JPH1139687A - 光記録方法 - Google Patents
光記録方法Info
- Publication number
- JPH1139687A JPH1139687A JP9192328A JP19232897A JPH1139687A JP H1139687 A JPH1139687 A JP H1139687A JP 9192328 A JP9192328 A JP 9192328A JP 19232897 A JP19232897 A JP 19232897A JP H1139687 A JPH1139687 A JP H1139687A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- power
- error rate
- test
- optical recording
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】
【課題】 テスト記録において、正常に記録がなされな
かった箇所が、記録パワー条件に起因するものか、媒体
の欠陥に起因するものかを判別し、最適な記録パワー条
件を得る。 【解決手段】 製造者領域７の記録情報を読み出して製
造者領域７での記録パワーを求める。この記録パワーを
あるレベルのパワーに変更してテスト領域８にセクタに
テストパターンを記録、再生し、エラーレートを測定す
る。次に、録パワーを種々に変化させてテスト記録を行
った後再生し、そのエラーレートの測定結果からエラー
レートが良好なパワーが得られたときは良好なテスト領
域と判断する。一方、エラーレートが良好なパワーが得
られなかったときは別のセクタについて記録パワーを種
々に変化させてテスト記録を行い、このテスト記録が正
常に行われなかったときは初めのセクタについて良好な
パワーが得られなかった理由が媒体自体の欠陥に起因す
るものと判断する。
かった箇所が、記録パワー条件に起因するものか、媒体
の欠陥に起因するものかを判別し、最適な記録パワー条
件を得る。 【解決手段】 製造者領域７の記録情報を読み出して製
造者領域７での記録パワーを求める。この記録パワーを
あるレベルのパワーに変更してテスト領域８にセクタに
テストパターンを記録、再生し、エラーレートを測定す
る。次に、録パワーを種々に変化させてテスト記録を行
った後再生し、そのエラーレートの測定結果からエラー
レートが良好なパワーが得られたときは良好なテスト領
域と判断する。一方、エラーレートが良好なパワーが得
られなかったときは別のセクタについて記録パワーを種
々に変化させてテスト記録を行い、このテスト記録が正
常に行われなかったときは初めのセクタについて良好な
パワーが得られなかった理由が媒体自体の欠陥に起因す
るものと判断する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光磁気ディスクの
記録方法に関し、特にテスト記録において記録が正常に
なされなかったとき、その原因が記録パワーの条件に起
因するものか、媒体自体の欠陥に起因するものかを判別
する光記録方法に関する。
記録方法に関し、特にテスト記録において記録が正常に
なされなかったとき、その原因が記録パワーの条件に起
因するものか、媒体自体の欠陥に起因するものかを判別
する光記録方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、高密度、大容量、高いアクセス速
度、ならびに高い記録および再生速度を含めた種々の要
求を満足する光学的記録再生方法、それに使用される記
録装置、再生装置および記録媒体を開発しようとする努
力がなされている。
度、ならびに高い記録および再生速度を含めた種々の要
求を満足する光学的記録再生方法、それに使用される記
録装置、再生装置および記録媒体を開発しようとする努
力がなされている。
【０００３】広範囲な光学的記録再生方法の中で、光磁
気記録再生方式は、情報を記録した後、消去することが
でき、再び新たな情報を記録することが繰り返し何度も
可能であるという優れた特長を有することから、最も実
用性に満ちた再生方式といえる。
気記録再生方式は、情報を記録した後、消去することが
でき、再び新たな情報を記録することが繰り返し何度も
可能であるという優れた特長を有することから、最も実
用性に満ちた再生方式といえる。
【０００４】この光磁気記録再生方法で使用される光磁
気記録ディスク（媒体）は、記録を残す層として１層ま
たは多層からなる磁性膜を有する。磁性膜は、記録密度
が高く、また信号強度も高い垂直磁化膜（ perpendicul
ar magnetic layer or layers）が開発され、使用され
ている。このような磁化膜は、例えばアモルファスのＧ
ｄＦｅやＧｄＣｏ、ＧｄＦｅＣｏ、ＴｂＦｅ、ＴｂＣ
ｏ、ＴｂＦｅＣｏなどからなる。垂直磁化膜は、一般に
同心円状または螺旋状のトラックを有しており、このト
ラックの上に情報が記録される。
気記録ディスク（媒体）は、記録を残す層として１層ま
たは多層からなる磁性膜を有する。磁性膜は、記録密度
が高く、また信号強度も高い垂直磁化膜（ perpendicul
ar magnetic layer or layers）が開発され、使用され
ている。このような磁化膜は、例えばアモルファスのＧ
ｄＦｅやＧｄＣｏ、ＧｄＦｅＣｏ、ＴｂＦｅ、ＴｂＣ
ｏ、ＴｂＦｅＣｏなどからなる。垂直磁化膜は、一般に
同心円状または螺旋状のトラックを有しており、このト
ラックの上に情報が記録される。
【０００５】〔マーク形成の原理〕マーク（情報）の形
成においては、レーザーの特徴である空間的および時間
的に優れた凝集性（coherence ）が有利に使用され、レ
ーザー光の波長によって決定される回折限界と殆ど同じ
位に小さいスポットにビームが絞り込まれる。絞り込ま
れた光はトラック表面に照射され、記録膜を熱して記録
膜に直径が１４μｍ以下のマークを形成することにより
情報が記録される。光学的記録においては、理論的に約
１０8 マーク／ｃｍ2 までの記録密度を達成することが
できる。何故ならば、レーザービームはその波長と殆ど
同じ位に小さい直径を有するスポットにまで凝集（ con
centrate ）することができるからである。
成においては、レーザーの特徴である空間的および時間
的に優れた凝集性（coherence ）が有利に使用され、レ
ーザー光の波長によって決定される回折限界と殆ど同じ
位に小さいスポットにビームが絞り込まれる。絞り込ま
れた光はトラック表面に照射され、記録膜を熱して記録
膜に直径が１４μｍ以下のマークを形成することにより
情報が記録される。光学的記録においては、理論的に約
１０8 マーク／ｃｍ2 までの記録密度を達成することが
できる。何故ならば、レーザービームはその波長と殆ど
同じ位に小さい直径を有するスポットにまで凝集（ con
centrate ）することができるからである。
【０００６】光磁気記録においては、レーザービームを
垂直磁化膜の上に絞り込み、それを加熱する。その間、
初期化された向きとは反対の向きの記録磁界Ｈｂを加熱
された部分に外部から印加する。そうすると局部的に加
熱された部分の保磁力Ｈｃ（coersivity ）は減少し、
記録磁界Ｈｂより小さくなる。その結果、その部分の磁
化は、記録磁界Ｈｂの向きに並ぶ。こうして逆に磁化さ
れたマークが形成される。
垂直磁化膜の上に絞り込み、それを加熱する。その間、
初期化された向きとは反対の向きの記録磁界Ｈｂを加熱
された部分に外部から印加する。そうすると局部的に加
熱された部分の保磁力Ｈｃ（coersivity ）は減少し、
記録磁界Ｈｂより小さくなる。その結果、その部分の磁
化は、記録磁界Ｈｂの向きに並ぶ。こうして逆に磁化さ
れたマークが形成される。
【０００７】〔光磁気再生の原理〕光は、光路に垂直な
平面上で全ての方向に通常は発散している電磁場ベクト
ルを有する電磁波である。光が直線偏光に変換され、そ
して垂直磁化膜に照射されたとき、光はその表面で反射
されるかまたは垂直磁化膜を透過する。このとき、偏光
面は磁化の向きにしたがって回転する。この回転する現
象は、磁気カー（ kerr ）効果または磁気ファラデー
（ Faraday ）効果と呼ばれる。
平面上で全ての方向に通常は発散している電磁場ベクト
ルを有する電磁波である。光が直線偏光に変換され、そ
して垂直磁化膜に照射されたとき、光はその表面で反射
されるかまたは垂直磁化膜を透過する。このとき、偏光
面は磁化の向きにしたがって回転する。この回転する現
象は、磁気カー（ kerr ）効果または磁気ファラデー
（ Faraday ）効果と呼ばれる。
【０００８】例えば、もし反射光の偏光面が初期化方向
の磁化に対してθＫ度回転するとすると、記録方向の磁
化に対しては−θＫ度回転する。したがって、光アナラ
イザー（偏光子）の軸をθＫ度傾けた面に垂直にセット
しておくと、初期化方向に磁化されたマークから反射さ
れた光はアナライザーを透過することができない。それ
に対して記録方向に磁化されたマークから反射された光
は、（ｓｉｎ２θＫ）2 を乗じた分がアナライザーを透
過し、ディテクター（光電変換手段）に捕獲される。そ
の結果、記録方向に磁化されたマークは初期化方向に磁
化されたマークよりも明るく見え、ディテクターにおい
て、強い電気信号を発生させる。したがって、このディ
テクターからの電気信号は、記録された情報にしたがっ
て変調されるので、情報が再生されるのである。
の磁化に対してθＫ度回転するとすると、記録方向の磁
化に対しては−θＫ度回転する。したがって、光アナラ
イザー（偏光子）の軸をθＫ度傾けた面に垂直にセット
しておくと、初期化方向に磁化されたマークから反射さ
れた光はアナライザーを透過することができない。それ
に対して記録方向に磁化されたマークから反射された光
は、（ｓｉｎ２θＫ）2 を乗じた分がアナライザーを透
過し、ディテクター（光電変換手段）に捕獲される。そ
の結果、記録方向に磁化されたマークは初期化方向に磁
化されたマークよりも明るく見え、ディテクターにおい
て、強い電気信号を発生させる。したがって、このディ
テクターからの電気信号は、記録された情報にしたがっ
て変調されるので、情報が再生されるのである。
【０００９】〔光強度変調オーバーライト〕しかしなが
ら、従来の光磁気記録では、その記録にレーザー光によ
る熱を用いるため、記録した部分を再記録する場合は一
度消去する必要があった。磁気記録では、消去ぜずに新
しい信号を記録する、いわゆるオーバーライトが可能で
あるのに対し、光磁気記録では再記録に時間がかかる欠
点があった。
ら、従来の光磁気記録では、その記録にレーザー光によ
る熱を用いるため、記録した部分を再記録する場合は一
度消去する必要があった。磁気記録では、消去ぜずに新
しい信号を記録する、いわゆるオーバーライトが可能で
あるのに対し、光磁気記録では再記録に時間がかかる欠
点があった。
【００１０】もっとも、もし記録磁界Ｈｂの向きを必要
に応じて自由に変調することができれば、オーバーライ
トは可能となる。しかしながら、記録磁界Ｈｂの向きを
高速度に変調することは不可能である。例えば、記録磁
界Ｈｂが永久磁石である場合、磁石の向きを機械的に反
転させる必要があるが、磁石を高速で反転させることは
無理である。記録磁界Ｈｂが電磁石である場合にも、大
容量の電流の向きをそのように高速で変調することは難
しい。
に応じて自由に変調することができれば、オーバーライ
トは可能となる。しかしながら、記録磁界Ｈｂの向きを
高速度に変調することは不可能である。例えば、記録磁
界Ｈｂが永久磁石である場合、磁石の向きを機械的に反
転させる必要があるが、磁石を高速で反転させることは
無理である。記録磁界Ｈｂが電磁石である場合にも、大
容量の電流の向きをそのように高速で変調することは難
しい。
【００１１】しかしながら、技術の進歩は著しく、記録
磁界Ｈｂの強度を変調せずに照射する光ビームの強度を
記録すべき２値化情報にしたがい変調するだけで、オー
バーライトが可能な光磁気記録方法と、それに使用され
るオーバーライト可能な光磁気記録媒体と、同じくそれ
に使用されるオーバーライト可能な記録装置が発明さ
れ、特許出願された（特開昭62-175948号＝DE3,619,618
A1=USP5,239,524 ）（以下、先行発明という）。
磁界Ｈｂの強度を変調せずに照射する光ビームの強度を
記録すべき２値化情報にしたがい変調するだけで、オー
バーライトが可能な光磁気記録方法と、それに使用され
るオーバーライト可能な光磁気記録媒体と、同じくそれ
に使用されるオーバーライト可能な記録装置が発明さ
れ、特許出願された（特開昭62-175948号＝DE3,619,618
A1=USP5,239,524 ）（以下、先行発明という）。
【００１２】上記の先行発明では、基本的に垂直磁化可
能な磁性薄膜からなるメモリー層（以下、Ｍ層という）
と垂直磁化可能な磁性薄膜からなる記録層（以下、Ｗ層
という）とを含み、両層は交換結合しており、かつ、室
温でＭ層の磁化の向きは変えずにＷ層の磁化のみを所定
の向きに向けておくことができるオーバーライト可能な
多層光磁気記録媒体を使用する。そして、２値化情報に
したがいパルス変調されたレーザービーム（高レベルＰ
H と低レベルＰL ）で情報をＭ層における磁化の向きで
表現し記録を行う。
能な磁性薄膜からなるメモリー層（以下、Ｍ層という）
と垂直磁化可能な磁性薄膜からなる記録層（以下、Ｗ層
という）とを含み、両層は交換結合しており、かつ、室
温でＭ層の磁化の向きは変えずにＷ層の磁化のみを所定
の向きに向けておくことができるオーバーライト可能な
多層光磁気記録媒体を使用する。そして、２値化情報に
したがいパルス変調されたレーザービーム（高レベルＰ
H と低レベルＰL ）で情報をＭ層における磁化の向きで
表現し記録を行う。
【００１３】Ｍ層とＷ層は、一般に希土類金属と遷移金
属の合金で構成される。交換結合力は、遷移金属の副格
子磁化どうし、希土類金属の副格子磁化どうしを揃える
方向に働く。この媒体は、初期化手段によってＷ層の磁
化の向きを一方向に揃えることができる。しかも、その
時、Ｍ層は磁化の向きは反転せず、さらに一旦、一方向
に揃えられたＷ層の磁化の向きは、Ｍ層からの交換結合
力を受けても反転せず、逆にＭ層の磁化の向きは、Ｗ層
からの交換結合力を受けても反転しない。そして、Ｗ層
は、Ｍ層に比べて低い保磁力Ｈｃと高いキユリー点Ｔｃ
をもつ。
属の合金で構成される。交換結合力は、遷移金属の副格
子磁化どうし、希土類金属の副格子磁化どうしを揃える
方向に働く。この媒体は、初期化手段によってＷ層の磁
化の向きを一方向に揃えることができる。しかも、その
時、Ｍ層は磁化の向きは反転せず、さらに一旦、一方向
に揃えられたＷ層の磁化の向きは、Ｍ層からの交換結合
力を受けても反転せず、逆にＭ層の磁化の向きは、Ｗ層
からの交換結合力を受けても反転しない。そして、Ｗ層
は、Ｍ層に比べて低い保磁力Ｈｃと高いキユリー点Ｔｃ
をもつ。
【００１４】上記先行発明の記録方法によれば、記録媒
体は、記録前までに初期化手段によりＷ層の磁化の向き
だけが一方向に揃えられる。初期化手段は、外部からの
磁界を用いる場合もあるし、媒体自体に初期化手段を持
たせる場合もある。その上で、２値化情報にしたがいパ
ルス変調されたレーザービームが媒体に照射される。レ
ーザービームの強度は、高レベルＰH と低レベルＰL が
ある。この低レベルＰL は、再生時に媒体に照射する再
生レベルＰR よりも高い。また、この時レーザービーム
が照射される媒体部分には、記録磁界Ｈｂが印加され
る。初期化された媒体は、低レベルＰL のレーザービー
ムの照射を受けると、媒体の温度が上昇してＭ層の保磁
力が非常に小さくなるか極端には零になる。零になるの
は、媒体の温度がＭ層のキユリー点以上であるときであ
る。このとき、Ｗ層の保磁力は十分に大きく、記録磁界
Ｈｂで反転されることはない。そして、Ｗ層からＭ層に
交換結合力が働くため、Ｍ層の副格子磁化は、初期化さ
れたＷ層の副格子磁化にならう。この状態からレーザー
ビームの照射がなくなると、媒体の温度は下降するが、
Ｍ層の副格子磁化の方向は変わらない。
体は、記録前までに初期化手段によりＷ層の磁化の向き
だけが一方向に揃えられる。初期化手段は、外部からの
磁界を用いる場合もあるし、媒体自体に初期化手段を持
たせる場合もある。その上で、２値化情報にしたがいパ
ルス変調されたレーザービームが媒体に照射される。レ
ーザービームの強度は、高レベルＰH と低レベルＰL が
ある。この低レベルＰL は、再生時に媒体に照射する再
生レベルＰR よりも高い。また、この時レーザービーム
が照射される媒体部分には、記録磁界Ｈｂが印加され
る。初期化された媒体は、低レベルＰL のレーザービー
ムの照射を受けると、媒体の温度が上昇してＭ層の保磁
力が非常に小さくなるか極端には零になる。零になるの
は、媒体の温度がＭ層のキユリー点以上であるときであ
る。このとき、Ｗ層の保磁力は十分に大きく、記録磁界
Ｈｂで反転されることはない。そして、Ｗ層からＭ層に
交換結合力が働くため、Ｍ層の副格子磁化は、初期化さ
れたＷ層の副格子磁化にならう。この状態からレーザー
ビームの照射がなくなると、媒体の温度は下降するが、
Ｍ層の副格子磁化の方向は変わらない。
【００１５】一方、高レベルＰH のレーザービームの照
射を受けると、媒体の温度は低レベルＰL のレーザービ
ーム照射時よりも上昇し、Ｍ層のキュリー点を超えＭ層
の保磁力は零となり、Ｗ層の保磁力は非常に小さくなる
か極端には零になる。保磁力の小さくなったＷ層の磁化
は記録磁界Ｈｂにより反転する。レーザービームの照射
がなくなると、媒体の温度は下降し、Ｍ層のキュリー点
以下になると、Ｍ層の磁化は反転したＷ層の副格子磁化
にならって現れる。さらに媒体温度が下がっても、Ｍ層
の副格子磁化の方向は変わらない。この時のＭ層の副格
子磁化の方向は、低レベルＰL のレーザービームを照射
した場合と反対方向を向く。
射を受けると、媒体の温度は低レベルＰL のレーザービ
ーム照射時よりも上昇し、Ｍ層のキュリー点を超えＭ層
の保磁力は零となり、Ｗ層の保磁力は非常に小さくなる
か極端には零になる。保磁力の小さくなったＷ層の磁化
は記録磁界Ｈｂにより反転する。レーザービームの照射
がなくなると、媒体の温度は下降し、Ｍ層のキュリー点
以下になると、Ｍ層の磁化は反転したＷ層の副格子磁化
にならって現れる。さらに媒体温度が下がっても、Ｍ層
の副格子磁化の方向は変わらない。この時のＭ層の副格
子磁化の方向は、低レベルＰL のレーザービームを照射
した場合と反対方向を向く。
【００１６】以上のように、低レベルＰL と高レベルＰ
H のレーザービーム照射により、元のＭ層の磁化の向き
には依存せずに、Ｍ層の磁化方向が決定されるため、Ｍ
層を再記録前に消去する必要がなくなり、オーバーライ
トが可能となる。なお、この光変調オーバーライト方式
に用いられる媒体は、Ｍ層とＷ層を含む多層構造を有す
る。Ｍ層は室温で保磁力が大きく磁化反転温度が低い磁
性層である。Ｗ層はＭ層に比べて相対的に磁化反転温度
が高い磁性層である。Ｍ層とＷ層はそれ自体多層膜から
構成されていてもよい。場合によりＭ層とＷ層の間に中
間層が存在していてもよい。また、Ｗ層を初期化するた
めの初期化層がＷ層に隣接して設けられていてもよい。
H のレーザービーム照射により、元のＭ層の磁化の向き
には依存せずに、Ｍ層の磁化方向が決定されるため、Ｍ
層を再記録前に消去する必要がなくなり、オーバーライ
トが可能となる。なお、この光変調オーバーライト方式
に用いられる媒体は、Ｍ層とＷ層を含む多層構造を有す
る。Ｍ層は室温で保磁力が大きく磁化反転温度が低い磁
性層である。Ｗ層はＭ層に比べて相対的に磁化反転温度
が高い磁性層である。Ｍ層とＷ層はそれ自体多層膜から
構成されていてもよい。場合によりＭ層とＷ層の間に中
間層が存在していてもよい。また、Ｗ層を初期化するた
めの初期化層がＷ層に隣接して設けられていてもよい。
【００１７】〔パルストレイン記録〕光記録では、情報
の記録再生方法としてマークが用いられている。そし
て、マークの位置を情報とするピットポジション記録と
マークのエッジ位置を情報とするピットエッジ記録の２
種類の記録方法がある。特にピットエッジ記録では、マ
ークの前端と後端の両方を用いるため、記録密度がピッ
トポジション記録よりも大きくなる。ピットエッジ記録
を行う場合、マークの大きさを厳密にコントロールする
必要がある。しかし、光記録は熱記録のため、単純な２
値のパルスでは熱の蓄積によってマーク後端部が前端部
よりも大きくなり、いわゆる涙滴型のマークとなる。
の記録再生方法としてマークが用いられている。そし
て、マークの位置を情報とするピットポジション記録と
マークのエッジ位置を情報とするピットエッジ記録の２
種類の記録方法がある。特にピットエッジ記録では、マ
ークの前端と後端の両方を用いるため、記録密度がピッ
トポジション記録よりも大きくなる。ピットエッジ記録
を行う場合、マークの大きさを厳密にコントロールする
必要がある。しかし、光記録は熱記録のため、単純な２
値のパルスでは熱の蓄積によってマーク後端部が前端部
よりも大きくなり、いわゆる涙滴型のマークとなる。
【００１８】そこで、記録レーザーパルスを図５のよう
に変調してマーク形状を補正する記録補正方法としてパ
ルストレイン記録が提案された。このパルストレイン記
録では、レーザーパワーは、Ｐａ，Ｐｗ1 ，Ｐｗ2 の３
値に設定されており、熱特性から決まる３値の比を元に
記録を行っている。
に変調してマーク形状を補正する記録補正方法としてパ
ルストレイン記録が提案された。このパルストレイン記
録では、レーザーパワーは、Ｐａ，Ｐｗ1 ，Ｐｗ2 の３
値に設定されており、熱特性から決まる３値の比を元に
記録を行っている。
【００１９】また、前述の光強度変調オーバーライトに
パルストレインを応用する場合には、Ｐａが低レベルＰ
L のレーザーパワーに相当し、Ｐｗ1 ，Ｐｗ2 が高レベ
ルＰH のレーザーパワーに相当する。
パルストレインを応用する場合には、Ｐａが低レベルＰ
L のレーザーパワーに相当し、Ｐｗ1 ，Ｐｗ2 が高レベ
ルＰH のレーザーパワーに相当する。
【００２０】〔テスト記録〕光磁気ディスクに実際に記
録を行う場合には、マーク形状を最適化するために、そ
のディスクの記録感度や、環境温度などに応じてレーザ
ーパワーの微調整が必要となる。しかしながら、第１世
代の光磁気ディスク記録装置では、レーザーパワーの調
整は行わずに記録を行っているものもある。また、第２
世代と呼ばれる光磁気ディスク記録装置は、情報を記録
する前にテスト記録を行って感度調整を行っている。第
２世代の光磁気ディスクには、テスト記録を行うための
テスト領域が予め用意されている。
録を行う場合には、マーク形状を最適化するために、そ
のディスクの記録感度や、環境温度などに応じてレーザ
ーパワーの微調整が必要となる。しかしながら、第１世
代の光磁気ディスク記録装置では、レーザーパワーの調
整は行わずに記録を行っているものもある。また、第２
世代と呼ばれる光磁気ディスク記録装置は、情報を記録
する前にテスト記録を行って感度調整を行っている。第
２世代の光磁気ディスクには、テスト記録を行うための
テスト領域が予め用意されている。
【００２１】上記したパルストレインでのテスト記録で
は、通常レーザーパワーＰａ，Ｐｗ1 ，Ｐｗ2 の３値の
比を一定にして、パワーを種々に変化させて行う。最適
パワーの決定方法は、例えぱ、エラー訂正数（error co
rrection cord ）やエラーレートを測定する方法、密な
パターンと粗なパターンを記録し、その信号振幅の中心
が一致するように記録パワーを決定する方法などが一般
的である。
は、通常レーザーパワーＰａ，Ｐｗ1 ，Ｐｗ2 の３値の
比を一定にして、パワーを種々に変化させて行う。最適
パワーの決定方法は、例えぱ、エラー訂正数（error co
rrection cord ）やエラーレートを測定する方法、密な
パターンと粗なパターンを記録し、その信号振幅の中心
が一致するように記録パワーを決定する方法などが一般
的である。
【００２２】テスト領域は、通常のデータ領域と同様に
セクタと呼ばれる区間に分割されている。テスト記録
は、普通１セクタもしくは複数セクタ毎にパワーを変化
させて行われる。
セクタと呼ばれる区間に分割されている。テスト記録
は、普通１セクタもしくは複数セクタ毎にパワーを変化
させて行われる。
【００２３】エラーレートを測定するテスト記録方法の
一例を詳しく説明する。先ずレーザーパワーＰａ，Ｐｗ
1 ，Ｐｗ2 の３値の比を設定し、あるセクタに低パワー
で記録する。非常に低いパワーで記録した場合、パワー
不足のため正常にマークが形成されず、エラーレートは
当然悪く計測される。次に別のセクタに３値の比を一定
にしたまま僅かにパワーを上げて記録し、エラーレート
を測定する。この動作を繰り返すうち、徐々にエラーレ
ートが良くなっていく。さらにパワーを上げていくと、
今度は記録過多の状態となり、再度エラーレートが悪く
なる。すなわち、記録過少、記録過多の間にエラーレー
トが良い（例えば、エラーレートが１×１０-4以下とな
る）範囲が存在する。この範囲を記録パワーマージンと
呼ぶ。通常、この記録パワーマージンの中心付近のパワ
ーを最適記録パワーとしている。
一例を詳しく説明する。先ずレーザーパワーＰａ，Ｐｗ
1 ，Ｐｗ2 の３値の比を設定し、あるセクタに低パワー
で記録する。非常に低いパワーで記録した場合、パワー
不足のため正常にマークが形成されず、エラーレートは
当然悪く計測される。次に別のセクタに３値の比を一定
にしたまま僅かにパワーを上げて記録し、エラーレート
を測定する。この動作を繰り返すうち、徐々にエラーレ
ートが良くなっていく。さらにパワーを上げていくと、
今度は記録過多の状態となり、再度エラーレートが悪く
なる。すなわち、記録過少、記録過多の間にエラーレー
トが良い（例えば、エラーレートが１×１０-4以下とな
る）範囲が存在する。この範囲を記録パワーマージンと
呼ぶ。通常、この記録パワーマージンの中心付近のパワ
ーを最適記録パワーとしている。
【００２４】
【発明が解決しようとする課題】ところが、もし光磁気
ディスクのテスト領域に傷や欠陥などが存在した場合、
エラーレートは当然悪化する。従来のテスト記録方法で
はエラーレートの悪化が、記録過少、記録過多などの記
録パワー条件に起因するものか、ディスク自体の傷や欠
陥に起因するものかを判別していなかった。その結果、
記録パワーマージンを誤って計測してしまい、最適な記
録パワーを決定できないという問題があった。
ディスクのテスト領域に傷や欠陥などが存在した場合、
エラーレートは当然悪化する。従来のテスト記録方法で
はエラーレートの悪化が、記録過少、記録過多などの記
録パワー条件に起因するものか、ディスク自体の傷や欠
陥に起因するものかを判別していなかった。その結果、
記録パワーマージンを誤って計測してしまい、最適な記
録パワーを決定できないという問題があった。
【００２５】例えば、前述のテスト記録方法において、
低パワー側のマージン下限を見つけた後、パワーを徐々
に上げる過程で欠陥セクタを計測してしまうと、そこを
高パワー側のマージン上限と判断してしまい、記録パワ
ーマージンを実際よりも狭く見積もってしまう。この場
合、マージン中心として決定される記録パワーは、真の
マージン中心の値より低くなってしまう。記録パワーは
真のマージン中心に設定しないと、温度変動などで影響
を受け、正常に記録ができなくなるおそれがある。特
に、このようなテスト記録方法を光強度変調オーバーラ
イトに用いる場合には、パワーが低く設定されると消去
不良を起こし、オーバーライトが行えないという問題を
生ずる。これは、パルストレイン記録にのみ起こる問題
ではなく、低レベルと高レベルの２値以上のパワーを変
化させてテスト記録を行う場合、常に問題となる。ま
た、エラーレートを測定する方法に限らず、どのような
テスト記録方法においても問題となる。
低パワー側のマージン下限を見つけた後、パワーを徐々
に上げる過程で欠陥セクタを計測してしまうと、そこを
高パワー側のマージン上限と判断してしまい、記録パワ
ーマージンを実際よりも狭く見積もってしまう。この場
合、マージン中心として決定される記録パワーは、真の
マージン中心の値より低くなってしまう。記録パワーは
真のマージン中心に設定しないと、温度変動などで影響
を受け、正常に記録ができなくなるおそれがある。特
に、このようなテスト記録方法を光強度変調オーバーラ
イトに用いる場合には、パワーが低く設定されると消去
不良を起こし、オーバーライトが行えないという問題を
生ずる。これは、パルストレイン記録にのみ起こる問題
ではなく、低レベルと高レベルの２値以上のパワーを変
化させてテスト記録を行う場合、常に問題となる。ま
た、エラーレートを測定する方法に限らず、どのような
テスト記録方法においても問題となる。
【００２６】そこで、本発明者は、この問題を解決する
ために鋭意研究した結果、テスト記録において正常に記
録がなされなかった箇所が、記録パワー条件に起因する
ものか、媒体の欠陥に起因するものかを判別すれば最適
な記録パワー条件が得られることを見いだし、さらにそ
の判別方法を開発し、本発明をなすに至った。
ために鋭意研究した結果、テスト記録において正常に記
録がなされなかった箇所が、記録パワー条件に起因する
ものか、媒体の欠陥に起因するものかを判別すれば最適
な記録パワー条件が得られることを見いだし、さらにそ
の判別方法を開発し、本発明をなすに至った。
【００２７】本発明は上記した従来の問題点の把握およ
び研究結果に基づいてなされたもので、その目的とする
ところは、テスト記録において正常に記録がなされなか
ったとき、その原因が記録パワー条件に起因するもの
か、媒体自体の欠陥に起因するものかを判別することに
より最適な記録パワーを得るようにした光記録方法を提
供することにある。
び研究結果に基づいてなされたもので、その目的とする
ところは、テスト記録において正常に記録がなされなか
ったとき、その原因が記録パワー条件に起因するもの
か、媒体自体の欠陥に起因するものかを判別することに
より最適な記録パワーを得るようにした光記録方法を提
供することにある。
【００２８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、少なくとも記録する光強度を高レベルと低
レベルの２値に変調することによって光記録媒体に情報
を記録する光記録方法において、テスト領域について記
録パワーを種々に変化させてテスト記録を行い、その測
定結果から正常に記録がなされなかったとき、その原因
が記録パワーの条件に起因するものか、媒体の欠陥に起
因するものかを判別することを特徴とする。
に本発明は、少なくとも記録する光強度を高レベルと低
レベルの２値に変調することによって光記録媒体に情報
を記録する光記録方法において、テスト領域について記
録パワーを種々に変化させてテスト記録を行い、その測
定結果から正常に記録がなされなかったとき、その原因
が記録パワーの条件に起因するものか、媒体の欠陥に起
因するものかを判別することを特徴とする。
【００２９】また、本発明は、少なくとも記録する光強
度を高レベルと低レベルの２値に変調することによって
光記録媒体に情報を記録する光記録方法において、予め
定められた領域に記録されている記録情報を読み出して
前記領域での記録パワーを求め、次に記録パワーをある
レベルに設定してテスト領域のセクタにテストパターン
を記録し、このテストパターンを再生してエラーレート
を測定し、次に再度前記セクタについて記録パワーを種
々に変化させてテスト記録を行った後再生し、そのエラ
ーレートの測定結果からエラーレートが良好なパワーが
得られたときは良好なテスト領域と判断し、エラーレー
トが良好なパワーが得られなかったときは前記テスト領
域の他のセクタについて記録パワーを種々に変化させて
テスト記録を行い、このテスト記録が正常に行われなか
ったときは初めのセクタについて良好なパワーが得られ
なかった理由が媒体の欠陥に起因するものと判断するこ
とを特徴とする。
度を高レベルと低レベルの２値に変調することによって
光記録媒体に情報を記録する光記録方法において、予め
定められた領域に記録されている記録情報を読み出して
前記領域での記録パワーを求め、次に記録パワーをある
レベルに設定してテスト領域のセクタにテストパターン
を記録し、このテストパターンを再生してエラーレート
を測定し、次に再度前記セクタについて記録パワーを種
々に変化させてテスト記録を行った後再生し、そのエラ
ーレートの測定結果からエラーレートが良好なパワーが
得られたときは良好なテスト領域と判断し、エラーレー
トが良好なパワーが得られなかったときは前記テスト領
域の他のセクタについて記録パワーを種々に変化させて
テスト記録を行い、このテスト記録が正常に行われなか
ったときは初めのセクタについて良好なパワーが得られ
なかった理由が媒体の欠陥に起因するものと判断するこ
とを特徴とする。
【００３０】また、本発明は、少なくとも記録する光強
度を高レベルと低レベルの２値に変調することによって
光記録媒体に情報を記録する光記録方法において、複数
の異なるセクタについて、記録パワーを各々変化させて
テストパターンを記録し、このテストパターンを再生し
てエラーレートを測定し、そのエラーレートの測定結果
からエラーレートが良好なパワーを得、次にさらに異な
る複数のセクタについて、記録パワーを各々変化させて
テストパターンを記録し、このテストパターンを再生し
てエラーレートを測定し、そのエラーレートの測定結果
からエラーレートが良好なパワーを得、上記２つの測定
結果によるエラーレートが良好なパワーが一致したとき
は、いずれも良好なテスト領域であると判断し、エラー
レートが良好なパワーが一致しないときは、光記録媒体
の欠陥に起因する不良領域が存在するものと判断するこ
とを特徴とする。
度を高レベルと低レベルの２値に変調することによって
光記録媒体に情報を記録する光記録方法において、複数
の異なるセクタについて、記録パワーを各々変化させて
テストパターンを記録し、このテストパターンを再生し
てエラーレートを測定し、そのエラーレートの測定結果
からエラーレートが良好なパワーを得、次にさらに異な
る複数のセクタについて、記録パワーを各々変化させて
テストパターンを記録し、このテストパターンを再生し
てエラーレートを測定し、そのエラーレートの測定結果
からエラーレートが良好なパワーを得、上記２つの測定
結果によるエラーレートが良好なパワーが一致したとき
は、いずれも良好なテスト領域であると判断し、エラー
レートが良好なパワーが一致しないときは、光記録媒体
の欠陥に起因する不良領域が存在するものと判断するこ
とを特徴とする。
【００３１】また、本発明は、少なくとも記録する光強
度を高レベルと低レベルの２値に変調することによって
光記録媒体に情報を記録する光記録方法において、複数
の異なるセクタについて、記録パワーを各々変化させて
テストパターンを記録し、このテストパターンを再生し
てエラーレートを測定し、そのエラーレートの測定結果
からエラーレートが良好なパワーを得、エラーレートが
良好なパワーにて、前記測定時にエラーレートが悪かっ
たセクタに記録を行い、これを再生した場合に、エラー
レートが良好であればそのセクタに欠陥は存在しないと
判断し、エラーレートが良好でなかった場合は、その原
因が光記録媒体の欠陥に起因する不良領域が存在するも
のと判断することを特徴とする。
度を高レベルと低レベルの２値に変調することによって
光記録媒体に情報を記録する光記録方法において、複数
の異なるセクタについて、記録パワーを各々変化させて
テストパターンを記録し、このテストパターンを再生し
てエラーレートを測定し、そのエラーレートの測定結果
からエラーレートが良好なパワーを得、エラーレートが
良好なパワーにて、前記測定時にエラーレートが悪かっ
たセクタに記録を行い、これを再生した場合に、エラー
レートが良好であればそのセクタに欠陥は存在しないと
判断し、エラーレートが良好でなかった場合は、その原
因が光記録媒体の欠陥に起因する不良領域が存在するも
のと判断することを特徴とする。
【００３２】また、本発明は、少なくとも記録する光強
度を高レベルと低レベルの２値に変調することによって
光記録媒体に情報を記録する光記録方法において、複数
の異なるセクタについて、記録パワーを各々変化させて
テストパターンを記録し、このテストパターンを再生し
てエラーレートを測定するとともに前記セクタからの反
射信号を測定し、エラーレートが良好でなかったセクタ
の反射信号に大きな変動があった場合は、エラーレート
が良好でなかった原因が光記録媒体の欠陥に起因するも
のと判断することを特徴とする。
度を高レベルと低レベルの２値に変調することによって
光記録媒体に情報を記録する光記録方法において、複数
の異なるセクタについて、記録パワーを各々変化させて
テストパターンを記録し、このテストパターンを再生し
てエラーレートを測定するとともに前記セクタからの反
射信号を測定し、エラーレートが良好でなかったセクタ
の反射信号に大きな変動があった場合は、エラーレート
が良好でなかった原因が光記録媒体の欠陥に起因するも
のと判断することを特徴とする。
【００３３】また、本発明は、正常に記録されたかった
原因が媒体の欠陥に起因するものであると判断されたと
き、媒体に欠陥情報を記録することをことを特徴とす
る。
原因が媒体の欠陥に起因するものであると判断されたと
き、媒体に欠陥情報を記録することをことを特徴とす
る。
【００３４】また、本発明は、正常に記録されなかった
原因が媒体の欠陥に起因するものであると判断されたと
き、不良テスト領域のテスト記録結果を補填しエラーレ
ートが良いものとしてパワーマージンを再計算すること
を特徴とする。さらに、本発明は、記録媒体にオーバー
ライト可能な光磁気記録媒体を用いることを特徴とす
る。
原因が媒体の欠陥に起因するものであると判断されたと
き、不良テスト領域のテスト記録結果を補填しエラーレ
ートが良いものとしてパワーマージンを再計算すること
を特徴とする。さらに、本発明は、記録媒体にオーバー
ライト可能な光磁気記録媒体を用いることを特徴とす
る。
【００３５】本発明においては、正常に記録がなされな
かった箇所が記録パワー条件に起因するものか媒体自体
の欠陥に起因するものかを判別しているので、最適な記
録パワーを得ることができる。
かった箇所が記録パワー条件に起因するものか媒体自体
の欠陥に起因するものかを判別しているので、最適な記
録パワーを得ることができる。
【００３６】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図面に示す実施の
形態に基づいて詳細に説明する。図１は本発明方法に用
いられる光強度変調オーバーライト可能な光磁気ディス
クの一例を示す要部の断面図、図２は同ディスクの製造
者領域、テスト領域およびユーザーデータ領域を示す図
である。これらの図において、光磁気ディスク１０は基
板１上に順次積層された誘電体層２、メモリ層３、中間
層４、記録層５および保護層としての誘電体層６を備え
ている。そして、この光磁気ディスク１０は、製造者領
域７、テスト領域８およびユーザーデータ領域９を備え
ている。製造者領域７は、通常ディスクの最外周と最内
周にそれぞれ設けられ、製造日、製造ロット、検査日、
検査結果などの情報を記録しておくための、製造者が使
用する領域である。ユーザーデータ領域９は、ディスク
の径方向に複数のバンド（ゾーンともいう）に分割され
ており、ユーザーがデータを記録する領域である。テス
ト領域８は、テスト記録時に用いられるものであり、各
バンドのユーザーデータ領域９の内周側または外周側に
隣接して設けられている。
形態に基づいて詳細に説明する。図１は本発明方法に用
いられる光強度変調オーバーライト可能な光磁気ディス
クの一例を示す要部の断面図、図２は同ディスクの製造
者領域、テスト領域およびユーザーデータ領域を示す図
である。これらの図において、光磁気ディスク１０は基
板１上に順次積層された誘電体層２、メモリ層３、中間
層４、記録層５および保護層としての誘電体層６を備え
ている。そして、この光磁気ディスク１０は、製造者領
域７、テスト領域８およびユーザーデータ領域９を備え
ている。製造者領域７は、通常ディスクの最外周と最内
周にそれぞれ設けられ、製造日、製造ロット、検査日、
検査結果などの情報を記録しておくための、製造者が使
用する領域である。ユーザーデータ領域９は、ディスク
の径方向に複数のバンド（ゾーンともいう）に分割され
ており、ユーザーがデータを記録する領域である。テス
ト領域８は、テスト記録時に用いられるものであり、各
バンドのユーザーデータ領域９の内周側または外周側に
隣接して設けられている。
【００３７】基板１としては、例えば厚さ１．２ｍｍ、
直径１３０ｍｍのディスク状のトラッキング用溝付きガ
ラス基板（トラックピッチ１．２μｍ）が用いられる。
誘電体層２はＳｉＮによって形成され、７０ｎｍの膜厚
を有している。メモリ層３はＴｂＦｅＣｏからなり、３
０ｎｍの膜厚を有している。中間層４はＧｄＦｅＣｏか
らなり、１０ｎｍの膜厚を有している。記録層５はＴｂ
ＤｙＦｅＣｏからなり、４０ｎｍの膜厚を有している。
誘電体層６はＳｉＮによって形成され、７０ｎｍの膜厚
を有している。メモリ層３はＴＭ（ Transition Metal
：遷移金属）リッチ組成、記録層５は室温とキューリ
ー温度の間に補償温度を持つＲＥ（ Rareearth ：希土
類）リッチ組成である。
直径１３０ｍｍのディスク状のトラッキング用溝付きガ
ラス基板（トラックピッチ１．２μｍ）が用いられる。
誘電体層２はＳｉＮによって形成され、７０ｎｍの膜厚
を有している。メモリ層３はＴｂＦｅＣｏからなり、３
０ｎｍの膜厚を有している。中間層４はＧｄＦｅＣｏか
らなり、１０ｎｍの膜厚を有している。記録層５はＴｂ
ＤｙＦｅＣｏからなり、４０ｎｍの膜厚を有している。
誘電体層６はＳｉＮによって形成され、７０ｎｍの膜厚
を有している。メモリ層３はＴＭ（ Transition Metal
：遷移金属）リッチ組成、記録層５は室温とキューリ
ー温度の間に補償温度を持つＲＥ（ Rareearth ：希土
類）リッチ組成である。
【００３８】図３は本発明による記録方式を採用した光
磁気記録再生装置のブロック図である。なお、本実施の
形態においては、エラーレートによりテスト記録を行う
方法の一例を示している。光磁気ディスク１０は、駆動
モータ等からなるディスク駆動手段１２によって回転さ
れる。レーザードライバ１３によって駆動される記録再
生用のレーザーダイオード（レーザー光源）１４から出
射されたレーザー光は、偏光子１５を透過して直線偏光
に変換されビームスプリッタ１６を透過または反射して
レーザー光集光手段１７によって光磁気ディスク１０上
に集光照射される。また、再生光は、光磁気ディスク１
０から反射された後、レーザー集光手段１７で集光さ
れ、ビームスプリッタ１６を反射または透過して、検光
子１８を透過後、データ検出手段１９によって検出され
電気信号に変換される。
磁気記録再生装置のブロック図である。なお、本実施の
形態においては、エラーレートによりテスト記録を行う
方法の一例を示している。光磁気ディスク１０は、駆動
モータ等からなるディスク駆動手段１２によって回転さ
れる。レーザードライバ１３によって駆動される記録再
生用のレーザーダイオード（レーザー光源）１４から出
射されたレーザー光は、偏光子１５を透過して直線偏光
に変換されビームスプリッタ１６を透過または反射して
レーザー光集光手段１７によって光磁気ディスク１０上
に集光照射される。また、再生光は、光磁気ディスク１
０から反射された後、レーザー集光手段１７で集光さ
れ、ビームスプリッタ１６を反射または透過して、検光
子１８を透過後、データ検出手段１９によって検出され
電気信号に変換される。
【００３９】２０は制御回路、２１はメモリ、２２はエ
ラーレート判定手段、２３は判別手段、２４はテスト記
録用パワーの設定手段、２５は記録パワー決定手段、２
６は欠陥情報を光磁気ディスク１０に記録する手段とし
ての記録データ用バッファメモリである。制御回路２０
は、光磁気ディスク１０上の欠陥情報の記録領域からの
再生信号（データ検出手段１９から出力される）が入力
されると、その欠陥情報（不良セクタのセクタアドレ
ス）をメモリ２１に記憶する。また、テスト記録時に前
記判別手段２３が欠陥が存在すると判別したとき、その
欠陥情報はメモリ２１および記録データ用バッファメモ
リ２６に送られ、光磁気ディスク１０に記録される。メ
モリ２１に格納された欠陥情報によりそのディスクの不
良セクタには記録がなされないように制御される。
ラーレート判定手段、２３は判別手段、２４はテスト記
録用パワーの設定手段、２５は記録パワー決定手段、２
６は欠陥情報を光磁気ディスク１０に記録する手段とし
ての記録データ用バッファメモリである。制御回路２０
は、光磁気ディスク１０上の欠陥情報の記録領域からの
再生信号（データ検出手段１９から出力される）が入力
されると、その欠陥情報（不良セクタのセクタアドレ
ス）をメモリ２１に記憶する。また、テスト記録時に前
記判別手段２３が欠陥が存在すると判別したとき、その
欠陥情報はメモリ２１および記録データ用バッファメモ
リ２６に送られ、光磁気ディスク１０に記録される。メ
モリ２１に格納された欠陥情報によりそのディスクの不
良セクタには記録がなされないように制御される。
【００４０】次に、テスト記録で欠陥セクタを判別する
方法１〜５について説明する。 〔第１の判別方法〕第１の判別方法は以下の手順によっ
て行う。 ローディングされた光磁気ディスク１０をディスク駆
動手段１２によって回転させ、そのディスク情報を読み
出す。 テスト記録用パワー設定手段２４により、基準パワー
値と同一比のまま記録パワーを低レベルに設定し、テス
ト領域８にテストパターンを記録する。 記録したパターンを再生し、エラーレート測定手段２
２によりエラーレートを測定する。 徐々にパワーを上げながら同じセクタでとを繰り
返す。 エラーレートの測定結果から、判別手段２３によりエ
ラーレートが良いパワーが得られた場合は、テスト領域
８のセクタは良好であると判断する。もしエラーレート
が良いパワーが得られなかった場合はディスク自体の欠
陥による不良セクタであると判断する。 不良セクタであった場合は、〜までの動作を再度
別のセクタにおいて行う。
方法１〜５について説明する。 〔第１の判別方法〕第１の判別方法は以下の手順によっ
て行う。 ローディングされた光磁気ディスク１０をディスク駆
動手段１２によって回転させ、そのディスク情報を読み
出す。 テスト記録用パワー設定手段２４により、基準パワー
値と同一比のまま記録パワーを低レベルに設定し、テス
ト領域８にテストパターンを記録する。 記録したパターンを再生し、エラーレート測定手段２
２によりエラーレートを測定する。 徐々にパワーを上げながら同じセクタでとを繰り
返す。 エラーレートの測定結果から、判別手段２３によりエ
ラーレートが良いパワーが得られた場合は、テスト領域
８のセクタは良好であると判断する。もしエラーレート
が良いパワーが得られなかった場合はディスク自体の欠
陥による不良セクタであると判断する。 不良セクタであった場合は、〜までの動作を再度
別のセクタにおいて行う。
【００４１】以上のような手順で良好なセクタでテスト
記録が行われたと判断された場合は、記録パワー決定手
段２５により最適記録パワーを決定して、記録データ用
バッファメモリ２６によりユーザーデータ領域９に記録
すべき情報の記録を行う。
記録が行われたと判断された場合は、記録パワー決定手
段２５により最適記録パワーを決定して、記録データ用
バッファメモリ２６によりユーザーデータ領域９に記録
すべき情報の記録を行う。
【００４２】ここで、欠陥情報の読込みと書込みについ
て説明する。 （１）欠陥情報の読込み テスト記録時は、まず予め決められた欠陥情報記録領域
にアクセスし、そのディスクの欠陥情報を読出し、メモ
リ２１に記憶する。欠陥情報記録領域は、ディスクのＤ
ＭＡ領域、製造者領域７またはテスト領域８の一部のい
ずれを使用してもよい。メモリ２１に記憶された欠陥情
報にしたがって、制御回路２０は不良セクタに記録を行
わないように制御する。 （２）欠陥情報の書込み 制御回路２０は、データ検出手段１９からの再生信号よ
りセクタアドレスを検出している（現在ビームが照射さ
れているセクタのセクタアドレスを検出）。判別手段２
３は、テスト記録しているセクタが不良セクタと判断し
た場合は、制御回路２０に対して制御信号を出力する。
制御回路２０は、その制御信号を受け取ると、直前に検
出されたセクタアドレス（不良セクタアドレス）をメモ
リ２１に記憶する。次回からのテスト記録では、上記の
「欠陥情報の読込み」と同様に、メモリ２１に記憶され
たセクタではテスト記録を行わないよう制御する。制御
回路２０は、記録データ用バッファメモリ２６に対して
メモリ２１に記憶された不良セクタのセクタアドレス情
報を送る。また、テスト記録すべきセクタアドレスが検
出されたら、記録データ用バッファメモリ２６から予め
記憶されたテストパターンを出力させ、欠陥情報として
光磁気ディスク１０に記録する。
て説明する。 （１）欠陥情報の読込み テスト記録時は、まず予め決められた欠陥情報記録領域
にアクセスし、そのディスクの欠陥情報を読出し、メモ
リ２１に記憶する。欠陥情報記録領域は、ディスクのＤ
ＭＡ領域、製造者領域７またはテスト領域８の一部のい
ずれを使用してもよい。メモリ２１に記憶された欠陥情
報にしたがって、制御回路２０は不良セクタに記録を行
わないように制御する。 （２）欠陥情報の書込み 制御回路２０は、データ検出手段１９からの再生信号よ
りセクタアドレスを検出している（現在ビームが照射さ
れているセクタのセクタアドレスを検出）。判別手段２
３は、テスト記録しているセクタが不良セクタと判断し
た場合は、制御回路２０に対して制御信号を出力する。
制御回路２０は、その制御信号を受け取ると、直前に検
出されたセクタアドレス（不良セクタアドレス）をメモ
リ２１に記憶する。次回からのテスト記録では、上記の
「欠陥情報の読込み」と同様に、メモリ２１に記憶され
たセクタではテスト記録を行わないよう制御する。制御
回路２０は、記録データ用バッファメモリ２６に対して
メモリ２１に記憶された不良セクタのセクタアドレス情
報を送る。また、テスト記録すべきセクタアドレスが検
出されたら、記録データ用バッファメモリ２６から予め
記憶されたテストパターンを出力させ、欠陥情報として
光磁気ディスク１０に記録する。
【００４３】〔第２の判別方法〕次に、テスト記録で欠
陥セクタを判別する第２の方法を説明する。第２の判別
方法は、上記した第１の判別方法と同様に図３に示した
光磁気記録再生装置が用いられる。また、第２の判別方
法の手順〜までは、第１の判別方法の〜までと
全く同じであるため、その説明を省略し、手順以下に
ついて説明する。 徐々にパワーを上げながら異なるセクタでとを繰
り返す。 判別手段２３により、との結果を比較し、エラー
レートが良いパワーが一致すれぱ、不良セクタはないと
判断する。
陥セクタを判別する第２の方法を説明する。第２の判別
方法は、上記した第１の判別方法と同様に図３に示した
光磁気記録再生装置が用いられる。また、第２の判別方
法の手順〜までは、第１の判別方法の〜までと
全く同じであるため、その説明を省略し、手順以下に
ついて説明する。 徐々にパワーを上げながら異なるセクタでとを繰
り返す。 判別手段２３により、との結果を比較し、エラー
レートが良いパワーが一致すれぱ、不良セクタはないと
判断する。
【００４４】以上のような手順で、良好なセクタでテス
ト記録が行われたと判断された場合は、記録パワー決定
手段２５により、最適記録パワーを決定して、記録デー
タ用バッファメモリ２６がユーザーデータ領域９に記録
すべき情報の記録を行う。
ト記録が行われたと判断された場合は、記録パワー決定
手段２５により、最適記録パワーを決定して、記録デー
タ用バッファメモリ２６がユーザーデータ領域９に記録
すべき情報の記録を行う。
【００４５】もしエラーレートが良いパワーが一致しな
い場合は、ディスク自体の欠陥による不良セクタが存在
すると判断し、より広くパワーマージンが得られる結果
を用いて最適記録パワーを決定する。
い場合は、ディスク自体の欠陥による不良セクタが存在
すると判断し、より広くパワーマージンが得られる結果
を用いて最適記録パワーを決定する。
【００４６】〔第３の判別方法〕次に、テスト記録で欠
陥セクタを判別する第３の方法を説明する。第３の判別
方法は、上記した第１の判別方法と同様に図３に示した
光磁気記録再生装置が用いられる。また、第３の判別方
法の手順〜までは、第２の判別方法の〜までと
全く同じであるため、その説明を省略し、手順以下に
ついて説明する。 エラーレートが良いパワー範囲の中心付近に記録パワ
ー決定手段２５により記録パワーを決定し、この記録パ
ワーでエラーレートが悪かったセクタに記録を行う。 記録したセクタを再生し、良好なエラーレートが得ら
れた場合、不良セクタはないと判断する。
陥セクタを判別する第３の方法を説明する。第３の判別
方法は、上記した第１の判別方法と同様に図３に示した
光磁気記録再生装置が用いられる。また、第３の判別方
法の手順〜までは、第２の判別方法の〜までと
全く同じであるため、その説明を省略し、手順以下に
ついて説明する。 エラーレートが良いパワー範囲の中心付近に記録パワ
ー決定手段２５により記録パワーを決定し、この記録パ
ワーでエラーレートが悪かったセクタに記録を行う。 記録したセクタを再生し、良好なエラーレートが得ら
れた場合、不良セクタはないと判断する。
【００４７】以上のような手順で、良好なセクタでテス
ト記録が行われたと判断された場合は、その記録パワー
を最適記録パワーとして、記録データ用バッファメモリ
２６によりユーザーデータ領域９に記録すべき情報の記
録を行う。
ト記録が行われたと判断された場合は、その記録パワー
を最適記録パワーとして、記録データ用バッファメモリ
２６によりユーザーデータ領域９に記録すべき情報の記
録を行う。
【００４８】もし再記録後もエラーレートが悪かった場
合は、そのセクタをディスク自体の欠陥による不良セク
タと判断し、そのセクタを使用しないで再度テスト記録
を行う。もしくは、そのセクタのエラーレートデータを
補填し、エラーレートが良いものとしてパワーマージン
を再計算する。
合は、そのセクタをディスク自体の欠陥による不良セク
タと判断し、そのセクタを使用しないで再度テスト記録
を行う。もしくは、そのセクタのエラーレートデータを
補填し、エラーレートが良いものとしてパワーマージン
を再計算する。
【００４９】〔第４の判別方法〕次に、テスト記録で欠
陥セクタを判別する第４の方法を説明する。第４の判別
方法は、上記した第１の判別方法と同様に図３に示した
光磁気記録再生装置が用いられる。また、第４の判別方
法の手順〜までは、第２の判別方法の〜までと
全く同じであるため、その説明を省略し、手順以下に
ついて説明する。 エラーレートの良い範囲、すなわち記録パワーマージ
ンの上限と下限のパワーについて、その１段階低いパワ
ーおよび１段階高いパワーで、良好なエラーレートが得
られたセクタに記録する。 判別手段２３により、記録パワーマージン下限の１段
階低いパワーおよび上限の１段階高いパワーで記録した
セクタはエラーレートが悪くなり、下限の１段階高いパ
ワーおよび上限の１段階低いパワーで記録したセクタは
エラーレートが良くなれば、不良セクタはないと判断す
る。
陥セクタを判別する第４の方法を説明する。第４の判別
方法は、上記した第１の判別方法と同様に図３に示した
光磁気記録再生装置が用いられる。また、第４の判別方
法の手順〜までは、第２の判別方法の〜までと
全く同じであるため、その説明を省略し、手順以下に
ついて説明する。 エラーレートの良い範囲、すなわち記録パワーマージ
ンの上限と下限のパワーについて、その１段階低いパワ
ーおよび１段階高いパワーで、良好なエラーレートが得
られたセクタに記録する。 判別手段２３により、記録パワーマージン下限の１段
階低いパワーおよび上限の１段階高いパワーで記録した
セクタはエラーレートが悪くなり、下限の１段階高いパ
ワーおよび上限の１段階低いパワーで記録したセクタは
エラーレートが良くなれば、不良セクタはないと判断す
る。
【００５０】以上のような手順で、良好なセクタでテス
ト記録が行われたと判断された場合は、記録パワー決定
手段２５により、最適記録パワーを決定して、記録デー
タ用バッファメモリ２６によりユーザーデータ領域９に
記録すべき情報の記録を行う。
ト記録が行われたと判断された場合は、記録パワー決定
手段２５により、最適記録パワーを決定して、記録デー
タ用バッファメモリ２６によりユーザーデータ領域９に
記録すべき情報の記録を行う。
【００５１】もし記録パワーマージン下限の１段階低い
パワーもしくは上限の１段階高いパワーで記録したセク
タのエラーレートが良かった場合は、はじめにテスト記
録を行ったセクタにディスク自体の欠陥による不良セク
タが存在すると判断し、そのセクタを使用しないで再度
テスト記録を行う。もしくは、そのセクタのエラーレー
トデータを補填し、エラーレートが良いものとしてパワ
ーマージンを再計算する。
パワーもしくは上限の１段階高いパワーで記録したセク
タのエラーレートが良かった場合は、はじめにテスト記
録を行ったセクタにディスク自体の欠陥による不良セク
タが存在すると判断し、そのセクタを使用しないで再度
テスト記録を行う。もしくは、そのセクタのエラーレー
トデータを補填し、エラーレートが良いものとしてパワ
ーマージンを再計算する。
【００５２】〔第５の判別方法〕次に、テスト記録で欠
陥セクタを判別する第５の方法を説明する。第５の判別
方法は、図４に示す光磁気記録再生装置が用いられる。
図３に示した記録再生装置と異なる点は、テスト記録時
にセクタからの反射信号を検出する反射信号検出手段３
０を備えていることである。第５の判別方法の手順〜
までは、第２の判別方法の〜までと全く同じであ
るため、その説明を省略する。
陥セクタを判別する第５の方法を説明する。第５の判別
方法は、図４に示す光磁気記録再生装置が用いられる。
図３に示した記録再生装置と異なる点は、テスト記録時
にセクタからの反射信号を検出する反射信号検出手段３
０を備えていることである。第５の判別方法の手順〜
までは、第２の判別方法の〜までと全く同じであ
るため、その説明を省略する。
【００５３】第５の判別方法では、エラーレート測定と
同時に反射信号検出手段３０により反射信号の検出を行
い、反射信号に大きな変動があった場合には判別手段２
３によりそのセクタに欠陥があると判断する。
同時に反射信号検出手段３０により反射信号の検出を行
い、反射信号に大きな変動があった場合には判別手段２
３によりそのセクタに欠陥があると判断する。
【００５４】以上のような手順で、良好なセクタでテス
ト記録が行われたと判断された場合は、記録パワー決定
手段２５により、最適記録パワーを決定して、記録デー
タ用バッファメモリ２６によりユーザーデータ領域９に
記録すべき情報の記録を行う。
ト記録が行われたと判断された場合は、記録パワー決定
手段２５により、最適記録パワーを決定して、記録デー
タ用バッファメモリ２６によりユーザーデータ領域９に
記録すべき情報の記録を行う。
【００５５】もしテスト領域８の反射信号に大きな変動
があった場合には、そのセクタに欠陥があると判断し、
別のセクタで再度テスト記録を行う。もしくは、そのセ
クタのエラーレートデータを補填し、エラーレートが良
いものとしてパワーマージンを再計算する。
があった場合には、そのセクタに欠陥があると判断し、
別のセクタで再度テスト記録を行う。もしくは、そのセ
クタのエラーレートデータを補填し、エラーレートが良
いものとしてパワーマージンを再計算する。
【００５６】
【発明の効果】以上、説明したように本発明に係る光記
録方法によれば、テスト記録時に正常に記録がなされな
かった箇所が記録パワーに起因するものか、媒体自体の
欠陥に起因するものかを判別するようにしたので、光記
録媒体のテスト領域に傷や欠陥などが存在したとして
も、記録パワーマージンを実際よりも狭く見積もってし
まうことがなく、テスト記録によって最適な記録パワー
を決定できる。また、光強度変調オーバーライトに用い
る場合でも、パワーが低く設定されることがないため、
消去不良が発生せずに安定してオーバーライトが行え
る。
録方法によれば、テスト記録時に正常に記録がなされな
かった箇所が記録パワーに起因するものか、媒体自体の
欠陥に起因するものかを判別するようにしたので、光記
録媒体のテスト領域に傷や欠陥などが存在したとして
も、記録パワーマージンを実際よりも狭く見積もってし
まうことがなく、テスト記録によって最適な記録パワー
を決定できる。また、光強度変調オーバーライトに用い
る場合でも、パワーが低く設定されることがないため、
消去不良が発生せずに安定してオーバーライトが行え
る。
【図１】 本発明方法に用いられる光強度変調オーバー
ライト可能な光磁気ディスクの一例を示す要部の断面図
である。
ライト可能な光磁気ディスクの一例を示す要部の断面図
である。
【図２】 同ディスクの製造者領域、テスト領域および
ユーザーデータ領域を示す図である。
ユーザーデータ領域を示す図である。
【図３】 本発明による判別方法１〜４で用いられる光
磁気記録再生装置の構成の一例を示す断面図である。
磁気記録再生装置の構成の一例を示す断面図である。
【図４】 本発明による判別方法５で用いられる光磁気
記録再生装置の構成を示すブロック図である。
記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図５】 従来のパルストレイン記録の記録パルスを示
す図である。
す図である。
１…基板、２…誘電体層、３…メモリ層、４…中間層、
５…記録層、６…誘電体層、７…製造者領域、８…テス
ト領域、９…ユーザーデータ領域、１０…光磁気ディス
ク、１２…ディスク駆動手段、１３…レーザードライ
バ、１４…レーザー光源、１５…偏光子、１６…ビーム
スプリッタ、１７…レーザー光集光手段、１８…検光
子、１９…データ検出手段、２０…制御回路、２１…メ
モリ、２２…エラーレート測定手段、２３…判別手段、
２４…テスト記録用パワー設定手段、２５…記録パワー
決定手段、２６…記録データ用バッファメモリ、３０…
反射信号検出手段。
５…記録層、６…誘電体層、７…製造者領域、８…テス
ト領域、９…ユーザーデータ領域、１０…光磁気ディス
ク、１２…ディスク駆動手段、１３…レーザードライ
バ、１４…レーザー光源、１５…偏光子、１６…ビーム
スプリッタ、１７…レーザー光集光手段、１８…検光
子、１９…データ検出手段、２０…制御回路、２１…メ
モリ、２２…エラーレート測定手段、２３…判別手段、
２４…テスト記録用パワー設定手段、２５…記録パワー
決定手段、２６…記録データ用バッファメモリ、３０…
反射信号検出手段。
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｃ ５７２Ｆ
Claims (8)
- 【請求項１】 少なくとも記録する光強度を高レベルと
低レベルの２値に変調することによって光記録媒体に情
報を記録する光記録方法において、 テスト領域のセクタについて記録パワーを種々に変化さ
せてテスト記録を行い、その測定結果から正常に記録が
なされなかったとき、その原因が記録パワーの条件に起
因するものか、媒体の欠陥に起因するものかを判別する
ことを特徴とする光記録方法。 - 【請求項２】 少なくとも記録する光強度を高レベルと
低レベルの２値に変調することによって光記録媒体に情
報を記録する光記録方法において、 記録パワーをあるレベルに設定してテスト領域のセクタ
にテストパターンを記録し、 このテストパターンを再生してエラーレートを測定し、 次に再度前記セクタについて記録パワーを種々に変化さ
せてテスト記録を行った後再生し、 そのエラーレートの測定結果からエラーレートが良好な
パワーが得られたときは良好なテスト領域と判断し、 エラーレートが良好なパワーが得られなかったときは前
記テスト領域の他のセクタについて記録パワーを種々に
変化させてテスト記録を行い、他のセクタでエラーレー
トが良好なパワーが得られたときは初めのセクタについ
て良好なパワーが得られなかった理由が媒体の欠陥に起
因するものと判断することを特徴とする光記録方法。 - 【請求項３】 少なくとも記録する光強度を高レベルと
低レベルの２値に変調することによって光記録媒体に情
報を記録する光記録方法において、 複数の異なるセクタについて、記録パワーを各々変化さ
せてテストパターンを記録し、このテストパターンを再
生してエラーレートを測定し、 そのエラーレートの測定結果からエラーレートが良好な
パワーを得、 次にさらに異なる複数のセクタについて、記録パワーを
各々変化させてテストパターンを記録し、このテストパ
ターンを再生してエラーレートを測定し、 そのエラーレートの測定結果からエラーレートが良好な
パワーを得、 上記２つの測定結果によるエラーレートが良好なパワー
が一致したときは、いずれも良好なテスト領域であると
判断し、エラーレートが良好なパワーが一致しないとき
は、光記録媒体の欠陥に起因する不良領域が存在するも
のと判断することを特徴とする光記録方法。 - 【請求項４】 少なくとも記録する光強度を高レベルと
低レベルの２値に変調することによって光記録媒体に情
報を記録する光記録方法において、 複数の異なるセクタについて、記録パワーを各々変化さ
せてテストパターンを記録し、このテストパターンを再
生してエラーレートを測定し、 そのエラーレートの測定結果からエラーレートが良好な
パワーを得、 エラーレートが良好なパワーにて、前記測定時にエラー
レートが悪かったセクタに記録を行い、 これを再生した場合に、エラーレートが良好であればそ
のセクタに欠陥は存在しないと判断し、エラーレートが
良好でなかった場合は、その原因が光記録媒体の欠陥に
起因する不良領域が存在するものと判断することを特徴
とする光記録方法。 - 【請求項５】 少なくとも記録する光強度を高レベルと
低レベルの２値に変調することによって光記録媒体に情
報を記録する光記録方法において、 複数の異なるセクタについて、記録パワーを各々変化さ
せてテストパターンを記録し、このテストパターンを再
生してエラーレートを測定するとともに前記セクタから
の反射信号を測定し、 エラーレートが良好でなかったセクタの反射信号に大き
な変動があった場合は、エラーレートが良好でなかった
原因が光記録媒体の欠陥に起因するものと判断すること
を特徴とする光記録方法。 - 【請求項６】 請求項１〜５のうちのいずれか１つに記
載の光記録方法において、 正常に記録されたかった原因が媒体の欠陥に起因するも
のであると判断されたとき、媒体に欠陥情報を記録する
ことをことを特徴とする光記録方法。 - 【請求項７】 請求項１〜５のうちのいずれか１つに記
載の光記録方法において、 正常に記録されなかった原因が媒体の欠陥に起因するも
のであると判断されたとき、不良テスト領域のテスト記
録結果を補填しエラーレートが良いものとしてパワーマ
ージンを再計算することを特徴とする光記録方法。 - 【請求項８】 請求項１〜５のうちのいずれか１つに記
載の光記録方法において、 記録媒体にオーバーライト可能な光磁気記録媒体を用い
ることを特徴とする光記録方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9192328A JPH1139687A (ja) | 1997-07-17 | 1997-07-17 | 光記録方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9192328A JPH1139687A (ja) | 1997-07-17 | 1997-07-17 | 光記録方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1139687A true JPH1139687A (ja) | 1999-02-12 |
Family
ID=16289470
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9192328A Pending JPH1139687A (ja) | 1997-07-17 | 1997-07-17 | 光記録方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1139687A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1026670A2 (en) * | 1999-02-02 | 2000-08-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording medium and recording/reproduction method and apparatus therefor |
| US6552982B1 (en) | 1999-03-08 | 2003-04-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Information recording medium, information recording and reproduction method, and information recording and reproduction apparatus |
| KR100512211B1 (ko) * | 2002-01-15 | 2005-09-05 | 가부시키가이샤 히타치 엘지 데이터 스토리지 | 광학적 정보 기록 재생 장치 및 기록 방법 |
| WO2005088613A1 (ja) * | 2004-03-12 | 2005-09-22 | Pioneer Corporation | 情報記録装置及び方法、並びにコンピュータプログラム |
| JP2009015942A (ja) * | 2007-07-03 | 2009-01-22 | Funai Electric Co Ltd | 光ディスク装置 |
| KR100932646B1 (ko) | 2007-09-07 | 2009-12-21 | 도시바삼성스토리지테크놀러지코리아 주식회사 | 최적 파워 제어 수행 영역 결정 방법 및 그에 따른 광기록/재생 장치 |
| KR100998910B1 (ko) | 2008-01-25 | 2010-12-08 | 엘지전자 주식회사 | 최적 레이저 파워 결정 방법 및 장치 |
| KR101150986B1 (ko) | 2005-07-04 | 2012-06-08 | 삼성전자주식회사 | 최적 기록 파워 결정을 위한 광디스크 구동장치 및 그제어방법 |
-
1997
- 1997-07-17 JP JP9192328A patent/JPH1139687A/ja active Pending
Cited By (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6535468B2 (en) | 1999-02-02 | 2003-03-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording medium having an area for recording a plurality of recording/reproduction conditions to be used in recording/reproduction apparatuses and recording/reproduction method and apparatus therefor |
| EP1026671A1 (en) * | 1999-02-02 | 2000-08-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording medium and recording/reproduction method and apparatus therefor |
| EP1026669A2 (en) * | 1999-02-02 | 2000-08-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording medium and recording/reproduction method and apparatus therefor |
| WO2000046798A1 (en) * | 1999-02-02 | 2000-08-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording medium and recording / reproduction method and apparatus therefor |
| EP1026670A3 (en) * | 1999-02-02 | 2000-08-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording medium and recording/reproduction method and apparatus therefor |
| EP1031967A1 (en) * | 1999-02-02 | 2000-08-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording medium and recording/reproduction method and apparatus therefor |
| EP1026669A3 (en) * | 1999-02-02 | 2000-08-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording medium and recording/reproduction method and apparatus therefor |
| EP1026670A2 (en) * | 1999-02-02 | 2000-08-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording medium and recording/reproduction method and apparatus therefor |
| US6414922B1 (en) | 1999-02-02 | 2002-07-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording medium having an area for recording a plurality of recording/reproduction conditions to be used in recording/reproduction apparatuses and recording/reproduction method and apparatus therefore |
| US6469964B1 (en) | 1999-02-02 | 2002-10-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording medium and recording/reproduction method and apparatus therefor |
| US6411575B1 (en) | 1999-02-02 | 2002-06-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording medium having an area for recording a plurality of recording/reproduction conditions to be used in recording/reproduction apparatuses and recording/reproduction method and apparatus therefor |
| US6940795B2 (en) | 1999-03-08 | 2005-09-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Information recording medium, information recording and reproduction method, and information recording and reproduction apparatus |
| US6552982B1 (en) | 1999-03-08 | 2003-04-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Information recording medium, information recording and reproduction method, and information recording and reproduction apparatus |
| KR100512211B1 (ko) * | 2002-01-15 | 2005-09-05 | 가부시키가이샤 히타치 엘지 데이터 스토리지 | 광학적 정보 기록 재생 장치 및 기록 방법 |
| US7035180B2 (en) | 2002-01-15 | 2006-04-25 | Hitachi-Lg Data Storage, Inc. | Optical information recording reproducing apparatus and recording method |
| WO2005088613A1 (ja) * | 2004-03-12 | 2005-09-22 | Pioneer Corporation | 情報記録装置及び方法、並びにコンピュータプログラム |
| KR101150986B1 (ko) | 2005-07-04 | 2012-06-08 | 삼성전자주식회사 | 최적 기록 파워 결정을 위한 광디스크 구동장치 및 그제어방법 |
| JP2009015942A (ja) * | 2007-07-03 | 2009-01-22 | Funai Electric Co Ltd | 光ディスク装置 |
| KR100932646B1 (ko) | 2007-09-07 | 2009-12-21 | 도시바삼성스토리지테크놀러지코리아 주식회사 | 최적 파워 제어 수행 영역 결정 방법 및 그에 따른 광기록/재생 장치 |
| KR100998910B1 (ko) | 2008-01-25 | 2010-12-08 | 엘지전자 주식회사 | 최적 레이저 파워 결정 방법 및 장치 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0818783A2 (en) | Magneto optical recording medium and method | |
| JPH04258831A (ja) | 光磁気ディスクの再生方法 | |
| JPH06203417A (ja) | 光磁気記録媒体およびその記録方法と記録再生方法 | |
| JP2795567B2 (ja) | 光磁気ディスク及び再生方法 | |
| US5793712A (en) | Magneto-optical reproducing method using a reproducing layer of horizontal magnetized state at room temperature | |
| JPH07254175A (ja) | 光磁気記録媒体および該媒体を用いた情報記録再生方法 | |
| EP0905685A1 (en) | Optical recording method and optical recorder | |
| JPH1139687A (ja) | 光記録方法 | |
| JPH09134557A (ja) | 光記録方法 | |
| JPH06150418A (ja) | 光磁気記録媒体および記録再生方法 | |
| KR100308857B1 (ko) | 광자기기록매체및그기록방법과광자기기록장치 | |
| JPH1139803A (ja) | 光記録媒体、光記録方法および光記録装置 | |
| US5263015A (en) | Magneto-optical recording media and overwrite recording method using the same | |
| JPH11149641A (ja) | 光記録方法および光記録装置 | |
| JPH06195784A (ja) | 光磁気記録媒体及び該媒体を用いた情報記録方法 | |
| JPH10293949A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPH10283688A (ja) | 光記録方法および光記録装置 | |
| JPH06150414A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JP3666057B2 (ja) | 光磁気記録再生方法およびこれに用いる光磁気記録媒体 | |
| JPH1027392A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPH06223421A (ja) | 光磁気記憶素子 | |
| JP3789861B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPH10293925A (ja) | 光記録方法および光記録装置 | |
| JP3505860B2 (ja) | 光磁気記録再生方法およびこれに用いる光磁気記録媒体 | |
| JPH11144249A (ja) | 光記録方法および光記録再生装置 |