JPH0467436A - 光学的記録再生方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、光記録媒体にレーザ光を照射してデータの記
録及び再生を行う光学的記録再生方法に関するものであ
る。

（従来の技術） 光学的にデータを記録、再生する方法を適用した光学的
記録再生装置、例えば光デイスク装置では、光パワーに
よる加熱によってデータの記録を行う。

例えば、光磁気ディスク装置では、光スポ・ソト加熱に
より記録膜の磁性材料の保持力を下げ、周囲磁場により
加熱部分の磁化を反転させてデータの記録を行う。

また、追記型光デイスク装置の穴あけ記録材料では、加
熱による溶融開口を記録原理とし、相変化媒体では加熱
温度や冷却温度の変化による結晶・非晶質の相変化を記
録原理としている。

（発明が解決しようとする課題） しかしながら、上記した記録原理に基づく光学的記録再
生装置では、光ヘッドの対物レンズやディスク媒体表面
にゴミが付着すると、光パワーの伝達効率が低下して、
たとえ光源が適正なパワーを発生しても、記録層に十分
な昇温光パワーが到達しない。このため、記録動作が不
十分となり、例えば記録マークが小さくなったり欠落し
たりして、結果としてデータのビット落ち等のエラーを
生ずることがあった。

また、記録装置やディスク媒体の環境温度が変化すると
、記録動作温度のバイアスが変化し、例えば環境温度が
下がると上記したようなどットエラーを起こしたり、環
境温度が上がると記録膜が加熱されすぎてマークが大き
くなり、ビットシフトを大きくする原因となっていた。

本発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであり、そ
の目的は、光伝達率の低下や環境温度の変化があったと
しても、最適な記録条件でデータの記録を行える信頼性
の高い光学的記録再生装置を実現できる光学的記録再生
方法を提供することにある。

（課題を解決するための手段） 上記目的を達成するため、請求項（１）ではレーザ光源
からのレーザビームを光記録媒体のトラック上に照射し
てデータの記録及び再生を行い、当該光記録媒体からの
データ再生信号とトラック位置サーボ信号を検出する光
学的記録再生方法において、本データの記録を行う前に
、前記光記録媒体上の所定の領域に対し試し書きを行い
、当該試し書きデータの再生信号に基づいて、本データ
記録時のレーザ駆動電流を設定するようにした。

また、請求項（２）では、トラックセクタのヘッダデー
タ及びサーボデータ記録領域内の空き領域に対して試し
書きを行うようにした。

また、請求項（３）では、試し書き時におけるレーザ駆
動電流を、レーザ光源から出射されるレーザビームの記
録パワーまたは記録パルス幅または記録パルス間隔また
はこれらの組み合せを所定の形態で変化させるように設
定するようにした。

また、請求項（４）では、セクタヘッダの頭出し同期信
号及びクロック信号に同期して試し書きデータの記録及
び再生を行い、当該再生信号の振幅または振幅の変化率
を検圧し、この検出結果に基づきレーザ駆動電流の設定
を行うようにした。

また、請求項（５）では、試し書きデータの再生信号に
より求めたレーザ駆動電流が、前記光記録媒体の媒体情
報として予め与えられた推奨記録条件と比較して所定の
割合を限度に偏差を生じた場合に記録動作を停止するよ
うにした。

また、請求項（６）では、記録用レーザビームと再生用
レーザビームを備えた光ヘッドを用い、記録用レーザビ
ームで試し書きを行った後、再生用レーザビームで試し
書きデータの再生を行い、この再生信号に基づいてレー
ザ駆動電流を設定し、引き続き本データの記録を光記録
媒体の所定移動領域内または１セクタ内に行うようにし
た。

（作用） 請求項（１）によれば、記録時には、レーザ光源からの
レーザビームが光記録媒体上の所定の領域に照射されて
、試し書きが行われる。

続いて、試し書きデータの再生が行われ、この再生信号
に基づいて、本データ記録時にレーザを駆動すべきレー
ザ駆動電流の大きさ等が設定される。

次いで、この設定されたレーザ駆動電流にてレーザ光源
が駆動され、これに基づいてパワー等が制御されたレー
ザビームが光記録媒体上の本来のデータ記録領域に照射
され、本データの書き込みが行われる。

また、請求項（２）によれば、光記録媒体上のトラック
を複数に区分けして構成されるセクタの、通常、ヘッダ
データやサーボデータが記録される領域の内の使用され
ていない領域が試し書き領域として割り当てられ、この
領域に対してのみ試し書きが行われる。

また、請求項（３）によれば、試し書き時におけるレー
ザ光源によるレーザビームは、例えば一定のパルス幅で
その大きさが徐々に変化する等、所定の形態に制御され
て光記録媒体上に照射され、試し書きが行われる。

また、請求項（４）によれば、まず、セクタヘッダの頭
出しの同期信号及びクロック信号に同期して試し書きデ
ータの記録が行われる。続いて、そのデータの再生が行
われる。

次いで、再生信号の振幅あるいは振幅の変化率が検出さ
れ、この検出結果に基づいて、本データ記録時のレーザ
駆動電流が設定される。

また、請求項（５）によれば、試し書きデータの再生信
号により求められたレーザ駆動電流の値が、予め与えら
れた記録条件に対して所定の割合を越える偏差を生じた
場合には、記録動作が停止される。

また、請求項（６）によれば、まず、記録用レーザビー
ムを用いて光記録媒体上の所定の領域に対し試し書きが
行われる。

次いで、この試し書きの直後に、再生用レーザビームを
用いて試し書きデータの再生が行われ、この再生信号に
基づいて本データ記録時のレーザ駆動電流が設定される
。

さらに引き続き、設定されたレーザ駆動電流により記録
用レーザビームが出射され、光記録媒体の試し書きの割
り当て領域に続くデータ記録領域に照射され、本データ
の書き込みが行われる。

（実施例） 第１図は、本発明に係る光学的記録再生方法を適用した
光デイスク装置の第１の実施例を示す構成図である。

第１図において、１はデータが記録される光デイスク媒
体、２は半導体レーザ光源（以下、ＬＤ光源という）、
３はＬＤ光源から出射されたレーザビームを平面波ビー
ムに変換するコリメータレンズ、４はコリメータレンズ
３による平面波ビームを透過し、光デイスク媒体１から
の反射再生光を平面波の入射方向と異なる方向に反射す
るビムスプリツタ、５はレーザビームを光デイスク媒体
１上に集光する対物レンズ、６は対物レンズ５の制御機
構としてのレンズアクチュエータ、７はビームスプリッ
タ４にて反射された反射再生光を集光する集光レンズ、
８は集光レンズ７を介して反射再生光を分割するビーム
スプリッタ、９はビームスプリッタ８の−の分割光に非
点収差を与えるためのシリンドリカルレンズ、１０はサ
ーボ信号検出用フォトダイオード、１１は再生信号及び
トラック検出用フォトダイオード、１２はフォトダイオ
ード１１の電気信号を増幅し再生信号ＲＤＳとして出力
する再生信号増幅器である。

また、２０はレーザ駆動電流制御回路、３０は復調回路
、４０はクロック信号処理部、５０は振幅レベル検出処
理部、６０はレーザパワー・パルス幅条件設定部で、以
下に、これらの構成、機能及び光デイスク媒体１のフォ
ーマットに関し、図面を参照しながら順を追って説明す
る。

まず、第２図乃至第４図を用いて、光デイスク媒体１等
のフォーマット例と試し書き領域として割り当て可能領
域について説明する。

第２図は、光デイスク媒体１のフォーマットの一例を示
す図である。

光デイスク媒体１は、−船釣に、第２図に示すように、
同心円状またはスパラル状の複数のトラック１０１（第
２図は同心円状）が形成され、各トラック１０１は複数
のセクタ１０２に分けられている。

また、外周側の広い範囲に亘る複数のトラック１０１が
ユーザ領域１０３として割り当てられ、内周側の複数の
トラック１０１がテスト領域１０４として割り当てられ
ている。このテスト領域１０４を試し書き領域として割
り当てることが可能である。

例えば、ｌ５Ｏ１３０關径の書換型光ディスク媒体では
、メーカのテスト領域１０４として半径２９．８■ｍか
ら２９．９ｓａｍの領域が割り当てられており、この領
域を試し書き領域として割り当てることができる。

また、第３図は、上記セクタ１０２のフォーマットの一
例を示す図である。セクタ１０２は、第３図に示すよに
、ヘッダ領域１２０、ユーティリティ領域１３０、デー
タ記録領域１４０及びバッファ予備領域１５０に区分け
されている。

第４図は、ヘッダ領域１２０のＩ　Ｓ　０１３０　ｍｍ
書換型連続サーボフォーマットの一例を示す図である。

第４図に示すように、ヘッダ領域１２０は、さらに、セ
クタマーク１２１、ＶＦＯクロック引込領域１２２ａ。

１２２ｂ、１２２ｃ　、アドレスマーク１２３ａ、１２
３ｂ、１２３ｃ　トラック及びセクタ番地領域１２４ａ
、１２４ｂ、１２４ｃ及びポストアンブル１２５に区分
けされている。

ユーティリティ領域１３０は１４バイト長あり、トラッ
クオフセット検出マーク用の１バイト長やレーザのパワ
ー制御部用の２バイト長、追記型光デイスク媒体で使用
する記録済みマーク用の５バイト長等に割り当てられる
が、書換型光ディスク媒体では１４バイト長全てを試し
書き領域に割り当てても支障はない。

また、バッファ予備領域１５０も同様に、試し書き領域
として割り当てることが可能である。

レーザ駆動電流制御回路２０は、記録時には、まず、試
し書き用に後記する、ような（第７図乃至第１１図）大
きさ、パルス幅等の変化形態が設定されたレーザ駆動電
流ＣＵＲをＬＤ光源２に供給してレーザの出力レベルを
変え、次いで、この試し書きによるデータの再生信号Ｒ
ＤＳに基づいてレーザパワー・パルス幅条件設定部６０
にて制御されたレーザパワー制御信号ＰＣＬ及びパルス
幅制御信号ＷＰＣの入力に応じて本データ記録用にレー
ザ駆動電流ＣＵＲを制御する。また、再生時には、再生
コマンドに応じて設定され再生パワー制御電流ＰＲＣに
基づくレーザ駆動電流ＣＵＲをＬＤ光源２に供給する。

第５図は、レーザ駆動電流制御回路２０の構成例を示す
ブロック図で、第６図はその具体的な回路例を示してお
り、図中、２０１は電流振幅制御部、２０２はパルス幅
制御部、２０３は駆動電流制御部、２２１はインバータ
、２２２は遅延制御回路、２２３はアンド、Ｃはコンデ
ンサ、Ｒ工、Ｒ２，Ｒ３は抵抗、ＴＲ，、ＴＲ２はトラ
ンジスタである。

電流振幅制御部２０１は、レーザパワー制御信号ＰＣＬ
の入力に応じて、試し書き時や本データ記録時のＬＤ光
源２へのレーザ駆動電流ＣＵＲの振幅（大きさ）を制御
する。

パルス幅制御部２０２は、記録データ信号ＶＤＴの入力
に伴い、遅延制御回路２２２等にて記録データに所望の
遅延量を与え、ＬＤ光源２から出射される記録パルスの
パルス列間隔を制御するとともに、遅延制御回路２２２
へのパルス幅制御信号ＷＰＣの入力に応じてパルス幅が
所望の値となるように制御する。

駆動電流制御部２０３は、電流振幅制御部２０１及びパ
ルス幅制御部２０２の制御に応じた値のレーザ駆動電流
ＣＵＲ７ｆ−ＬＤ光源２に供給する。また、再生時のレ
ーザ駆動電流ＣＵＲを、再生パワー制御電流ＲＰＣの入
力に応じて制御する。

また、第７図乃至第１１図は、試し書き時にレザ駆動電
流制御回路２０からＬＤ光源２に供給されるレーザ駆動
電流ＣＵＲの供給例を示し、第７図乃至第９図にはレー
ザ駆動電流ＣＵＲに対応した試し書きデータの再生信号
ＲＤＳを併せて示している。

試し書きにおけるレーザ駆動電流ＣＵＲは、第７図に示
す第１例のように、直流鋸歯状に供給されたり、第８図
に示す第２例のように、一定のパルス幅と繰り返し周期
で大きさを鋸歯状に変えて供給されたり、第９図に示す
第３例のように、−定の大きさと繰り返し周期でパルス
幅を段階的に変えて供給されたり、第１０図に示す第４
例のように、パルスの周期は一定で大きさを鋸歯状に変
えながらパルス幅を３段階に変えて供給されたり、また
、第１１図に示す第５例のように、パルスの周期は一定
で大きさを３段階に変えながらパルス幅を３段階に変え
て供給されたり等、種々の態様をもって供給される。

復調回路３０は、再生信号増幅器１２にて増幅された再
生信号ＲＤＳを二値化して、データの復調を行い、復調
データＤＭＤやアドレスデータＡＤＤを図示しない上位
装置に出力するとともに、二値化信号から所定のクロッ
ク信号ＣＬＫを生成してクロック信号処理部４０へ出力
し、かつ、このクロック信号ＣＬＫに加え、セクタ検出
信号ＳＣＴ及びアドレス検出信号ＡＤＨを得て、試し書
きタイミング信号Ｔ　Ｔ　Ｍ　１．　　Ｔ　Ｔ　Ｍ　２
を生成し、これらをレーザパワー・パルス幅条件設定部
６０に出力する。

第１２図は、この復調回路３０の構成例を示すブロック
図で、第１３図は、そのタイミングチャートを示してお
り、図中、３０１は二値化回路、３０２はセクタマーク
検出回路、３０３はクロック再生回路、３０４はアドレ
スマーク検出回路、３０５はデータ復調回路、８０６は
試し書きタイミング生成回路、３０７はアドレス検出回
路である。

二値化回路３０１は、再生信号ＲＤＳを二値化信号ＢＲ
８に変換し、セクタマーク検出回路３０２、クロック再
生回路３０３、アドレスマーク検出回路３０４及びデー
タ復調回路３０５にそれぞれ出力する。

セクタマーク検出回路３０２は、二値化信号ＢＲ８から
セクタの頭出しの検出信号であるセクタ検出信号ＳＣＴ
を得て試し書きタイミング生成回路３０６に出力する。

タロツク再生回路３０３は、二値化信号ＢＲ３から第３
図及び第４図に示す、ヘッダ領域１２０のＶＦＯクロッ
ク引出領域１２２ａ、１２２ｂ、１２２ｃよりクロック
信号ＣＬＫを生成し、アドレスマーク検出回路３０４、
データ復調回路３０５、試し書きタイミング生成回路３
０６及びクロック信号処理部４０に出力する。

アドレスマーク検出回路３０４は、二値化信号ＢＲ３か
ら、いわゆる（２．７）コードのイリーガルパターン検
出によりアドレスマークを取り出し、アドレス検出信号
ＡＤＲとして試し書きタイミング生成回路３０６に出力
する。

データ復調回路３０５は、二値化信号ＢＲＳから（２，
７）コードの復調を行い復調データをアドレス検出回路
３０７及び図示しない上位装置に出力する。

試し書きタイミング生成回路３０６は、セクタ検出信号
ＳＣＴとアドレス検出信号ＡＤＨをトリガとしてクロッ
ク信号ＣＬＫの計数制御を行い、例えばセクタ１０２の
ユーティリティ領域１３０が試し書き領域の場合の試し
書きタイミング信号ＴＴＭ１、バッファ予備領域１５０
が試し書き領域の場合の試し書きタイミング信号ＴＴＭ
２を生成し、レーザパワー・パルス幅条件設定部６０に
出力する。

具体的には、１０２４バイトフオーマツトの場合、セク
タマーク１２１の終了により５６４チャネルビット周期
後のタイミングをユーティリティ領域１３０の先頭とし
、さろに１６８チャネルビット周期後をその後端として
クロック信号ＣＬＫの計数制御を行う。

また、バッファ予備領域１５０については、セクタマー
ク１２１の終了により１６０２０チャネルビット周期後
のタイミングを先頭とし、さらに２４０チャネルビット
周期後をその終端とするクロック信号ＣＬＫの計数制御
を行う。

クロック信号処理部４０は、復調回路４０からのクロッ
ク信号ＣＬＫから２種類の分周クロック信号ＤＣＫ、及
びＤＣＫ２を得て、振幅レベル検出処理部５０に出力す
る。

第１４図は、クロック信号処理部４０の構成例を示すブ
ロック図で、図中、４１０は１／３分周回路、４０２は
１／２周期遅延回路である。

１／３分周回路４０１は、クロック信号ＣＬＫを１ノ３
分周して分周クロック信号ＤＣＫ１を得、１／２周期遅
延回路４０２及び振幅レベル検出処理部５０に出力する
。

１／２周期遅延回路４０２は、分周クロック信号ＤＣＫ
１にさらに１／２周期の遅延量を与えて分周クロック信
号ＤＣＫ２を得、これを振幅レベル検出処理部５０に出
力する。

振幅レベル検出処理部５０は、試し書きデータの再生信
号ＲＤＳのピーク及びボトムレベルをクロック信号処理
部４０による分周クロック信号ＤＣＫＩ　、ＤＣＫ２を
用いて検出し、再生信号ＲＤＳのピークレベルまたは振
幅レベルに基づいて記録及び消去動作時のレーザパワー
及びパルス幅の適正条件を与えるためのタイミング信号
ＭＴＭ、ＰＴＭをレーザパワー・パルス幅条件設定部６
０に出力する。

上記の再生信号ＲＤＳのピークレベルは、消去時の直流
パワー露光の場合に、振幅レベルは記録時のパルス露光
の場合の適正条件の検出に供せられる。

また、適正条件の検出には、ピークあるいは振幅レベル
が必要な値に達したか否かを判定するレベルスライス系
と、ピークあるいは振幅レベルの変化率が飽和して小さ
くなった否かを判定する差分検出によるピーク検出系と
がある。

第１５図は、レベルスライス系とピーク検出系の両者を
併せ持つ振幅レベル検出処理部５０の構成例を示すブロ
ック図である。第１５図において、５０１．５０２はサ
ンプルホールド回路、５０３は差動アンプ、５０４は切
替器、５０５，５１３はコンパレータ、５０６．５１４
は立下りパルス検出回路、５０７はローパスフィルタ、
５０８はＡ／Ｄ変換器、５０９，５１０はシフトレジス
タ、５１１は減算器、５１２はＤ／Ａ変換器である。

サンプルホールド回路５０１は、分周クロック信号ＤＣ
Ｋ１により再生信号ＲＤＳのピークレベルをサンプリン
グし、ど−クロック信号ＰＨＤ（第１７図の（ｂ）参照
）として差動アンプ５０３及び切替器５０４に出力する
。

サンプルホールド回路５０２は、分局クロック信号ＤＣ
Ｋ２により再生信号ＲＤＳのボトムレベルをサンプリン
グし、差動アンプ５０３に出力する。

第１６図は、再生信号ＲＤＳとサンプルホールド回路５
０１．５０２のサンプリングのタイミングを示すタイミ
ングチャートで、３ビツトチャネル周期の信号の振幅を
検出するためのタロツクを示している。

一般に、（２，７）コードの最密パターンは記録マーク
周期が３チャネルビット周期であり、このとき再生信号
ＲＤＳＯ８／Ｎは最小となるため、試し書きのデータパ
ターンの一つとなる。

そこで、水弟１の実施例では、第１６図に示すように、
クロック信号ＣＬＫを１ノ３分周した分周クロックＤＣ
Ｋ１によってピークレベル検出のタイミングを与え、ま
た分周クロック信号ＤＣＫ□をさらに、１ノ２周期遅延
させた分周クロック信号ＤＣＫ２によってボトムレベル
検出のタイミングを与えている。

差動アンプ５０３は、入力したピークホールド信号ＰＨ
Ｄとボトムレベルの検出信号とから再生信号の振幅レベ
ルを得、振幅検出信号ＡＭＤ　（第１７図の（Ｃ）参照
）として切替器５０４に出力する。

切替器５０４は、ピークホールド信号ＰＨＤと振幅検出
信号ＡＭＤとの出力の切替えを行い、その出力はコンパ
レータ５０５及びローパスフィルタ５０７に接続されて
いる。

コンパレータ５０５は、切替器５０４を介してピークホ
ールド信号ＰＨＤを入力した場合にはスライスレベル５
ＬＣ１との比較により、また、振幅検出信号ＡＭＤを有
力した場合にはスライスレベル５ＬＣ２との比較により
パルス信号を得る。

立下りパルス検出回路５０６は、コンパレータ５０５の
出力信号の立下りパルスを検出し、適正条件としてのタ
イミング信号ＭＴＭを得、レーザパワー・パルス幅条件
設定部６０に出力する。

以上のサンプルホールド回路５０１，５０２から立下り
パルス検出回路５０６に至る各部によってレベルスライ
ス系が構成されている。

ローパスフィルタ５０７は、切替器５０４を介して入力
したピークホールド信号ＰＨＤ及び振幅検出信号ＡＭＣ
のパルス状の雑音値を除去する。

Ａ／Ｄ変換器５０８は、ローパスフィルタ５０７により
雑音が除去された信号をアナログ信号からディジタル信
号に変換する。

シフトレジスタ５０９．５１０は、Ａ／Ｄ変換器５０８
によるディジタル信号の遅延ホールドを行う。

減算器５１１は、シフトレジスタ５０９による遅延値と
、さらにシフトレジスタ５１０を介したディジタル信号
の遅延値との差分値を求める。

Ｄ／Ａ変換器５１２は、減算器５１１による差分値をデ
ィジタル信号からアナログ信号に変換し、差分振幅信号
ＤＡＭとして出力する。

コンパレータ５１３は、差分振幅検出信号ＤＡＭと零ス
ライスレベル５ＬＣｏ　　（第１７図（ｄ）参照）との
比較し、差分ピークのタイミングパルスを生成する。

立下りパルス検出器５１４は、コンパレータ５１３の比
較結果に応じて適正条件としての差分ピークパルスタイ
ミング信号ＰＴＭ（第１７図の（ｅ）参照）をレーザパ
ワー・パルス幅条件設定部６０に出力する。

このパルスタイミング信号ＰＴＭにより、試し書きにお
ける上記のクロックタイミングにおいて再生信号ＲＤＳ
の振幅が最大となる記録露光条件が与えられる。

以上のサンプルホールド回路５０１，５０２から切替器
５０４を介して立下りパルス検出回路５１４に至る各部
によりピーク検出系が構成される。

なお、第１７図は、再生信号が、第８図に示すように、
試し書き時のレーザ駆動電流ＣＵＲが一定パルス幅と繰
り返し周期で大きさを鋸波状に変えた場合の、再生信号
ＲＤＳ並びに各部の信号例を示している。

レーザパワー争パルス幅条件設定部６０は、復調回路３
０からの試し書きタイミング信号ＴＴＭ１．ＴＴＭ２、
クロック信号ＣＬＫ及び振幅レベル検出処理部５０から
のタイミングパルスＭＴＭまたはＰＴＭの入力により、
現在の記録条件に適合した最適なレーザパワー及びパル
ス幅にて記録が行えるような値に設定したレーザパワー
制御信号ＰＣＬ及びパルス幅制御信号ＷＰＣをレーザ駆
動電流制御回路２０に出力する。

第１８図は、レーザパワー・パルス幅条件設定部６０の
構成例を示すブロック図で、図中、６０１はカウンタタ
イミング生成回路、６０２．６０３はカウンタ、６０４
はスイッチ、６０５はＲＯＭ、８０Ｂはレーザ駆動条件
設定回路である。

カウンタタイミング生成回路６０１は、復調回路３０の
試し書きタイミング生成回路３０６の試し書きタイミン
グ信号ＴＴＭを受け、セクタヘッダに同期して開始のカ
ウンタタイミング信号ＳＴＲと終了のカウンタタイミン
グ信号ＳＴＰを生成する。

カウンタ６０２は、カウンタタイミング生成回路６０１
による開始のカウンタタイミングＳＴＲの入力により、
復調回路３０からのクロック信号ＣＬＫの数の計数を開
始し、この計数をカウンタタイミングＳＴＰの人力まで
行う。

カウンタ６０２は、カウンタタイミングＳＴＲの人力に
よりクロック信号ＣＬＫの計数を開始し、この計数を振
幅レベル検出処理部５０によるタイミング信号ＰＴＭま
たはＭＴＭが入力されるまで行う。

スイッチ６０４は、図示しない上位装置からの制御信号
により、試し書き時はカウンタ６０２の出力をＲＯＭ２
Ｏ３に接続し、本データ記録時にはカウンタ６０３の出
力をＲＯＭ６０５に接続する。

ＲＯＭ６０５は、試し書き時及び本データ記録時の適正
記録条件に適合したレーザ駆動電流ＣＵＲの設定条件が
予め記憶されており、各カウンタ６０２．６０３の値に
応じて所定のアドレスがアクセスされ、設定条件がレー
ザ駆動条件設定回路８０５により読み出される。

レーザ駆動条件設定回路６０６は、ＲＯＭ６０５がら読
み出した記録条件に適合したレーザ駆動電流ＣＵＲを出
力するように設定したレーザパワー制御信号ＰＣＬ及び
パルス幅制御信号ＷＰＣをレーザ駆動電流制御回路２０
に出力する。

なお、第１８図中、ＲＯＭ６０５に入力するＳＥＬは選
択制御信号で、光デイスク媒体１に予め登録されたディ
スク半径や回転数に応じた記録パワー・パルス幅条件の
所望値より、試し書きに許容される記録条件の範囲をＲ
ＯＭアドレス範囲として設定するものである。

これは、例えば、ヘッドの破損等により著しく光伝達効
率が低下した場合等、異常動作を検出するもので、図示
しない信号処理回路を用いて、例えば試し書きによって
得られた適正パワーが予め光デイスク媒体１に登録され
た所望パワーの所定の割合、例えば２割を越える値をと
ると、異常状態と判断して光デイスク装置の保守を指令
する用途等に用いるものである。

次に、上記構成による記録時の動作を説明する。

記録時には、まず試し書きを行うため、レーザパワー・
パルス幅条件設定部６０のスイッチ６０４によりカウン
タ６０２の値に基づいてＲＯＭ８０５のアクセスが行わ
れる。これにより、予め設定された試し書き用のレーザ
駆動電流ＣＵＲがＬＤ光源２に供給されるように、レー
ザ駆動条件設定回路６０６からレーザパワー制御信号Ｐ
ＣＬ及びパルス幅制御信号ＷＰＣがレーザ駆動電流制御
回路２０に出力される。

これに伴い、レーザ駆動電流制御回路２０から上記制御
に基づく、例えば第８図に示すようなレーザ駆動電流Ｃ
ＵＲが供給される。ＬＤ光源２からは、レーザ駆動電流
ＣＵＲに応じて出力パワ及び出力パルス幅が制御された
レーザビームが出射される。

この出射レーザビームは、コリメータレンズ３により平
面波ビームに変換された後、ビームスプリッタ４を透過
し、対物レンズ５、レンズアクチュエータ６によりトラ
ッキングしながら光デイスク媒体１上に集光され、例え
ばセクタ１０２のユーティリティ領域１３０へ試し書き
が行われる。

この後、試し書きが行なわれたセクタ１０２に対する再
生動作に基づく、光デイスク媒体１からの反射再生光は
、対物レンズ５を透過した後、ビームスプリッタ４で反
射され、さらに集光レンズ７で集光され、ビームスプリ
ッタ８により２分割される。

ビームスプリッタ８による〜の分割光は、シリンドリカ
ルレンズ９により非点収差が与えられ、サーボ誤差信号
検出用フォトダイオード１ｏにて受光され電気信号に変
換される。これに基づく電気信号は、図示しないサーボ
誤差検出系回路へと送出される。

一方、ビームスプリッタ８による他の分割光は、再生信
号検出用フォトダイオード１１にて受光され、電気信号
に変換される。この電気信号は再生信号増幅器１２にて
増幅作用を受け、再生信号ＲＤＳとして復調回路３０及
び振幅レベル検出処理部５０に入力される。

復調回路３０では、再生信号ＲＤＳが二値化回路２０に
よって二値化信号ＢＲ５に変換される。

この二値化信号ＢＲ８に基づきセクタマーク検出回路３
０２により、セクタの頭出しの検出信号ｓｃＴが取り出
されるとともに、クロック再生回路３０３にてヘッダ領
域のＶＦＯクロック引出領域１２２ａ、１２２ｂ、１２
２ｃによりクロック信号ＣＬＫが生成され、かつ、アド
レスマーク検出回路３０４による（２．７）のイリーガ
ルパターン検出によりアドレスマークが取り出されアド
レス検出信号ＡＤＲが出力される。

これらクロック信号ＣＬＫ及びトリガとしてのセクタ検
出信号ＳＣＴとアドレス検出信号ＡＤＨが、試し書きタ
イミング生成回路３０６に入力される。試し書きタイミ
ング生成回路３０６は、入力信号に基づいて試し書きタ
イミング信号ＴＴＭ１を生成し、これをレーザパワー・
パルス幅条件設定部６０に出力する。また、クロック信
号ＣＬＫは、タロツク信号処理部４０及びレーザパワー
・パルス幅条件設定部６０に出力される。

クロック信号処理部４０では、入力したクロック信号Ｃ
ＬＫを１／３分周回路４０１により１／３分周して分局
クロック信号ＤＣＫ、が生成されるとともに、この分周
クロック信号ＤＣＫ１を１／２分周遅延回路４０２によ
りさらに１／２周期分遅延させた分周クロック信号ＤＣ
Ｋ２が生成され、これら分周クロック信号ＤＣＫ、及び
ＤＣＫ２が振幅レベル検出処理部５０へ出力される。

振幅レベル検出処理部５０では、再生信号ＲＤＳのピー
ク及びボトムレベルがサンプルホールド回路５０１，５
０２により分周クロック信号ＤＣＫ、。

ＤＣＫ２でそれぞれサンプリングされ、差動アンプ５０
３を介して得られる振幅とともにピークホールド信号Ｐ
ＨＤが検出される。

これらの信号は、切替器５０４を介し、例えばピーク検
出系では、ローパスフィルタ５０７によりパルス状の雑
音値が除去された後、Ａ／Ｄ変換器５０８でディジタル
信号に変換される。次いで、このディジタル信号に対し
、シフトレジスタ５０９゜５１０にてデータの遅延ホー
ルドが行われ、減算器５１１によりこれらシフトレジス
タ５０９．５１０の差分値が求められる。この差分値は
、Ｄ／Ａ変換器５１２によりアナログ信号である差分振
幅検出信号ＤＡＭに変換される。

差分振幅検出信号ＤＡＭは、コンパレータ５１３におい
て零スライスレベル５Ｌｃｏと比較され、さらに立下り
パルス検出回路５１４により、再生信号振幅が最大とな
る記録露光条件としての差分パルスタイミング信号ＰＴ
Ｍが生成され、レーザパワー・パルス幅条件設定部６０
に出力される。

レーザパワー・パルス幅条件設定部６０では、カウンタ
タイミング生成回路６０１により、試し書きタイミング
信号ＴＴＭ、に基づいて、セクタ１０２のヘッダに同期
して開始のカウンタタイミング信号ＳＴＲと終了のカウ
ンタタイミング信号ＳＴＰが生成される。

開始のカウンタタイミング信号ＳＴＲは、カウンタ６０
２及び６０３に入力される。これにより、カーウンタ８
０２．６０３では、クロック信号ＣＬＫの計数が開始さ
れる。カウンタ６０２の計数動作は、終了のカウンタタ
イミング信号ＳＴＰの入力により停止し、カウンタ６０
３計数動作は、差分パルスタイミング信号ＰＴＭの入力
により停止する。

なお、このとき試し書きが終了しているので、スイッチ
６０４は切替えられており、このため、カウンタ６０３
に基づいてＲＯＭ２Ｏ３がアクセスされる。これにより
、本データ記録のための適正記録露光条件に適合したレ
ーザパワー制御信号ＰＣＬ及びパルス幅制御信号ＷＰＣ
がレーザ駆動条件設定回路６０６からレーザ駆動電流制
御回路２０に出力される。

これに伴い、光デイスク媒体１上の所定のデータ記録領
域１４０に対し、最適なレーザパワー・パルス幅をもっ
てデータの記録が行われる。

以上説明したように、本第１の実施例によれば、一般に
ヘッドは対物レンズ５を除いて筐体等に囲われており、
ゴミ等の汚れは、対物レンズ５の表面や光デイスク媒体
１の表面に付着し光伝達率を低下させるが、レーザ駆動
電流ＣＵＲを所望の値に制御しレーザ出力を変えて試し
書きを行い、その再生信号ＲＤＳの振幅が適正な量だけ
得られるか否かにより、本データ記録のレーザ駆動条件
の校正を行うようにしたので、光伝達率の低下や環境温
度の変化があったとしても、最適な記録条件でデータ記
録を行える信頼性に優れた光デイスク装置を実現できる
。

なお、本第１の実施例では、試し書きに際し、レーザ駆
動電流ＣＵＲにより、レーザパワーの大きさやパルス幅
を変えることにより行うようにしたがこれに限定される
ものではなく、パルス間隔やこのパルス間隔、レーザパ
ワー〇パルス幅３者の任意の組み合わせを変えることに
より行っても勿論よく、この場合もその再生信号の振幅
を検出することにより、振幅量が飽和あるいは最大とな
る記録条件が適正値として求められる。

また、本第１の実施例では、記録動作を例に説明したが
、本発明方法は記録だけでなく、光磁気ディスク装置に
おける一括直流パワーによるあるいはパルス列による消
去や、相変化媒体における一括直流パワーあるいはパル
ス列による初期化にも適用できる。

さらに、光磁気媒体、相変化媒体、溶融穴あけ媒体等の
熱記録媒体だけでなく、フォトクロミック材料等のフォ
トンモード記録媒体にも適用できる。

さらにまた、本第１の実施例では、ディスク状の記録媒
体を例に説明したが、シート、カード、テープ等の形状
の記録媒体においても、上記したと同様の作用、効果を
得ることができる。

また、本第１の実施例では、セクタ毎の試し書きの例を
示したが、ディスク内で感度ムラが小さい場合には、例
えば内周のテスト領域のみで試し書きをし、これに基づ
いて記録条件の校正をすることも可能である。

第１９図は、本発明に係る光学的記録再生方法を適用し
た光デイスク装置の第２の実施例を示す構成図である。

本第２の実施例では、光ヘッドとして第１の実施例の１
ビーム光ヘツドに代えて記録用レーザビームと再生用レ
ーザビームを別個に有する２ビム光ヘツドを用い、光デ
イスク媒体１の１回転内、かつ、１セクタ内に試し書き
、その試し書きデータの再生及び本データの記録を行え
るように構成している。

第１９図において、１は光デイスク媒体、２ｗは記録ビ
ーム用ＬＤ光源、２Ｒは再生ビーム用ＬＤ光源、３Ｗ、
３Ｒはコリメータレンズ、４　ｗ　＋４Ｒはビームスプ
リッタ、５は対物レンズ、６はレンズアクチュエータ、
７Ｗ、７Ｒは集光レンズ、８Ｗ、８Ｒはビームスプリッ
タ、９ｗはシリンドリカルレンズ、１０ｗ、１０Ｒはサ
ーボ信号検出用フォトダイオード、１１Ｗ、１１Ｒは再
生信号検出用フォトダイオード、１２は再生信号増幅器
、１３はミラー　１４は波長選択ミラー　２０ＷはＬＤ
光源２用のレーザ駆動電流制御回路、３０は復調回路、
４０はクロック信号処理部、５０は振幅レベル検出処理
部、６０はレーザパワー・パルス幅条件設定部である。

このような構成において、記録ビーム用ＬＤ光源２ｗか
ら出射された光ビームは、コリメータレンズ３．ｖで平
面波ビームに変換された後、ビームスプリッタ４Ｗ及び
波長選択ミラー１４を透過し、対物レンズ５、レンズア
クチュエータ６によりトラッキングしながら光デイスク
媒体１上にスポットＳＰＷが集光される。このようにし
て、データの記録が行われる。

光デイスク媒体１からの反射光は、対物レンズ６、波長
選択ミラー１４を透過した後、ビームスプリッタ４ｗに
て反射されて、集光レンズ７ｗで集光される。集光作用
を受けた反射光は、ビームスプリッタ８Ｗで２分割され
、その−の分割光は、シリンドリカルレンズ９ｗを介し
てフォトダイオード１０ｗで受光される。即ち、−の分
割光は、サーボ誤差検出系へと導かれる。

またビームスプリッタ８ｗの他の分割光は、フォトダイ
オード１１ｗで受光される。即ち、他の分割光は、反射
光検出系へと導かれる。

一方、再生用ビームについては、上記の記録光学系とほ
ぼ同様で、再生ビーム用ＬＤ光源２Ｒから出射された光
ビームは、コリメータレンズ３Ｒで、平面波ビームに変
換された後、ビームスプリッタ４Ｒを透過し、ミラー１
３、波長選択ミラー１４で反射され、対物レンズ５、レ
ンズアクチュエータ６によりトラッキングしながら光デ
イスク媒体１上にスポットＳ　Ｐ　Ｒが集光され、デー
タの再生が行われる。

光デイスク媒体１からの反射再生光は、対物レンズ５、
波長選択ミラー１４、ミラー１３を介した後、ビームス
プリッタ４Ｒで反射されて集光レンズ７Ｒで集光される
。集光作用を受けた反射再生光は、ビームスプリッタ８
Ｒで２分割され、の分割光はフォトダイオードＩＯＲで
受光され、他の分割光はフォトダイオード１１Ｒで受光
される。

フォトダイオード１１Ｒの出力である再生信号ＲＤＳに
基づく記録レーザ駆動条件の設定動作については、前記
第１の実施例と同様に行われるので、その説明は省略す
る。

上記の記録再生動作において、記録ビームスポットＳ　
Ｐ　ｗと再生ビームスポットＳＰＲは、光デイスク媒体
１の同一トラックに位置決めされ、かつ、近接して配置
され、記録したデータを即時に再生して、データが正し
く記録されたか否かを確認するようになっている。

第２０図は、第１９図における光デイスク媒体１のトラ
ック上の記録ビームスポットＳＰＷと再生ビームスポッ
トＳＰＲの配置の概略図で、図中、１０１はトラック、
１１１はトラックの案内溝、１２０は−のセクタのヘッ
ダ領域、１３０はユーティリティ領域、１４０はデータ
記録領域、ＤＲはディスク回転方向を示している。

第２０図から分かるように、例えば、記録ビムスポット
Ｓ　Ｐ　ｗと再生ビームスポットＳＰＲを１バイト長（
数μｍ〜数十μｍ）の間隔に配置するようにすると、ユ
ーティリティ領域１３０に対して記録ビームで試し書き
を行い、その直後の再生ビームで適正記録パワー・パル
ス幅条件を検出し、記録ビームの露光条件を設定して、
データ記録領域１４０に対し本データの書き込みを行う
ことができる。

以上説明したように、水弟２の実施例によれば、前記第
１の実施例の効果に加えて、記録パワパルス幅等の露光
条件の構成が一回転内、かつ、１セクタ内に行え、回転
待ちによる転送速度の低下を防止しつつ、適正な露光に
よる良好な信号品質が確保できる。

（発明の効果） 以上説明したように、請求項（１）　、　（２）　、　
（ｓ）または（４）によれば、本データ記録の前に、予
め試し書きを行うことにより最適な記録条件を求めるこ
とができるので、光伝達率の低下や環境温度の変化があ
ったとしても、最適な記録条件でデータ記録が行える信
頼性に優れた光学的記録再生装置を実現できる。

また、請求項（５）によれば、上記効果に加えて、光学
的記録再生装置の現在の状況を的確に判断でき、定期点
検時や故障時等に適切な処置が行え、ひいてはより信頼
性の高い光学的記録再生装置を実現できる。

また、請求項（６）によれば、記録用レーザビムと再生
用レーザビームを備えた光ヘッドを用い、記録用レーザ
ビームで試し書きを行った後、再生用レーザビームで試
し書きデータの再生を行い、この再生信号に基づいてレ
ーザ駆動電流を設定し、引き続き本データの記録を光記
録媒体の所定移動領域内または１セクタ内に行うので、
上記各効果に加えて、移動待ちによる転送速度の低下を
防止しつつ、適正な露光条件による良好な信号品質が確
保できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明に係る光学的記録再生方法を適用した
光デイスク装置の第１の実施例を示す構成図、第２図は
本発明に係る光デイスク媒体のフォーマット例を示す図
、第３図はセクタのフォーマット例を示す図、第４図は
ヘッダ領域のフォーマット例を示す図、第５図は本発明
に係るレーザ駆動電流制御回路のブロック図、第６図は
第５図のレーザ駆動電流制御回路の回路例を示す図、第
７図は本発明に係る試し書きにおけるレーザ駆動電流と
その再生信号の第１例を示す図、第８図は本発明に係る
試し書きにおけるレーザ駆動電流とその再生信号の第２
例を示す図、第９図は本発明に係る試し書きにおけるレ
ーザ駆動電流とその再生信号の第３例を示す図、第１０
図は本発明に係る試し書きにおけるレーザ駆動電流の第
４例を示す図、第１１図は本発明に係る試し書きにおけ
るレーザ駆動電流の第５例を示す図、第１２図は本発明
に係る復調回路のブロック図、第１３図は第１２図の復
調回路のタイミングチャート、第１４図は本発明に係る
クロック信号処理部のブロック図、第１５図は本発明に
係る振幅レベル検出処理部のブロック図、第１６図は本
発明に係る再生信号とサンプルホールド回路のタイミン
グチャート、第１７図は第１５図の振幅レベル検出処理
部の各部における信号を示す波形図、第１８図は本発明
に係るレーザパワー・パルス幅条件設定部のブロック図
、第１９図は本発明に係る光学的記録再生方法を適用し
た光デイスク装置の第２の実施例を示す構成図、第２０
図は第２の実施例に係るトラック上の記録及び再生ビー
ムの配置概略図である。 図中、１・・・光デイスク媒体、２・・・ＬＤ（半導体
レーザ）光源、２ｗ・・・記録ビーム用ＬＤ光源、２Ｒ
・・・再生ビーム用ＬＤ光源、５・・・対物レンズ。 １２・・・再生信号増幅器、２０，２０ｗ・・・レーザ
駆動電流制御回路、３０・・・復調回路、４０・・・ク
ロ・ンク信号処理部、５０・・・振幅レベル検出処理部
、６０・・・レーザパワー・パルス幅条件設定部。 特許出願人　日本電信電話株式会社 代理人弁理士　吉　　１）　精　　孝 光ディスク媒体のフォーマット例 第２図 レ ザ駆動電流制御回路のブＯ７り図 第５図 第 図 試し１きにおけるレ サ駆動電流とその再生信号の第３例 第９図 試し書きにおけるレーサｌ動電流の第４例第１０図 試し書きにおけるレーサ警動亀流の第５例第１１図 クロック信号処理部のブロック図 第１４図 分局レロック信号ＤＣＫＩ 分周クロック信号ＤＣＫ２ を時間 再生信号とサンプルホ ルト回路のタイミングチャ ト

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. （１）レーザ光源からのレーザビームを光記録媒体のト
   ラック上に照射してデータの記録及び再生を行い、当該
   光記録媒体からのデータ再生信号とトラック位置サーボ
   信号を検出する光学的記録再生方法において、 本データの記録を行う前に、前記光記録媒体上の所定の
   領域に対し試し書きを行い、 当該試し書きデータの再生信号に基づいて、本データ記
   録時のレーザ駆動電流を設定することを特徴とする光学
   的記録再生方法。
2. （２）トラックセクタのヘッダデータ及びサーボデータ
   記録領域内の空き領域に対して試し書きを行う 請求項（１）記載の光学的記録再生方法。
3. （３）試し書き時におけるレーザ駆動電流を、レーザ光
   源から出射されるレーザビームの記録パワーまたは記録
   パルス幅または記録パルス間隔またはこれらの組み合せ
   を所定の形態で変化させるように設定する 請求項（１）または（２）記載の光学的記録再生方法。
4. （４）セクタヘッダの頭出し同期信号及びクロック信号
   に同期して試し書きデータの記録及び再生を行い、 当該再生信号の振幅または振幅の変化率を検出し、この
   検出結果に基づきレーザ駆動電流の設定を行う 請求項（１）または（２）記載の光学的記録再生方法。
5. （５）試し書きデータの再生信号により求めたレーザ駆
   動電流が、前記光記録媒体の媒体情報として予め与えら
   れた推奨記録条件と比較して所定の割合を限度に偏差を
   生じた場合に記録動作を停止する 請求項（１）、（２）、（３）または（４）記載の光学
   的記録再生方法。
6. （６）記録用レーザビームと再生用レーザビームを備え
   た光ヘッドを用い、 記録用レーザビームで試し書きを行った後、再生用レー
   ザビームで試し書きデータの再生を行い、この再生信号
   に基づいてレーザ駆動電流を設定し、 引き続き本データの記録を光記録媒体の所定移動領域内
   または１セクタ内に行う 請求項（１）、（２）、（３）、（４）は（５）記載の
   光学的記録再生方法。