JP2009015942A

JP2009015942A - 光ディスク装置

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Publication number: JP2009015942A
Application number: JP2007174946A
Authority: JP
Inventors: Keiichi Muramatsu; 慶一村松
Original assignee: Funai Electric Co Ltd
Current assignee: Funai Electric Co Ltd
Priority date: 2007-07-03
Filing date: 2007-07-03
Publication date: 2009-01-22
Anticipated expiration: 2027-07-03
Also published as: JP4840272B2

Abstract

【課題】粗悪な光ディスクであるかどうかを正確に判定するディスク装置を提供する。
【解決手段】
光ディスク装置１は、スピンドルモータ２、ＰＵヘッド３、ＦＥ／ＴＥ生成部４１、駆動回路４２、記録／再生処理回路６、レーザパワー制御回路６２、レーザ駆動回路６３、ＨＤ６６、ＨＤＤ６７、制御部７を備える。ＰＵヘッド３は、ディスクにレーザ光を照射して、データを記録したり、読み出したりする。ＦＥ／ＴＥ生成部４１は、ＦＥ信号、ＴＥ信号を生成する。制御部７は、処理７０〜７４を行うプログラムを記憶している。粗悪ディスク判定処理７０は、ストラテジー確認処理７１、外形品質判定処理７２、ＯＰＣ処理７３を行った結果、いずれかの処理で異常があれば、粗悪ディスクと判定する処理である。外形品質判定処理７２は、ＦＥ信号、ＴＥ信号にもとづいて、偏芯、面振れを判定する。
【選択図】図８

Description

本発明は、データを光ディスクへ移動、コピーする光ディスク装置に関する。

従来の光ディスク記録装置では、粗悪な光ディスクにデータを記録すると、安定した記録が出来ないことから、光ディスク（以下単にディスクという）の記録前に予め、粗悪なディスクかどうかを判別していた。

粗悪なディスクには、図１（Ａ）のように、ディスク１００の中心１０１に対し、中心孔１０２が中心からずれているものがある（以下では、偏芯ディスクと称する。）。また、図１（Ｂ）、図１（Ｃ）に示すようにディスクの内周に対し外周が反っているものがある。また、これらの態様をいずれも有するディスクも存在する。

粗悪なディスクにデータを記録した場合、仮にトラックに追従制御（トラッキングサーボ制御と称する）して、全部のトラックにデータを記録できたとしても、光ディスク上にピットを適正に形成できない場合があった。このような場合、多少のピット形状が適正でなくても、誤り訂正技術により訂正できる。

一方、著作権上の観点からコピーが１回に制限されているコピーワンスのディスクがある。このようなディスクをいったん、ハードディスク等にコピーすると、光ディスクへの２度目のコピーはできず、移動しかできない。したがって、孫ディスクへのデータの記録が終了すると、適正に記録できたとみなして、元のデータを消去していた。

特許文献１は、第１の記憶装置から、第２の記憶装置にデータを移動する場合に記録品位結果等をユーザに報知するデータ処理装置が開示されている。
特開２００５−３５３１８０公報

しかしながら、ディスクのデータの読み取りの誤りが一定の限度を超えると、誤り訂正ができず読み取りエラーになる場合があった。特に、光ディスクにデータを移動する場合には、問題が生じていた。すなわち、光ディスクに適正に記録できなかった場合でも、光ディスク装置は、元データを消去することがあった。そうすると、特に、コピーワンスのディスクのコンテンツをハードディスクに移動した後に、光ディスクに移動する場合には、コンテンツを移動後、光ディスクを読み取れない場合には、実質上、移動したコンテンツを完全に使用できなくなる問題があった。

本発明は、このような問題にかんがみ、粗悪ディスクをより確実に判定して確実にテータを移動またはコピーすることができるディスク装置を提供することを目的とする。

本発明のディスク装置は、前記課題を解決するために以下の構成を備えている。

（１）光ディスク装置本体にセットされている光ディスクにレーザ光を照射して、前記光ディスクにデータを記録したり、前記光ディスクに記録されたデータを読み取るＰＵ（Pick-Up）ヘッドと、
前記光ディスクに記録するデータ形式にコード化するデータ処理部と、を備える光ディスク装置において、
前記ＰＵヘッドを用いて、前記光ディスクで反射したレーザ光の強度に基づいて、前記光ディスクのゆがみの程度を判定する外形品質判定手段と、
個々の光ディスクにデータを記録する際の記録用パラメータを記憶する記録用パラメータ記憶部と、
前記ＰＵヘッドを用いて前記光ディスクの一部にテスト記録を行い、前記光ディスクにデータを記録するに最適な前記レーザ光の記録パワーを測定するＯＰＣ（Optimum Write Power Control）を、内周側の所定の第１領域とそれよりも外側の第２領域で行うＯＰＣ手段と、
以下の（Ａ）〜（Ｃ）のいずれかの場合、すなわち、
（Ａ）前記光ディスクユニットを用いて前記光ディスクを読み取った結果、前記ディスクに対応する記録用パラメータが前記記録用パラメータ記憶部に記憶されていない場合、
（Ｂ）前記外形品質判定手段が光ディスクのゆがみの程度が所定範囲を超えていると判定した場合、
（Ｃ）前記ＯＰＣ手段が測定した前記光ディスクの最適な記録パワーが、前記第１、第２の領域での値の差が所定の閾値を越えている場合、
のいずれかの場合には前記光ディスクが粗悪な光ディスクと判定するディスク判定手段と、を備える。

この構成では、（Ａ）〜（Ｃ）の場合には、粗悪な光ディスク（記録を正常に行えない可能性が高い光ディスク）と判定する。（Ａ）では、前記ディスクに対応する記録用パラメータが前記記録用パラメータ記憶部に記憶されていない場合、例えば、光ディスク装置が記憶するライトストラテジーに対応しない製造者ＩＤ（identification）が記録されたディスク等を粗悪ディスクと判定する。このように判定した場合、装置にセットした光ディスクに対応するライトストラテジーがないので、適切にピットを形成できない可能性が高い。そこで、この場合には、粗悪ディスクと判定する。

（Ｂ）光ディスクのゆがみ（たとえば、ディスクに平行な方向の偏芯、またはディスクに垂直な方向の反り、面ぶれ等）の程度が所定範囲を超えている場合には、たとえストラテジーが適正であっても、トラッキングサーボ制御ができなかったり、トラッキングサーボ制御できたとしても、トラックへの追従の精度または信頼性が低下して、ピットが適正に形成できない可能性が高い。そこで、このようなディスクを粗悪ディスクと判定する。

（Ｃ）では、前記ＯＰＣ手段が前記第１、第２の領域で前記光ディスクの最適な記録パワーを測定し、その測定した値の差が所定の閾値を越えている場合、実際に記録する場合の最適な条件は、ＯＰＣを行って得られた最適値から異なる可能性が高い。そこで、このようなディスクを粗悪ディスクと判定する。

（Ａ）〜（Ｃ）のように判定しているので、粗悪ディスクをより確実に判定できる。

（２）前記ディスク判定手段は、前記光ディスクが粗悪な光ディスクと判定した場合には、その旨を報知する報知手段を備える。

粗悪ディスクである旨を報知するので、ユーザは、光ディスクに誤ってデータを記録して、読み取りができないなどの問題を未然に防ぐことができる。

（３）前記外形品質判定手段は、前記ディスクの外周から内側へ段階的に移動した位置Ｐ１〜Ｐｎ（ｎは整数）で前記光ディスクのゆがみの程度を判定し、前記光ディスクのゆがみの程度が、前記所定範囲に収まるような位置Ｐｋ（ｋは１〜ｎのいずれか）を探索し、
前記ＯＰＣ手段は、前記ＯＰＣを行う前記第１の領域を外側から内側へ段階的に移動させて、前記第１、第２の領域での値の差が前記閾値に収まるような、前記第１の領域を探索し、
前記ディスク判定手段は、前記外形品質判定手段が探索した前記第１の領域と、前記ＯＰＣ手段が探索した位置Ｐｋに基づいて、前記光ディスクの記録可能領域を検出する。

このようにすれば、単に、ディスク全体を粗悪ディスクと判定するのではなくて、より精密に、記録できる領域を検出するので、ディスク全体を無駄にしなくて済む。

（４）前記光ディスク装置に、光ディスクへのデータの記録が指示された場合に、
前記データ処理部は、前記記録が指示されたデータが、前記ディスク判定手段が検出した前記光ディスクの記録可能領域に収まるように、前記データを圧縮する。

この構成では、前記記録が指示されたデータを圧縮して記録可能領域に収まるように記録するので、ディスク全体を無駄にしなくても済む。

（５）前記外形品質判定手段は、前記ＰＵヘッドが照射するレーザ光の強度に基づいて、前記光ディスクのトラックからの垂直、水平方向のずれ量を判定し、前記ずれ量に基づいて、前記光ディスクのトラックに追従させるトラッキングサーボ制御を行い、当該制御を行っている間の前記ずれ量に基づいて前記光ディスクのゆがみの程度を判定するようにしてもよい。

（６）前記外形品質判定手段は、前記ＰＵヘッドの照射位置を通過したトラックの数を測定した結果に基づいて、前記光ディスクのゆがみの程度を判定するようにしてもよい。

この発明によれば、記録を正常に行えない可能性が高い粗悪ディスクかどうかを記録前に判定できる。

以下、図２を用いて本発明の実施形態である光ディスク装置について説明する。

図２は、第１実施形態の光ディスク装置１の構成の一部を示すブロック図である。光ディスク装置１は、スピンドルモータ２と、ピックアップヘッド３（以下「ＰＵヘッド３」という。）と、ＲＦ信号増幅回路４０と、ＴＥ／ＦＥ生成部４１と、駆動回路４２、ウォブル検出回路５、記録／再生処理回路６、レーザパワー制御回路６２、レーザ駆動回路６３、デコーダ６５、制御部７を備えている。

ディスク１００は、光ディスクであり、例えば、ＣＤ、ＤＶＤ等である。スピンドルモータ２は、ディスク１００を回転させる。

ＰＵヘッド３は、公知の光ディスク装置と同様に、ピックアップレンズ３０、レーザダイオード３１、ビームスプリッタ３２、フォトディテクタ３３、コリメータレンズ（不図示）などを備え、ディスク１００にレーザ光を照射しその反射光を検出する。

また、ＰＵヘッド３は、２つのアクチュエータ３４を備えている。即ち、ＤＶＤ１００に照射するレーザ光の焦点をその光軸方向に移動させるフォーカシングアクチュエータと、前記レーザ光をＤＶＤ１００の半径方向に移動させるトラッキングアクチュエータを備えている。

ビームスプリッタ３２は、レーザダイオード３１の出射光とＤＶＤ１００で反射した光とを分ける。フォトディテクタ３３は、例えば４分割された受光素子で構成できる。フォトディテクタ３３は、ＤＶＤ１００からの反射光を判定する。コリメータレンズは、点光源であるレーザダイオード３１の出射光を平行光に変換する。

ＰＵヘッド３の作用は以下のとおりである。すなわち、レーザダイオード３１が、レーザ駆動回路６３の駆動により、所定の強度でレーザ光を出力する。このレーザ光はコリメータレンズを経てビームスプリッタ３２で反射して、ピックアップレンズ３０でＤＶＤ１００表面に集光される。また、このレーザ光はＤＶＤ１００で反射し、この反射光は４つのフォトディテクタ３３で判定され、フォトディテクタ３３はそれぞれ判定信号を出力する。

ＲＦ信号増幅回路４０は、フォトディテクタ３３で検出された４つの判定信号を全加算したＲＦ信号を増幅する。このＲＦ信号はＤＶＤ１００上のデータを読み取るために用いる。

ＴＥ／ＦＥ生成部４１は、光フォトディテクタ３３から出力された信号に基づいて、トラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥを生成し、ＴＥ、ＦＥを駆動回路４２に出力する。ここで、ＴＥ、ＦＥは、トラック位置との水平、垂直方向の誤差を表すエラー信号である。駆動回路４２はＴＥ、ＦＥに基づいてアクチュエータ３４を駆動する駆動信号を生成する。アクチュエータ３４は、駆動信号を入力して、レンズ３０を移動させる。これらの作用により、レーザ光をディスク１００のトラックに追従させることができると共に、レンズ３０のフォーカスをディスク１００の表面に合わせることができる。

ここで、トラッキングエラー信号ＴＥは、ディスクのトラックの中心と前記ピックアップヘッドから照射されたレーザ光の照射位置とのずれ量を示すエラー信号であり、ディスク１００に対し水平方向のずれ量を示している。フォーカスエラー信号ＦＥは、ディスクの記録面と前記ピックアップヘッドから照射されたレーザ光の集光位置とのずれ量を示すエラー信号であり、ディスク１００に対し垂直方向のずれ量を示している。

ＴＥ／ＦＥ生成部４１によるトラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥの生成については、公知の方法を用いればよい。例えば、フォーカスエラー信号については、フォトディテクタ３３の４つの判定信号を右回りにＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄとして、ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）の演算により算出することができる。

なお、フォトディテクタ３３は、必ずしも４分割されていることに限定されるものではなく、ディスク１００の回転時に、ディスク１００の水平方向、垂直方向のずれ量の振幅を得ることができればよい。例えば、トラッキングエラーを判定するのに、３ビーム法を用いる場合には、ディスク１００のトラック方向の両側に副ビームを照射するから、フォトディテクタ３３を３つの受光部に分割すればよい。また、プッシュプル法を用いる場合は、フォトディテクタ３３を２つの受光面に分割すればよい。

ウォブル検出回路５は、ＰＵヘッド３のフォトディテクタ３３で判定した差動信号の入力を受けて、ウォブル信号を抽出する。ウォブル検出回路５は、ウォブル信号を記録／再生処理回路６に出力する。ここで、ウォブル（wobble）は、ＤＶＤ１００の案内溝に設けられた蛇行した形状をしており、ウォブル信号は、ディスク上にデータを記録する場合の記録する位置を示す。ウォブル信号は記録用クロックを生成し、ディスクの回転数を制御するために使用する。このウォブル検出回路５としては、既知のウォブル判定のための回路構成を用いればよく、ここでは説明を除く。また、ディスクの回転数、データを記録する位置を制御する方法は、ウォブル以外にも、ＬＰＰ（Land Pre-Pit）等がある。ディスクの回転数、データを記録する位置を制御できる方法であれば、ウォブルに限られない。

記録／再生処理回路６は、ＲＦ信号からＤＶＤ１００のデータ記録面の記録トラックによる反射率の変化を検出する。再生時には、ＲＦ信号増幅回路４０から出力されたデータに対して、記録／再生処理回路６は、ＤＶＤ１００上の記録トラックの有無に従った２値化を行う。これにより、ＤＶＤ１００に記録されているデータの読取を行う。この再生回路としては、一般的なデータ再生のための回路構成を用いればよい。また、記録／再生処理回路６は、制御部７から指示されたキャラクタや画像のＯＳＤ（On-Screen Display）を表示器１０５に出力するＯＳＤ回路を備え、各種の光ディスク装置１の状態を表示する。

レーザパワー制御回路６２は、レーザの強度を制御する。レーザ駆動回路６３は、レーザダイオード３１に駆動電流を出力する。ＤＶＤ１００のデータ記録時には、レーザ駆動回路６３が、データ記録および消去するのに必要なレーザ強度の信号をレーザダイオード３１に与えるようにレーザ駆動回路６３の出力電流を制御する。読み出し時には、レーザ駆動回路６３が、記録時の強度より弱い信号をレーザダイオード３１に与えるようレーザ駆動回路６３の出力電流を制御する。デコーダ６５は、記録／再生処理回路６で処理されたＲＦ信号を再生信号にデコードする。また、図示しないＤ／Ａ変換器を通して、表示器１０５に映像信号を出力する。ただし、デジタル入出力端子を備えた表示器に対して、映像信号を出力する場合には、Ｄ／Ａ変換器を通す必要はない。

ＨＤ６６（ハードディスク）は、記憶装置である。ＨＤＤ６７は、ＨＤ６６をドライブして、データの記録、読み出しを行う。たとえば、ＨＤ６６のデータをディスク１００にダビングするときは、ＨＤ６６のデータを読み出し、回路６，６２、６３がこの読み出したデータを処理し、ＰＵヘッド３がＨＤ６６のデータをディスク１００に記録する。

制御部７は、図示していないマイコン（ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭなどを含む）、またはマイコンを含むシステムＩＣで構成され、各種制御や信号処理を行う。制御部７は、スピンドルモータ２の駆動部、レーザパワー制御回路６２、ＲＦ信号増幅回路４０、ＴＥ／ＦＥ生成部４１、ウォブル検出回路５など、光ディスク装置１の各部を制御する。また、制御部７内のＲＯＭは、各種の処理７０〜７４を実行するサブルーチンを記憶している。制御部７は、これらのプログラムを呼び出して実行させる。粗悪ディスク判定処理７０は、処理７１〜７３のサブ処理を用いて、装置１にセットしたディスク１００が粗悪ディスクか判定する処理である。処理７０〜７４の詳細については後述する。

操作部７９は、リモコンおよびリモコン受光部、または操作子で構成し、制御部７を操作するための入力をユーザから受け付ける。

トレイ８は、図示しない駆動部を備え、制御部７の指示を受けて、ディスク１００を装置１に出し入れする。

表示器１０５、スピーカ１０６は、それぞれ、光ディスク装置１の外部にあり、記録／再生処理回路６で生成した映像信号に基づいて、映像、音声を出力する。スピーカ１０６は、表示器１０５に付属のものでもよい。

なお、以上の図２の説明では、機能ごとに分離したブロックで説明したが、実装上は、これらの機能のうち、いずれかが複数の機能が一体となったシステムＩＣで構成してもよいし、一つのブロックを複数に分離して構成してもよい。

以下、図３〜図９を用いて、処理７０〜７４について説明する。

図３を用いて、ストラテジー７５のデータ形式の例を説明する。図３に示すように、制御部７のＲＯＭは、製造者ＩＤ、記録パワー、記録パルス幅が関連付けられたデータのセットを複数、記憶している。ディスク１００には、製造者ＩＤが記録されているから、制御部７は、ディスク１００に記録された製造者ＩＤを介して、ディスク１００に対応する記録パワー、記録パルス幅を得ることができる。

図４を用いて、ストラテジー確認処理７１のフローについて説明する。
ＳＴ１で、ディスク１００の製造者ＩＤをディスク１００から読み取る。例えば、ディスク１００がＤＶＤ−Ｒ等であれば、リードイン領域に記録されている。
ＳＴ２で、製造者ＩＤに対応するストラテジー７５を制御部７内のＲＯＭから検索する。

なお、制御部７のＲＯＭは、本発明の「記録用パラメータ記憶部」に相当する。ストラテジー７５を電源オフのときでも継続的に記憶できるのであれば、「記録用パラメータ記憶部」は、制御部７の内部でなくても、制御部７が直接的にまたは間接的にアクセスできればよい。

ＳＴ３で、ＳＴ２で検索した結果が存在する場合には（ＳＴ３のＹＥＳ）、制御部７は、製造者ＩＤに対応するストラテジー７５が存在すると判定する。検索結果が存在する場合には（ＳＴ３のＹＥＳ）、制御部７は、製造者ＩＤに対応するストラテジー７５が存在すると判定する。検索結果が存在しない場合には（ＳＴ３のＮＯ）、ＳＴ５に移動する。ＳＴ５で、制御部７は、製造者ＩＤに対応するストラテジー７５が存在しないと判定する。ＳＴ４、ＳＴ５の後、図４のフローは、終了する。

次に、図５、図６のフローを用いて、外形品質判定処理７２について説明する。図５、図６は、外形品質判定処理７２の実施例１、実施例２を示している。

図５の実施例１について、ＳＴ１１では、スピンドルモータ２がディスク１００を回転させると共に、図示しないスレッドモータがＰＵヘッド３を所定の半径位置（例えば、振れが比較的大きい最外周の位置）へ移動させる。ＳＴ１２では、ＰＵヘッド３をディスク１００上のトラックに追従制御させる、トラッキングサーボ制御を試行する。この制御において、ＲＦ信号増幅回路４０、ＦＥ／ＴＥ生成部４１、駆動回路４２を用いる。

ＳＴ１３で、ＳＴ１２で行ったトラッキング制御が可能か判断する。この制御が可能であれば（ＳＴ１３のＹＥＳ）、ＳＴ１４に移動する。この制御が可能でなければ（ＳＴ１３のＮＯ）、ＳＴ１７で偏芯または反りの程度が所定範囲を超えていると判定する。その後、図５のフローは終了する。

ＳＴ１４で、サーボ制御時のＴＥ信号、ＦＥ信号の振れ幅（以下、これらまたはこれらに基づいて演算した値を総称してサーボ振れ量と称する。）を検出する。ここで、ＴＥ信号の振れ幅は、ディスク１００に平行方向の振れ幅を表わしている。したがって、ＴＥ信号の振れ幅に基づいて、図２（Ａ）に示すような偏重心ディスク（ディスク１００の中心１０１から、中心孔１０２がずれているディスク）かどうかを判定できる。また、ＦＥ信号の振れ幅の方向は、ディスク１００に垂直な方向である。したがって、この振れ幅は、面ぶれや、図２（Ｂ）に示すような反りを表わしている。

なお、以上のサーボ振れ量により検出できるディスクの偏芯、面振れ、反り等を総称して、光ディスクのゆがみと称する。これらは、本発明の「光ディスクのゆがみ」に相当る。実施例２も同様であるが、実施例２では主として、ディスク１００に平行方向の振れを検出できる。

ＳＴ１５では、ＳＴ１４で判定したサーボ振れ量が閾値以内かどうか判断する。この判断は、例えば、サーボ制御時のＴＥ信号、ＦＥ信号の振れ幅それぞれについて、個別に閾値を設けて判断してもよいし、これらの積等の演算をしたものと閾値と比較してもよい。また、ＴＥ信号、ＦＥ信号の振れ幅と何らかの閾値との対比で比較できればよい。

ＳＴ１５でサーボ振れ量が閾値以内であれば（ＳＴ１５のＹＥＳ）、ＳＴ１６で、偏芯または反りの程度が所定範囲内と判定する。閾値を越えていれば（ＳＴ１５のＮＯ）、ＳＴ１７で、偏芯または反りの程度が所定範囲を超えていると判定する。

図６の実施例２について、ＳＴ２１で、図示しないスレッドモータがＰＵヘッド３を所定の半径位置（例えば、振れが比較的大きい最外周の位置）へ移動させる。ＳＴ２２では、ＰＵヘッド３が停止した位置で、レーザダイオード３１がディスク１００にレーザの照射を開始する。ＳＴ２３で、スピンドルモータ２は、ディスク１００を回転させる。

なお、ＳＴ２１〜ＳＴ２３の順序はどのようなものでもよいし、同時でもよい。

ＳＴ２４で、ディスク１００が回転している状態で、制御部７は、ディスク１００のトラックを横断するときに判定されるトラック横断パルスの数を数える。トラックを横断するときに、フォトディテクタ３３の出力電圧が変動することから、フォトディテクタ３３の出力の変動を所定の閾値でハイとローに分離して、パルスを生成することができる。例えば、トラック横断パルスは、ＲＦ信号増幅回路４０の出力電圧をパルスに変換する記録／再生処理回路６により生成すればよい。または、フォトディテクタ３３の出力の変動を所定の閾値でハイとローに分離して、パルスを生成する回路を設けてもよい。

ＰＵヘッド３を停止した状態で偏芯したディスクを回転させると、ＰＵヘッド３が照射しているディスク１００上の位置は、トラックを横断することになる。偏芯の度合いが大きいほどトラック横断パルスの数が多くなる。ＳＴ２３では、１周分のトラック横断パルスの数を数える。単に１周測定してもよいし、複数周を測定して平均してもよい。

ＳＴ２４で、１周当たりのトラック横断パルスが所定範囲内かどうか判定する。ＳＴ２５で１周当たりのトラック横断パルスが所定範囲内であれば（ＳＴ２５のＹＥＳ）、ＳＴ２６で、偏芯または反りの程度が所定範囲内と判定する。閾値を越えていれば（ＳＴ２５のＮＯ）、ＳＴ２７で、偏芯または反りの程度が所定範囲を超えていると判定する。

次に図７のフロー図を用いて、装置１のＯＰＣ処理７３について説明する。図７（Ｂ）は、図７（Ａ）のＳＴ３２またはＳＴ３５のサブフローである。図７（Ａ）のＳＴ３１で、内周側のリードイン領域内のＰＣＡ（Power Calibration Area）に移動する。ＳＴ３２で、β測定処理を行う。このβは、ＯＰＣを行うときの指標となる値であり、所定のレーザ強度で８/１６変換され記録されたピットを読み取った時の非対称性を表わす値である（例えば、ＥＣＭＡ３５９のＡｎｎｅｘＨ等参照。）。

ＳＴ３２は、図７（Ｂ）のサブフローで構成される。ＳＴ３２１で、レーザパワーを所定の値に設定する。ＳＴ３２１〜ＳＴ３２３では、このレーザパワーの設定値を複数の段階に設定して、これらのステップを繰り返し実行する。ＳＴ３２２では、ＳＴ３２１で設定したレーザパワーでテスト記録を行う。ＳＴ３２３では、βを計算する。βは、ＲＦ信号のＨｉをＡ１、ＬＯＷをＡ２（Ａ２＜０）として、β＝（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）で表わせる。βが最小の場合に最適値となる。ＳＴ３２４で、以上のＳＴ３２１〜ＳＴ３２３を繰り返し、βが最小となるレーザパワーを選択する。

ＳＴ３４で、最外周側の所定位置へ移動する。ＳＴ３５で、ＳＴ３２と同様、β測定処理を行う。ＳＴ３６で、βが最小となる記録パワーを探索する。なお、ＳＴ３２と、ＳＴ３６で探した記録パワーが大きく異なる場合には、ディスク１００が粗悪ディスクであると判断できる。

次に図８のフロー図を用いて、装置１の粗悪ディスク判定処理７０について説明する。ＳＴ４１で、図４で示したストラテジー確認処理７１を行う。ＳＴ４２で、ストラテジーがあるかどうか判定し、ストラテジーがある場合には（ＳＴ４２のＹＥＳ）、ＳＴ４３に移動する。ストラテジーがない場合には（ＳＴ４２のＮＯ）、ＳＴ４８に移動してセットしたディスク１００が粗悪ディスクであると判定し、その後、図８のフローは終了する。

ＳＴ４３で、図５、図６で示した外形品質判定処理７２のうちいずれかを行う。ＳＴ４４で、偏芯または反りの程度が所定範囲を越えているかどうか判定する。この所定範囲を超えている場合には（ＳＴ４４のＹＥＳ）、ＳＴ４８に移動してセットしたディスク１００が粗悪ディスクであると判定し、その後、図８のフローは終了する。偏芯または反りの程度が所定範囲内であれば（ＳＴ４４のＮＯ）、ＳＴ４５に移動する。

ＳＴ４５で、図７で示したＯＰＣ処理７３を行う。ＳＴ４６で、ＯＰＣの値が外周、内周で差が第２の閾値を超えている場合には（ＳＴ４６のＹＥＳ）、ＳＴ４８で、粗悪ディスクであると判定し、その後、図８のフローは終了する。ＳＴ４２、ＳＴ４４、ＳＴ４６の判定がいずれもＮＯであれば、粗悪ディスクでないと判定し、図８のフローは終了する。

次に図９のフロー図を用いて、装置１の粗悪ディスク処理７４について説明する。この処理は、図８のＳＴ４８に分岐した場合の処理を表わしている。ＳＴ５１で、「このディスクは粗悪ディスクであり、記録ができないか、記録できても読み取れないおそれがあります」旨のＯＳＤ（On-Screen Display）を表示器１０５に出力する。
ＳＴ５２で、記録するかどうかのキー入力をはい、いいえの２者択一で受け付ける。ＳＴ５３で、操作部７９から記録する旨のキー入力を受けた場合には（ＳＴ５３のＹＥＳ）、ＳＴ５４で、制御部７は、記録の開始を指示する。

例えば、この記録がＨＤ６６に記録された動画のダビングであれば、ＨＤＤ６７は、ＨＤ６６からデータを読み取り、記録／再生処理回路６、回路６２、６３を介してディスク１００に映像信号を記録する。さらにＨＤ６６に記録されたデータが著作権上コピーワンスの制限がかかったデータであれば、ＨＤＤに記録された時点で１度コピーされているので、さらに、ディスク１００に記録することができないが、ディスク１００にデータを移動することは可能である。そこで、ディスク１００に記録した後、ＨＤ６６からデータを削除する。

ＳＴ５３で、操作部７９から記録しない旨のキー入力を受けた場合には（ＳＴ５３のＮＯ）、ＳＴ５５で、ディスクトレイ８の駆動部は、ディスク１００を排出する。

図１０、図１１を用いて以上の実施形態の応用にかかる第２の実施形態について説明する。第２実施形態では、図２の構成をそのまま用いることができるが、制御部７が行う粗悪ディスク検出処理７０、粗悪ディスク処理７４が異なる。図１０、図１１は、それぞれ、第１実施形態の図８、図９にフローを付加したものであり、図８、図９と同一の機能のステップには、同一のステップ番号を付している。

第２実施形態では、図８のＳＴ４４（図５のＳＴ１７）で「偏芯または反りの程度が所定範囲を超えていると判定」した場合（ＳＴ４４のＹＥＳ）の処理が異なる。最外周から所定間隔ごとに（必ずしも一定間隔でなくてもよい。）内側に移動して（ＳＴ４４２、ＳＴ４４１のＮＯ）、ＳＴ１６「偏芯または反りの程度が所定範囲内と判定」する範囲を探索する。ＳＴ４４１では、このように内側に移動した結果、最内周側に（ディスクにデータを記録できる領域内で最内周側、以下、「最内周側」というときは、同じ。）移動したかどうか判断する。この処理は、最内周側に到達するまで（ＳＴ４４１がＮＯである限り）繰り返す。最内周側に到達すれば（ＳＴ４４１のＹＥＳ）、ディスク１００全域にわたり偏芯が大きいディスクであると判定できる。この場合、ＳＴ４８で、粗悪ディスクであると判定する。

粗悪ディスク判定処理７０として図１０の処理を行えば、仮に最外周で「〜超えていると判定」（ＳＴ１７）しても、直ちには図８のＳＴ４４のＹＥＳとならないし、直ちには「〜超えていると判定」（ＳＴ４８）しない。ディスク１００全体が使用できなくなるのではなく、使用できる範囲を探索することができる。

また、第２実施形態では、最外周よりも内周側で「〜超えていると判定」（ＳＴ１７）とすることを解消した場合には、ＳＴ４５０で、図８のＳＴ４５、図７のＳＴ３４で設定する外周側を、ＳＴ４４１、ＳＴ４４２で探索した「所定範囲内と判定」（図５のＳＴ１６）した範囲内の最外周側に設定する。最外周で「〜範囲内と判定」（ＳＴ１６）した場合には、図８のＳＴ４５、図７のＳＴ３４で設定する外周側を、最外周側に設定する。

図１０のＳＴ４６の判定で、ＯＰＣの値が外周、内周で差が大きい場合（ＳＴ４６のＹＥＳ）、ＳＴ４５０で設定した内周側よりも内周側で再度β測定処理を行う（ＳＴ４６２）。ＳＴ４６２のβ測定処理は、最内周側に到達しない限り（ＳＴ４６１のＮＯ）、ＯＰＣの値の外周と内周との差が一定範囲内になるまで、段階的に内周側に移動しながら繰り返し実行される（ＳＴ４６のＹＥＳ）。最内周側に到達すれば（ＳＴ４６１のＹＥＳ）、ＳＴ４８で、粗悪ディスクであると判定する。

ＯＰＣの値が外周、内周で差が一定範囲になれば（ＳＴ４６のＮＯ）、ＳＴ４７１で、記録できる範囲を判定し、フローは終了する。ここで、記録できる範囲とは、内周側から、ＳＴ４６２で最終的にβ測定処理を行った位置の内側まである。

以上、図１０の処理により、ＳＴ４６２で最終的にディスク１００のうち部分的に使用できる範囲を判定できる。

図１１を用いて、第２実施形態の粗悪ディスク処理（第１実施形態の図９の処理に対応する）について説明する。この処理は、ディスク１００のうち、ＳＴ４７１で記録できる範囲を判定した場合に実行する。なお、すべての領域が使用できないと判定した場合には、図９のフローを本実施形態に適用することができる。

第２実施形態では、ＳＴ５１１で「光ディスク１００のうち部分的にデータを記録できる」旨のＯＳＤを出力する。また、ＳＴ５２１で、データを圧縮して記録するかどうかのキー入力を操作部７９から受け付ける。記録できる領域は、ディスクの全範囲でなく部分的であるから、元のデータのすべてをそのままで記録することができない場合には、データを圧縮して記録するかどうかの承諾をユーザから受け付ける。この圧縮方法としては、可逆的に圧縮してもよいし、映像信号、音声信号ならビットレートを下げて記録してもよい。

ＳＴ５３１で、データを圧縮して記録する旨のキー入力を受け付けた場合には（ＳＴ５３１のＹＥＳ）、ＳＴ５３で、記録ディスク１００のうち記録できる範囲にデータが収まるように、データを圧縮して記録する。ＳＴ５２１で、記録しない旨のキー入力を受け付けた場合には（ＳＴ５３１のＮＯ）、ＳＴ５４で、ディスクトレイ８を駆動してディスク１００を排出する。ＳＴ５３１、ＳＴ５４の後、フローは終了する。

粗悪ディスクの態様を表す図第１実施形態の光ディスク装置の構成を表すブロック図ディスクに記録されたストラテジーのテーブルの内容の例を表すフロー図第１実施形態の光ディスク装置のストラテジー確認処理を表すフロー図第１実施形態の光ディスク装置の外形品質判定処理の実施例１を表すフロー図第１実施形態の光ディスク装置の外形品質判定処理の実施例２を表すフロー図第１実施形態の光ディスク装置のＯＰＣ処理を表すフロー図第１実施形態の光ディスク装置のディスク判定処理を表すフロー図第１実施形態の光ディスク装置のディスク判定処理を表すフロー図第２実施形態の光ディスク装置のディスク判定処理を表すフロー図第２実施形態の光ディスク装置の粗悪ディスク処理を表すフロー図

符号の説明

１−光ディスク装置、２−スピンドルモータ、
３−ＰＵヘッド、３０−ピックアップレンズ、３１−レーザダイオード、
３２−ビームスプリッタ、３３−フォトディテクタ、３４−アクチュエータ、
４０−ＲＦ信号増幅回路、４１−ＦＥ／ＴＥ生成部、４２−駆動回路、
５−ウォブル検出回路、６−記録／再生処理回路、
６２−レーザパワー制御回路、
６３−レーザ駆動回路、６５−デコーダ、７−制御部、
７０−粗悪ディスク判定処理、７１−ストラテジー確認処理、
７２−外形品質判定処理、７３−ＯＰＣ処理、
７４−粗悪ディスク処理、７５−ストラテジー、７９−操作部
８−ディスクトレイ、６６−ＨＤ、６７−ＨＤＤ、
１００−ディスク、１０１−中心、１０２−中心孔、
１０５−表示器、１０６−スピーカ

Claims

光ディスク装置本体にセットされている光ディスクにレーザ光を照射して、前記光ディスクにデータを記録したり、前記光ディスクに記録されたデータを読み取るＰＵ（Pick-Up）ヘッドと、
前記光ディスクに記録するデータ形式にコード化するデータ処理部と、を備える光ディスク装置において、
前記ＰＵヘッドを用いて、前記光ディスクで反射したレーザ光の強度に基づいて、前記光ディスクのゆがみの程度を判定する外形品質判定手段と、
個々の光ディスクにデータを記録する際の記録用パラメータを記憶する記録用パラメータ記憶部と、
前記ＰＵヘッドを用いて前記光ディスクの一部にテスト記録を行い、前記光ディスクにデータを記録するに最適な前記レーザ光の記録パワーを測定するＯＰＣ（Optimum Write Power Control）を、内周側の所定の第１領域とそれよりも外側の第２領域で行うＯＰＣ手段と、
以下の（Ａ）〜（Ｃ）のいずれかの場合、すなわち、
（Ａ）前記光ディスクユニットを用いて前記光ディスクを読み取った結果、前記ディスクに対応する記録用パラメータが前記記録用パラメータ記憶部に記憶されていない場合、
（Ｂ）前記外形品質判定手段が光ディスクのゆがみの程度が所定範囲を超えていると判定した場合、
（Ｃ）前記ＯＰＣ手段が測定した前記光ディスクの最適な記録パワーが、前記第１、第２の領域での値の差が所定の閾値を越えている場合、
のいずれかの場合には前記光ディスクが粗悪な光ディスクと判定するディスク判定手段と、を備える光ディスク装置。
前記ディスク判定手段は、前記光ディスクが粗悪な光ディスクと判定した場合には、その旨を報知する報知手段を備える請求項１に記載の光ディスク装置。
前記外形品質判定手段は、前記ディスクの外周から内側へ段階的に移動した位置Ｐ１〜Ｐｎ（ｎは整数）で前記光ディスクのゆがみの程度を判定し、前記光ディスクのゆがみの程度が、前記所定範囲に収まるような位置Ｐｋ（ｋは１〜ｎのいずれか）を探索し、
前記ＯＰＣ手段は、前記ＯＰＣを行う前記第１の領域を外側から内側へ段階的に移動させて、前記第１、第２の領域での値の差が前記閾値に収まるような、前記第１の領域を探索し、
前記ディスク判定手段は、前記外形品質判定手段が探索した前記第１の領域と、前記ＯＰＣ手段が探索した位置Ｐｋに基づいて、前記光ディスクの記録可能領域を検出する請求項１〜２のいずれかに記載の光ディスク装置。
前記光ディスク装置に、光ディスクへのデータの記録が指示された場合に、
前記データ処理部は、前記記録が指示されたデータが、前記ディスク判定手段が検出した前記光ディスクの記録可能領域に収まるように、前記データを圧縮する請求項１〜３のいずれかに記載の光ディスク装置。
前記外形品質判定手段は、前記ＰＵヘッドが照射するレーザ光の強度に基づいて、前記光ディスクのトラックからの垂直、水平方向のずれ量を判定し、前記ずれ量に基づいて、前記光ディスクのトラックに追従させるトラッキングサーボ制御を行い、当該制御を行っている間の前記ずれ量に基づいて前記光ディスクのゆがみの程度を判定する請求項１〜３のいずれかに記載の光ディスク装置。
前記外形品質判定手段は、前記ＰＵヘッドの照射位置を通過したトラックの数を測定した結果に基づいて、前記光ディスクのゆがみの程度を判定する請求項１〜４のいずれかに記載の光ディスク装置。