KR0132705B1 - 광학 정보 기록 방법 및 장치 - Google Patents

광학 정보 기록 방법 및 장치

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KR0132705B1
KR0132705B1 KR1019940008407A KR19940008407A KR0132705B1 KR 0132705 B1 KR0132705 B1 KR 0132705B1 KR 1019940008407 A KR1019940008407 A KR 1019940008407A KR 19940008407 A KR19940008407 A KR 19940008407A KR 0132705 B1 KR0132705 B1 KR 0132705B1
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겐지 도꾸미쯔
후미히로 하리가이
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가나이 쯔도무
가부시끼가이샤 히다찌 세이사꾸쇼
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Abstract

호스트 컴퓨터에 접속된 광학 기록 매체용 검사 데이타의 시험-기입을 실행하기 위한 광학 정보 기록 방법 및 장치에 있어서, 2개의 선정된 연속 신호를 포함하는 검사 데이타의 시험-기입을 위한 지시가 호스트 컴퓨터로부터의 기입 명령과 무관하게 수신된다. 검사 데이타의 시험-기입은 시험-기입 지시에 따라 광학 정보 기록 헤드에 광학 기록 매체의 시험-기입 영역 중 복수의 영역에 대한 서로 다른 레이저 구동 전류를 공급하므로써 실행된다. 각각의 시험-기입 데이타는 각각의 검사 데이타의 2개의 연속적인 신호들 사이의 평균 전압 레벨에 있어서의 각각의 검사 데이타의 2개의 연속적인 신호들 사이의 평균 전압 레벨에 있어서의 차를 결정하기 위해 재생된다. 차의 최소값을 나타내는 검사 데이타의 시험-기입을 위해 공급되는 레이저 구동 전류가 사용자 데이타의 기록이 실행되게 될 때의 광학 정보 기록 헤드에 공급되어 지는 레이저 구동 전류로서 설정된다. 검사 데이타의 다음 시험-기입까지의 시간 간격은 설정된 레이저 구동 전류에 따라 설정된다. 상기 구성에 의하면, 시험-기입은 호스트 컴퓨터로부터 요청되는 기입 명령이 있을 때마다 제거될 수 있다.

Description

광학 정보 기록 방법 및 장치
제1a도는 본 발명에 따른 광학 정보 기록 방법을 설명하기 위한 플로우챠트.
제1b도 내지 제1d도는 재생된 검사 데이타의 예를 도시한 파형도.
제1e도는 주위 온도에 대한 레이저 구동 전류의 값을 결정하기 위한 선정된 특성 곡선을 도시한 그래프.
제1f도는 광자기 재생 매체의 동작 온도에 대한 시험-기입 시간 간격을 결정하기 위한 선정된 특성을 도시한 그래프.
제2도는 본 발명에 따른 광학 정보 기록 방법을 설명하기 위한 플로우챠트.
제3도는 일반적인 광자기 정보 기록 장치를 도시한 블럭도.
제4도는 일반적인 광자기 정보 기록 매체를 설명하기 위한 도면도.
제5도는 광자기 정보 기록 매체의 트랙 상의 사용자 영역 및 시험-기입 영역을 도시한 확대도.
제6도는 본 발명의 광학 정보 기록 방법을 실행하기 위한 광자기 기록 제어장치를 도시한 블럭도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : CPU 2 : 광자기 디스크 제어기
3 : 광자기 디스크 드라이브 4 : 광자기 디스크 매체
21 : 인터페이스 제어기 22 : 마이크로프로세서
23 : 제어 모머메모리 24 : 기입 회로
25 : 자계 제어 회로 26 : 판독 회로
27 : 버퍼 메모리 28 : 선택기
29 : 광자기 헤드 회로 30 : 마이크로코드
41 : 사용자 데이터 영역 42 : 시험-기입 영역
본 발명은 데이타 기록 제어 시스템에 관한 것으로, 더 상세하게는 데이타가 광학 기록 매체 상에 조사된 레이저 빔의 광학 세기에 의해 기록되는 광학 정보 기록 및 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 광자기형 광학 기록 장치 등에서, 데이타는 레이저 빔에 의한 가열을 통해 기록된다. 그러나 일정한 레이저 전력이 사용되는 경우에, 광학 헤드 렌즈의 오염(dirtness), 광학 디스크 매체의 환경 온도에 있어서의 변화, 광학 디스크 매체의 감도의 편차 등에 기인하여 기록 동작이 부적절하게 되는 경우가 존재한다.
예를 들면, 광자기형 디스크 장치에 있어서, 광자기형 디스크 기록 매체의 표면 온도가 상승함에 따라, 기록이 행해지는 자기 영역이 확장되는 경향이 있다. 그러므로, 자기 영역이 확장되지 않도록 하기 위해 기록 레이저 빔의 전력을 감소시킬 필요가 있다. 반면에, 매체의 표면 온도가 낮으면, 기록되는 자기 영역은 좁아지는 경향이 있다. 따라서, 기입 레이저 빔의 전력을 증가시킬 필요가 있다. 또한, 먼지 입자가 광학 헤드의 대물 렌즈나 디스크 표면 상에 피착되는 경우에는, 레이저 전력이 디스크 표면에 도달하기가 어려워 자기 영역이 좁아지거나 부족하게 되어, 결과적으로 오류가 발생하기 쉽기 때문에, 레이저 전력은 증가되어야만 한다. 유사한 문제점이 재기록 불능형(write-once type) 광학 디스크 장치에서도 발생된다. 즉, 온도가 높게 되면, 과도 발열이 발생하여 피트(pit)가 확장된다. 역으로, 온도가 낮아지면, 피트가 좁아지거나 부족하게 된다.
그러나, 온도에 있어서의 변화가 발생할 때조차도, 매체 표면의 온도를 직접 측정하는 것은 어렵다. 그래서, 검출된 온도에 따라 기입 레이저 빔의 전력을 제어하기 위해 장치에 온도 감지기를 제공하는 방법이 고려된다. 그러나, 광자기형 디스크가 새롭게 장착될 때, 장치에 있어서의 온도 및 광자기형 디스크의 표면 온도가 서로 다르기 때문에, 광자기형 디스크의 온도에 있어서의 변화에 대응하는 적절한 레이저 전력 제어가 가능하지 않게 된다.
그래서, 일본 특허 공개 제4-67436호에 도시된 바와 같이, 데이타 기록 전에 광학 디스크 상의 선정된 영역에서 시험-기입(pre-write testing)이 수행되고, 데이타 기록시에 레이저 빔의 전력을 최적화시키는 레이저 구동 전류 세기가 시험-기입 데이타의 재생에 기인하는 결과에 기초하여 설정되는 방법이 제안되어 있다.
데이타 기록 시의 레이저 구동 전류를 설정하기 위해, 시험-기입 데이타로부터 재생된 신호가 요구된다. 그러므로, 시험-기입은 기록 동작 및 재생 동작을 모두 필요로 한다. 광학 헤드가 1 빔형인 경우에, 재생 동작은 기록 동작에 연속하는 회전에 대응한다. 따라서, 기입 명령을 프로세싱하기 위한 시간은 최소한 1회전에 대응하는 시간 크기만큼 증가된다. 또한, 시험-기입용 영역이 광학 디스크 상에서 사용자 영역으로부터 떨어져 있는 영역에 할당되는 경우에, 광학 헤드의 이동, 헤드의 위치 설정 등에 기인하여 시간의 증가가 증폭된다. 광학 헤드가 2 빔형인 경우에, 시험-기입 영역이 사용자 섹터 내에 있다면, 시험-기입 검사에 의해 발생되는 프로세싱 시간의 증가는 광학 디스크의 1회전 주기의 범위내에 있게 된다. 그러나, 시험-기입 영역이 사용자 섹터 외부에 있다면, 기입 명령 프로세싱 시간의 증가는 상당히 크다.
본 발명의 목적은 호스트로부터의 기입 명령에 대한 프로세싱 시간을 증가시키지 않으면서 시험-기입이 실행될 수 있고, 시험-기입 수행 회수가 감소되는 경우에도 언제나 최적의 기록 조건 하에서 기록이 수행될 수 있는 광학 정보 기록 방법 및 장치를 제공하는 것이다.
따라서, 본 발명의 특징에 따르면, 호스트에 접속된 광학 기록 매체용의 검사 데이타의 시험-기입을 실행하는 광학 정보 기록 방법이 제공되고, 이러한 방법은 호스트로부터의 데이타 기입 명령에 독립적인 지시 장치(instruction device)로부터의 선정된 2개의 연속 신호를 포함하는 검사 데이타의 시험-기입용의 지시를 수신하는 단계, 검사 데이타의 시험-기입을 실행하기 위한 예로서, 시험-기입 검사에 따라 광학 기록 매체의 복수의 시험-기입 영역용의 서로 다른 레이저 구동 전류를 광학 정보 기록 헤드에 공급하는 단계, 각 검사 데이타의 2개의 연속 신호 사이의 평균 전압 레벨에 있어서의 차를 결정하기 위해 각각의 시험-기입 데이타를 기록하는 단계, 사용자 데이타 기록이 실행될 때에 광학 정보 기록 헤드에 공급될 레이저 구동 전류로서, 최소차 값을 포함하여 검사 데이타의 시험-기입을 위해 공급되는 레이저 구동 전류를 설정하는 단계, 및 설정된 레이저 구동 전류에 따라 검사 데이타의 다음번 시험-기입때까지의 시간 간격긍 설정하는 단계를 포함하고 있다.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 호스트에 접속된 광학 기록 매체에 데이타를 기입하는 광학 정보 기록 방법이 제공되고, 이러한 방법은 호스트로부터의 데이타 기입 명령을 수힌하는 단계, 기입 명령에 따라 광학 정보 기록 헤드에 의한 광학 기록의 데이타 영역 중 사용자 데이타 영역에 데이타를 기입하는 단계, 데이타 기입 불량이 존재한다면, 데이타 기입 불량의 회수에 따라 2개의 연속적인 신호를 포함하는 검사 데이타의 시험-기입을 경정하는 단계, 검사 데이타의 시험-기입을 실행하기 위해 광학 정보 기록 헤드에 광학 기록 매체의 데이타 영역 내의 복수의 시험-기입을 실행하기 위해 광학 정보 기록 헤드에 광학 기록 매체의 데이타 영역 내의 복수의 시험-기입 영역용의 서로 다른 레이저 구동 전류를 제공하는 단계, 각 검사 데이타 2개의 연속 신호들 사이의 평균 전압 레벨에 있어서의 차를 결정하기 위해 각각의 시험-기입 데이타를 재생하는 단계, 사용자 데이타의 기록이 실행될 때에 광학 정보 기록 헤드에 공급될 레이저 구동 전류로서, 최소차 값을 포함하는 검사 데이타의 시험-기입 검사를 위해 공급되는 레징저 구동 전류를 설정하는 단계, 레이저 구동 전류에 의해 다시 데이타를 기입하기 위해 사용자 데이타 영역에 대한 광학 정보 기록 헤드의 위치 설정을 실행하는 단계 및 데이타 기입 명령에 대한 기입 불량 블럭이 존재하면 레이저 구동 전류에 의해 선택적인 데이타 영역 내에 데이타를 기입하고, 데이타 기입 명령에 대한 기입 불량 블럭이 존재하지 않으면 사용자 데이타 영역 내에 데이타 기입을 완료하는 단계를 포함하고 있다.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 호스트에 접속된 광학 기록 매체용의 검사 데이타의 시험-가입을 실행하기 위한 광학 정보 기록 장치가 제공되고, 이러한 장치는 호스트로부터의 데이타 기입을 위한 최소한 1개의 명령을 수신하기 위한 광학 정보 기록 제어 장치 및 데이타가 광학 기록 매체에 저장되도록 하기 위해 데이타의 기입을 위한 명령에 따라 광학 정보 기록 제어장치에 의해 제어되는 광학 기록 매체를 포함하고, 상기 광학 정보 기록 제어장치가 호스트 장치로부터의 데이타 기입 명령과 무관하게 매체를 포함하고, 상기 광학 정보 기록 제어 장치가 호스트 장치로부터의 데이타 기입 명령과 무관하게 2개의 선정된 연속 신호를 포함하는 검사 데이타의 시험-가입용 지시를 발생하기 위한 제1수단, 시험-기입에 따라 광학 정보 기록 헤드에 광학 기록 매체의 복수의 시험-기입을 표시하기 위한 제2수단, 각 검사 데이타의 2개의 연속 신호들간의 평균 전압 레벨에 있어서의 차를 결정하기 의해 각각의 시험-기입 데이타를 재생하기 위한 제3수단, 사용자 데이타의 기록이 실행되게 될 때에 최소차 값을 나타내는 검사 데이타의 시험-기입을 위해 공급되는 레이저 구동 전류의 공급을 표시하기 위한 제4수단, 및 공급된 레이저 구동 전류에 따라 검사 데이타의 다음번 시험-기입 때까지의 시간 간격을 설정하기 위한 제5수단을 포함하고 있다.
본 발명의 상기 구성에 의하면, 광학 기록 매체가 제일 먼저 광학 디스크 드라이브 상에 장착될 때 또는 호스트로부터의 명령이 수행되지 않을 때, 시험-기입이 호스트로부터의 기입 명령과는 무관하게 선정된 시간 간격으로 광학 기록 매체상이 시험-기입 영역에 대해 실행되어, 사용자 데이타의 기록시의 레이저 구동 전류가 재생된 신호에 기초하여 최적의 값으로 설정된다. 호스트로부터 기입 명령이 있는 경우에, 사용자 데이타는 이미 설정되어 있는 최적의 값으로 설정된다. 호스트로부터 기입 명령이 있는 경우에, 사용자 데이타는 이미 설정되어 있느 최적의 레이저 구동 전류에 의해 광학 기록 매체 내에 기입된다. 따라서, 호스트로부터 기입 명령이 발생될 때마다 시험-기입을 실행할 필요성이 없어진다. 또한, 시험-기입이 호스트의 프로세싱에 아무런 영향도 미치지 않으므로, 사용자 데아타의 기록을 위한 프로세싱 시간의 증가를 방지하는 것이 가능하게 된다.
또한, 레이저 구동 전류가 시험-기입에 의해 설정되면, 다음번 시험-기입 수행까지의 시간 간격은 지난번과 다음번 시험-기입 시에 설정되는 레이저 구동 전류와 현재의 시험-기입 시에 설정되는 레이저 구동 전류 사이의 차에 기초하여 결정된다. 그러므로, 레이저 구동 전류에서의 차가 작으면, 다음번 시험-기입 때까지의 시간 간격은 연장된다. 그러므로, 레이저 구동 전류에서의 차가 작으면, 다음번 시험-기입 때까지의 시간 간격은 연장된다. 차가 크면, 다음번 시험-기입 때까지의 시간 간격은 단축된다. 따라서, 광학 기록 매체가 광학 디스크 드라이브 상에 장착된 직후에, 광학 기록 매체의 온도에 있어서의 변화가 크므로 시험-기입 검사의 시간 간격이 짧게 되도록 결정되어, 결과적으로 레이저 구동 전류의 설정 값이 각각의 시험-기입에 따라 변경된다. 장착된 후에 일정 시간이 경과되면, 광학 기록 매체의 온도에서의 변화가 작아지게 되므로, 레이저 구동 전류의 설정 값의 변환는 작게 되어 시험-기입 시간은 길어진다. 그러므로, 감소된 시험-기입 회수로도 충분하게 된다.
또한, 호스트로부터의 기입 명령에 대해 검출된 기록 불량 블럭의 수가 선정된 값보다 작지 않으면, 광학 기록 매체의 환경 온도에 예기치 않은 변화가 시험-기입 사이에 존재하는 것으로 가정된다. 그러나, 이러한 경우에서도, 최적의 레이저 구동 전류를 제공하는 것이 가능해 진다.
이제, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대해 상세히 설명한다.
먼저, 본 발명의 개요를 제3도 내지 제5도를 기초로 하여 설명한다.
제3도는 본 발명이 광자기 디스크 장치에 응용되는 경우의 실시예에 사용되는 광자기 디스크 장치의 구성의 한 예를 도시한 것이다. 광자가 디스크 드라이브(3)에는 광자기 디스크 매체(4)가 장착되거나 삽입되어 있으며, 광지기 디스크 매체(4)용의 데이타의 기입, 기록 및 소거를 포함하는 동작을 실행한다. CPU(중앙 처리 장치; 1)은 광자기 디스크 장치용의 호스트 컴퓨터이다. 광자기 디스크 제어기(2)는 광자기 디스크 드라이브(3)을 제어하기 위해 CPU(1)로부터 명령을 수신한다.
제4도는 광자기 디스크 매체(4) 상의 트랙 포맷의 실시예를 도시한 것이다. 도시된 실시예에서, 전체적으로 나선형인 트랙이 제공된다. 그러나, 트랙이 동축으로 형성되어 있는 경우도 있다. 각 트랙은 각기 고유의 어드레스를 갖고 있는 다수의 섹터들로 나누어 진다. 제4도에서, 각 트랙 내의 섹터의 수는 내부 원주와 외부 원주 상에서 동일하다. 그러나, 한 트랙 내의 섹터의 수가 외부 원주로 갈수록 증가되는 트랙 포맷이 사용될 수돌 있다.
제5도는 각 트랙에 대한 광자기형 디스크 매체(4) 상의 데이타 영역을 도시한 것이다. 제4도에 도시된 바와 같이, 데이타 영역은 각 섹터에 대해 분할(partitioned)되어 있는 사용자 영역(41) 및 시험-기입 영역(42)로 구성된다. 사용자 영역(41)은 불량 블럭을 기록하기 위해 할당된 광학 블럭을 포함한다. 시험-기입 영역(42) 및 사용자 영역(41)은 쌍으로 다수의 트랙을 형성한다. 정확하게 시험-기입에 사용되는 시험-기입 영역942)는 번호 매김이 광자기 디스크 매체(4)의 중심을 기점으로 이루어질 때, 이들 영역이 홀수번째 시험-기입 영역, 짝수번째 시험-기입 영역, 매 5번째 시험-기입 영역 또는 내부 및 외부 원주 트랙의 시험-기입 중 하나가 되도록 결정된다. 또한, 정확하게 시험-기입에 사용되는 섹터의 시험-기입 영역 또는 매 5번째 섹터의 시험-기입 영역이 되도록 결정될 수 있다. 그래서 정확하게 시험-기입에 사용되는 시험-기입 검사 영역(42)는 임의로 결정될 수 있다.
본 발명에 관련된 상술한 광자기 딧크 장치의 구성 소자는 광자기 디스크 제어기92)이다. 광자기 디스크 제어기(2)의 상세도가 제6도에 도시되어 있다. 도면에서, 참조 번호 21은 호스트 컴퓨터(1)과의 신호 통신을 제어하기 위한 인터페이스 제어기를 나타내고, 참조 번호 22는 호스트 컴퓨터(1)로부터의 명령에 대응하는 동작 및 선정된 절차 내의 시험-기입 동작을 실행하기 위한 마이크로프로세서를 나타내며, 참조 번호 23은 마이크로프로세서(22)에 의한 제어 동작을 정의하는 마이크로코드를 저장하기 위한 메모리를 나타내고, 참조 번호 24는 광자기 헤드 회로(29)에 변조된 정보를 출력하기 위해 버퍼 메모리(27)로부터 판독된 정보를 변조하기 위한 기입 회로를 나타내며, 참조 번호 25는 광자기 디스크 상의 정보를 기록하고 소거하기 위한 자계 제어 회로를 나타내고, 참조 번호 26은 버퍼 메모리(27)에 복조된 신호를 저장하기 위해 광자기 헤드 회로(29)로부터의 출력 신호를 복조하기 위한 판독 회로를 나타낸다.
참조 번호 28은 버퍼 메모리(27)의 입/출력 버스를 선택하기 위한 선택기를 표시한다. 선택기(28)은 인터페이스 버스(33), 프로세서 버스(32) 또는 판독/기입 회로 버스(31)을 마이크로프로세서(22)로부터 주어진 마이크로코드(30)에 따라 선택적으로 버퍼 메모리(27)에 접속한다.
상기 구성을 갖는 광자기 디스크 장치에 의한 광자기 디스크 매체(4) 내의 검사 데이타의 시험-기입을 위한 동작이 제1a도에 도시된 플로우챠트를 따라 설명된다. 본 실시예에서, 검사 데이타의 시험-기입은 섹터가 바뀔 때마다 선정된 시험-기입 영역(42) 각각에 대해 이루어진다.
먼저, 광자기 디스크 매체(4)가 광자기 디스크 드라이브(3)에 장착되거나 삽입될 때의 시험-이입 동작에 대해 설명한다. 먼저, 광자기 디스크 매체(4)가 광자기 디스크 드라이브(3) 상에 장착된다. 단계(51)에서, 광자기 디스크 매체(4)가 장착되었는 지에 대한 판단이 이루어진다. 단계(53)에서, 상술한 바와 같은 선정된 시험-기입 영역(42)에 대한 광자기 헤드의 위치 설정이 실행된다. 단계(54)에서, 검사 데이타가 시험-기입 영역(42)에 기입되고, 기입된 검사 데이타가 재생된다.
검사 데이타는 제1b도 내지 제1d도에 도시된 바와 같이, 작은 진폭 및 높은 주파수를 갖는 파형과 큰 진폭 및 낮은 주파수를 갖는 파형을 포함한다. 시험-기입 영역(42)에 대한 이러한 검사 데이타의 시험-기입은 제1e도에 도시된 특성 곡선으로 표시되는 바와 같은 주위 온도들에 대한 레이저 구동 전류 i1, i2…in에 의해 매번 다른 섹터에 대해 실행된다. 레이저 구동 전류 i1, i2…in은 제1e도에 도시된, 특성 곡선에 따라 정의된 관계로 제어 메모리(23)에 사전에 저장된다. 그래서, 검사 데이타의 시험-기입은 광자기 디스크 매체(4)가 광자기 디스크 드라이브(3) 상에 장착될 때에 주위 온도에 따라 결정된 레이저 구동 전류 i1, i2…in에 의해 광자기 디스크 헤드가 구동되는 방식으로 실행된다. 검사 데이타의 기입을 위한 레이저 구동 전류는 제1e도에 도시된 특성 곡선에서 상대적으로 높은 온도에 대응하는 전류로부터 시작하여 전류의 크기 순으로 공급된다. 즉, 구동 전류는 낮은 값으로부터 높아지는 순으로 공급된다. 검사 데이타가 기입될 때, 원한다면, 미리 기입 검사를 받게 될 시험-기입 영역(42) 내에 기록되어 있는 검사 데이타의 소거가 이루어진다. 이러한 경우에, 광자기 디스크 매체(4)는 소거 및 기입을 위해 2번 회전된다. 그러나, 기록이 행해진 검사 데이타의 소저는 검사 데이타의 시험-기입 후에 이루어질 수도 있다.
단계(55)에서, 다음의 레이저 구동 전류가 재생된 검사 데이타에 따라 결정된다. 즉, 제1b도 내지 제1d도에 도시된 바와 같이, 작은 진폭 및 높은 주파수를 갖는 재생된 검사 데이타의 파형의 평균 레벨과 큰 진폭 및 낮은 진폭 및 높은 주파수를 갖는 재생된 검사 데이타의 파형의 평균 레벨과 큰 진폭 및 낮은 주파수를 갖는 파형의 평균 레벨 사이의 차 △v가 존재한다. 예를 들면, 제1b도 내지 제1d도의 이러한 재생된 검사 데이타 중 제1c도의 재생된 검사 데이타가 가장 작으므로, 이 검사 데이타를 선정된 섹터에 공급하였던 레이저 구동 전류, 즉, 레이저 구동 전류 i2가 다음에 공급될 레이저 구동 전류로서 결정되거나 설정된다. 설정된 레이저 구동 전류 i2는 제어 메모리(23)에 1회 저장된다. 단계(56)에서, 시험-기입이 광자기 디스크 드라이브(3) 상의 광자기 디스크 매체(4)의 장착으로부터 시작되었는 지에 대한 판단이 이루어진다. 광자기 디스크 드라이브(3) 상의 광자기 디스크 매체(4)의 장착으로부터 시험-기입이 시작되는 경우에, 검사 데이타의 다음번 시험-기입까지의 타이머 값이 단계(58)에서 설정된다. 이 타이머 값은 제1f도에 도시된 동작 온도와 시험-기입 시간 사이의 관계로가 사전에 제어 메모리(23)에 저장되고, 동작 온도에 대한 다음번 시험-기입을 위한 시간이 저장된 관계로부터 결정되는 방식으로 설정된다. 타이머 값의 설정이 제1도에 도시된 특성 곡선에 있어서 시간 상의 변화에 대한 온도 상의 변화가 큰 영역 내에서 이루어진다. 즉 시간에 있어서의 변화가 충분히 작다. 상기 제어가 제6도에 도시된 광자기 디스크 제어기(2)의 마이크로프로세서(22)에 의해 실행됨은 물론이다.
광자기 디스크(4)의 내부 원주용 레이저 구동 전류가 그의 외부 원주용 레이저 구동 전류는 시험-기입 영역(42)용 광자기 헤드의 위치 설정이 행해지고[단계(53)], 시험-기입이 실행되고[단계(54)], 레이저 구동 전류가 설정되는 프로세싱이 서로 다른 경우, 예를 들면, 외부 원주로의 진행에 따라 매체의 더 높은 주변 속도와 한 섹터의 통과에 짧은 시간이 요구되는 경우, 즉, 외부 원주로의 진행에 따라 레이저 구동 전류를 높게 할 필요가 있는 경우에, 시험-기입이 광자기 디스크 매체(4) 상에 제공된 다수의 시험-기입 영역에 대해 실행되어 각 영역에 대한 사용자 데이타 기록시의레이저 구동 전류가 저장된다. 그리고, 사용자 데이타 기록이 이루어질 때, 기록은 기록이 행해질 영역에 대응하는 레이저 구동 전류를 결정함으로써 수행된다. 광자기 디스크 매체(4) 상의 영역 간에 레이저 구동 전류에서의 차가 내부 원주로부터 외부 원주까지의 영역에 걸쳐 실질적으로 일정하면, 시험-기입이 최내각 및 최외각 원주의 시험-기입 영역(42)에 대해서만 실행되고, 다른 영역에 대한 레이저 구동 전류는 최내각 및 최외각 원주에 대한 레이저 구동 전류에 기초하여 설정되는 방법이 사용될 수도 있다.
다음으로, 정상 조건에서, 즉, 광자기 디스크 매체(4)가 이미 광자가 디스크 드라이브(3) 상에 장착되어 있는 상태에서 사용자 데이타가 사용자 영역(41) 내에 기입될 때, 시험-기입 영역(42)에 검사 데이타를 시험-기입하는 것에 대해 설명한다.
먼저, 단계(52)에서, 검사 데이타의 시험-기입에 대한 판단이 단계(58)에 설정된 타이머 값에 기초하여 이루어진다. 단계(53)에서, 선정된 시험-기입 영역(42)에 대한 광자기 헤드의 위치 설정이 실행된다. 단계(54)에서, 시험-기입 영역(42)내에 검사 데이타를 시험-기입하는 것이 실행되고, 기입된 검사 데이타가 재생된다. 기입 및 재생은 제1e도와 관련하여 이미 설명되었다. 단계(55)에서, 레이저 구동 전류는 재생된 검사 데이타에 따라 결정된다. 레이저 구동 전류의 이러한 결정은 이미 설명된 바 있다. 단계(56)에서, 시험-기입이 광자기 디스크 드라이브(3) 상의 광자기 디스크 매체(4)의 장착으로부터 시작하는 지에 대한 판단이 이루어진다. 그렇지 않은 경우에, 흐름은 선행(또는 다음번)과 현재 설정된 레이저 구동 전류의 값 사이의 차△P가 결정되고, 다음 시험-기입까지의 시간 간격이 결정된 차에 따라 결정되는 단계(57)로 이동된다. 시간 값의 이러한 결정은 레이저 구동 전류에서의 차 △P와 차에 대응하는 타이머 값 사이의 관계식이 제어 메모리(23)에 사전에 저장되는 방식으로 이루어진다.
다음 시험-기입까지의 시간 값은 레이저 구동 전류에 있어서의 차 △P가 작아지고 커짐에 따라, 각각 커지고 작아지도록 설정된다. 예를 들면, 시간 값은 레이저 구동 전류에서의 차 △P가 0이면 시간 Tmax이고, 광자기 디스크 매체(4)의 삽입 또는 장착 직후에는 Tmin이며, 나머지 경우에슨 Tmin+A(상수)/|△P|이다.
이러한 경우의 시험-기입 역시, 레이저 구동 전류가 광자기 디스크 매체(4)의 영역에 따라 다르면, 시험-기입은 각 영역에 대한 레이저 구동 전류가 저장될 수 있도록 다수의 시험-기입 영역(42)에 대해 실행된다. 또한, 한 시험-기입 영역에 대한 레이저 구동 전류의 설정값의 변이가 다른 시험-기입 영역에 대한 레이저 구동 전류를 설정하는데 사용될 수 있다면, 단지 1개의 시험-기입 영역에 대한 시험-기입만으로 충분하다. 이러한 경우에, 시험-기입은 광자기 헤드가 시험-기입의요구를 발생하는 시간에 위치되어 있는 트랙에서 가장 가까운 시험-기입 영역(42)에 대해 실행된다.
정상 조겅에서의 시험-기입 타이머에 기초하여 프로세싱하는 시험-기입은 CPU(1)로부터의 명령에 무관하게 실행되므로, CPU(1)로부터의 명령이 시험-기입 프로세싱 중에 수신되는 경우에 존재한다. 이 경우에는, 시험-기입인 CPU(1)로부터의 명령을 수행하기 위해 중단되고, 명령의 수행이 완료된 후에 다시 실행되는 방법이 사용될 수 있다. 선택적으로 CPU(1)로부터의 명령은 시험-기입 프로세싱의 완료 후에 수행될 수도 있다. CPU(1)로부터의 명령이 기입 프로세싱인 경우에만, 시험-기입 프로세싱의 명령인 경우에는 시험-기입이 CPU(1)로 부터의 명령을 수행하기 위해 중단되었다가 명령의 수행이 완료된 후에 다시 실행되는 방법을 사용할 수도 있다.
다음으로, 제2도에 도시된 플로우차트를 참조하여 기입 동작을 상세히 설명한다.
CPU(1)로부터 기입 명령을 수신하면, 고아자기 디스크 제어기(2)는 광자기 헤드의 위치 설정을 실행한다[단계(61)]. 그후에, 기입돌 데이타가 수신되고, 데이타의 기입 및 판독을 위한 검색이 이루어진다[단계(62)]. 단계(63)에서, 기록에 있어서 불량인 블럭이 있는 지에 대한 판단이 이루어진다. 기록 불량인 블럭이 없으면, 프로세싱이 완료된다. 기록 불량인 블럭이 있으면, 시험-기입 프로세싱이 실행되어야 하는지 또는 불량 블럭의 수가 선정된 수보다 작은 지에 대한 판단이 이루어진다[단계(64)]. 시험-기입 프로세싱이 필요하지 않은 것으로 결정되는 경우에, 불량 블럭에 대한 선택적인 블럭의 할당을 위한 프로세싱의 실행됨으로써[단계(70)], 프로세스가 완료된다. 단계(64)에서 시험-기입 프로세싱이 필요한 것으로 결정되는 경우에, 시험-기입 영역에 대한 헤드의 위치 설정이 실행된다[단계(65)]. 다음으로, 시험-기입 프로세싱이 실행되고, 레이저 구동 전류가 그후에 설정된다[단계(66)], 불량 블럭에 대한 광자기 헤드의 위치 설정이 다시 실행되고[단계(67)], 불량 블럭에 대한 데이타의 기입 및 기록을 위한 검색이 다시 이루어진다[단계(68)]. 그 후에, 기록 불량인 블럭이 있는 지에 대한 판단이 이루어진다[단계(69)]. 불량 블럭이 없으면, 프로세싱은 완료된다. 불량 블럭이 있으면, 불략 블럭에 대한 선택적인 블럭의 할당을 위한 프로세싱이 실행됨으로써[단계(70)], 프로세스는 완료된다. 단계(66)은 제1도와 관련하여 설명된 단계(53 및 57)에 대응한다.
본 발명의 실시예에 따르면, 시험-기입은 호스트 컴퓨터로부터의 기입 명령에 무관하게 실행되고, 사용자 데이타의 기록 시의 레이저 구동 전류는 각각의 시험-기입이 실행되는 최적의 값으로 설정된다. 그러므로, 호스트 컴퓨터로부터의 각각의 기입 명령에 대해 시험-기입을 행할 필요가 없다. 이렇게 하여, 사용자 데이타의 기록을 위한 프로세싱 시간의 증가를 방지하는 것이 가능하다. 이 효과는 시험-기입 영역에 사용자 영역과 분리되게 제공되는 경우와 광자기 헤드가 1빔형으로 되어 있는 경우에 현저하게 된다.
또한, 시험-기입 수행을 위한 시간 간격을 시험-기입 수행에 기초하여 설정된 레이저 구동 전류의 값에서의 차로부터 경정된다. 그러므로, 광자기 디스크 매체의 환경 온도에서의 변화가 거의 없는 정상 조건에서는 시험-기입 수행의 시간 간견을 연장되고, 시험-기입 수행의 회수는 감소된다. 이렇게 하여, 호스트 컴퓨터로부터의 명령과 충돌하는 빈도수가 감속될 수 있고, 시험-기입 영역의 수명이 연장될 수 있다.
또한, 다수의 시험-기입 영역이 광자기 디스크 매체 상에 제공된다. 그러므로, 광자기 디스크 매체의 전 표면에 걸친 레이저 구동 전류가 1개의 시험-기입 영역에 대한 시험-기입의 결과에 기초하여 결정될 수 있는 경우에, 광자기 헤드가 위치해 있는 곳에서 가장 가까운 시험-기입 영역에 대한 시험-기입으로 충분하다. 이렇게 하여, 시험-기입을 위한 위치 설정 시간이 단축될 수 있다.
더우기, 시험-기입은 기록 불양 블럭이 호스트 컴퓨터로부터의 기입 명령에 대해 검출될 때 실행된다. 그러므로, 광자기 디스크 매체의 환경 온도에 있어서의 급속한 변화가 시험-기입 사이에 존재하게 되어 선행 레이저 구동 전류 값이 최적 레이저 구동 전류 값으로부터 이탈할 때 조차도, 레이저 구동 전류는 시험-기입을 다시 실행하기 위한 최적값으로 다시 설정될 수 있다. 따라서, 기입시 기록 불량을 초래하는 블럭에 할당되어지는 선택적인 블럭의 수를 감소시키는 것이 가능하다.
이제까지 본 발명의 실시예에 대해 상세학 기술하였으나, 이러한 것은 본 발명의 내용을 제한하기 위한 것은 아니다. 본 발명은 광자기 디스크 장치, 재기록 불능형 광학 디스크 장치 등과 같으 광학 정보 기록 및 재생 장치에 응용될 수 있으며, 첨부된 특허 청구 범위에 의해 한정된 원리 및 범위 내에서 본 분야의 술련된 기술자들에 흐애 다양하게 수정 및 변형될 수 있다.

Claims (20)

  1. 호스트에 접속된 광학 기록 매체용의 검사 데이타의 시험-기입을 실행하는 고아학 정보 기록 방법에 있어서,(a) 상기 호스트로부터의 데이타 기입 명령에 무관하게 지시 수단으로부터의 2개의 선정된 연속 신호를 포함하는 검사 데이타의 시험-기입을 위한 지시를 수신하는 단계, (b) 상기 검사 데이타의 시험-기입을 실행하기 위해 상기 시험-기입 지시에 따라 상기 광학 기록 매체의 시험-기입 영역들 중 복수의 시험-기입 영역에 대한 서로 다른 레이저 구동 전류를 광학 정보 기록 헤드에 공급하는 단계, (c)각 검사 데이타의 2개의 연속 신호 사이의 평균 전압 레벨에 있어서의 차를 결정하기 위해 각각의 시험-기입 데이타를 기록하는 단계, (d)상기 차의 최소값을 나타내는 검사 데이타의 시험-기입을 위해 공급되는 레이저 구동 전류를 사용자 데이타 기록이 실행될 때 상기 광학 정보 기록 헤드에 공급될 레이저 구동 전류로서 설정하는 단계 및 (e)설정된 레이저 구동 전류에 따라 검사 데이타의 다음번 시허-기입까지의 시간 간격을 설정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 단계(e)는 선행 시험-기입 시 공급된 시 공급된 레이저 구동 전류의 값과 현재의 시험-기입 시 공급된 레이저 구동 전류의 값 사이의 차를 결정하는 단계 및 검사 데이타의 다음의 시험-가입까지의 시간 간격이 상기 차가 작게됨에 따라 길어지도록 상기 차에 대한 시간 간격의 콘스탄트 테이블 상에 나타나는 관계로부터 상기 시간 간격을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 정보 기록 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 단계(e)에 있어서, 상기 시간 간격이 현재의 시험-기입 시의 동작 온도에 대한 시간 간격의 콘스탄트 테이블 상에 나타나는 관계로부터 결정되는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 단계(a)에서 수신된 상기 시험-기입 지시가 상기 광학 기록 매체가 상기 광학 디스크 드라이브 상에 장착될 때 광자기 디스크 드라이브에 의해 발생되거나 상기 단계(e)에서 설정된 다음번 시험-기입까지의 시간 간격에 따라 발생되는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 방법.
  5. 제1항에 있어서, 상기 단계(b)기 상기 검사 데이타의 시험-기입을 실행하기 위한 상기 시도의 기입 명령에 따라 상기 광학 기록 헤드에 상기 광학 리고 매체의 다수의 트객의 시험-기입 영역의 다수의 섹터에 대한 레이저 구동 전류를 공급하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 단계(b)기 상기 검사 데이타의 시험-기입을 실행하기 위해 상기 광학 정보 기록 헤드에 상기 광학 기록 매체의 최내각 및 최외각 원주 트랙의 시험-기입 영역의 다수의 섹터에 대한 서로 다른 레이저 구동 전류를 공그바는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 방법.
  7. 제6항에 있어서, 상기 단계(b)기 상기 검사 데이타의 시험-기입을 실행하기 위해 상기 광학 정보 기록 헤드에 상기 광학 기록 매체의 다수의 트랙의 시험-기입 영역의 매 다른 섹터마다 서로 다른 레이저 구동 전류를 공급하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 방법.
  8. 제1항에 있어서, 상기 단계(b)기 상기 검사 데이타의 시험-기입이 작은 진폭 및 높은 주파수를 갖는 파형을 포함하는 신호와 큰 진폭 및 낮는 주파수를 갖는 파형을 포함하는 신호로 구성되는 연속 신호를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 방법.
  9. 제1항에 있어서, 상기 단계(c)가 작은 진폭 및 높은 주파수를 갖는 파형을 포함하는 신호와 큰진폭 및 낮은 주파수를 갖는 파형을 포함하는 신호로 구성되는 각 검사 데이타의 2개의 신호 사이의 평균 전압 레벨에 있어서의 차를 결정하기 위해 각각의 시험-기입 데이타를 재생하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 방법.
  10. 제1항에 있어서, 상기 단계(d)에 있어서, 작은 진폭 및 높은 주파수를 갖는 파형을 포함하는신호와 큰 진폭 및 낮은 주파수를 갖는 파형을 포함하는 신호로 구성되는 각 검사 데이타의 2개의 신호 사이의 평균 전압 레벨에 있어서의 차의 최소값을 나타내는 검사 데이타의 시험-기입을 위해 공급되는 레이저 구동 전류가 사용자 데이타의 재생이 실행될 때 레이저 구동 전류로서 설정되는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 방법.
  11. 호스트 장치에 접속된 광학 기록 매체에 데이타를 기이바는 광학 정보 기록 방법에 있어서, (a)상기 호스트 장치로부터의 데이타 기입 명령을 수신하는 단계, (b) 상기 기입 명령에 따라 광학 정보 기록 헤드에 의해 상기 광학 기록 매체의 데이타 영역 중 사용자 데이타 영역에 데이타를 기이바는 단계, (c) 데이타 기입이 불량한 블럭이 존재하면, 데이타 기입이 불량한 블럭의 회수에 따라 2개의 연속적인 신호를 포함하는 검사 데이타의 시험-기입을 결정하는 단계, (d) 상기 검사 데이타의 시험-기입을 실행하기 위해 상기 광학 정보 기록 헤드에 상기 광학 기록 매체의 상기 데이타 영역 내의 시험-기입 영역 중 복수의 시험-기입 영역에 대한 서로 다른 레이저 구동 전류를 제공하는 단계, (e) 각 검사 데이타의 2개의 연속 신호들 사이의 평균 전압 레벨에 있어서의 차를 결정하기 위해 각각의 시험-기입 데이타를 재생하는 단계, (f)상기 차의 최소값을 나타내는 검사 데이타의 시험-기입을 위해 공급되는 레이저 구동 전류를 사용자 데이타의 기록이 실행되게 될 때 상기 광학 정보 기록 헤드에 공급될 레이저 구동 전류로서 설정하는 단계, (g) 상기 레이저 구동 전류에 의해 상기 데이타를 기입하기 위해 상기 사용자 데이타 영역에 대한 상기 광학 정보 기록 헤드의 위치 설정을 실행하는 단계, (h) 데이타 기입 명령에 대한 기입 불량 블럭이 존재하면 상기 레이저 구동 전류에 의해 다른 사용자 데이타 영역 내에 상기 데이타를 기입하고, 데이타 기입 명령에 대한 기입 불량 블럭이 존재하지 않으면 상기 사용자 데이타 영역의 추가 선택적인 블럭 내에 상기 데이타의 기입을 완료하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 방법.
  12. 호스트 장치에 접속된 광학 기록 매체에 데이타의 시험-기입을 실행하기 위한 광학 정보 기록 장치에 있어서, 상기 호스트 장치로부터의 데이타의 기입을 위한 최소한 1개의 명령을 수신하기 위한 광학 정보 기록 제어 장치 및 상기 데이타가 상기 과학 기록 매체에 저장되도록 하기 위해 데이타의 기입을 위한 상기 명령에 따라 상기 데이타가 상기 광학 기록 제어 장치에 의해 제어되는 광학 기록 매체를 포함하고, 상기 광학 정보 기록 제어 장치가 상기 호스트 장치로부터의 데이타 기입 명령과 무관하게 2개의 선정된 연속 신호를 포함하는 검사 데이타의 시험-기입을 위한 지시를 발생하기 위한 제1수단, 상기 시험-기입 지시에 따라 광학 정보 기록 헤드에 상기 광학 기록 매체의 시험-기입 영역 중 복수의 시험-기입 영역용에 대한 서로 다른 레이저 구동 전류를 공급함으로써 상기 검사 데이타의 시험-기입을 표시하기 위한 제2수단, 각 검사 데이타의 2개의 연속 신호들간의 평균 전압 레벨에 있어서의 차를 결정하기 위해 각각의 시험-기입 데이타를 재생하기 위한 제3수단, 사용자 데이타의 기록이 실행될 때 상기 차의 최소값을 나타내는 검사 데이타의 시험-기입을 위해 공급되는 레이저 구동 전류의 공급을 표시하기 위한 제4수단 및 공급된 레이저 구동 전류에 따라 검사 데이타의 다음번 시험-기입까지의 시간 간격을 설정하기 위한 제5수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 장치.
  13. 제12항에 있어서, 상기 제5ㅜ단이 선행 시험-기입시에 공급된 레이저 구동 전류의 값과 현재 시험-기입시에 공급되는 레이저 구동 전류의 값 사이의 차를 결정하고 검사 데이타의 다음 시험-기입까지의 시간 간격이 상기 차가 작아짐에 따라 길어지도록 상기 차에 대한 시간 간격의 콘스탄트 데이블 사에 나타나는 관계로부터 상기 시간 간격을 결정하는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 장치.
  14. 제12항에 있어서, 상기 제5수단이 현재 시험-기입 시의 동작 온도에 대한 시간 간격의 콘스탄트 테이블 상에 나타나는 관계로부터 상기 시간 간격을 결정하는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 장치.
  15. 제12항에 있어서, 상기 제1수단이 상기 광학 기록 매체가 상기 광학 디스크 드라이브 상에 장착 될 때 또는 상기 제5수단에 의해 설정된 검사 데이타의 다음 시험-기입까지의 시간 간격이 경과될 때 상기 시험-기입 지시를 발생하는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 장치.
  16. 제12항에 있어서, 상기 제2수단이 상기 시험-기입 지시에 따라 상기 광학 정보 기록 헤드에 상기 광학 기록 매체의 다수의 트랙의 시험-기입 영역들의 다수의 섹터에 대한 서로 다른 레이저 구동 전류를 공급함으로써 상기 검사 데이타의 시험-기입을 타나내는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록장치.
  17. 제16항에 있어서, 상기 제2수단이 상기 광학 정보 기록 헤드에 상기 기록 매체의 최내각 및 최외각 원주의 시험-기입 영역의 다수의 섹터에 대한 서로 다른 레이저 구동 전류를 공급함으로써 상기 검사 데이타의 시험-기입을 나타내는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 장치.
  18. 제17항에 있어서, 상기 제2수단이 상기 광학 정보 기록 헤드에 상기 광학 기록 매체의 다수의 트랙의 시험-기입 영역들의 서로 다른 섹터 모두에 대한 서로 다른 레이저 구동 전류를 공급함으로써 상기 검사 데이타의 시험-기입을 나타내는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 장치.
  19. 제12항에 있어서, 상기 제3수단이 작은 진폭 및 높은 주파수를 갖는 재생 검사 데이타 각각의 파형과 큰 진폭 및 낮은 주파수를 갖는 재생 검사 데이타 각각의 파형 사이의 평균 전압 레벨에 있어서의 차를 결정하는 것을 특징으로 하는 광학 정보 기록 장치.
  20. 제12항에 있어서, 사익 제4수단이 사용자 데이타의 기록이 실행될때의 레이저 구동 전류로서, 작은 진폭 및 높은 주파수를 갖는 검사 데이타 각각의 파형과 큰 진폭 및 낮은 주파수를 갖는 검사 데이타 각각의 파형 사이의 평균 전압 레벨에 있어서의 차의 최소값을 나나태는 검사 데이터의 시험-기입을 위해 공급되는 레이저 구동 전류를 설정하는 것을 특징으로 하는 광학 정도 기록 장치.
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