範囲Ｂ内にあるときよりも上記値の精度を低下させてメモリ８に記録する。また、このような温度範囲（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）は、温度とエラー発生率との関係に基づいて設定され、例えば温度範囲Ｂは、エラー発生率が最も高い温度範囲である。
【００５７】
このように、取得された温度情報に係る値が含まれる範囲に応じて当該値の精度を変化させて記録するように構成すれば、解析ために詳細に必要な範囲について精度を高くし、そうでない場合には、精度を次第に低下させていくことができるので、より効率的に情報を記録することができる。また、記録の精度を高くすることにより、部品のバラツキレベルまで詳細な情報を得ることができる。
【００５８】
なお、上記実施形態においては、温度情報に係る値の精度を変化させて記録させる例について説明したが、温度情報の代わりに、電圧情報、動作情報、及び湿度情報に係る値の精度を変化させて記録させるようにしてもよい。
【００５９】
また、上記実施形態においては、光ディスク等の情報記録媒体に記録された情報を再生するディスク再生装置に対して本発明を適用した場合の例について説明したが、これに限定されるものではなく、例えば、光ディスク等の情報記録媒体に情報を記録及び再生するディスク記録装置に対して本発明を適用することができ、また、ＭＤに情報を記録及び再生する装置等のＡＶ装置（車載用も含む）に対して本発明を適用することもできる。さらに、その他の車載用ナビゲーション装置等に対しても本発明を適用することができる。
【００６０】
また、上記実施形態においては、エラー発生が検出された時の装置内部における温度情報等の情報を取得し記録するように構成したが、当該エラー発生が検出された時を中心とした所定範囲（例えば、５秒間）の情報を取得して記録するように構成してもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】ディスク再生装置の概要構成例を示す図である。
【図２】温度検知回路６におけるサーミスタ回路の一例を示す図である。
【図３】システム制御部７におけるエラー発生処理の一例を示すフローチャートである。
【図４】メモリ８に蓄積されたエラー発生履歴例を示す図である。
【図５】１０ビットの値から７ビットの値に変換するためのビット変換テーブル７０の一例を示す図である。
【図６】温度範囲に応じて値の精度が変化されてメモリ８に記録される様子の一例を示す概念図である。
【符号の説明】
１ スピンドルモータ
２ 光ピックアップ
３ 信号処理部
４ サーボ回路
５ 信号出力部
６ 温度検知回路
７ システム制御部
８ メモリ
Ｓ ディスク再生装置
Claims (13)
- 情報の記録を行う情報記録装置において、
装置内部におけるエラー発生を検出するエラー検出手段と、
前記エラー発生が検出された時に、少なくとも、前記装置内部における温度情報、電圧情報、及び動作情報のうちの何れか一つの情報を取得する情報取得手段と、
前記取得された情報を情報記録手段に記録する記録制御手段と、を備えることを特徴とする情報記録装置。 - 請求項１に記載の情報記録装置において、
前記記録制御手段は、前記取得された情報に係る値が所定範囲内にあるとき、当該値の精度を維持しつつ記録することを特徴とする情報記録装置。 - 請求項２に記載の情報記録装置において、
前記記録制御手段は、前記取得された情報に係る値が所定範囲外にあるとき、前記所定範囲内にあるときよりも前記値の精度を低下させて記録することを特徴とする情報記録装置。 - 請求項２又は３に記載の情報記録装置において、
前記所定範囲は、エラー発生率が高い範囲であることを特徴とする情報記録装置。 - 請求項１に記載の情報記録装置において、
前記記録制御手段は、前記取得された情報に係る値が段階的に設定された複数の範囲の何れの範囲に含まれるかを判断し、当該値が含まれる前記範囲に応じて当該値の精度を変化させて記録することを特徴とする情報記録装置。 - 請求項５に記載の情報記録装置において、
前記複数の範囲は、温度とエラー発生率との関係に基づいて設定されることを特徴とする情報記録装置。 - 請求項１乃至６の何れか一項に記載の情報記録装置において、
前記情報取得手段は、前記装置内部の複数の場所における前記情報を取得することを特徴とする情報記録装置。 - 請求項１乃至７の何れか一項に記載の情報記録装置において、
前記記録制御手段は、前記エラー発生が検出される度に前記取得された情報を記録することを特徴とする情報記録装置。 - 請求項１乃至８の何れか一項に記載の情報記録装置において、
前記記録制御手段は、日と時間の少なくとも何れかを取得する機能を有し、前記エラー発生の日と時間の少なくとも何れかと、前記取得された情報とを対応付けて記録することを特徴とする情報記録装置。 - 請求項１乃至９の何れか一項に記載の情報記録装置において、
前記記録制御手段は、前記エラー発生に係るエラー内容と、前記取得された情報とを対応付けて記録することを特徴とする情報記録装置。 - 請求項１乃至１０の何れか一項に記載の情報記録装置において、
前記エラー発生に係るエラー内容には、少なくとも温度、電圧、及び動作に関するもののうち何れか一つが含まれることを特徴とする情報記録装置。 - 情報の記録を行う情報記録方法において、
装置内部におけるエラー発生を検出する工程と、
前記エラー発生が検出された時に、少なくとも、前記装置内部における温度情報、電圧情報、及び動作情報のうちの何れか一つの情報を取得する工程と、
前記取得された情報を情報記録手段に記録する工程と、を備えることを特徴とする情報記録方法。 - 情報の記録を行う情報記録装置に含まれるコンピュータを、
装置内部におけるエラー発生を検出し、
前記エラー発生が検出された時に、少なくとも、前記装置内部における温度情報、電圧情報、及び動作情報のうちの何れか一つの情報を取得し、
前記取得された情報を情報記録手段に記録するように機能させることを特徴とする情報記録処理プログラム。
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Legal Events
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070605 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20071009 |