JP2797733B2 - 光学情報記録部材の記録方法 - Google Patents

光学情報記録部材の記録方法

Info

Publication number
JP2797733B2
JP2797733B2 JP3035878A JP3587891A JP2797733B2 JP 2797733 B2 JP2797733 B2 JP 2797733B2 JP 3035878 A JP3035878 A JP 3035878A JP 3587891 A JP3587891 A JP 3587891A JP 2797733 B2 JP2797733 B2 JP 2797733B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
recording
light
signal
power
information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP3035878A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH04212720A (ja
Inventor
健一 西内
鋭二 大野
昇 山田
信夫 赤平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Publication of JPH04212720A publication Critical patent/JPH04212720A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2797733B2 publication Critical patent/JP2797733B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B27/00—Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
    • G11B27/36—Monitoring, i.e. supervising the progress of recording or reproducing
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/0045—Recording
    • G11B7/00455—Recording involving reflectivity, absorption or colour changes
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/2407—Tracks or pits; Shape, structure or physical properties thereof
    • G11B7/24085—Pits
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
    • G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
    • G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
    • G11B11/10502—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing characterised by the transducing operation to be executed
    • G11B11/1053—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing characterised by the transducing operation to be executed to compensate for the magnetic domain drift or time shift
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
    • G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
    • G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
    • G11B11/10595—Control of operating function

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光等を用いて情
報信号を記録する光学情報記録部材の記録方法に関す
る。中でも記録媒体や記録装置の変動に対応して、最適
な記録条件を得る方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】レーザーを利用して光学情報記録部材
に、情報信号を記録あるいは再生を行う技術は、既に光
ディスク装置として実用化されている。以下、情報記録
部材を光ディスクとも略す。これらの技術の中で、再生
専用型のものはコンパクトディスク装置（以下ＣＤと略
す）あるいはレーザーディスク装置として、また追記型
のものは文書ファイル、データファイル等に盛んに応用
されている。また、書換え型の記録装置は、現在商品化
が開始された段階にある。
【０００３】書換え型の一つの方式に、アモルファス−
結晶間、あるいは結晶−結晶間の可逆的な状態変化を利
用した相変化型光ディスクがある。これに用いる記録薄
膜は、レーザー光による加熱条件及び冷却条件によっ
て、アモルファス状態と結晶状態のいずれかの状態とな
り、かつ二つの状態に可逆性がある。また、アモルファ
ス状態と結晶状態では、光学定数（屈折率・消衰係数）
が異なる。相変化光ディスクは、情報信号に応じて選択
的に２つの状態を記録薄膜に形成し、この結果生じる光
学的変化（透過率、または反射率）を利用して信号の記
録・再生を行う。
【０００４】これらを２つの状態を得るために、図９に
示す光照射方法が提案されている。光ディスク上の記録
薄膜に、情報信号（ａ）に対応させて、ピークパワーＰ
ｐとバイアスパワーＰｂ（Ｐｐ＞Ｐｂ）の二つのパワー
レベル間で強度変調したレーザー光（ｂ）を照射する方
法がある（特開昭５６ー１４５３０号公報)。このよう
なレーザ光が記録薄膜に照射されると、照射部は以前の
状態がアモルファスあるいは結晶のいずれであっても、
ピークパワーＰｐが照射された部分はアモルファス状態
となり、バイアスパワーＰｂが照射された部分は結晶状
態となる。この結果、一つのレーザー光スポットにより
光ディスク上に情報信号の重ね書き（オーバーライト）
が行われる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな構成では、光照射条件であるパワーレベルＰｐ，Ｐ
ｂは、光ディスクの種類に応じて一定の最適値が存在す
る。即ち、同一条件で形成された光ディスクにおいて
も、製造時のばらつきや経時変化により記録薄膜の最適
な光照射条件が変化する。また、光ディスクの基板表面
の汚れ、あるいは記録するドライブ装置の光学系の伝送
効率の低下や動作状態の変動により、光ディスクの記録
薄膜に到達するレーザ光のパワーが変動することが考え
られる。
【０００６】図１４は光ディスクの変動を示す一例とし
てＣ／Ｎの記録パワー依存性を示す。光ディスクおよび
記録条件は後述する実施例１と同じであり、ここでは光
ディスクの変動のポイントだけを説明する。曲線Ａは初
期状態での測定結果を示し、曲線Ｂは同ディスクを粉塵
の多い環境に一定期間放置し、ディスク表面が汚れた状
態において再び記録特性を測定した結果を示す。一般に
光ディスクの記録においては、C/Nの最大となるパワー
が最適な条件とみなすことができる。光ディスク製造時
の検査行程における評価は、曲線Ａの状態に相当し、最
適記録パワーは10mWとなる。しかし上記環境に放置した
後に、前記パワー10mWで記録すると、曲線Ｂの示すよう
にC/Nは30dBと低い値となり、十分な記録状態が得られ
なくなる。ここでは、ディスク表面が汚れた場合であっ
てが、前述のドライブの変動などが付加されるとさらに
記録状態が変化する。
【０００７】このように、光ディスク製造時に測定した
最適な記録条件により信号の記録を行なったとしても、
記録する際の状態により異なった記録が行なわれ、この
結果記録部からのデータ信号を復調する際に、信号が正
しく復元されない、即ち再生エラーを生じるという問題
があった。
【０００８】本発明は上記問題点に鑑み、情報信号を記
録する際に、記録媒体に対し最適な照射条件を設定する
方法を提供するものである。
【０００９】上記課題を解決するために本発明の光学情
報記録部材の記録方法は、光の照射条件により光学的に
識別可能な状態間で可逆的に変化する情報層上に光ビー
ムを照射することにより情報信号を記録する際の記録パ
ワーを決定する方法であって、前記情報層上に情報信号
を記録する前に、複数の異なるパワーレベルからなる一
連の光照射を行い、前記一連の光照射後の情報層からの
反射光量または透過光量の少なくとも何れかを測定し、
前記測定結果に基づいて最適な照射条件を決定する方法
を含み、前記パワーレベルの変化に対して前記測定結果
の変化が最大になるパワーレベルを基準パワーレベルと
し、前記基準パワーレベルに一定の値を乗ずることによ
り最適な記録パワーとするものである。
【００１０】
【作用】本発明は上記した構成によって、記録時点にお
ける記録媒体および記録装置を組合わせた状態で最適状
態を決定できる。この結果、記録媒体または装置などの
時間的な変動に対応することで、誤りの少ない記録状態
が得られることとなる。
【００１１】
【実施例】以下本発明の一実施例の光学情報記録部材の
記録方法について、図面を参照しながら説明する。
【００１２】図１は本発明の光照射条件を決定する機能
を持つ光学情報記録装置の構成図を示す。初めに各部の
動作について説明する。
【００１３】本装置は、スピンドルモータ１により回転
する光ディスク２、レーザー光を光ディスク上に集光す
るための光学系Ａ、レーザー光の変調を行うための情報
記録部Ｂ、光ディスクから情報を再生しかつ光スポット
の制御を行うための再生制御部Ｃから構成される。ま
た、各回路の動作はコントローラ３により管理する。
【００１４】光ディスク２は、基板２ａと、基板上の記
録薄膜２ｂから構成されている。基板の表面は、凹凸形
状のトラッキング用のガイドトラック、あるいは記録位
置検出用のアドレス信号が形成されている。また、光デ
ィスクは、情報を記録する情報領域２ｃ以外に、光の照
射条件を設定するためのテスト領域２ｄを設ける。基板
２ａの材料としては、ポリメチルメタアクリレート（Ｐ
ＭＭＡ）やポリカーボネート（ＰＣ）等の樹脂やガラス
が使用できる。光照射による相変化を利用して信号を記
録する記録材料２ｂには、アモルファス−結晶の相変化
では、GeTe、GeSbTe系、InSe系、InSeTlCo系、GeSnTeAu
系、GeSbTeSe系、SeSnTeO系、SeTeS系等を用いることが
できる。また結晶−結晶間の相変化材料としてはInSb
系、AgZn系等を用いることができる。光磁気記録用の記
録材料には、TbFeCo，GdTbFeなどがある。
【００１５】ここでは記録条件が設定されたの後の通常
モードにおける記録手順について説明する。光ディスク
に記録するデータ信号Ｓ０１は、データ信号を光の強度
変調に変換する情報記録部Ｂに導かれ、最初にバッファ
メモリ４に一時記憶される。バッファメモリ４は、コン
トローラ３からのゲート信号Ｓ３ａに対応したタイミン
グでデータ信号Ｓ４ａを駆動回路５に出力する。駆動回
路５は、データ信号Ｓ４ａに対応し、かつ記録設定器６
からの条件に従った変調電流Ｓ５を発生し、半導体レー
ザ７を駆動する。半導体レーザ７からは、図９（ｂ）の
ようにピークパワーＰｐとバイアスパワーＰｂの間でパ
ワー変調された光が発生する。半導体レーザの光はコリ
メータレンズ８により平行光となり、偏向ビームスプリ
ッター９、１／４波長板１０を透過し、対物レンズ１１
でもって光ディスク２上の記録薄膜２ｂ上に波長限界で
ある約１μｍの大きさのスポット径に集光される。集光
した光を前記データ信号に対応してＰｐ，Ｐｂ間で強度
変調することで、記録薄膜２ｂ上では図９（ｃ）のよう
にデータ信号に対応した記録マーク（アモルファス状
態）が形成され、記録が行なわれる。
【００１６】データの再生時には、一定の再生パワーレ
ベルＰｒの連続光を光ディスクに照射する。記録薄膜２
ｂからの反射光は、対物レンズ１１、１／４波長板１０
を経て、偏向ビームスプリッター９によって反射され、
光検出器１２上に入射する。光検出器１２により光電変
換された信号は、再生制御部Ｃのプリアンプ１３により
増幅される。再生・制御部Ｃは、サーボ部１４によりプ
リアンプの信号Ｓ１３の低周波数成分を用いて制御信号
Ｓ１４に変換し、前記対物レンズ１１を支持するボイス
コイル１１ａを駆動し、光ディスク上の光スポットのフ
ォーカシングおよびトラッキングを行う。一方復調回路
１５では、プリアンプ１３からの信号の高周波成分を用
いて光ディスク２上に形成されたマークからのデータ信
号を復調する。バッファメモリ１６では、復調されたデ
ータ信号Ｓ１５ａを一旦記憶し、コントローラからの指
定する信号Ｓ３ｃに従って外部装置にデータ信号Ｓ１６
を送り出す。以上の構成でもって、光ディスクにデータ
信号の記録、かつ記録部からの信号を再生することが可
能となる。
【００１７】次に光ディスクの記録条件を設定する方法
の概略について説明し、続いて３つの実施例を示し本発
明をさらに詳細に説明する。
【００１８】初めに光ディスクの変動要因が発生してこ
とを示す基準信号Ｓ０２が、コントローラ３入力される
ことにより、光ディスクの記録条件設定用の動作が開始
する。コントローラ３は、記録条件設定モードの信号Ｓ
３ｂ、Ｓ３ｄをそれぞれ記録設定器６、サーボ部１４に
出力する。サーボ部は、光ビームの位置をテスト条件領
域２ｄに移動させ、パターン発生器１７の各種記録パタ
ーンを、記録設定器６により順次読みだし、前記記録パ
ターンに従って駆動回路５を動作させる。この結果、光
ディスク上には、記録条件に対応した異なる記録状態が
形成される。光ディスクの記録状態は、プリアンプの出
力信号Ｓ１３の直流成分を反射率測定部１９により検出
し、測定結果を示す信号Ｓ１９と記録条件とをコントロ
ーラ３により対応させることで最適な記録条件を決定す
る。なお前記出力信号の直流成分は、光ディスクのサー
ボ信号の１つであるトラッキング信号の和信号、あるい
はフォーカス信号の和信号を用いることができる。他の
記録状態を評価する方法としては、復調部１５からのデ
ータ復調過程で発生するエラー訂正信号Ｓ１５ｂをエラ
ー検出部１８で検出し、そのエラー信号Ｓ１８と記録条
件を対応させることで最適記録状態を決定する。
【００１９】記録条件設定の基準信号Ｓ０２は、光ディ
スクの記録条件が変化する要因が生じた場合、あるいは
実際の記録・再生の動作でエラーが検出された場合に発
生させることで、記録条件の再設定が行なう。実際の動
作条件としては、光ディスクの交換時、ディスクドライ
ブの起動時、使用環境の温度が一定以上変化した時、記
録条件設定を行なった後一定の時間が経過した時、ある
いは再生信号から一定以上のエラーが検出された時に記
録条件設定信号が発生する構成とする。ディスク交換
時、あるいはドライブの起動時の検出により、ディスク
とドライブのそれぞれの間での変化あるいは相互間の変
動要素を保証できる。また、使用環境の温度変化、記録
条件設定からの時間経過を管理することで、記録媒体の
温度依存性、あるいはドライブの制御状態の変動を保証
することができる。
【００２０】上記のような構成とすることで、光ディス
クの記録条件設定用の基準信号に応じて、その都度記録
条件の設定が行なわれ、常に最適な状態でデータの記録
を行なうことができ、データ記録装置としての信頼度が
向上する。
【００２１】次に具体的な実施例を用いて本発明をさら
に詳しく説明する。 （実施例１）図２に本実施例に用いた光ディスクの構成
を示す。ポリカーボネート基板２ａ上に、保護層２ｅを
ZnS、記録材料２ｂをGeSbTe、保護層２ｆをZnS、反射層
２ｇをAuとした薄膜を順次積層し、さらにその上部にポ
リカーボネート製の保護板２ｈを接着剤２ｉを介して接
着した。この光ディスクを線速度1.25m/sで回転させ、
各種光照射条件での記録実験を行なった。
【００２２】図３（ａ）は実験結果の一例を示し、曲線
ＡはＣ／Ｎのパワー依存性、曲線Ｂは消去率のパワー依
存性を示す。一般にＣ／Ｎおよび消去率は、光ディスク
の記録状態を簡単に評価する基準として用いられ、これ
らの値が大きいことが信号品質が高く、データ信号の再
生エラーが発生する確率が低いことを意味する。曲線Ａ
は、変調周波数を718kHzとし、バイアスパワーＰｂを５
mW一定とし、ピークパワーＰｐを変化させた時のＣ／Ｎ
の測定結果である。曲線Ｂは、あらかじめＰｐ＝１０ｍ
Ｗ、Ｐｂ＝５ｍＷの条件で７１８ｋＨｚの信号を記録を
行い、Ｃ／Ｎを測定する。前記信号の上にＰｐを１０ｍ
Ｗ一定としてバイアスパワーＰｂ値を変化させて条件で
196kHzの信号をオーバライトし、初期の718kHzの信号成
分の減衰率を消去率とした。図３（ａ）から、Ｃ／Ｎは
１０ｍＷ、消去率は５ｍＷにそれぞれ最大値を持つ曲線
を示す。即ち、記録条件としては、Ｐｐ＝１０ｍＷ、Ｐ
ｂ＝５ｍＷとすることで良好な記録が可能であることを
示す。
【００２３】図３（ｂ）は同ディスクに連続光（無変
調）を照射した場合の反射率の測定結果を示す。実線Ｃ
はアモルファス状態に照射した場合、破線Ｄは結晶状態
に照射した場合である。なお、アモルファス状態の反射
率をＲ０、結晶状態の反射率をＲ１とする。斜線の領域
Ｅは反射率の取り得る範囲を示し、即ちこの範囲ではレ
ーザー光のパワーが低いため照射前の状態に依存した値
となる。（ａ）の結果と比較すると、高い消去率を示す
５ｍＷ前後のパワーで反射率が高くなり、高いＣ／Ｎの
示す１０ｍＷ前後のパワーで反射率が低下するという相
関がある。一般に光ディスクの記録時のエラーは、製造
条件からくる記録材料のばらつき、あるいは感度の経時
変化により、上記（ａ）、（ｂ）の曲線のパワーがシフ
トすることにより発生する。
【００２４】本発明は、図３に示した特性を利用して、
光ディスクの記録条件を決定する方法を図１１のフロー
チャートと、図４の信号波形を用いて説明する。図４
（ａ）は光ディスクの再生信号から得られた記録条件の
設定するためのテスト領域を示す制御信号、（ｂ）は照
射する光の設定パワー、（ｃ）は光照射した部分の反射
率変化を示す。
【００２５】初めにコントローラからの記録条件設定の
制御信号Ｓ３ｂにより、記録設定器６を通じてパターン
設定器１７にコントローラの指定するテスト記録のパワ
ー条件が記録される。例えば５〜１０mWの間の１mWステ
ップ間隔の値を設定しておく。続いて、サーボ部１４に
より光ビームをディスク上のテスト領域２ｄに移動さ
せ、テスト領域からのプリフォーマット信号（例えば基
板の表面に設けられた凹凸ピットからなる制御信号）に
基づいて、テスト開始信号（ａ）に同期してパターン設
定器１７の示す条件で光照射を行なう。テスト開始信号
（ａ）により光ディスク上に図４（ｂ）に示すようなパ
ワーのＤＣ光を照射する。ここでは、初めに５mWの設定
パワーで駆動回路５を駆動し、一定時間（例えば光ディ
スクが１／１０回転）するごとにパワー値を高める。こ
の結果ディスクが１回転する間に１０種類の値のパワー
による記録が行なわれる。次の回転ではレーザ光のパワ
ーを再生光レベルＰｒとし、記録部からの反射光を反射
率測定部１９により検出する。反射率測定部１９から
は、図４（ｃ）のように照射条件に対応して変化する信
号が得られ、この値をコントローラ３により、回路的に
あるいは測定値を比較することにより、パワー変化に対
する反射率変化の最も大きなパワー値Ｐｄを求める。例
えば反射率信号を微分回路を通し、その微分信号の最大
となる時間と、照射パワーを対応付けることでＰｄが得
られる。なおここでは設定パワーを１０段階の場合とし
たが、さらに多くの段階を設定することも可能であり、
あるいはパワーを連続的に変化させることで図４（ｃ）
は図３（ｂ）に近づけることで、パワーＰｄの検出精度
が高まる。本実施例で最も変化の大きいパワーＰｄは７
mWである。
【００２６】相変化光ディスクにおいては、記録材料や
構造により状態変化に必要とするパワーが異なるが、本
発明の目的とするディスクの製造時のバラツキや、記録
装置の変動の範囲であれば、ピークパワーと消去パワー
値の間に一定の関係が成り立つ。このため、反射率変化
の大きいパワーＰｄと最大の消去率を示すパワーＰｂ
1、および最大のＣ／Ｎを示すパワーＰｐ１の間におい
ても次式の関係で近似できる。
【００２７】
【数１】 Ｐｂ１＝ｎ×Ｐｄ
【００２８】
【数２】 Ｐｐ１＝ｍ×Ｐｄ
【００２９】この式から、前述の反射率変化から求めた
パワーＰｄの値から、最適な記録パワーＰｐ，Ｐｅが求
められる。本実施例の場合Ｐｂ１＝５ｍＷ，Ｐｐ１＝１
０ｍＷ，Ｐｄ＝７ｍＷであることからｎ＝０．７，ｍ＝
１．４となる。このｍ，ｎ値をパターン設定回路１７に
記憶、あるいはディスク上のテスト領域２ｄの先頭部に
これらの条件を記録しておき、テスト記録の直前に読み
出す。例えば上記の方法で、異なるディスクからの反射
率変化を測定した結果Ｐｄ＝１０ｍＷであったならば、
式１、式２の条件から、Ｐｂ＝７ｍＷ，Ｐｐ＝１４ｍＷ
が求められる。以上の構成とすることで、光ディスクの
最適な記録条件が求められる。
【００３０】本実施例の場合、照射するパワーを６レベ
ルとしたが、さらに照射パワーレベルを細かく設定す
る、あるいは照射パワーを連続的に変化することによ
り、図３（ｂ）の曲線に近づけることが可能となる。こ
のような場合は、反射率値の比較を行なわずに、反射率
レベルを微分し、そのピークレベルを取り出すことで、
より精度の高いパワー設定が可能となる。 （実施例２）次に実施例１と同じ光ディスクについて、
ディジタル信号の記録を行ない、復調信号の評価から最
適記録パワーを求める方法について説明する。
【００３１】ここでは図１のコード信号Ｓ１に、オーデ
ィオ用のコンパクトディスクで用いられているコード信
号である、音声信号とエラー訂正コードCIRC(Cross Int
erleave Reed-Solomon Code)を含んだＥＦＭ信号を用い
て記録を行う。光ディスク上の記録部からの再生信号
が、プリアンプから出力され、復調器１５により音声信
号に復調される。この復調過程で発生するエラーをエラ
ー検出器１８により測定する。
【００３２】図５は記録パワーＰｐ，Ｐｂを変化させて
オーバーライトを行なった時の、各パワーに対するエラ
ーの測定結果を示す。ここで用いたエラー値は、ＥＦＭ
信号で用いられているエラー訂正符号”Ｃ１”の１秒間
当りの発生量である。各曲線は、バイアスパワーＰｂを
一定としてピークパワーＰｐを段階的に照射した場合の
測定結果である。最適な記録状態を示すエラーが最小と
なる条件は、バイアスパワーＰｂに依存し、Ｐｂが高く
なると最適なＰｐは小さな値に変化する傾向がある。
【００３３】本発明は図５に示した特性を利用して、光
ディスクの記録条件を決定する方法であり、図１２のフ
ローチャートを用いてその手順を説明する。初めにコン
トローラからの記録条件設定の制御信号Ｓ３ｂにより、
記録設定器６を通じてパターン設定器１７にコントロー
ラの指定するテスト記録のパワー条件が記録される。例
えばバイアスパワーＰｂを４,５,６mW、ピークパワーＰ
ｐを８,９,１０,１１,１２mWの合計１２条件を設定す
る。続いて、サーボ部１４により光ビームをディスク上
のテスト領域２ｄに移動させ、テスト領域からのプリフ
ォーマット信号に基づいて、テスト開始信号に同期して
パターン設定器１７の示す条件で光照射を行なう。第１
の記録条件として、Ｐｂ＝４ｍＷ、Ｐｐ＝８ｍＷの設定
パワーで一定時間の光照射を行ない、続いて第２の記録
条件Ｐｐ＝４ｍＷ、Ｐｐ＝９ｍＷの記録を行なう。この
ように順次記録条件を変え１２種類のパターンの記録を
行なう。その後、前記記録部からの再生光を復調部１５
したコード信号からのエラーをエラー検出部１８により
検出する。エラー検出結果の中で最小値を判別し、最小
値を示した信号の位置は容易に特定することが可能であ
り、例えば記録の開始点からの時間から照射時の記録パ
ワーＰｐ,Ｐｂが特定できる。図５に示した光ディスク
においては、Ｐｂ＝５ｍＷ、Ｐｐ＝１０ｍＷのとき最小
のエラー値を示していることから、この値が最適記録条
件となる。 （実施例３）実施例１および２は最適なパワー値を求め
る方法であったが、ここでは、記録マークのエッジの位
置を検出することにより信号を記録・再生するパルス幅
変調方式（ＰＷＭ方式）に適した照射パターンを求める
方法に関する。
【００３４】現在の光ディスクの記録方式のほとんど
は、薄膜材料が照射した光を吸収することで温度上昇
し、その際に生じる状態変化、磁化方向の反転あるいは
変形することを利用して情報の記録を行うヒートモード
の記録方式である。図９は、ヒートモード記録により生
じる信号歪のを、形成状態および再生信号波形を示す。
データ信号（a）に対応してパワー変調された光（ｂ）
が光ディスク上に照射されると、照射部はヒートモード
特有の熱の蓄積効果により、記録開始部の温度に比べ終
了点の温度が高くなり、得られる記録マークは（ｃ）の
ように、始端が小さく終端が大きい涙滴状の非対称な形
状となる。非対称な記録マークのエッジ（始端、終端）
位置からの再生信号（ｄ）を２値化した信号（ｅ）は、
記録信号（ａ）に比べ、時間的誤差Ｊ１，Ｊ２，Ｊ３を
生じ、この量が一定量を越えると復調時エラーとなる。
【００３５】本発明においては前述の記録マークの非対
称性を解消するために、図１０に示すマルチパルス記録
方式がある。データ信号（ａ）の１個の反転信号（記録
マーク）に対し、複数のパルス列で構成される光（ｂ）
を照射することにより、照射部の温度を制御する。この
光変調は各パルスのパワーは一定値とし、パルス幅を変
化させることで、照射部の温度条件を任意に制御でき
る。マルチパルス方式によると、記録開始点に光エネル
ギーを集中させることが可能となり、例えば始端部のパ
ルスのパルス幅を大きく、またはパルスの間隔を短くす
ることで（ｃ）に示すように対称な記録マークを形成す
ることが可能となる。この結果歪の少ない再生信号
（ｄ）、２値化信号（ｅ）が得られ、エラーのない記録
が可能となる。しかしマルチパルス方式の変調パターン
（ｂ）は、光ディスクや光ディスクドライブの状態によ
り、最適条件が異なる。
【００３６】本発明においては、これらの変動要素に対
応して、最適な記録パターンを得ることが可能である。
図６は、記録薄膜に応じてマルチパルス波形の最適パタ
ーンを得るためのブロック図を示し、図７はそのタイミ
ングチャートを示す。なお変調方式は、実施例２と同じ
くエラー訂正コードCIRCを含んだＥＦＭ信号を採用し
た。この回路の特徴は、変調方式の最長のパルス幅１１
Ｔに対し、４４個の領域からなるパルス列をあらかじめ
パターン設定器に記憶させておき、入力される３Ｔから
１１Ｔのパルスのパルス幅に対応させて、設定されたパ
ターンの先頭から必要な長さのパルス列を作り出すもの
である。
【００３７】初めにコントローラ３からのテスト開始信
号Ｓ３ｂにより、基準信号発生器２０（ここではＥＦＭ
の基準信号）からＥＦＭ信号Ｓ２０ａと、ＥＦＭ信号の
クロック信号の周期Ｔ（＝231nS）を４分割した周期の
クロックＳ２０ｂが出力される。なお図７のタイミング
チャートは４Ｔのパルスをマルチパルス変調する場合に
ついて示している。まずＥＦＭ信号Ｓ２０ａが入力され
るとデータフリップフロップのＤＦＦ２１とＤＦＦ２２
およびＮＡＮＤ２３により起動信号Ｓ２３が作られ、パ
ラレル／シリアルアウトシフトレジスタ：ＰＳ／ＳＲ２
４が動作する。ＰＳ／ＳＲ２４は、パターン設定器２５
からの設定パターンを呼びだし、クロックＳ２０ｂに同
期して１ステップずつ送り出す。パターン設定器２５
は、４４×１５ビットのＲＯＭから構成され、ＥＦＭ信
号の最長のパルス幅（１１Ｔ）に対応できるように４４
個のそれぞれに対して”Ｈ”または”Ｌ”の設定されて
おり、かつ１５パターンの波形を記憶できる。選択器２
６は，記録設定器からの制御信号Ｓ６ｂに従って、パタ
ーン発生器２５から出力されるパターンの種類を選択す
る。次にＤＦＦ２１、ＤＦＦ２２、ＮＡＮＤ２７により
停止信号Ｓ２７が出力される。この停止信号によりＰＳ
／ＳＲ２４からの１７ステップ以降の出力は停止し、信
号Ｓ２４のパルス列が得られる。なおＤＦＦ２８はパル
ス列とクロックＳ２０ｂを再び同期させた後、パルス列
信号Ｓ２８を駆動回路５に送り出す。駆動回路５によ
り、最終的に図１０（ａ）のＥＦＭ信号に対し、図１０
（ｂ）のような光出力が半導体レーザ７から得られる。
このようにしてＥＦＭ信号３Ｔ〜１１Ｔのすべて幅のパ
ルスに対し、パルス列化が可能となり、かつ１５種類の
異なるパターンを選択することが可能となる。
【００３８】図１３のフローチャートに従って、本発明
の動作手順を説明する。初めにコントローラからの記録
条件設定の制御信号Ｓ３ｂにより、記録設定器６を通じ
てパターン設定器１７にコントローラの指定するマルチ
パルス方式のパターン、例えば図８の１５種類のパター
ンを記憶させる。続いて、サーボ部１４により光ビーム
をディスク上のテスト領域２ｄに移動させ、テスト領域
からのプリフォーマット信号に基づいて、テスト開始信
号に同期してパターン設定器１７の示す条件で光照射を
行なう。第１の記録条件として、図８（a）のパターン
で一定時間の光照射を行ない、続いて第２の記録条件と
して図８（ｂ）のパターンの記録を行なう。このように
順次記録条件を変え１５種類のパターンの記録を行な
う。その後、前記記録部からの再生光を復調部１５によ
り復調したコード信号からのエラー量をエラー検出部１
８により測定する。エラー検出結果の中で最小値を判別
し、最小値を示した信号の記録開始点からの記録時間か
ら、照射パターンを特定することができる。
【００３９】例えば、実施例１で示した光ディスクを線
速1.2m/Sで回転させ、記録パワーをＰｐ＝１３ｍＷ、Ｐ
ｂ＝５ｍＷとして記録実験を行ない、各照射パターンに
対するエラー量の測定を行なった。図８（a）〜（o）の
照射パターンに対し、エラー量としては、パターン
（ａ）＝210,（ｂ）＝150,（ｃ）＝170,（ｄ）＝100,
（ｅ）＝180,（ｆ）＝95,（ｇ）＝180,（ｈ）＝170,
（ｉ）＝75,（ｊ）＝45,（ｋ）＝150,（ｌ）＝305,
（ｍ）＝18,（ｎ）＝30,（ｏ）＝130が得られた。以上
の結果から、最適な記録条件はパターン（ｍ）となる。
【００４０】ここまでは、記録パターンと照射パワーの
いずれかを最適状態とする方法であったが、同時に照射
パワーと記録パターンを組あわせることにより、さらに
精度の高い記録条件を設定することが可能となる。ま
た、本実施例では記録条件を変化させる範囲をテスト記
録の範囲をディスクが１回転する間に完了することを１
つの基準としてきたが、更に短時間のテスト、あるいは
より精度の高いパワーの設定が必要な場合は、それぞれ
の特性に合わせて記録条件を設定することが望ましい。
【００４１】本実施例ではデータの再生信号の評価法と
して、エラー訂正量だけで評価する場合だけであった
が、他の方法としては、復調信号のジッター量を比較す
ることによっても、本発明と同等の結果が得られる。記
録媒体については相変化型の光ディスクの場合であった
が、本方式は、ヒートモード記録全般なかでもＰＷＭ方
式の記録を行なう場合に有効な方法である。
【００４２】
【発明の効果】以上のように本発明は光記録媒体に信号
を記録する前に、さまざまなひかり照射を行い最適な光
の照射条件を設定することにより、光記録媒体および記
録装置等の変動の影響を受けることなく、エラーの少な
い記録状態を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例における光照射条件を設定す
る方法の構成図である。
【図２】同実施例における光学情報記録部材の断面図で
ある。
【図３】本発明の第１の実施例における記録部材のＣ／
Ｎ、消去率のパワー依存性およびＤＣ光照射時の反射率
変化を示す特性図である。
【図４】同実施例における照射パワーと反射率の時間変
化を示す図である。
【図５】本発明の第２の実施例におけるエラーのパワー
依存性を示す図である。
【図６】本発明の第３の実施例におけるマルチパルス波
形の最適なパターンを得る回路のブロック図である
【図７】同実施例におけるマルチパルス発生回路のタイ
ミングチャート図である。
【図８】同実施例におけるパターン発生器に設定された
照射パターン図である。
【図９】従来の単発パルスの記録方法による変調波形と
記録マークの形状の概念図である。
【図１０】本発明の第３の実施例におけるマルチパルス
の変調波形と記録マークの形状の概念図である。
【図１１】本発明の第１の実施例の動作説明のためのフ
ローチャート図である。
【図１２】本発明の第２の実施例の動作説明のためのフ
ローチャート図である。
【図１３】本発明の第２の実施例の動作説明のためのフ
ローチャート図である。
【図１４】従来の記録部材の環境変化に対する記録パワ
ー依存性を示す図である。
【符号の説明】
２ 記録部材 ５ 駆動回路 ６ 記録設定器 ７ 半導体レーザ １５ 復調部 １７ パターン設定器 １８ エラー検出部 １９ 反射率測定部
フロントページの続き (72)発明者 赤平 信夫 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−121130（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−37745（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−165825（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−165825（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−5221（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G11B 7/00 G11B 7/125

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 光の照射条件により光学的に識別可能な
    状態間で可逆的に変化する情報層上に光ビームを照射す
    ることにより情報信号を記録する際の記録パワーを決定
    する方法であって、前記情報層上に情報信号を記録する
    前に、複数の異なるパワーレベルからなる一連の光照射
    を行い、前記一連の光照射後の情報層からの反射光量ま
    たは透過光量の少なくとも何れかを測定し、前記測定結
    果に基づいて最適な照射条件を決定する方法を含み、前
    記パワーレベルの変化に対して前記測定結果の変化が最
    大になるパワーレベルを基準パワーレベルとし、前記基
    準パワーレベルに一定の値を乗ずることにより最適な記
    録パワーとすることを特徴とする光学情報記録部材の記
    録方法。
  2. 【請求項２】 一連の光照射が、一定の期間パワーを一
    定とした連続光の照射であることを特徴とする請求項１
    記載の光学情報記録部材の記録方法。
  3. 【請求項３】 光の照射条件により光学的に識別可能な
    状態間で可逆的に変化する情報層上に第１のパワーレベ
    ルと、前記第１のパワーレベルよりも低い第２のパワー
    レベルを含む少なくとも２つのレベル間でパワー変調し
    た単一の光ビームを照射することにより情報信号を記録
    する際の記録パワーを決定する方法であって、前記情報
    層上に情報信号を記録する前に、特定の情報信号に従っ
    て前記単一の光ビームをパワー変調する少なくとも前記
    第１のパワーレベル及び前記第２のパワーレベルを何れ
    も段階的に変化させた一連の光照射を行い、前記一連の
    光照射後の前記情報層からの反射光量または透過光量の
    少なくとも何れかを検出し、前記光検出により得られた
    信号のエラー量を測定し、前記測定結果を予め設定され
    た所定の値と比較することにより、最適なパワーレベル
    を決定することを特徴とする光学情報記録部材の記録方
    法。
  4. 【請求項４】 光照射が、情報信号に対応して情報層上
    に形成する１個の記録マークに対し、複数のパルス列か
    らなる変調パタ−ンによって行なわれ、前記変調パタ−
    ンが少なくとも２つ以上存在する請求項３記載の光学情
    報記録部材の記録方法。
  5. 【請求項５】 光の照射条件により光学的に識別可能な
    状態間で可逆的に変化する情報層上に光ビームを照射す
    ることにより情報信号を記録する際の記録パルスパタ−
    ンを決定する方法であって、前記パルスパタ−ンが、前
    記情報層上に形成する１個の記録マークに対し、複数の
    パルス列からなる光照射であり、前記情報層上に情報信
    号を記録する前に、特定の情報信号に応じて、前記複数
    のパルス列の照射パタ−ンが異なる一連の光照射を行
    い、前記一連の光照射後の前記情報層からの反射光量ま
    たは透過光量の少なくとも何れかを検出し、前記光検出
    により得られた信号のエラー量を測定し、前記測定結果
    を予め設定された所定の値と比較し、前記比較結果の中
    で前記エラー量が最小値となる照射パタ−ンを最適な照
    射条件として決定することを特徴とする光学情報記録部
    材の記録方法。
  6. 【請求項６】 一連の光照射が、メモリ上に予め設定し
    たパルス列の照射パタ−ンを順次選択することによる異
    なる光照射であることを特徴とする請求項４記載の光学
    情報記録部材の記録方法。
  7. 【請求項７】 一連の光照射が、情報層上の情報記録領
    域以外の領域で行なわれることを特徴とする請求項１、
    ３、５何れかに記載の光学情報記録部材の記録方法。
  8. 【請求項８】 情報層を備えた光学情報記録部材の交換
    時、前記情報層からエラーが検出された時、記録装置の
    起動時、前記起動時から一定時間経過した時、または使
    用環境の温度が一定以上変化した時の少なくとも何れか
    を検出する記録管理を行い、前記記録管理の検出結果に
    基づき一連の光照射を行なうことを特徴とする請求項
    １、３、５何れかに記載の光学情報記録部材の記録方
    法。
JP3035878A 1990-03-14 1991-03-01 光学情報記録部材の記録方法 Expired - Lifetime JP2797733B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6316690 1990-03-14
JP2-63166 1990-03-14

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04212720A JPH04212720A (ja) 1992-08-04
JP2797733B2 true JP2797733B2 (ja) 1998-09-17

Family

ID=13221391

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3035878A Expired - Lifetime JP2797733B2 (ja) 1990-03-14 1991-03-01 光学情報記録部材の記録方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5305297A (ja)
EP (1) EP0446892B1 (ja)
JP (1) JP2797733B2 (ja)
DE (1) DE69126349T2 (ja)

Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5590111A (en) * 1990-06-29 1996-12-31 Hitachi, Ltd. Method of controlling recording of optical records
JPH0469802A (ja) * 1990-07-11 1992-03-05 Sony Corp 磁気変調コイル駆動回路
JP3039056B2 (ja) * 1991-11-25 2000-05-08 ソニー株式会社 追記型光ディスク記録装置
JPH0644565A (ja) * 1992-07-24 1994-02-18 Sony Corp 光デイスク装置
JP2835250B2 (ja) * 1992-08-10 1998-12-14 シャープ株式会社 光ディスク記録再生装置における光量制御装置
JP3259204B2 (ja) * 1992-10-21 2002-02-25 株式会社ニコン 光記録方法及び光記録のパルストレイン条件決定方法
EP0594425A3 (en) * 1992-10-21 1996-10-09 Nippon Kogaku Kk Pulse train condition/heat shut off condition determination method and apparatus for optical recording, and optical recording method and apparatus
EP0595625A3 (en) * 1992-10-28 1996-05-22 Nippon Kogaku Kk Prepulse condition/heat shut off condition determination method and apparatus for optical recording, and optical recording method and apparatus
JPH06301978A (ja) * 1992-10-28 1994-10-28 Nikon Corp 光記録のプリパルス条件及び熱遮断条件決定方法、 同決定装置、光記録方法及び光記録装置
US5610879A (en) * 1993-03-05 1997-03-11 Matsushita Electric Industrial Co. Ltd. Optical reproducing device, optical reproducing method using the same, and optical record medium used in the same
JP2812636B2 (ja) * 1993-04-22 1998-10-22 株式会社日立製作所 光学的記録装置
BE1007029A3 (nl) * 1993-04-22 1995-02-21 Koninkl Philips Electronics Nv Werkwijze voor het afleiden van een kwaliteitssignaal uit een uitgelezen signaal, alsmede een optekeninrichting en een uitleesinrichting waarin een dergelijke werkwijze wordt toegepast.
JP3240016B2 (ja) * 1993-05-11 2001-12-17 ソニー株式会社 光デイスク装置及び光デイスク装置の評価方法
JP2643780B2 (ja) * 1993-07-23 1997-08-20 日本電気株式会社 情報記録再生装置
JP2827855B2 (ja) * 1993-11-12 1998-11-25 ヤマハ株式会社 光ディスク記録装置
US5495466A (en) * 1994-01-10 1996-02-27 Eastman Kodak Company Write verification in an optical recording system by sensing mark formation while writing
JP3231533B2 (ja) * 1994-01-31 2001-11-26 株式会社日立製作所 光学的情報記録方法
JP2643883B2 (ja) * 1994-04-15 1997-08-20 日本電気株式会社 相変化光ディスクの初期化方法
US5450383A (en) * 1994-05-26 1995-09-12 International Business Machines Corporation Monitoring and adjusting laser write power in an optical disk recorder using pulse-width modulated power level checking signals
US5648952A (en) * 1994-09-28 1997-07-15 Ricoh Company, Ltd. Phase-change optical disc recording method and apparatus, and information recording apparatus and recording pre-compensation method
US5726954A (en) * 1995-04-10 1998-03-10 Nikon Corporation Optical recording method and apparatus
DE69614909T2 (de) * 1995-04-10 2002-04-04 Nikon Corp., Tokio/Tokyo Optische Aufzeichnungsverfahren und optisches Aufzeichnungsgerät
JPH0969246A (ja) * 1995-08-30 1997-03-11 Canon Inc 光学的情報記録再生装置
US5831943A (en) * 1995-11-07 1998-11-03 Nikon Corporation Stabilized overwriteable optical recording method using laser beam intensity settings
US5825724A (en) * 1995-11-07 1998-10-20 Nikon Corporation Magneto-optical recording method using laser beam intensity setting based on playback signal
US5808972A (en) * 1995-12-28 1998-09-15 Nikon Corporation Stabilized overwriteable optical recording method using laser beam intensity settings
KR0179259B1 (ko) * 1996-04-13 1999-04-15 구자홍 상변화형 광기록매체 및 그의 제조방법
JP3457463B2 (ja) * 1996-04-26 2003-10-20 富士通株式会社 光学的記憶装置
JP3259642B2 (ja) * 1996-08-14 2002-02-25 ヤマハ株式会社 光ディスク記録方法
TW382703B (en) 1997-03-14 2000-02-21 Hitachi Ltd Signal recording method, phase difference detecting circuit, and information apparatus
JP4272279B2 (ja) 1998-09-28 2009-06-03 パナソニック株式会社 光学的情報記録装置、光学的情報記録媒体および光学的情報記録方法
WO2000057408A1 (fr) * 1999-03-19 2000-09-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Procede d'enregistrement optique d'informations et dispositif a cet effet
KR100579454B1 (ko) * 1999-04-13 2006-05-12 엘지전자 주식회사 기록매체 및 이에 테스트 기록을 수행하는 장치 및 방법
WO2000074045A1 (fr) * 1999-05-31 2000-12-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Dispositif et procede d'enregistrement d'informations optiques, et support d'enregistrement d'informations optiques
KR100322601B1 (ko) 1999-06-18 2002-03-18 윤종용 광디스크 기록 방법, 광디스크 기록 장치의 제어 방법 및 이에 적합한 광디스크 기록 장치
JP3768089B2 (ja) * 2000-11-15 2006-04-19 三洋電機株式会社 光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法
JP3632617B2 (ja) * 2001-05-24 2005-03-23 ヤマハ株式会社 光ディスク記録方法およびその装置
CN1308931C (zh) * 2001-08-24 2007-04-04 皇家飞利浦电子股份有限公司 光记录载体记录方法和设备
US20070183288A1 (en) * 2004-03-10 2007-08-09 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Method and device for recording marks in an information layer of an optical record carrier
US10857722B2 (en) 2004-12-03 2020-12-08 Pressco Ip Llc Method and system for laser-based, wavelength specific infrared irradiation treatment
US7425296B2 (en) 2004-12-03 2008-09-16 Pressco Technology Inc. Method and system for wavelength specific thermal irradiation and treatment
JP2006277800A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Taiyo Yuden Co Ltd 光情報記録装置および方法および信号処理回路
JP2007299470A (ja) * 2006-04-28 2007-11-15 Fujitsu Ltd 記録媒体および記録媒体製造方法
JP4523583B2 (ja) * 2006-12-27 2010-08-11 太陽誘電株式会社 データ記録評価方法及び光ディスク記録再生装置
JP2018527550A (ja) * 2015-09-01 2018-09-20 プレスコ アイピー エルエルシーＰｒｅｓｓｃｏ Ｉｐ Ｌｌｃ 統合電力供給制御システム及び方法

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58143444A (ja) * 1982-02-19 1983-08-26 Fujitsu Ltd 光学式情報記録装置
JPS5998335A (ja) * 1982-11-27 1984-06-06 Canon Inc 情報記録再生装置
JPS60247836A (ja) * 1984-05-22 1985-12-07 Nippon Gakki Seizo Kk 光学式情報再生装置
JPS61165825A (ja) * 1985-01-17 1986-07-26 Olympus Optical Co Ltd 光学的情報記録方法
JPH0756734B2 (ja) * 1985-05-27 1995-06-14 松下電器産業株式会社 情報記録再生装置
US4937799A (en) * 1985-12-13 1990-06-26 Canon Kabushiki Kaisha Method and apparatus for setting light quantity most suitable for reproducing information from an optical recording medium
DE3751891T2 (de) * 1986-05-02 1997-04-03 Hitachi Ltd Methode zur Aufzeichnung, Wiedergabe und zum Löschen von Informationen und Dünnfilm zur Aufzeichnung von Informationen
JP2609593B2 (ja) * 1986-10-24 1997-05-14 株式会社日立製作所 ディスク媒体の記録方法及びディスク装置
JPS63121130A (ja) * 1986-11-07 1988-05-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光情報記録再生装置
NL8800223A (nl) * 1987-04-21 1988-11-16 Philips Nv Systeem voor het registreren van een informatiesignaal, alsmede een registratiedrager en registratieinrichting voor toepassing in het systeem.
US5005164A (en) * 1987-04-28 1991-04-02 Sharp Kabushiki Kaisha Recording and reproducing apparatus
JP2576521B2 (ja) * 1987-08-03 1997-01-29 ブラザー工業株式会社 光磁気ディスク装置
NL8702904A (nl) * 1987-12-03 1989-07-03 Philips Nv Werkwijze en inrichting voor het optekenen van informatie op een registratiedrager, alsmede een inrichting voor het lezen van de opgetekende informatie.
JP2826108B2 (ja) * 1988-06-24 1998-11-18 シャープ株式会社 光記録再生装置
US5126994A (en) * 1988-11-29 1992-06-30 Sony Corporation Method and apparatus for controlling and detecting recording laser beam
US5043971A (en) * 1989-09-28 1991-08-27 Tandy Corporation Method and apparatus for pre-compensation in an optical disc
JPH03116534A (ja) * 1989-09-29 1991-05-17 Toshiba Corp 光ディスク装置
US5050156A (en) * 1989-10-25 1991-09-17 Eastman Kodak Company Method and apparatus for calibrating the writing power applied to an optical media
JPH03165825A (ja) * 1989-11-27 1991-07-17 Mitsubishi Materials Corp 混合装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04212720A (ja) 1992-08-04
EP0446892B1 (en) 1997-06-04
DE69126349T2 (de) 1997-12-11
DE69126349D1 (de) 1997-07-10
US5305297A (en) 1994-04-19
EP0446892A3 (en) 1992-12-16
EP0446892A2 (en) 1991-09-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2797733B2 (ja) 光学情報記録部材の記録方法
US5544137A (en) Optical disc record/playback apparatus
JP2697555B2 (ja) 光情報記録媒体
US6529457B1 (en) Optical information recording medium, optical information recording apparatus, and method of recording test signal on the same
JP3057517B2 (ja) 光記録媒体の信号再生方法
JP3057518B2 (ja) 光記録媒体の信号再生方法
JPH06302042A (ja) 光磁気ディスク装置
WO2006033188A1 (ja) 光学的情報記録方法、光学的情報記録装置および光学的情報記録媒体
US6487152B1 (en) Method of recording information in phase-change recording medium and recording medium for use in the method
US7376065B2 (en) Optical recording method, optical recording apparatus and optical storage medium
EP0594406B1 (en) Optical recording method and apparatus
JP2650357B2 (ja) 光学情報記録部材の記録方法
US4806952A (en) Information recording apparatus for recording/reproducing information by irradiating an information recording medium with an energy beam
JP3006645B2 (ja) 光ディスク装置
JPH06111330A (ja) 高密度光記録再生方法およびそれに用いる高密度光記録媒体および高密度光記録再生装置
US20060280111A1 (en) Optical storage medium and optical recording method
JP2734988B2 (ja) 光ディスク装置
JP3190484B2 (ja) 光ディスク記録方法および光ディスク記録装置
JP3314565B2 (ja) 光学情報記録媒体の記録・再生方法
JPH06295439A (ja) 光記録の記録方法
JPH03116442A (ja) 光ディスク装置および光ディスク
JP2778428B2 (ja) 光ディスク装置
EP0594425A2 (en) Pulse train condition/heat shut off condition determination method and apparatus for optical recording, and optical recording method and apparatus
JPH11265509A (ja) 光学的情報記録再生方法および光学的情報記録媒体
JPH0917028A (ja) 光学的情報記録媒体及びその情報再生方法

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070703

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080703

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090703

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090703

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100703

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110703

Year of fee payment: 13

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110703

Year of fee payment: 13