JPH07311942A - 光学的記録制御方式 - Google Patents
光学的記録制御方式Info
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- JPH07311942A JPH07311942A JP10046294A JP10046294A JPH07311942A JP H07311942 A JPH07311942 A JP H07311942A JP 10046294 A JP10046294 A JP 10046294A JP 10046294 A JP10046294 A JP 10046294A JP H07311942 A JPH07311942 A JP H07311942A
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- JP
- Japan
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- medium
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- block
- recording
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】光学的記録装置において、好適な記録条件を設
定するための試し書きを行うテストエリアを持たない媒
体に対しても、試し書きを行えるようにし上位装置から
の書き込み命令に対し好適な記録条件でユーザデータを
記録できるようにする。 【構成】光記録媒体上で、試し書きを行うためのブロッ
クを欠陥ブロックとして登録しておく。登録された欠陥
ブロックに対し試し書きを行い、その再生信号を基にデ
ータ記録時の最適なレーザ駆動電流を設定しておく。 【効果】試し書きエリアを持たない媒体に対しても、欠
陥ブロックを用いて試し書きを行うことにより常に好適
な記録条件でユーザデータの記録を行うことができる。
定するための試し書きを行うテストエリアを持たない媒
体に対しても、試し書きを行えるようにし上位装置から
の書き込み命令に対し好適な記録条件でユーザデータを
記録できるようにする。 【構成】光記録媒体上で、試し書きを行うためのブロッ
クを欠陥ブロックとして登録しておく。登録された欠陥
ブロックに対し試し書きを行い、その再生信号を基にデ
ータ記録時の最適なレーザ駆動電流を設定しておく。 【効果】試し書きエリアを持たない媒体に対しても、欠
陥ブロックを用いて試し書きを行うことにより常に好適
な記録条件でユーザデータの記録を行うことができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、データ記録制御方式に
係り、特に光記録媒体にレーザ光を照射してデータの記
録を行う光学的記録制御方式に関する。
係り、特に光記録媒体にレーザ光を照射してデータの記
録を行う光学的記録制御方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスク装置では光パワーによる加熱
によってデータの記録を行っているが、光ヘッドのレン
ズの汚れや光ディスク媒体の環境温度の変化等により、
一定の光パワーのみでは記録動作が不十分となることが
あった。
によってデータの記録を行っているが、光ヘッドのレン
ズの汚れや光ディスク媒体の環境温度の変化等により、
一定の光パワーのみでは記録動作が不十分となることが
あった。
【０００３】上記に対し、例えば、特開平４−６７４３
６号公報に示される様に、本データの記録前に所定の領
域に試し書きを行い、この試し書きの結果に基づいて本
データの記録時の光パワーを最適にするレーザ駆動電流
を設定するといった方法が提案されている。
６号公報に示される様に、本データの記録前に所定の領
域に試し書きを行い、この試し書きの結果に基づいて本
データの記録時の光パワーを最適にするレーザ駆動電流
を設定するといった方法が提案されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記特開平４−６７４
３６号公報で示される記録方法では、試し書き領域とし
て例えばＩＳＯ１３０ｍｍ径の書換形光ディスク媒体の
セクタ内の未使用領域を割り当てたり、メーカのテスト
領域を割り当てている。
３６号公報で示される記録方法では、試し書き領域とし
て例えばＩＳＯ１３０ｍｍ径の書換形光ディスク媒体の
セクタ内の未使用領域を割り当てたり、メーカのテスト
領域を割り当てている。
【０００５】しかしながら、セクタ内のデータ記録領域
とは別の未使用領域で試し書きを行う場合には、セクタ
内の未使用領域で試し書きを行うためのタイミングを発
生させる必要がある等のため、ハードウェアが複雑にな
るといった問題がある。また、媒体互換のためにはセク
タ内の未使用領域は試し書き実施後に消去しておくとい
った処理を必要とするといった問題もある。
とは別の未使用領域で試し書きを行う場合には、セクタ
内の未使用領域で試し書きを行うためのタイミングを発
生させる必要がある等のため、ハードウェアが複雑にな
るといった問題がある。また、媒体互換のためにはセク
タ内の未使用領域は試し書き実施後に消去しておくとい
った処理を必要とするといった問題もある。
【０００６】また、メーカのテスト領域で試し書きを行
う場合、メーカのテスト領域は媒体の最外周／最内周の
みに配置されており、この領域で試し書きを行った結果
でのレーザ駆動電流を基に、ユーザ記録領域全域を記録
することになる。媒体上のエリアによって周速等の違い
もあり記録条件が異なるため、ユーザ記録領域の記録に
おいて最適なレーザ駆動電流からずれている可能性があ
るといった問題がある。ＥＣＭＡ−１９５規格の書換形
光ディスク媒体では、各ゾーン毎にテストトラックが設
けられており各ゾーン毎に試し書きを行い、最適なレー
ザ駆動電流の設定が可能である。しかし、ＩＳＯ／ＩＥ
Ｃ１００８９規格やＥＣＭＡ−１８４規格等の書換形光
ディスク媒体では、領域毎のテストトラックが設けられ
ていない。
う場合、メーカのテスト領域は媒体の最外周／最内周の
みに配置されており、この領域で試し書きを行った結果
でのレーザ駆動電流を基に、ユーザ記録領域全域を記録
することになる。媒体上のエリアによって周速等の違い
もあり記録条件が異なるため、ユーザ記録領域の記録に
おいて最適なレーザ駆動電流からずれている可能性があ
るといった問題がある。ＥＣＭＡ−１９５規格の書換形
光ディスク媒体では、各ゾーン毎にテストトラックが設
けられており各ゾーン毎に試し書きを行い、最適なレー
ザ駆動電流の設定が可能である。しかし、ＩＳＯ／ＩＥ
Ｃ１００８９規格やＥＣＭＡ−１８４規格等の書換形光
ディスク媒体では、領域毎のテストトラックが設けられ
ていない。
【０００７】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的はテストトラックが設けられていな
い場合でも媒体互換を保った上で媒体全面に対して最適
な記録条件で記録を行える光学的記録制御方式を提供す
ることにある。
のであり、その目的はテストトラックが設けられていな
い場合でも媒体互換を保った上で媒体全面に対して最適
な記録条件で記録を行える光学的記録制御方式を提供す
ることにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の記録制御方式では、光記録媒体を初期化
（フォーマット）する時に媒体上の記録条件がほぼ同一
の領域毎に複数のブロックを試し書き領域として欠陥ブ
ロックに登録するように構成する。これにより、試し書
きを行う時には欠陥ブロックとして登録されているブロ
ックに対して試し書きを行い、後のユーザデータ記録時
の為のレーザ駆動電流を設定するように構成する。
め、本発明の記録制御方式では、光記録媒体を初期化
（フォーマット）する時に媒体上の記録条件がほぼ同一
の領域毎に複数のブロックを試し書き領域として欠陥ブ
ロックに登録するように構成する。これにより、試し書
きを行う時には欠陥ブロックとして登録されているブロ
ックに対して試し書きを行い、後のユーザデータ記録時
の為のレーザ駆動電流を設定するように構成する。
【０００９】また、請求項３では、試し書きを行うブロ
ックの半径方向に隣接するブロックも含めて欠陥ブロッ
クに登録する様に構成する。
ックの半径方向に隣接するブロックも含めて欠陥ブロッ
クに登録する様に構成する。
【００１０】また、請求項４では、既にフォーマットさ
れ使用を開始した媒体が光ディスク装置に装填された場
合に、登録されている欠陥ブロックが試し書きを行うブ
ロックとして十分かどうかを判定し、不十分であれば試
し書きのためのブロックに対し交替ブロックを割当て、
欠陥ブロックとして登録する様に構成する。
れ使用を開始した媒体が光ディスク装置に装填された場
合に、登録されている欠陥ブロックが試し書きを行うブ
ロックとして十分かどうかを判定し、不十分であれば試
し書きのためのブロックに対し交替ブロックを割当て、
欠陥ブロックとして登録する様に構成する。
【００１１】
【作用】上記の構成に基づく作用を説明する。
【００１２】本発明によれば、媒体フォーマット時にほ
ぼ同一の記録条件となる記録領域毎に試し書き用のブロ
ックを欠陥ブロックとして登録しておく。欠陥ブロック
に登録しておくことにより、ユーザデータの記録対象と
ならないため試し書きのためのブロックとして用いるこ
とが可能となる。これにより、任意の時間に欠陥ブロッ
クに対し試し書きを行い、後のユーザデータ記録時のた
めの最適なレーザ駆動電流を設定しておくことが可能と
なる。
ぼ同一の記録条件となる記録領域毎に試し書き用のブロ
ックを欠陥ブロックとして登録しておく。欠陥ブロック
に登録しておくことにより、ユーザデータの記録対象と
ならないため試し書きのためのブロックとして用いるこ
とが可能となる。これにより、任意の時間に欠陥ブロッ
クに対し試し書きを行い、後のユーザデータ記録時のた
めの最適なレーザ駆動電流を設定しておくことが可能と
なる。
【００１３】また、欠陥ブロックに対して試し書きを行
うことにより、媒体の互換性を保つことが可能であり、
試し書きのための試し書き領域を持つ媒体と持たない媒
体との共通の試し書き制御を用いることが可能となる。
うことにより、媒体の互換性を保つことが可能であり、
試し書きのための試し書き領域を持つ媒体と持たない媒
体との共通の試し書き制御を用いることが可能となる。
【００１４】また、請求項３によれば、試し書きに用い
るブロックの半径方向に隣接するブロックも欠陥ブロッ
クとして扱うため、試し書きで高いパワーが用いられた
としてもユーザデータブロックへの影響を防止すること
が可能となる。
るブロックの半径方向に隣接するブロックも欠陥ブロッ
クとして扱うため、試し書きで高いパワーが用いられた
としてもユーザデータブロックへの影響を防止すること
が可能となる。
【００１５】また、請求項４によれば、媒体フォーマッ
ト済で既に使用を開始した媒体に対しても、交替ブロッ
クを割当てることにより欠陥ブロック登録を行うため、
試し書きに用いるブロックを追加することが可能とな
る。
ト済で既に使用を開始した媒体に対しても、交替ブロッ
クを割当てることにより欠陥ブロック登録を行うため、
試し書きに用いるブロックを追加することが可能とな
る。
【００１６】
【実施例】以下に、本発明の一実施例を図面を用いて説
明する。
明する。
【００１７】図４から図６は、本発明の原理を示すもの
である。
である。
【００１８】図４は、本実施例に用いる光ディスクシス
テムの一構成例を示しており、光ディスク駆動装置３は
光ディスク媒体４を搭載しており、光ディスク媒体４に
対するデータの書き込み・読み出し・消去等の動作を行
う。ＣＰＵ（中央処理装置）１は光ディスク装置の上位
装置である。光ディスク制御装置２は上位装置であるＣ
ＰＵ１から命令を受け取り、光ディスク駆動装置３の制
御を行う。
テムの一構成例を示しており、光ディスク駆動装置３は
光ディスク媒体４を搭載しており、光ディスク媒体４に
対するデータの書き込み・読み出し・消去等の動作を行
う。ＣＰＵ（中央処理装置）１は光ディスク装置の上位
装置である。光ディスク制御装置２は上位装置であるＣ
ＰＵ１から命令を受け取り、光ディスク駆動装置３の制
御を行う。
【００１９】図５は、光ディスク媒体４上のトラックフ
ォーマット例を示しておりスパイラル状のトラックを備
えているが、これは同心円状に形成されることもある。
各トラックはそれぞれ固有のアドレスを持つ複数のセク
タに分割されている。図５では各トラックのセクタ数は
内周、外周共に同じであるが、外周へ行くに従いトラッ
ク当たりのセクタ数が増加するトラックフォーマットで
もよい。
ォーマット例を示しておりスパイラル状のトラックを備
えているが、これは同心円状に形成されることもある。
各トラックはそれぞれ固有のアドレスを持つ複数のセク
タに分割されている。図５では各トラックのセクタ数は
内周、外周共に同じであるが、外周へ行くに従いトラッ
ク当たりのセクタ数が増加するトラックフォーマットで
もよい。
【００２０】図６は、光ディスク媒体４上のフォーマッ
ト動作前のデータエリアの割当て例を示しており、デー
タエリアは媒体管理エリア４１とユーザエリア４２と交
替エリア４３からなる。本実施例では、媒体管理エリア
４１は複数ヶ所割り当てられている。また、媒体管理エ
リア４１には欠陥ブロックリストが含まれている。ま
た、交替エリア４３は１ヶ所に割り当てられているが、
複数ヶ所に分割されて割り当てられてもよい。
ト動作前のデータエリアの割当て例を示しており、デー
タエリアは媒体管理エリア４１とユーザエリア４２と交
替エリア４３からなる。本実施例では、媒体管理エリア
４１は複数ヶ所割り当てられている。また、媒体管理エ
リア４１には欠陥ブロックリストが含まれている。ま
た、交替エリア４３は１ヶ所に割り当てられているが、
複数ヶ所に分割されて割り当てられてもよい。
【００２１】以上のような光ディスクシステムにおい
て、本発明の実施例を図１および図２に示すフローチャ
ートで詳細に説明する。
て、本発明の実施例を図１および図２に示すフローチャ
ートで詳細に説明する。
【００２２】最初に図２に示す媒体のフォーマット時の
動作を説明する。光ディスク制御装置２はＣＰＵ１から
の媒体フォーマット命令を受け取ると、媒体のサーティ
ファイを行うフォーマットかどうかのチェックを行う
（１１０）。媒体のサーティファイを行う場合には、媒
体サーティファイを行い（１１１）、サーティファイ中
に検出した欠陥ブロックを欠陥ブロックリストに登録す
る（１１２）。媒体サーティファイ不要の場合には、欠
陥ブロックリストをクリアする（１１３）。ステップ１
１２又はステップ１１３の処理後は、あらかじめ試し書
きトラックが割り付けられている媒体かどうかをチェッ
クし（１１４）、試し書きトラツクが割り付けられてい
れば、欠陥ブロックリスト等必要な情報を媒体管理エリ
ア４１へ書込みを行い（１１６）処理を終了する。ステ
ップ１１４のチェックにおいて、あらかじめ試し書きト
ラックが割り付けられていない媒体の場合には、試し書
きを行うブロックを決定し欠陥ブロックリストに追加
（１１５）し、欠陥ブロックリスト等必要な情報を媒体
管理エリア４１へ書込みを行い（１１６）処理を終了す
る。
動作を説明する。光ディスク制御装置２はＣＰＵ１から
の媒体フォーマット命令を受け取ると、媒体のサーティ
ファイを行うフォーマットかどうかのチェックを行う
（１１０）。媒体のサーティファイを行う場合には、媒
体サーティファイを行い（１１１）、サーティファイ中
に検出した欠陥ブロックを欠陥ブロックリストに登録す
る（１１２）。媒体サーティファイ不要の場合には、欠
陥ブロックリストをクリアする（１１３）。ステップ１
１２又はステップ１１３の処理後は、あらかじめ試し書
きトラックが割り付けられている媒体かどうかをチェッ
クし（１１４）、試し書きトラツクが割り付けられてい
れば、欠陥ブロックリスト等必要な情報を媒体管理エリ
ア４１へ書込みを行い（１１６）処理を終了する。ステ
ップ１１４のチェックにおいて、あらかじめ試し書きト
ラックが割り付けられていない媒体の場合には、試し書
きを行うブロックを決定し欠陥ブロックリストに追加
（１１５）し、欠陥ブロックリスト等必要な情報を媒体
管理エリア４１へ書込みを行い（１１６）処理を終了す
る。
【００２３】媒体サーティファイ不要の場合の欠陥ブロ
ックリストのクリア（１１３）については行わないで、
既に欠陥ブロックリストが存在している場合には、その
まま欠陥ブロックリストを使用してもかまわない。ステ
ップ１１５の試し書きを行うブロックの決定について
は、書込み時のレーザ駆動電流が同一になるようデータ
エリアを分割し、分割したエリア毎にブロックを選定す
る。例えば、エリア分割したエリアの先頭部とか最終部
といった決定を行えばよい。また、試し書きを行うブロ
ック数については、試し書きに必要なブロック数を装置
固有で決定すればよい。試し書きに複数のブロックが必
要な場合は、連続したブロックにしてもよいし、不連続
であってもよい。
ックリストのクリア（１１３）については行わないで、
既に欠陥ブロックリストが存在している場合には、その
まま欠陥ブロックリストを使用してもかまわない。ステ
ップ１１５の試し書きを行うブロックの決定について
は、書込み時のレーザ駆動電流が同一になるようデータ
エリアを分割し、分割したエリア毎にブロックを選定す
る。例えば、エリア分割したエリアの先頭部とか最終部
といった決定を行えばよい。また、試し書きを行うブロ
ック数については、試し書きに必要なブロック数を装置
固有で決定すればよい。試し書きに複数のブロックが必
要な場合は、連続したブロックにしてもよいし、不連続
であってもよい。
【００２４】また、ステップ１１５において試し書きを
行うブロックを欠陥ブロックとして扱う時に、ユーザブ
ロックアドレスが割り付けられないような初期欠陥ブロ
ックとして扱ってもよいし、交替エリア４３内の交替ブ
ロックを割り付けて欠陥ブロックとして割り付けてもよ
い。図８は欠陥ブロックリスト例を示す。
行うブロックを欠陥ブロックとして扱う時に、ユーザブ
ロックアドレスが割り付けられないような初期欠陥ブロ
ックとして扱ってもよいし、交替エリア４３内の交替ブ
ロックを割り付けて欠陥ブロックとして割り付けてもよ
い。図８は欠陥ブロックリスト例を示す。
【００２５】また、試し書き処理において、半径方向に
隣接するブロックに影響を及ぼす恐れがある場合には、
ステップ１１５の欠陥ブロックリストへ試し書き用に用
いるブロックに半径方向に隣接するブロックも追加して
もよい。
隣接するブロックに影響を及ぼす恐れがある場合には、
ステップ１１５の欠陥ブロックリストへ試し書き用に用
いるブロックに半径方向に隣接するブロックも追加して
もよい。
【００２６】図７は、以上で説明したフォーマット動作
終了後のデータエリア割り当て例を示す。
終了後のデータエリア割り当て例を示す。
【００２７】以上で説明したフォーマット動作を行った
媒体に対し、図１に示す試し書き動作を説明する。
媒体に対し、図１に示す試し書き動作を説明する。
【００２８】試し書き動作の起動は、ＣＰＵ１から書込
み命令を受取った時に行ってもよいし、ＣＰＵ１からの
命令とは無関係に行ってもよい。
み命令を受取った時に行ってもよいし、ＣＰＵ１からの
命令とは無関係に行ってもよい。
【００２９】まず、媒体があらかじめ試し書きトラック
が割り付けられているかどうかチェック（１０１）し、
割り付けられていれば試し書きトラックへヘッドの位置
付けを行う（１０２）。試し書きトラックが割り付けら
れていなければ、欠陥ブロックリスト５０または５１を
参照し試し書きエリアを決定し試し書きエリア４２へヘ
ッドの位置付けを行う（１０３）。ステップ１０２又は
ステップ１０３の処理後、試し書きを行う（１０４）。
次いで試し書き後の再生信号に基づき、ユーザデータ記
録時のレーザ駆動電流を設定して（１０５）処理を終了
する。
が割り付けられているかどうかチェック（１０１）し、
割り付けられていれば試し書きトラックへヘッドの位置
付けを行う（１０２）。試し書きトラックが割り付けら
れていなければ、欠陥ブロックリスト５０または５１を
参照し試し書きエリアを決定し試し書きエリア４２へヘ
ッドの位置付けを行う（１０３）。ステップ１０２又は
ステップ１０３の処理後、試し書きを行う（１０４）。
次いで試し書き後の再生信号に基づき、ユーザデータ記
録時のレーザ駆動電流を設定して（１０５）処理を終了
する。
【００３０】ステップ１０３において欠陥ブロックリス
ト５０または５１を参照し試し書きエリアを決定する際
には、媒体フォーマット動作にて登録したブロックをサ
ーチすればよい。
ト５０または５１を参照し試し書きエリアを決定する際
には、媒体フォーマット動作にて登録したブロックをサ
ーチすればよい。
【００３１】次に、既に使用を開始しているフォーマッ
ト済媒体に対する試し書き用ブロックの割り付けを、図
３に示す媒体ロード時の処理フローチャートを用いて詳
細に説明する。
ト済媒体に対する試し書き用ブロックの割り付けを、図
３に示す媒体ロード時の処理フローチャートを用いて詳
細に説明する。
【００３２】光ディスク制御装置２は、光ディスク媒体
４が光ディスク駆動装置３にローディングされたことを
認識すると（１２０）、媒体管理エリア４１の読み出し
を行う（１２１）。そして、ローディングされた媒体が
試し書きトラックのある媒体かどうかチェックし（１２
２）、試し書きトラックのある媒体であれば処理を終了
し、試し書きトラックのない媒体であれば、既にフォー
マット済の媒体かどうかのチェックを行う（１２３）。
フォーマットされていない媒体であれば処理を終了し、
フォーマット済の媒体であればステップ１２１で読み出
しを行った欠陥ブロックリスト５０または５１を参照
し、試し書きに用いることができるブロックが登録済か
どうかのチェックを行う（１２４）。チェックの結果、
試し書き用ブロック登録済であれば処理を終了し、登録
済でなければ試し書きに用いるブロックの割り付けを行
う（ステップ１２５〜１２７）。
４が光ディスク駆動装置３にローディングされたことを
認識すると（１２０）、媒体管理エリア４１の読み出し
を行う（１２１）。そして、ローディングされた媒体が
試し書きトラックのある媒体かどうかチェックし（１２
２）、試し書きトラックのある媒体であれば処理を終了
し、試し書きトラックのない媒体であれば、既にフォー
マット済の媒体かどうかのチェックを行う（１２３）。
フォーマットされていない媒体であれば処理を終了し、
フォーマット済の媒体であればステップ１２１で読み出
しを行った欠陥ブロックリスト５０または５１を参照
し、試し書きに用いることができるブロックが登録済か
どうかのチェックを行う（１２４）。チェックの結果、
試し書き用ブロック登録済であれば処理を終了し、登録
済でなければ試し書きに用いるブロックの割り付けを行
う（ステップ１２５〜１２７）。
【００３３】まず、試し書きに用いるブロックを決定
し、決定されたブロックの読み出しを行う（１２５）。
その後、試し書きに用いるブロックに対し交替エリア４
３内の未使用交替ブロックを割り当て、ステップ１２５
で読み出されたデータを交替ブロックに書き込む（１２
６）。そして、交替ブロックを割り当てたブロックを欠
陥ブロックリスト５１に登録し、媒体管理エリア４１に
書込んで（１２７）処理を終了する。
し、決定されたブロックの読み出しを行う（１２５）。
その後、試し書きに用いるブロックに対し交替エリア４
３内の未使用交替ブロックを割り当て、ステップ１２５
で読み出されたデータを交替ブロックに書き込む（１２
６）。そして、交替ブロックを割り当てたブロックを欠
陥ブロックリスト５１に登録し、媒体管理エリア４１に
書込んで（１２７）処理を終了する。
【００３４】ステップ１２５において試し書きに用いる
ブロックの決定については、前述の媒体フォーマット動
作時の決定方法と同様に行えばよい。また、ステップ１
２４においての試し書きに用いるブロックが登録済かど
うかのチェックのしかたは、ステップ１２５での割り付
け方に準じて決定すればよい。
ブロックの決定については、前述の媒体フォーマット動
作時の決定方法と同様に行えばよい。また、ステップ１
２４においての試し書きに用いるブロックが登録済かど
うかのチェックのしかたは、ステップ１２５での割り付
け方に準じて決定すればよい。
【００３５】本実施例では、試し書き用ブロックが未割
り当てのフォーマット済媒体での、試し書き用ブロック
の割付けを媒体ロード時の処理として行っているが、契
機はこれに限定するものでなく装置固有に決定すればよ
い。
り当てのフォーマット済媒体での、試し書き用ブロック
の割付けを媒体ロード時の処理として行っているが、契
機はこれに限定するものでなく装置固有に決定すればよ
い。
【００３６】図９は、上述した記録制御方式を実現する
ための装置の一例として、光ディスク装置の概略的構成
を示すブロック図である。
ための装置の一例として、光ディスク装置の概略的構成
を示すブロック図である。
【００３７】図９において、２１はチャネル装置やホス
ト・コンピュータ等の上位装置１との間での信号授受を
制御するインタフェース・コントローラ、２２は上位装
置からの命令に応じた動作や、既に説明したフォーマッ
ト動作や試し書き動作等を実現すべく制御装置を所定の
手順で動作させるマイクロ・プロセッサ、２３は前記マ
イクロ・プロセッサ２２による制御動作を規定するマイ
クロ命令を格納するメモリ、２４はバッファメモリ２７
から取り出された情報を変調して光／磁気ヘッド回路２
９に出力する書き込み回路、２５は光ディスク上に記録
された情報を消去するための磁界制御回路、２６は光／
磁気ヘッド回路２９からの出力信号を復調し、バッファ
メモリ２７へ格納するための読み取り回路を示す。な
お、２８はバッファメモリ２７の入出力バスを選択する
ためのセレクタであり、マイクロ・プロセッサ２２から
与えられるマイクロ命令３０に応じて、インタフェース
・バス３３、プロセッサ・バス３２、およびリード／ラ
イト回路バス３１を選択的にバッファメモリ２７に接続
する。
ト・コンピュータ等の上位装置１との間での信号授受を
制御するインタフェース・コントローラ、２２は上位装
置からの命令に応じた動作や、既に説明したフォーマッ
ト動作や試し書き動作等を実現すべく制御装置を所定の
手順で動作させるマイクロ・プロセッサ、２３は前記マ
イクロ・プロセッサ２２による制御動作を規定するマイ
クロ命令を格納するメモリ、２４はバッファメモリ２７
から取り出された情報を変調して光／磁気ヘッド回路２
９に出力する書き込み回路、２５は光ディスク上に記録
された情報を消去するための磁界制御回路、２６は光／
磁気ヘッド回路２９からの出力信号を復調し、バッファ
メモリ２７へ格納するための読み取り回路を示す。な
お、２８はバッファメモリ２７の入出力バスを選択する
ためのセレクタであり、マイクロ・プロセッサ２２から
与えられるマイクロ命令３０に応じて、インタフェース
・バス３３、プロセッサ・バス３２、およびリード／ラ
イト回路バス３１を選択的にバッファメモリ２７に接続
する。
【００３８】本実施例によれば、あらかじめ試し書きエ
リアが割り当てられていない媒体に対し、媒体フォーマ
ット動作時に試し書きに用いるブロックを欠陥ブロック
として登録し、その欠陥ブロックに対して試し書きを行
うため、媒体上の任意の場所でユーザデータ記録時の最
適なレーザ駆動電流を設定できる。そのため、媒体上の
複数ヶ所で試し書き用のブロックを登録しておけば、媒
体全面をカバーするようにユーザデータ記録時の最適な
レーザ駆動電流の設定が可能となる。
リアが割り当てられていない媒体に対し、媒体フォーマ
ット動作時に試し書きに用いるブロックを欠陥ブロック
として登録し、その欠陥ブロックに対して試し書きを行
うため、媒体上の任意の場所でユーザデータ記録時の最
適なレーザ駆動電流を設定できる。そのため、媒体上の
複数ヶ所で試し書き用のブロックを登録しておけば、媒
体全面をカバーするようにユーザデータ記録時の最適な
レーザ駆動電流の設定が可能となる。
【００３９】また、試し書きに用いるブロックを欠陥ブ
ロックとして登録する場合の必要なブロック数も任意に
決定できるため、あらかじめ試し書きエリアが割り当て
られている媒体と同様となるように決定しておけば、試
し書き動作を媒体によらず共通の制御で行うことが可能
となる。
ロックとして登録する場合の必要なブロック数も任意に
決定できるため、あらかじめ試し書きエリアが割り当て
られている媒体と同様となるように決定しておけば、試
し書き動作を媒体によらず共通の制御で行うことが可能
となる。
【００４０】また、試し書き動作は、上位装置からの命
令とは無関係に行ってよいため、上位装置からの命令が
ない状態の時に定期的に試し書きを行うことが可能とな
り、上位装置からの書き込み命令の度に試し書きを行う
必要がなくユーザデータ記録処理時間の増大を防止する
ことができる。
令とは無関係に行ってよいため、上位装置からの命令が
ない状態の時に定期的に試し書きを行うことが可能とな
り、上位装置からの書き込み命令の度に試し書きを行う
必要がなくユーザデータ記録処理時間の増大を防止する
ことができる。
【００４１】また、フォーマット済かつあらかじめ試し
書きエリアが割り当てられていない媒体においても、試
し書きに用いるブロックに対し交替ブロックを割り当て
て欠陥ブロックとして登録する。そのため、フォーマッ
ト済で既に使用を開始した媒体に対しても、媒体上の任
意の場所で試し書きを行うことが可能となり、ユーザデ
ータ記録時の最適なレーザ駆動電流を設定することがで
きる。
書きエリアが割り当てられていない媒体においても、試
し書きに用いるブロックに対し交替ブロックを割り当て
て欠陥ブロックとして登録する。そのため、フォーマッ
ト済で既に使用を開始した媒体に対しても、媒体上の任
意の場所で試し書きを行うことが可能となり、ユーザデ
ータ記録時の最適なレーザ駆動電流を設定することがで
きる。
【００４２】
【発明の効果】以上詳しく説明したように、本発明の光
学的記録制御方式によれば、ユーザデータ記録時のレー
ザ駆動電流の最適値を設定するための試し書きを欠陥登
録ブロックを用いて行うため、試し書きのためのテスト
トラック等がない媒体においても、媒体の互換性を保持
した上で好適な条件で記録動作を行うことができる。
学的記録制御方式によれば、ユーザデータ記録時のレー
ザ駆動電流の最適値を設定するための試し書きを欠陥登
録ブロックを用いて行うため、試し書きのためのテスト
トラック等がない媒体においても、媒体の互換性を保持
した上で好適な条件で記録動作を行うことができる。
【００４３】また、試し書きのためのテストトラック等
がない媒体のフォーマット動作において、欠陥ブロック
の登録を自由に行えるため、媒体上の任意のエリアで必
要なブロック数を試し書きのためのブロックとして割り
付けが可能となる。そのため、媒体全面にわたって好適
な条件で記録動作を行えるような試し書き制御が可能と
なる。
がない媒体のフォーマット動作において、欠陥ブロック
の登録を自由に行えるため、媒体上の任意のエリアで必
要なブロック数を試し書きのためのブロックとして割り
付けが可能となる。そのため、媒体全面にわたって好適
な条件で記録動作を行えるような試し書き制御が可能と
なる。
【００４４】また、試し書きのためのブロック割り付け
を、あらかじめ試し書きエリアが割り当てられている媒
体と同様となるように行えば、試し書き動作を媒体によ
らず共通の制御で行えるといった効果もある。
を、あらかじめ試し書きエリアが割り当てられている媒
体と同様となるように行えば、試し書き動作を媒体によ
らず共通の制御で行えるといった効果もある。
【００４５】また、試し書きのためのブロックを割り付
ける時に、半径方向に隣接するブロックも欠陥ブロック
として扱うようにしておけば、試し書きにおいて高い光
パワーが用いられ、隣接するブロックに影響したとして
も、ユーザデータブロックまでへの影響を防止する効果
がある。
ける時に、半径方向に隣接するブロックも欠陥ブロック
として扱うようにしておけば、試し書きにおいて高い光
パワーが用いられ、隣接するブロックに影響したとして
も、ユーザデータブロックまでへの影響を防止する効果
がある。
【００４６】また、媒体フォーマット済で既に使用を開
始した媒体に対しても、交替ブロックを割当てることに
より、フォーマット動作時に試し書き用ブロックを割り
当てて試し書きを行える様にする場合と同様の試し書き
制御が可能となる。
始した媒体に対しても、交替ブロックを割当てることに
より、フォーマット動作時に試し書き用ブロックを割り
当てて試し書きを行える様にする場合と同様の試し書き
制御が可能となる。
【図１】本発明の一実施例による試し書き動作を示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図２】本発明の一実施例による媒体フォーマット動作
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【図３】本発明の一実施例による媒体ロード時の処理を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図４】本発明が適用される光ディスクシステムの構成
図である。
図である。
【図５】記録媒体のトラックフォーマット例を示す図で
ある。
ある。
【図６】未フォーマット記録媒体のトラック割り当ての
一例を示す図である。
一例を示す図である。
【図７】フォーマット実行後の記録媒体のトラック割り
当ての一例を示す図である。
当ての一例を示す図である。
【図８】記録媒体上の欠陥ブロックを管理する欠陥ブロ
ックリストの一例を示す図である。
ックリストの一例を示す図である。
【図９】本発明の一実施例が適用される光ディスク装置
のブロック図である。
のブロック図である。
１…ＣＰＵ， ２…光ディスク制御装
置 ３…光ディスク駆動装置， ４…光ディスク媒体，
４１…媒体管理エリア（欠陥ブロックを含む） ４２…ユーザエリア， ４３…交替エリア ４４…試し書きエリア（欠陥登録ブロック）
置 ３…光ディスク駆動装置， ４…光ディスク媒体，
４１…媒体管理エリア（欠陥ブロックを含む） ４２…ユーザエリア， ４３…交替エリア ４４…試し書きエリア（欠陥登録ブロック）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ１１Ｂ 20/18 Ｆ 8940−5Ｄ
Claims (4)
- 【請求項１】各トラックが固有のアドレスを持つ複数個
のブロックに分割され、ユーザデータ記録領域と該記録
領域の不良ブロックを救済する交替記録領域を持つ書換
え可能な光記録媒体と前記トラックにデータの記録・再
生・消去を行う光学記録装置において、データ記録時の
レーザ駆動電流を決定するための試し書きを前記記録領
域内の欠陥登録ブロックを用いて行うことを特徴とする
光学的記録制御方式。 - 【請求項２】媒体のフォーマット処理を行う時に、試し
書きに使用するブロックを欠陥ブロックとして登録する
ことを特徴とする請求項１記載の光学的記録制御方式。 - 【請求項３】試し書きに使用するブロックを欠陥ブロッ
クとして登録する時に、半径方向に隣接するトラックの
ブロックも含めて欠陥ブロックとして登録することを特
徴とする請求項１、２記載の光学的記録制御方式。 - 【請求項４】試し書きエリアを持たないフォーマット済
媒体が装填された時に、試し書きに使用するためのブロ
ックに対し交替ブロックを割り当て欠陥ブロックとして
登録することを特徴とする請求項１、３記載の光学的記
録制御方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10046294A JPH07311942A (ja) | 1994-05-16 | 1994-05-16 | 光学的記録制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10046294A JPH07311942A (ja) | 1994-05-16 | 1994-05-16 | 光学的記録制御方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07311942A true JPH07311942A (ja) | 1995-11-28 |
Family
ID=14274581
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10046294A Pending JPH07311942A (ja) | 1994-05-16 | 1994-05-16 | 光学的記録制御方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07311942A (ja) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6434106B1 (en) | 1998-02-13 | 2002-08-13 | Fujitsu Limited | Optical information storage unit and laser power control method |
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| WO2005034111A1 (ja) * | 2003-10-01 | 2005-04-14 | Pioneer Corporation | 情報記録装置及び方法、並びにコンピュータプログラム |
| KR100579454B1 (ko) * | 1999-04-13 | 2006-05-12 | 엘지전자 주식회사 | 기록매체 및 이에 테스트 기록을 수행하는 장치 및 방법 |
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| JP2008512818A (ja) * | 2004-09-13 | 2008-04-24 | エルジー エレクトロニクス インコーポレーテッド | 記録媒体及び記録媒体にデータを記録する方法と装置 |
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| US7525886B2 (en) | 2003-03-03 | 2009-04-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for managing disc defect using temporary DFL and temporary DDS including drive and disc information disc with temporary DFL and temporary DDS |
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| US8755137B2 (en) | 2012-01-20 | 2014-06-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Disk drive and method for arranging and managing calibration area in disk drive |
-
1994
- 1994-05-16 JP JP10046294A patent/JPH07311942A/ja active Pending
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