DE69126349T2 - Verfahren zur optischen Aufzeichnung von Daten auf einem Medium - Google Patents

Verfahren zur optischen Aufzeichnung von Daten auf einem Medium

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Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Aufzeichnungsverfahren für ein optisches Datenmedium, welches ein Datensignal durch einen Laserstrahl oder eine vergleichbare Lichtquelle aufzeichnet, und insbesondere ein Verfahren zum Erhalten der optimalen Abstrahlungsbedingungen entsprechend den Änderungen des Aufzeichnungsmediums und der Aufzeichnungsvorrichtung.
  • Die EP-A-0 31 9 102 offenbart ein Verfahren zum Aufzeichnen von Daten auf einem optischen Datenmedium, nach welchem Referenzmarken in einem bestimmten Bereich des Mediums aufgezeichnet werden. Die Marken werden nachfolgend gelesen, um einen Referenzpegel einzustellen, welcher zum Konvertieren von Benutzerdaten, die von einem anderen Bereich des Mediums gelesen werden, in Binärcode verwendet werden.
  • Die EP-A-0 288 114 offenbart ein Verfahren zum Aufzeichnen von Daten auf einem optischen Datenmedium, nach welchem eine Einstellungsinformation auf der Platte aufgezeichnet wird, wobei die Information die zum Aufzeichnen auf dem Medium erforderlichen Signalwellenformen anzeigt. Die Wellenformen der auf dem Medium aufzuzeichnenden Signale werden entsprechend der Einstellungsinformation eingestellt.
  • Die EP-A-0 289 004 offenbart ein weiteres Aufzeichnungsverfahren, das eine Tabelle verwendet, welche die optimale Laserleistung und die Impulslänge für verschiedene Werte von Parametern wie Temperatur speichert. Die Energie und die Impulslänge des Aufzeichnungslaserstrahls einerseits und die Temperatur andererseits werden gemessen und mit den Werten in der Tabelle verglichen. Die Parameter des Aufzeichnungslaserstrahls werden dann so eingestellt, daß sie mit den in der Tabelle gespeicherten übereinstimmen.
  • Technologien zum Schreiben oder Lesen eines Datensignals jeweils auf ein oder von einem optischen Datenaufzeichnungsmedium unter Verwendung eines Laserstrahls werden bereits allgemein bei optischen Plattenlaufwerken angewendet. In der nachfolgenden Erläuterung wird das Datenaufzeichnungsmedium daher als optische Platte bezeichnet. Diese Technologien sind heute in großem Umfang als Compact-Discs (nachfolgend CDS) und Laservideodiscs verfügbar und bei einmal beschreibbaren optischen Datei- und Suchsystemen. Wiederbeschreibbare optische Vorrichtungen sind gerade in hohem Maß verfügbar geworden, obwohl sie noch nicht verbreitet sind.
  • Ein verfügbares Lese/Schreib-(R/W)-System ist die sogenannten Phasenwechselplatte, welche die Fähigkeit der Zustandsumkehr bestimmter Materialien verwendet, welche zwischen einem amorphen und kristallinen Zustand oder zwischen verschiedenen kristallinen Zuständen wechseln. Die bei diesen Vorrichtungen verwendeten Aufzeichnungs-Dünnfilme nehmen entweder einen amorphen oder verschiedene kristalline Zustände an und können zwischen diesen Zuständen durch bestimmte Erwärmungs und Abkühlungs-Bedingungen, die durch einen Laserstrahl erzeugt werden, umgeschaltet werden. Zusätzlich ändern sich die optischen Konstanten (Brechungsindex, Extinktionskoeffizient) dieses Materials mit dem amorphen und dem kristallinen Zustand. Ein Datensignal wird auf diese Phasenwechselplatte durch selektives Ausbilden dieser zwei Zustände in dem Aufzeichnungs-Dünnfilm entsprechend dem Datensignal geschrieben und das Signal wird von der Platte unter Verwendung der resultierenden optischen Änderungen (Durchlässigkeit oder Reflexion) gelesen.
  • Ein Lichtabstrahlverfahren, wie in Figur 9 gezeigt, wurde als ein Weg vorgeschlagen, um diese zwei Zustände zu erhalten. Im Japanese Journal of Applied Physics (Band 1.26 (1987), Ergänzung 26-4, Seite 67) beschrieben, emittiert dieses Verfahren auf den Aufzeichnungs-Dünnfilm der optischen Platte einen Laserstrahl (b), welcher zwischen zwei Leistungspegeln moduliert wird, einer Spitzenleistung Pp und einer Ruheleistung Pb (Pp > Pb) entsprechend dem Datensignal (a). Wenn ein Laserstrahl dieser Art auf den Aufzeichnungs-Dünnfilm emittiert wird, wird der Teil des Films, welcher mit dem Spitzenleistungsstrahl Pp bestrahlt wird, in den amorphen Zustand versetzt und der Teil, der mit dem Ruheleistungs-Strahl Pb bestrahlt wird, wird in den kristallinen Zustand versetzt, ungeachtet dessen, ob der Zustand vor der Bestrahlung amorph oder kristallin war. Daher ist es möglich, einen einzelnen Punkt auf dem Film zu überschreiben.
  • Daten werden durch Laserstrahl-Abstrahlung auf die optische Platte geschrieben, wie somit beschrieben. Die Leistungspegel Pp und Pb, welche die Laser-Abstrahlbedingungen bilden, sind konstante Pegel, die entsprechend der Art der optischen Platte optimiert sind. Die für einen vorgegebenen Aufzeichnungs-Dünnfilm erforderlichen optimalen Abstrahlungsbedingungen variieren jedoch mit dem Zeitablauf und Veränderungen in den Herstellungsbedingungen auch für unter den gleichen Bedingungen hergestellte optische Platten. Zusätzlich schwankt die Leistung des Laserstrahls, die den Aufzeichnungs-Dünnfilm der optischen Platte tatsächlich erreicht, mit der Verschmutzung der optischen Plattenoberfläche oder einer Änderung in den Betriebsbedingungen oder einem Abfall in der Übertragungs-Effizienz des optischen Systems in der Aufzeichnungsvorrichtung.
  • In Figur 14 ist die C/N-Abstrahlungsleistungs-Abhängigkeit als ein Beispiel der Änderungen bei einer optischen Platte gezeigt. Die optische Platte und die Abstrahlungsbedingungen sind die gleichen wie die anhand der ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung nachfolgend beschriebenen und hier werden nur die Punkte beschrieben, die zu den Änderungen bei der optischen Platte gehören. Kennlinie A stellt die in einem Anfangs-Zustand (sauber) gemessene Aufzeichnungskennlinie dar und die Kennlinie B stellt die gemessene Aufzeichnungskennlinie dar, nachdem die gleiche optische Platte durch Aussetzen einer staubigen Umgebung für einen vorbestimmten Zeitabschnitt verschmutzt wurde. Allgemein kann die Laserleistung, die das größte C/N-Verhältnis bewirkt, als optimale Bedingung für das Aufzeichnen optischer Platten betrachtet werden. Die Ergebnisse der Bewertung während des Herstellungsvorgangs der optischen Platte entspricht dem durch die Kennlinie A dargestellten Zustand, bei welcher die optimale Abstrahlungsleistung 10 mW beträgt. Wenn jedoch ein Signal mit einer 10 mW-Laserleistung nach Aussetzen der obigen Umgebung aufgezeichnet wird, fällt das C/N-Verhältnis auf niedrige 30 dB ab und zeigt eine unannehmbare Abstrahlungsbedingung. Es ist anzumerken, daß, wenn die Plattenoberfläche vergleichbar verschmutzt ist und sich der Ansteuerungsvorgang wie oben beschrieben ändert, sich der Aufzeichnungszustand noch mehr ändert.
  • Somit wird, auch wenn während der Herstellung der optischen Platte eine Signalaufzeichnung entsprechend den optimalen Abstrahlungsbedingungen gemessen wird, die tatsächliche Aufzeichnung entsprechend den Bedingungen, wenn die Aufzeichnung ausgeführt wird, abweichen. Als Ergebnis kann das Signal, wenn das Datensignal von dem Aufzeichnungsbereich demoduliert wird, nicht korrekt demoduliert werden oder Lesefehler können erzeugt werden.
    • Zusammenfassung der Erfindung
  • Daher ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, Verfahren zum Einstellen der optimalen Abstrahlungsbedingungen, bezogen auf das Aufzeichnungsmedium, wenn ein Datensignal aufgezeichnet wird, anzugeben.
  • Drei Verfahren entsprechend drei Aspekten sind jeweils in den Ansprüchen 1, 5 und 9 definiert.
  • Ein derart beschriebenes Aufzeichnungsmedium kann die optimalen Bedingungen aus einer Kombination aus Aufzeichnungsmedium und Aufzeichnungsvorrichtungsbedingungen zum Aufzeichnungszeitpunkt bestimmen. Als Ergebnis kann eine Aufzeichnung mit einer niedrigen Fehlerrate erhalten werden durch Anpassen der Abstrahlungsbedingungen an Änderungen, die durch Zeitablauf in dem Aufzeichnungsmedium und der Aufzeichnungsvorrichtung auftreten.
    • Kurzbeschreibung der Zeichnungen
  • Diese und andere Aufgaben und Merkmale der vorliegenden Erfindung werden aus der folgenden Beschreibung in Verbindung mit ihren bevorzugten Ausführungsformen anhand der beigefügten Zeichnungen deutlich, in welchen gleiche Teile durch gleiche Bezugszeichen bezeichnet sind. Dabei zeigen:
  • Figur 1 ein Blockschaltbild eines Verfahrens zum Einstellen der Abstrahlungsbedingungen in einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung,
  • Figur 2 einen Querschnitt des optischen Informationsaufzeichnungsmediums,
  • Figur 3 einen Graphen der Leistungsabhängigkeit der C/N- und Lösch-Rate des Aufzeichnungsmediums und die Änderung in der Reflexion bei DC-Lichtabstrahlung,
  • Figur 4 Graphen der zeitlichen Änderung der Abstrahlungsleistung und Reflexion,
  • Figur 5 einen Graphen der Leistungsabhängigkeit der Fehlermenge,
  • Figur 6 ein Blockschaltbild einer Mehrfachimpulserzeugungsschaltung,
  • Figur 7 ein Zeitdiagramm für die Mehrfachimpulserzeugungsschaltung,
  • Figur 8 ein Zeitdiagramm der Mehrfachimpulswelle des Laserstrahls,
  • Figur 9 ein konzeptionelles Diagramm einer konventionellen Einzelimpulsmodulationswelle und einer Aufzeichnungsmarkenform,
  • Figur 10 ein konzeptionelles Diagramm einer Mehrfachimpulsmodulations welle und einer Aufzeichnungsmarkenform,
  • Figur 11 ein Flußdiagramm für eine erste Ausführungsform der vorliegenden Erfindung,
  • Figur 12 ein Flußdiagramm für eine zweite Ausführungsform der vorliegenden Erfindung,
  • Figur 13 ein Flußdiagramm für eine dritte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, und
  • Figur 14 einen Graphen der Aufzeichnungsleistungsabhängigkeit, bezogen auf Umgebungsänderungen der optischen Platte.
    • Detaillierte Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen
  • Figur 1 ist ein Blockschaltbild einer optischen Datenaufzeichnungsvorrichtung mit einer Funktion, welche die Abstrahlungsbedingungen gemäß einem Verfahren der vorliegenden Erfindung bestimmt. Die Wirkungsweise jeder Komponente, die ein Teil davon ist, wird zuerst nachfolgend beschrieben.
  • Diese Aufzeichnungsvorrichtung umfaßt einen Spindelmotor 1, welcher eine optische Platte 2 dreht, eine optische Sektion A zum Fokussieren eines Laserstrahls auf der optischen Platte 2, eine Datenaufzeichnungssektion B, welche den Laserstrahl moduliert, und eine Wiedergabesteuerungssektion C, welche die Daten von der optischen Platte liest und den Laserpunkt steuert. Der Betrieb jeder Schaltung wird durch eine Steuerung 3 gesteuert.
  • Die optische Platte 2 umfaßt ein Substrat 2a und eine Aufzeichnungsschicht 2b auf dem Substrat 2a. Die Oberfläche des Substrats 2a umfaßt eine Vertiefungs- und Erhebungs-Strukturführungsspur zur Spurverfolgung oder ein Adreßsignal zur Aufzeichnungspositionserfassung. Zusätzlich umfaßt die optische Platte 2 getrennt von dem Datenbereich 2c, in welchem das Datensignal aufgezeichnet wird, einen Testbereich 2d zum Einstellen der Lichtabstrahlungsbedingungen. Das Material des Substrats 2a kann Polymethyl-Methacrylat (PMMA), Polykarbonat (PC) oder ein ähnliches Harz oder Glas sein. Die Aufzeichnungsschicht 2b, auf welcher das Signal durch Lichtabstrahlungsphasenänderungen aufgezeichnet wird, kann ein GeTe, GeSbTe, InSe, InSeTlCo, GeSnTeAu, GeSbTeSe, SeSnTeO, SeTeS oder ein ähnliches Amorph/Kristallin-Zustands-Phasenänderungsmaterial sein oder ein InSb, AgZn oder ähnliches Kristallin/Kristallin-Phasenänderungsmaterial sein. Zusätzlich können ebenfalls TbFeCo, GdTbFe und ähnliche optomagnetische Aufzeichnungsmaterialien verwendet werden.
  • Das Aufzeichnungsverfahren in einem regulären Modus nach den Abstrahlungsbedingungen wird eingestellt, wie nachfolgend beschrieben. Das auf der optischen Platte 2 aufgezeichnete Datensignal SO1 wird in die Datenaufzeichnungssektion B eingegeben, welche das elektrische Datensignal in ein leistungsmoduliertes optisches Signal umwandelt und anfangs in dem Pufferspeicher 4 gespeichert. Der Pufferspeicher 4 gibt ein Datensignal 54a zu der Ansteuerungsschaltung 5 mit einer Zeitsteuerung aus, die entsprechend einem Gate-Signal 53a von der Steuerung 3 bestimmt ist. Die Ansteuerungsschaltung 5 erzeugt einen modulierten Strom 55 entsprechend dem Gate-Signal 54a und den Bedingungen von der Aufzeichnungseinstellungsvorrichtung 6 und steuert den Haibleiterlaser 7 an. Von dem Halbleiterlaser 7 wird ein Lichtstrahl erzeugt, der zwischen einer Spitzenleistung Pp und einer Ruheleistung Pb leistungsmoduliert ist. Das Licht des Halbleiterlasers 7 wird durch die Kollimatorlinse 8 in einem parallelen Strahl eingestellt, durchläuft einen Polarisations-Strahlteiler 9 und eine 1/4-Wellenplatte 10 und wird durch eine Objektivlinse 11 auf einen Punkt mit etwa 10 µm Durchmesser, welcher die Wellenlängengrenze ist, auf dem Aufzeichnungsdünnfilm 2b der optischen Platte 2 fokussiert. Durch Leistungsmodulieren des fokussierten Strahls zwischen Pp und Pb entsprechend dem Datensignal wird eine Aufzeichnungsmarke (amorpher Zustand) entsprechend dem Datensignal, wie in Figur 9 (c) gezeigt, auf dem Aufzeichnungsdünnfilm 2b ausgebildet und somit das Signal aufgezeichnet.
  • Während des Datenlesens wird ein kontinuierlicher Strahl mit einem konstanten Leseleistungspegel Pr zu der optischen Platte 2 abgestrahlt. Das reflektierte Licht von dem Aufzeichnungs-Dünnfilm 2b durchläuft die Objektivlinse 11 und die 1/4- Wellenplatte 10, wird von dem Polarisations-Strahlteiler 9 reflektiert und trifft somit auf den Lichtdetektor 12. Das von der optoelektrischen Umwandlung durch den Lichtdetektor 12 stammende Signal wird durch den Vorverstärker 13 in der Wiedergabe-Steuerungssektion C verstärkt. Die Wiedergabesteuerungssektion C wandelt die Niederfrequenzkomponente des vorverstärkten Signals S13 in ein Steuerungssignal S14 um und steuert die Sprachspule 11a an, welche die Objektivlinse 11 trägt, zum Verfolgen der Spur und zum Fokussieren des Laserpunktes auf der optischen Platte.
  • Die Demodulationsschaltung 15 verwendet die Hochfrequenzkomponente des Signals von dem Vorverstärker 13 zum Demodulieren des aus den auf der optischen Platte 2 ausgebildeten Aufzeichnungsmarken resultierenden Datensignals. Das demodulierte Datensignal S15a wird vorübergehend in dem Pufferspeicher 16 gespeichert und das Datensignal S16 wird entsprechend dem von der Steuerung festgelegten Signal S3c zu einem externen Gerät ausgegeben. Die somit beschriebene Vorrichtung kann daher ein Datensignal auf einer optischen Platte aufzeichnen und das Signal von dem beschriebenen Bereich der Platte lesen.
  • Das Verfahren, durch welches die Abstrahlungsbedingungen der optischen Platte eingestellt werden, wird unten kurz beschrieben, gefolgt von einer detaillierten Beschreibung entsprechend drei Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung.
  • Indem zuerst ein Referenzsignal SO2 in die Steuerung 3 eingegeben wird, welches zeigt, daß Faktoren aufgetreten sind, die eine Änderung in dem Zustand der optischen Platte bewirken, wird der Vorgang zum Einstellen der Abstrahlungsbedingungen der optischen Platte in Gang gesetzt. Die Steuerung 3 gibt Abstrahlungs- Bedingungs-Einstell-Modussignale 53b und 53a jeweils zu der Aufzeichnungseinstellungsvorrichtung 6 und dem Servo 14 aus. Der Servo 14 verschiebt die Position des Laserstrahles in den Testbereich 2d, liest sequentiell verschiedene Aufzeichnungsmuster von dem Mustergenerator 17 durch die Aufzeichnungs-Einstellvorrichtung 6 und betreibt die Ansteuerungsschaltung 5 entsprechend diesen Aufzeichnungsmustern. Als Ergebnis werden Aufzeichnungsmarken, welche sich entsprechend den Abstrahlungsbedingungen unterscheiden, auf der optischen Platte ausgebildet. Die Abstrahlungsbedingungen der Aufzeichnungsmarken werden durch die DC-Komponente des Vorverstärker-Ausgangssignals S13 durch die Reflexionsmessvorrichtung 19 erfaßt und die optimalen Abstrahlungsbedingungen werden von der Steuerung 3 durch einen Vorgang des Anpassens des Signals S19, welches die Ergebnisse der Reflexionsmessung darstellt, für die Abstrahlungsbedingungen festgelegt. Es ist anzumerken, daß die DC-Komponente des Ausgangssignals ebenfalls ein Summensignal des Spurfolgesignals sein kann, welches eines der Servosignale für die optische Platte ist, oder ein Summensignal des Fokussierungssignals. Hinsichtlich der Verfahren zum Bewerten der anderen Abstrahlungsbedingungen kann das Fehlerkorrektursignal S15b, das in dem Datendemodulationsvorgang erzeugt und von der Demodulationsschaltung 15 ausgegeben wird, durch den Fehlerdetektor 18 erfaßt werden und die optimalen Abstrahlungsbedingungen können durch Anpassen des Fehlersignals S18 und der Abstrahlungsbedingungen bestimmt werden.
  • Die Abstrahlungsbedingungen werden durch Erzeugen des Referenzsignals SO2 zurückgesetzt, welches beim Einstellen der Abstrahlungsbedingungen verwendet wird, wenn Faktoren, welche die Abstrahlungsbedingungen der optischen Platte verändern, auftreten, oder wenn Fehler während des momentanen Schreib/Lese- Vorganges erfaßt werden. Die gegenwärtigen Betriebsbedingungen sind so festgelegt, daß das Abstrahlungsbedingungseinstellsignal erzeugt wird, wenn die optische Platte gewechselt wird, wenn das Plattenlaufwerk in Gang gesetzt wird, wenn die Umgebungstemperatur der Betriebsumgebung sich um mehr als einen vorbestimmten Betrag ändert, wenn ein vorbestimmter Zeitabschnitt verstrichen ist, nachdem die Abstrahlungsbedingungen eingestellt sind, oder wenn mehr als eine vorbestimmte Anzahl von Fehlern in dem Lesesignal erfaßt wird. Durch Erfassen aller Änderungen in den Abstrahlungsbedingungen, wenn die optische Platte ersetzt oder das Laufwerk in Gang gesetzt wird, können alle Änderungen an der Platte oder dem Laufwerk oder Änderungen hinsichtlich der Platte und des Laufwerks gesteuert werden. Weiterhin können durch Überwachen aller Änderungen in der Temperatur der Betriebsumgebung und des Zeitablaufes, nachdem die Abstrahlungsbedingungen eingestellt sind, die Temperaturabhängigkeit des Aufzeichnungsmediums und alle Änderungen in dem Steuerungszustand des Laufwerks gesteuert werden.
  • Mit einer solchen beschriebenen Aufzeichnungsvorrichtung können die Abstrahlungsbedingungen entsprechend einem Referenzsignal zum Einstellen der Abstrahlungsbedingungen für die optische Platte in Echtzeit eingestellt werden, Daten können unter optimalen Abstrahlungsbedingungen zuverlässig aufgezeichnet werden und die Zuverlässigkeit der Datenaufzeichnungsvorrichtung kann verbessert werden.
  • Die vorliegende Erfindung wird nachfolgend mit besonderer Bezugnahme auf die bevorzugten Ausführungsformen detaillierter beschrieben.
    • ERSTE AUSFÜHRUNGSFORM
  • Figur 2 ist ein Querschnitt einer optischen Platte, die in einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung verwendet wird. Über dem Polycarbonat-Substrat 2a sind aufeinanderfolgend eine Dünnfilm-Schutzschicht 2e aus ZnS, eine Aufzeichnungsschicht 2b aus GeSbTe, eine Dünnfilm-Schutzschicht 2f aus ZnS und eine Dünnfilm-Reflexionsschicht 29 aus Au aufgeschichtet, mit einer Polycarbonat- Schutzplatte 2h, die durch einen Kleber 2i darauf angebracht ist. Diese optische Platte wird mit einer linearen Geschwindigkeit von 1,25 m/s während der Aufzeichnungstests, die unter verschiedenen Lichtabstrahlungsbedingungen ausgeführt werden, gedreht.
  • In Figur 3(a), einem Graphen der Ergebnisse eines typischen Tests, zeigt Kennlinie A die C/N-Leistungsabhängigkeit und Kennlinie B zeigt die Löschfrequenz-Leistungsabhängigkeit. Die C/N- und die Löschfrequenz werden allgemein als Standards für eine einfache Bewertung der Abstrahlungsbedingungen der optischen Platte verwendet; höhere Werte zeigen eine hohe Signalqualität und entsprechend niedrige Wahrscheinlichkeit von Lesefehlern in dem Datensignal.
  • Die Kennlinie A stellt die gemessenen Ergebnisse des C/N-Verhältnisses bei einer 718 kHz-Modulationsfrequenz, 5 mW konstanter Ruheleistung Pb und einer veränderbaren Spitzenleistung Pp dar. Kennlinie B stellt die gemessenen Ergebnisse des C/N-Verhältnisses für ein 718 kHz-Signal dar, welches bei den voreingestellten Bedingungen von Pp = 10 mW und Pb = 5 mW aufgezeichnet ist. Die obigen Signale werden dann mit einem 196 kHz-Signal überschrieben, welches eine konstante 10 mW-Spitzenleistung Pp und eine veränderbare Ruheleistung Pb verwendet und die Extinktions-Frequenz der anfänglichen 718 kHz-Signalkomponente wird als Löschfrequenz gemessen. Die Kennlinien mit den maximalen C/N- und Lösch-Frequenz-Werten von jeweils 10 mW und 5 mW sind in Figur 3(a) gezeigt. Insbesondere ist in Figur 3 gezeigt, daß eine gute Aufzeichnung mit einer 10 mW-Spitzenleistung Pp und einer 5 mW-Ruheleistung Pb möglich ist.
  • Figur 3(b) ist ein Graph, der die gemessenen Ergebnisse der Reflexion zeigt, wenn dieselbe Platte mit einem Strahl mit kontinuierlicher Leistung (unmoduliert) angestrahlt wird. Die durchgezogene Linie C ergibt sich aus der Abstrahlung des amorphen Zustandes und die gestrichelte Linie D ergibt sich aus der Abstrahlung des kristallinen Zustandes. Die Reflexion des amorphen Zustandes ist RO und diejenige des kristallinen Zustandes ist R1. Der gestrichelte Bereich E stellt den Bereich dar, in welchem eine Reflexion erhalten werden kann, d.h., innerhalb dieses Bereichs ist die Reflexion abhängig von dem Vor-Abstrahlungs-Zustand, da die Laserleistung gering ist. Verglichen mit den in Figur 3(a) gezeigten Ergebnissen wird eine Korrelation mit der Laserleistung beobachtet; insbesondere die Reflexion nimmt bei einer Laserleistung von etwa 5 mW zu, dem Pegel, der eine hohe Löschfrequenz anzeigt, und die Reflexion nimmt bei einer Laserleistung von etwa 10 mW ab, dem Pegel, der eine hohe C/N-Frequenz anzeigt. Allgemein resultieren Fehler während der optischen Plattenaufzeichnung aus einer Verschiebung in der Laserleistung, wie durch die Kennlinien in den Figuren 3(a) und (b) infolge von zeitlichen Änderungen der Empfindlichkeit und aus den Herstellungsbedingungen resultierenden Veränderungen des Aufzeichnungsmediums gezeigt.
  • Ein Verfahren gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zum Bestimmen der Abstrahlungsbedingungen einer optischen Platte unter Verwendung der in Figur 3 gezeigten Kennlinien ist nachfolgend unter Verwendung des in Figur 11 gezeigten Flußdiagramms und der in Figur 4 gezeigten Signalwellenform beschrieben. Figur 4(a) ist ein Graph des Pegels des Steuerungssignals in dem Testbereich zum Einstellen der Abstrahlungsbedingungen, welches aus dem optischen Plattenlesesignal erhalten wird, (b) zeigt den Einstellungsleistungspegel des abgestrahlten Laserstrahls und (c) zeigt die Änderung der Reflexion in dem lichtbestrahlten Bereich.
  • Der erste Schritt ist, die Leistungsbedingungen der Testaufzeichnung, die durch die Steuerung für den Mustergenerator 1 7 durch die Aufzeichnungseinstellungsvorrichtung C durch das Steuerungssignal S3b von der Steuerung für die Einstellung der Abstrahlungsbedingungen festgelegt sind, aufzuzeichnen. Die Werte von 5-10 mW werden z.B. in 1 mW-Inkrementierungen eingestellt. Der Laserstrahl wird dann von dem Servo 14 zu dem Testbereich 2d auf der optischen Platte bewegt und basierend auf einem vorformatierten Signal (z.B. einem Steuerungssignal, das aus dem Abstand einer Pit/Land-Folge resultiert, die auf der Substratoberfläche vorgesehen ist) aus dem Testbereich wird die optische Platte durch den Laserstrahl, der mit dem Testanfangssignal (a) entsprechend den durch den Mustergenerator 17 angezeigten Bedingungen synchronisiert ist, bestrahlt. Die optische Platte wird durch das Test-Anfangssignal (a) mit einem DC-Licht des in Figur 4(b) gezeigten Leistungspegels bestrahlt. Die Ansteuerungsschaltung 5 wird zu diesem Zeitpunkt mit einer eingestellten Leistung von 5 mW angesteuert und die Leistung wird nach einer vorbestimmten Zeit (z.B. nach 1/10 Rotation der optischen Platte) erhöht. Als Ergebnis werden Signale mit zehn verschiedenen Leistungspegeln bei einer vollständigen Umdrehung der Platte aufgezeichnet.
  • Bei der nächsten Rotation wird der Laserleistungspegel auf den Leseleistungspegel Pr eingestellt und das reflektierte Licht von dem beschriebenen Teil wird durch die Reflexionsmeßvorrichtung 19 erfaßt. Ein Signal, welches sich entsprechend den Abstrahlungsbedingungen ändert, wird, wie in Figur 4(c) gezeigt, von der Reflexionsmeßvorrichtung 19 erhalten und durch Vergleichen dieses Signalpegels durch den Schaltungsaufbau oder mit einem anderen Wert von der Steuerung 3 wird der Leistungspegel Pd, bei welchem die größte Änderung der Reflexion durch Ändern der Laserleistung vorhanden ist, erhalten. Pd kann z.B. erhalten werden durch Durchlaufen des Reflexionssignals durch eine Differentiationsschaltung und Korrelieren der maximalen Zeit des Differentiationssignals mit der Abstrahlungsleistung.
  • Es ist anzumerken, daß während zehn Leistungspegel in diesem Beispiel verwendet werden, auch mehr Leistungspegel eingestellt werden können oder der Leistungspegel kontinuierlich verändert werden kann, so daß sich die in Figur 4(c) gezeigte Wellenform der in Figur 3(b) gezeigten nähert, unter Zunahme der Leistung-Pd- Erfassungsgenauigkeit. In der vorliegenden Ausführungsform ist der Leistungspegel Pd mit der größten Änderung 7 mW.
  • Bei einer optischen Phasenänderungs-Platte ändert sich der für Phase nänderungen erforderliche Leistungspegel mit dem Aufzeichnungsmaterial und der Struktur, aber eine konstante Beziehung zwischen den Spitzenleistungs- und den Löschleistungs- Pegeln innerhalb des Variationsbereiches der Aufzeichnungsvorrichtung und Änderungen während der Herstellung der optischen Platte wird hergestellt, welches Aufgaben der vorliegenden Erfindung sind. Als Ergebnis kann die Beziehung zwischen der Leistung Pd, bei welcher die größte Änderung in der Reflexion vorhanden ist, der Ruheleistung Pb1, welche die maximale Änderung in der Löschfrequenz zeigt, und der Spitzenleistung Pp1, welche die maximale C/N-Frequenz zeigt, durch die folgenden Gleichungen angenähert werden.
  • Pb1 = n x Pd (1)
  • Pp1 = m x Pd (2)
  • Durch Anwenden dieser Gleichungen kann die optimale Aufzeichnungsleistung Pp und Pb aus der Leistung Pd erhalten werden, die, wie oben beschrieben, aus der Änderung der Reflexion erhalten wird. Da in der vorliegenden Ausführungsform Pb1 = 5 mW, Pp1 = 10 mW und Pd = 7 mW sind, sind n = 0,7 und m = 1,4. Diese Werte m und n werden in dem Mustergenerator 17 gespeichert oder diese Bedingungen werden am Anfang des Testbereiches 2d auf der Platte aufgezeichnet und direkt vor der Testsignalaufzeichnung gelesen. Bei dem obigen Verfahren wird z.B., wenn Pd = 10 mW als Ergebnis der Messung der Änderung der Reflexion von verschiedenen Platten ist, Pb1 = 7 mW und Pp1 = 14 mW aus den in den Gleichungen (1) und (2) definierten Bedingungen erhalten. Die optimalen Abstrahlungsbedingungen für die momentane optische Platte können somit aus einer Vorrichtung, wie oben beschrieben, erhalten werden.
  • Während im Fall der vorliegenden Ausführungsform sechs Abstrahlungsleistungspegel verwendet werden, kann durch Einstellen feinerer Schritte in den Abstrahlungsleistungspegeln oder durch kontinuierliches Ändern der Abstrahlungsleistung die Kurve in Figur 3(b) erreicht werden. In diesem Fall ist eine exaktere Leistungseinstellung durch Differenzieren der Reflexionspegel und Extrahieren der Spitzenpegel ohne Vergleichen der Reflexionswerte möglich.
    • ZWEITE AUSFÜHRUNGSFORM
  • Ein Verfahren zum Erhalten der optimalen Aufzeichnungsleistung durch Aufzeichnen eines Digitalsignals und Bewerten des Demodulationssignals wird als nächstes anhand der gleichen optischen Platte, wie sie in der obigen ersten Ausführungsform verwendet wird, beschrieben.
  • In dieser Ausführungsform wird ein EFM-Signal mit einem Audiosignal und einem Fehlerkorrekturcode CIRC (Cross interleave Reed-Solomon-Code), wobei dieses Signal das gleiche wie das bei einer Audiokompaktdisc verwendete ist, als das Codesignal S1 in Figur 1 aufgezeichnet. Das von der Aufzeichnungsschicht der optischen Platte gelesene Signal wird von dem Vorverstärker ausgegeben und wird durch die Demodulationsschaltung 15 in ein analoges Audiosignal demoduliert. Die bei diesem Demodulationsvorgang erzeugten Fehler werden durch den Fehlerdetektor 18 gemessen.
  • Figur 5 ist ein Graph, der die gemessenen Ergebnisse der Fehler bei verschiedenen Leistungspegeln zeigt, die zum Überschreiben eines Signals bei verschiedenen Aufzeichnungsleistungspegeln Pp und Pb verwendet werden. Der verwendete Fehlerwert ist die Anzahl der in dem EFM-Signal verwendeten Fehlerkorrekturcodes C1, die in einer Sekunde erzeugt werden. Jede Kennlinie ist das Ergebnis der Messungen, die für Abstrahlungen mit inkrementierenden Änderungen in der Spitzenleistung Pp bei einer konstanten Ruheleistung Pb ausgeführt werden. Die Bedingungen, unter welchen die Fehlerzählung die kleinste ist und die optimalen Abstrahlungsbedingungen anzeigt, sind abhängig von der Ruheleistung Pb, mit einer Tendenz der optimalen Spitzenleistung Pp zu einer Änderung zu einem höheren Wert mit einer Zunahme der Ruheleistung Pb.
  • Die vorliegende Ausführungsform ist ein Verfahren zum Bestimmen der Abstrahlungsbedingungen einer optischen Platte unter Verwendung der in Figur 5 gezeigten Kennlinien und ist nachfolgend anhand des Flußdiagramms in Figur 12 beschrieben.
  • Der erste Schritt ist das Aufzeichnen der Leistungsbedingungen der Testaufzeichnung, die von der Steuerung für den Mustergenerator 1 7 durch die Aufzeichnungseinstellvorrichtung 5 durch das Steuerungssignal 53b von der Steuerung für das Einstellen der Abstrahlungsbedingungen festgelegt sind. Zum Beispiel werden fünfzehn Bedingungen eingestellt: Ruheleistungspegel Pb 4, 5 und 6 mW und Spitzenleistungspegel Pp 8, 9, 10, 11 und 1 2 mW. Der Laserstrahl wird dann durch den Servo 14 zu dem Testbereich 2d auf der optischen Platte bewegt und basierend auf einem vorformatierten Signal aus dem Testbereich wird die optische Platte durch den Laserstrahl, der mit dem Testanfangssignal entsprechend den durch den Mustergenerator 1 7 angezeigten Bedingungen synchronisiert ist, bestrahlt.
  • Als die erste Einstellung der Abstrahlungsbedingungen wird die Platte mit dem Laserstrahl für eine konstante Periode mit den Leistungseinstellungen Pb = 4 mW und Pp = 8 mW bestrahlt, gefolgt von einer Aufzeichnung bei einer zweiten Einstellung der Abstrahlungsbedingungen von Pb = 4 mW und Pp = 9 mW. Die Abstrahlungsbedingungen werden somit aufeinanderfolgend zum Aufzeichnen der fünfzehn Muster verändert. Dann wird das Leselicht von der Aufzeichnungssektion durch die Demodulationsschaltung 15 demoduliert und resultiert in einem Codesignal, aus welchem die Fehler durch den Fehlerdetektor 1 8 erfaßt werden. Das Signal mit der kleinsten Anzahl von Fehlern wird aus dem Fehlererfassungsergebnis bestimmt und macht es somit möglich, die Position des Signals mit den wenigsten Fehlern leicht zu identifizieren und macht es z.B. möglich, aus der nach dem Beginn der Aufzeichnung verstrichenen Zeit die Aufzeichnungsleistungspegel Pp und Pb zu identifizieren, die zum Aufzeichnen des entsprechenden geringsten Fehlerhäufigkeitssignals verwendet wurden. Bei der optischen Platte, für welche die Signale gemessen und in Figur 5 dargestellt sind, wird die kleinste Fehleranzahl bei dem mit Pb = 5 mW und Pp = 10 mW aufgezeichneten Signal gezeigt und zeigt an, daß dieses die optimalen Abstrahlungsbedingungen sind.
    • DRITTE AUSFÜHRUNGSFORM
  • Während die erste und zweite Ausführungsform Verfahren zum Erhalten des optimalen Leistungspegels sind, wie oben beschrieben, betrifft die dritte Ausführungsform ein Verfahren zum Erhalten eines optimalen Abstrahlungsmusters durch Erfassen der Flankenposition der Aufzeichnungsmarken, die am besten für das Impulsbreitenmodulationsverfahren (PWM) zum Lesen und Schreiben des Signals geeignet ist. Die meisten gegenwärtigen Aufzeichnungsverfahren für optische Platten sind Wärmemodus-Aufzeichnungsverfahren, welche Daten durch Anwenden der Phasenänderung, Umkehr oder Änderung in der magnetischen Ausrichtung des Aufzeichnungs-Dünnfilms, resultierend aus einer Temperaturzunahme, aufzeichnen, die durch Absorption des Lichtes, das durch Bestrahlung mit einem Laserstrahl auf den Dünnfilm auftrifft, bewirkt wird. In Figur 9 sind die Signalverzerrung, die Aufzeichnungsmarkenform und die Lesesignalwelle, die aus der Wärmemodusaufzeichnung resultieren, gezeigt. Wenn der entsprechend dem Datensignal (a) leistungsmodulierte Lichtstrahl (b) auf die optische Platte abgestrahlt wird, resultiert die Wärmeakkumulationswirkungscharakteristik des Wärmemodus in einer höheren Temperatur am Ende der Aufzeichnung, verglichen mit der Temperatur am Beginn der Aufzeichnung. Dies führt zu einer asymmetrischen, tropfenförmigen Aufzeichnungsmarke, welche am Anfang kleiner und am Ende größer ist, wie in Figur 9 (c) gezeigt. Das von dem Lesesignal (d) erhaltene Binärsignal (e) von den Flankenpositionen (Anfangs- und End-Punkte) dieser asymmetrischen Aufzeichnungsmarke enthält Zeitfehler J1, J2 und J3, verglichen mit dem Quellenaufzeichnungssignal (a), und wenn diese Zeitfehler einen vorbestimmten Pegel überschreiten, treten Fehler während der Demodulation auf.
  • Zum Beseitigen der beschriebenen Asymmetrien der Aufzeichnungsmarke kann in der dritten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ein Mehrfachimpulssignalaufzeichnungsverfahren, wie in Figur 10 dargestellt, verwendet werden. Bei diesem Verfahren kann die Temperatur des bestrahlten Teiles gesteuert werden durch Abstrahlen von Lichtimpulsen (b) mit einer Folge von mehreren Impulsen für jedes invertierte Signal (Aufzeichnungsmarke) des Datensignals (a). Durch Verwenden eines konstanten Impulsleistungspegels und Verändern der Impulsbreite in diesem lichtmodulierten Signal kann die Temperatur des bestrahlten Teiles frei gesteuert werden. Durch die Verwendung dieses Mehrfachimpulsverfahrens ist es möglich, die Lichtenergie am Aufzeichnungmarkenanfangspunkt zu konzentrieren, z.B. durch Erhöhen der Impulsbreite der Impulse am Beginn der Aufzeichnung und Verringern des Intervalls zwischen den Impulsen, zum Bilden einer symmetrischen Aufzeichnungsmarke, wie in Figur 10 (c) gezeigt. Als Ergebnis werden ein gering verzerrtes Lesesignal (d) und Digitalsignal (e) erhalten, resultierend in einer Aufzeichnung mit einer geringen Fehlerrate. Die optimalen Bedingungen des Modulationsmusters (b) dieses Mehrfachimpulsverfahrens können jedoch entsprechend der optischen Platte und dem optischen Plattenlaufwerk differieren.
  • Erfindungsgemäß kann ein für diese veränderbaren Elemente optimiertes Aufzeichnungsmuster erhalten werden. Figur 6 ist ein Blockschaltbild einer Vorrichtung zum Erhalten eines optimierten Abstrahlungsmusters für die Mehrfachimpulswelle entsprechend der Aufzeichnungsschicht und Figur 7 ist ein Zeitdiagramm des Betriebs dieser Vorrichtung. Es ist anzumerken, daß das Modulationsverfahren dieser Vorrichtung das EFM-Signal mit dem Fehlerkorrekturcode CIRC wie in der zweiten Ausführungsform dieser Erfindung verwendet. Das primäre Merkmal dieser Schaltung ist das Speichern einer Impulsfolge mit vierundvierzig Impulsen für die maximale Impulsbreite 11T in diesem Modulationsverfahren in der Mustereinstellvorrichtung und das Erzeugen einer Impulsfolge der erforderlichen Länge vom Beginn der Mustereinstellung entsprechend der Irnpulsbreite des Eingangssignals von 3T bis 11T Impulsen.
  • Als erstes werden das EFM-Signal S20a und ein Taktsignal S20b mit einem Zyklus 1/4 des Zyklus T (=231 ns) des EFM-Signaltaktsignals von dem Referenzsignalgenerator 20 (in diesem Fall das EFM-Referenzsignal) entsprechend einem Testanfangssignal S3b von der Steuerung 3 ausgegeben. Es ist anzumerken, daß das Zeitdiagramm in Figur 7 für die Mehrfachimpulsmodulation 4T Impulse anwendet. Wenn das EFM-Signal S20a eingegeben ist, wird ein Startsignal S23 durch die Daten-Flip-Flops DFF 21 und DFF 22 und die NAND-Schaltung 23 erzeugt und die parallelen/seriellen Ausgaberegister PS/SR 24 arbeiten. Die PS/SR 24 rufen das eingestellte Muster von der Mustereinstelleinrichtung 25 ab und geben das Muster schrittweise synchronisiert mit dem Takt S20b aus.
  • Die Mustereinstellvorrichtung 25 ist eine 44x15bit-ROM-Vorrichtung, in welcher 15 Muster gespeichert sind, wobei jedes Muster die 44 Impulse entsprechend der maximalen Impulsbreite (11T) des EFM-Signals auf HIGH oder LOW eingestellt aufweist. Der Selektor 26 selektiert die Art des von der Mustereinstellvorrichtung 25 ausgegebenen Musters entsprechend dem Steuerungssignal 56b von der Aufzeichnungseinstellungsvorrichtung. Ein Stopsignal S27 wird dann durch das DFF 21, DFF22 und NAND 27 ausgegeben. Dieses Stopsignal bewirkt, die Ausgabe von Schritt 17 (inklusive) von dem PS/SR 24 anzuhalten, resultierend in der Impulsfolge von Signal S24. Es ist anzumerken, daß, nachdem die Impulsfolge und Takt S20b wieder synchronisiert sind, das DFF 28 das Impulsfolgesignal S28 zu der Ansteuerungsschaltung 5 ausgibt. Schließlich wird eine Lichtausgabe für das in Figur 10(a) gezeigte EFM-Signal, wie in Figur 10(b) gezeigt, von dem Halbleiterlaser 7 durch die Ansteuerungsschaltung 5 erhalten. Somit kann eine Impulsfolge für Impulse aller Breiten von EFM-Signalen von 3T bis 11T erhalten werden und die Impulsmuster können aus fünfzehn verschiedenen Mustern ausgewählt werden.
  • Die Wirkungsweise dieser Ausführungsform wird als nächstes anhand des Flußdiagramms in Figur 13 beschrieben. Der erste Schritt ist es, die Muster der möglichen Mehrfachimpulsmuster aufzuzeichnen, z.B. die fünfzehn verschiedenen Muster, wie in Figur 8 gezeigt, festgelegt durch die Steuerung für die Mustereinstelleinrichtung 17 durch die Aufzeichnungseinstellvorrichtung 6 durch das Steuerungssignal S3b von der Steuerung zum Einstellen der Abstrahlungsbedingungen. Der Laserstrahl wird dann durch den Servo 14 zu dem Testbereich 2d auf der optischen Platte bewegt und basierend auf einem vorformatierten Signal von dem Testbereich wird die optische Platte mit dem Laserstrahl synchronisiert mit dem Testanfangssignal entsprechend den durch die Mustereinstelleinrichtung 17 angezeigten Bedingungen bestrahlt. Als eine erste Einstellung der Abstrahlungsbedingungen wird die Platte mit dem Laserstrahl für einen konstanten Zeitabschnitt entsprechend dem in Figur 8(a) gezeigten Muster bestrahlt, gefolgt von der Aufzeichnung in einer zweiten Einstellung der Abstrahlungsbedingungen gemäß dem in Figur 8(b) gezeigten Muster. Die Abstrahlungsbedingungen werden somit zum Aufzeichnen der fünfzehn Muster nacheinander verändert. Dann wird das von der Aufzeichnungssektion gelesene Licht durch die Demodulationsschaltung 15 demoduliert, resultierend in einem Codesignal, aus welchem die Fehlerhäufigkeit durch den Fehlerdetektor 18 erfaßt wird. Das Signal mit der kleinsten Fehleranzahl wird aus dem Fehlererfassungsergebnis bestimmt und das Abstrahlungsmuster kann aus der Aufzeichnungszeit vom Beginn der Aufzeichnung des Signals mit der kleinsten Fehleranzahl identifiziert werden.
  • Die oben bei der ersten Ausführungsform beschriebene optische Platte wird z.B. mit einer linearen Geschwindigkeit von 1,2 Meter/Sekunde gedreht, ein Signal wird mit einem Aufzeichnungsleistungspegel der Spitzenleistung Pp = 13 mW und der Ruheleistung Pb = 5 mW aufgezeichnet und die Anzahl der Fehler in jedem Abstrahlungsmuster wird gemessen. Die Anzahl der für jedes der Abstrahlungsrnuster (a) bis (o) in Figur 8 erhaltenen Fehler beträgt: (a) = 210, (b) = 150, (c) = 170, (d) = 100, (e) = 180, (f) = 95, (g) = 180, (h) = 170, (i) = 75, (j) = 45, (k) = 150, (l) = 305, (m) = 18, (n) = 30 und (o) = 130. Aus diesen Ergebnissen werden die optimalen Abstrahlungsbedingungen durch das Muster (m) bestimmt.
  • In den vorstehend beschriebenen Ausführungsformen optimieren die Verfahren entweder das Muster oder die Abstrahlungsleistung, die Abstrahlungsbedingungen mit noch höherer Genauigkeit können jedoch eingestellt werden durch Kombinieren einer optimierten Abstrahlungsleistung und einem optimierten Aufzeichnungsmuster. Weiterhin wurde bei der vorliegenden Erfindung die Beendigung von einem kompletten Bereich der Abstrahlungsbedingungen, die auf dem Testaufzeichnungsbereich innerhalb einer Umdrehung der Platte aufgezeichnet wurden, als ein Standard verwendet, es ist jedoch für die Abstrahlungsbedingungen erwünscht, wie erforderlich einstellbar zu sein, einschließlich der Beendigung der Tests in kürzerer Zeit, oder wenn es erforderlich ist, der Einstellung eines exakten hohen Leistungspegels.
  • In den oben beschriebenen Ausführungsformen war die Bewertung der Fehlerkorrekturhäufigkeit das einzige Verfahren, das zur Bewertung der Daten des gelesenen Signals verwendet wurde, jedoch andere Verfahren, einschließlich des Vergleichs von Jitter in dem demodulierten Signal, können verwendet werden, um die gleiche Wirkung zu erreichen. Zusätzlich wurde ein optisches Phasenänderungs- Plattenmedium als Aufzeichnungsmedium verwendet, die vorliegende Erfindung ist aber ebenfalls bei Wärmemodus-Aufzeichnungsverfahren wirksam und insbesondere bei Impulsbreitenmodulations-Aufzeichnungsverfahren.

Claims (12)

1. Verfahren zum Aufzeichnen eines Datensignals durch eine Einrichtung (A) einer Lichtstrahlabgabe auf ein Aufzeichnungsmedium (2), welches umkehrbar zwischen optisch unterscheidbaren Zuständen entsprechend bestimmter Lichtabstrahlungsaufzeichnungsenergiepegel wechselt, wobei das Verfahren die folgenden aufeinanderfolgenden Schritte umfaßt:
a) Abstrahlen einer Reihe von Aufzeichnungslichtstrahlen mit unterschiedlichen Aufzeichnungsenergiepegeln vor Beginn der Aufzeichnung des Datensignals auf dem Aufzeichnungsmedium (2);
b) Abstrahlen eines Leselichtstrahles auf das Aufzeichnungsmedium, auf welches die Reihe von Aufzeichnungslichtstrahlen abgestrahlt wurde;
c) Erfassen der Menge des reflektierten oder durchfallenden Leselichts von dem oder durch das Aufzeichnungsmedium (2);
d) Vergleichen der Ergebnisse der Erfassung für unterschiedliche Aufzeichnungsenergiepegel miteinander;
e) Bestimmen eines optimalen Energiepegels des Lichtstrahles zum Aufzeichnen des Datensignals auf dem Aufzeichnungsmedium (2), basierend auf Ergebnissen des Vergleichs, wobei die Bestimmung des optimalen Aufzeichnungsenergiepegels des Lichtstrahles ausgeführt wird durch Bestimmen eines Energiepegels als ein Referenzenergiepegel, bei welchem die Änderung in der Menge des reflektierten oder durchfallenden Lichts als eine Funktion der Aufzeichnungsenergie ein Maximum wird, wobei der Referenzenergiepegel mit vorbestimmten konstanten Werten multipliziert wird und die als das Ergebnis der Multiplikation erhaltenen Werte als die optimalen Energiepegel bezeichnet werden; und
f) Aufzeichnen des Datensignals unter Verwendung des optimalen Aufzeichnungsenergiepegels.
2. Verfahren nach Anspruch 1, bei welchem jeder Strahl der Reihe von Lichtstrahlen ein kontinuierlicher Strahl eines konstanten Energiepegels für ein konstantes Zeitintervall ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1, bei welchem die Abstrahlung der Reihe von Lichtstrahlen in einem anderen Bereich als dem Daten-Schreib-Bereich des Aufzeichnungsmediums (2) ausgeführt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1, welches weiterhin umfaßt:
- Erfassen, wann eine optische Platte als Aufzeichnungsmedium (2) ausgetauscht wird, wann ein vorbestimmter Zeitabschnitt verstrichen ist, seit die Aufzeichnungsenergiepegel eingestellt wurden, oder wann die Umgebungstemperatur der Betriebsumgebung sich um mehr als einen vorbestimmten Betrag verändert;
- Ausführen der Schritte a) bis e), wenn solch ein Ereignis erfaßt wurde.
5. Verfahren zum Aufzeichnen eines Datensignals durch die Einrichtung einer Lichtstrahlabgabe auf ein Aufzeichnungsmedium (2), welches umkehrbar zwischen optisch unterscheidbaren Zuständen entsprechend bestimmter Lichtabstrahlungsaufzeichnungsenergiepegel wechselt, wobei das Verfahren die folgenden aufeinanderfolgenden Schritte umfaßt:
a) Aufzeichnen eines Testsignals durch Abstrahlen einer Reihe von Lichtstrahlen mit unterschiedlichen Aufzeichnungsenergiepegeln vor dem Beginn des Aufzeichnens des Datensignals auf dem Aufzeichnungsmedium (2);
b) Abstrahlen eines Leselichtstrahls auf das Aufzeichnungsmedium, auf das die Reihe von Aufzeichnungslichtstrahlen abgestrahlt wurde;
c) Erfassen der Menge des reflektierten oder durchfallenden Leselichts von dem oder durch das Aufzeichnungsmedium zum Wiedergeben des Testsignals;
d) Messen der Anzahl der Fehler des wiederhergestellten Testsignals für die verschiedenen Aufzeichnungsenergiepegel;
e) Vergleichen der Ergebnisse der Messung für die entsprechenden Aufzeichnungsenergiepegel miteinander;
f) Bestimmen optimaler Aufzeichungsenergiepegel des Lichtstrahles zum Aufzeichnen des Datensignales auf dem Aufzeichnungsmedium (2), basierend auf Ergebnissen des Vergleichs, in welchem die optimalen Aufzeichnungsenergiepegel des Lichtstrahles bei Energiepegeln festgelegt wurden, bei welchen die Fehlermenge minimal ist; und
g) Aufzeichnen des Datensignals unter Verwendung des optimalen Aufzeichnungsenergiepegels.
6. Verfahren nach Anspruch 5, bei welchem die Abstrahlung der Reihe von Lichtstrahlen mit wenigstens zwei Modulationsmustern ausgeführt wird, die aus mehreren sequentiellen Impulsen für jede Aufzeichnungsmarke bestehen, die auf dem Aufzeichnungsmedium zu bilden ist.
7. Verfahren nach Anspruch 5, bei welchem die Abstrahlung der Reihe von Lichtstrahlen in einem anderen Bereich als dem Daten-Schreib-Bereich des Aufzeichnungsmediums ausgeführt wird.
8. Verfahren nach Anspruch 5, welches weiterhin umfaßt:
Erfassen, wann eine optische Platte als Aufzeichnungsmedium ausgetauscht wird, wann in dem Lesesignal mehr als eine vorbestimmte Anzahl von Fehlern erfaßt wird, wann das Plattenlaufwerk gestartet wird, wann ein vorbestimmter Zeitabschnitt verstrichen ist, seit die Aufzeichnungsenergiepegel eingestellt wurden, oder wann sich die Umgebungstemperatur der Betriebsumgebung um mehr als einen vorbestimmten Betrag verändert;
- Ausführen der Schritte a) bis f), wenn solch ein Ereignis erfaßt wurde.
9. Verfahren zum Aufzeichnen eines Datensignals auf einem Aufzeichnungsmedium, welches umkehrbar zwischen optisch unterscheidbaren Zuständen entsprechend bestimmten Lichtabstrahlungsaufzeichnungsenergiepegeln wechselt, wobei das Verfahren die folgenden aufeinanderfolgenden Schritte umfaßt:
a) Vorbereiten mehrerer verschiedener Abstrahlungsmuster von Aufzeichnungsimpulsen;
b) aufeinanderfolgendes Abstrahlen der unterschiedlichen Abstrahlungsmuster auf den Aufzeichungsbereich des Aufzeichnungsmediums (2) vor dem Beginn der Aufzeichnung des Datensignals;
c) Abstrahlen eines Leselichtstrahles auf das Aufzeichungsmedium, auf dem die Muster aufgezeichnet wurden;
d) Erfassen der Menge des reflektierten oder durchfallenden Lichts von dem oder durch das Aufzeichnungsmedium für die unterschiedlichen Abstrahlungsmuster;
e) Messen einer Fehlermenge des jeweils erfaßten reflektierten oder durchfallenden Lichts;
f) Vergleichen der Ergebnisse der Messung für die entsprechenden Muster miteinander;
g) Bestimmen von einem der verschiedenen Abstrahlungsmuster, bei welchem die Fehlermenge minimal ist, als optimales Abstrahlungsmuster zum Aufzeichnen des Datensignales; und
h) Aufzeichnen des Datensignales unter Verwendung des optimalen Abstrahlungsmusters.
10. Verfahren nach Anspruch 9, bei welchem Daten zum Erzeugen der verschiedenen Abstrahlungsmuster der Aufzeichnungsimpulse in einem Speicher gespeichert werden und eine aufeinanderfolgende Abstrahlung der verschiedenen Abstrahlungsmuster durch sequentielles Selektieren der in dem Speicher gespeicherten Daten ausgeführt wird.
11. Verfahren nach Anspruch 9, bei welchem die sequentielle Abstrahlung der unterschiedlichen Abstrahlungsmuster in einem anderen Bereich ausgeführt wird als dem Aufzeichnungsbereich, in welchem das Datensignal aufgezeichnet wird.
12. Verfahren nach Anspruch 9, welches weiterhin umfaßt:
- Erfassen, wann eine optische Platte als Aufzeichnungsmedium ausgetauscht wird, wann mehr als eine vorbestimmte Anzahl von Fehlern in dem Lesesignal erfaßt wird, wann das Plattenlaufwerk gestartet wird, wann ein vorbestimmter Zeitabschnitt verstrichen ist, seit die Aufzeichnungsenergiepegel eingestellt wurden, oder wann sich die Umgebungstemperatur der Betriebsumgebung um mehr als einen vorbestimmten Betrag ändert;
- Ausführen der Schritte a) bis g), wenn solch ein Ereignis erfaßt wurde.
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