JP3039056B2 - 追記型光ディスク記録装置 - Google Patents

追記型光ディスク記録装置

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、追記型光ディスクに光
ビームを用いて任意のデータの書き込みを行う追記型光
ディスク記録装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】例えばコンパクトディスク(CD)と同
じサイズのディスクの一面に有機色素を塗布し、この一
面に光ビームを用いて任意のデータを書き込むようにし
た追記型光ディスクが実施されている。このようなディ
スクによれば書き込まれたデータは一般のコンパクトデ
ィスク再生装置を用いて再生することが可能であり、少
枚数のコンパクトディスクの製造などに利用することが
できる。
【0003】ところがこのような追記型光ディスクにお
いては、ディスクのメーカーの違いなどによって塗布さ
れた有機色素の感度に微妙な差が生じている。この感度
の差はもちろん仕様書等によって規定された許容範囲内
のものであるが、ディスク、記録装置、再生装置の組み
合わせによっては、再生が不能になってしまう恐れもあ
るものである。
【0004】すなわち図3は光ビームの出力と有機色素
の感度による再生信号の特性(アシンメトリー)の変化
を示したものである。同図のAは有機色素の感度が低く
光ビームの出力がアンダーパワーになっている場合で、
この場合には再生信号の特性(アシンメトリー)が上側
(ミラーレベル)に接近する。一方同図のCは有機色素
の感度が高く光ビームの出力がオーバーパワーになって
いる場合で、この場合には再生信号の特性(アシンメト
リー)が下側になってしまう。
【0005】これに対して有機色素の感度と光ビームの
出力が適正な場合には、同図のBに示すように再生信号
の特性(アシンメトリー)が信号振幅の中央になる。そ
してこのような特性の変化は、上述のように再生信号の
特性(アシンメトリー)が信号振幅の中央から離れるに
従って、信号検出のためのアイパターンが小さくなり、
信号の再生が困難になるものである。
【0006】そこで従来からディスクの一部に検査エリ
アを設けて、このエリアに試し書きされた信号を判別し
て記録に用いる光ビームの出力を調整することが行われ
ている。すなわち図4はディスクの一面を模式的に示し
たものである。この図において、コンパクトディスクと
同様にプログラム記録エリアが設けられると共に、この
内周側にプログラムの演奏時間データなどを記載したT
OCを含むリードイン・エリアと、外周側にリードアウ
ト・エリアが設けられている。
【0007】このリードイン・エリアのさらに内周側
に、全てのプログラムの記録が完了するまでの間、それ
までに記録されたプログラムの演奏時間データなどを記
録するプログラム記憶エリア(PMA)と、塗布された
有機色素の感度を検査して光ビームの出力を調整する検
査エリア(PCA=Power Control Ar
ea)が設けられる。そしてこの検査エリア(PCA)
に対して、記録の開始前に任意の信号を順次光ビームの
出力レベルを変えて記録(試し書き)を行い、この記録
を再生して再生信号が所定の特性(アシンメトリー)に
なった出力レベルを判別して、このレベルに光ビームの
出力を調整するものである。
【0008】ところがこのような検査エリア(PCA)
に試し書きを行って光ビームの出力を調整した場合に、
この調整は記録期間中維持されるようになっている。こ
のため記録中の温度変化等によって光ビームを発生する
レーザーダイオードの波長がずれた場合や、光ディスク
の内外周の感度差等には対応することができないもので
あった。
【0009】なお従来から、光ビームのレベルを検出
(フロントモニタ)してレーザーダイオードの出射パワ
ーを制御することが行われている。しかしながらこのよ
うな方法では、波長の変動による塗布された有機色素の
感度変化や、光ディスクの内外周の感度差等には対応す
ることができないものである。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】解決しようとする問題
点は、検査エリア(PCA)に試し書きを行って光ビー
ムの出力を調整しても、記録中の温度変化等によって光
ビームを発生するレーザーダイオードの波長がずれた場
合や、光ディスクの内外周の感度差等には対応すること
ができないというものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、追記型光ディ
スク8に光ビーム(レーザーダイオード4)を用いて任
意のデータ(EFM信号入力部1)の書き込みを行う追
記型光ディスク記録装置において、上記ディスクの記録
特性の検査エリアに試し書きを行って上記光ビームの出
力を制御(マイクロコンピュータ(CPU)31、試し
書きレベル発生回路33)すると共に、上記検査エリア
に適正レベルで試し書きされる信号中の最短ビット長
(3T)とそれより長い任意のビット長(11T)の信
号が記録される際の反射信号レベル(3Tホールド回路
37、11Tホールド回路38)を記憶(メモリ40)
し、記録時に上記最短ビット長とそれより長い任意のビ
ット長の信号が記録される際の反射信号レベルを上記記
憶されたレベルと比較(減算回路41)し、この比較出
力により上記光ビームの出力を制御するようにした追記
型光ディスク記録装置である。
【0012】
【作用】これによれば、記録期間中も所定の信号の反射
信号レベルを検出して光ビームの出力が制御されるの
で、波長の変動による塗布された有機色素の感度変化
や、光ディスクの内外周の感度差等にも対応することが
できる。
【0013】
【実施例】図1において、1はEFM信号の入力部であ
って、この入力部1からの信号がスイッチ2を通じてレ
ーザードライバ3に供給され、このドライバ3を通じて
レーザーダイオード4の出力光ビームが制御される。こ
のレーザーダイオード4からの光ビームがコリメータレ
ンズ5、ビームスプリッタ6、対物レンズ7を通じて追
記型光ディスク8の一面に塗布された有機色素に照射さ
れる。さらにこの追記型光ディスク8からの反射光ビー
ムが対物レンズ7を通じてビームスプリッタ6に照射さ
れ、このビームスプリッタ6で反射された光ビームが円
筒レンズ9を通じて例えば4分割の光検出器10に照射
される。
【0014】この光検出器10の各分割からの信号がそ
れぞれヘッドアンプ11a〜11dを通じてマトリクス
回路12に供給される。このマトリクス回路12にてフ
ォーカスエラー信号が形成され、位相補償回路13を通
じてフォーカスアクチュエータ14に供給される。また
マトリクス回路12にてトラッキングエラー信号が形成
され、位相補償回路15を通じてトラッキングアクチュ
エータ16に供給される。さらにこの位相補償回路15
からの信号がローパスフィルタ17を通じて送りモータ
18に供給される。
【0015】またマトリクス回路12からのトラッキン
グエラー信号がFM復調回路19に供給され、上述の例
えば22.05kHzのウォブリング周波数の信号が所
定のレベルで取り出される。この取り出された信号が位
相補償回路20を通じてスピンドルモータ21に供給さ
れる。
【0016】このようにしてフォーカス及びトラッキン
グのサーボが行われ、上述のプリグルーブをトレースす
るように送りモータ18が駆動される。さらにこのトレ
ースが線速度一定となるように回転サーボが行われる。
そしてこの状態で入力部1からのEFM信号が光ディス
ク8の一面に塗布された有機色素に記録される。
【0017】さらにマトリクス回路12からは、光ディ
スク8の反射光から再生信号が取り出され、この再生信
号がEFM信号の出力部22に供給される。またこのマ
トリクス回路12からの再生信号がピークホールド回路
23及びボトムホールド回路24に供給され、これらの
出力が減算回路25に供給されて再生信号の振幅が取り
出される。この取り出された振幅がアッテネータ26を
通じてウィンドウコンパレータ27に供給される。
【0018】またマトリクス回路12からの再生信号が
減算回路28に供給される。この減算回路28からの信
号が正負を判別するコンパレータ29に供給され、この
コンパレータ29の出力がローパスフィルタ30を通じ
て減算回路28に帰還される。これによってローパスフ
ィルタ30からは再生信号のアシンメトリーのレベルが
取り出される。そしてこのアシンメトリーのレベルがウ
ィンドウコンパレータ27に供給されることによって、
アシンメトリーのレベルが再生信号の振幅の所定の範囲
の中にあるか否かが判別される。この判別信号がマイク
ロコンピュータ(CPU)31に供給される。
【0019】一方、上述のプリグルーブのウォブリング
にはさらに6.3kHzのクロック周波数で時:分:
秒:フレームを示すディジタル値(ATIP)を示すF
M信号が重畳されている。そこで上述のFM復調回路1
9からの信号がATIP再生回路32に供給され、再生
されたATIPのディジタル値がマイクロコンピュータ
(CPU)31に供給される。
【0020】さらに試し書きレベルの発生回路33が設
けられ、この発生回路33からの信号がスイッチ34で
選択され、減算回路35、ローパスフィルタ36を通じ
てレーザードライバ3の出力レベルの制御部に供給され
る。なお発生回路33及びスイッチ34はマイクロコン
ピュータ(CPU)31によって制御される。
【0021】また、マトリクス回路12からの再生信号
がレベルホールド回路37、38に供給される。このホ
ールド回路37、38がマイクロコンピュータ(CP
U)31によって、後述する3T及び11Tの信号に対
して所定のタイミングで駆動される。このホールド回路
37、38からの信号が演算回路39に供給され、例え
ば2つの信号の差、あるいは比の値が演算される。この
演算された値がメモリ40に記憶される。そしてこのメ
モリ40に記憶された値と演算回路39で新たに演算さ
れた値が減算回路41で比較され、この比較出力がスイ
ッチ34で選択され、減算回路35に供給される。
【0022】さらにビームスプリッタ6のコリメータレ
ンズ5からの光ビームの反射光がフロントモニタ42に
照射される。このフロントモニタ42からの信号がヘッ
ドアンプ43を通じて減算回路35に供給される。
【0023】この装置において、まず記録の開始前に、
レーザーダイオード4からの光ビームが上述の検査エリ
ア(PCA)に照射される。またスイッチ34が発生回
路33側に切り換えられる。さらに発生回路33がマイ
クロコンピュータ(CPU)31によって制御され、発
生回路33から順次変化される試し書きレベルがレーザ
ードライバ3の出力レベルの制御部に供給される。
【0024】これによって検査エリア(PCA)に試し
書きが行われる。それと共に、このときのプリグルーブ
のウォブリングが復調されてATIPが再生され、この
ATIPがマイクロコンピュータ(CPU)31に供給
されて、上述の発生回路33の制御に合わせて記憶され
る。すなわち発生回路33の制御によってレーザーダイ
オード4からの光ビームの出力レベルが順次切り換えら
れる毎に、そのときのATIPが記憶される。
【0025】さらに上述の発生回路33で発生される全
ての試し書きレベルに対応された書き込みが終了される
と、この試し書きされた検査エリア(PCA)が再生さ
れる。そしてこの再生信号の中で、上述のアシンメトリ
ーのレベルが振幅の所定の範囲の中にある信号が再生さ
れたときのATIPが判別され、このATIPが記憶さ
れたときの試し書きレベル状態に発生回路33が制御さ
れる。このようにして有機色素の感度に対して光ビーム
の出力が適正になるように、レーザーダイオード4から
の光ビームの出力レベルが制御される。
【0026】次にこの装置において、光ビームの出力が
適正になるように制御された状態で、上述の検査エリア
(PCA)に任意のEFM信号の記録が行われる。そし
てこの信号が記録される際の反射(再生)信号がマトリ
クス回路12から取り出され、この信号がホールド回路
37及び38に供給される。一方このEFM信号がマイ
クロコンピュータ(CPU)31に供給され、例えば最
短ビット長(3T)とそれより長い任意のビット長(1
1T)の信号が判別される。そしてこのマイクロコンピ
ュータ(CPU)31で信号の判別されたタイミングで
ホールド回路37及び38が駆動される。
【0027】これによって上述の例えば最短ビット長
(3T)とそれより長い任意のビット長(11T)の信
号が記録される際の反射(再生)信号のレベルがホール
ド回路37及び38にサンプリングホールドされる。な
おサンプリングのタイミングは例えば図2に示すように
される。そしてこのホールド回路37及び38にホール
ドされたレベルが演算回路39に供給され、これらのレ
ベルの差または比の値が演算されて、この演算された値
がメモリ40に記憶される。
【0028】さらにこの装置において、記録時にはフロ
ントモニタ42からの信号が減算回路35を通じてレー
ザードライバ3に供給されて、レーザーダイオード4の
出射パワーが一定になる方向に制御が行われる。それと
共に、記録時にはスイッチ34が減算回路41側に切り
換えられる。
【0029】一方マイクロコンピュータ(CPU)31
では、上述の検査エリア(PCA)への記録時と同様
に、例えば最短ビット長(3T)とそれより長い任意の
ビット長(11T)の信号が判別される。そしてこのマ
イクロコンピュータ(CPU)31で信号の判別された
タイミングでホールド回路37及び38が駆動される。
これによって記録信号中の例えば最短ビット長(3T)
とそれより長い任意のビット長(11T)の信号が記録
される際の反射(再生)信号のレベルがホールド回路3
7及び38にサンプリングホールドされる。
【0030】そしてこのホールド回路37及び38にホ
ールドされたレベルが演算回路39に供給され、これら
のレベルの差または比の値が演算される。この演算され
た値とメモリ40に記憶された値とが減算回路41で比
較され、これらの値の差成分が検出される。この検出さ
れたさ成分がスイッチ34を通じて減算回路35に供給
され、演算された値とメモリ40に記憶された値とが等
しくなるように、レーザーダイオード4の出射パワーの
制御が行われる。
【0031】こうして上述の装置によれば、記録期間中
も所定の信号の反射信号レベルを検出して光ビームの出
力が制御されるので、波長の変動による塗布された有機
色素の感度変化や、光ディスクの内外周の感度差等にも
対応することができるものである。
【0032】従ってレーザーダイオードの波長のずれに
代表される書き込み光の品質の変化、及びディスク内の
感度ばらつき、スキュー等のディスクのパラメーターの
変化にかかわらず、書いたディスクのアシンメトリーを
書き込み中の反射信号を基に制御できるので、完成した
ディスクの信号品質(特にアシンメトリー)を常に一定
に保つことができる。
【0033】なお上述の光ビームの出力が適正になるよ
うに制御された状態で検査エリア(PCA)に記録され
る信号は、例えば最短ビット長(3T)より長い任意の
ビット長(11T)の信号をマイクロコンピュータ(C
PU)31で発生して供給するようにしてもよい。
【0034】
【発明の効果】この発明によれば、記録期間中も所定の
信号の反射信号レベルを検出して光ビームの出力が制御
されるので、波長の変動による塗布された有機色素の感
度変化や、光ディスクの内外周の感度差等にも対応する
ことができるようになった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による追記型光ディスク記録装置の一例
の構成図である。
【図2】サンプリングタイミングの説明のための図であ
る。
【図3】光ビームの出力と有機色素の感度による再生信
号の特性(アシンメトリー)の変化を示す図である。
【図4】追記型光ディスクの説明のための図である。
【符号の説明】
1 EFM信号の入力部 3 レーザードライバ 4 レーザーダイオード 5 コリメータレンズ 6 ビームスプリッタ 7 対物レンズ 8 追記型光ディスク 9 円筒レンズ 10 4分割の光検出器 11a〜11d、42 ヘッドアンプ 12 マトリクス回路 13、15、20 位相補償回路 14 フォーカスアクチュエータ 16 トラッキングアクチュエータ 17、30、36 ローパスフィルタ 18 送りモータ 19 FM復調回路 21 スピンドルモータ 22 EFM信号の出力部 23 ピークホールド回路 24 ボトムホールド回路 25、28、35、43 減算回路 26 アッテネータ 27 ウィンドウコンパレータ 29 コンパレータ 31 マイクロコンピュータ(CPU) 32 ATIP再生回路 33 試し書きレベル発生回路 34 スイッチ 37 3Tホールド回路 38 11Tホールド回路 39 演算回路 40 メモリ 41 フロントモニタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/00 - 7/013 G11B 7/125

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 追記型光ディスクに光ビームを用いて任
    意のデータの書き込みを行う追記型光ディスク記録装置
    において、 上記ディスクの記録特性の検査エリアに試し書きを行っ
    て上記光ビームの出力を制御すると共に、 上記検査エリアに適正レベルで試し書きされる信号中の
    最短ビット長とそれより長い任意のビット長の信号が記
    録される際の反射信号レベルを記憶し、 記録時に上記最短ビット長とそれより長い任意のビット
    長の信号が記録される際の反射信号レベルを上記記憶さ
    れたレベルと比較し、 この比較出力により上記光ビームの出力を制御するよう
    にした追記型光ディスク記録装置。
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