JP2008269709A - 情報記録装置 - Google Patents

Abstract

【課題】レーザ変調タイミングの記録パルス幅に対するレーザ発光パルス幅のずれを検出補正し、安定した記録特性を得ることが可能な情報記録装置を提供する。
【解決手段】発光した記録パルス列を光電変換しモニタすると共に、記録パルス列に対応した発光パルス波形を検出する回路と、検出された発光パルス波形に基づき記録信号の記録パルス幅の補正値を生成する回路を具備する。また、生成された補正値により記録パルス列のパルス幅を調整する回路と、パルス幅を調整された記録パルス列に基づいて情報の記録を行う回路を具備する。
【選択図】図２

Description

本発明は、情報記録装置、特に、情報記録媒体にパルス発光により記録する場合の記録パルスの補正方法に関するものである。

近年、情報量の増大と共に情報記録再生装置の光ディスクは大容量の情報記録媒体として注目され、コンピュータの外部記憶装置や映像音声記録用として開発及び商品化が進められている。一般に、光ディスクには図１０に示すようにディスク面に螺旋状もしくは同心円状の情報トラック１３が設けられ、レーザビームを情報トラック１３に沿って照射することにより情報記録層１２に情報の記録・再生を行う。

光ディスクへ情報の記録を行う一方法として、データを記録すべきトラックに照射するレーザビームの強度を記録すべきデータに応じて変調する光変調記録方法が一般に知られている。この記録方法は、相変化型光ディスク、有機色素型光ディスク、光磁気ディスク等、広範囲な光ディスク材料に対して適用可能な記録方法である。

また、光ディスクへ情報を高密度に記録する方式として、マークエッジ記録方式が知られている。マークエッジ記録方式は、記録マークの前端及び後端のエッジがディジタル信号の“１”に対応するように記録する方式である。マークエッジ記録方式は、記録マークの中心位置がディジタル信号の“１”に対応するように記録するマークポジション記録方式に比べ、同一長さの記録マーク中により多くのビットを割り当てることができるため、高密度化に適している。

ところで、マークエッジ記録方式では、記録マークの先端及び後端位置に情報を持つため、記録マークの先端及び後端の位置精度を向上させる必要がある。しかしながら、記録媒体の熱応答性や蓄熱効果により、記録するマーク長によりマーク後端の形状が安定しない場合がある。即ち、涙滴形状のマーク形状になる現象や、記録する直前のスペース長によりマーク先端や位置が影響を受けて位置がズレ、マークエッジ位置が安定しないといった現象が現れる。

この課題を解決するために、例えば、１つの記録マークを複数の短パルス列の照射により形成するマルチパルス記録方法がある。また、記録パルス列のうち記録マーク始端部分や記録マーク終端部分に相当するパルス位置を、記録すべきデータのマーク長毎に変化させて記録する方法が提案されている。

更に、直前のスペース長に応じて、それに続く記録マークの記録パルス位置を調整し、熱干渉によるエッジシフトを補償する方法も提案されている。上述したように記録マークの状態をより理想状態に近づけるために、記録パルスの位置を変化させることにより記録することを一般に「記録補償」と呼ぶ。

ここで、マルチパルス記録や記録補償では、記録データの１チャネルビットよりも短い時間単位で、記録パルスのエッジ位置を変化させる必要があるため、１チャネルビット周期のクロック信号を用いた同期回路で記録パルスを生成することは困難である。そのため、一般的には遅延素子を複数個用いてクロック信号を遅延させ、その遅延信号出力を選択して所望の位相及びパルス幅の記録信号列を生成する構成が採られている。

この多段の遅延回路を用いた記録パルス列の生成及び補正方法等に関しては、特許文献１（特開２００６−１４７１３３号公報）等で提案されている。

更に、各遅延素子の遅延量の精度を上げるためにＤＬＬ（Delay Locked Loop）遅延回路を採用し、多段の遅延素子から出力を選択し記録パルス列を生成する方法も提案されている。この方式による遅延回路を用いた場合、多段の遅延素子全体を通過後のクロックはクロック周期の整数倍の位相遅れで同期しているため、より高い精度での遅延量の設定、即ち、高い精度での記録パルス列の生成が可能となる。
特開２００６−１４７１３３号公報

上述のようにレーザ駆動の記録パルス列の精度を上げても、実際には出力記録パルス列からレーザ駆動に至る配線上の浮遊容量、接続容量等の影響を受ける。即ち、記録パルス幅とレーザ駆動電流とが誤差を持ち、レーザ発光パルス幅が駆動記録パルス幅と異なる結果になってしまう。そのため、記録特性のバラツキを生じ、再生信号特性の品位を低下させてしまう問題がある。

更に、レーザ駆動電流振幅と発光パルスの立ち上がりの遅れとの関係を見ると、レーザ発光パルスの立ち上がりの遅れはレーザ駆動電流の振幅に依存することが解っている。また、情報記録媒体上に照射される記録レーザパワーが同じであっても、レーザを駆動しているレーザ駆動電流は同じとは限らない。

これは、レーザの発光パワーと駆動電流の関係を示す微分効率差や閾値電流差、光学系光路の効率に依存し、光学系光路の効率は個体差を持ち、また、レーザの微分効率は個体差、温度依存性や経時変化を持つためである。

従って、同じ記録パワーを出す場合にも駆動電流の違いにより、発光パルスの立ち上がりの遅れが、個体に依って異なることになり、記録特性のバラツキを生じ、再生信号品位を低下させてしまう問題がある。

更には、記録特性のバラツキを解消するために、記録再生動作による試し書きを行うことにより、記録パルス列の補正を行う複雑な学習動作を行う必要が生じ、装置の快適性を失うことになりかねない問題が発生する。

本発明の目的は、レーザ変調タイミングの記録パルス幅に対するレーザ発光パルス幅のずれを検出補正し、安定した記録特性を得ることが可能な情報記録装置を提供することにある。

本発明は、情報記録媒体の情報記録面に対して光ビームを集光させ、記録信号に対応した記録パルス列を発光させることにより、所定の記録マーク列を形成し、情報の記録を行う情報記録装置である。そして、発光した記録パルス列を光電変換しモニタすると共に、記録パルス列に対応した発光パルス波形を検出する回路と、検出された発光パルス波形に基づき記録信号の記録パルス幅の補正値を生成する回路と、生成された補正値により記録パルス列のパルス幅を調整する回路と、パルス幅を調整された記録パルス列に基づいて情報の記録を行う回路とを備えている。

本発明によれば、レーザ発光波形レベルで所望のパルス幅の設定が可能になり、安定した記録特性、再生信号品位を得ることが可能となる。また、記録パワーの違いによる設定パルス幅の誤差の補正も可能となり、レーザの温度依存性や経時変化にも対応でき、信頼性の高い記録が可能となる。更に、レーザ発光のパルス幅の装置間誤差が少なくなるために、誤差を調整するための煩雑なストラテジ調整の必要性もなくなり、立上げ時間の短い快適な装置の提供が可能となる。

次に、発明を実施するための実施形態について図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の情報記録再生装置の一実施形態を示す概略図である。本発明に係る情報記録再生装置は、情報記録媒体の情報記録面に対して光ビームを集光させ、記録信号に対応した記録パルス列を発光させることにより、所定の記録マーク列を形成し、情報の記録を行うものである。

光ディスク１はポリカーボネートから成る基板上に、例えば、相変化記録膜を含む情報記録層が形成されている。

光ディスク1は、スピンドルモータ２にチャッキング固定され、スピンドルモータ２の駆動により回転する。光ピックアップ３は不図示の半導体レーザ、コリメートレンズ、ビームスプリッタ、球面収差補正光学系等の光学部品及びフォーカス／トラッキングアクチュエータ、球面収差補正光学系用駆動機構等メカ機構から構成されている。光ピックアップ３は、光ディスク１にＬＤ（レーザ光）光を照射・集光し、光ディスク１の情報トラックに沿って情報の記録或いは再生を行う。

コントローラ９は、スピンドルモータ２の回転制御、光ピックアップ３の各サーボ系の制御、記録再生系の制御、記録再生信号の処理等の機能を有する。例えば、光ディスク１が情報記録再生装置に装填されると、光ディスク１をスピンドルモータ２の駆動により線速度一定或いは回転数一定制御等により回転駆動する。

更に、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号に基づいてフォーカス／トラッキングアクチュエータを駆動し、フォーカス制御やトラッキング制御を行う。また、光ビームを目的位置に移動させるために光ピックアップ３を光ディスク１の径方向に移動させるシーク動作の制御やトラックジャンプ制御も行う。

記録動作時には、光ピックアップ３から光ディスク１に光ビームを記録パワーで照射して記録を行い、再生時には再生パワーにて、その反射光を光検出器で受光する。記録時には、情報記録信号に対応して記録パターン生成回路５により変換されたパルス列を、記録パワーの変換も含めてＬＤ駆動回路４によりパルス発光させ、光ディスク１上の記録層を昇温させて記録を行う。

再生時には、光検出器の受光信号を電気信号に変換して再生信号処理回路８でクロック同期、波形等化、２値化処理等の再生信号処理を行い、デジタルデータとしてコントローラ９に出力する。

一方、ＬＤ駆動回路４において駆動されたＬＤの発光パルスは、光ピックアップ３中のモニタ用光検出回路（図示せず）により検出され、光電変換して発光波形モニタ出力として出力される。このモニタ出力は通常、ＬＤ発光パワーを所望の値に制御するためのＡＰＣ（オートパワーコントロール）動作に利用される。

更に、本発明においては、この発光波形モニタ出力をＬＰＦ(ローパスフィルタ)６で平滑化し、この平滑化されたＬＰＦ出力の電圧レベルをレベル検出回路７で測定し、コントローラ９はこの測定結果から発光パルスのデューティを検出する。即ち、本発明は発光した記録パルス列を光電変換しモニタすると共に、記録パルス列に対応した発光パルス波形を検出する回路を有する。

次に、本実施形態における記録情報に対応した記録パルス列の生成方法に関して説明する。これは、記録パターン生成回路５にて生成する。なお記録パルス位相及び記録パルス幅の調整にＤＬＬ（Delay Locked Loop）遅延回路を採用した場合を例として説明する。ＤＬＬ遅延回路は複数の遅延素子が多段に接続され、多段の遅延素子全体の遅延量がＴの整数倍になるように制御されている。

図２は記録パターン生成回路５の一例を示すブロック図である。即ち、上記ＤＬＬ構成を取る遅延回路５６と、この遅延回路５６の出力を選択して所望の記録パルス列を生成する回路の構成を示す。記録パターン生成回路５にはコントローラ９から記録信号とセレクタ制御信号が出力される。

図中、５１は遅延量制御可能な遅延素子、５２は位相比較器、５３はチャージポンプ、５４はループフィルタ、５５はセレクタ回路である。記録パターン生成回路５に入力されたクロックＣＫは、遅延素子５１を通過したクロックと、遅延素子未通過のクロックの位相ずれがクロックの整数周期（本例では１周期）になるように制御される。

従って、遅延素子の数だけクロック周期が細分化された位相のクロック出力が得られることになる。具体的には、遅延回路通過のクロックと未通過のクロックとのクロック位相が位相比較器５２にて比較され、その時間的ずれがチャージポンプ５３により電圧信号に変換される。この出力を所望のフィードバック特性になるようにループフィルタ５４で帯域制御し、この出力に応じて各遅延素子のディレイ量が制御され、その結果全ての遅延素子通過後の位相と未通過のクロックが同期するよう制御される。

このように制御された各遅延素子の出力はセレクタ回路５５に入力される。セレクタ回路５５には、この他、記録信号列と、セレクタ制御信号が入力されており、記録信号列とセレクタ制御信号に対応して記録パルス列を生成する。なお、発光パルス列が複数の記録パワー値を取り、それらが複数の電流源により駆動される構成をとる場合等には、複数の記録パルス列を生成し、各々の電流源を制御する構成をとる。セレクタ制御信号は遅延素子を選択する信号である。セレクタ回路５５の出力の記録パルス１〜記録パルスＮは記録パワーに対応する信号となる。

図３は記録パルス列生成の一例を示す。この例では、遅延素子の個数を７個とし、1Ｔ分割数を８としている。図中、（ａ）のＣＫはクロック、（ｂ）のＤｎ（ｎ：１〜7）は各遅延素子の出力、（ｃ）は記録信号列、（ｄ）は記録パルス列１（記録パルス列１−１と記録パルス列１−２のＯＲ）と記録パルス列２を示す。

図３の例では、記録パルス列１−１の立ち上がりはＤ１の立ち上がりに、記録パルス列１−１の立ち下がりはＤ５の立ち上がりに同期している。記録パルス列１−２の立ち上がりはＣＫの立ち上がりに、記録パルス列１−２の立ち下がりはＤ３の立ち上がりに同期している。セレクタ回路５５内で記録パルス１−１と１−２のＯＲをとることで記録パルス１が作成される。記録パルス２の立ち下がりは記録パルス１の立ち上がりに同期し、記録パルス２の立ち上がりはＤ３の立ち上がりに同期している。

（ｅ）はこの記録パルス列１、２により生成される発光パターン（発光パルス波形）を示す。図３の例では、記録パルス列１が記録パワー、記録パルス列２がスペースパワーに相当し、それぞれ光ディスク１上への記録ピット形成及び記録ピット間の予熱のために作用する。

記録パルス１と２をもとに記録パターン生成回路５内で駆動信号が生成され、ＬＤ駆動回路４に供給される。ＬＤ駆動回路４はその信号に基づいて光ピックアップ３内の半導体レーザを駆動する。

ここで、本実施形態では、記録パルス１、２から駆動信号を生成する（本例では図２の記録パルス３以降は使用しない）。その場合、記録パルス１を構成する記録パルス１−１のパルス幅と、記録パルス１−２のパルス幅を、セレクタ制御信号により補正値に応じて調整することにより記録パルス幅の補正を行う。また、記録パルス２のパルス幅は固定としているが、記録パルス２のパルス幅を可変することも可能である。

以上説明した構成に於いて、ＬＤを駆動する記録パルス幅とこの記録パルスによって駆動されたＬＤ発光波形の発光パルス幅との関係を検出し、所望の発光パルス幅を出力するために記録パルス幅を補正する発光パルス幅検出及び補正方法に関して説明する。

まず、記録パルス列の設定に関して説明する。本発明においては、発光パルス幅とＬＤ駆動の記録パルス幅の関係を求めるために、記録パルス周期を一定とし、記録パルス幅を各遅延素子のステップで変更し、これに対応する発光パルス幅を検出する。

発光パルス幅の検出は、図１に示す発光波形モニタ出力を、ＬＰＦ６により変調成分を取り除いて平滑化した信号のレベルを測定することにより行う。この時、設定した記録パワーに対して、無発光時の信号レベルが“０”、ＤＣ発光した場合の信号レベルが“１”となるようにＬＰＦ６の出力レベルを規格化することにより、発光波形のデューティ比として求まる。この状態を図４を用いて説明する。

図４（ａ）は発光波形のデューティの変化を示し、図４（ｂ）はこの発光波形にＬＰＦ処理を施した後、ＤＣ発光レベルで規格化した信号レベルを示している。例えば、パルス発光の信号レベルの規格化値が“０．５”の場合は発光波形のデューティ比が５０％であると検出できる。従って、図５に示すように規格化検出レベルと記録パルスデューティは１対１の関係になる（横軸：ＤＣ発光レベルで規格化した検出レベル、縦軸：記録パルスデューティ）。

上記説明した原理に基づき、発光波形のモニタ出力をＬＰＦ処理し、規格化信号レベルを検出することで、発光パルス幅を検出することができる。従って、この検出した発光パルス幅とＬＤを駆動する記録パルス幅とを関係付けることができる。

（実施形態１）
上述した発光パルス幅の測定方法に基づき、所定の記録パワーに関して発光パルス幅とＬＤを駆動する記録パルス幅との関係を計測した結果の一例を図６に示す。図中横軸は記録パルスの設定に使用する遅延素子の位置から求められる設定パルス幅であり、縦軸は検出した発光パルス幅である。

本実施形態では、１Ｔを８分割した場合の例であり、記録パルス先端の生成に遅延素子を通さないクロックを使用し、記録パルス後端を各遅延素子の出力を使用して記録パルスを生成する。即ち、図９に示すようなパルス幅の設定の場合を示す。なお、記録パワーの設定値は記録が起こらないような十分低い記録パワーを使用することで、光ディスク上の試し書き領域を浪費しないという利点もある。つまり本発明において発光パルス波形の検出は、情報記録媒体に記録が起こらない光ビームパワーで行う。但し、設定する記録パワーに関してはこの限りではない。

図６に示すように設定記録パルス幅と発光波形のパルス幅にオフセットが現れている。従って、これら検出結果から求められる記録パルス幅と発光パルス幅のオフセット値を近似直線から算出する。そして、このオフセット値を補正するのに最も相応しい遅延素子を選定し、記録パルス列を設定することで装置間のバラツキを最小限に押さえた発光パルス列の設定が可能となる。

図６の例では、オフセット値（補正値）は約−０．０９Ｔ程度であるため、それに応じて記録パルス幅を調整する。その場合、コントローラ９はその記録パルス幅を調整するため、補正値に応じた遅延素子を選択するセレクタ制御信号を出力する。このセレクタ制御信号に従い、図２、図３で説明したように補正値に応じて記録パルス１−１と記録パルス１−２のパルス幅が調整され、補正値に応じた記録パルス列が生成される。ＬＤ駆動回路４は、生成された記録パルス列に従い光ディスク１に記録を行う。

このように本発明は、発光した記録パルス列を光電変換しモニタすると共に、記録パルス列に対応した発光パルス波形を検出する回路と、検出された発光パルス波形に基づき記録信号の記録パルス幅の補正値を生成する回路を備えている。また、生成された補正値により記録パルス列のパルス幅を調整する回路と、パルス幅を調整された記録パルス列に基づいて情報の記録を行う回路を備えている。

また、本発明に係る補正値生成回路は、検出した発光パルス波形をローパスフィルタにより平滑化する回路と、平滑化した発光パルス波形のレベルを検出する回路と、検出したレベルから発光パルスのデューティを算出する回路を有する。また、算出デューティから発光パルス幅を生成し、生成された発光パルス幅と上述の記録パルス幅調整回路により設定された記録パルス幅との関係から、記録パルス幅の補正値を算出する回路とを有するものである。

なお、各遅延素子における遅延量の誤差が大きい場合には、遅延素子毎に遅延量の誤差を計測、記憶し、それら遅延量の誤差を元に所望の発光パルスに最も近くなる遅延素子出力を選定して使用する方法も考えられる。

また、上述の実施形態においては、パルス周期を１Ｔとしたがこの限りではない。更に、上記実施形態においては、発光波形モニタを直接ＬＰＦ処理することにより平滑化しレベル検出を行ったが、発光波形にオーバーシュートやアンダーシュートの状況が激しい場合には、平滑化レベルにその影響が含まれてしまう。

この場合、発光波形をＤＣ発光レベルの半値で２値化を行い、この２値化信号に対してＬＰＦ処理を施し平滑化することでこの影響を軽減することも可能である。このように本発明において、平滑化回路は発光パルス波形の波高半値幅で２値化した信号に対して平滑化処理を行う。

また、これら記録パルス幅の誤差量の検出は、工場出荷時、ユーザーの装置駆動初期、駆動中の定時間後、等々、様々な場合において実施し、且つ、メモリに記憶させておくことが考えられる。

（実施形態２）
実施形態１は、１つの記録パワー値に関して発光パルス幅とＬＤ駆動の記録パルス幅との関係を計測し、その結果を元に記録パルス幅の誤差を補正する方法である。実施形態２は、実施形態１の測定を複数の記録パワーに関して行い、これを用いて記録パルスの誤差を補正する方法である。即ち、本実施形態では、記録パルス幅の補正値の生成は、複数の記録パワーに対して行う。

ＬＤ駆動回路４はトランジスタのスイッチング動作特性の影響で、スイッチング電流の振幅により、立ち上がりの特性に変化が現れることが知られている。これは、即ち、使用する記録パワー値、或いは、複数のパワー値をとる発光パルス列の場合に、発光パワー値によって、設定パルス幅と発光パルス幅との誤差関係に変化が現れること意味する。実施形態２では、この記録パワーの設定差による発光パルス幅の誤差変化をも含めて記録パルス幅の誤差補正を行う。

一般的に情報記録媒体である光ディスクには、記録特性に関わる情報がＤＩ（Disc Information）情報として記録されている。記録パワーも例外ではなく、ＤＩ情報に含まれている。更に、発光パルス列が複数のパワーによるものの場合にはそれら複数の記録パワー情報が記されている。

従って、これらパワー情報の少なくとも２点以上の記録パワーに関して、実施形態１で説明した記録パルス幅の設定誤差の検出を行う。

図７はＤＩ情報の記録パワー、スペースパワー、記録パワーとスペースパワーとの中間値の３点の記録パワーに関して測定した結果を示す。この結果によれば、記録パワーにより記録パルス設定誤差が異なることが解る。

設定パルス幅の誤差を上記線形近似のＹ切片とし、記録パワーと設定パルス幅との関係を図８に示す。これらの関係は記録パワーに対する誤差量の累乗近似曲線で比較的良く近似できる。

以上説明したように、複数の記録パワー値に対して発光パルス幅と設定記録パルス幅との関係を計測し、設定パルス幅の誤差量を記録パワーの関数として取り扱える形にする。そうすることで、複数の記録パワー値を取る発光パルス列に対しても、設定記録パルス幅の適切な補正が可能となる。

また、本実施形態においてはパルス周期を１Ｔとしたがこの限りではない。また、本実施形態においては、発光波形モニタを直接ＬＰＦ処理することにより、平滑化しレベル検出を行ったが、発光波形にオーバーシュートやアンダーシュートの状況が激しい場合には、平滑化レベルにその影響が含まれてしまう。この場合、発光波形をＤＣ発光レベルの半値で２値化を行い、この２値化信号に対してＬＰＦ処理を施し平滑化することでこの影響を軽減することも可能である。即ち、平滑化回路は発光パルス波形の波高半値幅で２値化した信号に対して平滑化処理を行う。

また、これら記録パルス幅の誤差量の検出は、工場出荷時、ユーザーの装置駆動初期、駆動中の定時間後、等々、様々な場合において実施し、且つ、メモリに記憶させておくことが考えられる。

以上のように本発明はレーザ発光波形レベルで所望のパルス幅の設定が可能になり、安定した記録特性、再生信号品位を得ることが可能となる。また、記録パワーの違いによる設定パルス幅の誤差の補正も可能となり、レーザの温度依存性や経時変化にも対応でき、信頼性の高い記録が可能となる。更に、レーザ発光のパルス幅の装置間誤差が少なくなるために、誤差を調整するための煩雑なストラテジ調整の必要性もなくなり、立上げ時間の短い記録装置を実現することが可能となる。

本発明に係る情報記録再生装置の一実施形態の構成を示すブロック図である。 本発明に係る記録パターン生成回路の一例を示すブロック図である。 本発明に係る記録パルス列生成の一例を示すタイミング図である。 本発明に係る発光波形デューティと発光波形レベルの関係を説明する図である。 本発明に係る規格化信号レベルと発光パルスデューティとの関係を示す概念図である。 本発明に係る設定パルス幅と発光パルス幅の測定結果を示す図である。 本発明に係る複数の記録パワーにおける設定パルス幅と発光パルス幅の測定結果を示す図である。 本発明に係る記録パワーと設定パルス幅誤差の関係を示す図である。 本発明に係るパルス幅生成を示す概念図である。 光ディスクの形態を示す概念図である。

符号の説明

１ 光ディスク
２ スピンドルモータ
３ 光ピックアップ
４ ＬＤ駆動回路
５ 記録パターン生成回路
６ ローパスフィルタ（ＬＰＦ）
７ レベル検出回路
８ 再生信号処理回路
９ コントローラ
５１ 遅延素子
５２ 位相比較器
５３ チャージポンプ
５４ ループフィルタ
５５ セレクタ回路

Claims (5)

1. 情報記録媒体の情報記録面に対して光ビームを集光させ、記録信号に対応した記録パルス列を発光させることにより、所定の記録マーク列を形成し、情報の記録を行う情報記録装置において、
   前記発光した記録パルス列を光電変換しモニタすると共に、前記記録パルス列に対応した発光パルス波形を検出する回路と、
   前記検出された発光パルス波形に基づき前記記録信号の記録パルス幅の補正値を生成する回路と、
   前記生成された補正値により前記記録パルス列のパルス幅を調整する回路と、
   パルス幅を調整された記録パルス列に基づいて前記情報の記録を行う回路とを備えたこと特徴とする情報記録装置。
2. 前記補正値生成回路は、
   前記検出した発光パルス波形をローパスフィルタにより平滑化する回路と、
   前記平滑化した発光パルス波形のレベルを検出する回路と、
   前記検出したレベルから発光パルスのデューティを算出する回路と、
   前記算出デューティから発光パルス幅を生成し、生成された発光パルス幅と前記記録パルス幅調整回路により設定された記録パルス幅との関係から、前記記録パルス幅の補正値を算出する回路とを有することを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。
3. 前記平滑化回路は、前記発光パルス波形の波高半値幅で２値化した信号に対して平滑化処理を行うことを特徴とする請求項２に記載の情報記録装置。
4. 前記発光パルス波形の検出は、情報記録媒体に記録が起こらない光ビームパワーで行なわれることを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。
5. 前記記録パルス幅の補正値の生成は、複数の記録パワーに対して行なわれることを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。

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