JP2812636B2 - 光学的記録装置 - Google Patents
光学的記録装置Info
- Publication number
- JP2812636B2 JP2812636B2 JP5096119A JP9611993A JP2812636B2 JP 2812636 B2 JP2812636 B2 JP 2812636B2 JP 5096119 A JP5096119 A JP 5096119A JP 9611993 A JP9611993 A JP 9611993A JP 2812636 B2 JP2812636 B2 JP 2812636B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test writing
- recording
- drive current
- laser drive
- writing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10595—Control of operating function
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/0045—Recording
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1816—Testing
- G11B20/182—Testing using test patterns
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1883—Methods for assignment of alternate areas for defective areas
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1883—Methods for assignment of alternate areas for defective areas
- G11B20/1889—Methods for assignment of alternate areas for defective areas with discs
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B2220/00—Record carriers by type
- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、データ記録制御方式に
係り、特に、光記録媒体に照射されるレーザ光の強度を
最適にしてデータの記録を行なう光学的記録方式に関す
る。
係り、特に、光記録媒体に照射されるレーザ光の強度を
最適にしてデータの記録を行なう光学的記録方式に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】一般に、光磁気デイスク装置や媒体の穴
あけによる追記型光デイスク装置などにおいては、光パ
ワーによる加熱によつてデータの記録を行なつている
が、光ヘツドのレンズの汚れや光デイスク媒体の環境温
度の変化、あるいは記録媒体の感度のばらつき等のた
め、一定の光パワーを使用するのでは記録動作が不十分
となることがあつた。
あけによる追記型光デイスク装置などにおいては、光パ
ワーによる加熱によつてデータの記録を行なつている
が、光ヘツドのレンズの汚れや光デイスク媒体の環境温
度の変化、あるいは記録媒体の感度のばらつき等のた
め、一定の光パワーを使用するのでは記録動作が不十分
となることがあつた。
【０００３】例えば光磁気デイスク装置において、光磁
気デイスク記録媒体面の温度変化により、温度が上ると
記録磁気ドメインが大きくなる傾向があるので、書き込
みレーザパワーを低くして磁気ドメインが広がらないよ
うにする必要がある。逆に、媒体の表面温度が低いとき
は記録磁気ドメインが狭くなる傾向があるので、書き込
みレーザパワーを高くする必要がある。また、光ヘツド
の対物レンズやデイスク面にごみが付着すると、光パワ
ーがデイスク面に到達しにくくなり、ドメインが狭くな
つたり欠落したりしてエラーが発生し易くなるので、光
パワーを上げてやる必要がある。同様な問題は、追記型
光デイスク装置でも生じ、温度が上ると加熱され過ぎて
穴が広がり、温度が下ると穴が狭くなつたり欠落したり
する。
気デイスク記録媒体面の温度変化により、温度が上ると
記録磁気ドメインが大きくなる傾向があるので、書き込
みレーザパワーを低くして磁気ドメインが広がらないよ
うにする必要がある。逆に、媒体の表面温度が低いとき
は記録磁気ドメインが狭くなる傾向があるので、書き込
みレーザパワーを高くする必要がある。また、光ヘツド
の対物レンズやデイスク面にごみが付着すると、光パワ
ーがデイスク面に到達しにくくなり、ドメインが狭くな
つたり欠落したりしてエラーが発生し易くなるので、光
パワーを上げてやる必要がある。同様な問題は、追記型
光デイスク装置でも生じ、温度が上ると加熱され過ぎて
穴が広がり、温度が下ると穴が狭くなつたり欠落したり
する。
【０００４】しかし、温度変化があつても、媒体面の温
度を直接測ることは困難で、装置内に温度センサを設け
て検出温度に応じて書き込みレーザパワーを制御するこ
とも考えられるが、新しく光デイスクを装填した場合な
どには装置内温度と媒体表面温度が異なるため、媒体温
度変化に対応した適切なレーザパワー制御はできない。
度を直接測ることは困難で、装置内に温度センサを設け
て検出温度に応じて書き込みレーザパワーを制御するこ
とも考えられるが、新しく光デイスクを装填した場合な
どには装置内温度と媒体表面温度が異なるため、媒体温
度変化に対応した適切なレーザパワー制御はできない。
【０００５】そこで、従来、例えば特開平４−６７４３
６号公報に示されるように、本データを記録する前にデ
イスク媒体上の所定の領域に試し書きを行ない、この試
し書きを再生した結果に基づいて本データの記録時の光
パワーを最適にするレーザ駆動電流強度を設定する方法
が提案されている。
６号公報に示されるように、本データを記録する前にデ
イスク媒体上の所定の領域に試し書きを行ない、この試
し書きを再生した結果に基づいて本データの記録時の光
パワーを最適にするレーザ駆動電流強度を設定する方法
が提案されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記特開平４−６７４
３６号公報に示される従来技術では、デイスク装置が上
位装置から本データの書き込み命令を受け取る度に、こ
の本データの記録直前に試し書きを行なうため、上位装
置からの書き込み命令の処理時間が大きくなるといつた
問題がある。
３６号公報に示される従来技術では、デイスク装置が上
位装置から本データの書き込み命令を受け取る度に、こ
の本データの記録直前に試し書きを行なうため、上位装
置からの書き込み命令の処理時間が大きくなるといつた
問題がある。
【０００７】データ記録時のレーザ駆動電流を設定する
ためには、試し書きデータの再生信号が必要なため、試
し書きは記録と再生の両動作が必要となる。光ヘツドが
１ビームの場合には、再生動作が記録動作の次の回転に
なるため、書き込み命令の処理時間は１回転分以上大き
くなる。さらに試し書きを行なう領域が光デイスク媒体
上のユーザエリアから離れたエリアに割り当てられてい
る場合には、光ヘツドの移動及び位置決め等のためさら
に処理時間の増大が著しい。光ヘツドが２ビームの場合
には、試し書き領域がユーザセクタ内にあれば、試し書
きによる処理時間の増大は発生しないが、ユーザセクタ
外にある場合にはやはり書き込み命令の処理時間は増大
する。
ためには、試し書きデータの再生信号が必要なため、試
し書きは記録と再生の両動作が必要となる。光ヘツドが
１ビームの場合には、再生動作が記録動作の次の回転に
なるため、書き込み命令の処理時間は１回転分以上大き
くなる。さらに試し書きを行なう領域が光デイスク媒体
上のユーザエリアから離れたエリアに割り当てられてい
る場合には、光ヘツドの移動及び位置決め等のためさら
に処理時間の増大が著しい。光ヘツドが２ビームの場合
には、試し書き領域がユーザセクタ内にあれば、試し書
きによる処理時間の増大は発生しないが、ユーザセクタ
外にある場合にはやはり書き込み命令の処理時間は増大
する。
【０００８】従つて、本発明の目的は、上記従来技術の
問題点を解決して、上位装置からの書き込み命令に対す
る処理時間を増大させずに試し書きを行なうことがで
き、また試し書きの実施回数を低減しても常に最適な記
録条件で記録を行なうことができる光学的記録方式を提
供することにある。
問題点を解決して、上位装置からの書き込み命令に対す
る処理時間を増大させずに試し書きを行なうことがで
き、また試し書きの実施回数を低減しても常に最適な記
録条件で記録を行なうことができる光学的記録方式を提
供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、光記録媒体に本データの記録を行なう前
に、この光記録媒体上の所定の領域に試し書きを行な
い、試し書きの再生信号に基づいて本データ記録時のレ
ーザ駆動電流を最適値に設定する光学的記録方式におい
て、前記試し書きを、上位装置からのデータ書き込み命
令とは非同期に任意の時間間隔で行なうように構成した
ものである。この場合、最初の試し書きは、光記録媒体
を光デイスク装置に装填したときに行なつて、この試し
書きデータの再生信号に基づいて後のユーザデータ記録
時のためのレーザ駆動電流を設定しておき、その後の試
し書きは、上記のように上位装置からのデータ書き込み
命令とは非同期に行なう。
め、本発明は、光記録媒体に本データの記録を行なう前
に、この光記録媒体上の所定の領域に試し書きを行な
い、試し書きの再生信号に基づいて本データ記録時のレ
ーザ駆動電流を最適値に設定する光学的記録方式におい
て、前記試し書きを、上位装置からのデータ書き込み命
令とは非同期に任意の時間間隔で行なうように構成した
ものである。この場合、最初の試し書きは、光記録媒体
を光デイスク装置に装填したときに行なつて、この試し
書きデータの再生信号に基づいて後のユーザデータ記録
時のためのレーザ駆動電流を設定しておき、その後の試
し書きは、上記のように上位装置からのデータ書き込み
命令とは非同期に行なう。
【００１０】また、前記試し書きを行なう時間間隔は、
前回の試し書きに基づくレーザ駆動電流の設定値と今回
の試し書きに基づくレーザ駆動電流の設定値との差が小
さい程次回の試し書きまでの時間が長くなるように決定
されたものである。
前回の試し書きに基づくレーザ駆動電流の設定値と今回
の試し書きに基づくレーザ駆動電流の設定値との差が小
さい程次回の試し書きまでの時間が長くなるように決定
されたものである。
【００１１】
【００１２】
【作用】上記構成に基づく作用を説明する。
【００１３】本発明によれば、上位装置からの書き込み
命令とは非同期に（独立して）、最初の光記録媒体装填
時や、上位装置からの命令を実行していない時に任意の
時間間隔で光記録媒体上の試し書き領域（所定領域）に
試し書きが行なわれ、その再生信号に基づいてユーザデ
ータ（本データ）記録時のためのレーザ駆動電流が最適
値に設定しておかれる。そして、上位装置からの書き込
み命令があると、既に設定されている最適値のレーザ駆
動電流によりユーザデータが書き込まれる。これによ
り、上位装置からの書き込み命令の度に試し書きを行な
う必要がなくなり、また、試し書きにより上位装置の処
理に影響を及ぼすこともなく、ユーザデータ記録処理時
間が増大するのを防止することができる。
命令とは非同期に（独立して）、最初の光記録媒体装填
時や、上位装置からの命令を実行していない時に任意の
時間間隔で光記録媒体上の試し書き領域（所定領域）に
試し書きが行なわれ、その再生信号に基づいてユーザデ
ータ（本データ）記録時のためのレーザ駆動電流が最適
値に設定しておかれる。そして、上位装置からの書き込
み命令があると、既に設定されている最適値のレーザ駆
動電流によりユーザデータが書き込まれる。これによ
り、上位装置からの書き込み命令の度に試し書きを行な
う必要がなくなり、また、試し書きにより上位装置の処
理に影響を及ぼすこともなく、ユーザデータ記録処理時
間が増大するのを防止することができる。
【００１４】また、試し書きによりレーザ駆動電流を設
定したときに、前回の試し書きで設定したレーザ駆動電
流と今回の試し書きで設定したレーザ駆動電流との差を
基に、次回の試し書きを行なうまでの時間間隔が決定さ
れる。これにより、レーザ駆動電流の差が小さいときは
次回の試し書きまでの時間が長くされ、差が大きいとき
は次の試し書きまでの時間が短くされる。従つて、光記
録媒体を光デイスク装置に装填した直後は、光記録媒体
の温度変化（温度上昇率）が大きく、試し書きの度にレ
ーザ駆動電流の設定値が変るので、試し書きの時間間隔
は短く決定される。装填してからの時間が経過するにつ
れて光記録媒体の温度変化（温度上昇率）が小さくなる
とレーザ駆動電流の設定値も変化が小さくなり、試し書
きの時間間隔が長くなるので、試し書きの回数は少なく
て済む。
定したときに、前回の試し書きで設定したレーザ駆動電
流と今回の試し書きで設定したレーザ駆動電流との差を
基に、次回の試し書きを行なうまでの時間間隔が決定さ
れる。これにより、レーザ駆動電流の差が小さいときは
次回の試し書きまでの時間が長くされ、差が大きいとき
は次の試し書きまでの時間が短くされる。従つて、光記
録媒体を光デイスク装置に装填した直後は、光記録媒体
の温度変化（温度上昇率）が大きく、試し書きの度にレ
ーザ駆動電流の設定値が変るので、試し書きの時間間隔
は短く決定される。装填してからの時間が経過するにつ
れて光記録媒体の温度変化（温度上昇率）が小さくなる
とレーザ駆動電流の設定値も変化が小さくなり、試し書
きの時間間隔が長くなるので、試し書きの回数は少なく
て済む。
【００１５】
【００１６】
【実施例】以下に、本発明の一実施例を図面を用いて説
明する。
明する。
【００１７】図３ないし図５は、本発明の原理を示すも
のである。
のである。
【００１８】図３は、本発明を光磁気デイスク装置に適
用した場合の実施例に用いる光デイスクシステムの一構
成例を示しており、光デイスク駆動装置３は光デイスク
媒体４を搭載しており、光デイスク媒体４に対するデー
タの書き込み，読み出し，消去等の動作を行なう。ＣＰ
Ｕ（中央処理装置）１は光デイスク装置の上位装置であ
る。光デイスク制御装置２は上位装置であるＣＰＵ１か
ら命令を受け取り、光デイスク制御装置２は上位装置で
あるＣＰＵ１から命令を受け取り、光デイスク駆動装置
３の制御を行なう。
用した場合の実施例に用いる光デイスクシステムの一構
成例を示しており、光デイスク駆動装置３は光デイスク
媒体４を搭載しており、光デイスク媒体４に対するデー
タの書き込み，読み出し，消去等の動作を行なう。ＣＰ
Ｕ（中央処理装置）１は光デイスク装置の上位装置であ
る。光デイスク制御装置２は上位装置であるＣＰＵ１か
ら命令を受け取り、光デイスク制御装置２は上位装置で
あるＣＰＵ１から命令を受け取り、光デイスク駆動装置
３の制御を行なう。
【００１９】図４は、光デイスク媒体４上のトラツクフ
オーマツト例を示しており、スパイラル状のトラツクを
備えているが、これは同心円状に形成されることもあ
る。各トラツクはそれぞれ固有のアドレスを持つ複数の
セクタに分割されている。図４では各トラツクのセクタ
数は内周・外周共に同じであるが、外周へ行くに従いト
ラツク当たりのセクタ数が増加するトラツクフオーマツ
トでもよい。
オーマツト例を示しており、スパイラル状のトラツクを
備えているが、これは同心円状に形成されることもあ
る。各トラツクはそれぞれ固有のアドレスを持つ複数の
セクタに分割されている。図４では各トラツクのセクタ
数は内周・外周共に同じであるが、外周へ行くに従いト
ラツク当たりのセクタ数が増加するトラツクフオーマツ
トでもよい。
【００２０】図５は、光デイスク媒体４上のデータエリ
アの割当て例を示しており、データエリアは、ユーザエ
リア４１と試し書きエリア４２からなる。本実施例で
は、試し書きエリア４２は複数カ所割当てられており、
各試し書きエリアは１〜２回転分のトラツクからなつて
いる。
アの割当て例を示しており、データエリアは、ユーザエ
リア４１と試し書きエリア４２からなる。本実施例で
は、試し書きエリア４２は複数カ所割当てられており、
各試し書きエリアは１〜２回転分のトラツクからなつて
いる。
【００２１】以上のような光デイスクシステムにおい
て、本発明の実施例を図１に示すフローチヤートで詳細
に説明する。
て、本発明の実施例を図１に示すフローチヤートで詳細
に説明する。
【００２２】最初に、光デイスク媒体４が光デイスク駆
動装置３に装填された時の動作を説明する。光デイスク
制御装置２は、光デイスク媒体４が光デイスク駆動装置
３に装填されたことを認識すると（ステツプ５１）、試
し書きエリア４２へヘツドの位置付けを行ない（ステツ
プ５３）、その後試し書き処理すなわちテストデータの
書き込み及び再生を行なう（ステツプ５４）。次いで試
し書き後の再生信号に基づき、ユーザデータ記録時のレ
ーザ駆動電流を設定する（ステツプ５５）。そして、媒
体装填による試し書き処理であるかどうかチエツクし
（ステツプ５６）、媒体装填による試し書きであるた
め、次の試し書きまでのタイマ値を設定して（ステツプ
５８）終了する。この場合の次の試し書きまでのタイマ
値は、例えば、光デイスク媒体４が光デイスク駆動装置
３に装填された後の光デイスク媒体４の時間に対する温
度変化の最大傾斜に基づいて、温度変化が十分小さい範
囲内で決定する。
動装置３に装填された時の動作を説明する。光デイスク
制御装置２は、光デイスク媒体４が光デイスク駆動装置
３に装填されたことを認識すると（ステツプ５１）、試
し書きエリア４２へヘツドの位置付けを行ない（ステツ
プ５３）、その後試し書き処理すなわちテストデータの
書き込み及び再生を行なう（ステツプ５４）。次いで試
し書き後の再生信号に基づき、ユーザデータ記録時のレ
ーザ駆動電流を設定する（ステツプ５５）。そして、媒
体装填による試し書き処理であるかどうかチエツクし
（ステツプ５６）、媒体装填による試し書きであるた
め、次の試し書きまでのタイマ値を設定して（ステツプ
５８）終了する。この場合の次の試し書きまでのタイマ
値は、例えば、光デイスク媒体４が光デイスク駆動装置
３に装填された後の光デイスク媒体４の時間に対する温
度変化の最大傾斜に基づいて、温度変化が十分小さい範
囲内で決定する。
【００２３】試し書きエリア４２へヘツドを位置付け
（ステツプ５３）、試し書きを行ない（ステツプ５
４）、レーザ駆動電流を設定する（ステツプ５５）処理
は、光デイスク媒体４の内周／外周でレーザ駆動電流が
異なる場合は（外周へ行く程媒体周速度が高くなり、１
セクタの通過時間が短くなる場合、外周へ行く程レーザ
駆動電流を強くする必要がある）、光デイスク媒体４上
に設けられた複数の試し書きエリア４２で行ない、それ
ぞれのエリアでユーザデータ記録時のレーザ駆動電流を
覚えておき、ユーザデータ記録時に記録するエリアに対
応したレーザ駆動電流を設定して記録を行なうようにす
る。また、光デイスク媒体４上のエリアによるレーザ駆
動電流の差が内周から外周に対してほぼ一定であるなら
ば、最内周と最外周の試し書きエリア４２についてのみ
試し書きを行ない、他のエリアに対しても最内周と最外
周でのレーザ駆動電流を基に設定することも可能であ
る。
（ステツプ５３）、試し書きを行ない（ステツプ５
４）、レーザ駆動電流を設定する（ステツプ５５）処理
は、光デイスク媒体４の内周／外周でレーザ駆動電流が
異なる場合は（外周へ行く程媒体周速度が高くなり、１
セクタの通過時間が短くなる場合、外周へ行く程レーザ
駆動電流を強くする必要がある）、光デイスク媒体４上
に設けられた複数の試し書きエリア４２で行ない、それ
ぞれのエリアでユーザデータ記録時のレーザ駆動電流を
覚えておき、ユーザデータ記録時に記録するエリアに対
応したレーザ駆動電流を設定して記録を行なうようにす
る。また、光デイスク媒体４上のエリアによるレーザ駆
動電流の差が内周から外周に対してほぼ一定であるなら
ば、最内周と最外周の試し書きエリア４２についてのみ
試し書きを行ない、他のエリアに対しても最内周と最外
周でのレーザ駆動電流を基に設定することも可能であ
る。
【００２４】次に、通常状態でのタイマによる時間経過
による試し書きの動作を説明する。光デイスク制御装置
２は、試し書きタイマによる試し書き要求を認識すると
（ステツプ５２）、試し書きエリア４２へヘツドの位置
付けを行ない（ステツプ５３）、その後試し書き処理を
行なう（ステツプ５４）。次いで試し書き後の再生信号
に基づき、ユーザデータ記録時のレーザ駆動電流を設定
する（ステツプ５５）。そして、媒体装填による試し書
き処理であるかどうかチエツクし（ステツプ５６）、そ
うでないため、試し書き実施前に設定されていたレーザ
駆動電流と試し書き実施結果により新たに設定する最適
のレーザ駆動電流との差を算出し、この差に基づいて次
の試し書きまでのタイマ値を設定して（ステツプ５７）
終了する。この場合の次の試し書きまでのタイマ値は、
レーザ駆動電流の差が小さいほど大きくし、レーザ駆動
電流の差が大きいほど小さくなるように設定する。例え
ば、レーザ駆動電流の差ΔＰが“０”ならばＴmax、ま
た媒体挿入直後はＴmin、その他の場合は（Ｔmin＋定数
Ａ／｜ΔＰ｜）でタイマ値を決定する。
による試し書きの動作を説明する。光デイスク制御装置
２は、試し書きタイマによる試し書き要求を認識すると
（ステツプ５２）、試し書きエリア４２へヘツドの位置
付けを行ない（ステツプ５３）、その後試し書き処理を
行なう（ステツプ５４）。次いで試し書き後の再生信号
に基づき、ユーザデータ記録時のレーザ駆動電流を設定
する（ステツプ５５）。そして、媒体装填による試し書
き処理であるかどうかチエツクし（ステツプ５６）、そ
うでないため、試し書き実施前に設定されていたレーザ
駆動電流と試し書き実施結果により新たに設定する最適
のレーザ駆動電流との差を算出し、この差に基づいて次
の試し書きまでのタイマ値を設定して（ステツプ５７）
終了する。この場合の次の試し書きまでのタイマ値は、
レーザ駆動電流の差が小さいほど大きくし、レーザ駆動
電流の差が大きいほど小さくなるように設定する。例え
ば、レーザ駆動電流の差ΔＰが“０”ならばＴmax、ま
た媒体挿入直後はＴmin、その他の場合は（Ｔmin＋定数
Ａ／｜ΔＰ｜）でタイマ値を決定する。
【００２５】この場合の試し書きについても、光デイス
ク媒体４のエリアによつてレーザ駆動電流が異なる場合
は、複数の試し書きエリア４２で行ない、それぞれのエ
リアでレーザ駆動電流を覚えておく。また、１個所の試
し書きエリアでのレーザ駆動電流の設定値の変化量を基
に、他のエリアのレーザ駆動電流の校正ができるなら
ば、１個所の試し書きエリアについてのみ試し書きを行
なつてもよい。この１個所のみ試し書きを行なう場合に
は、試し書き要求発生時にヘツドが位置付いているトラ
ツクから最も近い試し書きエリアで行なえばよい。
ク媒体４のエリアによつてレーザ駆動電流が異なる場合
は、複数の試し書きエリア４２で行ない、それぞれのエ
リアでレーザ駆動電流を覚えておく。また、１個所の試
し書きエリアでのレーザ駆動電流の設定値の変化量を基
に、他のエリアのレーザ駆動電流の校正ができるなら
ば、１個所の試し書きエリアについてのみ試し書きを行
なつてもよい。この１個所のみ試し書きを行なう場合に
は、試し書き要求発生時にヘツドが位置付いているトラ
ツクから最も近い試し書きエリアで行なえばよい。
【００２６】通常状態での試し書きタイマによる試し書
き処理は、ＣＰＵ１からの命令とは無関係に実施するた
め、試し書き処理中にＣＰＵ１から命令を受け取る場合
がある。この場合には、試し書き処理を中断してＣＰＵ
１からの命令を実行し、命令終了後に試し書きを再実行
してもよいし、試し書き処理終了後にＣＰＵ１から命令
を実行してもよい。あるいは、ＣＰＵ１からの命令が書
き込み処理の場合に限つて試し書き処理終了後にＣＰＵ
１からの命令を実行し、書き込み処理以外の命令の場合
には、試し書き処理を中断してＣＰＵ１からの命令を実
行しその後試し書きを再実行するようにしてもよい。
き処理は、ＣＰＵ１からの命令とは無関係に実施するた
め、試し書き処理中にＣＰＵ１から命令を受け取る場合
がある。この場合には、試し書き処理を中断してＣＰＵ
１からの命令を実行し、命令終了後に試し書きを再実行
してもよいし、試し書き処理終了後にＣＰＵ１から命令
を実行してもよい。あるいは、ＣＰＵ１からの命令が書
き込み処理の場合に限つて試し書き処理終了後にＣＰＵ
１からの命令を実行し、書き込み処理以外の命令の場合
には、試し書き処理を中断してＣＰＵ１からの命令を実
行しその後試し書きを再実行するようにしてもよい。
【００２７】ここで、書き込みレーザパワーの最適値の
求め方について説明する。テスト信号として１セクタ期
間に高密度パルスの部分と低密度パルスの部分とを有す
る信号で変調された書き込みレーザ光を用い、このレー
ザ光のパワーをセクタ毎に徐々に上昇して行く。次いで
これを再生して、高密度パルスの再生信号と低密度パル
スの再生信号のレベル差を求め、このレベル差が最も小
さくなるときの書き込みレーザパワーを最適値と判定す
るものである。このようにすれば、如何なる記録密度の
データに対しても一定の再生波形が得られる。
求め方について説明する。テスト信号として１セクタ期
間に高密度パルスの部分と低密度パルスの部分とを有す
る信号で変調された書き込みレーザ光を用い、このレー
ザ光のパワーをセクタ毎に徐々に上昇して行く。次いで
これを再生して、高密度パルスの再生信号と低密度パル
スの再生信号のレベル差を求め、このレベル差が最も小
さくなるときの書き込みレーザパワーを最適値と判定す
るものである。このようにすれば、如何なる記録密度の
データに対しても一定の再生波形が得られる。
【００２８】次に、書き込み動作の実施例を図２に示す
フローチヤートで詳細に説明する。
フローチヤートで詳細に説明する。
【００２９】光デイスク制御装置２は、ＣＰＵ１から書
き込み命令を受け取ると、ヘツドの位置付けを行ない
（ステツプ６１）、その後書き込みデータを受信しデー
タの書き込み及び読み出しチエツクを行なう（ステツプ
６２）。その後記録不良ブロツクを検出したかどうかを
チエツクし（ステツプ６３）、記録不良ブロツクがなけ
れば終了する。記録不良ブロツクがあれば試し書き処理
を実施すべきかどうか判定し（ステツプ６４）、試し書
き処理不要と判定すれば、記録不良ブロツクに対して交
替ブロツクの割り当て処理を行ない（ステツプ７０）、
終了する。試し書き処理必要と判定すれば試し書きエリ
アへヘツドの位置付けを行ない（ステツプ６５）、試し
書き処理を行なつた後レーザ駆動電流を設定する（ステ
ツプ６６）。その後、記録不良ブロツクへヘツドを再位
置付けし（ステツプ６７）、記録不良ブロツクへデータ
の再書き込み及び読み出しチエツクを行なう（ステツプ
６８）。その後記録不良ブロツクを検出したかどうかを
チエツクし（ステツプ６９）、記録不良ブロツクがなけ
れば終了する。記録不良ブロツクがあれば、記録不良ブ
ロツクに対して交替ブロツクの割り当て処理を行ない
（ステツプ７０）、終了する。
き込み命令を受け取ると、ヘツドの位置付けを行ない
（ステツプ６１）、その後書き込みデータを受信しデー
タの書き込み及び読み出しチエツクを行なう（ステツプ
６２）。その後記録不良ブロツクを検出したかどうかを
チエツクし（ステツプ６３）、記録不良ブロツクがなけ
れば終了する。記録不良ブロツクがあれば試し書き処理
を実施すべきかどうか判定し（ステツプ６４）、試し書
き処理不要と判定すれば、記録不良ブロツクに対して交
替ブロツクの割り当て処理を行ない（ステツプ７０）、
終了する。試し書き処理必要と判定すれば試し書きエリ
アへヘツドの位置付けを行ない（ステツプ６５）、試し
書き処理を行なつた後レーザ駆動電流を設定する（ステ
ツプ６６）。その後、記録不良ブロツクへヘツドを再位
置付けし（ステツプ６７）、記録不良ブロツクへデータ
の再書き込み及び読み出しチエツクを行なう（ステツプ
６８）。その後記録不良ブロツクを検出したかどうかを
チエツクし（ステツプ６９）、記録不良ブロツクがなけ
れば終了する。記録不良ブロツクがあれば、記録不良ブ
ロツクに対して交替ブロツクの割り当て処理を行ない
（ステツプ７０）、終了する。
【００３０】試し書き処理を実施すべきかどうかの判定
（ステツプ６５）は、記録不良ブロツクの数で行なつて
もよいし、記録不良ブロツクの発生率で行なつてもよ
い。つまり、記録不良ブロツク数が多くなつたときに
は、大幅な温度変化があつたため、レーザ駆動電流の最
適値が設定値から大幅にずれたものと判定し、設定し直
しをするものである。また、書き込み後の読み出しチエ
ツクにおいて、記録したビツトのシフト量が検出可能な
らば、それに基づいて行なつてもよい。
（ステツプ６５）は、記録不良ブロツクの数で行なつて
もよいし、記録不良ブロツクの発生率で行なつてもよ
い。つまり、記録不良ブロツク数が多くなつたときに
は、大幅な温度変化があつたため、レーザ駆動電流の最
適値が設定値から大幅にずれたものと判定し、設定し直
しをするものである。また、書き込み後の読み出しチエ
ツクにおいて、記録したビツトのシフト量が検出可能な
らば、それに基づいて行なつてもよい。
【００３１】図２による処理は、図１による処理とは独
立して（無関係に）、かつ並用して行なうことができ
る。
立して（無関係に）、かつ並用して行なうことができ
る。
【００３２】図６は、上述した記録制御方式を実現する
ための装置の１例として、光デイスク装置の概略的構成
を示すブロツク図である。
ための装置の１例として、光デイスク装置の概略的構成
を示すブロツク図である。
【００３３】図５において、２１はチヤネル装置やホス
ト・コンピユータ等の上位装置１との間での信号授受を
制御するインタフエース・コントローラ、２２は上位装
置からの命令に応じた動作や、既に説明した試し書き動
作を実現すべく制御装置を所定の手順で動作させるマイ
クロ・プロセツサ、２３は前記マイクロ・プロセツサ２
２による制御動作を規定するマイクロ命令を格納するた
めのメモリ、２４はバツフアメモリ２７から取り出され
た情報を変調して光／磁気ヘツド回路２９に出力する書
き込み回路、２５は光デイスク上に記録された情報を消
去するための磁界制御回路、２６は光／磁気ヘツド回路
２９からの出力信号を復調し、バツフアメモリ２７へ格
納するための読み取り回路を示す。なお、２８はバツフ
アメモリ２７の入出力バスを選択するためのセレクタで
あり、マイクロ・プロセツサ２２から与えられるマイク
ロ命令３０に応じて、インタフエース・バス３３、プロ
セツサ・バス３２、およびリード／ライト回路バス３１
を選択的にバツフアメモリ２７に接続する。
ト・コンピユータ等の上位装置１との間での信号授受を
制御するインタフエース・コントローラ、２２は上位装
置からの命令に応じた動作や、既に説明した試し書き動
作を実現すべく制御装置を所定の手順で動作させるマイ
クロ・プロセツサ、２３は前記マイクロ・プロセツサ２
２による制御動作を規定するマイクロ命令を格納するた
めのメモリ、２４はバツフアメモリ２７から取り出され
た情報を変調して光／磁気ヘツド回路２９に出力する書
き込み回路、２５は光デイスク上に記録された情報を消
去するための磁界制御回路、２６は光／磁気ヘツド回路
２９からの出力信号を復調し、バツフアメモリ２７へ格
納するための読み取り回路を示す。なお、２８はバツフ
アメモリ２７の入出力バスを選択するためのセレクタで
あり、マイクロ・プロセツサ２２から与えられるマイク
ロ命令３０に応じて、インタフエース・バス３３、プロ
セツサ・バス３２、およびリード／ライト回路バス３１
を選択的にバツフアメモリ２７に接続する。
【００３４】本実施例によれば、上位装置からの書き込
み命令とは非同期に試し書きを実施し、試し書きの度に
ユーザデータ記録時のレーザ駆動電流を最適値にしてお
くことができるため、上位装置からの書き込み命令の度
に試し書きを行なう必要がなく、ユーザデータ記録処理
時間の増大を防止することができる。この効果は、試し
書きエリアがユーザエリアとは別のエリアに設けられて
いる場合や光ヘツドが１ビームの場合には著しいものと
なる。
み命令とは非同期に試し書きを実施し、試し書きの度に
ユーザデータ記録時のレーザ駆動電流を最適値にしてお
くことができるため、上位装置からの書き込み命令の度
に試し書きを行なう必要がなく、ユーザデータ記録処理
時間の増大を防止することができる。この効果は、試し
書きエリアがユーザエリアとは別のエリアに設けられて
いる場合や光ヘツドが１ビームの場合には著しいものと
なる。
【００３５】また、試し書き実施の時間間隔は、試し書
き実施によるレーザ駆動電流の設定値の差により決定さ
れるため、媒体環境温度の変化がほとんど無くなる定常
状態では、試し書き実施間隔が長くなり試し書き実施回
数が低減されることになる。これによつて、上位装置か
らの命令とのぶつかり頻度を低減するという効果や、試
し書きエリアの寿命を長くするという効果が得られる。
き実施によるレーザ駆動電流の設定値の差により決定さ
れるため、媒体環境温度の変化がほとんど無くなる定常
状態では、試し書き実施間隔が長くなり試し書き実施回
数が低減されることになる。これによつて、上位装置か
らの命令とのぶつかり頻度を低減するという効果や、試
し書きエリアの寿命を長くするという効果が得られる。
【００３６】また、試し書きエリアを媒体上に複数個配
置しているため、１個所の試し書きエリアに対する試し
書き結果で媒体全面のレーザ駆動電流を算出できる場合
は、ヘツドが位置付いている最も近い試し書きエリアの
み試し書きを行なえばよいので、試し書きのための位置
付け時間を短縮できるという効果が得られる。
置しているため、１個所の試し書きエリアに対する試し
書き結果で媒体全面のレーザ駆動電流を算出できる場合
は、ヘツドが位置付いている最も近い試し書きエリアの
み試し書きを行なえばよいので、試し書きのための位置
付け時間を短縮できるという効果が得られる。
【００３７】また、上位装置からの書き込み命令に対し
記録不良ブロツクを検出した時に試し書きを行なうこと
により、試し書きと試し書きの間で急激な媒体環境温度
変化があり、前回のレーザ駆動電流が最適なレーザ駆動
電流からずれていたとしても、レーザ駆動電流を最適値
に設定し直して再書き込みができる。これによつて、書
き込み時の記録不良ブロツクに対する交替ブロツクの割
り当て数を低減する効果が得られる。
記録不良ブロツクを検出した時に試し書きを行なうこと
により、試し書きと試し書きの間で急激な媒体環境温度
変化があり、前回のレーザ駆動電流が最適なレーザ駆動
電流からずれていたとしても、レーザ駆動電流を最適値
に設定し直して再書き込みができる。これによつて、書
き込み時の記録不良ブロツクに対する交替ブロツクの割
り当て数を低減する効果が得られる。
【００３８】本発明は、光磁気デイスク装置や追記型光
デイスク装置等の光記録再生装置に適用できる。
デイスク装置等の光記録再生装置に適用できる。
【００３９】
【発明の効果】以上詳しく説明したように、本発明の光
学的記録方式によれば、上位装置からの書き込み命令と
は非同期に任意の時間間隔で試し書きを実施し、その都
度ユーザデータ記録時のレーザ駆動電流の最適値を算出
しておくため、上位装置からの書き込み命令の度に試し
書きを行なう必要はなく、上位装置からの書き込み命令
の処理時間を増大させることなく常に好適な書き込みレ
ーザ強度でもつて記録動作を行なうことができるという
効果が得られる。
学的記録方式によれば、上位装置からの書き込み命令と
は非同期に任意の時間間隔で試し書きを実施し、その都
度ユーザデータ記録時のレーザ駆動電流の最適値を算出
しておくため、上位装置からの書き込み命令の度に試し
書きを行なう必要はなく、上位装置からの書き込み命令
の処理時間を増大させることなく常に好適な書き込みレ
ーザ強度でもつて記録動作を行なうことができるという
効果が得られる。
【００４０】また、次回の試し書き実施までの時間間隔
を前回の試し書きに基づくレーザ駆動電流の設定値と今
回の試し書きに基づくレーザ駆動電流の設定値との差に
より決定するため、媒体環境温度の変化が大きいときに
は試し書きの時間間隔が短くなり、媒体環境温度の変化
がほとんど無くなる定常状態では、試し書きの時間間隔
が長くなる。従つて、定常状態では試し書きの実施回数
が低減されることになり、上位装置からの命令と試し書
きのぶつかり頻度が小さくなることや試し書きエリアの
寿命を長くするという効果も得られる。
を前回の試し書きに基づくレーザ駆動電流の設定値と今
回の試し書きに基づくレーザ駆動電流の設定値との差に
より決定するため、媒体環境温度の変化が大きいときに
は試し書きの時間間隔が短くなり、媒体環境温度の変化
がほとんど無くなる定常状態では、試し書きの時間間隔
が長くなる。従つて、定常状態では試し書きの実施回数
が低減されることになり、上位装置からの命令と試し書
きのぶつかり頻度が小さくなることや試し書きエリアの
寿命を長くするという効果も得られる。
【００４１】
【図１】本発明の一実施例による試し書き動作を示すフ
ローチヤートである。
ローチヤートである。
【図２】本発明の一実施例による書き込み動作を示すフ
ローチヤートである。
ローチヤートである。
【図３】本発明が適用される光デイスクシステムの構成
図である。
図である。
【図４】記録媒体のトラツクフオーマツト例を示す図で
ある。
ある。
【図５】記録媒体のトラツク割り当ての一例を示す図で
ある。
ある。
【図６】本発明が適用される光デイスク装置の一実施例
のブロツク図である。
のブロツク図である。
１ ＣＰＵ ２ 光デイスク制御装置 ３ 光デイスク駆動装置 ４ 光デイスク媒体 ４１ ユーザエリア ４２ 試し書きエリア
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G11B 7/00 G11B 7/125
Claims (1)
- 【請求項１】 光記録媒体に本データの記録を行う前
に、前記光記録媒体上の所定の領域に試し書きを行い、
前記試し書きの再生信号に基づいて本データ記録時のレ
ーザ駆動電流を最適値に設定する光学的記録装置であっ
て、 前記試し書きは、上位装置からの本データの書き込み命
令とは非同期に所定の時間間隔で行い、 前記所定の時間間隔は、前回の試し書きに基づくレーザ
駆動電流の設定値と今回の試し書きに基づくレーザ駆動
電流の設定値の差が小さいほど、次回の試し書きまでの
時間が長くなるように決定されることを特徴とする光学
的記録装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5096119A JP2812636B2 (ja) | 1993-04-22 | 1993-04-22 | 光学的記録装置 |
| US08/229,317 US5513166A (en) | 1993-04-22 | 1994-04-18 | Optical recording and reproducing apparatus for controlling a laser driver current according to test data on the disc |
| KR1019940008407A KR0132705B1 (ko) | 1993-04-22 | 1994-04-21 | 광학 정보 기록 방법 및 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5096119A JP2812636B2 (ja) | 1993-04-22 | 1993-04-22 | 光学的記録装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06309669A JPH06309669A (ja) | 1994-11-04 |
| JP2812636B2 true JP2812636B2 (ja) | 1998-10-22 |
Family
ID=14156499
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5096119A Expired - Fee Related JP2812636B2 (ja) | 1993-04-22 | 1993-04-22 | 光学的記録装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5513166A (ja) |
| JP (1) | JP2812636B2 (ja) |
| KR (1) | KR0132705B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009015942A (ja) * | 2007-07-03 | 2009-01-22 | Funai Electric Co Ltd | 光ディスク装置 |
Families Citing this family (31)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3249031B2 (ja) * | 1995-06-01 | 2002-01-21 | 株式会社リコー | 光情報記録再生方法 |
| US6111841A (en) * | 1996-01-10 | 2000-08-29 | Nikon Corporation | Apparatus for and method of controlling playback light intensity for an optical recording medium |
| JPH09320094A (ja) * | 1996-05-27 | 1997-12-12 | Nikon Corp | 光ディスクの再生方法及び光ディスク |
| JPH09330519A (ja) | 1996-06-10 | 1997-12-22 | Hitachi Ltd | 光ディスク記録再生装置 |
| JPH10208459A (ja) * | 1997-01-28 | 1998-08-07 | Fujitsu Ltd | 光ディスク装置 |
| JP3361025B2 (ja) * | 1997-02-12 | 2003-01-07 | 日本電気株式会社 | 光ディスク装置 |
| JPH10302397A (ja) * | 1997-04-23 | 1998-11-13 | Ricoh Co Ltd | 光ディスク記録装置 |
| JP3474110B2 (ja) | 1997-08-25 | 2003-12-08 | 株式会社リコー | 光ディスク記録再生装置と光ディスク記録再生方法とコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| DE19813872C2 (de) * | 1997-08-28 | 2001-12-06 | Fujitsu Ltd | Optische Speichervorrichtung |
| JP3429166B2 (ja) | 1997-08-28 | 2003-07-22 | 富士通株式会社 | 光学的記憶装置 |
| JP3763974B2 (ja) * | 1998-07-10 | 2006-04-05 | 富士通株式会社 | 記憶装置及び記録媒体 |
| KR100288783B1 (ko) * | 1998-09-18 | 2001-05-02 | 구자홍 | 광기록매체의 기록 광파워 검출저장 및 이를 이용한 기록 광파워 조절장치와 그 방법 |
| US6522414B1 (en) * | 1998-10-10 | 2003-02-18 | Seagate Technology Llc | Method and apparatus for characterization of light beam deflection in a multi-head optical storage system |
| JP3975586B2 (ja) * | 1998-11-11 | 2007-09-12 | ソニー株式会社 | 記録再生装置および方法、並びにプログラム記録媒体 |
| JP2001134974A (ja) | 1999-11-09 | 2001-05-18 | Sanyo Electric Co Ltd | 光ディスク記録再生装置のレーザー出力制御回路 |
| JP2001307334A (ja) | 2000-04-21 | 2001-11-02 | Toshiba Corp | 情報記憶媒体、情報記録方法、及び情報再生方法 |
| JP3765223B2 (ja) * | 2000-05-23 | 2006-04-12 | ヤマハ株式会社 | 光ディスク記録方法および光ディスク記録装置 |
| TW490660B (en) * | 2001-02-15 | 2002-06-11 | Acer Comm & Multimedia Inc | Optical power calibration method based on the positions of data writing |
| TW499675B (en) | 2001-02-15 | 2002-08-21 | Benq Corp | Method of optical power calibration using the outer rim portion of optical disk |
| DK1367568T3 (da) * | 2001-03-07 | 2007-02-05 | Benq Corp | Optisk metode for kalibrering af den optiske skriveeffekt af et optisk diskdrev |
| US20030058762A1 (en) * | 2001-09-26 | 2003-03-27 | Schultz Mark Alan | Defect detection of recordable storage media |
| JP2003168216A (ja) * | 2001-11-29 | 2003-06-13 | Sony Corp | 光記録媒体、並びに、光記録媒体に対する記録装置及び方法 |
| KR20070050968A (ko) * | 2004-08-19 | 2007-05-16 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 레이저 빔의 기록 파워를 제어하는 방법과 광학 레코더 |
| US8498186B2 (en) | 2006-02-24 | 2013-07-30 | Marvell World Trade Ltd. | Circuits, architectures, apparatuses, systems, algorithms and methods and software for timing calibration for optical disc recording |
| US8559284B1 (en) | 2006-02-24 | 2013-10-15 | Marvell International Ltd. | Circuits, architectures, apparatuses, systems, algorithms and methods and software for optimum power calibration for optical disc recording |
| US7839739B2 (en) * | 2006-02-24 | 2010-11-23 | Marvell World Trade Ltd. | Circuits, architectures, apparatuses, systems, algorithms and methods and software for optimum power calibration for optical disc recording |
| US8395977B1 (en) | 2010-06-30 | 2013-03-12 | Marvell International Ltd. | Method and apparatus for calibrating write strategy |
| US9472212B2 (en) | 2015-02-17 | 2016-10-18 | Seagate Technology Llc | Optimized recording condition for heat-assisted magnetic recording |
| US9842619B1 (en) * | 2016-04-27 | 2017-12-12 | Seagate Technology Llc | Selecting laser power based on writing to a set of consecutive user data wedges |
| US9865296B1 (en) * | 2016-09-13 | 2018-01-09 | Seagate Technology Llc | Heat-assisted magnetic recording device capable of laser calibration during a background operation |
| US9892752B1 (en) | 2017-06-15 | 2018-02-13 | Seagate Technology Llc | Selecting a maximum laser power for a calibration based on a previously measured function |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63121130A (ja) * | 1986-11-07 | 1988-05-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光情報記録再生装置 |
| JP2797733B2 (ja) * | 1990-03-14 | 1998-09-17 | 松下電器産業株式会社 | 光学情報記録部材の記録方法 |
| JPH0467436A (ja) * | 1990-07-09 | 1992-03-03 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光学的記録再生方法 |
| US5341360A (en) * | 1992-06-05 | 1994-08-23 | Maxoptix Corporation | Method and apparatus for calibrating laser write power by averaging upper and lower knees of a calibration profile |
-
1993
- 1993-04-22 JP JP5096119A patent/JP2812636B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-04-18 US US08/229,317 patent/US5513166A/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-04-21 KR KR1019940008407A patent/KR0132705B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009015942A (ja) * | 2007-07-03 | 2009-01-22 | Funai Electric Co Ltd | 光ディスク装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06309669A (ja) | 1994-11-04 |
| KR0132705B1 (ko) | 1998-04-18 |
| KR940024700A (ko) | 1994-11-18 |
| US5513166A (en) | 1996-04-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2812636B2 (ja) | 光学的記録装置 | |
| KR100288402B1 (ko) | 광디스크드라이브의버퍼언더런대응방법 | |
| US6205099B1 (en) | Disk defect management method and disk recording and reproducing apparatus | |
| US5796704A (en) | Optical disk apparatus and recording and reproducing method of optical recording medium | |
| JP2002324363A (ja) | 情報記録再生装置 | |
| JP4183553B2 (ja) | 記録方法、プログラム及び記録媒体、並びに情報記録装置 | |
| JPH02216672A (ja) | 光ディスクドライブ装置 | |
| US5532992A (en) | Recording and reproducing method for writable type disk driving apparatus | |
| JPH07311942A (ja) | 光学的記録制御方式 | |
| US7570448B2 (en) | Write-once type storage apparatus, control method and record control circuit | |
| US6563776B1 (en) | Information storage apparatus for monitoring a number of defective sectors included in a zone so as to select a substitutional area from a different zone | |
| JPH06325476A (ja) | デイスク装置 | |
| US5640378A (en) | Disc recording apparatus for recording data in units of a full cluster | |
| US6975567B2 (en) | Method and apparatus for copying/moving data on optical recording medium | |
| JPH10106170A (ja) | 光ディスク情報記録システム | |
| JP3254120B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
| JPH07320410A (ja) | 光ディスク記録方法及び装置 | |
| JPH03116566A (ja) | 光磁気ディスク記録再生制御方法 | |
| JP2697658B2 (ja) | 書換え型光記録再生装置 | |
| KR100378165B1 (ko) | 링킹 손실 영역에 데이터를 오버라이팅 하는 방법 | |
| JP2833667B2 (ja) | 情報記録再生装置 | |
| JPH07192409A (ja) | 光学式情報記録再生装置 | |
| JPH06231463A (ja) | 光学的情報記録再生装置 | |
| JP2001202200A (ja) | データ記録再生方法、並びにディスク状記録媒体 | |
| JP4056440B2 (ja) | 情報記録再生装置及びフォーマット方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070807 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080807 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080807 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090807 Year of fee payment: 11 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |