JPH0644565A - 光デイスク装置 - Google Patents
光デイスク装置Info
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- JPH0644565A JPH0644565A JP4218646A JP21864692A JPH0644565A JP H0644565 A JPH0644565 A JP H0644565A JP 4218646 A JP4218646 A JP 4218646A JP 21864692 A JP21864692 A JP 21864692A JP H0644565 A JPH0644565 A JP H0644565A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/0045—Recording
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、特に追記型光デイスクを使用して所
望の情報を記録する光デイスク装置に関し、光源の寿命
を長くし得るようにする。 【構成】本発明は、シンメトリ検出結果に基づいて、パ
ルス幅制御回路７２を制御し、これにより光ビームＬ１
の照射時間を制御してシンメトリが最適値になるように
制御する。
望の情報を記録する光デイスク装置に関し、光源の寿命
を長くし得るようにする。 【構成】本発明は、シンメトリ検出結果に基づいて、パ
ルス幅制御回路７２を制御し、これにより光ビームＬ１
の照射時間を制御してシンメトリが最適値になるように
制御する。
Description
【０００１】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段（図１及び図５） 作用（図１及び図５） 実施例 （１）実施例の構成（図１〜図６） （２）実施例の効果 （３）他の実施例 発明の効果
【０００２】
【産業上の利用分野】本発明は光デイスク装置に関し、
特に追記型光デイスクを使用して所望の情報を記録する
光デイスク装置に適用して好適なものである。
特に追記型光デイスクを使用して所望の情報を記録する
光デイスク装置に適用して好適なものである。
【０００３】
【従来の技術】従来、この種の光デイスク装置において
は、いわゆる追記型光デイスクを使用して所望の情報を
記録し得るようになされたものがある。
は、いわゆる追記型光デイスクを使用して所望の情報を
記録し得るようになされたものがある。
【０００４】すなわち追記型光デイスク装置において
は、有機色素系の薄膜に光ビームを照射してピツトを形
成することにより、所望の情報を一度だけ記録すること
ができる。さらにこのようにしてピツトを形成すること
により、この種の光デイスクにおいては、通常のコンパ
クトデイスクプレイヤで再生し得、これにより光デイス
ク装置においては、少量生産の場合に適用していちいち
スタンパを作成しなくても、コンパクトデイスクプレイ
ヤで再生可能な光デイスクを作成することができる。
は、有機色素系の薄膜に光ビームを照射してピツトを形
成することにより、所望の情報を一度だけ記録すること
ができる。さらにこのようにしてピツトを形成すること
により、この種の光デイスクにおいては、通常のコンパ
クトデイスクプレイヤで再生し得、これにより光デイス
ク装置においては、少量生産の場合に適用していちいち
スタンパを作成しなくても、コンパクトデイスクプレイ
ヤで再生可能な光デイスクを作成することができる。
【０００５】このときこの有機色素系の薄膜において
は、メーカ等により特性が異なり、同一光量で光ビーム
を照射しても、形成されるピツトの大きさが光デイスク
によつて異なる場合がある。このためこの種の光デイス
クにおいては、最内周の所定領域を光量調整用の領域
（以下検査領域と呼ぶ）に選定し、この領域に予め光ビ
ームを照射して光ビームの光量を調整することにより、
確実にピツトを形成し得るようになされている。
は、メーカ等により特性が異なり、同一光量で光ビーム
を照射しても、形成されるピツトの大きさが光デイスク
によつて異なる場合がある。このためこの種の光デイス
クにおいては、最内周の所定領域を光量調整用の領域
（以下検査領域と呼ぶ）に選定し、この領域に予め光ビ
ームを照射して光ビームの光量を調整することにより、
確実にピツトを形成し得るようになされている。
【０００６】すなわち光デイスク装置においては、予め
検査領域に光ピツクアツプを移動させた後、順次光量を
変化させて光ビームを間欠的に照射する。このとき光デ
イスク装置においては、光ビームを照射する期間と光ビ
ームの照射を停止する期間とを等しい期間に保持する。
検査領域に光ピツクアツプを移動させた後、順次光量を
変化させて光ビームを間欠的に照射する。このとき光デ
イスク装置においては、光ビームを照射する期間と光ビ
ームの照射を停止する期間とを等しい期間に保持する。
【０００７】この光ビームの照射に続いて光デイスク装
置においては、再生モードに切り換わり、この検査領域
に光ビームを照射して反射光を検出する。これにより光
デイスク装置においては、再生信号をモニタすることに
より、ピツトとランドの長さが等しくなる光量（すなわ
ちアシンメトリが最良になる光量でなる）を検出する。
置においては、再生モードに切り換わり、この検査領域
に光ビームを照射して反射光を検出する。これにより光
デイスク装置においては、再生信号をモニタすることに
より、ピツトとランドの長さが等しくなる光量（すなわ
ちアシンメトリが最良になる光量でなる）を検出する。
【０００８】これによりこの種の光デイスク装置におい
ては、この光量で続く外周側の記録領域に所望の情報を
記録するようになされている。
ては、この光量で続く外周側の記録領域に所望の情報を
記録するようになされている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ところこのように光量
を制御してアシンメトリが最良になるように制御する場
合、光ビームを射出するレーザーダイオードにおいて
は、光量を大きくする必要があることにより、その分寿
命が短い問題がある。このレーザダイオードの寿命を長
くすることができれば、その分この種の光デイスク装置
の信頼性を向上することができる。
を制御してアシンメトリが最良になるように制御する場
合、光ビームを射出するレーザーダイオードにおいて
は、光量を大きくする必要があることにより、その分寿
命が短い問題がある。このレーザダイオードの寿命を長
くすることができれば、その分この種の光デイスク装置
の信頼性を向上することができる。
【００１０】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、光源の寿命を長くすることができる光デイスク装置
を提案しようとするものである。
で、光源の寿命を長くすることができる光デイスク装置
を提案しようとするものである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、光デイスク２の情報記録面に所定
光量の光ビームＬ１を照射することにより、情報記録面
に順次ピツトＰを形成して所望の情報を記録する光デイ
スク装置１において、光ビームＬ１を射出する光源１０
と、光ビームＬ１を情報記録面に集光すると共に、光ビ
ームＬ１の反射光Ｌ２を受光する光学系１２、１４、１
６、２２と、光学系１２、１４、１６、２２で受光した
反射光Ｌ２を受光して受光結果ＲＦを出力する受光素子
２４と、受光結果ＲＦに基づいて、ピツトＰのアシンメ
トリを検出してアシンメトリ検出結果を出力するアシン
メトリ検出手段４８と、アシンメトリ検出結果に基づい
て、アシンメトリが最適値になるように、光ビームＬ１
のパルス幅を制御する制御回路８、４４、７２とを備
え、アシンメトリ検出手段４８は、再生モードにおい
て、受光素子２４の出力信号ＲＦに基づいてアシンメト
リ検出結果を出力する再生アシンメトリ検出手段４８を
有し、制御回路８、４４、７２は、全体の動作を制御し
てパルス幅を変化させて光ビームＬ１を光デイスク２に
照射して順次ピツトＰを形成した後、続いて全体の動作
モードを再生モードに切り換え、再生アシンメトリ検出
手段４８のアシンメトリ検出結果に基づいて、アシンメ
トリが最適値になるパルス幅を選定し、情報記録時、該
選定したパルス幅を基準にしてピツトＰを順次形成す
る。
め本発明においては、光デイスク２の情報記録面に所定
光量の光ビームＬ１を照射することにより、情報記録面
に順次ピツトＰを形成して所望の情報を記録する光デイ
スク装置１において、光ビームＬ１を射出する光源１０
と、光ビームＬ１を情報記録面に集光すると共に、光ビ
ームＬ１の反射光Ｌ２を受光する光学系１２、１４、１
６、２２と、光学系１２、１４、１６、２２で受光した
反射光Ｌ２を受光して受光結果ＲＦを出力する受光素子
２４と、受光結果ＲＦに基づいて、ピツトＰのアシンメ
トリを検出してアシンメトリ検出結果を出力するアシン
メトリ検出手段４８と、アシンメトリ検出結果に基づい
て、アシンメトリが最適値になるように、光ビームＬ１
のパルス幅を制御する制御回路８、４４、７２とを備
え、アシンメトリ検出手段４８は、再生モードにおい
て、受光素子２４の出力信号ＲＦに基づいてアシンメト
リ検出結果を出力する再生アシンメトリ検出手段４８を
有し、制御回路８、４４、７２は、全体の動作を制御し
てパルス幅を変化させて光ビームＬ１を光デイスク２に
照射して順次ピツトＰを形成した後、続いて全体の動作
モードを再生モードに切り換え、再生アシンメトリ検出
手段４８のアシンメトリ検出結果に基づいて、アシンメ
トリが最適値になるパルス幅を選定し、情報記録時、該
選定したパルス幅を基準にしてピツトＰを順次形成す
る。
【００１２】さらに本発明においては、光デイスク２の
情報記録面に所定光量の光ビームＬ１を照射することに
より、情報記録面に順次ピツトＰを形成して所望の情報
を記録する光デイスク装置１において、光ビームＬ１を
射出する光源１０と、光ビームＬ１を情報記録面に集光
すると共に、光ビームＬ１の反射光Ｌ２を受光する光学
系１２、１４、１６、２２と、光学系１２、１４、１
６、２２で受光した反射光Ｌ２を受光して受光結果ＲＦ
を出力する受光素子２４と、受光結果ＲＦに基づいて、
ピツトＰのアシンメトリを検出してアシンメトリ検出結
果を出力するアシンメトリ検出手段４０、４２と、アシ
ンメトリ検出結果に基づいて、アシンメトリが最適値に
なるように、光ビームのパルス幅を制御する制御回路
８、４４、７２とを具え、アシンメトリ検出手段４０、
４２は、情報記録時、受光素子２４の出力信号ＲＦに基
づいてアシンメトリ検出結果を出力する記録アシンメト
リ検出手段４０、４２を有し、制御回路８、４４、７２
は、情報記録時、記録アシンメトリ検出手段４０、４２
のアシンメトリ検出結果に基づいて、アシンメトリが最
適値になるように光ビームＬ１のパルス幅を制御する。
情報記録面に所定光量の光ビームＬ１を照射することに
より、情報記録面に順次ピツトＰを形成して所望の情報
を記録する光デイスク装置１において、光ビームＬ１を
射出する光源１０と、光ビームＬ１を情報記録面に集光
すると共に、光ビームＬ１の反射光Ｌ２を受光する光学
系１２、１４、１６、２２と、光学系１２、１４、１
６、２２で受光した反射光Ｌ２を受光して受光結果ＲＦ
を出力する受光素子２４と、受光結果ＲＦに基づいて、
ピツトＰのアシンメトリを検出してアシンメトリ検出結
果を出力するアシンメトリ検出手段４０、４２と、アシ
ンメトリ検出結果に基づいて、アシンメトリが最適値に
なるように、光ビームのパルス幅を制御する制御回路
８、４４、７２とを具え、アシンメトリ検出手段４０、
４２は、情報記録時、受光素子２４の出力信号ＲＦに基
づいてアシンメトリ検出結果を出力する記録アシンメト
リ検出手段４０、４２を有し、制御回路８、４４、７２
は、情報記録時、記録アシンメトリ検出手段４０、４２
のアシンメトリ検出結果に基づいて、アシンメトリが最
適値になるように光ビームＬ１のパルス幅を制御する。
【００１３】さらに本発明において、制御回路８、４
４、７２は、記録信号ＥＦＭのパルス幅より所定期間だ
けパルス幅の短いパルス幅可変信号Ｓ２を生成するパル
ス信号生成手段７６、７８、８０と、パルス幅可変信号
Ｓ２を所定の遅延時間（Ｔ＋α）だけ遅延して遅延信号
Ｓ３を出力し、遅延時間（Ｔ＋α）をアシンメトリ検出
結果に応じて切り換える遅延手段８２と、パルス幅可変
信号Ｓ２及び遅延信号Ｓ３の論理和信号Ｓ４を生成し、
論理和信号Ｓ４を基準にして光源１０を制御する光源制
御手段８４とを備えるようにする。
４、７２は、記録信号ＥＦＭのパルス幅より所定期間だ
けパルス幅の短いパルス幅可変信号Ｓ２を生成するパル
ス信号生成手段７６、７８、８０と、パルス幅可変信号
Ｓ２を所定の遅延時間（Ｔ＋α）だけ遅延して遅延信号
Ｓ３を出力し、遅延時間（Ｔ＋α）をアシンメトリ検出
結果に応じて切り換える遅延手段８２と、パルス幅可変
信号Ｓ２及び遅延信号Ｓ３の論理和信号Ｓ４を生成し、
論理和信号Ｓ４を基準にして光源１０を制御する光源制
御手段８４とを備えるようにする。
【００１４】
【作用】パルス幅を変化させてピツトＰを形成した後、
再生モードにおいて、受光素子２４の出力信号ＲＦに基
づいてアシンメトリ検出結果を得、このアシンメトリ検
出結果に基づいて、アシンメトリが最適値になるパルス
幅を選定し、情報記録時、該選定したパルス幅を基準に
してピツトＰを順次形成すれば、光ビームＬ１の光量変
動を低減してアシンメトリを最適値に保持することがで
きる。
再生モードにおいて、受光素子２４の出力信号ＲＦに基
づいてアシンメトリ検出結果を得、このアシンメトリ検
出結果に基づいて、アシンメトリが最適値になるパルス
幅を選定し、情報記録時、該選定したパルス幅を基準に
してピツトＰを順次形成すれば、光ビームＬ１の光量変
動を低減してアシンメトリを最適値に保持することがで
きる。
【００１５】さらに情報記録時、受光素子２４の出力信
号ＲＦに基づいてアシンメトリ検出結果を得、このアシ
ンメトリ検出結果に基づいて、アシンメトリが最適値に
なるように光ビームＬ１のパルス幅を制御すれば、光ビ
ームＬ１の光量変動を低減してアシンメトリを最適値に
保持することができる。
号ＲＦに基づいてアシンメトリ検出結果を得、このアシ
ンメトリ検出結果に基づいて、アシンメトリが最適値に
なるように光ビームＬ１のパルス幅を制御すれば、光ビ
ームＬ１の光量変動を低減してアシンメトリを最適値に
保持することができる。
【００１６】このとき記録信号ＥＦＭのパルス幅より所
定期間だけパルス幅の短いパルス幅可変信号Ｓ２を生成
し、このパルス幅可変信号Ｓ２を所定の遅延時間（Ｔ＋
α）だけ遅延して遅延信号Ｓ３との間で論理和信号Ｓ４
を得、この遅延時間（Ｔ＋α）をアシンメトリ検出結果
に応じて切り換えると共に、論理和信号Ｓ４を基準にし
て光源１０を制御するこれば、簡易に光ビームＬ１のパ
ルス幅を制御することができる。
定期間だけパルス幅の短いパルス幅可変信号Ｓ２を生成
し、このパルス幅可変信号Ｓ２を所定の遅延時間（Ｔ＋
α）だけ遅延して遅延信号Ｓ３との間で論理和信号Ｓ４
を得、この遅延時間（Ｔ＋α）をアシンメトリ検出結果
に応じて切り換えると共に、論理和信号Ｓ４を基準にし
て光源１０を制御するこれば、簡易に光ビームＬ１のパ
ルス幅を制御することができる。
【００１７】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
する。
【００１８】（１）実施例の構成 図１において、１は全体として光デイスク装置を示し、
追記型の光デイスク２に所望の情報を記録する。
追記型の光デイスク２に所望の情報を記録する。
【００１９】すなわち光デイスク装置１は、スピンドル
モータ４を駆動して光デイスク２を所定の回転速度で回
転駆動し、この状態で光ピツクアツプ６を駆動して所望
の情報を記録再生する。すなわち光ピツクアツプ６にお
いては、ドライバ８から出力される駆動信号に基づいて
レーザダイオード１０を駆動し、このレーザダイオード
１０から射出される光ビームＬ１をレンズ１２で平行光
線に変換する。
モータ４を駆動して光デイスク２を所定の回転速度で回
転駆動し、この状態で光ピツクアツプ６を駆動して所望
の情報を記録再生する。すなわち光ピツクアツプ６にお
いては、ドライバ８から出力される駆動信号に基づいて
レーザダイオード１０を駆動し、このレーザダイオード
１０から射出される光ビームＬ１をレンズ１２で平行光
線に変換する。
【００２０】さらに光ピツクアツプ６においては、この
光ビームＬ１をビームスプリツタ１４を透過して対物レ
ンズ１６に導き、この対物レンズ１６で光デイスク２に
集光する。これにより光デイスク装置１においては、レ
ーザダイオード１０の光ビームＬ１を光デイスク２に集
光し、所望の情報を記録再生し得るようになされてい
る。
光ビームＬ１をビームスプリツタ１４を透過して対物レ
ンズ１６に導き、この対物レンズ１６で光デイスク２に
集光する。これにより光デイスク装置１においては、レ
ーザダイオード１０の光ビームＬ１を光デイスク２に集
光し、所望の情報を記録再生し得るようになされてい
る。
【００２１】このとき光ピツクアツプ６においては、ビ
ームスプリツタ１４で光ビームＬ１の一部を反射し、所
定の受光素子に入射し、これにより光デイスク装置１に
おいては、この受光素子の出力信号を基準にして光ビー
ムＬ１の光量を所定の基準値に保持するようになされて
いる。
ームスプリツタ１４で光ビームＬ１の一部を反射し、所
定の受光素子に入射し、これにより光デイスク装置１に
おいては、この受光素子の出力信号を基準にして光ビー
ムＬ１の光量を所定の基準値に保持するようになされて
いる。
【００２２】さらに光ピツクアツプ６においては、光デ
イスク２の反射光Ｌ２を対物レンズ１６で受光し、ビー
ムスプリツタ１４に導いて反射する。さらに光ピツクア
ツプ６は、この反射光Ｌ２をシリンドリカルレンズ２２
に入射し、その出力光を受光素子２４に集光する。
イスク２の反射光Ｌ２を対物レンズ１６で受光し、ビー
ムスプリツタ１４に導いて反射する。さらに光ピツクア
ツプ６は、この反射光Ｌ２をシリンドリカルレンズ２２
に入射し、その出力光を受光素子２４に集光する。
【００２３】ここで受光素子２４は、光ピツクアツプ６
の光学系を介して、ピツトを形成する方向に受光面を２
分割し（すなわち受光面ＡＢ及びＣＤでなる）、さらに
各受光面をこの方向と直交する方向に２分割するように
なされ、増幅回路２６Ａ〜２６Ｄを介して各受光面Ａ〜
Ｄの出力信号ＳＡ〜ＳＤをマトリツクス回路２８に出力
する。
の光学系を介して、ピツトを形成する方向に受光面を２
分割し（すなわち受光面ＡＢ及びＣＤでなる）、さらに
各受光面をこの方向と直交する方向に２分割するように
なされ、増幅回路２６Ａ〜２６Ｄを介して各受光面Ａ〜
Ｄの出力信号ＳＡ〜ＳＤをマトリツクス回路２８に出力
する。
【００２４】マトリツクス回路２８は、この出力信号Ｓ
Ａ〜ＳＤについて、次式
Ａ〜ＳＤについて、次式
【数１】 の加減算処理を実行してフオーカスエラー信号ＦＥを生
成し、このフオーカスエラー信号ＦＥを位相補償回路３
０に出力する。
成し、このフオーカスエラー信号ＦＥを位相補償回路３
０に出力する。
【００２５】これにより光デイスク装置１においては、
このフオーカスエラー信号ＦＥの信号レベルが０レベル
になるようにフオーカスアクチユエータ３２を駆動し、
フオーカス制御するようになされている。
このフオーカスエラー信号ＦＥの信号レベルが０レベル
になるようにフオーカスアクチユエータ３２を駆動し、
フオーカス制御するようになされている。
【００２６】同様にマトリツクス回路２８は、この出力
信号ＳＡ〜ＳＤについて、次式
信号ＳＡ〜ＳＤについて、次式
【数２】 の加減算処理を実行してトラツキングエラー信号ＴＥを
生成し、このトラツキングエラー信号ＴＥを位相補償回
路３４に出力する。
生成し、このトラツキングエラー信号ＴＥを位相補償回
路３４に出力する。
【００２７】これにより光デイスク装置１においては、
このトラツキングエラー信号ＴＥの信号レベルが０レベ
ルになるようにトラツキングアクチユエータ３６を駆動
し、トラツキング制御するようになされている。
このトラツキングエラー信号ＴＥの信号レベルが０レベ
ルになるようにトラツキングアクチユエータ３６を駆動
し、トラツキング制御するようになされている。
【００２８】このときＡＴＰ再生回路４６は、再生モー
ドにおいて、光デイスク２の所定領域にトラツキングエ
ラー信号ＴＥに重畳するように記録された記録データを
再生し、その再生データを制御回路４４に出力する。こ
れにより制御回路４４においては、検査領域で光量を調
整する前に、この再生データに基づいて、予め光デイス
ク２に記録された光ビームＬ１の推奨光量を検出し得る
ようになされ、この実施例の場合、この推奨光量の光ビ
ームＬ１で順次ピツトを形成する。
ドにおいて、光デイスク２の所定領域にトラツキングエ
ラー信号ＴＥに重畳するように記録された記録データを
再生し、その再生データを制御回路４４に出力する。こ
れにより制御回路４４においては、検査領域で光量を調
整する前に、この再生データに基づいて、予め光デイス
ク２に記録された光ビームＬ１の推奨光量を検出し得る
ようになされ、この実施例の場合、この推奨光量の光ビ
ームＬ１で順次ピツトを形成する。
【００２９】さらにマトリツクス回路２８は、次式
【数３】 の加算処理を実行して再生信号ＲＦを生成し、この再生
信号ＲＦを所定の信号処理回路に出力する。これにより
光デイスク装置１においては、再生時、この再生信号Ｒ
Ｆに基づいて記録情報を再生し得るようになされてい
る。
信号ＲＦを所定の信号処理回路に出力する。これにより
光デイスク装置１においては、再生時、この再生信号Ｒ
Ｆに基づいて記録情報を再生し得るようになされてい
る。
【００３０】これに対して記録時、光デイスク装置１に
おいては、この再生信号ＲＦをサンプルホールド回路４
０を介してアナログデイジタル変換回路（Ａ／Ｄ）４２
に出力し、ここでデイジタル値に変換して制御回路４４
に出力する。これにより光デイスク装置１においては、
記録時、この再生信号ＲＦの信号レベルを基準にして光
ビームＬ１のパルス幅を制御するようになされ、これに
よりアシンメトリを最適に保持するようになされてい
る。
おいては、この再生信号ＲＦをサンプルホールド回路４
０を介してアナログデイジタル変換回路（Ａ／Ｄ）４２
に出力し、ここでデイジタル値に変換して制御回路４４
に出力する。これにより光デイスク装置１においては、
記録時、この再生信号ＲＦの信号レベルを基準にして光
ビームＬ１のパルス幅を制御するようになされ、これに
よりアシンメトリを最適に保持するようになされてい
る。
【００３１】すなわちこの種の光デイスクにおいては、
光デイスクの内周側と外周側で有機色素の膜厚が異なる
場合があり、また光デイスク装置においては、温度変化
に伴い光ビームの波長が変化する場合があり、光デイス
ク２においては、この光ビームの波長が変化すると感度
が変化する。
光デイスクの内周側と外周側で有機色素の膜厚が異なる
場合があり、また光デイスク装置においては、温度変化
に伴い光ビームの波長が変化する場合があり、光デイス
ク２においては、この光ビームの波長が変化すると感度
が変化する。
【００３２】このためこの種の光デイスク装置において
は、検査領域で設定した一定光量で情報を記録すると、
アシンメトリが劣化する場合がある。このためこの実施
例においては、情報記録時、反射光Ｌ２の光量をモニタ
し、このモニタ結果に基づいて光ビームＬ１のパルス幅
を制御する。
は、検査領域で設定した一定光量で情報を記録すると、
アシンメトリが劣化する場合がある。このためこの実施
例においては、情報記録時、反射光Ｌ２の光量をモニタ
し、このモニタ結果に基づいて光ビームＬ１のパルス幅
を制御する。
【００３３】すなわち図２に示すように、情報記録時、
光デイスク装置１においては、記録時の推奨光量で光ビ
ームＬ１を照射し（以下このときの光量をライトパワと
呼ぶ）、続いて再生時の推奨光量で光ビームＬ１を照射
し（以下このときの光量をリードパワと呼ぶ）、この動
作を記録情報に応じて繰り返すことにより、順次ピツト
Ｐを形成する（図２（Ａ）及び（Ｂ））。
光デイスク装置１においては、記録時の推奨光量で光ビ
ームＬ１を照射し（以下このときの光量をライトパワと
呼ぶ）、続いて再生時の推奨光量で光ビームＬ１を照射
し（以下このときの光量をリードパワと呼ぶ）、この動
作を記録情報に応じて繰り返すことにより、順次ピツト
Ｐを形成する（図２（Ａ）及び（Ｂ））。
【００３４】このとき光デイスク２においては、光ビー
ムＬ１の照射を開始して有機色素薄膜の温度が上昇して
ピツトＰが形成されることにより、ライトパワで光ビー
ムＬ１を照射すると、照射開始時、反射光量が大きくな
るのに対し、ピツトが形成されるに従つて反射光量が低
下する。これによりこの反射光量を検出する再生信号Ｒ
Ｆ（図２（Ｃ））においては、ライトパワにおける光ビ
ームＬ１の照射開始時、信号レベルが急激に上昇し続い
て一定値に立ち下がり（以下このレベルをピツトレベル
ＬＰと呼ぶ）、続いてリードパワの信号レベルＬＬ（以
下このレベルをランドレベルと呼ぶ）に立ち下がる。
ムＬ１の照射を開始して有機色素薄膜の温度が上昇して
ピツトＰが形成されることにより、ライトパワで光ビー
ムＬ１を照射すると、照射開始時、反射光量が大きくな
るのに対し、ピツトが形成されるに従つて反射光量が低
下する。これによりこの反射光量を検出する再生信号Ｒ
Ｆ（図２（Ｃ））においては、ライトパワにおける光ビ
ームＬ１の照射開始時、信号レベルが急激に上昇し続い
て一定値に立ち下がり（以下このレベルをピツトレベル
ＬＰと呼ぶ）、続いてリードパワの信号レベルＬＬ（以
下このレベルをランドレベルと呼ぶ）に立ち下がる。
【００３５】これにより、制御回路４４においては、情
報記録時、検査領域で検出したピツトレベルＬＰを基準
にして、ピツトレベルＬＰを順次検出することにより、
この検出結果に基づいて光ビームＬ１のパルス幅を制御
する。すなわちピツトレベルＬＰが低下した場合（すな
わちアシンメトリがマイナスの状態でなる）、制御回路
４４においては、光ビームＬ１の照射時間を長くし、こ
れとは逆にピツトレベルＬＰが上昇した場合（すなわち
アシンメトリがプラスの状態でなる）、光ビームＬ１の
照射時間を短くし、これによりアシンメトリを最適値に
保持する。
報記録時、検査領域で検出したピツトレベルＬＰを基準
にして、ピツトレベルＬＰを順次検出することにより、
この検出結果に基づいて光ビームＬ１のパルス幅を制御
する。すなわちピツトレベルＬＰが低下した場合（すな
わちアシンメトリがマイナスの状態でなる）、制御回路
４４においては、光ビームＬ１の照射時間を長くし、こ
れとは逆にピツトレベルＬＰが上昇した場合（すなわち
アシンメトリがプラスの状態でなる）、光ビームＬ１の
照射時間を短くし、これによりアシンメトリを最適値に
保持する。
【００３６】これに対して検査領域でピツトを形成する
場合、システム制御回路４４は、アシンメトリ検出回路
４８で、アシンメトリを最適値に保持するために必要な
光ビームＬ１のパルス幅を検出する。
場合、システム制御回路４４は、アシンメトリ検出回路
４８で、アシンメトリを最適値に保持するために必要な
光ビームＬ１のパルス幅を検出する。
【００３７】すなわち図３に示すように、アシンメトリ
検出回路４８は、結合コンデンサ５０を介してクランプ
回路５２に再生信号ＲＦを入力し、クランプ回路５２の
出力信号をピークホールド回路５４でピークホールドす
る。
検出回路４８は、結合コンデンサ５０を介してクランプ
回路５２に再生信号ＲＦを入力し、クランプ回路５２の
出力信号をピークホールド回路５４でピークホールドす
る。
【００３８】これにより図４に示すように、アシンメト
リ検出回路４８においては、再生信号ＲＦの振幅を検出
するようになされている（図４（Ａ）〜（Ｃ））。比較
回路５６は、クランプ回路５２の出力信号を非反転入力
端に入力し、ローパスフイルタ回路（ＬＰＦ）５８を介
して出力信号を反転入力端に帰還する。これにより比較
回路５６は、再生信号ＲＦのセンタ値を検出するように
なされている。
リ検出回路４８においては、再生信号ＲＦの振幅を検出
するようになされている（図４（Ａ）〜（Ｃ））。比較
回路５６は、クランプ回路５２の出力信号を非反転入力
端に入力し、ローパスフイルタ回路（ＬＰＦ）５８を介
して出力信号を反転入力端に帰還する。これにより比較
回路５６は、再生信号ＲＦのセンタ値を検出するように
なされている。
【００３９】さらにアシンメトリ検出回路４８は、ピー
クホールド回路５４の振幅検出結果を抵抗６４〜６６の
分圧回路で分圧して比較回路６０及び６２に出力し、比
較回路６０及び６２は、この分圧電圧とセンタ値検出結
果との間で比較結果を得、この比較結果を制御回路４４
に出力する。これにより制御回路４４においては、実際
の再生信号ＲＦに基づいて、アシンメトリの適否を判断
し得るようになされている。すなわち比較回路６０の出
力信号レベルが立ち上がつたとき、センタ値に対して抵
抗６４〜６６の分圧比で決まる分圧電圧が立ち下がつた
場合と判断し得、これにより再生信号ＲＦの振幅に対し
てセンタ値が上昇した場合と判断することができる。
クホールド回路５４の振幅検出結果を抵抗６４〜６６の
分圧回路で分圧して比較回路６０及び６２に出力し、比
較回路６０及び６２は、この分圧電圧とセンタ値検出結
果との間で比較結果を得、この比較結果を制御回路４４
に出力する。これにより制御回路４４においては、実際
の再生信号ＲＦに基づいて、アシンメトリの適否を判断
し得るようになされている。すなわち比較回路６０の出
力信号レベルが立ち上がつたとき、センタ値に対して抵
抗６４〜６６の分圧比で決まる分圧電圧が立ち下がつた
場合と判断し得、これにより再生信号ＲＦの振幅に対し
てセンタ値が上昇した場合と判断することができる。
【００４０】すなわちこの場合図４において記号（Ａ）
で示すように、ライトパワが小さい場合と判断すること
ができ、この場合光ビームＬ１のパルス幅を長くすれ
ば、アシンメトリを補正し得ることがわかる。これに対
して比較回路６２の出力信号レベルが立ち上がつた場
合、センタ値に対して抵抗６４〜６６の分圧比で決まる
分圧電圧が立ち上がつた場合と判断し得、これにより再
生信号ＲＦの振幅に対してセンタ値が下降した場合と判
断することができる。
で示すように、ライトパワが小さい場合と判断すること
ができ、この場合光ビームＬ１のパルス幅を長くすれ
ば、アシンメトリを補正し得ることがわかる。これに対
して比較回路６２の出力信号レベルが立ち上がつた場
合、センタ値に対して抵抗６４〜６６の分圧比で決まる
分圧電圧が立ち上がつた場合と判断し得、これにより再
生信号ＲＦの振幅に対してセンタ値が下降した場合と判
断することができる。
【００４１】すなわちこの場合図４において記号（Ｃ）
で示すように、ライトパワが大きい場合と判断すること
ができ、この場合光ビームＬ１のパルス幅を短くすれ
ば、アシンメトリを補正し得ることがわかる。これに対
して比較回路６０及び６２の出力信号が何れも立ち上が
らない場合、再生信号ＲＦの振幅に対してセンタ値が所
定のレベルに保持されていると判断することができ、図
４において記号（Ｂ）で示すように、ライトパワが最適
な場合と判断することができる。
で示すように、ライトパワが大きい場合と判断すること
ができ、この場合光ビームＬ１のパルス幅を短くすれ
ば、アシンメトリを補正し得ることがわかる。これに対
して比較回路６０及び６２の出力信号が何れも立ち上が
らない場合、再生信号ＲＦの振幅に対してセンタ値が所
定のレベルに保持されていると判断することができ、図
４において記号（Ｂ）で示すように、ライトパワが最適
な場合と判断することができる。
【００４２】これにより制御回路４４においては、検査
領域で順次光ビームＬ１のパルス幅を変化させてピツト
を形成した後、続いて再生モードに切り換わつてアシン
メトリ回路４８の検出結果をモニタし、これにより光ビ
ームＬ１のパルス幅を選定する。
領域で順次光ビームＬ１のパルス幅を変化させてピツト
を形成した後、続いて再生モードに切り換わつてアシン
メトリ回路４８の検出結果をモニタし、これにより光ビ
ームＬ１のパルス幅を選定する。
【００４３】さらに制御回路４４においては、このとき
併せてアシンメトリが最適値になるピツトレベルＬＰを
検出し、このピツトレベルＬＰを制御目標値に設定す
る。
併せてアシンメトリが最適値になるピツトレベルＬＰを
検出し、このピツトレベルＬＰを制御目標値に設定す
る。
【００４４】さらに制御回路４４においては、続く情報
記録時、検査領域で設定したパルス幅で記録情報を記録
し、このとき同時にアナログデイジタル変換回路４２の
出力データに基づいて、ピツトレベルＬＰを検出し、こ
の検出結果に基づいて光ビームＬ１のパルス幅を補正す
る。これにより光デイスク装置１においては、光ビーム
Ｌ１の光量を推奨値に保持したままパルス幅を変化させ
てアシンメトリを最適値に保持するようになされてい
る。
記録時、検査領域で設定したパルス幅で記録情報を記録
し、このとき同時にアナログデイジタル変換回路４２の
出力データに基づいて、ピツトレベルＬＰを検出し、こ
の検出結果に基づいて光ビームＬ１のパルス幅を補正す
る。これにより光デイスク装置１においては、光ビーム
Ｌ１の光量を推奨値に保持したままパルス幅を変化させ
てアシンメトリを最適値に保持するようになされてい
る。
【００４５】すなわち制御回路４４においては、デイジ
タルアナログ変換回路（Ｄ／Ａ）７０を介してレーザド
ライバ８に制御信号ＳＣを出力し、これにより光ビーム
Ｌ１のライトパワ及びリイドパワを推奨値に保持する。
さらに制御回路４４においては、パルス幅制御回路７２
に制御データＤＣを出力し、これにより光ビームＬ１の
パルス幅を制御する。
タルアナログ変換回路（Ｄ／Ａ）７０を介してレーザド
ライバ８に制御信号ＳＣを出力し、これにより光ビーム
Ｌ１のライトパワ及びリイドパワを推奨値に保持する。
さらに制御回路４４においては、パルス幅制御回路７２
に制御データＤＣを出力し、これにより光ビームＬ１の
パルス幅を制御する。
【００４６】パルス幅制御回路７２においては、タイミ
ング発生回路７４から出力されるクロツク信号ＣＬＫを
基準にして動作し、所定の信号処理回路から出力される
変調信号（すなわちこの場合コンパクトデイスクの記録
信号でなるＥＦＭ変調されたデイジタル信号でなる）Ｅ
ＦＭに基づいて記録信号Ｓ４を生成する。
ング発生回路７４から出力されるクロツク信号ＣＬＫを
基準にして動作し、所定の信号処理回路から出力される
変調信号（すなわちこの場合コンパクトデイスクの記録
信号でなるＥＦＭ変調されたデイジタル信号でなる）Ｅ
ＦＭに基づいて記録信号Ｓ４を生成する。
【００４７】すなわち図５及び図６に示すようにパルス
幅制御回路７２は、クロツク信号ＣＬＫを基準にして動
作するラツチ回路７６及び７８に順次変調信号ＥＦＭ
（図６（Ａ））を与え、これにより変調信号ＥＦＭに対
して期間２Ｔだけ遅延した遅延信号Ｓ１を生成する（図
６（Ｂ））。なおここでＴは、コンパクトデイスクの記
録信号の最小基準単位で、コンパクトデイスクにおいて
は３Ｔ〜11Ｔの範囲のパルス幅で記録信号が生成される
ようになされている。
幅制御回路７２は、クロツク信号ＣＬＫを基準にして動
作するラツチ回路７６及び７８に順次変調信号ＥＦＭ
（図６（Ａ））を与え、これにより変調信号ＥＦＭに対
して期間２Ｔだけ遅延した遅延信号Ｓ１を生成する（図
６（Ｂ））。なおここでＴは、コンパクトデイスクの記
録信号の最小基準単位で、コンパクトデイスクにおいて
は３Ｔ〜11Ｔの範囲のパルス幅で記録信号が生成される
ようになされている。
【００４８】さらにパルス幅制御回路７２は、この遅延
信号Ｓ１をアンド回路８０に与え、ここで変調信号ＥＦ
Ｍとの間で論理積を得ることにより、変調信号ＥＦＭの
パルス幅ＮＴに対して期間２Ｔだけパルス幅の短いパル
ス幅（Ｎ−２）Ｔの出力信号Ｓ２を生成する（図６
（Ｃ））。さらにパルス幅制御回路７２は、この出力信
号Ｓ２を遅延回路（Ｄ）８２に出力し、遅延回路８２
は、この出力信号Ｓ２の遅延信号Ｓ３をオア回路８４に
出力する（図６（Ｄ））。
信号Ｓ１をアンド回路８０に与え、ここで変調信号ＥＦ
Ｍとの間で論理積を得ることにより、変調信号ＥＦＭの
パルス幅ＮＴに対して期間２Ｔだけパルス幅の短いパル
ス幅（Ｎ−２）Ｔの出力信号Ｓ２を生成する（図６
（Ｃ））。さらにパルス幅制御回路７２は、この出力信
号Ｓ２を遅延回路（Ｄ）８２に出力し、遅延回路８２
は、この出力信号Ｓ２の遅延信号Ｓ３をオア回路８４に
出力する（図６（Ｄ））。
【００４９】ここで遅延回路８２は、時間Ｔ〜２Ｔの範
囲で、制御データＤＣに応じて遅延時間αが切り換わる
ようになされ、オア回路８４は、この遅延信号Ｓ３と出
力信号Ｓ２の論理和信号Ｓ４を出力する（図６
（Ｅ））。
囲で、制御データＤＣに応じて遅延時間αが切り換わる
ようになされ、オア回路８４は、この遅延信号Ｓ３と出
力信号Ｓ２の論理和信号Ｓ４を出力する（図６
（Ｅ））。
【００５０】これにより論理和信号Ｓ４においては、パ
ルス幅（Ｎ−２）Ｔの出力信号Ｓ２とこの出力信号Ｓ３
から時間αだけ遅延した遅延信号Ｓ３の論理和信号でな
ることにより、パルス幅ＮＴの変調信号ＥＦＭに対し
て、次式
ルス幅（Ｎ−２）Ｔの出力信号Ｓ２とこの出力信号Ｓ３
から時間αだけ遅延した遅延信号Ｓ３の論理和信号でな
ることにより、パルス幅ＮＴの変調信号ＥＦＭに対し
て、次式
【数４】 の関係式でパルス幅を表すことができる。これにより制
御回路４４においては、アシンメトリが最適値になるよ
うに変調信号ＥＦＭのパルス幅を調整して記録信号Ｓ４
を生成し、この記録信号Ｓ４が立ち上がる期間の間、光
ビームＬ１をライトパワに保持するようになされてい
る。
御回路４４においては、アシンメトリが最適値になるよ
うに変調信号ＥＦＭのパルス幅を調整して記録信号Ｓ４
を生成し、この記録信号Ｓ４が立ち上がる期間の間、光
ビームＬ１をライトパワに保持するようになされてい
る。
【００５１】これにより制御回路４４においては、検査
領域において、例えばパルス幅４Ｔで信号レベルが切り
換わる変調信号ＥＦＭをパルス幅制御回路７２に入力
し、この状態で順次遅延回路８２の遅延時間を変化され
てピツトを形成し、このピツトの中からアシンメトリが
最適値になる遅延時間を選定することにより、光ビーム
Ｌ１のパルス幅を選定する。さらに制御回路４４におい
ては、情報記録時、遅延回路７２の遅延時間を検査領域
で検出した時間に設定することにより、検査領域で検出
したパルス幅の分だけ光ビームＬ１のパルス幅を変化さ
せて変調信号ＥＦＭを記録し、このときピツトレベルＬ
Ｐの検出結果に基づいてパルス幅を補正する。
領域において、例えばパルス幅４Ｔで信号レベルが切り
換わる変調信号ＥＦＭをパルス幅制御回路７２に入力
し、この状態で順次遅延回路８２の遅延時間を変化され
てピツトを形成し、このピツトの中からアシンメトリが
最適値になる遅延時間を選定することにより、光ビーム
Ｌ１のパルス幅を選定する。さらに制御回路４４におい
ては、情報記録時、遅延回路７２の遅延時間を検査領域
で検出した時間に設定することにより、検査領域で検出
したパルス幅の分だけ光ビームＬ１のパルス幅を変化さ
せて変調信号ＥＦＭを記録し、このときピツトレベルＬ
Ｐの検出結果に基づいてパルス幅を補正する。
【００５２】これにより光デイスク装置１においては、
光ビームＬ１の光量を推奨値に維持してアシンメトリを
最適値に保持し得、光ビームＬ１の光量変化に伴うレー
ザダイオード１０の寿命の低下を未然に防止することが
できる。さらに光デイスク装置１においては、光ビーム
Ｌ１の光量を推奨値に保持し得ることにより、レーザダ
イオード１０のカツプリング効率を低減し得、その分情
報記録時のビーム径を小さくして確実にピツトを形成す
ることができ、再生時のビツトエラーレートを低減する
ことができる。
光ビームＬ１の光量を推奨値に維持してアシンメトリを
最適値に保持し得、光ビームＬ１の光量変化に伴うレー
ザダイオード１０の寿命の低下を未然に防止することが
できる。さらに光デイスク装置１においては、光ビーム
Ｌ１の光量を推奨値に保持し得ることにより、レーザダ
イオード１０のカツプリング効率を低減し得、その分情
報記録時のビーム径を小さくして確実にピツトを形成す
ることができ、再生時のビツトエラーレートを低減する
ことができる。
【００５３】（２）実施例の効果 以上の構成によれば、検査領域において、光ビームＬ１
の光量を推奨値に保持したまま、光ビームＬ１のパルス
幅を順次変化させてピツトを形成した後、続いて再生モ
ードに切り換わつてアシンメトリが最適になるパルス幅
を選定すると共にそのピツトレベルを検出し、情報記録
時、ピツトレベル検出結果に基づいて検査領域で検出し
た光ビームＬ１のパルス幅を補正して記録することによ
り、光ビームＬ１の光量を一定値に保持したままアシン
メトリを最適値に保持し得、これによりレーザダイオー
ド１０の寿命の低下を未然に防止することができる。
の光量を推奨値に保持したまま、光ビームＬ１のパルス
幅を順次変化させてピツトを形成した後、続いて再生モ
ードに切り換わつてアシンメトリが最適になるパルス幅
を選定すると共にそのピツトレベルを検出し、情報記録
時、ピツトレベル検出結果に基づいて検査領域で検出し
た光ビームＬ１のパルス幅を補正して記録することによ
り、光ビームＬ１の光量を一定値に保持したままアシン
メトリを最適値に保持し得、これによりレーザダイオー
ド１０の寿命の低下を未然に防止することができる。
【００５４】（３）他の実施例 なお上述の実施例においては、検査領域で検出したパル
ス幅を補正して変調信号を記録場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、検査領域で遅延回路８２の遅延
時間を一旦設定した後は、光ビームの光量を制御してア
シンメトリを最適値に保持するようにしてもよい。この
ようにすれば、単に光ビームに光量を制御する場合に比
して、光量変動を小さくし得、その分レーザダイオード
の寿命を長くすることができる。
ス幅を補正して変調信号を記録場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、検査領域で遅延回路８２の遅延
時間を一旦設定した後は、光ビームの光量を制御してア
シンメトリを最適値に保持するようにしてもよい。この
ようにすれば、単に光ビームに光量を制御する場合に比
して、光量変動を小さくし得、その分レーザダイオード
の寿命を長くすることができる。
【００５５】さらにこれとは逆に検査領域でアシンメト
リが最適値になる光量を検出し、情報記録時、この光量
で光ビームを照射すると共に、パルス幅を補正してアシ
ンメトリを最適値に保持するようにしてもよい。このよ
うにしても光量変動を小さくし得、その分レーザダイオ
ードの寿命を長くすることができる。
リが最適値になる光量を検出し、情報記録時、この光量
で光ビームを照射すると共に、パルス幅を補正してアシ
ンメトリを最適値に保持するようにしてもよい。このよ
うにしても光量変動を小さくし得、その分レーザダイオ
ードの寿命を長くすることができる。
【００５６】さらに上述の実施例においては、検査領域
においてはアシンメトリ検出回路で、情報記録時におい
ては再生信号ＲＦを基準にしてアシンメトリの最適値を
検出する場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、種々のアシンメトリ検出手段を広く適用することが
できる。
においてはアシンメトリ検出回路で、情報記録時におい
ては再生信号ＲＦを基準にしてアシンメトリの最適値を
検出する場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、種々のアシンメトリ検出手段を広く適用することが
できる。
【００５７】さらに上述の実施例においては、情報記録
時、変調信号のパルス幅に無関係に遅延回路７２の遅延
時間をピツトレベルで補正する場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、変調信号のパルス幅に応じて遅
延時間を切り換えて光ビームのパルス幅を補正してもよ
い。
時、変調信号のパルス幅に無関係に遅延回路７２の遅延
時間をピツトレベルで補正する場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、変調信号のパルス幅に応じて遅
延時間を切り換えて光ビームのパルス幅を補正してもよ
い。
【００５８】さらに上述の実施例においては、遅延回路
の遅延時間を切り換えて光ビームのパルス幅を制御する
場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば
カウンカ回路で周波数の高いクロツク信号をカウント
し、このカウント値を切り換えて記録信号を生成するこ
とにより、光ビームのパルス幅を制御するようにしても
よい。
の遅延時間を切り換えて光ビームのパルス幅を制御する
場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば
カウンカ回路で周波数の高いクロツク信号をカウント
し、このカウント値を切り換えて記録信号を生成するこ
とにより、光ビームのパルス幅を制御するようにしても
よい。
【００５９】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、光ビーム
のパルス幅を制御してアシンメトリが最適値になるよう
に保持することにより、光ビームの光量の増大を低減し
得、その分光源の寿命を長くすることができる光デイス
ク装置を得ることができる。
のパルス幅を制御してアシンメトリが最適値になるよう
に保持することにより、光ビームの光量の増大を低減し
得、その分光源の寿命を長くすることができる光デイス
ク装置を得ることができる。
【図１】本発明の一実施例による光デイスク装置を示す
ブロツク図である。
ブロツク図である。
【図２】ピツト形成の説明に供する信号波形図である。
【図３】アシンメトリ検出回路を示すブロツク図であ
る。
る。
【図４】その動作の説明に供する信号波形図である。
【図５】パルス幅制御回路を示すブロツク図である。
【図６】その動作の説明に供する信号波形図である。
１……光デイスク装置、２……光デイスク、１０……レ
ーザダイオード、２４……受光素子、２８……マトリツ
クス回路、４０、４６……サンプルホールド回路、４４
……システム制御回路、４８……アシンメトリ検出回
路、７２……パルス幅制御回路。
ーザダイオード、２４……受光素子、２８……マトリツ
クス回路、４０、４６……サンプルホールド回路、４４
……システム制御回路、４８……アシンメトリ検出回
路、７２……パルス幅制御回路。
Claims (3)
- 【請求項１】光デイスクの情報記録面に所定光量の光ビ
ームを照射することにより、上記情報記録面に順次ピツ
トを形成して所望の情報を記録する光デイスク装置にお
いて、 上記光ビームを射出する光源と、 上記光ビームを上記情報記録面に集光すると共に、上記
光ビームの反射光を受光する光学系と、 上記光学系で受光した上記反射光を受光して受光結果を
出力する受光素子と、 上記受光結果に基づいて、上記ピツトのアシンメトリを
検出してアシンメトリ検出結果を出力するアシンメトリ
検出手段と、 上記アシンメトリ検出結果に基づいて、上記アシンメト
リが最適値になるように、上記光ビームのパルス幅を制
御する制御回路とを具え、 上記アシンメトリ検出手段は、再生モードにおいて、上
記受光素子の出力信号に基づいて上記アシンメトリ検出
結果を出力する再生アシンメトリ検出手段を有し、 上記制御回路は、全体の動作を制御して上記パルス幅を
変化させて上記光ビームを上記光デイスクに照射して順
次上記ピツトを形成した後、続いて全体の動作モードを
再生モードに切り換え、上記再生アシンメトリ検出手段
のアシンメトリ検出結果に基づいて、上記アシンメトリ
が最適値になる上記パルス幅を選定し、情報記録時、該
選定したパルス幅を基準にして上記ピツトを順次形成す
ることを特徴とする光デイスク装置。 - 【請求項２】光デイスクの情報記録面に所定光量の光ビ
ームを照射することにより、上記情報記録面に順次ピツ
トを形成して所望の情報を記録する光デイスク装置にお
いて、 上記光ビームを射出する光源と、 上記光ビームを上記情報記録面に集光すると共に、上記
光ビームの反射光を受光する光学系と、 上記光学系で受光した上記反射光を受光して受光結果を
出力する受光素子と、 上記受光結果に基づいて、上記ピツトのアシンメトリを
検出してアシンメトリ検出結果を出力するアシンメトリ
検出手段と、 上記アシンメトリ検出結果に基づいて、上記アシンメト
リが最適値になるように、上記光ビームのパルス幅を制
御する制御回路とを具え、 上記アシンメトリ検出手段は、情報記録時、上記受光素
子の出力信号に基づいて上記アシンメトリ検出結果を出
力する記録アシンメトリ検出手段を有し、 上記制御回路は、情報記録時、上記記録アシンメトリ検
出手段の上記アシンメトリ検出結果に基づいて、上記ア
シンメトリが最適値になるように上記光ビームのパルス
幅を制御することを特徴とする光デイスク装置。 - 【請求項３】上記制御回路は、記録信号のパルス幅より
所定期間だけパルス幅の短いパルス幅可変信号を生成す
るパルス信号生成手段と、 上記パルス幅可変信号を所定の遅延時間だけ遅延して遅
延信号を出力し、上記遅延時間を上記アシンメトリ検出
結果に応じて切り換える遅延手段と、 上記パルス幅可変信号及び上記遅延信号の論理和信号を
生成し、上記論理和信号を基準にして上記光源を制御す
る光源制御手段とを具えることを特徴とする請求項１又
は請求項２に記載の光デイスク装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4218646A JPH0644565A (ja) | 1992-07-24 | 1992-07-24 | 光デイスク装置 |
| EP93305739A EP0580420A1 (en) | 1992-07-24 | 1993-07-21 | Optical disc system |
| KR1019930013897A KR940002800A (ko) | 1992-07-24 | 1993-07-22 | 광디스크장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4218646A JPH0644565A (ja) | 1992-07-24 | 1992-07-24 | 光デイスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0644565A true JPH0644565A (ja) | 1994-02-18 |
Family
ID=16723213
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4218646A Pending JPH0644565A (ja) | 1992-07-24 | 1992-07-24 | 光デイスク装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0580420A1 (ja) |
| JP (1) | JPH0644565A (ja) |
| KR (1) | KR940002800A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5490127A (en) * | 1993-05-11 | 1996-02-06 | Sony Corporation | Asymmetry detector for use in an optical recording and reproducing device |
| US7158460B2 (en) | 2001-09-04 | 2007-01-02 | Nec Corporation | Method and apparatus for adjusting conditions for recording and reproducing informations |
| WO2010010632A1 (ja) * | 2008-07-25 | 2010-01-28 | パイオニア株式会社 | 記録装置及び方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5778637A (en) * | 1980-10-31 | 1982-05-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical information recorder |
| FR2546325B1 (fr) * | 1983-05-20 | 1988-07-08 | Thomson Csf | Procede et dispositif de calibration de la puissance optique appliquee a un disque optique pour l'enregistrement de donnees |
| US5070495A (en) * | 1989-04-12 | 1991-12-03 | International Business Machines Corporation | Write calibration for magnetooptic disk recorders |
| JP2797733B2 (ja) * | 1990-03-14 | 1998-09-17 | 松下電器産業株式会社 | 光学情報記録部材の記録方法 |
-
1992
- 1992-07-24 JP JP4218646A patent/JPH0644565A/ja active Pending
-
1993
- 1993-07-21 EP EP93305739A patent/EP0580420A1/en not_active Withdrawn
- 1993-07-22 KR KR1019930013897A patent/KR940002800A/ko not_active Application Discontinuation
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| WO2010010632A1 (ja) * | 2008-07-25 | 2010-01-28 | パイオニア株式会社 | 記録装置及び方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR940002800A (ko) | 1994-02-19 |
| EP0580420A1 (en) | 1994-01-26 |
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